XRD和能谱测试深度

XRD和能谱测试深度
XRD射线能穿透的深度一般是10到几十微米，如果你的膜比较薄，那么容易将基地的衍射峰带进来，这样给分析容易带来影响，XRD 还可以测量膜的厚度；
粉末的XRD主要就是物相的定性分析和定量分析，还有晶粒大小等。

能谱仪(EDS,Energy Dispersive Spectrometer)，是用来对材料微区成分元素种类与含量分析，配合扫描电子显微镜与透射电子显微镜的使用。

EDS的分析结果里面会有原子比（atomic%）和元素比（也就是质量比，weight%）的数据，这里要提醒大家注意一点，因为EDS分析并没有那么精确，所以尽管分析报告的结果会有两位小数，但只取一位小数就够了。

X射线光电子能谱(XPS )是一种表面分析方法，提供的是样品表面的元素含量与形态，而不是样品整体的成分。

其信息深度约为3-5nm。

原则上可以测定元素周期表上除氢、氦以外的所有元素。

其主要功能及应用有三方面:第一，可提供物质表面几个原子层的元素定性、定量信息和化学状态信息；第二，可对非均相覆盖层进行深度分布分析，了解元素随深度分布的情况；第三，可对元素及其化学态进行成像，给出不同化学态的不同元素在表面的分布图像等。

XRD （X射线物相定性分析）：用X射线衍射数据对样品中存在的物相（而不是化学成分中的元素构成）进行鉴别。

测定结晶情况，晶相，晶体结构及成键状态等等；可以确定各种晶态组分的结构和含
量。

任何结晶物质都有其特定的晶体结构参数，当X射线通过晶体时，产生特定的衍射图形，即衍射谱线，不同物质混在一起时，它们各自的衍射数据将同时出现，互不干扰地叠加在一起。

因此，可根据各自的衍射数据来鉴定各种不同的物相。

XRD物相定性分析是将样品的衍射数据与已知物相的衍射数据或图谱进行对比，一旦二者相符，则表明待测物相与已知物相是同一物相。

灵敏度较低，一般只能测定样品中含量在1%以上的物相，同时，定量测定的准确度也不高，一般在1%的数量级。

XRD物相分析所需样品量大（0.1g），才能得到比较准确的结果，对非晶样品不能分析。