射频集成电缆的无源互调测试

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浅谈无源互调测量技术

浅谈无源互调测量技术

浅谈无源互调测量技术SUBSCRIBE to US由于衰减效应严重影响了通信网络的运行,因此PIM在无线通信领域越来越受关注。

只要当两个频率以上的信号遇到一个非线性的电学结或类似物质,就会产生互调。

其结果是产生了我们不想要的信号,这个信号的频率可以由最初的原始频率经过计算得到,它可以导致系统容量的减少,和(或)通话质量的降低。

蜂窝小区中容量的减少和通话质量的降低将导致无线通信服务提供商收入的减少。

当受影响的客户对该服务提供商失去信心,并且改换成使用竞争对手的服务时,那么该服务提供商的经济损失将是不可预计的。

通过与世界各国的工程师和技术人员的交流,Summitek公司与器件制造商、下游供应商、现场经理和服务提供商讨论过有关互调的问题。

Summitek结合了通过制造和发展其PIM分析仪而获得相关的知识,形成的PIM测量基本方法,以及构筑Summitek分析仪的测试性能等方面,从而逐步形成了现有的观点和看法。

Summitek建议如下:· 在强调性价比的现实情况下,一味的坚持“低”互调原则是很难满足市场的大量需求的。

· PIM的评估设备应该采用动态的测量方法。

· 由于频率是依赖于许多设备及其子系统的特性,因此固定频率的测试方法可能是不适合的。

PIM的形成原因设计、制造和维护都是产生互调的原因。

就互调而言,良好的设计是必要条件,但不是成功的充分条件。

同时,许多公司认为互调可以简单得通过一些设计规则来控制。

避免使用含铁材料、使连接结点的数量最少化。

设计中所有的连接结点必须是精确的,并且在足够的压力下还能维持很好的连接。

焊接或冷焊所有的结点;避免不同材料间的直接接触;电镀所有的表面,防止氧化;确保电镀的均匀以及足够的厚度。

虽然这些规则看似简单,但是完美地实现他们才是成功的关键。

理想过程中的微小偏差可能导致无法容忍的互调。

现实环境下可能发生的情况:部件间的简单连接;螺杆和紧固件的不切当的扭矩;连接处的焊接不良;电镀前没有彻底充分清洗部件;污染的电镀槽;电镀材料的结构;使用错误的材料;电镀的附着力差。

无源互调失真测量与分析

无源互调失真测量与分析

1、无源互调产生的原因

射频器件产生无源互调(PIM)的主要原因有: 1、在射频路径上有劣质的机械接头、接点或 安装松动等。 2、在射频元件的制造中使用了某种程度的磁 滞材料(例如不锈钢等)。 3、在射频路径的接触内表面或接头处有异质 污染物,如残留的焊剂或材料加工的颗粒。 在综合的基站内,大功率放大器和接收机 滤波器之间的任何无源器件都会产生一定的无 源互调电平。基站天线塔的安装环境也会产生 PIM,例如天线附近有金属物体的直接反射波 束传送到天线。
五、分析仪的噪声电平和 残余互调电平
1、分析仪的噪声电平

噪声电平是在PORT 1和PORT 2接50Ω 负载和射频源信号关闭时,互调分析 仪测量出的噪声信号电平平均值。
该噪声电平是接收机的高增益放大器 耦合噪声,包括本地振荡器相位噪声、 ( kTBF )接收机前置放大器的随机噪声 门限和发射机噪声等合成产生。
扫频后落入接收频带的IM频率
二次扫频测量曲线
扫频时改变测量功率电平
测量三阶互调时,PIM分析仪输出的功 率电平为: 2 Carrier 1 + 1 Carrier 2 若二个载波电平同时都增加1 dB,则理论 上PIM电平:IM3增加3 dB ( 2 1 + 1 1 ); IM5增加7dB ( 4 1 + 3 1 ),但在实际测 量中比较罕见这样的增仪的频谱测量模式能显示 落入分析仪测量频带内的IM产物。 例如,落入测量频段内的IM3(三阶互调 产物)、IM5和IM7这三个IM产物能同时被 显示并读得测量值。 可观察分析它们的相互关系,还可用手 动方式分别调谐无源互调分析仪的频率和 功率来观察它们相互间的变化关系。
2、无源互调传输和反射方向

射频电缆组件无源互调的产生与消除分析

射频电缆组件无源互调的产生与消除分析

独 立于接收机随机底噪 的接收机减敏现 象。
如 图二 )。从 图二可 明显 地看出 ,正半周 的幅度 大 三 阶 互调 是指 当两个信 号 在一 个线 性 系统 中 ,由于 化的 ( 非线性 因素存在使一个信 号的二次谐波 与另一个信号 的基 于负半周 的幅度 ,该波形 的特 性与原有信号相 比已发 生了 波产生 差拍 ( 混频 ) 后所 产生的寄生信 号。 由于一个信 号 质的变化 ,它是由原来 的基波 和相应 的谐波叠加而成 ,这
关键词 : 无源互调
电缆组件 影 响因素 动态研究
Do i : 1 0 . 3 9 6 9 1 j . i s s n . 1 6 7 3 - 5 1 3 7 . 2 0 1 4 . 1 2 . 0 1 3
1 . 引 言
是二次谐 波 ( 二阶信号 ),另一个信号是基波信 号 ( 一阶
随着 移动 通信 的飞 速 发展 ,对接 收 系统 的灵 敏度 要 信号 ),他们俩 的合称 为三阶信号。又 因为是这 两个 信号
i n t e r mo d u l a t i o n/P I M) ,结果使 有效 传输信号发生 畸变 , 产生 噪声和杂波 ,影 响信 号传输速率 。本文分析 了射频电
3 . 无源互调产生的原因
在 环球 移动 通信 ( GS M )、数据 通信 系统 (D CS )
缆组件 无源 互调产生 的原因及预 防措施 ,对射频 电缆组件 1 8 0 0、个人 通信服务 系统 (P CS)1 9 0 0 和传呼 台等蜂 窝 / 1 6(L 2 9)、N、 设计 、制造 以及通信 系统中选用提供 一些指导意义 和参 考 基站上 ,由于传输功率较大 ,通常采用7 价值。 E I A等射频 同轴连 接器。射 频同轴连 接器是 用在发射通 道

无源器件互调测量技术

无源器件互调测量技术

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基站天线无源互调减小方法
无源器件互调测量技术
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无源互调定义及表达方式
无源互调定义



无源互调与有源互调类似,无源互调是无源器件产生的。 当无源器件中存在两个或两个以上的不同频率的射频信 号时,就会产生无源互调。 无源互调: 由射频信号在无源器件中相互调制的干扰信号 互调信号渗入接收通道会提高信道的噪声电平,从而减 小信号覆盖范围和网络容量 注:所有的无源器件,包括天线,电缆和连接器,双工 器,滤波器,定向耦合器,负载和衰减器,避雷器,功 率分配/合成器和铁氧体环行器/隔离器等都会产生互调 失真。
2F1+F2 3F1+2F2 4F1+3F2 F2+F1 2F1
IM3 IM5 IM7
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无源互调定义及表达方式
无源互调表达方式
无源互调有两种表达方式 绝对值表达法 相对值表达法。 绝对值表达法:是指无源 互调值与原点(即0)的 比值,用dBm来表示。 相对值表达法:是指无源 互调值与其中一个载频的 比值,用dBc来表示,这 是因为无源器件的互调失 真与载频功率的大小有关。
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无源互调产生原因
接触非线性现象引起无源互调

部件间连接不当,致使接触不紧密,例如接触面不平整 和扭力不够 连接处的焊接不良,比如焊点虚焊、拖尾、过大、不圆 滑等 电镀时引起的问题,如电镀前未充分清洗部件、电镀槽 受到污染、使用错误的电镀材料和电镀的附着力差等 自然因素将会令基站中使用的无源器件互调变差,如风 力造成的摆动导致接头和连接点松动、温度变化引起的 热胀冷缩、各种不同形式的潮湿引起器件氧化、生锈和 腐蚀、空气中的尘埃污染等

解析无源互调测试三大方式

解析无源互调测试三大方式

解析无源互调测试三大方式作者:Technologies朱辉来源:《通信产业报》2008年第03期5年前,大部分射频工程师很少提及无源器件互调问题。

但是,随着移动通信系统新频率的不断规划、更大功率发射机的应用和接收机灵敏度的不断提高,无源互调产生的系统干扰日益严重,因此越来越被运营商、系统制造商和器件制造商所关注。

正如大家所知,无源互调值非常之小,一个典型的无源互调指标是在二个+43dBm的载频功率同时作用到被测器件(DUT)时,DUT产生-110dBm的无源互调失真(绝对值),其相对值为-153dBc,相当于一根头发丝的直径对比地球到太阳之间的距离。

因为无源互调值非常之小,所以相对于有源器件产生的互调失真而言,无源互调的测试要困难得多。

而目前我国尚无无源互调测试的标准,所以大部分都按照IEC推荐的测量方法进行测量。

IEC推荐的正向和反射互调产物的测量方法分别如图1和2所示。

图1表示一个两端口或多端口器件在两个大功率信号的同时作用下所产生的互调产物。

绝大部分的无源器件,如双工器、滤波器、定向耦合器等都可以采用这种方法测量。

图2表示一个单端口器件在两个大功率信号的同时作用下所产生的反射互调产物。

天线和负载可以采用这种方法测量。

随着通信技术的不断发展,新的系统干扰问题不断出现,给测量工作者带来了新的挑战。

在一些功率合成系统或者多载频的共用系统中,当两个大功率信号同时作用于一个两端口器件的输入和输出端时,在输出端口将会产生很大的互调产物。

在多系统合路平台(POI)系统中情况更为复杂。

各种不同频段的载频同时进入系统,除了本频段的互调干扰外,还会产生跨频段的互调干扰。

因此,需要进行无源器件反向互调测量。

测量范围典型的无源器件,如定向耦合器、功率分配器、双工器、连接器和电缆组件等,其互调产物通常在-120~-100dBm,也就是相对于43dBm测量条件下的-163~-143dBc;而某些器件的互调产物更大,如铁氧体器件的互调产物可达-60dBc甚至更大。

WCDMA系统发射频段的无源互调测量

WCDMA系统发射频段的无源互调测量

WCDMA系统发射频段的无源互调测量由二个频率产生的三阶互调失真是现代通信系统中普遍存在的问题。

当系统中二个(或更多)的载频信号通过一个无源器件,如天线、电缆、滤波器和双工器时,由于其机械接触的不可靠,虚焊和表面氧化等原因,在不同材料的连接处会产生非线性因素,这就像混频二极管。

二个载频信号(F1和F2)及其二次谐波(2F1和2F2)所进一步产生的最大互调产物就是三阶互调失真(2F1-F2和2F2-F1)。

三阶互调产物(IM3)的典型指标是当二个+43dBm的载频信号同时加到被测器件(DUT)时,其产生的IM3值不大于-110dBm,也就是-153dBc。

三阶互调失真会降低通信系统的性能。

发射信号中过大的三阶互调产物会干扰其它的接收机,最终造成接收机无法正常工作。

通常,设计者较为关心有源器件的互调测试。

但是随着通信系统的发展和系统质量的提高,对无源互调的测量也越来越重视了。

WCDMA系统的无源互调在GSM900/1800和800MHzCDMA通信系统中,由发射频段产生的三阶互调产物会落入到它们各自的接收频段。

而WCDMA频段则不同,其发射频段(2110MHz~2170MHz)产生的三阶互调产物不会落入到其自身的接收频段(1920MHz~1980MHz),而会落到发射频段。

通过以下数学计算可以来验证这个现象。

三阶互调产物FIM3=2F1-F2,其中F1=[2110、2170],F2=[2110、2170]。

要证明FIM3[1920、1980],只要求出FIM3的取值范围,再看这个集合与[1920、1980]是否有交集即可。

要求FIM3的取值范围,关键要求出其最小值FIM3(min)和最大值FIM3(max):FIM3(min)=2F1min-F2max=22110-2170=2050;FIM3(max)=2F1max-F2min=22170-2110=2230。

可见,FIM3=[2050、2230]与[1920、1980]无相交部分,也就是说FIM3[1920、1980]。

无源互调测试系统射频组件设计的开题报告

无源互调测试系统射频组件设计的开题报告

无源互调测试系统射频组件设计的开题报告一、选题背景:无源互调测试系统是一种用于测试无线电频率信号线性和非线性特性的测试系统。

该系统在无线电设备的研发和生产中扮演着重要的角色。

射频组件是无源互调测试系统中具有重要作用的组成部分之一。

对射频组件的设计和研发具有重要的意义。

二、研究内容:本课题旨在设计一种高性能的无源互调测试系统射频组件,主要包括以下内容:1.研究无源互调测试系统射频组件的相关理论知识和参数要求。

2.设计高性能的射频信号调理器,用于对输入信号进行放大、滤波和混频等处理。

3.设计高性能的射频功率放大器,用于提高系统的输出功率。

4.设计高性能的射频混频器,用于产生互调信号。

5.对设计的射频组件进行模拟和仿真,以验证其性能和可靠性。

三、研究意义:本课题的研究成果将具有以下意义:1.提高无源互调测试系统的测量精度和可靠性,满足现代无线电设备对于频率特性测试的需求。

2.提高射频组件的性能和可靠性,为无线电设备的研发和生产提供重要的支持。

3.为射频组件研发领域提供技术支持和研究基础,推动我国射频组件研究与开发的发展。

四、研究方法:本课题采用以下研究方法:1.收集并分析无源互调测试系统中射频组件的相关理论知识和参数要求,确定设计目标和要求。

2.根据设计目标和要求,采用模拟和仿真的方法,设计和优化射频组件的电路拓扑和参数。

3.利用射频测试仪等实验设备对设计的射频组件进行测量和测试,验证其性能和可靠性。

五、预期成果:本课题预期取得以下成果:1.根据无源互调测试系统中射频组件的相关理论知识和参数要求,确定高性能射频组件的设计目标和要求。

2.设计高性能的射频信号调理器、射频功率放大器和射频混频器,实现无源互调测试系统的信号处理和互调信号产生。

3.对设计的射频组件进行模拟和仿真,验证其性能和可靠性。

4.通过测试和实验,验证设计的射频组件在无源互调测试系统中的应用效果。

六、进度安排:本课题进度安排如下:1.完成相关文献的调研和资料的收集,确定设计目标和要求。

易商essun工程师利用安立PIM Master对基站天馈系统的互调进行测试

易商essun工程师利用安立PIM Master对基站天馈系统的互调进行测试

PIM Master TM MW82119A 40W 高功率、电池供电、手持式无源互调分析仪具备无源互调故障点定位(Distance-to-PIM™)之特色频率覆盖范围:LTE 700 Cellular 频段PCS 频段PCS/AWS 频段700 MHz850 MHz 1900 MHz 1900/2100 MHz E-GSM 频段DCS 频段900 MHz1800 MHzPIM Master™无源互调分析仪PIM Master™ 概览PIM Master™ 介绍安立公司发布了首款电池供电的高功率无源互调(PIM)测试解决方案,该方案广泛用于各类无线标准的测试。

PIM是一类在无源部件上产生的干扰,这些无源部件诸如连接器、电缆组件、滤波器和电缆通常被认为是线性的。

然而,移动通信系统中的这些器件在大功率条件下运行时,会产生杂散信号,这些杂散信号会增加接收机的底噪进而降低设备的性能。

PIM Master能够精确测量系统的无源互调特性,具体测量方法是,首先同时向天馈线网络发射连续波双音信号,然后接收并测量落到系统接收频段的3阶、5阶或7阶互调产物的幅度大小。

MW82119A能够完成下列三类测量,从而帮助现场技术人员快速查找并排除发生在移动通信系统上的无源互调故障。

•••PIM Master MW82119A 2 x 40 瓦射频输出,电池供电PIM随时间变化的曲线PIM扫频测量无源互调故障点定位(DTP)PIM Master 体积小、重量轻并且采用电池供电,特别适合在很难进入的现场进行测试,例如能够很方便地测试远端射频拉头(RRH)或室内分布天线系统(DAS)。

在此类现场进行PIM 测试,通常涉及到其他相关的工作,包括攀塔、带着设备攀爬塔梯以及穿过很小的入口到达测试地点等。

W82119A 具备高度便携性,这就使得测试人员在各种不能提携重物或者不能使用很长的绳索的场合,也能够很好的完成PIM 测试工作。

PIM Master 具有安立公司获得专利的无源互调故障定位(Distance-to-PIM TM)技术,无论无源互调的故障点存在于天馈系统的内部还是天线的外部,该技术都能够对PIM 故障点进行精确的定位。

无源互调测试仪的射频功率放大器设计

无源互调测试仪的射频功率放大器设计

output match network.
coordinate the circuit and optimize it.At last,run the ADS software circuit I got finally keeps the gain at efficiency is

the final circuit.The
毫米波频段的微波射频功率放大器开始出现,这与InP/InGaAs组成的异质结双极型晶体管 (HBT)的成功研发密切相连。而该晶体管的出现又与有机金属化学沉积技术和分子束外延 技术的发展息息相关,此外,杂质浓度和超薄外延层的厚度的控制也起到一定的作用。90 年代之后,高电子迁移管(HEMT),异质结场效应管(HFET)等一些新型的微波器件逐渐崭 露头角。而近几年,研发的硅射频横向扩散金属氧化半导体(RF LDMOS)功率晶体管获得 了各商家的青睐,成了基站功率放大器的首选器件,这样一来,就占领了硅双极型器件和
amplifier,power,port
communications
浙江工业大学硕士学位论文
第1章绪

1.1无源互调分析仪的研究背景
19世纪后期,随着卫星及微波技术的不断进步,人们发现了一种新的干扰,即无源互
调(Passive Inter-modulation,简称PIM)干扰11】。这种干扰之前一直被认为是由线性器件产
1.2
无源互调分析仪的射频功率放大器发展
无源互调分析仪内部的射频功率放大器,主要为该分析仪提供两个单频的信号,用于
被测设备互调失真的检测。为了确保检测的精度,该射频功率放大器要求提供的功率和频 率具有较好的稳定度,同时,工作频段也比较宽。随着各种标准跟技术的发展,国内外研 究者不断研制更高性能的半导体器件用于微波电路中,从而在设计互调仪的射频功率放大 器时,具有高输出功率,宽工作频段及高精确度。无源互调分析仪的射频功率放大器发展 主要体现在以下几个方面。 从微波器件类考虑,从开始的1948年至1952年,应用于微波射频领域的器件有了不 断的更新变化,从双极晶体管(BJT),结型场效应管(JFET)至tJ后来的硅双极晶体管,而信号

无源互调测试仪检测方法及功能分析_JOINTCOM

无源互调测试仪检测方法及功能分析_JOINTCOM

无源互调测试仪检测方法及“工兵行动”所需互调仪功能分析目录一. 互调仪整机性能测试 (3)1.残余互调(自身互调)测试 (3)2.标准件测试测试 (3)3.总结 (4)二. 互调仪模块性能测试 (4)1.发射模块测试 (4)2.接收模块测试 (4)3.总结 (5)三. 互调仪一致性测试 (5)四. “工兵行动”所需互调仪功能分析 (5)1. 中国移动需要什么样的互调仪? (5)2.为什么互调仪的重量要求足够轻? (5)3.为什么互调仪必须要测量频谱? (6)4.为什么国际标准EGSM便携互调仪国内不能使用? (7)一. 互调仪整机性能测试互调仪由发射机和接收机组成,因此可以利用其收发特性对整机性能进行验证。

整机性能测试包括两项,一项是残余互调测试,另外一项是标准件测试。

1. 残余互调(自身互调)测试测试设备包括被测互调分析仪、低互调负载、低互调测试电缆,其连接如图1所示,仪表设置如下:两路载波输出功率为+43dBm ,互调阶数为3阶,选择扫频测试,记录整个频段范围内的互调最差点,这个值就是互调仪残余互调。

建议残余互调≤-125 dBm (-168dBc@2×43dBm ),该值越小越好。

残余互调是互调仪的一项重要指标,他决定了仪表的测量范围和测量精度。

根据互调测试IEC 62037相关国际标准,要求测试系统残余互调至少必被测件互调值低10dB ,也就是说残余互调为-125 dBm@2×43dBm 的互调仪,最低可以测到-115 dBm@2×43dBm 无源互调,低于-115 dBm ,测试结果不准确。

反过来也可以讲,在被测件互调值确定情况下,互调仪残余互调值越低,测量结果越精确。

低互调负载图1 残余互调测试框图2. 标准件测试测试低互调负载图2 标准件测试框图测试设备包括被测互调分析仪、标准件、低互调负载、低互调测试电缆,其连接如图2所示。

标准件是一种在确定的功率(2×43dBm)下产生确定互调值(譬如-80dBm 或-100dBm 等)的设备,其外形与一般连接器相同。

射频无源器件测试方法

射频无源器件测试方法

射频器件测试方法一、射频产品指标测试方法1、功分器➢功分器插入损耗和带内波动的测试1)微带功分器按照上图连接测试系统(腔体功分器在输出端口加衰减器);2)设置网络分析仪的工作频段为测试频段,显示参数为S21;3)读取曲线上的最大功率值和最小功率值;4)用最小功率值的绝对值减去最大功率值的绝对值即为功分器的带内波动;5)用最小功率值的绝对值减去理论插入损耗即为功分器的插损。

➢功分器驻波比的测试1)按照上图连接测试系统;2)设置网络分析仪的工作频段为测试频段,显示参数为S11;3)读取曲线上的最大值即为该端口驻波比;4)更换端口重复上述操作;5)比较所测输入端口和输出端口值,最大值即功分器的端口驻波比。

➢三阶互调的测试无无无无无无无无无无无无无无无无无无无无1)按照上图连接测试系统;2)按照合路器的指标设置输入频率,输入功率为43dBm×2;3)读出三阶互调产物的电平值;4)取最大电平值即为互调。

2、耦合器➢耦合器的耦合偏差测量1)按照上图连接测试系统;2)设置网络分析仪的工作频段为测试频段,显示参数为S21;3)读取曲线上的最小功率值和最大功率值;4)用最小功率值的绝对值减去耦合度设计值,再用最大功率值减去耦合度设计值,比较两个差值,取其中最大的一个即为耦合度的偏差。

➢耦合器的插入损耗测量1)按照上图连接测试系统;2)设置网络分析仪的工作频段为测试频段,显示参数为S21;3)读取曲线上最小功率值;4)最小功率值的绝对值减去理论耦合损耗即为耦合器的插入损耗。

➢耦合器驻波比的测试方法1)按照上图连接测试系统;2)设置网络分析仪的工作频段为测试频段,显示参数为S11;3)读取曲线上的最大值即为输入端的驻波比;4)更换端口重复上述操作;5)比较所测的输入端、输出端、耦合端的值,最大值即耦合器的端口驻波比。

➢耦合器隔离度的测试方法1)按照上图连接测试系统;2)设置网络分析仪的工作频段为测试频段,显示参数为S21;3)读取曲线上的最大功率值,对其取绝对值即为其隔离度。

射频电缆的无源互调测试

射频电缆的无源互调测试

射频电缆的无源互调测试一、无源互调介绍在无线通信系统中,日益增加的语音和数据信息必须在一个固定带宽中传输,无源互调失真已经成为限制系统容量的重要因素。

就好像在有源器件中,当两个频率以上的信号以一个非线性形式混合在一起时,就会产生一些伪信号,这就是无源互调信号。

当这些伪互调信号落在基站的接收(上行)频段内时,接收机就会发生减敏现象。

这种现象可以降低通话质量,或者降低系统的载干比(C/I),从而减少通信系统的容量。

造成无源互调的原因很多,其中包括机械接触不良,射频通道中的含铁导体,和射频导体表面的污染。

事实上,很难准确预知器件的无源互调值,测量所得的数据只能用来大致描述器件的性能。

由于结构技术方面的微小改变都会导致互调指标的严重变化,所以一些生产厂商通过对产品100%的检验来保证基站中使用的射频器件的无源互调水平都能满足指标要求。

当存在两个或两个以上频率时,基站的大功率传输通道中的每个组件和子系统都会产生互调失真。

本文仅关注其中的一种组件:集成电缆。

针对集成电缆产生的互调失真既是有方向性的,又是依赖于频率的理解,对于集成电缆的指标及其在通信基站中的使用是一个非常重要的因素。

二、电缆互调测试的实现一条集成电缆(或者是任何两端口射频器件)都有两种无源互调响应:反射互调和通过互调。

图1为Summitek公司的无源互调分析仪测量这两个互调信号的原理。

在SI-1900A型设备中,通过端口1向集成电缆注入两个大功率信号,电缆的另一端与端口2连接。

端口2作为这两个大功率信号的负载,并且其无源反射互调很小,可忽略。

在端口1处测量反射无源互调响应,在端口2处测量通过(即前向)无源互调。

与目前使用的大多数无源互调测试设备不同的是,Summitek公司的互调分析仪支持前向和反向互调响应的同时测量,而不需要重新接驳。

这样可以避免重新接驳时所必须的配对和再配对操作,从而使反射响应和通过响应的测量误差最小化。

将该特性与Summitek分析仪的扫频互调测量功能相结合,就可以对电缆完整的互调特性做测量了。

无源互调的产生、预防、测试

无源互调的产生、预防、测试

技术 / 工程
影响无源互调的因素
在实际工程中,造成无源互调差的原因错综复杂, 对一些常见的影响互调的因素总结如下 在射频路径上有品质差的连接器 在射频路径上接头连接松动,接触压力过大 器件的制造上使用了具有磁滞特性的材料 接头的镀层厚度太薄,电镀材料不合适 接头有虚焊 射频电缆过度弯曲 天线装配工艺不合格,内部连接不牢靠。 震动 腐蚀和氧化
降低无源互调的指导原则(2)
同轴电缆和连接器
• 同轴电缆的中心导体避免使用不锈钢 • 外导体最好采用波纹管等刚性材料 • 尽量减少中心导体和外导体的编织层的使用 • 如果有编织层,在使用中尽量减少编织层柔性 • 尽量采用焊接方式 • 避免过度弯曲 • 尽量减少连接器和转接器的数量
降低无源互调的指导原则(3)
反射式测量校准
测量不确定度
测量不确定度用以下公式计算: RSS
A
2
Pm Pg D P r
2
2
2
2

A = 衰减器的不确定度
Pm= 功率计的不确定度
Pg = 信号源 3 的不确定度
D = 仪器的自身互调与被测器件的互调值 之间的间隔 )
无源互调的定义(1)
如果在通信系统的发射频段有两个载波f1和f2,其中f1<f2。当两个载波混合输 入到无源器件中时,会产生各个阶次的互调失真。 其中2f1-f2, 2f2-f1, 2f1+f2 和 2f2+f1都称为三阶互调失真。一般情况下,只 有2f1-f2会落在通信系统的接收频段,所以在检测三阶互调时,重点对其进行 考察。 同理,3f1-2f2, 3f2-2f1, 3f1+2f2 和 3f2+2f1都称为系统的五阶互调失真。一 般情况下,只有3f1-2f2会落在系统的接收频段,所以在检测五阶互调时,重 点对其进行考察。

射频电缆及测试电缆组件的性能指标及通用设计准则

射频电缆及测试电缆组件的性能指标及通用设计准则

射频电缆及测试电缆组件的性能指标及通用设计准则概述—射频电缆的通用设计准则射频电缆组件的正确选择除了频率范围,驻波比,插入损耗等因素外,还应考虑电缆的机械特性,使用环境和应用要求,另外,成本也是一个永远不变的因素。

在本文中,详细讨论了射频电缆的各种指标和性能,了解电缆的性能对于选择最佳的射频电缆组件是十分有益的。

射频同轴电缆是用于传输射频和微波信号能量的。

它是一种分布参数电路,其电长度是物理长度和传输速度的函数,这一点和低频电路有着本质的区别。

射频同轴电缆分为半刚,半柔和柔性电缆三种,不同的应用场合应选择不同类型的电缆。

半刚和半柔电缆一般用于设备内部的互联;而在测试和测量领域,应采用柔性电缆。

半刚性电缆顾名思义,这种电缆不容易被轻易弯曲成型,其外导体是采用铝管或者铜管制成的,其射频泄露非常小(<-120dB),在系统中造成的信号串扰可以忽略不计。

这种电缆的无源互调特性也是非常理想的。

如果要弯曲到某种形状,需要专用的成型机或者手工的磨具来完成。

如此麻烦的加工工艺换来的是非常稳定的性能,半刚性电缆采用固态聚四氟乙烯材料作为填充介质,这种材料具有非常稳定的温度特性,尤其在高温条件下,具有非常良好的相位稳定性。

半刚性电缆的成本高于半柔性电缆,大量应用于各种射频和微波系统中。

半柔性电缆半柔性电缆是半刚性电缆的替代品,这种电缆的性能指标接近于半刚性电缆,而且可以手工成型。

但是其稳定性比半刚性电缆略差些,由于其可以很容易的成型,同样的也容易变形,尤其在长期使用的情况下。

柔性(编织)电缆柔性电缆是一种“测试级”的电缆。

相对于半刚性和半柔性的电缆,柔性电缆的成本十分昂贵,这是因为柔性电缆在设计时要顾及的因素更多。

柔性电缆要易于多次弯曲而且还能保持性能,这是作为测试电缆的最基本要求。

柔软和良好的电指标是一对矛盾,也是导致造价昂贵的主要原因。

柔性射频电缆组件的选择要同时考虑各种因素,而这些因素之间有些的相互矛盾的,如单股内导体的同轴电缆要比多股的具有更低的插入损耗和弯曲时的幅度稳定性,但是相位稳定性能就不如后者。

无源射频和微波元器件的互调电平测量 第6部分:天线的无源互调测量-最新国标

无源射频和微波元器件的互调电平测量 第6部分:天线的无源互调测量-最新国标

无源射频和微波元器件的互调电平测量第6部分:天线的无源互调测量1 范围本文件描述了测量天线(特别是应用于无线通信系统中)无源互调电平的推荐试验装置和程序。

本文件旨在定义天线在低互调应用时的质量一致性检验和验收检验方法。

2 规范性引用文件下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。

其中,注日期的引用文件,仅该日期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。

IEC 60068-2-75 环境试验第2-75部分:试验方法试验Eh:锤击试验(Environmental testing—Part 2-75: Tests—Test Eh: Hammer tests)注:G B/T 2423.55—2023 环境试验第2部分:试验方法试验Eh:锤击试验(IEC 60068-2-75:2014,IDT)IEC 62037-1 无源射频和微波元器件,互调电平测量第1部分:一般要求和测量方法(Passive RF and microwave devices, intermodulation level measurement—Part 1: General requirements and measuring methods)注:G B/T 21021.1—2021 无源射频和微波元器件的互调电平测量第1部分:一般要求和测量方法(IEC 62037-1:2012,IDT)IEC 62037-3 无源射频和微波元器件,互调电平测量第3部分:同轴连接器的无源互调测量(Passive RF and microwave devices, intermodulation level measurement—Part 3:Measurement of passive intermodulation in coaxial connectors)注:G B/T 21021.3—2021 无源射频和微波元器件的互调电平测量第3部分:同轴连接器的无源互调测量(IEC 62037-3:2012,IDT)ISO 2039-2 塑料硬度测定第2部分:洛氏硬度(Plastics—Determination of Hardness—Part 2: Rockwell Hardness)注:G B/T 3398.2—2008 塑料硬度测定第2部分:洛氏硬度(ISO 2039-2:1987,IDT)3 术语和定义4本文件没有需要界定的术语和定义。

射频系统传输中的无源互调测试

射频系统传输中的无源互调测试
l 制造与测试 I Ma n u f a c t n g&T e s t
射频 系统传输 中的无源 互调 测试
l MI L ME GA 公司供稿
在射频系统传输路径中,无源互调 ( P Ⅱ v D涉及
了两 个 干 扰 信 号 ,其 中一 个 位 于 接 收频 带 。过 滤
无 源 元件 和连 接 所 产 生 的干 扰 信 号 。传 输 功 率越 掉接收频带中的干扰是行不通的 ,因为这 同时会 大 ,这 些干 扰 信 号 的 电平 就 越 大 。 相反 地 ,系统 减 弱有 用信 号 。
P I M 问题
时 ,P I M 就会 成为 一 个 问题 。例 如 ,如 图 1 所示 ,
互调 ( I M) 产物 。这 是 因为该 路 径上 的 多个 信号 会
二极 当P I M 生成的信号处于 系统接收频带范围内 受到元件内部和元件之 问存在的非线性效应/
管 型节 点 的影 响。在 所有 情况 下 ,如 果产 生两 个或
其 中 ,8 6 9 MHz 和 8 9 4 MH z处 的两 个 传输 信号 产 生 多个信 号混合 的现 象 ,则会 导致 额外 的频率 分量 。
图 1测试 系统产生 的两个测试音如 8 6 9 MH z和 8 9 4 MH z处所 示。这些测试音可以感应 8 4 4 MH z 处位于系统接 收频 带范 围内的 P I M 干扰信号
如果我们现在将输入视为放大器的两个密集 信号 ( 图 3中的 f 1和 ),图 4显示了接近两个
测试信 号 f l 和 的三 阶互 调信 号 2 n— 以及 2 t 2 一 n。产物 的阶数 为 系数模 的 总和 ,如 图 4 中 所示 。
l 3 l +l - 2 1 f 3 = 5 ,即五阶 { 2 +l - l l f l =3 ,即三阶

射频同轴电缆三阶互调的测量与生产控制

射频同轴电缆三阶互调的测量与生产控制

射频同轴电缆三阶互调的测量与生产控制2.身份证号:3301231980****0317摘要:本文分析了射频同轴电缆生产过程中无源互调的测试方法及射频同轴电缆无源互调的影响因素,对射频同轴电缆的制造过程中的预防措施有积极的指导意义。

关键词:三阶互调射频同轴电缆测试方法1、引言随着移动通信高速发展,对通信传输的要求越来越高,特别对设备及连接线的无源互调指标提出了更高的要求。

大量不同频率的信号在非线性无源器件中传输,会产生无源互调(PIM)。

通常,我们将天线、设备和连接器作为重点考虑其无源互调,但在多个频率载波信号通信的环境下,电子通信系统的复杂程度正逐步提高,近年来,随着大容量、高功率无线通信系统的不断发展和应用,而作为射频同轴电缆的无源互调指标也变得越来越重要。

其射频同轴电缆及电缆组件所产生的无源互调产物已成为主要的信号干扰源,它严重影响着正常信号的传输,并导致通信系统的性能下降。

本文分析了皱纹铜管外导体射频同轴电缆无源互调产生的原因及预防措施,对射频电缆设计、制造以选用提供一些指导意义和参考价值。

2、三阶互调的测试方法由于相较三阶互调,偶数阶互调以及高奇数阶互调均在系统频带外,对系统通信的干扰微乎其微,故此处不再赘述。

因此,对于射频同轴电缆一般只讨论三阶互调情况。

由于三阶互调产生的原因非常复杂,无源互调的产生目前还不能完全由理论计算来精确获得。

我们需要建立了无源互调测试系统来评价无源电子元器件的三阶互调。

,无源电子元器件的三阶互调测试方法主要分反向三阶互调测试与正向三阶互调测试(分别简称反射法和传输法)。

一般来说,采用反射法的测试三阶互调的指标要求会更加严格,目前,射频同轴电缆及其组件,都采用反射法的测试三阶互调,为了确保整个系统的通信质量,我国对多载波共用的电缆组件的三阶互调产物提出了较高的技术指标,即要求其≤ - 155 dBC(43dBm)。

为达到这一指标,必须对射频同轴电缆和连接器进行精细加工和严格测试。

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射频集成电缆的无源互调测试无源互调介绍在无线通信系统中,日益增加的语音和数据信息必须在一个固定带宽中传输,无源互调失真已经成为限制系统容量的重要因素。

就好像在有源器件中,当两个频率以上的信号以一个非线性形式混合在一起时,就会产生一些伪信号,这就是无源互调信号。

当这些伪互调信号落在基站的接收(上行)频段内时,接收机就会发生减敏现象。

这种现象可以降低通话质量,或者降低系统的载干比(C/I),从而减少通信系统的容量。

造成无源互调的原因很多,其中包括机械接触不良,射频通道中的含铁导体,和射频导体表面的污染。

事实上,很难准确预知器件的无源互调值,测量所得的数据只能用来大致描述器件的性能。

由于结构技术方面的微小改变都会导致互调指标的严重变化,所以一些生产厂商通过对产品100%的检验来保证基站中使用的射频器件的无源互调水平都能满足指标要求。

当存在两个或两个以上频率时,基站的大功率传输通道中的每个组件和子系统都会产生互调失真。

本文仅关注其中的一种组件:集成电缆。

针对集成电缆产生的互调失真既是有方向性的,又是依赖于频率的理解,对于集成电缆的指标及其在通信基站中的使用是一个非常重要的因素。

电缆互调测试的实现一条集成电缆(或者是任何两端口射频器件)都有两种无源互调响应:反射互调和通过互调。

图1为Summitek公司的无源互调分析仪测量这两个互调信号的原理。

在SI-1900A型设备中,通过端口1向集成电缆注入两个大功率信号,电缆的另一端与端口2连接。

端口2作为这两个大功率信号的负载,并且其无源反射互调很小,可忽略。

在端口1处测量反射无源互调响应,在端口2处测量通过(即前向)无源互调。

与目前使用的大多数无源互调测试设备不同的是,Summitek公司的互调分析仪支持前向和反向互调响应的同时测量,而不需要重新接驳。

这样可以避免重新接驳时所必须的配对和再配对操作,从而使反射响应和通过响应的测量误差最小化。

将该特性与Summitek分析仪的扫频互调测量功能相结合,就可以对电缆完整的互调特性做测量了。

图1(a) Summitek无源互调失真分析仪对反射和通过互调响应的测试框图图1(b)用于集成电缆互调测量的分析仪图片电缆互调特性思考图2中的模型有助于对集成电缆的反射和通过互调特性的理解。

图2 用来说明集成电缆反射和通过互调响应的模型图中的中间部分是集成电缆本身。

在这个模型中,关键是假定集成电缆中只有接头部分产生互调。

换句话说,尽管当信号沿着电缆的长度传输,电缆本身会产生损耗和群时延,但是相对于接头,电缆本身不产生大的互调,可以用图2中H()的传输函数来表示。

用IMa 和IMb 来表示集成电缆接头产生的互调响应。

在本模型中,我们假设互调只产生在每个接头中单一的一点上,并且假设互调一旦产生后,其双向传输是等能量传输的。

模型的左边是端口1,该端口用来将两个+43dBm 的信号注入集成电缆(见图1(a)的框图)。

这两个信号在图2中表示为向量A1和A2。

无源互调测试系统本身也会产生互调,用向量IM1表示。

注意,和该模型中的其他互调响应一样,IM1响应也是自其产生处双向传输的。

假定,端口1的互调响应和电缆a 端的互调是协同定位的,换句话说,这两个互调源之间的电磁波距离可以忽略不计。

模型的右边是端口2,该端口也会产生一个不希望出现的小互调能量,以IM2表示。

所有用于端口1的假设同样适用于端口2。

通观完整的集成电缆无源互调的测量模型,以下几条值得关注:每个测试端口都有与其相关的4个互调响应。

其中两个是接头末端产生的,另两个是互调分析仪自身产物。

电缆b 端的互调(IMb )和端口2的互调(IM2)会通过电缆反向传输,从而产生的反射互调响应可以在端口1处测量。

电缆a 端的互调(IMa )和端口1的互调(IM1)会通过电缆进行传输,从而产生的通过互调响应可以在端口2处测量。

通过这个模型,集成电缆的互调值就可以被确定了。

使用模型预计互调特性虽然预计一个给定的射频器件的互调绝对值是非常困难的,但是单个互调源之间的相互作用在图2的模型中可以很容易地被表现出来。

首先,我们已经知道了每一个互调源的三阶互调公式。

以端口1和电缆a 端的响应开始,互调响应为:三阶互调的频率为:w 3 ≡2ω2 −ω1其中t :时间IM1:端口1的三阶互调响应IMa :电缆a 端的三阶互调响应σ1:端口1的互调系数,即端口1(=10[dBc/20.])的dBc 响应的简单数字转化σa :端口a 的互调系数,即端口a(=10[dBc/20.])的dBc 响应的简单数字转化ω1, 2, 3:分别为载波1,载波2和产生的三阶互调响应的频率弧度电缆b 端和端口2的互调响应相对稍微复杂。

两个载波产生的互调响应可以通过电缆传输函数H(w)表示。

为了简化公式,和消除非线性功率对互调产物及其载波的影响,假设电缆是无损耗的。

在公式中,这个假设表示为:⎜ H (w ) ⎜= 1当最终结果出来时,这个假设对于模型精确度的影响是非常显著的。

即使假设电缆是无损耗的,电缆产生的群时延还是被包含在模型中的,具体如下式:其中: k :与频率有关的通过电缆(2p/l)的电磁波数v :同轴电缆的传输速率L :电缆的长度电缆b 端和端口2的互调响应表示为:当公式中IMa 、IM1、IMb 、和IM2已知,落在端口2上,总的通过(前向)互调表达式为:上式表示同时落在互调测试设备端口2上的四个互调响应,不依赖于互调频率。

假设单独的互调源是不依赖于频率的,且电缆的损耗是一个常数,那么整条集成电缆的通过互调响应将不依赖于频率。

我们可以采用相似的过程来描述反射互调响应。

反射互调响应可以由下式来给出:Reflected IM at Port ( 1) = IM a + IM 1 + H (w )∗(IM b + IM 2 )简化为:上式表示端口1中的反射互调响应是端口1和电缆b端响应的合成,加上由于电缆b端和端口2的互调响应的合成造成的移相响应。

由于存在一个不同相位的互调源的合成向量,所以,我们认为反射互调响应是一个与电缆的频率和电长度有关的函数。

集成电缆互调响应的测量为了验证该模型,我们使用SI-1900A型无源互调失真分析仪来测量无线通信应用中一种典型的集成跳线。

该集成跳线长1.5米,厂商标注的速率因子为82%,两端分别安装有一个DIN-M型接头。

载波功率设置为20W/路。

分析仪的自适应逻辑电路确保了测试过程中,载波的功率变化不超过0.2dB。

分析仪的底噪不超过-140dBm,即当施加一个+43dBm的载波功率时,分析仪的互调底噪不超过-163dBc。

图3显示了反射和通过互调响应的测量结果曲线,以及相应的预测曲线。

电缆每个端口上的互调响应值,是通过假设前向互调响应是由两个分别在电缆两端的等幅互调源之和组成的。

反射互调响应值仅由该模型来决定,且不用调节使之与测得的数据相匹配。

图3:集成电缆无源互调失真的测量结果与预计曲线如图3所示,尽管预计数据中的反射互调响应0点的深度值远远大于实际测得的数据,但是总的通过和反射响应趋势是符合模型的预计曲线趋势。

这非常可能是由于模型中的简单假设和电缆实际性能之间的差别造成的。

1)假设在模型中的互调源是等幅的。

但是实际上,电缆两端的互调响应可能并不是等幅的。

这就导致了模型的互调0点值好于测量所得数据。

2)在这个简单的模型中,假设电缆是无损耗的,那么,当互调从电缆的一端传输到另一端时,将仍然维持原始的振幅。

但是实际测量中,互调从电缆的一端传输到另一端时,必将产生损耗,这就会造成电缆中两个互调响应的不一致,从而产生一个深度较浅的0点值。

3)假设测试设备所产生的互调响应与电缆接头的互调响应是协同定位的。

在实际测量中,由于在测试设备的端口1和端口2上使用了接头保护器(插孔适配器),使得测试设备和电缆接头之间产生3cm的距离,进而大约在测得的0值深度处产生额外的互调响应。

结论在简化的无源互调模型中,电缆的反射互调和通过互调被准确的预计。

而且模型预计和实际测量所得的结果之间的差异也可以很容易解释。

负责系统的整体实现和器件的互调性能的工程师可以通过这些结果的应用,来帮助理解现场或实验室环境中的无源互调测量。

基于以上结果的结论包括:如果电缆是低损耗的,且电缆每一端产生的互调被认为是基本相似的,那么一般来说,测得的通过互调响应比电缆任一端的响应大6dB,而且通常与频率无关。

该响应表现为电缆反射或通过互调测量中的最大(或接近最大)的互调响应。

如果测量低损耗电缆的反射无源互调,那么测得的互调值会随着互调频率的改变而改变。

因此,测量单一频率的反射互调可能不能真正说明整个系统产生的无源互调失真的影响。

合理选择电缆的长度可以导致互调源之间的相消干扰,从而产生一个低的系统互调响应。

这个特性可以用来选定发射机架与基站调谐箱面板间跳线的长度,实现频组分配。

当长电缆的一端产生的大互调响应与电缆另一端的小互调响应合成时,很可能会产生一个与频率高度相关的反射互调响应。

这种情况可能是因为基站中有一个由于有缺陷或设计不合理的天线返回的大互调信号造成的。

当同轴电缆的温度改变(比如,电缆的损耗发热或者阳光的照射)时,电缆的电长度将会发生变化。

这种变化会造成电缆长度的增加,以及速率因子的减小。

当电缆的长度变化时,使得多个互调源间的相位改变,从而造成基站双工机接收端产生的互调值发生变化。

那么,互调值随温度函数增加或减小,将会导致基站容量的变化。

虽然,本文以射频集成电缆为例来说明互调的测量,但该结论可以延伸并同样适用于任何两端口器件。

根据器件本身传输函数的定义,与双工器、滤波器或天线相关的互调特性也可以被确定了。

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