XRD介绍解析
XRD分析方法介绍
XRD分析方法介绍X射线衍射（X-ray diffraction，简称XRD）是一种非常重要的物质结构表征技术，广泛应用于材料科学、化学、地球科学、生命科学等领域。
它通过将X射线射向样品，然后测量和分析X射线经过样品后的衍射图样，从而得到样品的结构信息。
1.非破坏性：XRD是一种非破坏性分析方法，样品在接受X射线照射后不会发生永久性损伤，可以反复使用。
2.不受样品形态限制：XRD适用于固体、液体、薄膜和粉末等形态的样品，对样品的晶型、晶体结构和晶粒尺寸等信息进行分析。
3.高分辨率：XRD可以提供较高的分辨率，可以检测出样品中微小的结构变化，如晶格畸变、相变等。
4.定量分析：XRD可以进行定量分析，通过衍射峰的强度和位置，可以获取样品中不同晶相的含量，并计算晶格参数、物相纯度等信息。
5.多功能性：除了结构表征外，XRD还可以用于拟合数据、表面分析、粒度分析等应用。
1.菲涅尔衍射法：菲涅尔衍射法是一种传统的XRD方法，主要用于粉末样品的结构分析。
它是通过测量样品晶粒间隔的变化，然后将这些信息转换为衍射图样，从而得到样品的结构信息。
2. Laue衍射法：Laue衍射法是一种快速的结构分析方法，主要用于晶体表面和薄膜样品的分析。
它通过将样品放在X射线束下，然后测量并分析样品中衍射出的X射线图样，从而得到样品的结构信息。
3.粉末衍射法：粉末衍射法是一种广泛应用的XRD方法，主要用于粉末样品的结构分析。
它是通过将样品制成细粉，然后进行衍射测量，并根据布拉格方程计算晶格参数和相量等信息。
4.单晶衍射法：单晶衍射法是一种高精度的XRD方法，主要用于单晶样品的结构分析。
它是通过将样品制成单晶，然后测量和分析样品中衍射出的X射线图样，从而得到样品的三维晶体结构信息。
5.傅立叶变换衍射法：傅立叶变换衍射法是一种用于薄膜和多晶样品的XRD方法，主要用于分析样品中的表面形貌、界面反应等信息。
它是通过将样品经过傅立叶变换，将时域中的信号转换为频域中的信号，然后提取相应的结构信息。
XRD的工作原理及应用范围
XRD的工作原理及应用范围概述X射线衍射（X-ray diffraction，简称XRD）是一种重要的材料表征技术。
通过将X射线束照射到材料中，根据材料晶体的结构和原子排布，通过衍射现象获得材料的结晶信息。
本文将详细介绍XRD的工作原理以及应用范围。
工作原理XRD的工作原理基于布拉格定律，即当入射光束与晶体平面间距d满足nλ =2d sinθ时，X射线将会发生衍射现象，其中λ为X射线的波长，θ为入射角，n为衍射阶次。
通过测量衍射角θ和衍射阶次n，可以得到晶体的晶格常数和晶面间距。
XRD实验通常包括以下几个步骤： 1. 材料制备：将待测样品制备成粉末状，或者通过单晶生长获得单晶样品。
2. 光学系统：使用X射线管产生X射线束，通过薄膜或晶体进行滤波和单色化，然后通过镜片或衍射晶体进行聚焦。
3. 样品位置和调节：将样品放置在样品台上，并通过样品台的调节装置进行合适位置的调整。
4. 检测系统：利用光电探测器等探测器测量衍射光的强度，并转换为电信号。
5.数据分析：通过对衍射光的强度进行分析，得到材料的结晶信息。
应用范围XRD在材料科学和相关领域有广泛的应用范围。
以下是XRD常见的应用领域：结晶学研究XRD可以用于研究材料的晶体结构和晶体缺陷。
通过分析XRD衍射图案，可以得到晶体的晶胞参数、晶格对称性和晶体缺陷信息，从而了解材料的结晶性质和应力状态。
材料表征XRD可以用于表征材料的相组成、相变和相纯度。
通过对不同晶相的衍射峰进行定量分析，可以确定材料中各相的含量。
同时，XRD还可以对材料的晶体结构进行定性分析，判断材料是否发生相变或存在杂质。
矿物学研究XRD在矿物学领域的应用非常广泛。
通过对矿石样品的XRD衍射图案进行分析，可以确定矿物组分、晶胞参数和结构拓扑等信息，有助于矿石资源的开发和利用。
相变动力学研究XRD可以用于研究材料的相变动力学行为。
通过连续测量样品在不同温度或压力下的XRD衍射图案，可以得到相变的温度、相变速率和相变机制等信息，为材料相变的研究提供重要数据。
xrd原理
xrd原理X射线衍射（X-ray diffraction，XRD）是一种非常重要的材料表征技术，它可以用来分析晶体结构和晶体学性质。
XRD原理的理解对于材料科学和固体物理研究具有重要意义。
本文将对XRD原理进行详细介绍，希望能够帮助读者更好地理解和应用这一技术。
X射线衍射是一种通过物质对X射线的衍射现象来研究物质结构的方法。
X射线衍射仪是实现这一目的的关键设备，它包括X射线源、样品台、衍射角度测量装置和X射线探测器等部件。
在实验中，X射线源会发出一束单色的X射线，这些X射线经过样品后会发生衍射现象，衍射角度和衍射强度的测量可以提供有关样品晶体结构的重要信息。
X射线衍射的原理基于布拉格定律，即nλ=2dsinθ，其中n为衍射级数，λ为X射线的波长，d为晶格间距，θ为衍射角。
通过测量衍射角和X射线波长，可以计算出晶格间距，从而揭示样品的晶体结构。
对于多晶样品，X射线衍射可以得到晶粒大小和晶粒取向分布等信息。
X射线衍射不仅可以用于固体材料的分析，还可以用于分析液态和非晶态材料。
在液态和非晶态材料的研究中，X射线衍射可以提供材料的局部结构信息，例如原子间的相互作用和配位数等。
因此，X射线衍射在材料科学、物理化学、生物化学等领域具有广泛的应用价值。
除了单晶和多晶材料的分析，X射线衍射还可以用于薄膜、纳米材料和表面结构的研究。
通过X射线衍射技术，可以了解材料的晶体结构、晶格畸变、应变分布等信息，为材料设计和性能优化提供重要参考。
总之，X射线衍射是一种非常重要的材料表征技术，它可以提供关于材料晶体结构的丰富信息。
通过对XRD原理的深入理解，可以更好地应用这一技术进行科研和工程实践。
希望本文对读者有所帮助，谢谢阅读！。
XRD介绍解析PPT课件
X-ray diffraction
Made by Zhaojun
主要问题 • 什么是XRD • 为什么要做XRD • XRD的结果能说明什么问题
2
Background of XRD
Röntgen or Roentgen ray (X ray)
1895年11月8日，德国物理学家伦琴在研究 真空管的高压放电时，偶然发现镀有氰亚铂酸 钡的硬纸板会发出荧光。这一现象立即引起的 细心的伦琴的注意。经仔细分析，认为这是真 空管中发出的一种射线引起的。于是一个伟大 的发现诞生了。由于当时对这种射线不了解， 故称之为x射线。后来也称伦琴射线。
发现的X射线是什么呢？人们初步认为是一种电磁波，于是想通过光栅来观察 它的衍射现象，但实验中并没有看到衍射现象。原因是X射线的波长太短，只 有一埃（1Å）。 1912年德国物理学家劳厄想到了晶体，它和x光的波长相近，是天然的光栅， 去找普朗克老师，但没得到支持，去找正在攻读博士的索末菲，两次实验后终 于做出了X射线的衍射实验。
• 1）连续谱的形状与靶的材料无关。 • 2）连续谱存在一最大的能量值，它取决于管电压。
特征X射线谱
• 当管电压超过某临界值时，特征谱 •
才会出现，该临界电压称激发电压。 当管电压增加时，连续谱和特征谱 强度都增加，而特征谱对应的波长 保持不变。 • 钼靶X射线管当管电压等于或高于 20KV时，则除连续X射线谱外，位 于一定波长处还叠加有少数强谱线， 它们即特征X射线谱。 • 钼靶X射线管在35KV电压下的谱线， 其特征x射线分别位于0.63Å和 0.71Å处，后者的强度约为前者强 度的五倍。这两条谱线称钼的K系
特征X射线的产生机理
• 处于激发状态的原子有自发 回到稳定状态的倾向，此时 外层电子将填充内层空位， 相应伴随着原子能量的降低 。原子从高能态变成低能态 时，多出的能量以X射线形 式辐射出来。因物质一定， 原子结构一定，两特定能级 间的能量差一定，故辐射出 的特征X射波长一定。
xrd的应用及原理
XRD的应用及原理引言X射线衍射（X-ray Diffraction, XRD）是一种重要的材料表征技术，广泛应用于材料科学、化学、地质学等领域。
本文将介绍XRD的应用领域以及其原理。
XRD的应用领域1.材料结构分析–XRD可以用于分析材料的晶体结构、组分和晶体缺陷等。
–通过分析材料的衍射峰的位置、强度和形状，可以确定晶体的晶格参数、晶体结构和晶体缺陷类型。
2.材料相变研究–XRD可以用于研究材料的相变行为。
相变时，晶体结构会发生变化，导致衍射峰位置和强度的变化。
–通过监测材料衍射峰的变化，可以研究材料的相变温度、相变过程和相变机制。
3.薄膜和薄片分析–XRD可以用于分析薄膜和薄片的晶体结构和厚度。
–通过分析衍射峰的宽度和位置，可以确定薄膜或薄片的晶格参数和厚度。
4.晶体定向分析–XRD可以用于分析晶体的定向性。
不同晶面的衍射峰位置和强度不同，通过分析衍射峰的特征，可以确定晶体的定向性。
–晶体定向分析在材料加工和材料性能研究中具有重要意义。
XRD的原理XRD基于布拉格衍射原理，即入射X射线与晶体的晶面间距相等时，发生衍射现象。
下面是XRD的基本原理：1.生成X射线–通过X射线发生器产生X射线。
X射线发生器通常包括X射线管和高压电源，通过加热阴极产生电子束，电子束击打阳极时会产生X射线。
2.照射样品–产生的X射线照射到待测样品上。
样品可以是粉末、薄膜或块体，关键是样品需要是晶体结构。
3.衍射现象–入射X射线与晶体的晶面相互作用，发生衍射现象。
衍射是X 射线经过晶体后，按照一定的角度改变方向而形成的。
4.检测衍射信号–使用X射线探测器检测样品的衍射信号。
常用的探测器包括点状探测器和线状探测器，可以用于测量衍射峰的位置和强度。
5.分析数据–通过分析探测到的衍射信号数据，可以确定材料的晶格参数、晶体结构、晶体缺陷等信息。
–可以使用布拉格方程和衍射峰的位置计算晶格参数，使用峰的强度和形状分析晶体结构和缺陷。
XRD结构解析基础解析_2022年学习资料
X射线的产生-电子束激发靶材料原子的内层电子，外层电子-跃迁至内层，发射出X射线。固定波长，其波-长随靶原 种类而定-电子作加速度运动时，也产生X射线，产生的-是连续谱-M shell-L shell.-K she l-nucleus-、-Ka1Ka2K邓1K邸2-强度比：-o1:o2:K0=10:5:2
晶面，晶向-421-由不在一条直线上点阵的三个结点-hk】-8A.-构成一个晶体学平面，简称晶面-晶面指相 平行的所有晶面。相邻-两个个别平面的垂直距离称晶面间-IA 2A 3A 4A-品面以晶面指数nk表示-与原 相距最近的平面与4，b,c三-轴相交于a/2,D/k,c/1的那一组-do时-品面即为hkL晶面，九，k, 应-是整数-品面指数又称米勒指数-100】-20-110-10j-12
晶体点阵-晶体：原子在三维空间中长程有-序排列-晶胞：重复排列的最小单元称晶胞-晶胞参数：三个轴长4，b, -三个轴的夹角a,B,Y-按排列规律可分为7种晶系，14种-点阵，230种空间群-大部分种类的物质是晶体
7种晶系，14种点阵，晶胞参数（边长a,b,c夹角aB,-晶体：原子的三维空间长程有序排列。重复排列-的最 单元称晶胞。按排列规律可分为7种晶系，-14种点阵，230种空间群。-简单单斜-底心单斜-a≠b丰c-a= =90°≠B-简单立方-体心立方-面心立方-a=b=c-c=p=Y=90-三斜-a≠b≠c-@≠Y丰B≠9 °-简单四方（正方）-体心四方（正方）-a=b丰c-a=B=Y=90°-六方a=b≠c,a=β =90°，Y 120°-简单正交-体心正交-底心正交面心正交-三方凌形-a=b=c,90°≠a=B=Y<120°-a≠b ca=B=y=90
射线的产生，旋转靶-电子束-衍射仪用封闭式X射线管受靶材料熔点、导热和冷却-条件限制（靶不能熔化），最大功 只有约2kV-旋转靶的电子束轰击在旋转的靶面上的各个部位，-同时通过在旋转轴内的同轴进出水路用水冷却靶的面。-旋转靶面-其受热面积大幅度增加，散热条件改善，电子束流-强可大幅度增加，X射线强度增加-Magnet Pole Piece-常用的型号的最大功率有6,12,18,21-kV几种。最大有90kW的-Magnet c-fluid-旋转靶需要旋转，同时又要水冷却，-就需要动态真空机构-Rotary Shaft-采用磁流体 空密封-Magnetic F月ux Density
X射线衍射仪(XRD)
X 射线衍射仪（XRD ）1、X 射线衍射仪（XRD ）原理当一束单色 X 射线照射到晶体上时，晶体中原子周围的电子受X 射线周期变化的电场作用而振动，从而使每个电子都变为发射球面电磁波的次生波源。
所发射球面波的频率与入射的X 射线相一致。
基于晶体结构的周期性，晶体中各个原子（原子上的电子）的散射波可相互干涉而叠加，称之为相干散射或衍射。
X 射线在晶体中的衍射现象，实质上是大量原子散射波相互干涉的结果。
每种晶体所产生的衍射花样都反映出晶体内部的原子分布规律。
根据上述原理，某晶体的衍射花样的特征最主要的是两个：（1）衍射线在空间的分布规律；（2）衍射线束的强度。
其中，衍射线的分布规律由晶胞大小，形状和位向决定，衍射线强度则取决于原子的品种和它们在晶胞的位置，因此，不同晶体具备不同的衍射图谱。
在混合物中，一种物质成分的衍射图谱与其他物质成分的存在与否无关，这就是利用X 射线衍射做物相分析的基础。
X 射线衍射是晶体的“指纹”，不同的物质具有不同的X 射线衍射特征峰值(点阵类型、晶胞大小、晶胞中原子或分子的数目、位置等)，结构参数不同则X 射线衍射线位置与强度也就各不相同，所以通过比较X射线衍射线位置与强度可区分出不同的物质成分。
布拉格方程，其中n 为衍射级数图1.1 布拉格衍射示意图布拉格方程反映的是衍射线方向和晶体结构之间的关系。
对于某一特定的晶体而言，只有满足布拉格方程的入射线角度才能够产生干涉增强，才会出现衍射条纹，这就是XRD 谱图的根本意义所在。
对于晶体材料，当待测晶体与入射束呈不同角度时，那些满足布拉格衍射的晶面就会被检测出来，体现在X 射线衍射（XRD ）图谱上就是具有不同的衍射强度的衍射峰。
对于非晶体材料，由于其结构不存在晶体结构中原子排列的长程有序，只是在几个原子范围内存在着短程有序，故非晶体材料的X 射线衍射（XRD ）图谱为一些漫散射馒头峰。
n λ=2dsin θ应用已知波长的X射线来测量θ角，从而计算出晶面间距d，这是用于X射线结构分析；另一个是应用已知d的晶体来测量θ角，从而计算出特征X射线的波长，进而可在已有资料中查出试样中所含的元素。
一文看懂X射线衍射仪XRD基本原理
一文看懂X射线衍射仪XRD基本原理X射线衍射仪（X-ray diffraction，简称XRD）是一种用于研究物质结构的仪器。
它基于X射线和物质晶体间的相互作用，通过测量晶体对入射X射线的衍射现象，可以推断出晶体结构的信息。
XRD的基本原理可以概括为以下几个方面：1.X射线的产生：X射线是由高速运动的电子通过高能电压加速器加速而产生的。
当电子的速度足够高时，电子与原子核的相互作用会产生特定能量的X射线。
2.X射线的衍射：当入射X射线与晶体相互作用时，X射线会发生衍射现象。
晶体的晶格结构决定了入射X射线的衍射角度和强度分布，衍射实验可以通过观察衍射图样来分析晶体的结构信息。
3. 布拉格方程：布拉格方程是描述衍射现象的数学关系。
它可以表示为2dsinθ = nλ，其中d为晶胞间距，θ为衍射角度，n为衍射级数，λ为入射X射线的波长。
根据布拉格方程，通过测量衍射角度和已知入射X射线的波长，可以确定晶胞间距d。
4.衍射图样解析：通过观察衍射图样，可以得到衍射峰的位置和强度信息。
每个衍射峰对应一个特定的晶面族，通过解析衍射峰的位置和强度分布，可以确定晶格参数和晶体的结构。
5.数据处理：XRD实验通常会得到一系列衍射峰的位置和对应的强度数据。
为了获得更准确的晶体结构信息，需要进行一系列的数据处理和分析。
常用的处理方法包括数据平滑、背景减除、衍射峰拟合等。
XRD广泛应用于材料科学、物理学、化学等领域，通过分析物质的晶体结构，可以了解材料的晶格参数、晶体缺陷、晶体取向和结晶度等重要信息。
同时，XRD还可以用于粉末衍射、薄膜衍射、单晶衍射等不同类型的实验，以满足不同应用的需要。
总之，X射线衍射仪是一种基于X射线的仪器，通过测量晶体对入射X射线的衍射现象来研究物质的结构。
它的基本原理包括X射线的产生、X射线的衍射、布拉格方程、衍射图样解析和数据处理等方面。
XRD在材料科学和相关领域中具有重要的应用价值。
XRD分析方法与原理
XRD分析方法与原理XRD（X射线衍射）是一种常用的材料表征方法，主要用于分析材料的晶体结构、晶格参数、晶体质量、相变、畸变等信息。
本文将重点介绍XRD分析方法和原理。
一、XRD分析方法1．样品制备样品制备是XRD分析的第一步，在分析前需要制备符合要求的样品。
对于晶体实验，需要制备单晶样品，通常通过溶液法、溶剂挥发法、梳子法等方法产生单晶样品。
对于非晶体实验，需要制备适当粒度的多晶粉末样品，通常通过高温煅烧、溶剂挥发、凝胶法、机械研磨等方法制备。
2．仪器调试在进行XRD分析之前，需要对X射线衍射仪进行仪器调试。
主要包括对X射线源、样品台、X射线管、光学路径、X射线探测器等进行调节和优化，以保证仪器的性能和准确性。
其中，X射线源的选择和强度的调节对实验结果有重要影响。
3．X射线衍射数据采集在XRD分析中，可以通过改变探测器固定角度和旋转样品台的方式来获取衍射强度与入射角度的关系。
常用的采集方式有传统的扫描模式（2θ扫描或θ/θ扫描）和快速模式（2D探测器或0D点探测器）。
根据样品的特征和所需分析结果选择合适的采集方式。
同时，为了提高信噪比，通常要对衍射强度进行积分或定标。
4．数据处理和解析XRD数据处理和解析是对原始数据进行整理、滤波、相峰识别、数据拟合和解析的过程。
数据处理主要包括基线校正、噪声过滤和峰识别等，以提高数据质量。
数据解析主要是通过拟合方法获得样品的晶体结构参数（晶格常数、晶胞参数）、相对晶粒尺寸、晶体缺陷等信息。
二、XRD分析原理XRD分析原理基于X射线与晶体原子间的相互作用。
当X射线通过物质时，会与物质中的原子发生散射。
其中，由于X射线与晶体中的周期性排列的原子发生构型相吻合的散射，形成相干衍射。
X射线由晶体平面散射后的干涉衍射，在探测器上形成强度峰，峰强度与晶胞架构和原子排布有关。
1．布拉格方程布拉格方程是XRD分析的基本原理之一、它描述了X射线与晶体平面的相互作用。
布拉格方程为：nλ = 2dsinθ，其中n为整数，λ为入射X射线波长，d为晶胞面间距，θ为衍射角度。
xrd的原理和应用
XRD的原理和应用1. X射线衍射原理X射线衍射（X-ray diffraction，简称XRD）是一种利用物质结构对入射的X射线进行衍射而得到结构信息的方法。
它是通过X射线与物质中的原子或离子相互作用而产生衍射效应，进而分析物质的晶体结构。
X射线衍射的原理可以简化为以下几个步骤：1.入射X射线与晶体中的原子相互作用，并发生衍射现象。
当入射X射线的波长与晶体中的晶格常数相近时，入射X射线与晶体的原子之间会发生相干散射，从而产生衍射现象。
2.衍射现象产生衍射波。
入射X射线在晶体中衍射后，会产生许多次级波，即衍射波。
这些衍射波的相位和振幅受晶体中原子的排列方式和晶体结构的影响。
3.衍射波的叠加形成衍射图样。
衍射波在空间中叠加时，由于不同的衍射波之间可能有相位差，会形成一定的干涉图样。
这些干涉图样可以通过检测器记录下来，然后进行进一步的分析和解释。
2. X射线衍射的应用X射线衍射技术在材料科学、生物学、化学等领域有着广泛的应用。
以下是X 射线衍射在不同领域中的主要应用：2.1. 材料科学1.晶体结构分析：X射线衍射可以通过测量晶体衍射图样来推断物质的晶体结构，包括晶胞参数、原子位置和晶体对称性等信息。
这对于研究材料的晶体结构、理解材料的物理性质具有重要意义。
2.材料相变研究：X射线衍射可以用于研究材料中的相变现象，例如晶体的相变、晶体的失序化等。
通过观察衍射图样的变化，可以获得材料在相变过程中的结构演变信息。
3.金属薄膜和涂层研究：X射线衍射可以用于研究金属薄膜和涂层的结构、晶体取向和应力等信息。
这对于材料表面加工和涂层工艺的研发具有重要作用。
2.2. 生物学1.蛋白质结构研究：X射线衍射可以用于解析蛋白质的结构。
通过测量蛋白质的X射线衍射图样，可以确定蛋白质的原子位置和空间结构，从而帮助研究蛋白质的功能和折叠机制。
2.药物设计和结构优化：X射线衍射可以用于研究药物和蛋白质的相互作用。
通过测量药物和蛋白质复合物的X射线衍射图样，可以确定药物与蛋白质的结合方式和空间结构，为药物设计和结构优化提供指导。
XRD基本原理范文
XRD基本原理范文X射线衍射（X-ray Diffraction，XRD）是一种强大的分析技术，能够确定晶体结构、晶格参数、晶体形态以及材料中可能存在的缺陷等信息。
它基于X射线的散射现象，通过测定散射光的强度、角度和波长等参数来分析样品的晶体结构和组成。
下面详细介绍XRD的基本原理。
X射线是一种高能电磁辐射，具有很短的波长，可以穿透物质，并与其相互作用。
当入射X射线照射到晶体上时，它会与晶体中的电子和原子核发生作用，导致X射线的散射现象。
这种散射分为弹性散射和非弹性散射。
弹性散射是指入射X射线发生散射后，其频率和波长保持不变。
这种散射主要由晶体中的电子发生作用而产生。
当X射线穿过晶体时，它与晶体中的电子发生库仑相互作用，导致电子发生加速和变向。
根据散射光的波长和角度，可以通过劳厄方程推导散射光的干涉条件，从而确定晶体的晶格参数和晶体结构。
非弹性散射是指入射X射线发生散射后，其频率和波长发生变化。
这种散射主要由晶体中的原子核发生作用而产生。
当X射线穿过晶体时，它与晶体中的原子核相互作用，导致原子核发生振动和能级改变。
通过测量散射光的能谱，可以分析晶体的组成和材料性质。
X射线衍射实验主要利用了入射X射线的波动性和晶体的周期性结构。
在实验中，用于产生X射线的源会发射出一束单色的X射线，并照射到样品上。
样品中的晶体结构会对入射的X射线进行衍射，形成衍射光。
衍射光经过适当的仪器装置后，会被探测器接收并生成衍射图样。
衍射图样中，X射线经过晶体衍射后，按照劳厄方程与干涉条纹的特点，呈现出一系列明暗相间的环形和锥形条纹，这些条纹称为衍射峰。
每个衍射峰对应于晶体在特定方向上的布拉格角度。
通过测量衍射峰的位置和强度，可以得到晶面间距、晶体的晶格参数和晶体结构信息。
为了实现X射线的衍射实验，需要一系列的仪器设备。
包括：X射线管产生出X射线，由预准直器定向X射线束，样品通过样品台固定在适当的位置，探测器用于接收和记录衍射光的信息，最后，通过数据分析和处理得到所需的结果。
xrd的原理及其在材料检测中的应用
X射线衍射（XRD）的原理及其在材料检测中的应用1. X射线衍射的原理X射线衍射（X-ray Diffraction, XRD）是一种通过物质与X射线相互作用，产生衍射现象，从而分析物质的结构和组成的技术。
其原理基于衍射现象，通过测量衍射角和衍射强度，可以确定物质的晶体结构、晶格参数和物相组成。
1.1 X射线的产生X射线是一种高能电磁波，可通过X射线发生器产生。
X射线发生器将高速运动的电子束轰击金属靶材，产生了高能电子与靶材原子相互作用的能量。
靶材原子中的电子被束缚态向束缚态的跃迁能级跃迁时，会释放出X射线。
1.2 X射线与物质相互作用当X射线照射到物质表面时，会发生反射、散射、吸收和衍射等现象。
其中，衍射是指X射线在晶体中发生多次反射后发生干涉现象，形成了衍射图样。
1.3 衍射效应X射线在晶体中的衍射效应是X射线衍射技术的核心原理。
晶体的结构可以看作是一系列周期性排列的原子或离子，当入射的X射线与晶格中的原子进行相互作用时，根据布拉格定律，会形成衍射图案。
2. X射线衍射在材料检测中的应用X射线衍射技术有着广泛的应用领域，尤其在材料检测中，其应用不断拓展，并取得了重要的成果。
2.1 晶体结构分析X射线衍射技术可以用来分析晶体的结构和晶格参数。
通过测量衍射图案的衍射角和衍射强度，可以推导出晶格常数、晶胞参数、晶胞体积等信息。
这对于研究材料的晶体结构以及材料的性质具有重要意义。
2.2 物相分析物相分析指的是通过X射线衍射技术确定材料中存在的物相。
不同的物相在衍射图案中会产生不同的峰位和峰形。
通过对衍射图案的解析，可以确定材料中的物相组成，进一步了解材料的相对含量、纯度、晶格缺陷等信息。
2.3 残余应力分析X射线衍射技术还可以用来分析材料中的残余应力。
当材料受到外力作用时，会导致晶体结构变形，从而产生残余应力。
这些残余应力可以通过衍射图案中的晶格畸变来表征。
残余应力分析对于材料的强度、耐久性等性能评估以及工艺控制具有重要意义。
(完整word版)XRD基本原理
一文看懂XRD基本原理（必收藏）XRD全称X射线衍射（X-Ray Diffraction）,利用X射线在晶体中的衍射现象来获得衍射后X射线信号特征，经过处理得到衍射图谱。
利用谱图信息不仅可以实现常规显微镜的确定物相，并拥有“透视眼”来看晶体内部是否存在缺陷（位错）和晶格缺陷等，下面就让咱们来简要的了解下XRD的原理及应用和分析方法，下面先从XRD原理学习开始。
1X射线衍射仪的基本构造XRD衍射仪的适用性很广，通常用于测量粉末、单晶或多晶体等块体材料，并拥有检测快速、操作简单、数据处理方便等优点，是一个标标准准的“良心产品”。
在X射线衍射仪的世界里， X射线发生系统（产生X射线）是“太阳”，测角及探测系统（测量2θ和获得衍射信息）是其“眼睛”，记录和数据处理系统是其“大脑”，三者协同工作，输出衍射图谱。
在三者中测角仪是核心部件，其制作较为复杂，直接影响实验数据的精度，毕竟眼睛是心灵的窗户嘛！下面是X射线衍射仪和测角仪的结构简图。
XRD结构简图XRD立式测角仪2X射线产生原理X射线是一种频率很高的电磁波，其波长为10-8-10-12m远比可见光短得多，因为其穿透力很强，并且其在磁场中的传播方向不受影响。
小提示：X射线具有一定的辐射，对人体有一定的副作用，目前主要铅玻璃来进行屏蔽。
X射线是由高速运动的电子流或其他高能辐射流（γ射线、中子流等）流与其他物质发生碰撞时骤然减速，且与该物质中的内层原子相互作用而产生的。
X射线管的结构不同的靶材，因为其原子序数不同，外层的电子排布也不一样，所以产生的特征X射线波长不同。
使用波长较长的靶材的XRD所得的衍射图峰位沿2θ轴有规律拉伸；使用短波长靶材的XRD谱沿2θ轴有规律地被压缩。
但需要注意的是，不管使用何种靶材的X 射线管，从所得到的衍射谱中获得样品面间距d值是一致的，与靶材无关。
辐射波长对衍射峰强的关系是:衍射峰强主要取决于晶体结构，但是样品的质量吸收系数（MAC）与入射线的波长有关，因此同一样品用不同耙获得的图谱上的衍射峰强度会有稍微的差别。
xrd的原理与应用
XRD的原理与应用1. XRD的原理X射线衍射（XRD）是一种通过测量物质对入射X射线的衍射来分析样品晶体结构的技术。
其原理基于布拉格方程，即入射光与晶体晶面衍射时的相位条件。
XRD通过测量被物质表面反射或晶体内部散射的X射线来确定晶格参数、晶体结构和组分。
X射线通过物质时会与物质中的原子发生相互作用。
入射X射线进入晶体后，与晶体中的晶面发生散射，散射的X射线会在特定的角度下与入射X射线发生干涉，形成衍射曲线。
根据布拉格方程，衍射角度和晶格参数之间存在关系。
通过测量衍射角度，可以计算晶格参数，进而确定晶体结构。
2. XRD的应用X射线衍射广泛应用于材料科学、化学、生物学等领域，可以用于以下方面的研究和分析：2.1 晶体结构分析X射线衍射可以用于确定物质的晶体结构。
通过测量衍射曲线，可以得到晶体的晶格参数、晶胞体积、晶胞对称性等信息。
这对于研究材料的物理性质、研发新材料具有重要意义。
2.2 相变研究XRD可以用于研究物质在不同温度、压力等条件下发生的相变过程。
例如，可以通过测量晶体的衍射图案随温度的变化来研究晶体的熔化、晶化过程，或者观察晶体的相变温度。
2.3 成分分析X射线衍射可以鉴定和分析物质的成分。
通过比较样品的衍射图案与数据库中已知的衍射图案，可以确定样品中的晶体相。
这对于材料的组分分析、控制品质具有重要意义。
2.4 晶体定向和纹理分析XRD可以用于表面薄膜、纳米颗粒等薄层材料的定向和纹理分析。
通过测量衍射强度和衍射角度的变化，可以推断薄层材料中晶体的定向关系和晶体取向的偏好方向。
2.5 应力分析通过测量样品的衍射曲线，可以分析晶格的畸变和晶体中的应力状态。
这对于材料的力学性能研究和工程应用具有重要意义。
3. XRD的优势和限制3.1 优势•非破坏性：XRD是一种非破坏性的分析技术，可以对样品进行非侵入性的测量。
•高分辨率：XRD具有很高的分辨率，可以解析出样品中微小晶体的衍射信号。
•多样性：XRD适用于各种材料，包括晶体、非晶体、液晶体等。
XRD数据分析全面详细
XRD数据分析全面详细X射线衍射（XRD）数据分析是一种重要的实验技术，用于研究晶体的结构和确定物质的组成。
通过对XRD数据的分析，可以获取样品的晶胞参数、晶体结构信息、晶体取向、晶体缺陷等相关信息，从而揭示物质的物理性质和化学性质。
数据预处理是指对原始XRD数据进行预处理，以去除噪声和增强信号。
首先，需要对数据进行背景减除，将样品信号与背景噪声进行分离。
常用的背景减除方法包括线性背景减除、多项式背景减除和样条插值等。
其次，需要进行峰和峰型修正，确定峰的位置和形状。
常用的峰算法包括二次导数法、峰法和互相关法等。
谱峰拟合是指对预处理后的XRD数据进行拟合，以获得峰的参数和相对强度。
常用的谱峰拟合算法包括高斯函数、洛伦兹函数和泊松函数等。
拟合曲线的质量可以通过拟合优度因子R和拟合残差进行评估。
如果拟合优度因子R接近于1，且拟合残差较小，则表明拟合结果较好。
数据解析是指根据峰的位置和形状，利用衍射原理和晶体学知识，推导出样品的晶胞参数和晶体结构信息。
首先，可以通过布拉格方程计算出每个峰对应的衍射角度，进而计算出晶胞参数。
其次，根据峰的位置和相对强度，可以推测出晶体结构的空间群类型。
最后，可以通过比较实验数据和文献数据，确定样品的晶体结构类型。
除了上述基本步骤外，XRD数据分析还可以应用其他高级技术进行进一步研究。
例如，通过倒易空间分析，可以研究晶体取向和晶体缺陷；通过拉曼光谱和傅里叶变换红外光谱（FTIR）等技术，可以揭示样品的化学成分和分子结构。
总之，XRD数据分析是一项复杂而重要的科学技术，可以从晶胞参数到晶体结构等方面揭示物质的性质和结构。
科学家们通过不断改进XRD技术和理论模型，使得XRD数据分析在材料科学、地球科学、生物科学等领域中发挥了重要的作用。
xrd基本原理
xrd基本原理
xrd基本原理：XRD是指X射线衍射技术，是一种分析材料晶体结构的方法。
它基于X 射线与物质原子之间的相互作用，通过测量物质中晶体反射出来的X射线的衍射图案，来研究材料的晶体结构、组成和取向等信息。
XRD的基本原理如下：
X射线入射：首先，需要向测试样品投射一束单色X射线，以获得一定波长的X射线。
与样品反射：X射线与样品中的原子核和电子发生相互作用。
如果样品中存在晶体，那么X射线就会被晶体中的原子阵列所反射、散射或吸收。
衍射现象：当X射线与晶体中的原子阵列发生共振时，会出现衍射现象。
这种衍射现象是由晶体中的原子核正、负离子所形成的点阵所引起的。
衍射图案：通过使入射角度不同，就可以观察到不同的衍射角度，进而得到不同的衍射图案。
这些图案可以提供有关晶体结构、晶体取向和相对含量等信息。
数据分析：根据测试结果，可以通过X射线衍射仪器分析软件来确定样品的晶体结构、晶格常数、晶体取向、杂质成分等物理化学性质的信息。
总之，XRD是一种非破坏性的分析方法，可用于研究与开发各种新型材料。
一文看懂XRD基本原理（必收藏）
一文看懂XRD基本原理（必收藏）展开全文XRD全称X射线衍射（X-RayDiffraction）,利用X射线在晶体中的衍射现象来获得衍射后X射线信号特征，经过处理得到衍射图谱。
利用谱图信息不仅可以实现常规显微镜的确定物相，并拥有“透视眼”来看晶体内部是否存在缺陷（位错）和晶格缺陷等，下面就让咱们来简要的了解下XRD的原理及应用和分析方法，下面先从XRD原理学习开始。
1X射线衍射仪的基本构造XRD衍射仪的适用性很广，通常用于测量粉末、单晶或多晶体等块体材料，并拥有检测快速、操作简单、数据处理方便等优点，是一个标标准准的“良心产品”。
在X射线衍射仪的世界里，X射线发生系统（产生X射线）是“太阳”，测角及探测系统（测量2θ和获得衍射信息）是其“眼睛”，记录和数据处理系统是其“大脑”，三者协同工作，输出衍射图谱。
在三者中测角仪是核心部件，其制作较为复杂，直接影响实验数据的精度，毕竟眼睛是心灵的窗户嘛！下面是X射线衍射仪和测角仪的结构简图。
XRD结构简图XRD立式测角仪2X射线产生原理X射线是一种频率很高的电磁波，其波长为10-8-10-12m远比可见光短得多，因为其穿透力很强，并且其在磁场中的传播方向不受影响。
小提示：X射线具有一定的辐射，对人体有一定的副作用，目前主要铅玻璃来进行屏蔽。
X射线是由高速运动的电子流或其他高能辐射流（γ射线、中子流等）流与其他物质发生碰撞时骤然减速，且与该物质中的内层原子相互作用而产生的。
X射线管的结构不同的靶材，因为其原子序数不同，外层的电子排布也不一样，所以产生的特征X射线波长不同。
使用波长较长的靶材的XRD所得的衍射图峰位沿2θ轴有规律拉伸；使用短波长靶材的XRD谱沿2θ轴有规律地被压缩。
但需要注意的是，不管使用何种靶材的X射线管，从所得到的衍射谱中获得样品面间距d值是一致的，与靶材无关。
辐射波长对衍射峰强的关系是:衍射峰强主要取决于晶体结构，但是样品的质量吸收系数（MAC）与入射线的波长有关，因此同一样品用不同耙获得的图谱上的衍射峰强度会有稍微的差别。
xrd傅里叶变换
xrd傅里叶变换XRD傅里叶变换：解析晶体结构的利器导语：傅里叶变换是一种将信号从时域转换到频域的数学工具，广泛应用于信号处理、图像处理以及谱分析等领域。
而X射线衍射（X-ray diffraction，XRD）则是一种利用X射线研究物质晶体结构的技术。
本文将探讨如何将傅里叶变换应用于XRD数据处理，解析晶体结构的方法和优势。
一、XRD简介X射线衍射是通过将X射线照射在物质晶体上，利用晶体中的原子排列引起的衍射现象，来研究物质晶体结构的技术。
XRD是一种非常常用的方法，被广泛应用于材料科学、固态物理、地质学等领域。
通过XRD实验，可以获得物质晶体的衍射图谱，进而从中获取晶体结构的信息。
二、傅里叶变换与XRD傅里叶变换可以将一个信号从时域转换到频域，通过将XRD数据应用于傅里叶变换，可以得到物质晶体的频域信息。
这对于解析晶体结构非常有帮助。
在XRD实验中，我们通过测量物质晶体对X射线的衍射强度来获取衍射谱。
然后，应用傅里叶变换将衍射谱从角度空间转换到倒格矢空间，得到晶体中原子的位置和分布信息。
三、XRD傅里叶变换的优势1.高分辨率：XRD傅里叶变换可以提供高分辨率的晶体结构信息，能够解析出晶体中原子的位置和分布情况，从而揭示晶体的结构特征。
2.无损分析：XRD实验无需对样品进行破坏性处理，可以对材料进行非破坏性的结构分析，保持样品的完整性。
3.快速获取信息：XRD傅里叶变换可以通过计算得到晶体的结构信息，相比传统的试错法，节省了大量的实验时间和成本。
4.广泛适用性：XRD傅里叶变换适用于各种晶体材料的结构分析，包括无机物、有机物、金属材料等，具有广泛的适用性。
四、XRD傅里叶变换的应用领域1.材料科学：XRD傅里叶变换在材料科学中被广泛应用于晶体材料的结构分析、相变研究以及材料性能的改进等方面。
2.固态物理：XRD傅里叶变换可以用来研究固态物理中的晶体结构、缺陷和畴壁等问题，为固态物理研究提供重要的实验手段。
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两种几何光路
Bragg-Brentano Geometry
1.扫描范围 2. 步长 3.扫描速度
两种几何光路
Parallel Beam Geometry 1.掠射角大小
XRD实验条件选择 （一）试样
• 衍射仪试样可以是金属、非金属的块状、片状或各种粉末。 对于块状、片状试样可以用粘接剂将其固定在试样框架上， 并保持一个平面与框架平面平行；粉末试样用粘接剂调和 后填入试样架凹槽中，使粉末表面刮平与框架平面一致。 试样对晶粒大小、试样厚度、择优取向、应力状态和试样 表面平整度等都有一定要求。 • 衍射仪用试样晶粒大小要适宜，在1μm-5μm左右最佳。 粉末粒度也要在这个范围内，一般要求能通过325目的筛 子为合适。试样的厚度也有一个最佳值，大小为：
• 伦琴发现，不同物质对x射线的 穿透能力是不同的。他用x射线拍 了一张其夫人手的照片。很快，x 射线发现仅半年时间，在当时对x 射线的本质还不清楚的情况下，x 射线在医学上得到了应用。发展了 x射线照像术。 • 1896年1月23日伦琴在他的研究 所作了第一个关于x射线的学术报 告。 • 1896年，伦琴将他的发现和初步 的研究结果写了一篇论文，发表在 英国的《nature》杂志上。 • 1910年，诺贝尔奖第一次颁发， 伦琴因x射线的发现而获得 sin t '
实验条件选择 （二）实验参数选择
• 实验参数的选择对于成功的实验来说是非 常重要的。如果实验参数选择不当不仅不 能获得好的实验结果，甚至可能将实验引 入歧途。在衍射仪法中许多实验参数的选 择与德拜法是一样的。
• 与德拜法不同的实验参数是狭缝光栏、时 间常数和扫描速度。
发现的X射线是什么呢？人们初步认为是一种电磁波，于是想通过光栅来观察 它的衍射现象，但实验中并没有看到衍射现象。原因是X射线的波长太短，只 有一埃（1Å）。 1912年德国物理学家劳厄想到了晶体，它和x光的波长相近，是天然的光栅， 去找普朗克老师，但没得到支持，去找正在攻读博士的索末菲，两次实验后终 于做出了X射线的衍射实验。
叠加而加强的方向称为X射线晶体衍射方向。
衍射强度
• 影响衍射强度的因素主要有如下两点：
– (1) 与衍射方向相联系的衍射指标hkL； – (2) 晶胞中原子的种类和分布（空间坐标）。
• 原子受 X 射线的作用，主要是对电子的作用，即原子 的散射因子 fj 的数值决定于原子的电子结构，即相同
电子层结构的原子散射因子fj相同。例k+和Cl-两种离子
Q P M R K N
2
1 3
d
L
实质：对于一定波长X射线，一定的面间距的晶 面只在特定的角度产生衍射——选择性反射。
X射线衍射方向
X 射线的晶体衍射方向是指与晶体周期性点阵结构
相联系的原子散射产生的 X射线互相干涉迭加加强的 那些方向。
次生X射线：
晶体结构中的原子、电子在 X 射线作用下，每一个 电子作受迫振动，形成了向四周发射电磁波的波源， 即为次生X射线。 当次生X射线的频率与入射X射线的频率相同，波的
特征X射线的命名方法
• 同样当K空位被M层电子填充时，则产生Kβ辐射。M能 级与K能级之差大于L能级与K能级之差，即一个Kβ光子 的能量大于一个Kα光子的能量； 但因L→K层跃迁的几 率比M→K跃迁几率大，故Kα辐射强度比Kβ辐射强度大 五倍左右。
• 显然， 当L层电子填充K层后，原子由K激发状态变成L激 发状态，此时更外层如M、N……层的电子将填充L层空 位，产生L系辐射。因此，当原子受到K激发时，除产生 K系辐射外，还将伴生L、M……等系的辐射。除K系辐射 因波长短而不被窗口完全吸收外，其余各系均因波长长 而被吸收。
XRD
X-ray diffraction
Made by Zhaojun
主要问题 • 什么是XRD • 为什么要做XRD
• XRD的结果能说明什么问题
2
Background of XRD
Röntgen or Roentgen ray (X ray)
1895年11月8日，德国物理学家伦琴在研究真 空管的高压放电时，偶然发现镀有氰亚铂酸钡 的硬纸板会发出荧光。这一现象立即引起的细 心的伦琴的注意。经仔细分析，认为这是真空 管中发出的一种射线引起的。于是一个伟大 的发现诞生了。由于当时对这种射线不了解， 故称之为x射线。后来也称伦琴射线。
的电子层结构相同，其散射因子相等，散射 x 射线强 度相同。
X-ray
X射线是一种波长很短(约为1～0.1 nm)的电磁 波，能穿透一定厚度的物质，并能使荧光物质 发光、照相乳胶感光、气体电离。在用高能电 子束轰击金属“靶”材产生X射线，它具有与靶 中元素相对应的特定波长，称为特征（或标识） X射线。
X射线 冷却水 电子
玻璃 钨灯丝
接变压器 金 属 靶 X射线 铍窗口 金属聚灯罩
X射线管剖面示意图
产生条件
高速电子遇靶突然停止产生X-射线 1.灯丝 产生自由电子 2.高压 加速电子 使电子作定向的高速运动 3. 靶 阻挡电子 在其运动的路径上设置一个障 碍物使电子突然减速或停止 产生X-射线
实验条件选择 （二）实验参数选择
• 防散射光栏与接收光栏应同步选择。
• 选择宽的狭缝可以获得高的X射线衍射强度，但 分辨率要降低；若希望提高分辨率则应选择小的 狭缝宽度。 • 扫描速度是指探测器在测角仪圆周上均匀转动的 角速度。扫描速度对衍射结果的影响与时间常数 类似，扫描速度越快，衍射线强度下降，衍射峰 向扫描方向偏移，分辨率下降，一些弱峰会被掩 盖而丢失。但过低的扫描速度也是不实际的。
• X射线衍射仪是广泛使用的X射线衍射装置。 1913年布拉格父子设计的X射线衍射装置是衍射 仪的早期雏形，经过了近百年的演变发展，今 天的衍射仪如下图所示。
• X射线衍射仪的主要组成部分 有X射线衍射发生装置、测角 仪、辐射探测器和测量系统 ，除主要组成部分外，还有 计算机、打印机等。
广角测角仪和标准样品台
• 在式中，λ是入射特征X射线的波长，是 经过精确测定的，有效数字可达7位数， 对于一般分析测定工作精度已经足够了。 干涉指数是整数无所谓误差。所以影响点 阵常数精度的关键因素是sinθ。
（三）物相定量分析方法
• 多相物质经定性分析后，若要进一步知道各个组成物相的 相对含量，就得进行X射线物相定量分析. • 根据X射线衍射强度公式，某一物相的相对含量的增加， 其衍射线的强度亦随之增加，所以通过衍射线强度的数值 可以确定对应物相的相对含量。 • 由于各个物相对X射线的吸收影响不同，X射线衍射强度与 该物相的相对含量之间不成正比关系，必须加以修正。 • 德拜法中由于吸收因子与2θ角有关，而衍射仪法的吸收 因子与2θ角无关，所以X射线物相定量分析常常是用衍射 仪法进行。
软硬X射线的区别
连续谱 (软X射线) 特征谱 高速运动 的粒子能 量转换成 电磁波 高能级电 子回跳到 低能级多 余能量转 换成电磁 波
谱图特征:强 是衍射分析的 度随波长连 背底; 续变化 是医学采用的
(硬X射线)
仅在特定波 长处有特别 强的强度峰 衍射分析采用
X射线衍射分析方法
X射线衍射仪法
定性判断结晶与取向
由照片判断 非晶无取向 弥散环 非晶取向 结晶取向 赤道线上的弥散斑 有系列对称弧 结晶无取向 有系列同心锐环 结晶高度取向 对称斑点
由衍射仪判断 “宽隆”峰：表明无定形 “尖锐“峰：表明存在结晶或近晶
（二）点阵常数的测定
• X射线测定点阵常数是一种间接方法，它 直接测量的是某一衍射线条对应的θ角， 然后通过晶面间距公式、布拉格公式计算 出点阵常数。以立方晶体为例，其晶面间 距公式为： a d H 2 K 2 L2 • • 根据布拉格方程2dsinθ=λ，则有： H 2 K 2 L2 • a sin
X射线物相定性分析
• 1938年由Hanawalt提出，公布了上千种物质的X射 线衍射花样，并将其分类，给出每种物质三条最强 线的面间距索引（称为Hanawalt索引）。 • 1941年美国材料实验协会（The American Society for Testing Materials，简称ASTM）提出推广， 将每种物质的面间距d和相对强度I/I1及其他一些 数据以卡片形式出版（称ASTM卡），公布了1300种 物质的衍射数据。以后，ASTM卡片逐年增添。
n=3 M层
Cu靶X-Ray有一 定的强度比： (Cu,K1)： (Cu,K2)=0.497 (Cu,K1)： (Cu,K1)=0.200
K K K系
L1 L2 L3 K L系
n=2 L层 n=1 K层
原 子 能 级 跃 迁 时 产 生 X-Ray的 情 况
Cu154.056pm; Cu154.439pm; Cu139.222pm
Bragg father and son
1913年英国物理学家布拉格父 子(W.H.Bragg, W.L.Bragg)在劳 厄发现的基础上，成功地测定 了NaCl、KCl等的晶体结构， 并提出了作为晶体衍射基础的 著名公式──布拉格方程 d为晶面间距，θ为入射束与反射面的夹角，λ为X射 线的波长，n为衍射级数，其含义是：只有照射到相 邻两镜面的光程差是X射线波长的n倍时才产生衍射。
X射线谱
连续X射线谱
• X 射线强度与波长 的关系曲线，称之 X射线谱。 • 在管压很低时，小 于20kv的曲线是连 续变化的，故称之 连续 X 射线谱，即 连续谱。
• 1）连续谱的形状与靶的材料无关。 • 2）连续谱存在一最大的能量值，它取决于管电 压。
特征X射线谱
• 当管电压超过某临界值时，特征谱 • 才会出现，该临界电压称激发电压。 当管电压增加时，连续谱和特征谱 强度都增加，而特征谱对应的波长 保持不变。 • 钼靶X射线管当管电压等于或高于 20KV时，则除连续X射线谱外，位 于一定波长处还叠加有少数强谱线， 它们即特征X射线谱。 • 钼靶X射线管在35KV电压下的谱线， 其特征x射线分别位于0.63Å 和 0.71Å 处，后者的强度约为前者强 度的五倍。这两条谱线称钼的K系