芯片短路失效分析注意点
合集下载
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性，平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益，请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间：9:00-18:30)。
芯片短路失效分析注意点
杨利华
【期刊名称】《中国集成电路》
【年(卷),期】2024(33)3
【摘要】对芯片内部短路失效,可以使用EMMI和OBIRCH测试进行定位,但又不能完全采用常规的失效分析方法,本文就芯片内部短路失效注意点进行详细剖析。
【总页数】3页(P91-93)
【作者】杨利华
【作者单位】北京中电华大电子设计有限责任公司
【正文语种】中文
【中图分类】TP3
【相关文献】
1.芯片引线键合点失效的俄歇电子能谱分析
2.SiP组件中芯片失效机理与失效分析
3.非易失性存储芯片的两点应用注意
4.车规级微控制单元芯片上车使用后的失效机理及失效率分析
5.电气火灾短路故障点与起火点分析
因版权原因，仅展示原文概要，查看原文内容请购买。