材料测试技术计算题
材料测试技术课后题答案
大功率转靶衍射仪与普通衍射仪相比，在哪两方面有其优越性？答：①提高X射线强度：②缩短了试验时间2、何为特征X射线谱？特征X射线的波长与（管电压）、（管电流）无关，只与（阳极材料）有关。
答：由若干条特定波长的谱线构成。
当管电压超过一定的数值（激发电压V激）时产生。
不同元素的阳极材料发出不同波长的X射线。
因此叫特征X射线。
什么是Ka射线？在X射线衍射仪中使用的是什么类型的X射线？答：L壳层中的电子跳入K层空位时发出的X射线，称之为Ka射线。
Ka射线的强度大约是K 6射线强度的5倍，因此，在实验中均采用Ka射线。
Ka谱线又可分为Kal和Ka 2, K a 1的强度是K a 2强度的2倍，且Kal和Ka 2射•线的波长非常接近，仅相差0.004A左右，通常无法分辨，因此，一般用Ka来表示。
但在实际实验中有可能会出现两者分开的情况。
AI是面心立方点阵，点阵常数a=4.049A,试求（111）和（200）晶面的面间距。
计算公式为:dhkl=a （h2+k2+l2）-l/2答：dlll=4.049/（12+12+12）-l/2=2.338A：d200=4.049/（22）-l/2=2.0245A说说不相干散射对于衍射分析是否有利？为什么？答：有利。
不相干散射线由于波长各不相同，因此不会互相干涉形成衍射，所以它们散布于各个方向，强度一般很低，它们在衍射工作中只形成连续的背景。
不相干散射的强度随sin 0/'的增大而增强，而且原子序数越小的物质，其不相干散射愈大，造成对衍射分析工作的不利影响。
6、在X射线衍射分析中，为何要选用滤波片滤掉KB射线？说说滤波片材料的选取原则。
实验中，分别用Cu靶和M。
靶，若请你选滤波片，分别选什么材料？答：（1）许多X射线工作都要求应用单色X射线，由于Ka谱线的强度高，因此当要用单色X 射线时，一般总是选用Ka谱线。
但从X射线管发出的X射线中，当有Ka线时，必定伴有KB 谱线及连续光谱，这对衍射工作是不利的，必须设法除去或减弱之，通常使用滤波片来达到这一目的。
《岩石力学和测试技术》计算题练习
岩石力学计算题1、有一块尺寸为7×7×7cm的石英岩立方体试件。
当试件承受20T义压力后，试块轴向收缩量0.003cm ，横向增长0.000238cm。
求石英岩立方体试件的弹性模量和泊松比。
解：（1）计算石英岩试件的轴向应变和横向应变：εZ＝ΔL Z/L＝0.003/7＝0.00043εX＝ΔL X/L＝0.000238/7＝0.000034（2）计算试件的轴向应力：бZ＝P/A＝20000/（7×7）＝408.16kg/cm3 ＝40.816MPa（3）计算石英岩的弹性模量：E＝бZ /εZ＝408.16/0.00043＝9.5×105 kg/cm3＝0.95×105MPa（4）计算石英岩的泊松比：µ＝εX /εZ＝0.000034/0.00043＝0.082．将一岩石试件进行抗压强度试验，当侧压为б2＝б3＝300 kg/cm2时，垂直加压到2700kg/cm2，试件发生破坏，其破坏面与最大主平面夹角成60°，设抗剪强度随正应力呈线性变化。
计算：（1）内摩擦角Φ；（2）破坏面上的正应力和剪应力；（3）在正应力为零的那个面上的抗剪强度。
解：（1）由已知条件作莫尔应力园和强度曲线，可知内摩擦角Φ＝30°（2）计算破坏面上的正应力和剪应力：б＝（б1＋б3）/2＋（б1－б3）/2˙Cos2α＝（2700＋300）/2＋（2700－300）/2˙Cos120°＝900 kg/cm2 少τ＝（б1－б3）/2˙Sin2α＝（2700－300）/2˙Sin 120°＝1039.2 kg/cm2（3）由已知条件可知，该岩石试件强度曲线方程为：τ= C +бtgΦ，而以上计算的б和τ为破坏面上的应力，必然满足强度曲线方程，所以把以上计算的б和τ值代入得：C = τ－бtg30°＝1039.2－900˙tg30°＝519.58 kg/cm23.某均质岩体的纵波波速是4720m/s，横波波速是2655m/s，岩石密度为2.63g/cm3，求岩体的动弹性模量和动泊松比。
材料测试技术试题
第一章X射线衍射分析一、填空题1、X射线从本质上说，和无线电波、可见光、γ射线一样，也是一种。
2、尽管衍射花样可以千变万化，但是它们的基本要素只有三个：即、、。
3、在X射线衍射仪法中，对X射线光源要有一个基本的要求，简单地说，对光源的基本要求是、、。
4、利用吸收限两边相差十分悬殊的特点，可制作滤波片。
5、测量X射线衍射线峰位的方法有七种，它们分别是、、、、、、。
6、X射线衍射定性分析中主要的检索索引的方法有三种，它们分别是、、。
7、特征X射线产生的根本原因是。
8、X射线衍射定性分析中主要的检索索引的方法有三种，它们分别是、和字顺索引。
9、X射线衍射仪探测器的扫描方式可分、、三种。
10、实验证明，X射线管阳极靶发射出的X射线谱可分为两类：和11、当X射线穿过物质时，由于受到散射，光电效应等的影响，强度会减弱，这种现象称为。
12、用于X射线衍射仪的探测器主要有、、、，其中和应用较为普遍。
13、X射线在近代科学和工艺上的应用主要有、、三个方面14、X射线管阳极靶发射出的X射线谱分为两类、。
15、当X射线照射到物体上时，一部分光子由于和原子碰撞而改变了前进的方向，造成散射线；另一部分光子可能被原子吸收，产生；再有部分光子的能量可能在与原子碰撞过程中传递给了原子，成为。
二、名词解释X-射线的吸收、连续x射线谱、特征x射线谱、相干散射、非相干散射、荧光辐射、光电效应、俄歇电子、质量吸收系数、吸收限、三、问答与计算(只做带下划线部分)1、某晶体粉末样品的XRD数据如下，请按Hanawalt法和Fink法分别列出其所有可能的检2、简述特征X-射线谱的特点。
3、推导布拉格公式，画出示意图。
4、定性物相分析的注意事项？5、回答X射线连续光谱产生的机理。
6、简述以阴极射线的方式获得X射线所必须具备的条件。
7、简述连续X射线谱的特征8. x射线衍射仪对x光源的要求、光源单色化的方法9. 测角仪的调整要求？10. 测角仪的工作原理以及各狭缝作用？11. 哈纳瓦特与芬克索引的规则？电子显微分析部分（第2、3、4章）一、填空题1、电子显微分析是利用聚焦电子束与试样物质相互作用产生的各种物理信号，分析试样物质的、和。
建筑材料检测员试题(答案)
2021年建筑材料检测员考试试题〔A卷〕姓名：成绩：一、填空题〔每题1分，共20分〕1. 计量法规定：“国家采用国际单位制。
国际单位制计量单位和国家选定的其他计量单位为国家法定计量单位。
2. 复合硅酸盐水泥的强度等级分为32.5R、42.5、42.5R、52.5、52.5R 等级3. 混凝土的和易性包括流动性、黏聚性和保水性。
4. 砂分为天然砂、机制砂、混合砂。
5. 弹性体改性沥青防水卷材的必试工程包括厚度、拉力、延伸率、不透水性、低温柔性、和耐热性。
6. 腻子型遇水膨胀的必试工程：体积膨胀倍率、高温流淌性、低温试验。
7. 根据混凝土拌合物的稠度确定成型方法，坍落度大于 70mm 的混凝土宜用捣棒人工捣实。
混凝土拌合物坍落度和坍落扩展度值以毫米为单位，测量精确至 1mm ，结果表达修约至5mm 。
8. 龄期28d的水泥试体必须在 28d±8h ，试体龄期是从成型时水泥全部参加水中时算起。
9. 回〔压实〕填土密度试验方法有：环刀法、灌水法、灌砂法。
10. 钢筋原材力学性能检验时，应在任选的两根钢筋上切取试件，其中2 个做拉伸试验， 2 个做弯曲试验。
11. 水泥试体成型试验室温度为 20±2℃，相对湿度大于 50 ，水泥试样、标准砂、拌合水及试模的温度与室温相同。
养护箱温度为20±1℃，相对湿度大于90%。
养护水的温度为20±1℃。
12. 水泥安定性的测定方法分为标准法〔雷氏法〕和代用法〔饼法〕13. 砂用于筛分析的试样，颗粒的公称粒径不应大于 10.0mm 。
试验前应先将来样通过公称直径为 10.0mm 的方孔筛，并计算出筛余量。
14. 碎〔卵〕石的必试工程：含泥量、泥块含量、筛分析、针状和片状颗粒总含量、压碎指标。
15. 按照GB8076检验外加剂、防水剂、防冻剂用砂应符合GB/T14684要求的细度模数2.6-2.9的II区中砂，含泥量小于1%16. 混凝土配合比设计中的三个重要参数是水胶比、用水量、砂率。
现代材料测试技术习题1
习题1-1 试计算当管电压为50kV时，X射线管中电子击靶时的速度与动能，以及所发射的连续谱的短波限和光子的最大能量是多少？1-2 分析下列荧光辐射产生的可能性，为什么？（1）用CuKαX射线激发CuKα荧光辐射；（2）用CuKβX射线激发CuKα荧光辐射；（3）用CuKαX射线激发CuLα荧光辐射。
1-3 X射线实验室用防护铅屏，其厚度通常至少为1mm，试计算这种铅屏对CuKα、M oKα辐射的透射因子（I投射/I入射）各为多少？1-4 试计算含w c=0.8%，w Cr=4%，w w=18%的高速钢对MoKɑ辐射的质量吸收系数。
1-5 欲使钼靶X射线管发射的X射线能激发放置在光束中的铜样品发射K系荧光辐射，问需加的最低的管压值是多少？所发射出的荧光辐射波长是多少？2-1试画出下列晶向及晶面（均属立方晶系）：[111]，[121]，[221]，（010），（110），（123），（121）。
2-2 下面是某立方晶系物质的几个面间距，试将它们按大小次序重新排列。
（312），（100），（200），（311），（121），（111），（210），（220），（130），（030），（221），（110）。
2-3 当X射线在原子列中衍射时，相邻原子散射线在某个方向上的程差若不为波长的整数倍，则此方向必然不存在衍射线，这是为什么？2-4 当波长为λ的X射线照射到晶体并出现衍射线时，相邻两个（hkl）反射线的程差是多少？相邻两个（HKL）发射线的程差又是多少？2-5 画出Fe2B在平行于（010）上的部分倒易点。
Fe2B属正方晶系，点阵参数a=b=5.10Å，c=4.24Å。
2-6 判别下列哪些晶面属于[111]晶带：（110），（231），（231），（211），（101），（133），（112），（132），（011），（212）。
2-7 试计算（311）及（132）的共同晶带轴。
材料测试方法复习题
复习题一．名词解释1.系统消光2.X射线衍射方向3.二次电子4.差热分析5.差示扫描量热法6.外推始点温度7.拉曼效应8.Moseley定律9.化学位移 10.光电效应 11.衍射衬度像 12.质厚衬度像 13.相位衬度像二．简答题1. X射线谱有哪两种基本类型？各自的含义是什么？2.X射线是怎么产生的？连续X射线谱有何特点？3.何谓Kα射线/何谓Kβ射线？这两种射线中哪种射线强度大？哪种射线的波长短？4.什么方向是晶体对X射线的衍射的衍射方向？6. 布拉格方程的由来、表达、阐明的问题及所讨论的问题?7. 晶体使X射线产生衍射的充分条件是什么？何谓系统消光？8.粉晶X射线衍射卡片（JCPDF卡）检索手册的基本类型有哪三种？每种手册如何编排？每种物相在手册上的形式？9.在进行混合物相的X射线衍射线定性分析鉴定时，应特别注意优先考虑的问题有哪些？10.电子束与物质相互作用可以获得哪些信息？12.简述电子透镜缺陷的种类及产生的原因? 如何提高它的分辨率？13.透射电子显微图象包括哪几种类型？14.散射衬度与什么因素有关？这种图象主要用来做什么？15.衍射衬度与什么因素有关？这种图象主要用来做什么？16.何谓明场象？何谓暗场象？17.何谓二次电子？扫描电镜中二次电子象的衬度与什么因素？为什么？最适宜研究什么？18.何背散射电子？扫描电镜中背散射电子象的衬度与什么因素有关？为什么？最适宜研究什么？19.什么是X射线的能谱分析和波谱分析？X射线显微分析方法有哪三种？20.何为差热分析？差热分析的基本原理是什么21.何为差示扫描量热?差示扫描量热分析的基本原理是什么？22.DTA和DSC的主要区别是什么?23.如何确定外推始点温度?24. 影响差热曲线主要因素有哪些?25.分子振动吸收红外辐射必须满足哪些条件?26.简述拉曼光谱的原理及特点。
27. 红外光谱与拉曼光谱的比较？28. X射线光电子能谱是一种什么分析方法？它的基本原理是什么？29. 何为化学位移? 化学位移规律？30. XPS伴线有哪些？并简明说明之?31. X射线光电子能谱的分析应注意哪些问题？三.综合题就具体的测试项目，根据你所学过的现代测试技术挑选最佳的测试方法(是否能测试，是否是最精确、最快速、最经济等)：（1）.尺寸小于5µ的矿物的形貌观察分析；（2）.有机材料中化学键的分析鉴定；（3）.多晶材料的物相分析鉴定；（4）.热稳定性和相变温度的测定；（5）.矿物中包裹体或玻璃气泡中物质的鉴定分析；（6）.表面或界面元素化学状态分析；（7）.晶界上杂质的化学成分定量分析；（8）.晶界条纹或晶体缺陷（如位错、层错等）的观察分析；（9）.粉晶物相的定量分析；（10）.纳米材料的形貌观察四.计算题1. Lu2O3，立方晶系，已知a=1.0390 nm，问用Co靶的K1=0.17980nm照射，(400)面网组能产生几条衍射线？五.分析题正交晶系YBa2Cu3O7晶体的X射线衍射数据d（面间距）、I/I（相对强度）、hkl(衍射指数)如下：衍射线编号d(Å)I/I0hkl 衍射线编号d(Å)I/Ihkl1 3.71 15 200 16 2.095 5 1232 3.67 60 121 17 2.020 20 3303 3.60 15 002 18 2.009 15 312,1504 3.14 100 211,1319 1.999 15 0515 3.12 75 031 20 1.982 2 2136 3.09 70 112 21 1.975 15 0337 3.02 20 220 22 1.866 10 4008 2.958 15 022 23 1.835 30 2429 2.590 10 040,20224 1.805 2 00410 2.391 10 231 25 1.780 2 41111 2.365 5 132 26 1.727 2 11412 2.340 2 013 27 1.675 5 40213 2.140 5 321 28 1.642 10 161,32314 2.131 5 204 29 1.623 2 20415 2.108 2 042 30 1.602 2 431 1．将其中的衍射数据整理成一套Hanawalt索引查找物相的形式.2. 根据衍射线出现的规律,判断YBa2Cu3O7晶体空间格子的类型，简述系统消光规律3. 在进行混合物相的X射线衍射线定性分析鉴定时，应特别注意优先考虑的问题有哪些？。
材料测试方法习题
材料测试方法习题1-1 计算0.071nm(MoKα)和0.154nm(CuKα)的X-射线的振动频率和能量。
1-2 计算当管电压为50kV时，电子在与靶碰撞时的速度与动能以及所发射的连续谱的短波限和光子的最大动能.1-3 分析下列荧光辐射产生的可能性，为什么？（1）用CuKαX射线激发CuKα荧光辐射；（2）用CuKβX射线激发CuKα荧光辐射；（3）用CuKβX射线激发CuLα荧光辐射；1-4 X 射线与物质有哪些相互作用？规律如何？对分析有何影响？1-5 为使CuKα线的强度衰减50%，需要多厚的Ni滤波片？（Ni的密度为8.9 g/cm3）1-6 试计算Cu的K系激发电压。
1-7试计算Cu的Kα1射线的波长。
1-8产生X 射线需具备什么条件？1-9连续X射线谱是如何产生的？1-10计算空气对CuKα的质量吸收系数和线吸收系数（假定空气中只有质量数为80％的氮、质量分数20％的氧，空气的密度为1.29＊10-3g/cm3）。
1-11标识X 射线与荧光X 射线的产生机理有何异同？某物质的K系荧光X 射线波长是否等于它的K 系标识X射线波长？1-12 在立方点阵中画出下面的点阵面和结点方向。
1) (113) [110] [201] [101](010) (011-13 证实（1-10）、（1-21）、（-312）属于[111]晶带。
1-14 当波长为λ的X射线在晶体中发生衍射时，相邻两（hkl）晶面衍射线的波程差是多少？相邻两个HKL干涉面的波程差又是多少？1-15 对于晶粒直径分别为100、75、50、25 nm的粉末衍射图形，请计算由于晶粒细化引起的衍射条宽化幅度B（设θ=45°，λ=0.15 nm）。
又，对于晶粒直径为25 nm的粉末，试计算θ=10°，45°，80°的B值。
1-16 用粉末相机得到如下角度的谱线，试求出晶面间距（数字为θ角，所用射线为CuK α）。
金属材料检测技术考试题
金属材料检测技术考试题金属材料检测技术考试题相关参考内容：1. 请简述金属材料检测技术的定义，以及在工业生产和科学研究中的应用。
金属材料检测技术是指利用各种方法和工具对金属材料进行检测、测试和评估的技术。
它可以帮助工业生产和科学研究中的相关人员了解金属材料的性质、结构和品质，以确保其符合要求，并发现可能存在的缺陷和问题。
金属材料检测技术在工业生产中广泛应用于金属制品质检、材料研发、产品可靠性评估以及设备维护等方面；在科学研究中，则应用于材料学、力学、物理学等领域的实验和研究。
2. 请列举并简述金属材料常用的非破坏检测方法。
常用的非破坏检测方法包括：超声波检测、磁粉检测、涡流检测、X射线检测和磁性检测。
超声波检测利用超声波的传播和反射特性对材料进行检测，通过检测超声波的传播速度和反射信号来判断材料的质量和缺陷情况；磁粉检测利用涂有磁粉的表面反应剂和磁场对金属材料进行检测，通过观察磁粉的分布情况来判断是否存在裂纹、缺陷等；涡流检测利用交变磁场感应涡流的现象对金属材料进行检测，通过观察涡流强度和分布情况来判断是否存在问题；X射线检测利用X射线的穿透性对金属材料进行检测，通过观察X射线透射图像来判断材料内部的缺陷和问题；磁性检测是利用磁性材料对金属材料进行检测，通过观察磁性材料在金属表面的反应来判断是否存在缺陷等。
3. 请简述金属材料组织检测的常用方法。
金属材料组织检测的常用方法包括：金相显微镜检测、扫描电镜检测和X射线衍射检测。
金相显微镜检测利用金相显微镜观察金属材料的显微组织和结构，通过观察晶粒、相界、裂纹等微观形貌特征来评估材料的质量和性能；扫描电镜检测利用扫描电镜观察金属材料的表面形貌和微观结构，通过观察材料表面的形态、晶粒、缺陷等来评估材料的性能；X射线衍射检测利用X射线通过材料的晶体结构，通过分析和解释材料的衍射图样来确定材料的组织类型、晶格参数等。
4. 请简述金属材料的拉伸试验和冲击试验。
材料测试分析技术答案第一、三、四题
今有一张用CuKa 辐射摄得的钨(体心立方)的粉末图样，试计算出头四根线条的相对积分强度（不计e -2M和A （θ））。
若以最强的一根强度归一化为100，其他线强度各为多少?这些线4--8在德拜图形上获得某简单立方物质的如下四条谱线；所给出的均有Cu 衍射的结果。
以为外推函数，请用柯亨法计算晶格常数，精确到四位有效数字解： ,+=1，可得下表：所以得：154.8213=6489A+231.114C① 6.728=231.114A+14.093C② 由1，2得A=0.01648，C=0.2071。
又有,===0.5994求淬火后低温回火的碳钢样品，不含碳化物（经金相检验），A （奥氏体）中含碳1％，M （马氏体）中含碳量极低。
经过衍射测得A220峰积分强度为2.33（任意单位），M200峰积分强度为16.32，试计算该钢中残留奥氏体的体积分数（实验条件：Fe K α辐射，滤波，室温20℃，α-Fe 点阵参数a=0.286 6 nm ，奥氏体点阵参数a=0.3571＋0.0044wc ，wc 为碳的质量分数。
解： • 根据衍射仪法的强度公式，• • 令 ,• 则衍射强度公式为：I = (RK/2μ)V由此得马氏体的某对衍射线条的强度为I α=(RK α/2μ)V α，残余奥氏体的某对衍射线条的强度为I y =(RK y /2μ)V y 。
两相强度之比为：• 残余奥氏体和马氏体的体积分数之和为f γ+f α=1。
则可以求得残余奥氏体的百分含量：对于马氏体，体心立方，又α－Fe 点阵参数a=0.2866nm, Fe K α波长λ＝1.973A 。
，Θ＝453K,T=293K∴sin θ1=2dλ= 0.19370.286622⨯=0.6759⇒θ1=42.52。
，P 200=6,F=2f,M 1＝226(x)1sin x 4a h m K φθλ⎡⎤⎛⎫+ ⎪⎢⎥Θ⎣⎦⎝⎭＝1.696⨯2114d ⨯10－19＝2.65⨯10－18对于奥氏体面心立方，a=0.3571 ⨯0.0044 ⨯1%=0.3575nm∴sin θ2=2d λ=0.19370.35752 =0.7661⇒θ2=50.007。
材料测试分析技术真题试卷
材料测试分析技术真题试卷一、选择题（每题2分，共20分）1. 材料的硬度测试中，布氏硬度测试使用的是：A. 钢球B. 金刚石锥C. 金刚石球D. 钢锥2. 下列哪项不是材料的机械性能测试？A. 拉伸测试B. 压缩测试C. 热膨胀测试D. 冲击测试3. X射线衍射分析主要用来研究材料的：A. 微观结构B. 化学成分C. 表面形貌D. 热稳定性4. 扫描电子显微镜（SEM）的主要优点是：A. 分辨率高B. 可进行元素分析C. 样品制备简单D. 所有以上选项5. 热重分析（TGA）主要用于：A. 测量材料的密度B. 测量材料的热稳定性C. 测量材料的导热性D. 测量材料的热膨胀系数二、填空题（每空2分，共20分）6. 材料的弹性模量是指材料在_________作用下，应力与应变的比值。
7. 材料的疲劳测试通常采用_________循环加载方式。
8. 材料的断裂韧性通常用_________表示，其单位是MPa·m^{1/2}。
9. 差示扫描量热法（DSC）可以用来测量材料的_________和相变温度。
10. 原子力显微镜（AFM）利用探针与样品表面之间的_________来获取表面形貌信息。
三、简答题（每题10分，共30分）11. 简述材料的冲击测试的基本原理及其在材料性能评价中的意义。
12. 描述透射电子显微镜（TEM）与扫描电子显微镜（SEM）的主要区别。
13. 解释差示热分析（DTA）与差示扫描量热法（DSC）的异同点。
四、计算题（每题15分，共30分）14. 某材料的拉伸测试结果如下：原始截面积A0=50mm²，最大载荷Fmax=5000N。
试计算该材料的抗拉强度σb。
15. 假设你正在分析一种合金的热重分析（TGA）曲线，曲线显示在600℃时质量损失了5%。
如果初始质量为100g，请计算在600℃时的质量损失量。
五、论述题（共30分）16. 论述材料的微观结构分析技术在新材料开发中的重要性，并举例说明。
无机材料测试技术课后练习题
思考与练习题1．X射线产生的基本条件是什么？X射线的性质有哪些？2．连续X射线谱及特征Ｘ射线谱的产生机理是什么？3．以表1.1中的元素为例，说明X射线K系波长随靶材原子序数的变化规律，并加以解释。
4．X射线强度、X射线相对强度、X射线绝对强度的定义。
5．为什么X射线管的窗口要用Be做，而防护X光时要用Pb板？6．解释X射线的光电效应、俄歇效应与吸收限；吸收限的应用有哪些？7．说明为什么对于同一材料其λk＜λkβ＜λk α。
8．一元素的特征射线能否激发出同元素同系的荧光辐射，例如能否用CuKα激发出CuKα荧光辐射，或能否用CuKβ激发出CuKα荧光辐射？为什么？9．试计算当管电压为50kV时，X射线管中电子在撞击靶面时的速度与动能、以及对所发射的连续谱的短波限和辐射光子的最大能量是多少？10．计算0.071nm（MoKα）和0.154 nm（CuKα）的X射线的振动频率和能量。
11．欲用Mo靶X射线管激发Cu的荧光X射线辐射，所需施加的最低管电压是多少？激发出的荧光辐射的波长是多少？12．为使CuKα的强度衰减1/2，需要多厚的Ni滤波片？13．试计算将Cu辐射中的I kα/ I kβ从7.5提高到600的Ni滤片厚度（Ni对CuKβ的质量吸收系数μm＝350cm２／g）。
14．计算空气对CrKα的质量吸收系数和线吸收系数（假设空气中只有质量分数80%的氮和质量分数20%的氧，空气的密度为1.29×10－3 g ／cm3）。
15．X射线实验室中用于防护的铅屏，其厚度通常至少为1mm。
试计算这种铅屏对于CuKα、MoKα和60KV工作条件下从管中发射的最短波长辐射的透射因数（I／Io）各为多少？16．用倒易点阵概念推导立方晶系面间距公式。
17．利用倒易点阵概念计算立方晶系（110）和（111）面之间的夹角。
18．布拉格方程式中各符号的物理意义是什么？该公式有哪些应用？19．为什么说劳厄方程和布拉格方程实质上是一样的？20．一束X射线照射在一个晶面上，除“镜面反射”方向上可获得反射线外，在其他方向上有无反射线？为什么？与可见光的镜面反射有何异同？为什么？21．α-Fe属立方晶系，点阵参数a=0.2866nm。
研测试技术作业28题
1．实验中选择X射线管以及滤波片的原则是什么？已知一个以Fe 为主要成分的样品，试选择合适的X 射线管和合适的滤波片？2计算当管电压为50kv时，电子在与靶碰撞时的速度与动能以及所发射的连续谱的短波限和光子的最大动能。
已知条件：U=50kv电子静止质量：m0=9.1×10-31kg光速：c=2.998×108m/s电子电量：e=1.602×10-19C普朗克常数：h=6.626×10-34J.s电子从阴极飞出到达靶的过程中所获得的总动能为E=eU=1.602×10-19C×50kv=8.01×10-18kJ由于E=1/2m0v02所以电子与靶碰撞时的速度为v0=(2E/m0)1/2=4.2×106m/s所发射连续谱的短波限λ0的大小仅取决于加速电压λ0（Å）＝12400/v(伏) ＝0.248Å辐射出来的光子的最大动能为E0＝hʋ0＝hc/λ0＝1.99×10-15J3如图解释X射线和物质相互作用时，俄歇电子和荧光X射线的产生过程。
4．写出布拉格方程，并说明布拉格方程在实验中的两大应用方面5.影响X射线衍射强度的主要因数有哪些？6.简述X 射线衍射分析的三种基本方法7．计算面心立方晶体的结构因子，确定系统消光规律，写出可能出现的衍射晶面指数。
8.计算体心立方晶体的结构因子，确定系统消光规律，并写出可能出现的衍射晶面指数。
9. 计算底心立方晶体的结构因子，确定系统消光规律，并写出可能出现的衍射晶面指数。
第四章10.试总结德拜法衍射花样的背底来源，并提出一些防止和减少背底的措施。
答:德拜法衍射花样的背底来源是入射波的非单色光、进入试样后出生的非相干散射、空气对X 射线的散射、温度波动引起的热散射等。
采取的措施有尽量使用单色光、缩短曝光时间、恒温试验等。
11.粉末样品颗粒过大或过小对德拜花样影响如何？为什么？板状多晶体样品晶粒过大或过小对衍射峰形影响又如何？答. 粉末样品颗粒过大会使德拜花样不连续，或过小，德拜宽度增大，不利于分析工作的进行。
测试技术 计算题
六、计算题：１、某个信号的付氏展开式为x(t)=20-10cos(ωt)-4cos(3ωt-π/2)，画出其频谱图。
２、用时间常数为秒的一阶装置对正弦信号进行测量，要求振幅误差在5/100以内，求该装置能够测量的正弦信号的最高频率。
３、用一个时间常数为秒的一阶装置去测量周期分别为１秒，２秒和５秒的正弦信号，问幅值误差分别为多少4、用电阻应变片组成全桥，测某物件的应变，已知其变化规律为ε(t)=A+Bcos10t+Acos100t,若电桥激励电压为u0，u0=Esin10000t，试求：（1）写出电桥的输出电压表达式；（2）电桥输出的频谱（包括幅频谱、相频谱）。
5.设某力传感器可作为二阶振荡系统处理。
已知传感器的固有频率为800Hz，阻尼比为ξ=。
（1）用该传感器作频率为400Hz正弦力测试时，其幅值比A(ω)和相角差φ(ω)各为多少（2）若用其测量频率为400Hz的方波信号，输出信号是否失真为什么作出输出信号的波形图。
6.液体温度传感器是一阶传感器，现已知某玻璃水银温度计特性的微分方程为4dy/dx+2y = 2×103x。
y:水银柱高（m），x:被测温度（°）求：（1）水银温度计的传递函数；（2）温度计的时间常数及静态灵敏度；（3）若被测水温是频率为的正弦信号，求此时的振幅误差和相角误差。
7、已知调幅波x(t)=100+30cosΩt+20cos4Ωt)(cosω0t)，其中，f0=10KHz。
求：（1）x(t)所包含的各分量的频率与幅值；（2）绘出调制信号的频谱和调幅波的频谱（包括幅频谱、相频谱）。
8.液体温度传感器是一阶传感器，现已知某玻璃水银温度计特性的微分方程为：4dy/dx+2y=2×10-3x，y：水银柱高（m），x：被测温度（o）。
求：（1）水银温度计的传递函数；（2）温度计的时间常数及静态灵敏度；（3）若被测水温变化规律是的正弦信号，求此时的振幅误差和相角差。
试验检测试题
试验检测试题（粗细骨料试验）一、填空题（15题）1、当粗骨料最大粒径为50mm时，水泥混凝土抗压强度试件尺寸应为200×200×200mm的立方体。
2、在水泥混凝土配合比设计中，砂率是依据设计水灰比和骨料最大粒径和种类来确定的。
3、称取堆积密度为1600kg/m3的干碎石600g，浸水24小时后称其水中质量为381g，则该碎石的表观密度为2.74g/cm3，空隙率为41.6%（ρ取1）。
w4、配制混凝土时需采用最佳砂率，这样可在水灰比及水泥用量一定情况下，获得最大的坍落度值，或者在坍落度值一定的条件下，水泥用量最少。
5、砂率是指混凝土集料中砂子的质量占砂石总质量的百分率。
6、当砂筛分时，含泥量超过5%时，应先将试样水洗，然后烘干至恒重，再进行筛分。
7、筛分过程中注意控制质量损失，筛后散失不得超过筛前的试样总质量的1%。
8、粗、细骨料的表观密度、堆积密度、紧密密度的计算结果均精确至10kg/m³。
9、砂的细度模数A1、A2、A3、A4、A5、A6分别为4.75mm、2.36mm、1.18mm、600μm、 300μm、150μm筛的累计筛余百分率。
10、砂的细度模数以两次试验结果的算术平均值作为测定值，精确至0.1%。
当两次试验所得的细度模数之差大于0.20时，应重新取试样进行试验。
11、有机物含量试验当两种溶液的颜色接近时，则应将该试样倒入烧杯中放在温度为60-70 ℃的水浴锅中加热2-3h，然后再与标准溶液比色。
12、依据TB10424标准，粗骨料进场常规检验项目有颗粒级配、压碎指标、针片状含量、含泥量、泥块含量、紧密空隙率。
13、粗骨料选择时应考虑混凝土的保护层厚度和钢筋间距。
不宜超过保护层的2/3，腐蚀严重条件不宜超过1/2，且不得超过钢筋最小间距的3/4。
14、配制C50及以上的混凝土时，粗骨料最大粒径不应大于25mm。
15、细骨料的坚固性用硫酸钠溶液循环浸泡法检验，试样需要经过5次循环。
材料分析测试技术左演声课后答案
第一章 电磁辐射与材料结构一、教材习题1-1 计算下列电磁辐射的有关参数：（1）波数为3030cm -1的芳烃红外吸收峰的波长（μm ）； 答：已知波数ν=3030cm -1根据波数ν与波长λ的关系)μm (10000)cm (1λν=-可得： 波长μm 3.3μm 3030100001≈==νλ（2）5m 波长射频辐射的频率（MHz ）； 解：波长λ与频率ν的关系为λνc=已知波长λ=5m ，光速c ≈3×108m/s ，1s -1=1Hz则频率MHz 6010605/103168=⨯=⨯=-s msm ν （3）588.995nm 钠线相应的光子能量（eV ）。
答：光子的能量计算公式为λνchh E ==已知波长λ=588.995nm=5.88995⨯10-7m ，普朗克常数h ＝6.626×10-34J ⋅s ，光速c ≈3×108m/s ，1eV=1.602×10-19J 则光子的能量（eV ）计算如下：eVeV J ms m s J E 107.210602.110375.3 10375.31088995.5/10310626.61919197834≈⨯⨯=⨯=⨯⨯⨯⋅⨯=-----1-3 某原子的一个光谱项为45F J ，试用能级示意图表示其光谱支项与塞曼能级。
答：对于光谱项45F J ，n =4，L =3，M =5；S =2(M =2S +1=5)，则J =5，4，3，2，1，当J=5，M J=0，±1，±2，···±5；……J=1，M J=0，±1。
光谱项为45F J的能级示意图如下图：1-4辨析原子轨道磁矩、电子自旋磁矩与原子核磁矩的概念。
答：原子轨道磁矩是指原子中电子绕核旋转的轨道运动产生的磁矩；电子自旋磁矩是指电子自旋运动产生的磁矩；原子核磁矩是指原子中的原子核自旋运动产生的磁矩。
试验检测试题
试验检测试题（粗细骨料试验）一、填空题（15题）1、当粗骨料最大粒径为50mm时，水泥混凝土抗压强度试件尺寸应为200×200×200mm的立方体。
2、在水泥混凝土配合比设计中，砂率是依据设计水灰比和骨料最大粒径和种类来确定的。
3、称取堆积密度为1600kg/m3的干碎石600g，浸水24小时后称其水中质量为381g，则该碎石的表观密度为2.74g/cm3，空隙率为41.6%（ρ取1）。
w4、配制混凝土时需采用最佳砂率，这样可在水灰比及水泥用量一定情况下，获得最大的坍落度值，或者在坍落度值一定的条件下，水泥用量最少。
5、砂率是指混凝土集料中砂子的质量占砂石总质量的百分率。
6、当砂筛分时，含泥量超过5%时，应先将试样水洗，然后烘干至恒重，再进行筛分。
7、筛分过程中注意控制质量损失，筛后散失不得超过筛前的试样总质量的1%。
8、粗、细骨料的表观密度、堆积密度、紧密密度的计算结果均精确至10kg/m³。
9、砂的细度模数A1、A2、A3、A4、A5、A6分别为4.75mm、2.36mm、1.18mm、600μm、 300μm、150μm筛的累计筛余百分率。
10、砂的细度模数以两次试验结果的算术平均值作为测定值，精确至0.1%。
当两次试验所得的细度模数之差大于0.20时，应重新取试样进行试验。
11、有机物含量试验当两种溶液的颜色接近时，则应将该试样倒入烧杯中放在温度为60-70 ℃的水浴锅中加热2-3h，然后再与标准溶液比色。
12、依据TB10424标准，粗骨料进场常规检验项目有颗粒级配、压碎指标、针片状含量、含泥量、泥块含量、紧密空隙率。
13、粗骨料选择时应考虑混凝土的保护层厚度和钢筋间距。
不宜超过保护层的2/3，腐蚀严重条件不宜超过1/2，且不得超过钢筋最小间距的3/4。
14、配制C50及以上的混凝土时，粗骨料最大粒径不应大于25mm。
15、细骨料的坚固性用硫酸钠溶液循环浸泡法检验，试样需要经过5次循环。
材料科学考试试题
材料科学考试试题
1. 问答题
1.1 介绍金属晶体的晶体系和点阵结构。
1.2 什么是晶体缺陷？列举并简要描述几种常见的晶体缺陷。
1.3 什么是金属材料的弹性变形？它的原理是什么？
2. 简答题
2.1 请解释热处理对金属的影响以及其应用。
2.2 介绍金属材料的断裂方式及其相关理论。
2.3 什么是塑性变形？请说明金属材料的塑性变形机制。
3. 计算题
3.1 某一种金属的密度为7.87 g/cm³，原子量为63.55。
计算该金属的晶格常数。
3.2 一个长度为2 cm，宽度为1 cm，高度为0.5 cm的金属样品，
质量为10 g。
以该金属的密度和弹性模量，计算其Young氏弹性模量。
3.3 一个拉伸试验样品的长度为200 mm，直径为10 mm，抗拉强
度为400 MPa。
计算其屈服强度。
4. 综合题
4.1 请以金属焊接为例，说明材料科学在工程应用中的重要性。
4.2 分析金属材料的导热性能和导电性能与其晶体结构的关系。
4.3 以金属腐蚀为例，探讨材料科学在延长金属材料使用寿命中的应用。
以上为材料科学考试试题，希望能够全面展示学生对材料科学基础知识的掌握和应用能力。
祝考生取得优异的成绩！。
试验检测试题解析
试验检测试题（矿物掺合料试验）一、填空题（15题）1、混凝土的总碱含量包括水泥、矿物掺合料、外加剂及水的碱含量之和。
其中，矿物掺合料的碱含量以其所含可溶性碱计算。
粉煤灰的可溶性碱量取粉煤灰总碱量的1/6，矿渣粉的可溶性碱量取矿渣总碱量的1/2，硅灰的可溶性碱量取硅灰总碱量的1/2。
2、按TB10424规范中要求，预应力混凝土中粉煤灰的掺量不宜大于30%。
3、拌制混凝土和砂浆用的粉煤灰一般分为F类粉煤灰和C类粉煤灰。
4、胶凝材料是指用于配制混凝土的水泥与粉煤灰、磨细矿渣粉和硅灰等活性矿物掺和料的总称。
水胶比则是混凝土配制时的用水量与胶凝材料总量之比。
5、测定试验样品和对比样品的流动度，两者流动度之比评价矿渣粉的流动度比。
6、矿渣粉活性指数试验是分别测定对比胶砂和试验胶砂的7d和28d抗压强度。
7、粉煤灰用于混凝土中有四种功效火山灰效应、形态效应、微集料效应、稳定效应。
8、粉煤灰的需水量比对混凝土影响很大除了强度外，还影响流动性和早期收缩，因此做好需水量比为混凝土试配提供依据。
9、测定试验样品和对比样品的抗压强度，采用两种样品同龄期的抗压强度之比来评价矿渣粉的活性指数。
10、矿渣粉28d活性指数计算，计算结果保留至整数。
11、粉煤灰的矿物组成结晶矿物、玻璃体、炭粒。
12、粉煤灰对混凝土性能的影响工作性、抗渗性、强度、耐久性、水化热、干缩及弹性模量。
13、筛网的校正采用粉煤灰细度标准样品的标准值与实测值的比值来计算。
14、粉煤灰细度筛工作负压范围4000-6000Pa，筛析时间为180秒，若有成球、粘筛情况可延长筛析时间1-3分钟，直到筛分彻底为止。
15、矿渣粉烧失量检测由于硫化物的氧化引起的误差，可通过检测灼烧前后的SO3来进行校正。
二、单选题（15题）1、在粉煤灰化学成分中， C 约占45%—60%。
A、Al2O3B、Fe2O3C、SiO2D、CaO2、A粉煤灰适用于钢筋混凝土和预应力钢筋混凝土。
材控专业测试技术训练题
测试技术训练题:一、填空题1.测试的基本任务是获取有用的信息，而其总是蕴涵在信号之中。
2.测试技术是测量技术和实验技术的统称。
3.信号的时域描述，以时间为独立变量；而信号的频域描述，以频率为独立变量。
4.周期信号的频谱具有三个特点：离散性、谐波性和衰减性。
5.非周期信号包括准周期信号和瞬变非周期信号。
6.描述随机信号的时域特征参数有：均值、方差、均方值。
7.传感器的灵敏度高，就意味着传感器适合测量较小的物理量。
8.一个理想的测试装置，其输入和输出之间应该有线性关系为最佳。
9.属于能量控制型的传感器有电容式、电感式传感器等，属于能量转换型的传感器有热电偶、压电式传感器等。
（每个至少举例两个）10.金属电阻应变片与半导体应变片的物理基础的区别在于：前者利用几何变形引起的电阻变化，后者利用电阻率的变化引起的电阻变化。
11.压电式传感器的测量电路（即前置放大器）有两种形式：电荷放大器和电压放大器，后接电荷放大器时，可不受连接电缆长度的限制。
12.涡流式传感器的变换原理是利用了金属导体在交流磁场中的涡电流效应。
13.压电式传感器是利用某些物质的压电效应而工作的。
14.电桥的作用是把电感、电阻、电容的变化转化为电压输出的装置。
15.在桥式测量电路中，按照供电电源的性质，电桥可分为直流和交流电桥。
16.在桥式测量电路中，根据工作时阻抗参与变化的臂的数量可将其分为半桥与全桥测量电路。
17.调幅是指一个高频的正（余）弦信号与被测信号相乘，使高频信号的幅值随被测信号的幅值而变化。
18.调频波的解调又称鉴频。
19.调频是利用信号电压的幅值控制一个振荡器，使其输出为等幅波，而频率与信号电压成正比。
20.如果一个信号的最高频率为50Hz，为了防止在时域采样过程中出现混叠现象，采样频率应该大于100Hz21.相干系数用于评价系统的输出信号和输入信号之间的因果性。
22.巴塞伐尔定理表示在时域中计算的信号总能量，等于在频域中计算的信号总能量。
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以计算题第一题的解法为例：
1.作业四
电子衍射图如图，已知Lλ=30.2㎜Å，测量得：R
A
=14.0mm,
R B =23.2mm,R
C
=23.2mm,R
D
=30.5mm,R
E
=44.3mm
标定衍射斑点的指数，并计算晶带轴
解题过程一般有以下几步：
1.确定N值
2确定晶面族指数
3确定斑点指数
4确定晶带轴
过程：
1.首先要清楚N=h2+k2+l2
在立方晶系中，晶面间距d，满足d2=a2/N
又因为Rd=Lλ , 由于相机常数Lλ一定，实际上可推得R12: R22:···R n2=N1:N2:···N n
1)知道这种关系，开始解题：
为了解题过程清晰明了，建议列表计算：
A B C D E
2) 计算R，看表第三列
3) 计算R2之间的比值,如表第四列
4)将比值同时化为最简整数比，如第五列（注意：化整后，不能出现数字7，因为不可能出现7的
相应衍射面，出现7后，将所有数字再乘2）
这样，化整后的数字就是各斑点对应的N值。
5）由于N=h2+k2+l2，所以知道N值后，就能确定晶面族指数了。
例如：N=1时，晶面族为{100}，N=4 时，晶面族为{200}
按照此法，确定了各N对应的晶面族，如表第六列
6）以上过程都较为简单，真正的难点是确定斑点指数，斑点指数和晶面族指数的关系是：斑点指数的三个数字和晶面族指数的三个数字完全相同，但是具体各个数字的位置可以任意发生变化，正负也可发生变化。
如晶面族指数为311时，斑点指数可以为311，也可为131，也可为113，也可为1-31，还可以为-311，但要注意，实际表示时-3表示为3的头顶上加一小横。
7）此时，我们就要对照图片进行解释了，从图中可知，矢量Ra+Rb=Rd
而且Rb+Rc=Re
从式子可知：ha+hb=hd ka+kb=kd la+lb=ld
注意此时的h,k,l已经是斑点指数了
现在我们要做的事情，就是在满足各晶面族指数的情况下，适当改变晶面族指数中数字的位置和正负符号，获得的斑点指数要符合上述的矢量加和关系，这就叫做矢量自恰。
一般方法是先确定一到两个
点的指数，再逐步凑出其他指数，如果在凑的过程中，发现原来假设的斑点指数不符，再做微调。
以下提供一组答案，如表的第七列（还是要注意-2要表示成2上一小横的形式）
8）最后一步是算晶带轴，相对简单，如果只有一组斑点，就只用算一组晶带轴，如果有两组，就要算两组。
（本题仅一组，而第2个大题，就有两组）
计算晶带轴的过程，只用选取任意两个确定矢量，逆时针旋转，假使起始矢量为R1，终止矢量为R2.
例如我们选择Ra，Rb，可以看见如果逆时针旋转的时候，应该Ra为起始矢量，Rb为终止矢量。
将起始矢量和终止矢量的斑点指数列为两排，如下。
0 | 0 -2 0 0 | -2
1 | 3 -1 1 3 | -1
计算时，只取中间八个数字，四个四个一组，从坐往右可形成三个矩阵，计算矩阵值。
如：0 -2
3 -1 得到：0×(-1)-3×(-2)=6 依次得到6， -2 ，0
化简即晶带轴为 [3 -1 0]
要注意，斑点指数并不唯一，只要数字符合晶面族指数，而且矢量相加符合，即可，但是晶带轴却是唯一的，不管斑点指数如何，选取的两个向量如何，其值不变，不信大家可以自己尝试
2.有了以上基础，计算题第二题大同小异
由于有两组斑点，晶带轴有两个，分别为[-1 1 2] [1 0 3]
Na 4Al 3Si 9O 24Cl 为四方晶系晶体，X 射线衍射数据如下：
根据衍射线出现的规律，判断Na 4Al 3S i 9O 24Cl 晶体晶胞的点阵类型 解：由于
作业二
右图为一立方晶系晶体不同晶带引起的电子衍射斑点花样，O 点为透射斑点，
L λ=17.0㎜Å，各斑点距 透射斑点的距离R 、相应 的晶面间距d 及晶面簇 指标{hkl}如下表：
Ra 14.2㎜
Rb 18.2 ㎜ Rc 20.0㎜ Re 21.7 ㎜ Rf 24.6 ㎜
在图上标定各斑点指数，并填入表中 hkl 栏内。
1． 计算两晶带的晶带轴指数，并填入表中。
2． 根据衍射线出现的规律，判断晶体所属点阵类型。
解：
好像是简单点阵
作业四
电子衍射图如图，已知L λ=30.2㎜Å，测量得：R A =14.0mm,
R B =23.2mm,R C =23.2mm,R D =30.5mm,R E =44.3mm 标定衍射斑点的指数，并计算晶带轴
解：
作业五
图(a) 与(b)为立方晶系CaO 的不同方向的电子衍射斑点花样,其中图（b ）相对（a ）倾转
了49.80°，图中O 点为透射斑点,测得(a)图中OA=10.69, B=17.43, C=20.41,(b)图中的OA ′=12.339, B ′=20.41， OC ′=26.89, L λ=29.6,试解答下列问题: 1. 标定各点的衍射指标
2. 计算斑点花样的晶带轴指标
名词解释题答案：
1电子与阳极碰撞的时间和条件各不相同，而且有的电子还可能与阳极作多次碰撞而逐步转移其能量，情况复杂，从而使产生的X 射线也就有各种不同的波长，构成连续谱。
连续
(a)
(b)
X射线又称白色射线，它由某一短波线λ
0开始直到波长等于无穷大λ
∞
的一系列驳斥组成。
2．在用电子束轰击金属“靶”产生的X射线中,包含与靶中各种元素对应的具有特定波长的X射线，称为特征（或标识）X射线。
只有当管压超过一定值时才能产生特征射线；特征X射线是叠加在连续X射线谱上的。
3．在晶体的X射线衍射图中，常有不少衍射点有规律地不出现，这种现象称为系统消光。
4.二次电子Secondary electron（二次电子是单电子激发过程中被入射电子轰出的试样原子核外电子）
入射电子与样品核外电子碰撞，使样品表面的核外电子被激发出来的电子，是作为SEM 的成像信号，代表样品表面的结构特点。
5．背散射电子back scattered electron
电子射入试样后，受到原子的弹性和非弹性散射，有一部分电子的总散射角大于900 ，重新从试样逸出，称为背散射电子，这个过程称为背散射。
背散射电子是由样品反射出来的初次电子，其主要特点是：能量很高，有相当部分接近入射电子能量E0，在试样中产生的范围大，像的分辨率低。
背散射电子发射系数η =I B /I 0 随原子序数增大而增大。
作用体积随入射束能量增加而增大，但发射系数变化不大。
8．X光电子能谱分析的基本原理
一定能量的X光照射到样品表面，和待测物质发生作用，可以使待测物质原子中的电子脱离原子成为自由电子。
该过程可用下式表示:hn=Ek+Eb+Er ；式中: hn：X光子的能量；Ek：光电子的能量；Eb：电子的结合能；Er：原子的反冲能量。
10．光电效应由德国物理学家赫兹于1887年发现，对发展量子理论起了根本性？？。
在光的照射下，使物体中的电子脱出的现象叫做光电效应(Photoelectric effect)。
光电效应分为光电子发射、光电导效应和光生伏打效应。
前一种现象发生在物体表面，又称外光电效应。
后两种现象发生在物体内部，称为内光电效应。
光照射在物体上可以看成是一连串的具有一定能量的光子轰击这些物体的表面；光子与物体之间的联接体是电子。
所谓光电效应是指物体吸收了光能后转换为该物体中某些电子的能量而产生的电效应。
11.俄歇效应就是伴随一个电子能量降低的同时，另一个电子能量增高的跃迁过程。
将发射光电子后，发射俄歇电子（不能用光电效应解释）使原子、分子成为高阶离子的现象称之为俄歇效应。
12．化学位移：同种原子中处于不同的化学环境的电子引起结合能的变化，在谱线上造成的位移。
1.根据晶体的特征对称元素所进行的分类。
可划分为7个不同的晶系，分属于3个不同的晶族。
高级晶族中只有一个立方晶系；中级晶族中有六方、四方和三方三个晶系；低级晶族中有正交、单斜和三斜三个晶系。
各晶系的晶胞类型一般用晶胞参数a、b、c和α、β、γ表示。
其中a、b和c是晶胞三个边的长度，习惯上叫轴长，α、β和γ叫轴角，它们分别是a和c、b和c、a和b的夹角。
六方晶系(hexagonal system)，有一个6次对称轴或者6次倒转轴，该轴是晶体的直立结晶轴C轴。
另外三个水平结晶轴正端互成1200夹角。
轴角α=β=900，γ=1200，轴单位a=b≠c。