四分之一波片相位延迟量的测量装置和测量方法

（19）中华人民共和国国家知识产权局
（12）发明专利申请
（10）申请公布号
CN103335821A
（43）申请公布日 2013.10.02（21）申请号CN201310250418.3
（22）申请日2013.06.21
（71）申请人中国科学院上海光学精密机械研究所
地址201800 上海市嘉定区800-211邮政信箱
（72）发明人曾爱军;邓柏寒;刘龙海;朱玲琳;黄惠杰
（74）专利代理机构上海新天专利代理有限公司
代理人张泽纯
（51）Int.CI
权利要求说明书说明书幅图
（54）发明名称
四分之一波片相位延迟量的测量装置和测量方法
（57）摘要
一种四分之一波片相位延迟量的测量装置
和测量方法，该装置由准直光源、圆起偏器、光
弹调制器、圆检偏器、光电探测器、光弹控制
器、锁相放大器和计算机组成。

本发明只需一个
光弹调制器即可测量四分之一波片的相位延迟
量，只需要一个锁相放大器，装置简单，结构紧
凑，操作方便。

法律状态
法律状态公告日法律状态信息法律状态2013-10-02公开公开
2013-10-02公开公开
2013-11-06实质审查的生效实质审查的生效
2013-11-06实质审查的生效实质审查的生效
2016-02-10授权授权
2016-02-10授权授权
2019-10-18专利申请权、专利权的转移专利申请权、专利权的转移
权利要求说明书
四分之一波片相位延迟量的测量装置和测量方法的权利要求说明书内容是....请下载后查看
说明书
四分之一波片相位延迟量的测量装置和测量方法的说明书内容是....请下载后查看。