ICP—AES法同时测定铝镁锗硅合金中铝,镁,锗,硅

ICP—AES法同时测定铝镁锗硅合金中铝,镁,锗,硅
赵玉珍;吕佩德
【期刊名称】《现代仪器使用与维修》
【年(卷),期】1998(000)001
【摘要】本文报道了用具有二维电荷注入检测器（ＣＩＤ）和端视等离子体炬的全谱直读等离子体光谱仪，同时测定Ａｌ－Ｍｇ－Ｇｅ－Ｓｉ合金中Ａｌ－Ｍｇ－Ｇｅ－Ｓｉ的方法。

试样用ＨＮＯ３－ＨＦ溶解后，加Ｈ３ＢＯ３络合过量的Ｆ，并用其中的Ｂ为内标进行测定，以改善测量的精密度与准确度。

合成试样的回收率为９９．１％－１０１．０％，样品测定的相对标准偏差小于１％。

方法简便、准确，用于样品分析，结果满意。

【总页数】3页(P18-20)
【作者】赵玉珍;吕佩德
【作者单位】中国科学院物理研究所;中国科学院物理研究所
【正文语种】中文
【中图分类】TG146.21
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