半导体热敏电阻实验报告

半导体热敏电阻实验报告
一、实验目的
1、了解半导体热敏电阻的基本特性。

2、掌握测量半导体热敏电阻阻值与温度关系的方法。

3、学会使用数据处理软件分析实验数据，得出热敏电阻的温度特性曲线。

二、实验原理
半导体热敏电阻是利用半导体材料的电阻率随温度变化而显著变化的特性制成的温度敏感元件。

其电阻率随着温度的升高而迅速减小，具有负温度系数。

半导体热敏电阻的电阻值与温度的关系可以用以下经验公式表示：＼（R_T ＝ R_0 e^｛B(1/T 1/T_0)｝＼）
其中，＼（R_T\）为温度\（T\）时的电阻值，＼（R_0\）为温度\（T_0\）时的电阻值，＼（B\）为材料的热敏常数。

在实验中，通过改变温度，测量不同温度下热敏电阻的电阻值，然后对数据进行处理和分析，得出其温度特性曲线。

三、实验仪器
1、恒温箱：用于提供不同的温度环境。

2、数字万用表：用于测量热敏电阻的电阻值。

3、半导体热敏电阻：实验所研究的对象。

四、实验步骤
1、连接电路
将半导体热敏电阻与数字万用表连接成测量电路，确保连接牢固，接触良好。

2、设定温度
打开恒温箱，设定起始温度，并设置温度间隔，如每隔 5°C 或10°C 改变一次温度。

3、测量电阻值
在每个设定的温度稳定后，使用数字万用表测量半导体热敏电阻的电阻值，并记录下来。

4、重复测量
为了提高实验数据的准确性，在每个温度点进行多次测量，并取平均值。

5、改变温度
按照设定的温度间隔，逐步升高或降低恒温箱的温度，重复步骤 3 和 4，直到完成所需温度范围内的测量。

五、实验数据记录
｜温度（°C）｜电阻值（Ω）｜
｜｜｜
｜＿____|＿____|
｜＿____|＿____|
｜＿____|＿____|
｜｜｜
六、数据处理与分析
1、绘制曲线
以温度为横坐标，电阻值为纵坐标，使用绘图软件绘制出半导体热敏电阻的温度特性曲线。

2、拟合曲线
根据实验数据，选择合适的函数形式对温度特性曲线进行拟合，如指数函数或幂函数。

3、计算热敏常数
通过拟合曲线的参数，计算出半导体热敏电阻的热敏常数\（B\）。

七、实验结果讨论
1、温度特性分析
观察温度特性曲线的形状和趋势，分析半导体热敏电阻在不同温度
范围内电阻值的变化规律。

讨论其负温度系数的特点以及与理论模型
的符合程度。

2、误差分析
分析实验中可能存在的误差来源，如温度测量误差、电阻测量误差、恒温箱温度波动等，并评估误差对实验结果的影响。

3、应用探讨
结合半导体热敏电阻的温度特性，探讨其在温度测量、温度控制、
电子电路等方面的应用，并分析其优缺点。

八、实验结论
通过本次实验，我们成功测量了半导体热敏电阻在一定温度范围内
的电阻值，并绘制出其温度特性曲线。

实验结果表明，半导体热敏电
阻具有明显的负温度系数，其电阻值随温度的升高而迅速减小。

通过
数据拟合和分析，计算出了热敏常数，为进一步研究和应用半导体热
敏电阻提供了基础数据。

同时，我们也认识到实验中存在一定的误差，需要在今后的实验中
进一步改进和优化实验方法，提高测量精度。

总之，本次实验加深了我们对半导体热敏电阻特性的理解，为其在
实际应用中的选择和使用提供了有益的参考。