EMI检测研究
传导性电磁干扰(EMI)噪声测试系统
实验二传导性电磁干扰(EMI)噪声测试系统一实验目的1 了解传导电磁干扰基本概念2 熟悉传导电磁干扰诊断与抑制基本原理3 掌握电磁兼容基本实验仪器使用二实验设备•频谱分析仪GSP-827•线阻抗稳定网络LISN•分离网络DN•开关电源(型号为KR0960AA 24V 40A)•EMI滤波器•负载电阻盘•线缆•50Ω匹配阻抗三实验内容及步骤1、传导性电磁干扰诊断与抑制原理图图1是传导性电磁干扰诊断与抑制系统示意图。
在主测量装置的输出端获取被测设备(EUT)的EMI噪声后,输入到共模CM/差模DM分离网络进行模态分离。
而后由诊断软件对从频谱分析仪传送到计算机上的信号进行处理。
该智能系统不仅可利用硬件提供独立的共模及差模分量,同时也利用软件为滤波器设计提供了有益的诊断信息。
本实验只要求学生利用频谱分析仪检测到噪声信号,及了解加入滤波器后噪声明显降低,满足EMC标准。
图1 传导性EMI智能测试系统示意图2 、实物接线图及各部分功能介绍将开关电源接一组(3个)500W,5Ω并联的电阻盘用作被测设备即噪声源,在测试系统中加入自制的功率滤波器以此作为我们全智能测试系统的检测对象。
该系统由由线阻抗稳定网络LISN,AC/DC,24V 960W直流输出开关电源接一组(3个)500W,5Ω并联的电阻盘,由功率合成器combiner构成的噪声分离网络DN及GSP-827频谱分析仪构成的EMI噪声智能诊断系统,由EMI滤波器构成噪声抑制系统,供电电源来用单相三线220V交流工频电源。
实验装置如图2所示。
图2 以开关电源拖带阻性负载为被测设备的实验装置图⑴线阻抗稳定网络LISN:目前国际标准进行的传导性电磁干扰测量系采用线阻抗稳定网络LISN,,其核心是通过电感、电容和标准50 阻抗构成的测试网络(前一节已做介绍),作为获得被测设备EUT所产生的传导干扰信号的接受器。
⑵噪声分离网络DN:,LISN只能测量到传导性EMI噪声的混合信号而不能从中检测出CM 和DM分量,但EMI滤波器设计却分为共模和差模滤波器两种。
传导电磁干扰emi的测量原理、设备,操作和术语
传导电磁干扰emi的测量原理、设备,操作和术语
测量传导电磁干扰的主要原理是通过接触式和非接触式两种方法进行。
接触式测量是将传导电磁干扰信号传递到电磁场传感器上,然后通过测量传感器信号的强度来确定电磁辐射水平。
非接触式测量是通过在电磁场中放置天线探测器来测量传导电磁干扰信号。
测量设备:
测量传导电磁干扰的设备包括信号发生器、频谱分析仪、接触式传感器、非接触式探测器等。
信号发生器用于产生测试信号,频谱分析仪用于分析测试信号的频谱。
接触式传感器用于接触被测设备以测量传导干扰信号,非接触式探测器用于在电磁场中测量电磁辐射信号。
测量操作:
测量传导电磁干扰的操作包括选择合适的测量设备和测量方法。
在接触式测量中,需要正确接触传感器以确保准确测量。
在非接触式测量中,需要在电磁场中放置天线探测器以便正确测量电磁辐射信号。
测量术语:
测量传导电磁干扰时常用的术语包括电磁辐射、信号强度、频谱、峰值、平均值等。
电磁辐射是指电子设备和系统发射的电磁波。
信号强度是指电磁辐射信号的强度。
频谱是指信号的频率分布情况。
峰值是指信号中最高强度的部分,平均值是指信号强度的平
均值。
总之,测量传导电磁干扰需要正确选择测量设备和方法,并熟悉相关术语和操作技巧,以确保准确测量电磁辐射水平。
关于频谱分析仪和EMI接收机的详细分析和探讨
关于频谱分析仪和EMI接收机的详细分析和探讨频谱分析仪和EMI(电磁干扰)接收机是电子测试仪器中常用的设备,用于检测和分析电磁信号。
本文将对这两种设备进行详细分析和探讨。
首先,频谱分析仪(Spectrum Analyzer)是一种能够显示信号频谱分布的仪器。
它通过将时间域信号转换为频域信号,以图形方式显示信号的频谱特性。
频谱分析仪广泛应用于电子通信、雷达、无线电导航、无线电电视等领域中,用于测试和分析信号的频谱特性,例如信号的幅度、频率、相位等。
它可以帮助工程师找到信号中的各个组成部分,从而更好地设计和优化系统。
频谱分析仪的工作原理基于傅里叶分析理论。
在信号输入到频谱分析仪后,它会将信号转换为数字形式,并进行快速傅里叶变换(FFT)来计算信号的频谱分布。
然后,频谱分析仪将得到的频谱数据显示在屏幕上,用户可以通过调节参数如中心频率、带宽等来观察信号的特性。
频谱分析仪通常有两种类型:实时频谱分析仪和扫描频谱分析仪。
实时频谱分析仪能够快速地捕捉到信号的瞬态特性,对于频率波动性较大的信号特别有用。
而扫描频谱分析仪则能够提供更高的分辨率和更精确的频率测量,适用于对静态信号进行分析。
与频谱分析仪相比,EMI接收机(Electromagnetic Interference Receiver)更专注于电磁干扰的检测和测量。
它主要用于检测设备或系统产生的电磁干扰,以及寻找干扰源并分析其特性。
EMI接收机主要包括天线、前置放大器、带通滤波器、检波器、显示器等组件。
EMI接收机的工作原理是通过天线接收环境中的电磁信号,并经过前置放大器放大后输入到带通滤波器。
带通滤波器用于滤除不感兴趣的频段,确保只有干扰信号通过滤波器。
接下来的检波器将信号转换为直流信号,并输出到显示器上。
通过观察显示器上的输出结果,用户可以了解干扰信号的频谱特性和强度。
EMI接收机的应用非常广泛,特别是在电磁兼容性测试和认证领域。
它可以帮助工程师在设计和生产过程中检测和纠正电磁干扰问题,确保设备的电磁兼容性符合标准要求。
EMI测定相关说明 报告人:李梅良 20040423
EMI测定相关说明前言针对EMI(Electromagnetic Interference)电磁干扰做说明一.EMI介绍电磁干扰(EMI)指电路板发出的杂散能量或外部进入电路板的杂散能量,它包括:传导型(低频)EMI、辐射型(高频)EMI、ESD(静电放电)或雷电引起的EMI。
传导型和辐射型EMI具有差模和共模表现形式。
二.EMI来源数位积体电路从逻辑高到逻辑低之间转换或者从逻辑低到逻辑高之间转换过程中,输出端产生的方波信号频率并不是导致EMI 的唯一频率成分。
该方波中包含频率范围宽广的正弦谐波分量,这些正弦谐波分量构成工程师所关心的EMI频率成分。
最高EMI频率也称为EMI发射频宽,它是信号上升时间而不是信号频率的函数。
计算EMI发射频宽的公式:⏹F=0.35/Tr,⏹其中:F是频率,单位是GHz;Tr是单位为ns(纳秒)的信号上升时间或者下降时间。
⏹从上述公式中不难看出,如果电路的开关频率为50MHz,而采用的积体电路晶片的上升时间是1ns,那么该电路的最高EMI发射频率将达到350MHz,远远大于该电路的开关频率。
⏹IC的输出在逻辑高到逻辑低或者逻辑低到逻辑高之间变换时,这些信号电压和信号电流就会产生电场和磁场,而这些电场和磁场的最高频率就是发射频宽。
⏹信号源位于PCB板的IC内部,而负载位于其它的IC内部,这些IC可能在PCB上,也可能不在该PCB上。
为了有效地控制EMI,不仅需要关注IC晶片自身的电容和电感,同样需要重视PCB上存在的电容和电感。
⏹当信号电压与信号回路之间的耦合不紧密时,电路的电容就会减小,因而对电场的抑制作用就会减弱,从而使EMI增大;如果电流同返回路径之间耦合不佳,势必加大回路上的电感,从而增强了磁场,最终导致EMI增加。
换句话说,对电场控制不佳通常也会导致磁场抑制不佳。
电路中相当一部份电磁辐射是由电源汇流排中的电压瞬变造成的。
当IC的输出级发生跳变并驱动相连的PCB线为逻辑“高”时,IC晶片将从电源中吸纳电流,提供输出级所需的能量。
EMI测试的应用及相关的测试标准
EMI测试的应用及相关的测试标准一则中消协发布的公告关于电脑辐射骚扰超标不合格,容易影响到电网内设备最后到导致电脑死机。
其主要原因是电脑电源端子辐射骚扰超出了国家标准规定的限值,而这种骚扰可能干扰其它电子设备正常工作,特别是高灵敏度电子设备。
随着科学技术的发展,越来越多的数字化,高速化的电气和电子设备在社会各个领域广泛使用,在推动社会发展的同时,伴随着电气和电子设备应用而产生的电磁干扰也给社会带来了电磁污染问题。
而电磁污染与水污染,空气污染被称为当今社会的三大污染源。
随着电磁干扰问题的日益突出,国际无线电干扰特别委员会(CISPR)相应出台了CISPR -16,CISPR- 15,欧洲标准委员会出台了EN55015 和EN55022 等标准。
这些措施和标准旨在规范点电子产品的电磁干扰限制和其它规范,以减少电磁干扰带来的社会问题。
电磁干扰EMI(Electromagnetic Interference),有传导干扰和辐射干扰两种。
传导干扰是指通过导电介质把一个电网络上的信号耦合(干扰)到另一个电网络。
辐射干扰是指干扰源通过空间把其信号耦合(干扰)到另一个电网络。
在高速PCB 及系统设计中,高频信号线、集成电路的引脚、各类接插件等都可能成为具有天线特性的辐射干扰源,能发射电磁波并影响其他系统或本系统内其他子系统的正常工作。
众所周知,EMC 的测试目标是电子电器设备,而照明设备作为其中重要的一块,自然也有相应的约束。
如美国的FCC 认证,欧盟的CE 认证等都对LED 照明设备提出了相关的测试项目。
当谈论到电磁干扰时,一般来讲有两种干扰源;一种是传导干扰,主要是电子设备产生的干扰信号通过导电介质或公共电源线互相产生干扰,LED 灯具的FCC 认证传导干扰扫瞄测试频率从0.15MHz 开始至30MHz 结束,CE 认证中的传导干扰扫瞄测试频率从9KHz 开始至30MHz 结束。
另外一种干扰是辐射干扰,主要是指电。
电磁干扰(EMI)实验设备及实验
●电源,EUT电源和控制电缆 1选项和附件:●ECOUPLER 4 3相耦合/去耦网络440V 相到相16A连续/25A短时●IP4A EFT 容性耦合夹●EFT Kit 50/1000欧姆EFT测试工具●PDP8000 Differential HV Probe高压探头(8kV)●Current Probe 101 电流探头0.01V/A●LST-4510 用于磁场测试的1x1m线圈●PCD 121 耦合网络(对称数据和控制线)●PCD 126 耦合网络(非对称数据和控制线)3.1.4 静电放电测试系统KES4021 静电放电测试系统,30KV(Electrostic Discharge Simulator, including main unit, gun, IEC61000-4-2 CR unit, air and contact discharge tips)●电容:150Pf±10%●放电电阻:330Ω±10%●充电电阻:50-100MΩ●最大放电速率:20Hz●放电电压:接触放电8Kv,空气放电15Kv●放电电流:符合IEC 61000-4-2●保持时间:5秒●极性:+、-及+、-极性自动交替●触发方式:单次,及20次(或以下)3.2电磁干扰(EMI)实验设备1) 743半电波暗室(a)示意图(b)实例照片图3-14屏蔽半暗室743半电波暗室综合性能:暗室性能:(1) 屏蔽性能:依据标准EN50147-1, GB12190-90(2) 30MHz-1000MHz场地比对测试:以一个稳定的标准信号源于暗室完工后做一次窄频段比对校正,以SGS或者CCS标准暗室作为追溯的标准。
30-300MHz ±6dB;300-1000MHz ±4dB 项目内容:金属板可拆式半电波暗室外尺寸:7.2m×4.2m×3.4m L×W×H基本配置:气动屏蔽门:1×2m电源滤波器: 30A 220V 2只30A 110V 1只通风波导窗 30×30cm 2只0.3m高架地板,承重500kg/sqm地面接口箱 5只信号接口板1块(N×2 BNC×2,SMA×2)直径30×300mm 波导管 1根总电源控制箱 1套电源插座a.转桌中心 110VAC/15A x1 及220VAC/15A x1b. 天线塔附近:220VAC/15A x2c. 地板面上:220VAC/15A x2d.角度可调的固定式200W卤素灯在暗室內四个上角铁氧体介质板 12mm高密度板+导电铝箔(五面)铁氧体瓷砖(五面) SAMWHA SN-20手动转台台面式直径1米天线架固定高度(高度手动调节)转台上测试桌 1.2x1x0.8m 1张监控系统 1个松下470 Camera+1个14寸彩色Monitor主要配置:(1) 暗室屏蔽体:a.屏蔽体采用厚度为2mm的镀锌钢板。
emi测试原理
emi测试原理EMI(Electromagnetic Interference)测试原理引言:随着电子设备的普及和应用,电磁干扰已成为一个重要的问题。
电磁干扰会对设备的正常工作产生不良影响,甚至导致设备故障。
为了保证设备的正常运行,需要进行EMI测试。
本文将介绍EMI测试的原理及其重要性。
一、EMI测试的定义EMI测试是指对电子设备在电磁环境下工作时产生的电磁干扰进行测试和评估的过程。
通过对设备进行EMI测试,可以评估设备在电磁环境中的抗干扰能力,确保设备在正常工作时不会对周围设备产生干扰。
二、EMI测试的原理1. 电磁干扰的来源电磁干扰可以来自两个方面:辐射性干扰和传导性干扰。
辐射性干扰是指电子设备在工作时,产生的电磁波通过空气传播,干扰其他设备的工作。
传导性干扰是指电子设备产生的电磁干扰通过导线或其他传导介质传播,干扰同一系统内的其他设备。
2. EMI测试的步骤EMI测试主要包括以下几个步骤:(1)设备准备:将待测试的设备放置在测试室中,并连接相应的电源和测试设备。
(2)测试环境准备:确保测试环境满足要求,包括电源线的接地、测试室的屏蔽性能等。
(3)辐射性干扰测试:通过在不同频率范围内检测设备产生的电磁辐射,评估其辐射性干扰水平。
(4)传导性干扰测试:通过在不同频率范围内检测设备产生的传导性干扰,评估其传导性干扰水平。
(5)数据分析与评估:根据测试结果,对设备的干扰水平进行分析和评估,判断设备是否符合相关标准。
三、EMI测试的重要性EMI测试对于电子设备的正常工作和市场准入具有重要意义。
1. 保证设备的正常运行:EMI测试可以发现设备产生的电磁干扰源,并采取相应的措施减少干扰,保证设备的正常工作。
2. 符合法规标准:各国针对电子设备的电磁兼容性都有一系列的法规和标准。
通过EMI测试,可以评估设备是否符合相关法规和标准,确保设备的合规性。
3. 提升产品竞争力:通过进行EMI测试,并获得相关的认证和标志,可以提升产品的市场竞争力,增加消费者对产品的信任度。
emi测试项和测试方法以及整改措施
emi测试项和测试方法以及整改措施知识专栏:深度探讨emi测试项和测试方法以及整改措施一、什么是EMI测试?在追求高品质产品的过程中,EMI(Electromagnetic Compatibility,电磁兼容性)测试是至关重要的一部分。
EMI测试是指对电子设备在电磁环境中的电磁辐射和抗干扰能力进行测试的过程。
通过对设备的各项参数进行测试,可以确定设备在电磁环境下的稳定性和可靠性,从而保证其正常工作不受外部电磁干扰的影响,确保产品质量和安全性。
二、EMI测试项和测试方法1. EMI测试项(1)电磁辐射测试:主要测试设备在工作过程中产生的电磁辐射是否符合国际标准和法规。
(2)传导干扰测试:测试设备在接收外部电磁干扰时的抗干扰能力,主要包括共模传导干扰和差模传导干扰测试。
(3)辐射抗干扰测试:测试设备在外部电磁辐射干扰下的抗干扰能力。
2. EMI测试方法(1)辐射测量法:通过对设备进行辐射测量,评估设备在工作中产生的电磁辐射水平。
(2)传导测量法:通过对设备进行传导测量,评估设备在接收外部干扰时的抗干扰能力。
(3)辐射抗干扰测试方法:通过模拟设备在外部电磁辐射干扰下的工作情况,评估设备的抗干扰性能。
三、整改措施在进行EMI测试后,如果发现设备存在电磁兼容性问题,需要及时采取整改措施,以确保产品质量和安全性。
1. 优化PCB布局:合理布局PCB,减少电磁辐射。
2. 优化电路设计:采用屏蔽罩、滤波器等措施,提高设备的抗干扰能力。
3. 合理布线:合理布线可以减少共模传导干扰,提高设备的电磁兼容性。
四、总结和回顾通过对EMI测试项和测试方法以及整改措施的深入探讨,可以看出EMI测试在产品设计和生产中的重要性。
只有通过全面的EMI测试,及时发现问题并采取整改措施,才能确保产品在电磁环境中的稳定性和可靠性。
作为产品设计和测试人员,需要深入理解EMI测试的原理和方法,不断提升自身的技能和水平,为产品的质量和安全性保驾护航。
EMI及EMS测试项目介绍
EMI及EMS测试项目介绍一、 EMI(Electro Magnetic Interference,电磁干扰),即处在一定环境中的设备或系统,在正常运行时,不应产生超出相应标准所要求的电磁能量,想对应的测试项目有:1、CE,传导骚扰;测量设备从电源口、信号端口向电网或信号网络传输的骚扰。
2、RE,辐射骚扰;测试电子、电气和机电设备及其部件的辐射发射,包括来所有组建、电缆及其连接线上的辐射发射,用于鉴定其辐射是否符合标准的要求,以致在正常使用过程中影响同一环境中的其他设备。
3、Harmonic,谐波电流测量。
4、Fluctuation and Flicker,电压波动和闪烁测量。
二、EMS(Electro Magnetic Susceptibility,电磁抗扰度),处在一定的环境中的设备或系统,在正常工作时,设备或系统能承受相应标准规定范围内的电磁能量干扰,相对应的测试项目有:1、ESD,静电抗扰度;测试单个设备或系统的抗静电放电干扰的能力。
他模拟操作人员或物体在接触设备时的放电,人或物体对临近物体的放电。
2、EFT/B,电快速瞬变脉冲群抗扰度;对电气和电子设备建立一个评价抗电快速瞬变脉冲群冲击的共同依据。
测试机理是利用脉冲群产生的共模电流流过线路时,分别对电路分布电容能量的积累效应,当积累到一定程度时就有可能引起线路(乃至设备)工作出错。
3、SURGE,浪涌(也叫雷击);通过模拟测试的方法来建立一个评价电气和电子设备抗浪涌干扰的能力的共同标准。
4、RS,辐射抗扰度;射频辐射电磁场对设备的干扰往往是由设备操作、维修和安全检查人员在使用移动电话是产生的,无线电台、电视发射台、移动无线发射机和各种工业电磁辐射源,以及电焊机、晶闸整流器、荧光等工作室产生的计生辐射也都会产生射频辐射干扰。
测试的目的是建立一个共同的标准来评价电气和电子设备的抗射频电磁场干扰的能力。
5、CS,传导抗扰度;通常情况下,干扰频率比较低,其波长有可能大于被干扰设备的尺寸,或波长的整数倍与设备的引线(电源线、通信线和接口电缆等)长度相当时,这些引线就可以通过传导方式对设备产生干扰。
EMI测试原理
EMI测试原理电磁干扰(EMI)是指电子设备在工作过程中造成的电磁能量的传播和干扰。
由于现代社会中电子设备的广泛应用,EMI经常成为一个很重要的问题。
为了确保设备的无故障运行和相互兼容性,EMI测试就显得尤为重要。
本文将介绍EMI测试的基本原理。
EMI测试是通过测量电磁波的辐射和导入来评估设备在电磁环境中的电磁兼容性。
测试过程中,主要使用三种方法:辐射测量、传导测量和传导辐射测量。
首先,辐射测量主要针对设备产生的电磁辐射进行测试。
它通过测量设备周围的电磁场强度来判断辐射是否超过了相关标准的限制。
常见的辐射测量方法包括近场和远场测量。
近场测量可以获得辐射源直接的电磁场分布情况,而远场测量则可以获得电磁辐射的远场模型。
这些测量数据可以用来评估电磁干扰的强度和频率范围,以及采取必要的干扰控制措施。
接下来是传导测量,这种方法主要用于测量通过导体传出或传入设备的电磁干扰。
传导测量可以揭示设备内部线路、电源和接地导线等部分的EMI问题。
传导测量过程中,常用的测试方法有模式转移函数测量、传导耦合和共模传导测量等。
通过这些测试,我们可以了解到设备在导线传导上的电磁干扰强度和频谱特性,从而采取相应的干扰抑制措施。
最后是传导辐射测量,这是一种将辐射和传导测量相结合的测试方法。
传导辐射测量可以综合考虑设备的辐射和传导干扰,从而更全面地评估设备的电磁兼容性。
通过传导辐射测量,我们可以同时获取设备的辐射和传导性能,帮助我们准确地评估设备的EMI问题。
EMI测试的原理可以总结为测量、评估和控制。
通过相应的测试方法,我们可以测量设备在电磁环境下产生的辐射和传导干扰,进而评估设备是否符合相关的电磁兼容性要求。
对于不符合要求的设备,我们可以通过改善设备的设计、增加滤波器、加强接地等方法来控制EMI问题。
综上所述,EMI测试是确保设备正常运行和满足相互兼容性的重要手段。
通过测量设备产生的辐射和传导干扰,我们可以评估设备的电磁兼容性并采取相应的控制措施。
emi指标
EMI,全称为Electromagnetic Interference(电磁干扰),是指任何可能引起电子设备、系统或网络性能下降或失效的电磁现象。
以下是一些与EMI相关的指标:1. 辐射发射(Radiated Emission):这是测量设备在运行过程中产生的电磁能量向周围空间的传播情况。
通常使用特定的天线和频谱分析仪来测量在指定频率范围内的电磁场强度。
2. 传导发射(Conducted Emission):这是测量设备通过电源线、信号线或其他导体向外部环境传输的电磁能量。
通常使用电流探头和频谱分析仪进行测量。
3. 敏感度(Susceptibility)或抗扰度(Immunity):这是测量设备抵抗外部电磁干扰的能力。
包括辐射敏感度(Radiated Susceptibility)和传导敏感度(Conducted Susceptibility)。
4. 谐波和闪烁(Harmonics and Flicker):谐波是电源电流中高于基波频率的整数倍频率分量,闪烁则是由于电压波动引起的光亮度不稳定。
5. 共模干扰(Common-Mode Emission)和差模干扰(Differential-Mode Emission):在传导发射中,共模干扰是指沿着电路的两个导体对地的干扰电流相同,而差模干扰是指沿着电路的两个导体之间的干扰电流相等但极性相反。
6. 脉冲群抗扰度(Pulse Group Immunity)和浪涌抗扰度(Surge Immunity):这些是测量设备抵抗快速瞬态电压和电流变化的能力。
7. 静电放电抗扰度(ESD Immunity):测量设备抵抗静电放电影响的能力。
8. 磁场抗扰度(Magnetic Field Immunity)和电场抗扰度(Electric Field Immunity):测量设备抵抗外部静态或交变电磁场影响的能力。
每个国家和地区都有自己的EMI标准和法规,如欧洲的EN 55022和美国的FCC Part 15等,这些标准规定了不同类型的电子设备在各个EMI指标上的限值和测试方法。
用频谱分析仪作EMI测试和诊断-主要测辐射
用频谱分析仪作EMI测试和诊断摘要频谱分析仪是电磁干扰(EMI)的测试、诊断和故障检修中用途最广的一种工具。
本篇文章将重点突出频谱分析仪在EMI应用的广阔范围内作为诊断测试仪器的多用性。
对于一个EMC工程师来说,频谱分析仪最重要的用途之一是测试商用和军用电磁发射,其他用途包括对以下内容的评估:材料的屏蔽效能,仪器机箱的屏蔽效能,较大的试验室或测试室的屏蔽效能,电源线滤波器的衰减特性。
此外频谱分析仪在从事场地勘测中也很有用。
概述频谱分析仪对于一个电磁兼容(EMC)工程师来说就象一位数字电路设计工程师手中的逻辑分析仪一样重要。
频谱分析仪的宽频率范围、带宽可选性和宽范围扫描CRT显示使得它在几乎每一个EMC测试应用中都可大显身手。
辐射发射测量频谱分析仪是测试设备辐射发射必不可少的工具,它与适当的接口相连就可用于军用和/或商用EMI自动测量。
比如说,一台频谱分析仪与一台计算机(如IBMPC)相连,就可以在对应的频率范围内把发射数据制成图和/或表。
虽然EMI测量接收机也可用于自动测试系统,但在故障的诊断和检修阶段频谱分析仪则显得更优越。
据我的经验,大多数情况下被测设备在第一次测试时都不能满足人们的期望值,因此,诊断电磁干扰源并指出辐射发射区域就显得很迫切。
在EMI辐射发射测试的故障检修方面,有时可能想要设置足够宽的频率范围以使得辐射发射要的频谱范围以外的频谱也包括在内。
用频谱分析仪,EMC工程师就可以观察到比用一台典型的EMI测试接收机可观察到的更宽的频谱范围。
另一种常用技术是观察特殊宽带天线频率范围。
包括所有校正因子在内的频谱图也同时被显示在频谱分析仪的CRT上,显示的幅值单位与分析仪上的单位相一致,通常是dBm。
这样,测试人员可在CRT上监测发射电平,一旦超过限值,就会被立刻发现。
这在故障检修中极其有用。
这种特性使得人们在屏蔽被测产品的同时观察频谱仪的屏蔽并可立刻获得反馈信息。
在快速进行滤波、屏蔽和接地操作时同样可做以上尝试。
如何使用示波器测试EMI辐射干扰
如何使用示波器测试EMI辐射干扰示波器是一种广泛用于测量电压、电流、频率和幅度等信号的仪器。
在测试电磁干扰(EMI)辐射时,示波器可以帮助检测和分析电子设备的辐射噪声和干扰源。
以下是使用示波器测试EMI辐射干扰的基本步骤:1.准备工作:-确保示波器和被测试设备处于工作状态,并且连接稳定可靠。
-将示波器连接到被测试设备的输出、输入或电源线附近,以便捕捉到辐射源。
-首先应该做地线拉开点的滤波处理,为了保证测量准确性,应该使用专用的测量线缆,尽量减少接口杂散电流引入。
2.设置示波器:-确保示波器的触发模式和电压范围正确设置,以适应被测信号的特性。
-选择合适的时间基准,以确保能够看到辐射源的快速变化。
-开启并校准示波器,以确保其测量结果准确可靠。
3.进行基准测量:-在没进行测试前,可以测量背景噪声电平,并记录作为基准测量。
-这个测量可以用来检测被测设备的辐射水平,以及是否超过预期的标准。
4.进行测试测量:-打开被测设备,并观察示波器屏幕上的波形。
测量期间应特别关注异常抖动、幅度变化或其他异常现象。
-观察并记录示波器显示的辐射信号特征,如频率、振幅和波形形状等。
-注意不同频段的干扰噪声,可以逐步缩小频段范围,有助于确定干扰源的位置。
5.分析和识别干扰源:-使用示波器的频谱分析功能,可以将测量结果转换成频谱图形。
-进一步分析频谱图,以识别干扰源的频率峰值和信号形式。
-根据峰值频率和波形形状,可以推测干扰源的类型和工作原理。
6.采取措施减少干扰:-如果发现辐射干扰超过预期或标准值,可以采取一些措施进行干扰抑制。
-添加滤波器、隔离器或抑制器,以减小干扰源的辐射功率。
-优化信号布线,降低回路耦合和辐射。
总结:使用示波器测试EMI辐射干扰需要:-确保示波器和被测试设备连接稳定,并使用专用线缆减少接口杂散电流引入。
-正确设置示波器的触发模式、电压范围和时间基准。
-进行基准测量以及测试测量,并观察示波器显示的辐射信号特征。
大气痕量气体差分吸收光谱仪emi
大气痕量气体差分吸收光谱仪(Environmental Monitoring Instrument, EMI)是一种用于监测大气中微量气体浓度的仪器。
它利用差分吸收光谱技术,能够高灵敏度地检测和测量大气中的各种气体,并提供准确的浓度数据。
下面将详细介绍EMI的原理、结构和应用。
一、原理EMI的原理基于差分吸收光谱技术。
该技术利用了气体分子在特定波长范围内吸收特定波长的光线的特性。
当光线穿过含有待测气体的大气时,待测气体会吸收特定波长的光线。
通过比较待测气体和参考气体对特定波长光线的吸收情况,可以计算出待测气体在大气中的浓度。
具体而言,EMI由光源、样品室、参比室、探测器和信号处理部分组成。
光源发出宽谱带光线,经过样品室和参比室后被探测器接收。
样品室中含有待测气体,而参比室中则没有待测气体。
探测器将样品室和参比室接收到的光线信号转化为电信号,并经过信号处理部分进行差分计算,得到待测气体的浓度。
二、结构EMI的结构主要包括以下几个部分:1. 光源:提供宽谱带光线,常用的光源包括白炽灯、激光器等。
2. 样品室和参比室:样品室中含有待测气体,而参比室中则没有待测气体。
样品室和参比室之间通过光路切换器进行切换,以便对比两者的吸收情况。
3. 探测器:接收样品室和参比室中的光线,并将其转化为电信号。
常用的探测器包括光电二极管(Photodiode)和半导体激光器(Semiconductor Laser)。
4. 信号处理部分:对探测器输出的电信号进行放大、滤波和差分计算,得到待测气体的浓度。
信号处理部分通常由模拟电路和数字电路组成。
三、应用1. 大气环境监测:EMI可以用于监测大气中的各种痕量气体,如二氧化碳、一氧化碳、臭氧等。
通过实时监测这些气体的浓度变化,可以评估大气质量,提供环境保护决策的依据。
2. 工业排放监测:EMI可以用于监测工业废气中的污染物浓度,如硫化物、氮氧化物等。
通过对工业排放的监测和控制,可以减少环境污染,保护生态环境。
EMI滤波器测试技术研究
EMI滤波器测试技术研究随着科学技术和生产的发展,电子产品日益增多,从而空间电磁环境越发复杂,恶劣的电磁环境将会对人类及各种生物造成严重影响,另外电子产品间也可能互相产生干扰导致其不能正常工作,于是出现了EMC测试。
在电子设备及电子产品中,电磁干扰能量可通过辐射性耦合或传导性耦合进行传输。
在抑制电磁干扰信号的辐射干扰方面,屏蔽是有效的措施;在抑制电磁干扰信号的传导干扰方面,I滤波器是十分有效的器件。
由于EMI滤波器是抑制传导干扰的重要器件,所以研究EMI滤波器的测试方法就变得十分重要。
l EMI滤波器的测试指标1.1 共模干扰和差模干扰实际上EMI电源滤波器起两种低通滤波器的作用:衰减共模干扰和衰减差模干扰。
对任何电源线上的传导干扰信号,都可以用共模和差模干扰信号来表示。
并且可把L—E和N—E之间的共模干扰信号、L—N之间的差模干扰信号看作独立的EMI源,把单相电源内的L—E、N—E和L—N看作独立网络端口来分析EMI信号和有关的滤波网络。
图1中,U1和U2为共模干扰信号,U3为差模干扰信号。
1.2 EMI滤波器网络结构图2所示为单相电源滤波器的基本网络结构。
它是由集中参数元件构成的无源低通网络,滤波网络主要由两只电感L1和L2,三只电容CX、CY1、CY2组成。
如果把该滤波器一端接入电源,负载端接上被干扰设备,那么L1和CY1,L2和CY2就分别构成L—E和N—E两对独立端口间的低通滤波器,用来抑制电源线上存在的共模EMI信号。
此外,L1、L2又与CX构成L—N独立端口之间的低通滤波器,抑制差模干扰信号。
1.3 EMI滤波器漏电流性能测试泄漏电流是指在250VAC的电压下,相线和中线与滤波器外壳(地线)间流过的电流。
它主要取决于接地电容(共模电容)的取值。
较大的共模电容CY可以提高插入损耗,但却造成较大的漏电流。
泄漏电流的测试电路如图3所示:1.4 EMI滤波器耐压性能测试为确保电源滤波器的性能以及设备和人身安全,必须进行耐压测试。
EMI测试项目及相关原理讲解
EMI测试项目及相关原理讲解PCEG電子R/D Lab agency ?戴林軍 ?2004年4月6日电磁干扰现象数字脉冲电路数字视频设备 220VAC开关电源为什么要“调”电路信号畸变不能达到预期的功能信号本身失真 ? 反射 ? 损耗串扰外界干扰(辐射、传导)信号完整性地线、电源噪声电磁兼容设计何为EMI EMI:Electromagnetic电磁Interference干扰Electromagnetic energy emanating from one device which causes another device to have degraded performance 引起EMI的三大要素1.干扰源2.耦合路径3.敏感源常见干扰源雷电 NEMP无线通信脉冲电路ESD直流电机、变频调速器感性负载通断电磁兼容标准分析环境中的各种电磁干扰保证各类电子设备的正常工作及良好的电磁环境编成电磁兼容标准分析设备受电磁干扰的机理标准编号的识别国家或组织制订单位标准编号IEC IEC 欧共体美国日本中国CISPR TC77 CENELEC FCC,DOD VCCI质量技术监督局, 国防部门CISPR Pub. × × IEC × × × × × EN × × × × ×FCC Part × ×, MIL-STD. × ×VCCI GB × × × × - × × × × GJB × × × - × ×国际上常用EMI法规CIS F CC PR11 12 13 14 15 16 22 Part 15 EN55022 Part 15 EN55013 EN55014 EN55015 Part 18ENEN55011內容工业、科学及医学(ISM) 汽车无线电广播家用器具/工具灯具类测量设备/方法资讯产品类(ITE)EN50081-1,2 共通标准ITE Production Classification Information Technology EquipmentITE产品定义: 1 能对资料和电信消息进行录入,存储,显示,检索,传输,交换或控制; 该设备可以配置一个和多个通常用于资讯传输的终端. 2 额定电压不超过600V. Class B 满足B级ITE骚扰限值的设备,主要在生活环境中使用,包括: ------不在固定场所使用的设备,例如靠内置电池供电的便携式设备 ------靠电信网络供电的电信终端设备 ------个人计算机及相关辅助设备 Class A 满足A级限值但不满足B级限值的设备,不限制其销售,但须在其相关使用说明中包含以下内容的声明:声明此为A级产品,在生活环境中,该产品可能会造成无线电干扰. 在这种情况下,可能需要用户对其干扰采取切实可行的措施.EMI 法规的频率范围EMI 测量项目辐射测量(Radiated Emission) 传导测量(Conducted Emission) 谐波测量(Harmonics) 电压闪烁测量(Flicker)Radiated Emission 辐射测量我们为什么要进行辐射测试电磁环境日益恶劣,各个国家都相应的制订了关于电子类产品的EMC法规。
EMI测试及相关资料
EMI测试标准一、简介目前,涉及到EMI测试的相关标准,主要为:欧规(EN55022),美规(FCC)相关名词:非故意辐射(Unintentional):产品产生不想要的电磁波辐射,造成干扰;如:电脑,LCD Monitor,DVD,电视,投影机等;故意辐射(intentional):使用无线电波进行通信;FCC只测试EMI:RE(辐射干扰):测试频率范围30MHZ~1GHZ;CE(电源干扰):测试频率范围 150KHZ~30MHZ;主要的EMI测试参考标准:欧盟:EN55022(EMI参考测试标准);EN55024(EMS参考测试标准);美国:FCC Part 15B(EMI参考测试标准);台湾:CNS 13438 (EMI参考测试标准)Country StandardUnited States FCC Part 15Canada ICES 003Australia AS/NZS:CISPR22 / AS 3548Japan VCCI - V seriesNew Zealand Ministry of Commerce - CISPR 22EN 55022 / EN 55024(传导&辐射测试)IEC / CISPR 22CISPR 11CISPR 13CISPR 20EuropeEN 61000-6-3EN 61000-6-4EN 60601-1-2EN 61000-3-2(电源谐波测试)EN 61000-3-3(电源变动测试)EN 61326-1Taipei - Taiwan BSMI (CNS13489 / CNS 13438)二、测试EMI 测试定义:测试待测物EUT产生的辐射干扰强度,分为RE测试和CE测试两种。
1)、RE测试:量测EUT产生的辐射干扰,其测试频率范围:30MHZ~1GHZ。
测试方法:参考相关测试标准EN55022或者其他测试标准;测试距离及场合:10米量测,在开放式场合;测试方式:量测EUT产生的电磁波辐射(30MHZ~1GHZ).2)、CE测试:量测EUT产生的传导辐射干扰,其测试频率范围:150K~30MHZ.测试方法:参考相关测试标准EN55022或者其他测试标准;测试方式1:量测电磁波杂讯出现在EUT的DA和AC电影端(150K~30MHZ);测试方式2:量测电信端口端出现的辐射干扰值(150K~30MHZ).说明:由于RE测试是采用开放式的测试场合,易受空中的广播FM(88MHZ~108MHZ),手机(900MHZ)杂讯的干扰;三、测试要求通过测试EUT,检测其辐射干扰数值1)、FCC测试要求:BA CLASS测试频率 CLASSFrequency (MHz)Limit (dBuV)Limit (dBuV)Q.P.Ave.Q.P.Ave.0.15-0.5796666-5656-460.5-5.0736056465.0-3073606050Frequency (MHz)Limit (dBuV/m)Limit (dBuV/m) 30-2304030230-10004737說明:1. 輻射測試距離為10m2. Class A為產品在商業與工業區域使用3. Class B為產品在住宅及家庭區域使用2)、EN55022测试要求:a).传导干扰测试标准b)共模干扰测试标准:c)辐射干扰测试标准:。
emi检测原理
emi检测原理EMI检测原理EMI(Electromagnetic Interference,电磁干扰)是指电子设备之间或设备与其外部环境之间相互干扰的现象。
在现代社会中,电子设备的数量与种类不断增加,电磁波的频谱也越来越拥挤,因此对EMI进行检测和解决变得尤为重要。
EMI检测是指对电子设备产生的电磁辐射进行检测与分析,以确定其是否满足相关电磁兼容性的要求。
EMI检测的原理主要涉及电磁辐射和电磁感应两个方面。
电磁辐射是指电子设备在工作过程中产生的电磁波通过空气或其他传导介质传播到周围环境中。
这些电磁波包含了各种频率的信号,有些频率可能会对其他设备产生干扰。
因此,EMI检测需要对电磁辐射进行测量和分析,以确定其频谱特征和辐射强度是否符合相关标准。
电磁感应是指电子设备在工作过程中受到来自外部环境的电磁波的干扰。
这些电磁波可能来自其他设备、无线电台、电力线路等。
电子设备中的导线、电路板等元件会通过电磁感应产生电流和电压的变化,进而导致设备的故障或误操作。
因此,EMI检测需要对设备的电磁感应情况进行测试和分析,以确定其对外部电磁干扰的抵抗能力是否符合相关标准。
为了进行EMI检测,通常需要使用专业的测试设备和仪器。
其中,最常用的是频谱分析仪和电磁场探头。
频谱分析仪可以测量电磁辐射的频谱特征和辐射强度,通过显示屏和图表将结果直观地呈现给用户。
而电磁场探头可以测量设备对外部电磁干扰的敏感程度,一般通过指示灯或报警声来提示用户。
在进行EMI检测时,需要注意以下几点:1. 检测环境:EMI检测应该在无电磁干扰的环境中进行,以确保测试结果的准确性。
通常会选择专用的EMI测试室或电磁屏蔽箱进行测试。
2. 测试方法:根据不同的测试要求,可以采用辐射测量、传导测量、辐射与传导联合测量等方法进行EMI检测。
3. 测试标准:EMI检测需要参考相关的国家或行业标准,例如CISPR、FCC等标准,以确定测试参数和限值要求。
4. 问题分析:根据测试结果,如果发现设备存在EMI问题,需要进行问题分析和排查。
emi测试报告要看什么
EMI测试报告要看什么1. 简介EMI(Electromagnetic Interference)电磁干扰是指电子设备之间相互影响产生的电磁干扰现象。
EMI测试旨在评估设备在正常运行时是否产生干扰,并确定其对其他设备的干扰水平。
本文将详细介绍EMI测试报告中需要关注的重要要素。
2. 测试环境首先,EMI测试报告应明确测试所使用的环境。
这包括测试设备的配置,测试室的大小和设备排布,以及测试时的环境条件(如温度、湿度等)。
这些信息有助于其他人了解测试结果的可重复性和可靠性。
3. 测试目标下一步,EMI测试报告应明确测试的目标。
这可以是评估设备的电磁辐射水平,或者评估设备的抗干扰能力。
测试目标的明确性有助于读者理解报告中的测试结果和结论。
4. 测试方法EMI测试报告应提供详细的测试方法和步骤。
这包括测试所用的设备和仪器,测试中使用的软件工具,以及测试的具体过程描述。
提供这些信息可以帮助读者了解测试的可靠性和准确性。
5. 测试数据EMI测试报告中最重要的部分是测试数据。
这包括各种测试场景下的电磁辐射水平、电磁感应水平等数据。
测试数据应以表格或图表的形式呈现,以便于读者的理解和比较。
同时,测试数据应包括测试结果的统计分析,如最大值、最小值、平均值等。
6. 结果分析在EMI测试报告中,结果分析部分对测试数据进行解读和评估。
这包括对测试结果进行趋势分析,比较测试结果与相关标准或规范的要求,评估设备的合格性等。
结果分析的准确性和全面性对于读者理解测试结果和结论至关重要。
7. 结论EMI测试报告的结论部分对测试结果进行总结和评价。
结论应明确地提出设备是否达到了测试目标,是否满足相关标准要求,以及是否存在需要改进的方面。
结论应简明扼要,准确清晰。
8. 建议最后,EMI测试报告中可包含一些建议和改进意见。
这些建议可以针对设备的设计、电磁兼容性修正等方面。
建议的提出有助于改进设备的EMI性能,提高其抗干扰能力。
9. 参考文献EMI测试报告中的参考文献部分列出了在测试过程中使用的相关标准、规范和文献资料。
从傅里叶变换谈EMI测试与分析方法
从傅里叶变换谈EMI测试与分析方法检查波形的频率成分能够揭示出在普通的示波器图形中难以察觉的重要信息。
例如,在标准的波形图上(图1)可能看不出波形的失真或对称性方面的问题。
但是只要看一下波形的频率成分(图2)那些问题就很明显了。
图1:看起来不失真的波形图2:频谱图在过去,观察波形的频率成分需要有频谱分析仪,还要掌握仪器的使用技能。
现在,对于深入的频率分析依然需要这样。
但是,很多基本的频率分析可以用泰克公司TDS3000这样的数字荧光示波器(DPO)来做。
为了能够观察波形的频率成分,泰克TDS3000系列具有模块化的FFT(傅立叶变换)能力。
FFT实际上显示的是波形的频率成分。
这本应用笔记将介绍TDS3000系列FFT频率图的基本知识,频率图的含义和使用方法。
波形的基本构成要了解FFT频率图,就要首先了解波形及其基本构成。
波形又区分为周期性波形和非周期性波形。
为了简单起见,我们先从周期性波形开始。
周期性波形基础。
周期性波形是按照一定的时间间隔或周期多次重复出现的波形。
正弦波、方波和三角波都是常见的周期性波形。
按照傅立叶的理论,所有的周期性波形都是由一组特定的正弦波组成的。
其中的基本正弦波也叫基波,其频率与该波形的频率相同。
例如,1千赫兹方波的基本正弦波的频率也是1千赫兹。
同样,1千赫兹三角波的基本正弦波的频率也是1千赫兹。
从本质上说,基波是波形中最重要的频率成分,它决定了波形的频率或重复周期。
在所有的非正弦周期性波形中,与基本成分同时存在的还有谐波。
谐波是频率为基波频率整倍数的正弦波。
例如,1千赫兹方波的三次谐波是3千赫兹的正弦波,而五次谐波为5千赫兹的正弦波,依此类推直至无限。
除了具有特定的频率之外,周期性波形的基波和谐波还具有特定的振幅和相位关系。
通过这些关系将基波和谐波叠加在一起,就形成了特定的波形。
这一点在图3中有进一步的说明,图中显示了一个方波的前五个频率成分相加在一起。
图3:基波和谐波的叠加注意图3中合成的波形并不是一个准确的方波。
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Impedance Analyzer Design Based on EMI and Lamb Wave Yu-xiang Zhang1, a, Xin Zhang1,b, Shi-yi Chen1,c, Jia-Zhao Chen1,d 1Xi’an Research Inst of Hi-Tech, Xi’an 710025, Chinaa yuxiangz@, b,c,d151********@Keywords: EMI, Lamb Wave, Health monitoringAbstract. EMI and the Lamb Wave technology are two kinds of mainstream active detection method in health monitoring , which have a long-term development. Health monitoring based on the combination of the EMI technology and Lamb wave, can be either a single method to conduct monitoring and analysis of specific structure ,or two methods together to conduct more comprehensive damage monitoring.IntroductionEMI technology is based on the global vibration method to detect structural local damage, sensitivity to the initial small damage of some large structure. PZT is sensitive to its sensing range of injury, but with less sensitivity to the area of far away. In a large structure, often take the form of the PZT array to realize health monitoring. EMI technology can qualitatively react the damage conditiont commonly, also can determine the basic damage location.Effect of Lamb wave technology on the far field damage recognition is obvious, commonly used to monitor in motor shell, pipe, plate structure, the structure of the aviation wing skin and transmission line, but because of its limitations, it can only be used to monitor in the thickness and the excitation wave length in the structure of the same order of magnitude. Having the dispersive and multi-mode characteristics, its signal contains more information than the traditional stress wave, so that it can in the limited frequency range produce a large amount of data points[1-5].The health monitoring system based on PZT is studied. Meanwhile, on the basis of EMI and Lamb wave, giving full play to their respective advantages and overcoming the limitations of a single monitoring, health monitor was designed. Monitoring in the sheet structure containing crack illustrates the validity and reliability of health monitor higher.1 System overall scheme design1.1 The system hardware design and implementationSystem used STM32 development board as the core controller, respectively controlling AD5933 and AD9833 to realize signal incentives, whose waveform is sine wave and sine wave after modulation. And it acquires data by controlling AD5933 and ADS930, and communicating respectively on the IIC and SPI, uses KEY0, KEY1 on the development board as EMI and Lamb wave monitoring switch button respectively.Specific EMI and Lamb wave parts hardware is the same as the third and fourth chapter. The hardware block diagram is shown in figure 1:STM32Lamb Wave Signal Incentive Module EMIIncentiveAcquisitionModule Mobile PowerLamb Data Acquiring ModulePZTPZTFigure 1 health monitor experimental block diagram1.2 The design and implementation of system softwareSoftware is compiled by RVMDK, mainly complying the communication and display of AD5933, AD9833, ADS930, IIC, SPI. By compiling the enable of KEY0, KEY1, swaps between EMI technology and the Lamb wave technology are conducted.2 Sheet containing crack monitoring analysis of composite structureThis experiment was carried out on the thin plate structure. Plate size is 500 mm * 300 mm * 1 mm, PZT1, PZT2, PZT3 paste position are shown in figure2. The distance between PZT1 and PZT2, PZT3 is 200 mm and 300 mm respectively. 1 for non-destructive, between PZT1, PZT2 on plate2 is there a line crack in 5 mm long.500mm 300mm100mm 100mm100mm PZT3PZT1PZT2Figure 2 contains crack plate structure test specimen figureContrast between plate1 and 2 reacts admittance modulus values change of with and without damage. During the EMI test PZT piezoelectric patches is excited by peak of 10V sine voltage, to measure frequency between 10-100 kHz admittancespectroscopy of bolt looseness. X axis as the frequency, is divided into an average of 200 points, and the step frequency of it is 4.5 kHz; meanwhile Y axis is for the admittance values. Solid lines represent the nondestructive curve plate, and dotted lines represent the damage curve plate. Lamb wave experiment selects frequency whose thickness is 1 MHz/mm. By composite monitoring of EMI technology and the Lamb wave technology, specific contrast between EMI and Lamb wave experiment is presented in figures(a)-(d). As is shown in figure3:(a) PZT2 contrast at 10-100 kHz (b) PZT1 contrast at 10-100 kHz(c) PZT2 contrast at 40-50 kHz (d) PZT2 contrast at 40-50 kHz(e) PZT2 on nondestructive condition (f) PZT2 on damage conditionS0S0A0A0(g) PZT1 on nondestructive condition (h) PZT1 on damage conditionFigure 3 composite plate structure containing crack monitoring figure Comprehensive analysis of EMI and Lamb wave experiment figure, can draw the following conclusion:(1) By EMI technology health monitoring for PZT1 and PZT2 under 10 kHz to 100 kHz frequency is conducted. As can be seen from the admittance chart, PTZ2 change before and after damage is greater than the PZT1, particularly in 20 kHz to 60 kHz frequency, among which the peak has obvious changes and many other peaks is presented. So the experiment proved the fact that EMI technology could be effective for health monitoring, and is sensitive of damage in a certain range, the farther the distance, the lower the sensitivity.(2) From 20 to 30 mm in Lamb wave charts, signal amplitude of A0 mode and S0 obviously observed has obvious changes before and after damage, and at the rear end of waveform, there will be some other new models, such as S1, S2 and A1. Propagation mode changes, by which can judge the existence of structure damage.3 ConclusionIn this paper, based on PZT composite structure health monitoring system is designed. For hardware design, the STM32 act as hardware core, with AD5933, AD9833, ADS930 as incentives and acquisition chip; for software design, KEY0, KEY1 serve as conversion button, using RVMDK software to compile. The system fuses EMI technology and Lamb wave technology, to conduct health monitoring of sheet structure containing the damage. Through the analysis of waveform curve and impedance spectroscopy, The fact that the damage exists and damage location is between PZT1 and 3, and between PZT2 and 3, is qualitatively analysed by Lamb wave charts; then by EMI technology damage existence can be demonstrated, and the damage position can be more accurately located in close distance from PZT2, far from PZT1, and between PTZ2 and PTZ3. The effect is good, so as to lay a foundation for the next step accurate location.AKNOWLEDGEMENTThis work was financially supported by the National Natural Science Foundation of China (51275517,51105346).References[1] H. Lamb. On the Waves in an Elastic Plate. The Proceeding of the Royal Societyof London, 1997:293-312.[2] I A Vietorov. Rayleigh and lamb waves [M]. New Y ork: Plenum Press, 1967.[3] Saravanos D A, P R Heyliger. The Coupled Layerwise Analysis of CompositeBeams with Embedded Piezoelectrie Sensors and Actuators [J].Journal of Intelligent Material SystemsandStruetures. 1995, (6) : 350-362.[4] Saravanos D A, BirmanV, D.A.H opkins. Detection of Delaminations inComposite Beams Using Piezoelectric Sensors [C]. Proceedings of the 35 th Structure, Structural Dyamics and Materials Conference of the AIAA.1994:181-191.[5] Kereel, Klein. Separation of Lamb Waves in Laser Ultrasonics [J]. J inApplications And Science of Computation Intelligence. III Proceedings of SPIE.2000. V ol. 4055:350-361.。