材料分析方法试卷A(07级)
07级A试卷
《物理化学》期末考试试卷(A)2007.6一、选择题( 共8题16分)1. 2 分(0182)下列的过程可应用公式ΔH=Q进行计算的是:( )(A) 不做非体积功,终态压力相同但中间压力有变化的过程(B) 不做非体积功,一直保持体积不变的过程(C) 273.15 K,pθ下液态水结成冰的过程(D) 恒容下加热实际气体2. 2 分(1173)下列关系式中哪个不需要理想气体的假设?( )(A) C p- C V = nR(B) (dln p)/d T =ΔH/RT2(C) 对恒压过程ΔH =ΔU + pΔV(D) 对绝热可逆过程,pVγ= 常数。
3. 2 分(0451)298 K时,石墨的标准摩尔生成焓Δf Hm$:( )(A) 大于零(B) 小于零(C) 等于零(D) 不能确定4. 2 分(1267)热力学第三定律可以表示为:( )(A) 在0 K时,任何晶体的熵等于零(B) 在0 K时,任何完整晶体的熵等于零(C) 在0 ℃时,任何晶体的熵等于零(D) 在0 ℃时,任何完整晶体的熵等于零5. 2 分(3350)某放热反应在T=800 K、压力p下进行,达平衡后产物的百分含量是50%,若反应在T=200 K、压力p下进行,平衡时产物的百分含量将:( )(A) 增大(B) 减小(C) 不变(D) 不能确定6. 2 分(3286)在刚性密闭容器中,有下列理想气体的反应达到平衡:A(g) + B(g) =C(g)若在恒温下加入一定量的惰性气体,则平衡将()(A) 向右移动(B) 向左移动(C) 不移动(D) 无法确定7. 2 分(2813)饱和溶液中溶质的化学势μ与纯溶质的化学势μ*的关系式为:( )(A)μμ=*(B)μμ>*(C)μμ<*(D)不能确定8. 2 分(1948)理想液态混合物具有一定的热力学性质。
在下面叙述中哪个是错误的。
( )(A)mixΔV=0 (B)mixΔA=0 (C)mixΔH=0 (D)mixΔU=0二、填空题( 共7题14分)9. 2 分(1702)摩尔分数为0.5 的甲醇水溶液在293.15 K 和pθ下,每摩尔溶液的体积为2.83×10-5 m3⋅mol-1,甲醇的偏摩尔体积为3.95×10-5 m3⋅mol-1,把 1 mol 甲醇加入上述大量溶液中,体积增加____ m3,加入 1 mol 水体积又增加____ m3。
材料分析测试方法或研究方法试题及答案2【VIP专享】
3.衍射线在空间的方位取决于什么?而衍射线的强度又取决于什么?
答:衍射线在空间的方位主要取决于晶体的面网间距,或者晶胞的大小。衍射 线的强度主要取决于晶体中原子的种类和它们在晶胞中的相对位置。
4.罗伦兹因数是表示什么对衍射强度的影响?其表达式是综合了哪几方面考
虑而得出的? 答:罗仑兹因数是三种几何因子对衍射强度的影响,第一种几何因子表示
衍射的晶粒大小对衍射强度的影响,罗仑兹第二种几何因子表示晶粒数目对 衍射强度的影响,罗仑兹第三种几何因子表示衍射线位置对衍射强度的影响。
对全部高中资料试卷电气设备,在安装过程中以及安装结束后进行高中资料试卷调整试验;通电检查所有设备高中资料电试力卷保相护互装作置用调与试相技互术关,通系电1,力过根保管据护线生高0不产中仅工资2艺料22高试2可中卷以资配解料置决试技吊卷术顶要是层求指配,机置对组不电在规气进范设行高备继中进电资行保料空护试载高卷与中问带资题负料2荷试2,下卷而高总且中体可资配保料置障试时2卷,32调需3各控要类试在管验最路;大习对限题设度到备内位进来。行确在调保管整机路使组敷其高设在中过正资程常料1工试中况卷,下安要与全加过,强度并看工且25作尽52下可22都能护可地1关以缩于正小管常故路工障高作高中;中资对资料于料试继试卷电卷连保破接护坏管进范口行围处整,理核或高对者中定对资值某料,些试审异卷核常弯与高扁校中度对资固图料定纸试盒,卷位编工置写况.复进保杂行护设自层备动防与处腐装理跨置,接高尤地中其线资要弯料避曲试免半卷错径调误标试高方中等案资,,料要编试求5写、卷技重电保术要气护交设设装底备备置。4高调、动管中试电作线资高气,敷料中课并设3试资件且、技卷料中拒管术试试调绝路中验卷试动敷包方技作设含案术,技线以来术槽及避、系免管统不架启必等动要多方高项案中方;资式对料,整试为套卷解启突决动然高过停中程机语中。文高因电中此气资,课料电件试力中卷高管电中壁气资薄设料、备试接进卷口行保不调护严试装等工置问作调题并试,且技合进术理行,利过要用关求管运电线行力敷高保设中护技资装术料置。试做线卷到缆技准敷术确设指灵原导活则。。:对对在于于分调差线试动盒过保处程护,中装当高置不中高同资中电料资压试料回卷试路技卷交术调叉问试时题技,,术应作是采为指用调发金试电属人机隔员一板,变进需压行要器隔在组开事在处前发理掌生;握内同图部一纸故线资障槽料时内、,设需强备要电制进回造行路厂外须家部同出电时具源切高高断中中习资资题料料电试试源卷卷,试切线验除缆报从敷告而设与采完相用毕关高,技中要术资进资料行料试检,卷查并主和且要检了保测解护处现装理场置。设。备高中资料试卷布置情况与有关高中资料试卷电气系统接线等情况,然后根据规范与规程规定,制定设备调试高中资料试卷方案。
材料现代测试分析方法期末考试卷与答案
材料现代测试分析方法期末考试卷与答案江西省理工大学材料分析测试题(可供参考)一、名词解释(共有20分,每小题2分。
)1.辐射的发射:指物质吸收能量后产生电磁辐射的现象。
2.俄歇电子:X射线或电子束激发固体中原子内层电子使原子电离,此时原子(实际是离子)处于激发态,将发生较外层电子向空位跃迁以降低原子能量的过程,此过程发射的电子。
3.背散射电子:入射电子与固体作用后又离开固体的电子。
4.溅射:入射离子轰击固体时,当表面原子获得足够的动量和能量背离表面运动时,就引起表面粒子(原子、离子、原子团等)的发射,这种现象称为溅射。
5.物相鉴定:指确定材料(样品)由哪些相组成。
6.电子透镜:能使电子束聚焦的装置。
7.质厚衬度:样品上的不同微区无论是质量还是厚度的差别,均可引起相应区域透射电子强度的改变,从而在图像上形成亮暗不同的区域,这一现象称为质厚衬度。
8.蓝移:当有机化合物的结构发生变化时,其吸收带的最大吸收峰波长或位置(最大)向短波方向移动,这种现象称为蓝移(或紫移,或“向蓝”)。
9.伸缩振动:键长变化而键角不变的振动,可分为对称伸缩振动和反对称伸缩振动。
10.差热分析:指在程序控制温度条件下,测量样品与参比物的温度差随温度或时间变化的函数关系的技术。
二、填空题(共20分,每小题2分。
)1.电磁波谱可分为三个部分,即长波部分、中间部分和短波部分,其中中间部分包括(红外线)、(可见光)和(紫外线),统称为光学光谱。
2.光谱分析方法是基于电磁辐射与材料相互作用产生的特征光谱波长与强度进行材料分析的方法。
光谱按强度对波长的分布(曲线)特点(或按胶片记录的光谱表观形态)可分为(连续)光谱、(带状)光谱和(线状)光谱3类。
3.分子散射是入射线与线度即尺寸大小远小于其波长的分子或分子聚集体相互作用而产生的散射。
分子散射包括(瑞利散射)与(拉曼散射)两种。
4.X射线照射固体物质(样品),可能发生的相互作用主要有二次电子、背散射电子、特征X射线、俄歇电子、吸收电子、透射电子5.多晶体(粉晶)X射线衍射分析的基本方法为(照相法)和(X 射线衍射仪法)。
材料现代分析方法习题及答案优选全文
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产生X射线需具备什么条件?答:实验证实:在高真空中, 凡高速运动的电子碰到任何障碍物时, 均能产生X射线, 对于其他带电的基本粒子也有类似现象发生。
电子式X射线管中产生X射线的条件可归纳为:1, 以某种方式得到一定量的自由电子;2, 在高真空中, 在高压电场的作用下迫使这些电子作定向高速运动;3, 在电子运动路径上设障碍物以急剧改变电子的运动速度。
分析下列荧光辐射产生的可能性, 为什么?(1)用CuKαX射线激发CuKα荧光辐射;(2)用CuKβX射线激发CuKα荧光辐射;(3)用CuKαX射线激发CuLα荧光辐射。
答: 根据经典原子模型, 原子内的电子分布在一系列量子化的壳层上, 在稳定状态下, 每个壳层有一定数量的电子, 他们有一定的能量。
最内层能量最低, 向外能量依次增加。
根据能量关系, M、K层之间的能量差大于L、K成之间的能量差, K、L层之间的能量差大于M、L层能量差。
由于释放的特征谱线的能量等于壳层间的能量差, 所以Kß的能量大于Ka的能量, Ka能量大于La的能量。
(1)因此在不考虑能量损失的情况下:(2)CuKa能激发CuKa荧光辐射;(能量相同)(3)CuKß能激发CuKa荧光辐射;(Kß>Ka)(4)CuKa能激发CuLa荧光辐射;(Ka>la)F的物理意义。
材料分析测试方法练习与答案
第一章一、选择题1.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是(B)射线透射学;射线衍射学;射线光谱学;D.其它2. M层电子回迁到K层后,多余的能量放出的特征X射线称( B )A.Kα;B. Kβ;C. Kγ;D. Lα。
3. 当X射线发生装置是Cu靶,滤波片应选( C )A.Cu;B. Fe;C. Ni;D. Mo。
4. 当电子把所有能量都转换为X射线时,该X射线波长称(A )A.短波限λ0;B. 激发限λk;C. 吸收限;D. 特征X射线5.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后,L层电子回迁K层,多余能量将另一个L 层电子打出核外,这整个过程将产生(D)(多选题)A.光电子;B. 二次荧光;C. 俄歇电子;D. (A+C)二、正误题1. 随X射线管的电压升高,λ0和λk都随之减小。
()2. 激发限与吸收限是一回事,只是从不同角度看问题。
()3. 经滤波后的X射线是相对的单色光。
()4. 产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外,原子处于激发状态。
()5. 选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料,而不需要考虑厚度。
()三、填空题1. 当X射线管电压超过临界电压就可以产生连续X射线和特征X射线。
2. X射线与物质相互作用可以产生俄歇电子、透射X射线、散射X 射线、荧光X射线、光电子、热、、。
3. 经过厚度为H的物质后,X射线的强度为。
4. X射线的本质既是波长极短的电磁波也是光子束,具有波粒二象性性。
5. 短波长的X射线称,常用于;长波长的X射线称,常用于。
习题1. X 射线学有几个分支每个分支的研究对象是什么2. 分析下列荧光辐射产生的可能性,为什么(1)用CuK αX 射线激发CuK α荧光辐射;(2)用CuK βX 射线激发CuK α荧光辐射;(3)用CuK αX 射线激发CuL α荧光辐射。
3. 什么叫“相干散射”、“非相干散射”、“荧光辐射”、“吸收限”、“俄歇效应”、“发射谱”、“吸收谱”4. X 射线的本质是什么它与可见光、紫外线等电磁波的主要区别何在用哪些物理量描述它5. 产生X 射线需具备什么条件6. Ⅹ射线具有波粒二象性,其微粒性和波动性分别表现在哪些现象中7. 计算当管电压为50 kv 时,电子在与靶碰撞时的速度与动能以及所发射的连续谱的短波限和光子的最大动能。
材料分析测试技术试题及答案
材料分析测试技术试题及答案材料分析测试技术试题及答案(一)1、施工时所用的混凝土空心砌块的产品龄期不应小于( D)。
A、14dB、7dC、35dD、28d2、高强度大六角头螺栓连接副和扭剪型高强度螺栓连接副出厂时应分别随箱带有( C )和紧固轴力(预拉力)的检验报告。
A、抗拉强度B、抗剪强度C、扭矩系数D、承载力量3、勘察、设计、施工、监理等单位应将本单位形成的工程文件立卷后向( A )移交。
A、建立单位B、施工单位C、监理单位D、设计单位4、城建档案治理机构应对工程文件的立卷归档工作进展监视、检查、指导。
在工程竣工验收前,应对工程档案进展( C ),验收合格后,须出具工程档案认可文件。
A、检查B、验收C、预验收D、指导5、既有文字材料又有图纸的案卷( A )。
A、文字材料排前,图纸排后B、图纸排前,文字材料排后C、文字材料、图纸按时间挨次排列D、文字材料,图纸材料交叉排列6、建筑与构造工程包括那几个分部( B )。
A、地基与根底、主体、装饰装修、屋面、节能分部B、地基与根底、主体、装饰装修、屋面分部C、地基与根底、主体、装饰装修分部D、地基与根底、主体分部7、在原材料肯定的状况下,打算混凝土强度的最主要因素是( B )。
A、水泥用量B、水灰比C、水含量D、砂率8、数据加密技术从技术上的实现分为在( A )两方面。
A、软件和硬件B、软盘和硬盘C、数据和数字D、技术和治理9、混凝土同条件试件养护:构造部位由监理和施工各方共同选定,同一强度等级不宜少于10组,且不应少于( A )组。
A、3B、10C、14D、2010、不属于统计分析特点的是( D )。
A、数据性B、目的性C、时效性D、准时性11、施工资料治理应建立岗位责任制,进展( C )。
A、全面治理B、全方位掌握C、过程掌握D、全范围掌握12、目前工程文件、资料用得最多的载体形式有( A )。
A、纸质载体B、磁性载体C、光盘载体D、缩微品载体13、施工资料应当根据先后挨次分类,对同一类型的资料应根据其( A )进展排序。
2007级金属材料学试题(A卷答案)
贵州大学2010-2011学年第一学期考试试卷 A参考答案及评分标准金属材料学注意事项:1. 请考生按要求在试卷装订线内填写姓名、学号和年级专业。
2. 请仔细阅读各种题目的回答要求,在规定的位置填写答案。
3. 不要在试卷上乱写乱画,不要在装订线内填写无关的内容。
4. 满分100分,考试时间为120分钟。
一、问答题(共25分,每题5分)1.合金钢中的合金元素有哪些?怎样分类?答:合金钢中有Hf、Zr、Ti、Ta、Nb、V、W、Mo、Cr、Mn、Co、Ni、Si、Cu、Al等。
它们可以分为碳化物形成元素如Hf、Zr、Ti、Ta、Nb、V、W、Mo、Cr、Mn和非碳化物形成因素如Co、Ni、Si、Cu、Al等。
2.合金元素Mn、Cr、W、Mo、V、Ti、Zr、Nb和Si、Ni、Cu等对钢的C曲线和Ms点有何影响?答:Mn、Cr、W、Mo、V、Ti、Zr、Nb使C曲线的形状和位置发生改变,有两个鼻温,即珠光体和贝氏体转变区分开,位置右移,而Si、Ni、Cu等不改变C曲线形状,只改变其位置,位置右移。
它们使M s点下降。
3.合金元素对两类回火脆性有何影响?答:钢在250-350℃和450-550℃出现低温和高温回火脆性,低温回火脆主要是薄膜状残余奥氏体失稳分解和杂质元素P、S、H、O等在晶界偏聚造成的,这类脆性是不可逆的。
合金元素Si、Al等可以抑制或降低Fe3C在晶界成核和长大,可以减轻这类回火脆性。
高温回火脆主要是碳化物在晶界析出和脆化元素如As、Sb、Bi、Pb、Sn等在晶界偏聚造成晶界脆化,这种回火脆是可逆的。
合金元素Ni、Mn等可以与脆化元素一起偏聚在晶界上,促进高温回火脆;Cr虽然自身不在晶界偏聚,但它促进其他脆化元素向晶界偏聚;Mo可以阻碍脆化元素的偏聚,所以可以减轻或抑制高温回火脆性。
4.在Al中常加入哪些合金元素?作用是什么?答:Al合金中的元素主要有Si、Cu、Mg、Zn等,它们的作用是固溶强化、时效强化、细化晶粒强化和过剩相强化等。
期末考试卷:材料现代测试分析方法和答案
期末考试卷:材料现代测试分析方法和答案第一部分:选择题(共10题,每题2分,共20分)1. 以下哪项不是材料现代测试分析的主要方法?- A. X射线衍射分析- B. 扫描电子显微镜分析- C. 质谱分析- D. 核磁共振分析2. 在材料现代测试分析中,以下哪种方法适用于分析材料的晶体结构?- A. 红外光谱分析- B. 热重分析- C. X射线衍射分析- D. 高效液相色谱分析3. 以下哪项不是扫描电子显微镜分析的主要应用?- A. 表面形貌观察- B. 元素分析- C. 晶体结构分析- D. 电子能谱分析4. 质谱分析主要用于检测和分析材料中的什么?- A. 元素成分- B. 分子结构- C. 表面形貌- D. 晶体结构5. 核磁共振分析常用于确定材料中的什么信息?- A. 元素含量- B. 晶体结构- C. 分子结构- D. 表面形貌6. 以下哪种方法适用于分析材料的热性能?- A. 红外光谱分析- B. 热重分析- C. 扫描电子显微镜分析- D. 核磁共振分析7. 在材料现代测试分析中,以下哪种方法适用于分析材料的表面形貌?- A. 红外光谱分析- B. 扫描电子显微镜分析- C. X射线衍射分析- D. 质谱分析8. 以下哪项不是红外光谱分析的主要应用?- A. 元素分析- B. 分子结构分析- C. 表面形貌观察- D. 化学成分分析9. 在材料现代测试分析中,以下哪种方法适用于分析材料的化学成分?- A. 红外光谱分析- B. 热重分析- C. X射线衍射分析- D. 高效液相色谱分析10. 高效液相色谱分析主要用于检测和分析材料中的什么?- A. 元素成分- B. 分子结构- C. 化学成分- D. 表面形貌第二部分:简答题(共5题,每题10分,共50分)1. 简述材料现代测试分析的意义和应用范围。
2. 请列举并解释任意两种材料现代测试分析方法。
3. 简述扫描电子显微镜分析的原理和应用领域。
材料分析方法题目(完整版)
6.精确测定点阵参数校正或消除误差常用的有哪三种方法?
7.试总结衍射花样的背底来源,并提出一些防止和减少背底的措施。
习题六
1.在一块冷轧钢板中可能存在哪几种内应力?它的衍射谱有什么特点?
2.宏观应力对X射线衍射花样的影响是什么?衍射仪法测定宏观应力的方法有哪些?
习题七
1.电子波有何特征?与可见光有何异同?
2.分析电磁透镜对电子波的聚焦原理,说明电磁透镜的结构对聚焦能力的影响。
3.电磁透镜的像差是怎样产生的,如何来消除和减少像差?
4.说明影响光学显微镜和电磁透镜分辨率的关键因素是什么?如何提高电磁透镜的分辨率?
5.电磁透镜景深和焦长主要受哪些因素影响?说明电磁透镜的景深大、焦长长、是什么因素影响的结果?假设电磁透镜没有像差,也没有衍射Airy斑,即分辨率极高,此时它的景深和焦长如何?
9.说明孪晶与层错的衬度特征,并用各自的衬度形成原理加以解释。
10.要观察钢中基体和析出相的组织形态,同时要分析其晶体结构和共格界面的位向关系,如何制备样品?以怎样的电镜操作方式和步骤来进行具体分析?
11.动力学理论和运动学有什么区别?为什么说运动学理论是动力学在一定条件下的特例?
第十一章
1、电子束入射固体样品表面会激发哪些信号?它们有哪些特点和用途?
5.特征X射线产生的机理是什么?
6.滤波的目的是什么?
7.物质对X射线的吸收主要是由什么引起?
习题二
1.下面是某立方晶系物质的几个晶面,试将它们的面间距从大到小按次序重新排列:(),(100),(200),(),(121),(111),(),(220),(130),(030),(),(110),()。
2007A卷答案
A卷答案1、锅炉成分分析的基准有收到基、空气干燥基、干燥基、干燥无灰基四种。
其换算关系为:由于燃料中水分和灰分的含量易受外界条件的影响而发生变化,水分或灰分的含量变化了,其他元素成分的含量也会随之而变化。
例如,水分含量增加时,其他成分的百分含量便相对地减小;反之,水分含量减少时,其他成分的百分含量便相对地增加。
所以不能仅用各成分的质量百分数来表示燃料的成分组成特性。
有时为了使用或研究工作的需要,在计算燃料的各成分百分含量时,可将某种成分(例如水分或灰分)不计算在内。
这样按不同的“成分组合”计算出来的各成分百分数就会有较大的差别。
这种根据燃料存在的条件或根据需要而规定的“成分组合”称为基准。
如果所用的基准不同,同一种煤的同一成分的百分含量结果便不一样。
2、由于燃料中水分和灰分的含量易受外界条件的影响而发生变化,水分或灰分的含量变化了,其他元素成分的含量也会随之而变化。
例如,水分含量增加时,其他成分的百分含量便相对地减小;反之,水分含量减少时,其他成分的百分含量便相对地增加。
所以不能仅用各成分的质量百分数来表示燃料的成分组成特性。
有时为了使用或研究工作的需要,在计算燃料的各成分百分含量时,可将某种成分(例如水分或灰分)不计算在内。
这样按不同的“成分组合”计算出来的各成分百分数就会有较大的差别。
这种根据燃料存在的条件或根据需要而规定的“成分组合”称为基准。
如果所用的基准不同,同一种煤的同一成分的百分含量结果便不一样。
3、链条炉中,习惯上将从炉排下送入的空气称为一次风,二次风是指从火床上方送入炉膛的一股强烈气流。
二次风的主要作用是扰乱炉内气流,使之自相混合,从而使气体不完全燃烧损失和炉膛内的过量空气系数都得以降低。
与炉拱相比,二次风的优点是布置灵活,调节方便,而且炉膛结构也不会因之复杂化。
但二次风要消耗一定能量。
一般情况下,二次风配合炉拱使用,以取得最佳效果。
除搅乱和混合烟气外,二次风若布置恰当,它还能起多种其它的良好作用,二次风的工质可以是空气,也可以是蒸汽,甚至是烟气。
材料分析题库含答案.
材料分析试题库选择题:一、1. M层电子回迁到K层后,多余的能量放出的特征X射线称( B )A.Kα;B. Kβ;C. Kγ;D. Lα。
2. 当X射线发生装置是Cu靶,滤波片应选( C )A.Cu;B. Fe;C. Ni;D. Mo。
3. 当电子把所有能量都转换为X射线时,该X射线波长称( A )A.短波限λ0;B. 激发限λk;C. 吸收限;D. 特征X射线4.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后,L层电子回迁K层,多余能量将另一个L层电子打出核外,这整个过程将产生(D )A.光电子;B. 二次荧光;C. 俄歇电子;D. (A+C)二、1.最常用的X射线衍射方法是( B )。
A. 劳厄法;B. 粉末法;C. 周转晶体法;D. 德拜法。
2.射线衍射方法中,试样为单晶体的是(D )A、劳埃法B、周转晶体法C、平面底片照相法D、 A和B3.晶体属于立方晶系,一晶面截x轴于a/2、y轴于b/3、z轴于c/4,则该晶面的指标为( B)A、(364)B、(234)C、(213)D、(468)4.立方晶系中,指数相同的晶面和晶向(B )A、相互平行B、相互垂直C、成一定角度范围D、无必然联系5.晶面指数(111)与晶向指数(111)的关系是( C )。
A. 垂直;B. 平行;C. 不一定。
6.在正方晶系中,晶面指数{100}包括几个晶面( B )。
A. 6;B. 4;C. 2D. 1;。
7.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是( B )A.X射线透射学;B.X射线衍射学;C.X射线光谱学;D.其它三、1、对于简单点阵结构的晶体,系统消光的条件是( A )A、不存在系统消光B、h+k为奇数C、h+k+l为奇数D、h、k、l为异性数2、立方晶系{100}晶面的多重性因子为( D )A、2B、3C、4D、63、洛伦兹因子中,第一几何因子反映的是( A )A、晶粒大小对衍射强度的影响B、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响C、衍射线位置对衍射强度的影响D、试样形状对衍射强度的影响4、洛伦兹因子中,第二几何因子反映的是( B )A、晶粒大小对衍射强度的影响B、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响C、衍射线位置对衍射强度的影响D、试样形状对衍射强度的影响5、洛伦兹因子中,第三几何因子反映的是( C )A、晶粒大小对衍射强度的影响B、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响C、衍射线位置对衍射强度的影响D、试样形状对衍射强度的影响6、对于底心斜方晶体,产生系统消光的晶面有( C )A、112B、113C、101D、1117、对于面心立方晶体,产生系统消光的晶面有( C )A、200B、220C、112D、1118、热振动对x-ray衍射的影响中不正确的是(E )A、温度升高引起晶胞膨胀B、使衍射线强度减小C、产生热漫散射D、改变布拉格角E、热振动在高衍射角所降低的衍射强度较低角下小9、将等同晶面个数对衍射强度的影响因子称为( C )A、结构因子B、角因子C、多重性因子D、吸收因子四、1、衍射仪的测角仪在工作时,如试样表面转到与入射线成30度角时,计数管与入射线成多少度角?(B)A. 30度;B. 60度;C. 90度。
同济大学材料研究方法07真题及答案解析
同济大学材料学院材料学专业——2007年真题及解析科目一:代码:821 科目名称:材料研究方法北京万学教育科技有限公司考试年份:2007招生专业:材料学研究方向:01高性能水泥基材料02智能材料03新型建筑材料04生态环境材料05无机功能材料06高分子功能材料07高分子材料改性08生物医用材料09金属功能材料10纳米材料11材料体系分析与建模方法一、真题1.电子束轰击到固体样品表面会产生哪些主要物理信号?研究材料的表面形貌一般收集哪种物理信号?并说明其衬度原理研究材料表面元素分原布状况应收集哪些信息,并收明其衬度理。
2.简述DSC的种类和定量热分析原理,举例说明其在材料研究领域的应用。
3.请详述电子衍射和X射线衍射的异同点。
4.请说述电子探针中波谱的原理和应用,并简述波谱与能谱在应用方面的异同。
5.写出布拉格方程,分析物质产生X衍射的充要条件,简述X射线粉末衍射物相鉴定过程。
请说明样品制备对物相鉴定的影响。
6.简述特征X射线的产生,性质和应用。
7.简述红外光谱用于分子结构分析的基础,说明其应用。
8.采用何种手段可以研究高分子材料的结晶。
9.聚合物的填充改性及共混是高分子材料改的常用手段,如何研究无机填充材料在高聚物基体中的分布情况?如何研究共混物中各相的形态?第 1 页共10 页10.核磁共振谱中不同质子产生不同化学位移的根本原因是什么?化学位移的主要影响因素有哪些?核磁共振谱中的信号强度可以提供何种信息?11.请详细描述金相试样的制备过程,并画出碳马氏体和高碳马氏体的组织示意图,解释其区别。
12.举例说明透射电镜在金属材料研究方面的应用,说明其原理。
13.制备金属材料透射电子显微镜试样时一般采用双喷法制样,请详述其原理。
14.请详述多晶,非晶,纳米晶体材料在透射电子显微镜选区稍微图像中的区别。
15.拟定方案,解决玻璃体内夹杂物的鉴定。
16.采用合适的现代技术表征法分析硅酸盐水泥水化进程,请简要评述你给出的方法。
现代材料分析测试方法:期末考试卷和答案
现代材料分析测试方法:期末考试卷和答案第一部分:选择题1. 以下哪项不是常用的材料分析测试方法?- A. 扫描电子显微镜(SEM)- B. 红外光谱(IR)- C. 傅里叶变换红外光谱(FTIR)- D. 核磁共振(NMR)答案:D2. 扫描电子显微镜(SEM)主要用于:- A. 表面形貌观察- B. 元素成分分析- C. 分子结构分析- D. 力学性能测试答案:A3. X射线衍射(XRD)常用于:- A. 表面形貌观察- B. 元素成分分析- C. 分子结构分析- D. 晶体结构分析答案:D4. 热重分析(TGA)主要用于:- A. 表面形貌观察- B. 元素成分分析- C. 分子结构分析- D. 热稳定性分析答案:D5. 扫描电子显微镜(SEM)和透射电子显微镜(TEM)的区别在于:- A. SEM可以观察表面形貌,TEM可以观察内部结构- B. SEM可以观察内部结构,TEM可以观察表面形貌- C. SEM只能观察金属材料,TEM只能观察非金属材料- D. SEM只能观察非金属材料,TEM只能观察金属材料答案:A第二部分:简答题1. 简述红外光谱(IR)的原理和应用领域。
红外光谱是一种基于物质吸收、散射和透射红外光的测试方法。
它利用物质分子的特定振动模式与入射红外光发生相互作用,从而获得物质的结构信息和化学成分。
红外光谱广泛应用于有机物的鉴定、无机物的分析、聚合物材料的检测以及药物和食品的质量控制等领域。
2. 简述傅里叶变换红外光谱(FTIR)的原理和优势。
傅里叶变换红外光谱是一种红外光谱的分析技术,它通过对红外光信号进行傅里叶变换,将时域信号转换为频域信号,从而获得高分辨率和高灵敏度的红外光谱图谱。
相比传统的红外光谱,FTIR 具有快速测量速度、高信噪比、宽波数范围和高分辨率等优势。
它广泛应用于材料分析、有机合成、生物医学和环境监测等领域。
3. 简述热重分析(TGA)的原理和应用领域。
热重分析是一种测量物质在升温过程中质量变化的测试方法。
材料分析方法期末考试试题
材料分析方法期末考试试题# 材料分析方法期末考试试题## 一、选择题(每题2分,共20分)1. 材料分析中,X射线衍射(XRD)技术主要用于分析材料的哪种特性?A. 化学成分B. 晶体结构C. 表面形貌D. 机械性能2. 扫描电子显微镜(SEM)的主要优点是什么?A. 高分辨率B. 快速分析C. 无需样品制备D. 无损检测3. 透射电子显微镜(TEM)与SEM的主要区别在于:A. 分辨率B. 样品制备C. 操作成本D. 样品厚度4. 原子力显微镜(AFM)能够提供以下哪种信息?A. 材料的化学组成B. 材料的表面形貌C. 材料的内部结构D. 材料的热稳定性5. 热重分析(TGA)通常用于测量材料的:A. 热导率B. 热膨胀系数C. 热稳定性D. 热容## 二、简答题(每题10分,共30分)1. 简述红外光谱(IR)分析在材料科学中的应用及其优势。
2. 描述差示扫描量热法(DSC)的工作原理,并举例说明其在材料分析中的一个应用。
3. 说明X射线光电子能谱(XPS)分析在表面分析中的重要性。
## 三、计算题(每题25分,共50分)1. 假设你正在使用XRD分析一种未知材料的晶体结构。
给出了以下衍射峰的位置(2θ):20°、30°、40°、50°、60°。
请根据布拉格定律计算对应的晶面间距(d-spacing)。
2. 假设你通过TGA测试得到了一个材料的热重曲线,该曲线显示在300°C时材料的质量减少了10%。
如果已知该材料的初始质量为100g,请计算在300°C时材料的质量损失量,并解释可能的化学或物理变化。
## 四、论述题(共30分)1. 论述材料表征技术在新材料开发中的作用,并举例说明至少两种材料表征技术如何帮助科学家理解材料的微观结构和宏观性能。
2. 材料分析方法在环境科学中的应用越来越广泛。
请讨论材料分析技术如何帮助监测和评估环境污染,并提出至少两种具体的应用案例。
同济大学材料研究方法07真题及答案解析
同济大学材料学院材料学专业——2007年真题及解析科目一: 代码:821 科目名称:材料研究方法北京万学教育科技有限公司----考试年份:2007 招生专业:材料学 研究方向:01高性能水泥基材料 02智能材料03新型建筑材料 ﻫ04生态环境材料 ﻫ05无机功能材料 ﻫ06高分子功能材料ﻫ07高分子材料改性 08生物医用材料 ﻫ09金属功能材料 10纳米材料 ﻫ11材料体系分析与建模方法一、真题1.电子束轰击到固体样品表面会产生哪些主要物理信号?研究材料的表面形貌一般收集哪种物理信号?并说明其衬度原理研究材料表面元素分原布状况应收集哪些信息,并收明其衬度理。
2.简述DSC 的种类和定量热分析原理,举例说明其在材料研究领域的应用。
3.请详述电子衍射和X 射线衍射的异同点。
4.请说述电子探针中波谱的原理和应用,并简述波谱与能谱在应用方面的异同。
5.写出布拉格方程,分析物质产生X 衍射的充要条件,简述X射线粉末衍射物相鉴定过程。
请说明样品制备对物相鉴定的影响。
6.简述特征X 射线的产生,性质和应用。
7.简述红外光谱用于分子结构分析的基础,说明其应用。
8.采用何种手段可以研究高分子材料的结晶。
9.聚合物的填充改性及共混是高分子材料改的常用手段,如何研究无机填充材料在高聚物基体中的分布情况?如何研究共混物中各相的形态? 10.核磁共振谱中不同质子产生不同化学位移的根本原因是什么?化学位移的主要影响因素有哪些?核磁共振谱中的信号强度可以提供何种信息? 11.请详细描述金相试样的制备过程,并画出碳马氏体和高碳马氏体的组织示意图,解释其区别。
12.举例说明透射电镜在金属材料研究方面的应用,说明其原理。
13.制备金属材料透射电子显微镜试样时一般采用双喷法制样,请详述其原理。
14.请详述多晶,非晶,纳米晶体材料在透射电子显微镜选区稍微图像中的区别。
15.拟定方案,解决玻璃体内夹杂物的鉴定。
16.采用合适的现代技术表征法分析硅酸盐水泥水化进程,请简要评述你给出的方法。
最新材料检测分析方法期末考题及答案
最新材料检测分析方法期末考题及答案一、选择题(每题2分,共20分)1.下列哪一项不是材料检测的目的?A.确定材料的化学成分B.测定材料的尺寸C.评估材料的使用寿命D.检测材料的生产日期2.以下哪一种方法不适用于金属材料的检测?A.金相分析B.超声波检测C.发射光谱分析D.阿基米德排水法3.下列哪种技术不用于非破坏性检测?A.X射线检测B.超声波检测C.磁粉检测D.打磨4.以下哪一种不是材料的力学性能指标?A.抗拉强度B.硬度C.韧性D.电阻率5.以下哪种不是材料的物理性能指标?A.熔点B.导热性C.磁性D.颜色二、填空题(每题2分,共20分)1.材料检测的主要目的是对材料的________、________、________等性能进行全面评估。
2.金相分析是利用________对材料的微观结构进行观察和分析的方法。
3.________检测是通过检测材料内部的缺陷来评估材料的完整性的方法。
4.材料的________是指材料在受到外力作用时能够承受的最大应力。
5.材料的________是指材料在外力作用下发生变形而不断裂的能力。
三、简答题(每题10分,共30分)1.请简述材料检测的意义和目的。
2.请简述超声波检测的原理和应用。
3.请简述材料硬度测试的方法及其在材料检测中的应用。
四、案例分析(共30分)某制造企业在生产过程中,发现一批次的产品在使用过程中出现了断裂现象,需要对这批产品进行材料检测。
请根据此情况,选择合适的检测方法,并给出检测流程和可能的原因分析。
五、实验设计(共20分)某科研团队正在研究一种新型高强度合金材料,需要对其进行力学性能测试。
请设计一份实验方案,包括测试方法、设备选择、数据处理等。
注意:以上考题仅作为参考,实际考试题目可能会有所不同。
答案请根据相关知识和实际情况进行填写。
材料分析测试技术试卷
材料分析测试技术试卷一、选择题(每题2分,共20分)1、下列哪种技术可用于材料组成的定性分析?A. X射线衍射B. 原子吸收光谱C. 原子荧光光谱D. 电子显微镜2、下列哪种技术可用于材料中微量元素的分析?A. X射线衍射B. 原子吸收光谱C. 原子荧光光谱D. 电子显微镜3、下列哪种材料分析技术可用于表面形貌的观察和分析?A. X射线衍射B. 原子吸收光谱C. 原子荧光光谱D. 扫描电子显微镜4、下列哪种技术可用于材料中元素的定量分析?A. X射线衍射B. 原子吸收光谱C. 原子荧光光谱D. 扫描电子显微镜5、下列哪种技术可用于材料的物理性能分析?A. X射线衍射B. 热重分析C. 能谱分析D. 原子力显微镜6、下列哪种技术可用于材料的化学性质分析?A. X射线衍射B. 能谱分析C. 电化学分析D. 扫描电镜7、下列哪种技术可用于材料的热分析?A. X射线衍射B. 热重分析C. 能谱分析D. 原子力显微镜8、下列哪种技术可用于材料的机械性能分析?A. X射线衍射B. 拉压试验C. 能谱分析D. 原子力显微镜9、下列哪种材料分析技术可用于表面化学成分的定性和定量分析?A. X射线衍射B. 红外光谱C. 能谱分析D. 原子力显微镜10、下列哪种材料分析技术常用于材料中杂质元素的检测?A. X射线衍射B. 光谱分析C. 能谱分析D. 热重分析二、填空题(每空2分,共20分)1、常用的形态结构分析技术有___________、___________和___________。
2、常用的材料成分分析技术有___________、___________和___________。
3、常用的表面形貌分析技术有___________和___________。
4、常用的元素定量分析技术有___________、___________和___________。
5、常用的热分析技术有___________和___________。
材料分析方法试题及答案
材料分析方法试题及答案材料分析是一门重要的学科,在各个领域都有着广泛的应用。
本文将提供一些材料分析方法的试题以及对应的答案,以便读者更好地理解和掌握这一领域的知识。
试题一:1. 请简要说明材料分析的定义和意义。
2. 举例说明材料分析在实际应用中的重要性。
3. 简要介绍几种常见的材料分析方法。
答案一:1. 材料分析是通过使用科学的方法和工具对材料的组成、结构、性质进行研究和分析的过程。
它的意义在于帮助人们更好地理解材料的特性和性能,并为材料的设计和应用提供科学依据。
2. 材料分析在实际应用中起到了至关重要的作用。
例如,材料分析可以帮助科学家研究材料的特性,以及在制造过程中如何控制这些特性,从而改善产品的质量和性能。
此外,材料分析还可以用于检测产品中的有害物质,对环境和人体健康进行保护。
3. 常见的材料分析方法包括以下几种:a. 谱学分析方法:如红外光谱分析、质谱分析等,通过测量物质的光谱特性来确定其组成和结构。
b. 表面分析方法:如扫描电子显微镜(SEM)和原子力显微镜(AFM),用于观察和分析材料表面的形貌和结构。
c. X射线衍射分析:利用X射线的衍射现象,研究材料的晶体结构和晶格参数。
d. 热分析方法:包括差示扫描量热法(DSC)、热重分析(TGA)等,用于研究材料的热性能和热稳定性。
e. 电化学分析方法:如电化学阻抗谱(EIS)、电化学循环伏安法(CV)等,用于研究材料在电化学反应中的行为和性能。
试题二:1. 请简要介绍红外光谱分析的原理和应用。
2. 简要解释红外光谱图中的峰的意义。
3. 通过红外光谱分析,可以得到哪些信息?答案二:1. 红外光谱分析是一种利用物质对红外辐射吸收的特性来研究物质组成和结构的方法。
原理是当红外光通过物质时,物质中的化学键根据其振动模式吸收红外光的不同频率,从而产生特定的红外光谱图。
红外光谱分析广泛应用于有机物和无机物的研究领域。
2. 在红外光谱图中,峰的位置和强度反映了物质分子中不同的化学键和官能团。
现代材料分析测试题答案
现代材料分析测试题答案一、选择题1. 材料的力学性能主要包括哪些方面?A. 硬度和韧性B. 强度和塑性C. 韧性和导电性D. 硬度和导热性答案:B2. 扫描电子显微镜(SEM)的主要优点是什么?A. 可以观察活细胞B. 可以获得元素的化学成分信息C. 可以进行大范围的形貌观察D. 分辨率高于透射电子显微镜答案:B3. 差示扫描量热法(DSC)主要用于测量材料的哪些特性?A. 热导率和比热容B. 相变温度和焓变C. 热膨胀系数和热稳定性D. 热分解温度和质量损失答案:B4. X射线衍射(XRD)技术主要用于分析材料的哪些方面?A. 晶体结构和晶格常数B. 表面形貌和元素分布C. 化学成分和热性能D. 力学性能和电学性能答案:A5. 拉曼光谱是一种非破坏性的分析手段,它主要用于分析材料的哪些特性?A. 晶体缺陷和杂质含量B. 分子结构和化学键振动C. 热稳定性和耐腐蚀性D. 电导率和磁性质答案:B二、填空题1. 材料的硬度是指材料抵抗__________的能力,而韧性是指材料在受到冲击或载荷作用时抵抗__________的能力。
答案:硬度;断裂2. 原子力显微镜(AFM)能够达到的横向分辨率可以达到__________,这使得它能够观察到单个原子或分子的结构。
答案:纳米级3. 动态机械分析(DMA)是一种用于测量材料在动态载荷下的__________和__________的分析技术。
答案:模量;阻尼4. 红外光谱(FTIR)可以用于分析材料中的__________和__________,从而获得材料的化学组成和结构信息。
答案:官能团;化学键5. 紫外-可见光谱(UV-Vis)主要用于分析材料的__________和__________,这对于研究材料的光学性质非常重要。
答案:吸收光谱;反射光谱三、简答题1. 简述材料的疲劳性能及其对工程应用的重要性。
答:材料的疲劳性能是指材料在循环载荷作用下抵抗裂纹形成和扩展的能力。
2007北京理工大学本科生材料物理试题(A)-答案
2004级材料物理终考试A 卷参考答案与评分标准一、填空(15分)(每个空1分)1. 高分子化学是研究高分子────和────,以及高分子的化学反应、────与防老化;高分子物理是研究高分子────之间的关系。
答案:合成途径和基本理论;改性;结构-分子运动-性能2. 近程结构(一次结构):高分子链所组成单元的────与────。
答案:化学结构与立体化学结构3. 远程结构(二次结构):单个分子链的────与────。
答案:大小与形态4. 线型高分子在稀溶液中通常是────构象,在晶区中常为────或────构象。
答案:无规线团;锯齿型或伸直5. 聚合物从稀溶液中缓慢结晶可生成────晶体;从熔体快速冷却结晶易生成────晶体。
答案:单晶;球晶6. 晶态与非晶态聚合物的拉伸行为的主要区别是────。
答案:a. 冷拉温度不同。
非晶 Tb~Tg ;晶态 Tg~Tm 。
b. 结晶聚合物更为复杂,包含有结晶的破坏、取向、再结晶等。
而非晶只发生分子链的取向,无相变。
7. 高分子与小分子的分子运动主要区别是────。
答案:运动单元的多重性;时间依赖性—松弛过程;分子运动与温度的关系二、(共15分,每个小题5分,排列顺序3分,答对理由2分)1.PA-66、PA-610、PA-101066)()(4262----尼龙CO CH CO NH CH NH610)()(8262----尼龙CO CH CO NH CH NH1010)()(82102----尼龙CO CH CO NH CH NHPA-1010< PA-610< PA-66分子柔顺性与CH 2链长度有关,越大,形成氢键密度越小,熔点越低。
2. 聚ω-氨基己酸、聚ω-氨基庚酸、聚ω-氨基辛酸NH CH 2CH 2C O n聚ω-氨基己酸4 NH CH 2CH 2CO n 聚ω-氨基庚酸5 NH CH 26CH 2C On聚ω-氨基辛酸聚ω-氨基辛酸<聚ω-氨基己酸<聚ω-氨基庚酸聚脂类聚合物的熔点随重复单元长度的变化而呈锯齿形变化,造成这种现象的原因与形成分子间键有关。
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贵州大学2009-2010学年第二学期考试试卷 A
材料分析方法
一、名词解释(共12分,每小题3分)
相干散射、激发限、系统消光、结构因子、球差、景深、焦长、衍射衬度、暗场像、二次电子、化学位移
1. 荧光辐射
2. 倒易矢量
3. 结构因子
4. 明场像
二、填空题(共27分,每空1分)
1.用于衍射分析的X射线的波长范围为。
2.波长和频率是描述X射线性的物理参量,能量和动量则是描述X射线性的物理参量。
3. Kα特征谱线是原子中壳层的电子跃迁到K壳层产生的,它的强度约是Kβ的
倍。
4. 已知X射线管是钴靶,应选择的滤波片材料是。
5. 当波长为λ的X射线照射到晶体上发生衍射,相邻两个(hkl)晶面的波程差是,
相邻两个(HKL)晶面的波程差是。
6. 面心立方结构晶体产生消光的晶面指数条件为。
7. X射线衍射仪测样时,测角仪的计数管支架转速与样品转速之比为。
8. 粉末法的厄瓦尔德图解法解释中,衍射圆锥的顶点代表试样所在位置,轴代表
,母线代表。
9.多晶体X 射线衍射分析方法主要是 和 两种。
10.电磁透镜的像差中,可以控制或消除的是 和 。
11. 透射电镜的成像衬度中,由样品不同部位的厚度和密度差别而形成的衬度称为 ,由样品不同部位衍射效应不同而形成的衬度称为 。
12. 薄膜样品制备过程中的最终减薄方法有 和 。
13. 若扫描电镜的荧光屏尺寸A C =100mm ,电子束在样品上的扫描振幅A S =0.01mm ,则扫
描电镜此时的放大倍数为 倍。
14. 扫描电镜的两种常用成像信号中,既反映表面形貌衬度又反映原子序数衬度的是 。
15. 波谱仪是 ,
能谱仪是 。
16. X 射线光电子能谱分析中,导电固体样品产生光电效应时的光电方程表达式为。
17. 扫描隧道显微镜的成像信号为 ,而原子力显微镜是通过检测针尖—样品间的 来成像的。
三、问答题(共35分)
1. (8分)(1)推导布拉格方程;(2)为什么说衍射方向反映了晶胞的形状和大小。
2. (9分)X 射线衍射线的强度公式为M c e A P F V V c m e R I I 2222242430)(cos sin 2cos 132-+=θθ
θθπλ, (1)说明五个影响因子的名称及含义。
(2)对立方系晶体,P 200为多少?若为正方系晶体,P 200为多少?并写出所包含的晶面指数。
3. (6分)为什么透射电镜既可做电子衍射又可观察电子衍衬像?
4. (5分)对于理想晶体,其薄膜样品的楔形边缘处的衍衬像有何特征?并用运动学理论公式加以解释。
5. (7分) (1)下图的断口形貌照片包含了哪些微观断口形貌?(2)简述二次电子像的成像原理。
四、应用题(共26分)
1. (14分)残余奥氏体的电子衍射花样如图,已知mm R R 1021==,mm R 3.163=,R 1和R 2之间的夹角为70º,L λ=
2.05mm •nm ,
(1) 标定斑点指数;
(2) 计算晶带轴指数[uvw];
(3) 验证该物相。
已知γ-Fe 的点阵常数为nm a 3585.0=。
2. (共12分,每小题2分)下列分析内容优先选用何种仪器进行分析?何种分析方法?并简单说明对试样的要求。
(1) 表面渗层、镀层的物相鉴定;
(2) 淬火钢中孪晶马氏体与位错马氏体的形貌观察;
(3) 碳钢脱碳层碳浓度分布;
(4) 金属表面约2nm 深的污染物成分分析;
(5) 金属断口形貌及其断口上粒状夹杂物的化学成分;
(6) 超细粉末形状、大小及结构测定。