FPC测试技术
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绝缘性测试：测试电压50V ～250V、电流 20mA 测试条件：100KΩ～20MΩ
测试规格与测试品质之关系
0Ω 20Ω 导通性测试 PASS 绝缘性测试 FAIL
∞Ω
FAIL PASS 20ΜΩ
导通性测试規格越接近0 Ω，测试品质越严 格 绝缘性测试規格越接近∞Ω，测试品质越严 格
线路为什么有低阻值???
ICT电测
(In Circuit Tester)
ICT概论:
ICT即在线测试仪(IN CIRCUIT TEST) 是一大堆高级电表的组合.电表能测 到,ICT就能测到,电表測不到,ICT也可 能测不到.
如:R//Jumper, R无法用电表测,ICT也 无法测.
测试原理的探讨
一般而言,基本上测试方法有两大方 向,一则利用电流源当信号源,量测电压 值,以应用在电阻量测最普遍;二则以电 压源当信号源,量测电流值,以应用在电 容、电感量测最普遍
电测治具测试针在 产品上的分针位置
空板电测机优点(一)
超智慧软体,支援多片排片测试及 导电胶测试(ACRT)
排片测试又称为排版测试,其主要的用途是让 作业人员在测试完毕后能以最快的速度判定 多片版中某片为不良品.
空板电测机优点(二)
监测系统,提高测试可靠度.
所谓监测系统就是防呆裝置: 当防呆为ON时,测试完毕为良品者,必須从设 定的方向安放否则机台不再继续测试的动作 .此项设计是为了防止长时间的工作所造成的 疲劳,而导致误动作的发生.将良品与不良品混 在一起.
开路&短路量测原理探讨(一)
在开路&短路自我学习(open&short
learning)时,系统会自动将量测点之间阻抗
小于25Ω的点聚集成不同的短路群(short
groups)
开路&短路量測原理探讨(二)
于开路测试(open test)时,在任一短路群 (short groups)中任何两点之阻抗不得大于55 Ω,反之即是开路测试不良(open fail) 短路測試(short test)时分成三种情况,若有 其中以下的情况发生,则判定短路测试不良 (short test) 在短路群(short groups)中任何一点与非短 路群中任一点之阻抗一点阻抗小于5Ω. 不同短路群中任两点之阻抗小于5Ω.
OFF
IO损坏(常关)
A
OPEN
1 2 3 4
IO点损坏更會发生漏测
ON ON IO损坏(常开)
ON
A
PASS
1 2 3 4
绝缘性测试流程图 （insulation）
ON
ON
ON
ON
A
PASS
1 2 3 4
绝缘性测试流程图 （insulation）
ON
ON
ON
ON
A
SHORT
1 2 3 4
IO点损坏就会发生误测
ON
IO损坏(常关)
OFF
A
SHORT
误测
ON ON
ON
1
2
3
4
IO点损坏更會发生漏测
IO损坏(常关)
OFF
严重漏测
ON ON ON
A
PASS
1
2
3
4
测试治具的误测与漏测
一.误测：把良品误测为不良品。（一般有，测 试针点偏位，盖膜贴偏，收缩大等等都有误测的可 能性。 二.漏测：测试点未装测试针或未测试的产品传 入良品区。
• • • • •
截面积A 线路有低阻值，不等于线路有缺口 线宽3mil线路，导通性不良时，阻值会超 过10Ω 线路愈细愈长， 产生阻值愈高 压合层次愈高， 产生阻值愈高 孔径（盲埋孔）愈小， 产生阻值愈高 电阻R＝ 长度L
电测 原 理
测试机与测试治具有误测也会 有漏测，只是误测的产品可以 自己找，பைடு நூலகம்测的产品客戶帮你 找(测试治具，测试机，产品，其中一项有缺陷
发表单位:工艺科
前言
电测是检测产品电气特性之唯一方法,也是
保证产品最终品质最有效的手段.故对电测原理 的探討与实施,有助于更多的人了解电测,了解 保障产品品质的重要途径.
目錄
空板电测(Bare Board Tester) 成品电测(Cable Tester) ICT电测(In Circuit Tester)
空板&成品电测 Bare Board Tester and Cable Tester
空板电测机
成品电测机
测试规格
绝缘性20MΩ测试
导通性20 Ω测试
是客戶的要求 更是大勢所趨
測试机測试規格
测试机以定电压测试 先测导通性 再测绝缘性
导通性测试：测试电压10V、电流20mA
测试条件：10 Ω～100K Ω
隔离效果原理的探讨
ICT与电表的差异就是:ICT可对旁路元件进 行隔离(Guarding),而电表不可以. 在TR-518FR的內部电路中,是利用一棵OP当 做一个隔离点(最多可有五个隔离点),若是:以 电流源当信号源输入时,则在相接元件一之另一 脚加上一等高电位能(Guarding Point),以防止 电流流放与被测元件相接之旁路元件,确保量测 的精确性.
就会有误测与漏测现象发生)。
测试机开关（IO）基本组成
IN
ON IO OFF
IO
OUT
PASS
A
电表 治具探針 治具探針
导通性测试流程图 （continuity）
ON
ON
A
OPEN
1 2 3 4
导通性测试流程图 （continuity）
ON
ON
A
PASS
1 2 3 4
IO点损坏就会发生误测
ON
非短路群中任两点之阻抗小于5Ω.
开路&短路量测原理探讨(三)
实例说明
Short group 1 Short group 2 : <1 2 3 4 11 12 13> : <7 8 9 10 18 19 20>
以上为078料号短路群资料,在某次生产中,2 与7 两个不同短路群点其外部(conn、排线) 阻抗超出系统默认值(5Ω),导致30%短路产品 误判为良品.
電容之Debugging(一)
在编辑电容测试资料时其高低点通常选定一 较少元件相接的脚为低点,以减少干扰程度. 300pF以下之电容,一般使用较高的信号做量
测.
大于3.3UF之电容一般采用Mode 0(电流源测试)
方式量测.
当测量测值与标准值偏差太大时,可适当选用 不同模式测试(保证产品OK)直到稳定为止.
测试规格与测试品质之关系
0Ω 20Ω 导通性测试 PASS 绝缘性测试 FAIL
∞Ω
FAIL PASS 20ΜΩ
导通性测试規格越接近0 Ω，测试品质越严 格 绝缘性测试規格越接近∞Ω，测试品质越严 格
线路为什么有低阻值???
ICT电测
(In Circuit Tester)
ICT概论:
ICT即在线测试仪(IN CIRCUIT TEST) 是一大堆高级电表的组合.电表能测 到,ICT就能测到,电表測不到,ICT也可 能测不到.
如:R//Jumper, R无法用电表测,ICT也 无法测.
测试原理的探讨
一般而言,基本上测试方法有两大方 向,一则利用电流源当信号源,量测电压 值,以应用在电阻量测最普遍;二则以电 压源当信号源,量测电流值,以应用在电 容、电感量测最普遍
电测治具测试针在 产品上的分针位置
空板电测机优点(一)
超智慧软体,支援多片排片测试及 导电胶测试(ACRT)
排片测试又称为排版测试,其主要的用途是让 作业人员在测试完毕后能以最快的速度判定 多片版中某片为不良品.
空板电测机优点(二)
监测系统,提高测试可靠度.
所谓监测系统就是防呆裝置: 当防呆为ON时,测试完毕为良品者,必須从设 定的方向安放否则机台不再继续测试的动作 .此项设计是为了防止长时间的工作所造成的 疲劳,而导致误动作的发生.将良品与不良品混 在一起.
开路&短路量测原理探讨(一)
在开路&短路自我学习(open&short
learning)时,系统会自动将量测点之间阻抗
小于25Ω的点聚集成不同的短路群(short
groups)
开路&短路量測原理探讨(二)
于开路测试(open test)时,在任一短路群 (short groups)中任何两点之阻抗不得大于55 Ω,反之即是开路测试不良(open fail) 短路測試(short test)时分成三种情况,若有 其中以下的情况发生,则判定短路测试不良 (short test) 在短路群(short groups)中任何一点与非短 路群中任一点之阻抗一点阻抗小于5Ω. 不同短路群中任两点之阻抗小于5Ω.
OFF
IO损坏(常关)
A
OPEN
1 2 3 4
IO点损坏更會发生漏测
ON ON IO损坏(常开)
ON
A
PASS
1 2 3 4
绝缘性测试流程图 （insulation）
ON
ON
ON
ON
A
PASS
1 2 3 4
绝缘性测试流程图 （insulation）
ON
ON
ON
ON
A
SHORT
1 2 3 4
IO点损坏就会发生误测
ON
IO损坏(常关)
OFF
A
SHORT
误测
ON ON
ON
1
2
3
4
IO点损坏更會发生漏测
IO损坏(常关)
OFF
严重漏测
ON ON ON
A
PASS
1
2
3
4
测试治具的误测与漏测
一.误测：把良品误测为不良品。（一般有，测 试针点偏位，盖膜贴偏，收缩大等等都有误测的可 能性。 二.漏测：测试点未装测试针或未测试的产品传 入良品区。
• • • • •
截面积A 线路有低阻值，不等于线路有缺口 线宽3mil线路，导通性不良时，阻值会超 过10Ω 线路愈细愈长， 产生阻值愈高 压合层次愈高， 产生阻值愈高 孔径（盲埋孔）愈小， 产生阻值愈高 电阻R＝ 长度L
电测 原 理
测试机与测试治具有误测也会 有漏测，只是误测的产品可以 自己找，பைடு நூலகம்测的产品客戶帮你 找(测试治具，测试机，产品，其中一项有缺陷
发表单位:工艺科
前言
电测是检测产品电气特性之唯一方法,也是
保证产品最终品质最有效的手段.故对电测原理 的探討与实施,有助于更多的人了解电测,了解 保障产品品质的重要途径.
目錄
空板电测(Bare Board Tester) 成品电测(Cable Tester) ICT电测(In Circuit Tester)
空板&成品电测 Bare Board Tester and Cable Tester
空板电测机
成品电测机
测试规格
绝缘性20MΩ测试
导通性20 Ω测试
是客戶的要求 更是大勢所趨
測试机測试規格
测试机以定电压测试 先测导通性 再测绝缘性
导通性测试：测试电压10V、电流20mA
测试条件：10 Ω～100K Ω
隔离效果原理的探讨
ICT与电表的差异就是:ICT可对旁路元件进 行隔离(Guarding),而电表不可以. 在TR-518FR的內部电路中,是利用一棵OP当 做一个隔离点(最多可有五个隔离点),若是:以 电流源当信号源输入时,则在相接元件一之另一 脚加上一等高电位能(Guarding Point),以防止 电流流放与被测元件相接之旁路元件,确保量测 的精确性.
就会有误测与漏测现象发生)。
测试机开关（IO）基本组成
IN
ON IO OFF
IO
OUT
PASS
A
电表 治具探針 治具探針
导通性测试流程图 （continuity）
ON
ON
A
OPEN
1 2 3 4
导通性测试流程图 （continuity）
ON
ON
A
PASS
1 2 3 4
IO点损坏就会发生误测
ON
非短路群中任两点之阻抗小于5Ω.
开路&短路量测原理探讨(三)
实例说明
Short group 1 Short group 2 : <1 2 3 4 11 12 13> : <7 8 9 10 18 19 20>
以上为078料号短路群资料,在某次生产中,2 与7 两个不同短路群点其外部(conn、排线) 阻抗超出系统默认值(5Ω),导致30%短路产品 误判为良品.
電容之Debugging(一)
在编辑电容测试资料时其高低点通常选定一 较少元件相接的脚为低点,以减少干扰程度. 300pF以下之电容,一般使用较高的信号做量
测.
大于3.3UF之电容一般采用Mode 0(电流源测试)
方式量测.
当测量测值与标准值偏差太大时,可适当选用 不同模式测试(保证产品OK)直到稳定为止.