光伏组件潜在诱导衰减效应的研究
光伏组件功率衰减分析研究
1.3组件初始光致衰减的验证
为了确保组件的工作效率,在组件的生产过程道中会对一些产品进行抽样检测。也就是随机将产品抽出然后在阳光下进行较长时间的照射,当产品的的工作效率稳定后停止照射。然后将样品取回检测它的工作效率的下降程度。通过上面实验的分析组件的工作效率下降主要是因为电池的原因。而电池的光致减弱是由它内部的某些元素含量决定的。如果我们想要解决这个问题就要确保电池当某些无知的含量。这样才能从根本上解决问题,彻底的解决这个组件的难题。
1.2组件初始光致衰减的实验分析
光伏组件的组成部分是影响初始光致衰弱的重要的关注点之一。而我们为了进一步更好的验证光电组件衰减在使用的初期导致初始光致衰减的主要原因,我们进行了大量的实验,在经过大量的实验研究最后得出:光电组件在刚刚一开始投入工作后产生的衰减主要是因为电池的初始光致衰减而造成的。如果电池的初始光致数据在不断的减少下降,那么数据的衰减就会最终导致组件的工作效率严重降低,这也是光伏组件初始光致衰减的重要原因,而对其的实验证明将会在下文进行详细的论述。
光伏组件电势诱导衰减
光伏组件电势诱导衰减光伏组件的电势诱导衰减,也称为PID效应,是一种常见的衰减现象。
它发生在常规带边框晶体硅光伏组件的工作过程中,是由于组件边框和电池之间的电势差引起的。
在湿热状态下,光伏组件的封装EVA会老化,主要通过氧化和水解途径。
水蒸气通过组件封边硅胶或背板进入组件内部,使EVA老化水解后产生醋酸。
醋酸与玻璃(钠钙玻璃)中的NaCO3等反应,析出Na+、Ca+2离子。
由于组件边框需要接地,光伏电池与组件边框之间会产生电势差。
组件中电池串正极部分对边框(大地)偏压为正,负极部分对边框偏压则为负,靠近两端的地方,组件电池对边框的偏压较大。
在这种电场作用下,封装材料中析出的Na+、Ca+2离子向着电池片表面漂移,穿过EVA并在电池片表面积累。
积累在电池片表面的阳离子会吸引电子并加速电子空穴的复合,使并联电阻减小,内部漏电流增大,降低组件的开路电压Voc、填充因子FF,从而降低电池的输出功率。
PID衰减的产生部位大多先从组件内靠近边框的外侧电池片开始。
组件中产生PID衰减一般都是整片电池EL发黑,大多都以整个电池片为单位,都具有明显的衰减界限。
PID衰减在带边框(钠钙玻璃、EVA膜)常规晶体硅组件中普遍存在,直流端系统电压越高、湿度越大、温度越高的环境PID衰减越严重。
可以通过以下方法降低P型晶硅组件的PID效应:1.选择适当的安装位置和角度:尽量避免在潮湿、高温、暴晒等恶劣环境下安装光伏组件。
可以选择朝北或朝南安装,并保持一定的倾斜角度,以减少直接阳光照射和热量的积累。
2.保持清洁:定期清洗光伏组件表面,去除灰尘、污垢和其他污染物。
使用柔软的湿布或海绵轻轻擦拭,注意不要使用含有化学物质的清洁剂。
3.检查和维护:定期检查光伏组件的外观和性能,如发现有破损、污垢或老化等现象及时修复或更换。
同时也要保持与逆变器、电缆等设备的良好连接和绝缘。
4.避免接触:避免人体直接接触光伏组件表面,因为人体皮肤的油脂和污垢会影响光线的透过率,从而影响发电效率。
潜在电势诱导衰减
PID形成
环境条件如温度,使电池片和接地边 框之间形成漏电流。封装材料、背板、玻 璃和边框之间形成了漏电流通道。
发射极的方块电阻对PID的影响
采用最佳减反 射层的层积方法和 沉积参数能减少或 消除电池片的PID 现象.
减反射层的沉积方法、厚度和折射率对PID的影响
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施加正负偏压时薄膜器件在活 性区内的离子迁移也很活跃
如果通过电池片的电压为负压,边框正偏压,则阳极离子流入电池片,造成p-n结衰减。 如果通过电池片的电压为正压,边框负偏压,则阳极离子流出电池片,聚集在p-n结附近。
3. 电离腐蚀和大量金属离子的迁移现象:通常由于封装 过程中出现的湿气会造成电解腐蚀和金属导电离子的迁移。
系统方面:组成阵列的组件其边框通常都是接地的,造 成在单个组件和边框之间形成偏压。
影响偏压的因素:逆变器的类型和接地方式。 组件在阵列中的位置。
PV逆变器、阵列的负极输出端接地会有效预防PID现象。 有变压器的逆变器负极接地或者采用内在负极接地的较少变压器的逆 变器可以消除PID现象。
三种接地模式下的阵列中不同位置的组 件存在的潜在偏压
钠离子迁移到玻璃/TCO界面,导 致TCO分层和电化学腐蚀
光伏阵列的正向偏压会导致带正电的载流子穿过玻璃, 通过接地边框流向地面,使得在电池片表面剩下带负电的载 流子,从而导致前表面n+/n层的n+区域出现衰减现象。
少数n+载流子(空穴)在前表面复合导致了电池性能衰减。
2. 半导体结的性能衰减和分流现象:离子迁移会发生在 活性层内,使半导体结的性能衰减并造成分流。
光伏组件的pid效应
光伏组件的pid效应摘要:1.光伏组件与PID效应简介2.PID效应的成因与影响3.检测与应对PID效应的方法4.预防和解决PID效应的策略正文:光伏组件是太阳能发电系统的重要组成部分,其性能直接影响着整个系统的发电效率。
而在光伏组件的使用过程中,一种被称为PID(电势诱导衰减)效应的现象会对其性能产生影响。
本文将详细介绍光伏组件的PID效应,分析其成因、影响,并提供检测和应对的方法。
光伏组件的PID效应,是指在长期高电压工作环境下,组件中的盖板玻璃、封装材料、边框之间可能存在的漏电流。
这种漏电流会导致大量电荷在电池片表面聚集,进而恶化电池片表面的钝化效果。
这种情况会进而影响到组件的填充因子、短路电流、开路电压等性能参数,从而导致组件性能低于设计标准。
PID效应的成因主要在于组件长期在高电压环境下工作,使得玻璃、封装材料之间存在漏电流。
这种漏电流在组件中累积,导致电荷在电池片表面聚集,进而引发钝化效果的恶化。
这种现象可能会导致组件性能的严重退化,甚至会使组件功率衰减超过50%,而从组件外观上却看不出任何缺陷。
为了检测和应对PID效应,首先需要对其进行准确的检测。
目前,业界已经有一些成熟的检测方法,如通过负偏压测试法、电学测试法等。
一旦发现组件存在PID效应,应采取相应的应对措施。
预防和解决PID效应的策略主要包括以下几点:1.优化组件设计:通过改进组件结构,减少高电压环境下漏电流的产生,从而降低PID效应的风险。
2.选用优质材料:采用高品质的盖板玻璃、封装材料等,以降低漏电流产生的可能性。
3.加强组件质量检测:在组件生产过程中,加强对各项性能指标的检测,确保组件质量达到标准。
4.定期检查与维护:对已投入使用的组件进行定期检查,发现问题及时处理,以避免PID效应的发展。
总之,光伏组件的PID效应对其性能具有显著影响。
通过了解其成因、检测方法和应对策略,可以有效降低PID效应的风险,提高光伏组件的发电效率。
光伏组件衰减及系统效率下降原因分析
光伏组件衰减及系统效率下降原因分析光伏组件虽然使用寿命可达25-30年,但随着使用年限增长,组件功率会衰减,会影响发电量。
另外,系统效率对发电量的影响更为重要。
一、组件的衰减光致衰减也称S-W效应。
a-Si∶H薄膜经较长时间的强光照射或电流通过,在其内部将产生缺陷而使薄膜的性能下降,称为StaEbler-Wronski效应(D.L.Staebler和C.R.Wronski最早发现。
个人认为光伏组件的衰减实际就是硅片性能的衰减,首先硅片在长期有氧坏境中会发生缓慢化学反应被氧化,从而降低性能,这是组件长期衰减的主要原因;在真空成型过程中会以一定比例掺杂硼(空穴)和磷(给体),提高硅片的载流子迁移率,从而提高组件性能,但是硼作为缺电子原子会与氧原子(给体)发生复合反应,降低载流子迁移率,从而降低组件的性能,这是组件第一年衰减2%左右的主要原因。
组件的衰减分为:1、由于破坏性因素导致的组件功率骤然衰减,破坏性因素主要指组件在焊接过程中焊接不良、封装工艺存在缺胶现象,或者由于组件在搬运、安装过程中操作不当,甚至组件在使用过程中受到冰雹的猛烈撞击而导致组件内部隐裂、电池片严重破碎等现象;2、组件初始的光致衰减,即光伏组件的输出功率在刚开始使用的最初几天内发生较大幅度的下降,但随后趋于稳定,一般来说在2%以下;3、组件的老化衰减,即在长期使用中出现的极缓慢的功率下降现象,每年的衰减在0.8%,25年的衰减不超过20%;25年的效率质保已经在日本和德国两家光伏公司的组件上得到证实。
2012年以后国内光伏组件已经基本能够达到要求,生产光伏组件的设备及材料基本采用西德进口。
二、系统效率个人认为系统效率衰减可以不必考虑,系统效率的降低,我们可以通过设备的局部更新或者维护达到要求,就如火电站,水电站来说,不提衰减这一说法。
影响发电量的关键因素是系统效率,系统效率主要考虑的因素有:灰尘、雨水遮挡引起的效率降低、温度引起的效率降低、组件串联不匹配产生的效率降低、逆变器的功率损耗、直流交流部分线缆功率损耗、变压器功率损耗、跟踪系统的精度等等。
光伏组件问题系列总结——组件功率衰减原因分析
光伏组件问题系列总结——组件功率衰减原因分析一、绪论在光伏行业发展形势一片大好情况下,光伏行业也出现了一些问题,其中光伏组件功率衰减幅度较大问题,对电站运营商及组件厂商影响都比较大。
本文试图从多个方面分析组件功率衰减的原因,尽量在生产中避免,提高组件质量,以减少电站运营商的投诉,提高自身声誉。
二、原因分析目前市场上主流的晶体硅光伏组件是由钢化玻璃、EVA、晶体硅电池片、背板、铝边框、接线盒、硅胶等原辅材通过一定的封装工艺,加工制作而成。
组件功率衰减是指光伏组件随着光照时间的增长,组件输出功率逐渐下降的现象。
导致组件输出功率下降的原因有三大类:第一类为组件的光致衰减及老化衰减;第二类是组件质量问题造成的功率非正常衰减;第三类为外界环境因素导致的破坏性影响,引起组件功率衰减甚至组件损坏。
三、光致衰减及老化衰减所谓光致衰减是指阳光的照射导致电池片功率下降的现象。
光伏组件光致衰减可分为两个阶段:初始光致衰减和老化衰减。
3.1初始光致衰减初始的光致衰减,即光伏组件的输出功率在刚开始使用的最初几天内发生较大幅度的下降,但随后趋于稳定。
导致这一现象发生的主要原因是P型(掺硼)晶体硅片中的硼氧复合体降低了少子寿命。
通过改变P型掺杂剂,用稼代替硼能有效的减小光致衰减;或者对电池片进行预光照处理,是电池的初始光致衰减发生在组件制造之前,光伏组件的初始光致衰减就能控制在一个很小的范围之内,同时也提高组件的输出稳定性。
光致衰减更多的与电池片厂家有关,对于组件厂商的意义在于选择高质量的电池片来降低光致衰减带来的影响。
3.2老化衰减老化衰减是指在长期使用中出现的极缓慢的功率下降,产生的主要原因与电池缓慢衰减有关,也与封装材料的性能退化有关。
其中紫外光的照射时导致组件主材性能退化的主要原因。
紫外线的长期照射,使得EVA及背板(TPE结构)发生老化黄变现象,导致组件透光率下降,进而引起功率下降。
这就要求组件厂商在选择EVA及背板时,必须严格把关,所选材料在耐老化性能方面必须非常优秀,以减小因辅材老化而引起组件功率衰减。
光伏发电系统中电势诱导衰减效应的原因及预防
光伏组件电势诱导衰减修复原理
光伏组件电势诱导衰减修复原理
光伏组件是一种利用光能转换成电能的设备,是太阳能发电系统的核心部件之一。
在实际应用中,光伏组件的效率会受到一些因素的影响,其中电势诱导衰减是一个常见的问题。
电势诱导衰减是指光伏组件在工作过程中,由于各种原因导致其电势发生变化,从而影响到光伏组件的性能和发电效率。
针对这一问题,科研人员提出了一种电势诱导衰减修复原理。
电势诱导衰减的原因主要有两个方面,一是光伏组件的材料本身会受到外界环境的影响,比如氧化、腐蚀等导致其电势发生变化;二是光伏组件的工作状态不稳定,比如光照强度变化、温度变化等都会对电势产生影响。
为了解决这一问题,科研人员提出了一种电势诱导衰减修复原理。
电势诱导衰减修复原理主要是利用一些物理、化学方法来修复光伏组件的电势,使其恢复到正常工作状态。
首先是对光伏组件进行表面处理,采用一些特殊的材料或涂层来保护其表面,防止外界环境的侵蚀。
其次是采用一些化学方法,比如电化学方法,对光伏组件
进行修复,使其电势得到恢复。
另外,还可以采用一些物理方法,比如光热效应,利用光能来刺激光伏组件,使其电势得到修复。
通过这些方法的应用,可以有效地解决光伏组件电势诱导衰减的问题,提高光伏组件的工作效率和寿命。
这对于提升太阳能发电系统的整体性能和稳定性具有重要意义。
同时,这也为光伏组件在实际应用中的推广和普及提供了技术支持和保障。
总之,通过电势诱导衰减修复原理的应用,可以有效地提高光伏组件的性能和可靠性,推动太阳能发电技术的发展和应用。
这对于实现清洁能源的可持续利用,减少对传统能源的依赖具有重要意义。
光伏组件的pid效应
光伏组件的pid效应摘要:一、光伏组件PID 效应的概念及危害二、PID 效应的成因及影响因素三、PID 效应的检测与防治方法四、结论正文:一、光伏组件PID 效应的概念及危害光伏组件PID 效应,全称为电势诱导衰减(Potential Induced Degradation),是指在光伏组件上施加高强度负电压时,导致组件性能降低的现象。
PID 效应的主要危害是使电池片表面的钝化效果恶化,从而导致电池片的填充因子、开路电压、短路电流降低,电池组件功率衰减。
在严重的情况下,PID 效应可能导致组件功率衰减超过50%,但从组件的外观上却看不到任何缺陷。
二、PID 效应的成因及影响因素PID 效应的成因主要是由于玻璃、封装材料之间存在漏电流,大量的电荷聚集在电池片表面。
在高电压作用下,这些电荷使得电池片表面的钝化效果恶化,从而导致电池片性能下降。
影响PID 效应的因素主要有以下几点:1.组件的设计和制造工艺:如电池片、封装材料的质量和性能;2.组件的工作环境:如温度、湿度、光照等;3.组件的运行状态:如负偏压、高温等;4.组件的使用时间:长期运行的组件更容易出现PID 效应。
三、PID 效应的检测与防治方法1.PID 效应的检测方法:目前,光伏组件PID 效应的检测方法主要有以下几种:(1)实验室检测:如电化学阻抗谱(EIS)测试、光声成像技术等;(2)现场检测:如红外热像仪检测、I-V 曲线测量等。
2.PID 效应的防治方法:针对PID 效应,可以采取以下防治措施:(1)优化组件设计,选用高品质的电池片和封装材料;(2)改善组件制造工艺,提高组件的耐压性能;(3)加强组件的运行维护,定期检查和清洗组件,避免长时间负偏压工作;(4)采用适当的系统设计和运维策略,降低PID 效应对组件性能的影响。
四、结论光伏组件PID 效应是影响光伏发电系统性能和寿命的重要因素。
光伏电站pid(电势诱导衰减)效应解决方法研究
光伏电站pid(电势诱导衰减)效应解决方法研究近年来,随着太阳能光伏发电技术的快速发展,光伏电站的建设和运营成为了热门话题。
然而,在实际运行中,人们逐渐发现光伏电站存在一个普遍的问题,那就是PID效应,即电势诱导衰减效应。
PID效应的出现会大大降低光伏组件的发电效率,影响光伏电站的长期运行。
对于PID效应的解决方法研究成为了当前光伏领域中的一个热点问题。
让我们来深入了解一下PID效应是什么?PID,即电势诱导衰减(Potential Induced Degradation),是指光伏组件在特定条件下在负载电压作用下,表现出功率下降。
主要原因是在逆变器和接地之间形成了一个电位差,导致了电场的形成,从而引发了PID效应。
在实际应用中,PID效应会导致光伏组件的发电效率下降,严重影响光伏电站的发电量和经济效益。
针对PID效应,目前已经有了一些解决方法和研究成果,下面我们将从多个角度来讨论解决PID效应的方法。
1. 结构优化:对于光伏组件的结构进行优化是解决PID效应的一种重要途径。
采用双玻璃封装的光伏组件能够有效降低PID效应的发生,因为双玻璃封装可以阻止湿气和盐雾等物质的渗透,从而减少PID效应的发生。
通过改变电池片的结构设计,增加玻璃、背板和灌封胶的附着力,也可以有效降低PID效应的发生。
2. 地面电位均衡系统:在光伏电站设计中,地面电位均衡系统的应用可以有效减少PID效应的发生。
地面电位均衡系统可以消除组件电势之间的差异,改善组件间的电场分布,从而减少PID效应的影响。
通过在设计阶段合理设置地面电位均衡系统,可以降低PID效应并提高光伏组件的发电效率。
3. 逆变器优化:逆变器在光伏电站中扮演着重要角色,逆变器的参数设置和优化可以对PID效应产生影响。
通过合理设置逆变器的电压、频率和功率因数等参数,可以减小地面与极间的电压差,从而减少PID效应的发生。
逆变器的绝缘设计和材料选择也可以对PID效应产生影响,应选择耐高温、抗紫外线等特性的材料,以减少PID效应的发生。
光伏组件的pid效应及形成原因分析
在光伏发电系统中,由于潮湿、高温的环境容易产生水蒸气,若是水汽深切组件,那么封装材料(ENC)的导电率上升,相应组件的泄漏电流增大,会造成组件表面极化现象,即PID效应。
因此组件在高湿或高温环境的光伏系统尤其是渔光互补光伏系统、沿海光伏系统、赤道周围的光伏系统中因为PID效应致使的功率损失比较厉害。
PID效应及形成原因分析PID效应(Potential Induced Degradation)又称电势诱导衰减,是电池组件的封装材料和其上表面及下表面的材料,电池片与其接地金属边框之间的高电压作用下出现离子迁移,而造成组件性能衰减的现象。
PID的真正原因到目前为止没有明确的定论,但各个光伏电池组件厂和研究机构的数据表明,PID与电池、玻璃、胶膜、温度、湿度和电压有关。
目前可以明确的是PID现象和电池片表面的反射层有关,提高反射层的折射率可以有效地降低PID现象的发生。
含Si多的减反层比含N多的减反层更可以抵抗PID现象。
当减反层的折射率大于后,PID现象再也不被观察到。
而当折射率小于后,组件很难通过PID测试。
目前有很多的光伏电池厂在做针对电池和PID的关系的测试中也发现了类似的现象,所以改变折射率成为抗PID的手腕之一。
但改变电池减反层的折射率会改变电池生产本钱和电池的发电效率,在不提高本钱而且大体不改变效率的情况下做到抗PID对电池厂是一个超级大的难度。
利用于光伏组件的玻璃是含钠离子的玻璃。
有文献报导,在高温高湿情况下硅酸盐玻璃表面会有碱析出,主要成份是Na2O、MgO。
而当把玻璃改换成石英玻璃后,在一样的测试条件下,没有PID现象被发现。
在有Q-Cell参与的PID研究中,超级明确的发现玻璃和胶膜对PID现象的发生有明确的关系。
该实验特殊设计了六种超级规的组件,其中五种别离是将玻璃替换成石英玻璃或PVF薄膜、将EVA替换成其它封装材料、将玻璃-EVA-电池的紧密结合改成松散结合。
结果发现这五种组件在老化后都没有PID现象。
抗pid衰减组件
抗pid衰减组件
抗PID衰减组件是一种专门设计用于提高光伏系统稳定性和延长光伏组件使用寿命的重要组件。
PID,即电位诱导衰减(Potential Induced Degradation),是一种光伏组件在长期运行过程中可能遇到的问题。
由于光伏组件长期暴露在自然环境中,受到温度、湿度、紫外线等多种因素的影响,其内部的导电性能可能会发生变化,导致组件性能下降,甚至失效。
抗PID衰减组件的设计原理主要基于以下几个方面:
材料选择:抗PID衰减组件在材料选择上非常注重,通常使用具有优异抗PID性能的材料,如特殊的封装材料、导电胶等,以提高组件的耐候性和稳定性。
结构设计:通过优化组件的结构设计,如改善电极布局、增加导电通道等,降低组件内部电位差,从而减少PID现象的发生。
工艺控制:在生产过程中,严格控制各项工艺参数,确保组件在制造过程中不受损伤,从而减少PID衰减的风险。
监测与维护:抗PID衰减组件还需要配备相应的监测设备,实时监测组件的运行状态,一旦发现异常,及时采取措施进行维护,确保光伏系统的稳定运行。
总之,抗PID衰减组件在提高光伏系统稳定性和延长光伏组件使用寿命方面发挥着重要作用。
随着光伏技术的不断发展,抗PID衰减组件的性能也将不断得到提升,为光伏产业的可持续发展提供有力支持。
解决光伏电站组件的抗潜在电势诱导衰减效应的方法
压 来修 复 电离 的方 法 , 在 不 影 响 系统 发 电的 前 提 下, 达 到修 复组件 P I D 的 目的 。
3 抗P I D设 备 开 发
抗 P I D设 备具 有 如下 来自 点 : 一 是采 用 长 寿命
的光伏 阵列 进行 修 复 并 抑 制再 次 衰减 , 设 备工 作
组成 。前 级 采 用 由 市 电供 电 的 电 源 模 块 , 输出
2 4 V直 流 电 压 给 后 级 推 挽 正 激 电 路 和 接 触 器 线
加 一定 的恢 复 电压 , 在经 过 一 段 时 间后 出 现 P I D
现 象 的组 件 性 能 可 以 得 到恢 复I 3 ] 。根 据 这 个研 究 成果 , 对 已建成 的集 中式 光伏 电站 开 发 了 一种 P I D修 复 和 抑 制 设 备 。该 设 备 根 据 电 离 可 逆 原 理, 夜 间通过 在 组 串 电极 和 边框 之 间施 加 直 流 电
圈控 制供 电 , 后级采用 S O 3 5 2 5控 制 的推挽 正 激
电路 经全 桥整 流后 , 输出 6 0 0  ̄9 0 0 V 可调 电压施 加 于组件 的 电极和 边框 之间 。 2 )检测 控 制 电路 , 主要 实 现对 系统 的逻 辑 控
制, 为 系统 提 供 软件 保 护 和 通 信 显 示 等 功能 。其 中, 逻辑 控 制部 分关 系到 抗 P I D设 备 和 逆变 设 备
的精准 时钟 开关 , 设定 设备 夜 间工作 的 时段 ; 二 是
内置 1 0 0 0 V/ 5 0 0 A 的接触 器 , 最大 可为 2 0 0 k W
光伏组件功率衰减原因分析
光伏组件衰减原因分析光伏组件是太阳能发电的关键元件,光伏组件功率衰减是指随着光照时间的增加,组件输出功率不断呈下降趋势的现象。
组件功率衰减直接关系到组件的发电效率。
国内组件的功率衰减与国外最好的组件相比,仍存在一定差距,因此研究组件功率衰减非常有必要。
组件功率衰减包括组件初始光致衰减、组件材料老化衰减及外界环境或破坏性因素导致的组件功率衰减。
外界环境导致功率衰减主要由光伏电站运营不当造成,可通过加强光伏电站的维护进行改善或避免;破坏性因素导致的组件功率衰减是由于组件明显的质量问题所致,在组件生产和电站安装过程对质量进行严格检验把控,可减少此类功率衰减的现象。
本文主要研究组件初始光致衰减及材料老化衰减。
1、组件初始光致衰减分析1.1、组件初始光致衰减原理分析组件初始光致衰减(LID)是指光伏组件在刚开始使用的几天其输出功率发生大幅下降,之后趋于稳定的现象。
普遍认为的衰减机理为硼氧复合导致,即由p型(掺硼)晶体硅片制作而成的光伏组件经过光照,其硅片中的硼、氧产生复合体,从而降低了其少子寿命。
在光照或注入电流条件下,硅片中掺入的硼、氧越多,则生成复合体越多,少子寿命越低,组件功率衰减幅度就越大。
1.2、组件初始光致衰减的实验分析本研究采用对比实验的办法,在背板、EVA、玻璃和封装工艺等条件完全一致情况下,采用两组电池片(一组经初始光照,另一组未经初始光照),分别将其编号为I和II。
同时,生产出的所有组件经质量全检及电致发光(EL)检测,确保质量完全正常。
实验过程条件确保完全一致,采用同一台太阳能模拟仪测量光伏组件I-V曲线。
分别取I和II光伏组件各3组进行试验,记录其在STC状态下的功率输出值。
随后,将I和II光伏组件放置于辐照总量为60kWh/m2(根据IEC61215的室外暴晒试验要求)的同一地点进行暴晒试验,分别记录其功率,结果见表1。
由表1可知,I组光伏组件整体功率衰减明显较II组低。
因此,可推测光伏组件的初始光致衰减主要取决于电池的初始光致衰减。
组件功率衰减原因及优化措施
多晶硅光伏组件功率衰减的原因分析以及优化措施一、多晶硅光伏组件衰减现象的分类近年来,在新能源理念的大力倡导下,太阳能发电装置逐渐在全世界范围得到推广。
多晶硅太阳能组件由于其价格合理、性能良好而在市场上占有一定的份额。
但是与单晶光伏组件、薄膜光伏组传类织,多晶硅组件在使用过程中同样会产生或多或少的功率衰减现象。
影响多晶硅组件功率衰减的主要因素是什么?又该如何降低这些影响因素呢?多晶硅光伏组件(如图一所示)是由玻璃、EVA、电池片、背板、铝边框、接线盒、硅胶等主材,按照一定的生产工艺进行封装,在一定的光照条件下达到一定输出功率和输出电压的光伏器件。
组件功率的衰减是指随着光照时间的增长,组件输出功率逐渐下降的现象。
其衰减现象可大致分为三类:第一类,由于破坏性因素导致的组件功率骤然衰减,破坏性因素主要指组件在焊接过程中焊接不良、封装工艺存在缺胶现象,或者由于组件在搬运、安装过程中操作不当,甚至组件在使用过程中受到冰雹的猛烈撞击而导致组件内部隐裂、电池片严重破碎等现象;第二类,组件初始的光致衰减,即光伏组件的输出功率在刚开始使用的最初几天内发生较大幅度的下降,但随后趋于稳定;第三类,组件的老化衰减,即在长期使用中出现的极缓慢的功率下降现象。
二、多晶硅组件功率衰减的原因分析及试验验证1、第二类衰减现象的研究分析第二类衰减的原因分析、试验对比以及优化措施导致这一现象发生的主要原因是P型(掺硼)晶体硅片中的硼氧复合体降低了少子寿命。
含有硼和氧的硅片经过光照后出现不同程度的衰减。
硅片中的硼、氧含量越大,在光照或电流注入条件下产生硼氧复合体越多,少子寿命降低的幅度就越大,引起电池转换效率下降。
(1)试验条件及试验步骤试验的条件:A组采用经过初始光照的电池片,B组采用未经初始光照的电池片,A组和B组使用同样的玻璃、EVA、背板和同样的封装工艺。
生产出的所有组件经红外隐形裂纹检测仅探测,并采用3A级脉冲模拟仪测试组件I-V曲线,确定组件完好无损,各选择5块进行试验,电池片经过初始光照的组件采用"A·x"进行编号,电池片未经始光照的组件采用"B-x"进行编号。
光伏组件功率的衰减分析
光伏组件功率的衰减分析光伏组件的功率衰减是指光伏组件的发电能力随时间的推移而逐渐下降的现象。
光伏组件的功率衰减主要受到以下因素的影响:初始光伏组件的质量、温度、湿度、光照强度和频率变化。
首先,初始光伏组件的质量对功率衰减有重要影响。
一些低质量或次品的光伏组件,在使用一段时间后,由于材料质量的问题会出现功率衰减。
因此,在购买光伏组件时,应选择高质量的组件,以提高光伏组件的使用寿命和功率输出。
其次,温度也是影响光伏组件功率衰减的重要因素。
光伏组件在工作过程中会产生一定的热量,温度过高会导致光伏组件的效率下降,从而造成功率衰减。
因此,要尽量控制光伏组件的温度,可以采取合适的散热措施,例如通过风扇或散热片等方式。
此外,湿度也会影响光伏组件的功率衰减。
湿度过高会导致光伏组件表面积水,从而影响光的输入和输出,减少组件的发电能力。
同时,湿度还会导致光伏组件内部发生腐蚀和腐烂,进一步影响组件的性能。
因此,在光伏组件的安装和维护过程中,要注意湿度的控制,避免湿度对光伏组件的影响。
光照强度是影响光伏组件功率衰减的主要因素之一、光伏组件的工作原理是通过光的照射产生电能,因此,光照强度的变化会直接影响光伏组件的功率输出。
在低光照条件下,光伏组件的功率输出会下降,因此,在光伏组件的安装和使用过程中,要选择合适的地点和角度,以获得更好的光照条件,提高光伏组件的功率输出。
最后,频率变化也会对光伏组件的功率衰减产生影响。
频率变化主要指光伏组件在不同时间段和不同天气条件下的使用情况。
在不同的季节和天气条件下,光照条件和温度等因素会发生变化,从而影响光伏组件的功率输出。
因此,要充分考虑频率变化的影响,合理安排光伏组件的使用时间和方式,以最大程度地提高光伏组件的功率输出。
综上所述,光伏组件功率的衰减是一个由多种因素综合影响的过程。
为了减少光伏组件功率衰减,我们应选择高质量的组件,并控制温度、湿度、光照强度和频率变化等因素。
通过合理的光伏组件设计、安装和维护,可以延长光伏组件的使用寿命,提高光伏组件的发电能力。
晶体硅光伏组件电势诱导衰减效应研究 王欢
晶体硅光伏组件电势诱导衰减效应研究王欢摘要:随着光伏电站规模的不断增大,使用环境的差异及不确定性,出现了一系列的电站发电量降低,组件功率下降的问题。
作为众多引发组件功率衰减的主要原因之一的电势诱导衰减现象引起了广泛的关注。
本文利用实验模拟组件的使用环境并成功验证了电势诱导衰减现象的存在,并指出了在高温高湿的环境电势诱导衰减现象直接会影响组件的功率,使其下降明显。
同时也在现实环境中的电站项目中发现了电势诱导衰减现象。
通过实验证明了电势诱导衰减现象是一种可逆的现象,功率可以恢复。
这些发现对日后寻找改善并解决此现象起到了积极的作用。
关键词:光伏;组件;系统;电势诱导衰减1 背景电势诱导衰减最早是Sunpower在2005年发现的,组件长期在高电压作用下使得玻璃、封装材料之间存在漏电流,大量电荷聚集在电池片表面,使得电池表面的钝化效果恶化,导致FF、Isc、Voc降低使组件性能低于设计标准。
随着光伏组件大规模使用一段时间后,特别是越来越多的投入运营的大型光伏电厂运营三四年后,业界对光伏组件的电位诱发衰减效应(电势诱导衰减,Potential Induced Degradation)的关注越来越多。
一些国家和地区已逐步开始把抗电势诱导衰减作为组件的关键要求之一。
很多日本用户明确要求把抗电势诱导衰减写入合同,并随机抽检。
欧洲的买家也跃跃欲试提出同样的要求。
此趋势也使得国内越来越多的光伏电站业主单位、光伏电池和组件厂、测试单位和材料供应商对电势诱导衰减的研究越来越深入。
另外,近几年的研究表明,存在于晶体硅光伏组件中的电路与其接地金属边框之间的高电压,会造成组件的光伏性能的持续衰减。
造成此类衰减的机理是多方面的,例如在上述高电压的作用下,组件电池的封装材料和组件上表面层及下表面层的材料中出现的离子迁移现象;电池中出现的热载流子现象;电荷的再分配削减了电池的活性层;相关的电路被腐蚀等等。
这些引起衰减的机理被称之为电位诱发衰减、极性化、电解腐蚀和电化学腐蚀。
浅析太阳能光伏电站的光伏组件衰减问题及解决方法
浅析太阳能光伏电站的光伏组件衰减问题及解决方法导语:太阳能光伏电站中的核心部件是光伏组件,光伏组件的质量量和衰减问题,直接影响光伏电站的总发电量的高低,下面一起来讨论光伏组件的衰减问题对光伏电站的建设的影响和相关解决方案。
光伏组件的衰减一般分为光致衰减和老化衰减,目前国际上又提出一种获得较多技术研究人员认同的PID电势能诱导衰减,目前前两者讨论的比较多。
光致衰减主要受电池工艺问题和电池原料,是指光伏组件在初始应用的几天输出功率发生较大的急剧性下降,但是输出功率会逐渐稳定。
一、光致衰减理论光照或电流注入导致硅片中的硼于氧结合形成硼氧复合体,进一步导致硅片中少子寿命降低,导致光伏组件效率下降,硅片中的硼氧成分越高,在光照或电流注入条件下硼氧复合体越多,复合体越多组件功率衰减量越大,因此低氧,低硼,掺稼,掺磷,用稼磷替代硼能有效降低光伏组件衰减。
光伏组件光致衰减的解决途径:硅片中氧元素和硼元素的含量决定了组件的光致衰减程度,因此硅片中硼氧越少往往硅片质量越好,组件光致衰减量越少。
从根本上来讲光伏组件的光致衰减要从硅片入手:方法一:改进掺硼p性直拉单晶硅质量:在我国国内,掺硼直拉单晶硅是我国目前硅帮市场的主流产品。
在硅棒制作中要避免使用低质量的多晶硅料;控制掺人过多低电阻n型硅料,避免生产高补偿的p性单晶棒,因为硼氧含量极高,将导致光伏组件出现大幅度光致衰减;提高拉棒工艺水平,降低硼氧含量,降低缺陷密度,改进电阻率均匀性。
方法二:用稼替代硼元素:此种方法没有发现光致衰减问题。
方法三:利用磁控直拉单晶硅,区熔单晶硅工艺,都是可以改变硅片质量的。
后者避免了大量氧进入晶体硅的缺陷,从而彻底解决了掺硼的硅片,光伏组件的衰减问题。
方法四:使用掺p的n型硅替代掺硼的p型硅片,n型硅片可以解决光致衰减问题,但是从现有技术和工艺来看,在转换效率和制造成本上没有优势。
方法五:提高硅片加工水平改进硅片性能的一致性,进一步借助硅片分选机改进硅片质量如太阳能光伏电池片组件衰减测试仪。
光伏组件性能衰退机理与预测研究
光伏组件性能衰退机理与预测研究光伏组件是太阳能发电系统中的重要组成部分,也是实现太阳能利用的关键设备之一。
然而,光伏组件的性能衰退一直是制约光伏发电技术发展的瓶颈之一。
本文将从机理分析和预测研究两个方面讨论光伏组件性能衰退的问题。
一、光伏组件性能衰退机理1. 劣化原因光伏组件的性能衰退是由多种因素导致的,包括热膨胀、机械应力、湿气、光照、氧化等。
其中,主要的原因是热应力和光引起的损伤。
太阳能发电系统中,光伏组件一般会经历多次循环温度变化,同时还会受到光照的影响,导致晶体中的缺陷不断增加,从而影响组件的工作性能。
2. 损伤机理在光伏组件中,晶体的损坏主要是由以下两个机理导致的。
(1) 光生效应机理在光照下,晶体表面形成缺陷,会导致电荷的积累,从而影响组件的输出电流和电压。
在循环热应力的作用下,这些缺陷会继续扩散和增长,从而导致晶体中的缺陷数量增加。
(2) 热诱导机理光伏组件在工作过程中会受到不同程度的热应力,从而导致晶体中的缺陷逐渐增加。
具体表现为:热应力会使得晶格中的缺陷结构发生改变,从而形成新的晶格缺陷;晶格缺陷的形成又可能导致材料的局部应力集中,从而引起更多的晶格缺陷的形成。
这一过程是不可逆的,会导致组件性能的不可逆性损失。
二、光伏组件性能衰退预测研究为了解决光伏组件性能衰退的问题,科学家们进行了大量的研究,提出了许多利用模型和实验方法预测光伏组件性能衰退的方法。
1. 手段目前主要的预测手段包括:(1) 数值模型数值模型是利用计算机模拟光伏组件的性能衰退过程,可以预测组件性能退化的趋势和速度。
这种方法的优点是精度高,缺点是需要大量的实验数据作为输入参数。
(2) 实验方法实验方法主要是检测组件的输出电流和电压的变化情况,通过分析数据预测组件的性能衰退趋势。
2. 研究进展目前,关于光伏组件性能衰退的预测研究主要集中在两个方面的研究。
(1) 数值模型的建立建立数值模型是目前预测光伏组件性能衰退的主要研究方向。
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d i f e r e n c e . Th e EL i ma g e s a n d I — V e l e c t r i c p r o p e r t i e s we r e t e s t e d f o r 4 8 h. T h e r e s u l t s s h o w t h a t t h e e f e c t c a u s e s t h e c o mp o n e n t s t o p r o d u c e l e a k a g e c u r r en t , a n d t h e l e a k a g e e x t e n t i n c r e a s e s wi t h t h e d u r a t i o n o f e x p e r i me n t .Us i n g c a p a c i t a n c e p r i n c i p l e t o e x p l a i n t h e p h y s i c a l me c h a n i s m o f t h e p o t e n t i a l i n d u c e d d e g r a d a t i o n, t h e p a c k a g i n g
2C o l l e g e o f E l e c t r o n i c a n dI n f o r ma t i o nE n g i n e e r i n g , S a n J i a n gU n i v e r s i 哆, N a n j i n g J i a n g s u 2 1 0 0 1 2 , C h i n a )
关键词 : 硅太阳电池 ; 抗 P I D光伏组件 ; 电容效应 : 漏 电 流
中图 分 类 号 : T M 6 1 5
文献标识码 : A
文章编 号 : 1 0 0 2 — 0 8 7 X ( 2 0 1 7 ) 0 6 — 0 8 9 0 — 0
Re s e a r c h o n po t e n t i a l i n d u c e d d e g r a d a t i o n e f f e c t o f P V mo d u l e s
Ab s t r a c t : Th e p o t e n t i a l i n du c e d d e g r a d a t i o n o f P V mo d u l e s c a n r e du c e t h e e x t e r n al o u t p u t p o we r o f p h o t o v o l t a i c p o we r g e n e r a t i o n s y s t e m, ma k i n g t h e p h o t o v o l t a i c p o wer g e n e r a t i on s y s t e m i n a s t a n d s t i l l i n s e v e r e c a s e s , a l mo s t n o
光 伏 组 件 潜在 诱 导 衰 减 效 应 的 研 究
陈 春・ , 李 路 2 , 常建慧 ( 1 . ■汀学院 电气与 自动 化工程 学院 , 江苏 南 京 2 1 0 0 1 2 ; 2 . 三江学院 电子信息 T程学 院 , 汀苏 南京 2 1 0 0 1 2 )
摘要 : 光 伏 组 件 的 潜 在 诱 导 衰 减 会 减 少光 伏 发 电 系统 对 外 输 出 的 电 能 , 严 重 情 况 下 使 光 伏 发 电 系 统瘫 痪 。 几 乎 不 对 外 输 出电能。在温度为 8 5℃ 和 8 5 %湿 度 条 件 下 , 对 单 块 光 伏 组 件 模 拟 光 伏 发 电 系统 中 出 现 的 潜 在 诱 导 衰 减 效 应 , 即 组 件 的 铝边框和输 出端产生 1 0 0 0 V 的 电势 差 。 每 隔 6 h测 试 一 次 组 件 的 电 致 发 光 ( E L ) 图像和 I — V电性能 , 实 验 持 续 时 间 为 4 8 h 。结 果 表 明 : 该效应会使组件产生漏 电 , 漏 电程 度 随 着 实验 持 续 的 时 间 而 变 得 严 重 。 运 用 电 容 原 理 解 释 潜 在 诱 导 衰 减 产 生 的 物理 机 制 , 并 采 用 低 介 电 常 数 的 封 装 材 料 制 作 新 的光 伏 组 件 , 能使组件的 功率衰减控 制在 2 %以 内, 完 全 具 有 抗潜在诱导衰减的性能 。
e x t e r n a l ou t p u t p o we r . Th e PI D o f a s i n g l e b l o c k o f PV mo d u l e i n p h o t o v o l t a i c p o we r g e n e r a t i o n s y s t e m wa s s i mu l a t e d . wh i c h wa s t h e a l u mi n u m f r a me a n d o u t p u t s o f PV mo du l e s p r o d u c e d 1 0 0 0 V o f e l e c t r i c a I p o t e n t i a l
CHEN Chu n , LI L u2 , CH AN G J i a n— h ui
f 1 . C o l l e g e o f El e c t r i c a l a n d Au t o ma t i o n E n g i n e e r i n g , S a n J i a n g U n i v e r s i t y , Na n i i n g. 1 i a n g s u 2 J O 0 1 2 , C h i n a :