计数型重点工程 CPK 制程能力统计表
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制程能力CPK&PPK
製程能力分析製程能力研究在於確認這些特性符合規格的程度，以保證製程成品不符規格的不良率在要求的水準之上，作為製程持續改善的依據。
製程能力研究的時機分短期製程能力研究及長期製程能力研究，短期著重在新產品及新製程的試作、初期生產、工程變更或製程設備改變等階段；長期以量產期間為主。
製程能力指標 Cp 或 Cpk 之值在一產品或製程特性分配為常態且在管制狀態下時，可經由常態分配之機率計算，換算為該產品或製程特性的良率或不良率，同時亦可以幾 Sigma 來對照。
計數值統計數據的數量表示缺點及不良(Defects VS. Defectives)缺點代表一單位產品不符要求的點數，一單位產品不良可能有一個缺點或多個缺點，此為計點的品質指標。
例如描述一匹布或一鑄件的品質，可用每公尺棉布有幾個疵點，一鑄件表面有幾個氣孔或砂眼來表達，無塵室中每立方公尺含微粒之個數，一片PCB有幾個零件及幾個焊點有缺點，一片按鍵有幾個雜質、包風、印刷等缺點，這些都是以計點方式表示一單位產品的特性值。
不良代表一單位產品有不符要求的缺點，可能有一個或一個以上，此將產品分類為好與壞、良與不良及合格與不合格等所謂的通過－不通過(Go-No Go)的衡量方式稱為計件的品質指標。
例如單位產品必須以二分法來判定品質，不良的單位產品必須報廢或重修，這是以計件方式來表示一單位產品的特值。
每單位缺點數及每百萬機會缺點數(DPU VS. DPMO)一單位產品或製程的複雜程度與其發生缺點的機會有直接的關係，越複雜容易出現缺點；反之越簡單越不容易出現缺點。
因此，以每單位缺點數(DPU)來比較複雜程度不同的產品或製程品質是不公平的，在管理上必須增加一個衡量產品或製程複雜程度的指標，Six Sigma 以發生缺點的機會(Opportunities)來衡量。
DPU 是代表每件產品或製程平均有幾個缺點，而DPMO 是每檢查一百萬個機會點平均有幾個缺點。
一個機會點代表一產品或製程可能會出現缺點的機會，它可能是一個零件、特性、作業等等。
CPK值
计算出样本的σx
用3σ与规格容许公差做比较 。
σx ×√（∑×ī－×）/( n / ( n － 1）)
计算群体的σ
Cp ＝ 规格容许差 / 3 σ ＝ 规格公差 / 6 σ ＝ ( T/ 2 ) / 3σ
由上述可知：
1.若T ＞ 6 σ 时， Cp 值愈大。（离散趋势都在规格内）
3.综合评价 (不良率 p )：
评价等级
总评 (不良率 p ％ )
A
P ￡ 0.44 ％
B
0.44 ％ ＜ P ￡ 1.22 ％
C
1.22 ％ ＜ P ￡ 6.68 ％
D
6.68 ％ ＜ P
注意;（1）其等级B、C、D须照Ca及Cp来处理。
（2）由于总评是根据Ca及Cp推定不良，其处置是要视下一工程或客户之要求。
B 1 ≤ Cpk ≤ 1.33 有缺点发生
C 0.67 ≤ Cpk ≤ 1 立即检讨改善
D Cpk ≤ 0.67 采取紧急措施，进行品质
改善，并研讨规格
CPK基礎
1999年对公司来说，可定义为OEM品质年，此话怎讲?因为从去年HP的PIGLET开始生产后，陆陆续续接到OEM客户的订单，诸如NEC、PANASONIC、广宇、以及最近的通用、INTEL等等；我们可以从过去的经验与事实，去观察与分析OEM客户非常重视产品的品质管制，认为供货商是产品生产系统的源头或重要的一部份，足以影响产品是否能及时推上市，获得好评的重要关键之一。
Cpk是综合Ca和Cp两者之指数，其计算公式:
Ca＝( X － μ ) / ( T / 2 )
Cp ＝ 规格容许差 / 3 σ ＝ 规格公差 / 6 σ ＝ ( T/ 2 ) / 3σ
用3σ与规格容许公差做比较 。
σx ×√（∑×ī－×）/( n / ( n － 1）)
计算群体的σ
Cp ＝ 规格容许差 / 3 σ ＝ 规格公差 / 6 σ ＝ ( T/ 2 ) / 3σ
由上述可知：
1.若T ＞ 6 σ 时， Cp 值愈大。（离散趋势都在规格内）
3.综合评价 (不良率 p )：
评价等级
总评 (不良率 p ％ )
A
P ￡ 0.44 ％
B
0.44 ％ ＜ P ￡ 1.22 ％
C
1.22 ％ ＜ P ￡ 6.68 ％
D
6.68 ％ ＜ P
注意;（1）其等级B、C、D须照Ca及Cp来处理。
（2）由于总评是根据Ca及Cp推定不良，其处置是要视下一工程或客户之要求。
B 1 ≤ Cpk ≤ 1.33 有缺点发生
C 0.67 ≤ Cpk ≤ 1 立即检讨改善
D Cpk ≤ 0.67 采取紧急措施，进行品质
改善，并研讨规格
CPK基礎
1999年对公司来说，可定义为OEM品质年，此话怎讲?因为从去年HP的PIGLET开始生产后，陆陆续续接到OEM客户的订单，诸如NEC、PANASONIC、广宇、以及最近的通用、INTEL等等；我们可以从过去的经验与事实，去观察与分析OEM客户非常重视产品的品质管制，认为供货商是产品生产系统的源头或重要的一部份，足以影响产品是否能及时推上市，获得好评的重要关键之一。
Cpk是综合Ca和Cp两者之指数，其计算公式:
Ca＝( X － μ ) / ( T / 2 )
Cp ＝ 规格容许差 / 3 σ ＝ 规格公差 / 6 σ ＝ ( T/ 2 ) / 3σ
Cpk与制程能力评价概述
12
制程巒異的來源
雜項(others) 雜項包括溫度、光線、溼度等環境因素。 例如室外的溫度高，庫存中的紙張的水分 就會改變，可能對製成會產生不良的影響； 其他可能還包括檢驗的方法，如檢驗設備 不良或品質標準應用不當、測量儀器的精 確度等，都可能是導致變異的原因。
13
制程能力評估---Ca,Cp,Cpk
28
CPU CPL
CPU,CPL:上下工程能力指標 假設只有上或下規格界限，則指標需經由 製程平均數u到上或下規格界限與自然允差 來計算，上下製程能力指標公式如下：
CPU= CPL=
29
CPK ---製程績效指標
要製程達到規格要求，必須Ca與Cp均好方可，但有時Ca 雖很好但不好，結果會有不良品，有時Cp很好，但Ca不好， 也會有高不良率產生。綜合評價是將Ca與Cp兩者綜合起來 評定等級 .
33
規格上限
-6r -5r
-4r
± Kr ± 1r ± 2r ± 3r ± 4r ± 5r ± 6r
-3r
-2r -1r
X
+1r +2r +3r +4r +5r +6r
百萬分缺點數 697700 308700 66810 6210 233 3.4
百分比(%) 30.23 69.13 93.32 99.3790 99.97670 99.999660
137 151 147 152 144147 142 142 150 150127 162 160142 140143 126 152 147 149 …
… … … … …
…
… … … … …
…
… … … … …
…
CPK制程能力分析
1
名詞介紹
USL:產品之規格上限 LSL:產品之規格下限 u:規格中心值 N X /N 樣本算術平均(平均值): X Σ i=1 N ( X i )2 / N :母體標準差: i 1 n s:樣本標準差: ( X i )2 / n 1 i 1 T:規格公差=規格上限-規格下限(USL-LSL) 平衡公差:18.0 ±0.5 不平衡公差:18.0 +0.5/–0.2 or 18.0 +0.3/ –0.5 PPM(Parts Per Million):每百萬個單位的不合格數
ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ
Cpk = Min ( Cpku ,Cpkl )
= Cp ( 1 - Ca )
Cpku =
USL -X
3σ
LSL
Cpkl =
x u
USL
X - LSL
3σ
-∞ -3σ -2σ -1σ TARGET +1σ +2σ +3σ
+∞
6
Ca/Cp/Cpk等級判定
等級
A B
Ca
0 ≦ Ca < 0.0625
0.0625 < Ca ≦ 0.125
(18.4-18.1)2+(17.6-18.1)2+ (17.9-18.1)2 +….+ (18.3-18.1)2
σ=
9
=0.2981
T=18.5 -17.5=1
Ca = (18.1-18.0)/0.5=0.2……………... B級 Cp = 1/(6× 0.2981)=0.559…………….. D級 Cpk = 0.559 × (1-0.2)=0.4472…………D級 結論:此產品須大大的改善才可符合現代化的要求.
制程能力CPK
n
( -
Σ xi
i=1
n
)
Deviation)
2
:
規格上限SU : 規格下限 SL 公差Ｔ = SU-SL
5. Cp(Capability of precision):精密度指標
準確度指標 Cp=
SU-SL
6s
=
T
6s
σ=
S
n-1
6. Cpk=Cp*(1-Ca)
製程能力指標
Ｋ偏移系数（也可用Ca 制程準確度表示)
Ｋ = 樣本平均值-規格中心 規格公差 / 2
Cp (制程精密度)
Cp =
規格公差
6s
CPK (制程能力指数)
CPK = (1-Ca)*Cp
Ca 評價等級
等級
Ca 值
A
Ca ≦ 12.5%
B
12.5%< Ca ≦ 25%
C
25%< Ca ≦50%
D
50%< Ca
樣本平均值-規格中心 K = Ca Ca = 規格公差 / 2
●修正加工制程能力 ●制程能力指数
定义:制程能力是处于稳定生产状态下的实际加工能力 .
l 所谓处于稳定生产状态下的制程是: a)原材料或上一道工序半成品按照标准要求供应; b)本工序按作业标准实施并应在影响工序质量各 主要因素无异常的条件下进行; c)工序完成后,产品检测按标准要求进行。
l 在非稳定生产状态下的工序所测得的制程 本統計公式集
1. X (Mean) : 平均值
a n 4. 偏移系数Ｋ（也叫准确度Ｃ ）
X=
x1+x2+……+xn
n
=
Σi=1xi n
制程能力分析(Cpk)
Confidential
12
穩定製程 vs 不穩定製程
穩定的製程
可以預計未來的品質狀況.
機遇原因
不穩定的製程
可能無法預計未來的品質狀況
機遇原因 非機遇原因
Confidential 13
取樣
取樣原則：系統、隨機、批次、分散
避免影響統計結果
X Sample
X
X
X Sample
X X X X
Sample A C C B B D D
E xp . O v e ra ll P e rf o rm a n c e P P M ?< ?LS L 2 4 5 3 9 .5 4 P P M ?> ?U S L 2 9 0 7 8 .1 5 P P M ?T o ta l 5 3 6 1 7 .6 9
5
基本统计概念
6
常態分配
常態分配特性
須先考慮 製程是否有維持良好＂統計管制狀態＂的能力
假設製程產出是一個常態分配
Confidential
18
製程能力分析
製程能力分析
Cp:(Capability of Precision) 製程精密度 Ca: (Capability of Accuracy) 製程準確度 Cpk:(Process performance ) 製程績效指標
P r o c e s s C a p a b i l i ty o f te s t
LS L
P ro c e s s D a ta LS L 2 3 0 0 .0 0 0 0 0 T a rg e t * USL 2 5 0 0 .0 0 0 0 0 S a m p le M e a n 2 4 0 1 .9 0 0 0 0 S a m p le ?N 40 S tD e v (W ith in ) 4 2 .2 1 3 5 0 S tD e v (O v e ra ll) 5 1 .7 8 0 9 8
制程能力分析 Cpk
不良率：約5.73% (單一測站） Ｄ級：應採取緊急措施，對產品加以分類，全面檢討可能因素， 必要時停止生產。
Process Capability of test
LSL
P rocess D ata LS L 2300.00000 T arget * USL 2500.00000 S ample M ean 2401.90000 S ample?N 40 S tD ev (Within) 42.21350 S tD ev (O v erall) 51.78098
Primax Electronics Ltd. Confidential
5
應用
例：樣品是否合格？
ＲＤ(or IQC)對關鍵零件進行零件承認的檢驗
規格：2400
±100 工程師取樣 40 pcs 樣品經量測數值如下：
2410, 2440, 2352, 2410, 2345, 2397, 2413, 2364, 2413, 2325 2415, 2437, 2367, 2310, 2408, 2384, 2375, 2433, 2466, 2370 2325, 2368, 2328, 2369, 2458, 2485, 2343, 2485, 2473, 2315 2498, 2461, 2480, 2352, 2392, 2418, 2420, 2319, 2355, 2419
量測值都於規格內
，樣品品質是否合格？
假設取樣數 合於 MIL-STD-105E 要求 檢驗結果 ? Pass ?
Primax Electronics Ltd. Confidential 6
經SPC 手法推定 結果
制程能力分析 (Cpk , Z值)
5 Z值, Sigma Level -2
USL - Xbar Xbar – LSL Cpk = Min ( ----------------- ， ----------------- ) = Min (CPU, CPL) 3σ 3σ
USL - Xbar Xbar – LSL Z = Min ( ----------------- ， ----------------- ) = Min (ZU, ZL) σ σ
USL
短期： Cp = (USL-LSL) / 6σ = (605-595)/6x1.64804 = 10/9.88824 = 1.01 Within
Overall
Potential (Within) Capability Cp 1.01 CPL 1.00 CPU 1.02 Cpk 1.00 CCpk 1.01 Ov erall Capability Pp PPL PPU Ppk Cpm 0.97 0.96 0.98 0.96 *
內部教育訓練
1-統計製程管制 (SPC)---管制圖 2-製程能力分析 (Cpk, Z值) 3-量測系統分析 (MSA)
製程能力分析 (Cpk ，DPMO，Z值)
目錄
1- 製程能力度量 2- Cp 3- Ca 4- Cpk 5- Z值, Sigma Level 6- 短期能力與長期績效 7- 範例：計量型製程能力分析 8- 範例：計數型製程能力分析(不良率) 9- 範例：計數型製程能力分析(缺點數)
3種估算標準差的方法
1- σwithin = R/d2 ---- Rbar (R管制圖使用) 2- σwithin = S/C4 ---- Sbar (S管制圖使用) 3- σwithin ------------- pooled standard deviation
教你用minitab计算CPK
•但数据要放到同一个column中，所以必须 针对前面的数据进行一下处理
教你用minitab计算CPK
数据调整
进行数据的堆积
教你用minitab计算CPK
填写选项
输入变量 输入作为参考的概率线
教你用minitab计算CPK
结果输出
教你用minitab计算CPK
结果输出(加标0.5概率)
教你用minitab计算CPK
考虑可选择项
如果希望计算Cpm, 则输入目标值
教你用minitab计算CPK
结果输出
教你用minitab计算CPK
Capability Sixpack (Between/Within)
•复合了以下的六个图形
–Xbar –R –原始数据分布 –直方图 –正态分布检定 –CPK, PPK
教你用minitab计算CPK
填好各项的参数
输入样本数 输入历史的不良率
教你用minitab计算CPK
选好控制图的判异准则
教你用minitab计算CPK
结果及输出
教你用minitab计算CPK
卜氏分布制程能力分析
•卜分布只适合用在
–计数型，有二个以上的选择时
•例如可以用在
–外观检验，但非关键项部份 –0,1,2,3等二项以的选择，此种状况必须使用
2020/11/20
教你用minitab计算CPK
输入相关参数
Select: Stat >Quality Tools > Capabilty Analysis >Nonnormal
教你用minitab计算CPK
填入选项要求
韦氏分布的参数估计
教你用minitab计算CPK
结果图形
教你用minitab计算CPK
数据调整
进行数据的堆积
教你用minitab计算CPK
填写选项
输入变量 输入作为参考的概率线
教你用minitab计算CPK
结果输出
教你用minitab计算CPK
结果输出(加标0.5概率)
教你用minitab计算CPK
考虑可选择项
如果希望计算Cpm, 则输入目标值
教你用minitab计算CPK
结果输出
教你用minitab计算CPK
Capability Sixpack (Between/Within)
•复合了以下的六个图形
–Xbar –R –原始数据分布 –直方图 –正态分布检定 –CPK, PPK
教你用minitab计算CPK
填好各项的参数
输入样本数 输入历史的不良率
教你用minitab计算CPK
选好控制图的判异准则
教你用minitab计算CPK
结果及输出
教你用minitab计算CPK
卜氏分布制程能力分析
•卜分布只适合用在
–计数型，有二个以上的选择时
•例如可以用在
–外观检验，但非关键项部份 –0,1,2,3等二项以的选择，此种状况必须使用
2020/11/20
教你用minitab计算CPK
输入相关参数
Select: Stat >Quality Tools > Capabilty Analysis >Nonnormal
教你用minitab计算CPK
填入选项要求
韦氏分布的参数估计
教你用minitab计算CPK
结果图形
制程能力(CPK PPK)
2
制程能力指数概念：
制程能力指数：是指过程能力与过程目标相比 较的定量描述的数值，即表示过程满足产品品 质标准（产品，规格，公差）的程度。 一般以CP或CPK表示。 CP适用于品质标准规格的中心值与实测数据 的分布中心值一致，即无偏离情况下，而CPK 适用于品质标准规格的中心值与实测数据的分 布中心值不一致，即有偏离的情况下。
6
制程能力综合指数 :
Cpk是准确度与精确度的综合指标：
Ca只能反映制程的准确性 Cp只能反映制程的精确性 由于CPK同时考虑准确与精确度，故应用上最 为广泛
7
制程能力指数 :
名词解释 :
双边规格 : 品质特性的合格范围同时有上限及下 限规定者称为双边规格
• 例CNC加工尺寸 : 39.530.1mm
一般制程要求Ca12.5%
10
制程能力指数 :
Ca练习实例 :, 今在产线抽测5个材料, 量 测值如下 : 3.52, 3.53, 3.57, 3.54, 3.53, 则Ca值计算如下 :
3.52 + 3.53 + 3.57 + 3.54 + 3.53 3.538 5 • U=3.50, T=3.6-3.4=0.2, X
2 2
7 1 80 . 71 40 3 3 . 039 4 . 47
3 . 039
16
制程能力综合指数 :
Cpk的介绍 :
公式 :
• 双边对称规格：C • 双边不对称规格 :
pk
1 C a C p
Cpk min(
USL X ˆ 3
,
X LSL ˆ 3
一般制程要求CP≥1.33
制程能力指标 (Cp & Cpk)
Cp = 2
Cpk < 1
a) 高水準的製程能力 (Cpk > 1.5) b) 臨界邊緣的製程能力 (Cpk≒1) c) 製程不具能力 (Cpk < 1)
製程能力指標 v.s.製程精密度指標
11
Process Potential Index (Cp)
Cpk
1.0
1.2
1.4
1.6
1.8
2.0
1.0 2,699.9 1,363.3 1,350.0 1,350.0 1,350.0 1,350.0
QC七大手法 (QC seven tools)
12
品管七大手法是解析數據的有利武器，包括： v 查檢表 (Check sheet) v 統計圖 (Graph) / 管制圖 (Control chart) v 柏柆圖 (Pareto chart) v 直方圖 (Histogram) v 散佈圖 (Scatter diagram) v 特性要因圖 (Cause & Effect diagram) v 層別法 (Stratification)
1.4
13.4 ~ 26.7 ppm
1.5
3.4 ~ 6.8 ppm
1.6
794 ~ 1,589 ppb
1.7
170 ~ 340 ppb
1.8
33 ~ 67 ppb
1.9
6 ~ 12 ppb
2.0
1 ~ 2 ppb
製程能力指標範例
10
a)
Cp = 2
Cpk = 2
b)
Cp = 2
Cpk = 1
c)
問題解決型 QC Story 的實施內容 (續)
28
步驟
實施內容
Cpk < 1
a) 高水準的製程能力 (Cpk > 1.5) b) 臨界邊緣的製程能力 (Cpk≒1) c) 製程不具能力 (Cpk < 1)
製程能力指標 v.s.製程精密度指標
11
Process Potential Index (Cp)
Cpk
1.0
1.2
1.4
1.6
1.8
2.0
1.0 2,699.9 1,363.3 1,350.0 1,350.0 1,350.0 1,350.0
QC七大手法 (QC seven tools)
12
品管七大手法是解析數據的有利武器，包括： v 查檢表 (Check sheet) v 統計圖 (Graph) / 管制圖 (Control chart) v 柏柆圖 (Pareto chart) v 直方圖 (Histogram) v 散佈圖 (Scatter diagram) v 特性要因圖 (Cause & Effect diagram) v 層別法 (Stratification)
1.4
13.4 ~ 26.7 ppm
1.5
3.4 ~ 6.8 ppm
1.6
794 ~ 1,589 ppb
1.7
170 ~ 340 ppb
1.8
33 ~ 67 ppb
1.9
6 ~ 12 ppb
2.0
1 ~ 2 ppb
製程能力指標範例
10
a)
Cp = 2
Cpk = 2
b)
Cp = 2
Cpk = 1
c)
問題解決型 QC Story 的實施內容 (續)
28
步驟
實施內容
制程能力评价CPK
處理方式：Ca值不良時，以製造單位(管理層面) 為主，技術單位(工程研究改善)為輔。
File: Ca , Cp , Cpk report
Prepared by: Milo Hou
Confidential
2006.09.20
Cp(Capability of Process)製程精密度
定義：衡量產品分佈情況與公差寬度的符合程度， 稱為製成精密度。 公式：Cp之計算公式如下
Ca = X − T0 ( SU − S L ) / 2
=
工程平均值－規格中心值 (規格上限－規格下限)/2
File: Ca , Cp , Cpk report
Prepared by: Milo Hou
Confidential
2006.09.20
Ca(Capability of Accuracy)製程準確度
2006.09.20
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15
14.680 14.510 14.580 14.620 14.600 14.670 14.650 14.550 14.590 14.570 14.600 14.650 14.650 14.620 14.550
規格上限 SU 15.500 規格中心值 M 15.000 規格下限 SL 14.500 規格公差 T 平均值 X 標準差 σ ν−1 Ca Cp Cpk 品名: 品名 : 料號 : 日期 : 檢驗者 : 1.00 14.61 0.05 79% 3.404 0.722
File: Ca , Cp , Cpk report
Prepared by: Milo Hou
Confidential
2006.09.20
Cp(Capability of Process)製程精密度
File: Ca , Cp , Cpk report
Prepared by: Milo Hou
Confidential
2006.09.20
Cp(Capability of Process)製程精密度
定義：衡量產品分佈情況與公差寬度的符合程度， 稱為製成精密度。 公式：Cp之計算公式如下
Ca = X − T0 ( SU − S L ) / 2
=
工程平均值－規格中心值 (規格上限－規格下限)/2
File: Ca , Cp , Cpk report
Prepared by: Milo Hou
Confidential
2006.09.20
Ca(Capability of Accuracy)製程準確度
2006.09.20
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15
14.680 14.510 14.580 14.620 14.600 14.670 14.650 14.550 14.590 14.570 14.600 14.650 14.650 14.620 14.550
規格上限 SU 15.500 規格中心值 M 15.000 規格下限 SL 14.500 規格公差 T 平均值 X 標準差 σ ν−1 Ca Cp Cpk 品名: 品名 : 料號 : 日期 : 檢驗者 : 1.00 14.61 0.05 79% 3.404 0.722
File: Ca , Cp , Cpk report
Prepared by: Milo Hou
Confidential
2006.09.20
Cp(Capability of Process)製程精密度
CPK制程能力指数
名词解释（续）
• 制程:process，指的是接受输入将它处理而转变成为输出的活动;
• 能力:Capability,能力素质，指在任务或情景中表现的一组行为;
• 准确度:指在一定实验条件下多次测定的平均值与真值相符合的程 度，以误差来表示，它用来表示系统误差的大小。
• 精密度：要求所加工的零件的尺寸达到的准确程度,也就是容许误 差的大小,容许误差大的精密度低,容许误差小的精密度高;简称 “精度”,常用标准偏差(standard deviation，SD或S)表示;
正态分布（续)
• 正态分布有两类特征值（分布参数），一 类表征分布中心的位置，一类标准数据的 离散度。因此，正态分布的特征值反映了 质量波动（质量变异）的状况。
• 1）总体分布的特征值； • 2）样本分布的特征值；
正态分布（总体分布的特征值）
• 总体，指研究事物的全体。在质量分析中全部产品 的质量特性值的数据称为全体（对生产过程而言， 总体应包括过去、现在和将来所有加工产品的质量 数据），其数量往往是很大的，甚至无限的。所以， 总体的全部数据往往是不可能得到的。
• 指数：指数是一种表明社会经济现象动态的相对数，运用指数可 以测定不能直接相加和不能直接对比的社会经济现象的总动态； 可以分析社会经济现象总变动中各因素变动的影响程度；可以研 究总平均指标变动中各组标志水平和总体结构变动的作用
名词解释（其他→续）
• 数据的分类：
按数据的性质不同，对量化的数字数据可分为计量值和技术值数据 1）计量值数据：计量值数据指在一定区间内可以连续取值，可以取无穷
i=1,2，……n
制程能力
• 1）任何过程必须是有效过程； • 2）任何过程必须是稳定受控的过程； • 3）应形成过程网络
制程能力(CPK PPK)
制程能力分析
Process capability
制作： 2005.12.29
1
制程能力的概念 :
制程能力的意义 :
制程能力是指制程在管制状态下,制程符合规格 的能力，即在受控状态下实现过程目标的能力。
一般以下列的制程特性来衡量制程能力 :
• 准确度 (Capability of Accuracy )简称Ca • 精确度 (Capability of Precision )简称Cp
设产品规格为3.5mm0.1mm, 今在产线抽测5个 材料, 量测值如下 : 3.52, 3.53, 3.57, 3.54, 3.53, 则 Cp值计算如下 :
• T=3.6-3.4=0.2, =0.0192, Cp 0.2 1.73
0.0192 6
若本例中的5个抽测值为3.51, 3.53, 3.53, 3.52, 3.52, 则CP值是多少?
n 1
21
制程能力与不良率 :
准确度偏移后，不良率升高(CA偏大)
M
X
22
制程能力与不良率 :
精确度愈差，不良率愈高
CP小，不 良率高
CP大，不 良率高
23
制程能力与不良率 :
从别一观点， CPK所代表是规 格公差与自然差 的比值
由图可知，CPK 愈大，不良率愈 小
Cpk=1
20
制程性能指数
制程性能指数的计算，其 估计的标准差为总的标准 差，包含了组内变异以及 组间变异。
总变异=组内变异+组间 变异。
Pp
Su Sl
6ˆ
Ppk min( Ppu , Ppl )
Ppu
Su x
Process capability
制作： 2005.12.29
1
制程能力的概念 :
制程能力的意义 :
制程能力是指制程在管制状态下,制程符合规格 的能力，即在受控状态下实现过程目标的能力。
一般以下列的制程特性来衡量制程能力 :
• 准确度 (Capability of Accuracy )简称Ca • 精确度 (Capability of Precision )简称Cp
设产品规格为3.5mm0.1mm, 今在产线抽测5个 材料, 量测值如下 : 3.52, 3.53, 3.57, 3.54, 3.53, 则 Cp值计算如下 :
• T=3.6-3.4=0.2, =0.0192, Cp 0.2 1.73
0.0192 6
若本例中的5个抽测值为3.51, 3.53, 3.53, 3.52, 3.52, 则CP值是多少?
n 1
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制程能力与不良率 :
准确度偏移后，不良率升高(CA偏大)
M
X
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制程能力与不良率 :
精确度愈差，不良率愈高
CP小，不 良率高
CP大，不 良率高
23
制程能力与不良率 :
从别一观点， CPK所代表是规 格公差与自然差 的比值
由图可知，CPK 愈大，不良率愈 小
Cpk=1
20
制程性能指数
制程性能指数的计算，其 估计的标准差为总的标准 差，包含了组内变异以及 组间变异。
总变异=组内变异+组间 变异。
Pp
Su Sl
6ˆ
Ppk min( Ppu , Ppl )
Ppu
Su x
CPK制程能力指标-update
R / d 2
長期進行製程改善: 量產穩定製程用以管制要項 重要製程的監控,及可咎特因的 追查、矯正和預防 可咎特因刪除後,重新計算制界 限和製程能力 朝向規格公差12σ目標,推動各項 改善專案
16
.取所有的個數值,按公式估算標準
差:
S
短期進行製程驗證: 初產期製程尚未穩定,用個別數
值驗證製程能力 初產期證如新部品、新設備、
2020/4/23
22
22
機遇原因與非機遇原因:
將抽樣來的數據畫在圖上，它們會在某個範圍中上下變動，反映了製程 品質特性值都有變異的現象。變異的基本原理如下：
1. 被量測出的產品品質特性均是由於某些偶然因素所造成的結果。 2. 某些「偶然因素下的一致現象」，是任何製造和檢驗的架構下所
固有的。 3. 在這固有之「一致現象」的狀態下的變動將無法找到原因。 4. 在該狀態外的變動原因，則是可被發現而加以改正的。
人
方
員
法
天
材
性
製品
料
2020/4/23
量
機
測
台
21
21
人員 (Man)
人員對材料、在製品、和成品的載卸和搬運，以及對機器的照料、操作與調整等，都和本身的生 理、心理狀況和作業嫻熟度及對規範的嚴守程度息息相關，而直接間接來影響產品的品質。
方法 (Method)
這項變異的來源包括刀具的磨耗，參數的設定，…等等。例如Trim / Form 的刀具、QBending的刀具、Taping 的Cover Tape與Carrier Tape間的剝力是由機台的壓力、溫度、和加壓時 間所控制。
CP
USL - 3
2.5 2.15 3 * 0.05
長期進行製程改善: 量產穩定製程用以管制要項 重要製程的監控,及可咎特因的 追查、矯正和預防 可咎特因刪除後,重新計算制界 限和製程能力 朝向規格公差12σ目標,推動各項 改善專案
16
.取所有的個數值,按公式估算標準
差:
S
短期進行製程驗證: 初產期製程尚未穩定,用個別數
值驗證製程能力 初產期證如新部品、新設備、
2020/4/23
22
22
機遇原因與非機遇原因:
將抽樣來的數據畫在圖上，它們會在某個範圍中上下變動，反映了製程 品質特性值都有變異的現象。變異的基本原理如下：
1. 被量測出的產品品質特性均是由於某些偶然因素所造成的結果。 2. 某些「偶然因素下的一致現象」，是任何製造和檢驗的架構下所
固有的。 3. 在這固有之「一致現象」的狀態下的變動將無法找到原因。 4. 在該狀態外的變動原因，則是可被發現而加以改正的。
人
方
員
法
天
材
性
製品
料
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量
機
測
台
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人員 (Man)
人員對材料、在製品、和成品的載卸和搬運，以及對機器的照料、操作與調整等，都和本身的生 理、心理狀況和作業嫻熟度及對規範的嚴守程度息息相關，而直接間接來影響產品的品質。
方法 (Method)
這項變異的來源包括刀具的磨耗，參數的設定，…等等。例如Trim / Form 的刀具、QBending的刀具、Taping 的Cover Tape與Carrier Tape間的剝力是由機台的壓力、溫度、和加壓時 間所控制。
CP
USL - 3
2.5 2.15 3 * 0.05
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内压击穿 极性错误 断路 短路 露铜 其他 Pn P UCL CL CPK
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计数型重点工程 CPK 制程能力统计表
工程名称 Pmax 组号
0.07
Pmin
0.00
料号 Pavg
特性 0.019 Cpk 1.76 Ppm
机台 186.67 δ
期限 0.025
制成管控
品质部
制定者 27 28 合计 75000 0.0% 0.0% 21.4% 14.3% 28.6% 14.3% 21.4% 14 0.019 不良分析
1.200
P U
21%
22%
管 理 图
0.06
CPK 14% 14%
0.05 0.04 0.03 0.02 0.01 0.00 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26
1.000 0.800 注：CPK 0.600 的管理下
等
级
说
明
制程能力过胜，可以考虑降低成本 制程能力非常好，应维持 状况理想，但应加以改进提升至B级等级 须立即进行改善检讨 立即进行制程全面检讨、改善，必要时停止生产
评 价
Cpk≥1.67制程能力过胜，可以考虑降低成本
C D E
原因分析
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 检查数 3000 3000 3000 3000 3000 3000 3000 3000 3000 3000 3000 3000 3000 3000 3000 3000 3000 3000 3000 3000 3000 3000 3000 3000 3000 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 外压击穿 0 0
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0
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0.10 0.09 0.08 0.07
1.7551.7551.7551.7551.7551.7551.7551.7551.7551.7551.7551.7551.7551.7551.7551.7551.7551.7551.7551.7551.7551.7551.7551.7551.755
2.000 1.800 1.600 1.400
限为1.33， 0.400
0.200 超过时应 0.000
29%
分析原因
外压击穿 短路 内压击穿 露铜 极性错误 其他 断路
等 A B
说明
级
CPK PPM值 (CPK ＞1.67) PPM ≦ 6.8 (1.5≤CPK ) 176.83< PPM ≦ 6.8 (1.25≤CPK ＜1.5) 2699.80< PPM ≦ 176.83 (1.0≤CPK ＜1.25) 2699.80< PPM (1.0 ＜CPK)