隔离-电阻-电容-电感测试原理
电路的基本概念-电流-电压-电阻-电容-电感-周期-频率
频率: 交流电在1s内完成周期性变化的次数叫做频率,常用f表示。频率的单位是赫(Hz),也常用千赫(kHz)或兆赫(MHz)做单位。1kHz=1000Hz,1MHz=1000000Hz。交流电频率f是周期T的倒数,即
电流可以用电流表测量。测量的时候,把电流表串联在电路中,要选择电流表指针接近满偏转的量程。这样可以防止电流过大而损坏电流表。
电压:河水之所以能够流动,是因为有水位差;电荷之所以能够流动,是因为有电位差。电位差也就是电压。电压是形成电流的原因。在电路中,电压常用U表示。电压的单位是伏(V),也常用毫伏(mV)或者微伏(uV)做单位。1V=1000mV,1mV=1000uV。
f =1/T
电容: 电容是衡量导体储存电荷能力的物理量。在两个相互绝缘的导体上,加上一定的电压,它们就会储存一定的电量。其中一个导体储存着正电荷,另一个导体储存着大小相等的负电荷。加上的电压越大,储存的电量就越多。储存的电量和加上的电压是成正比的,它们的比值叫做电容。如果电压用U表示,电量用Q表示,电容用C表示,那么
电阻可以用万用表欧姆档测量。测量的时候,要选择电表指针接近偏转一半的欧姆档。如果电阻在电路中,要把电阻的一头烫开后再测量。
欧姆定律:导体中的电流I和导体两端的电压U成正比,和导体的电阻R成反比,即I=U/R
这个规律叫做欧姆定律。如果知道电压、电流、电阻三个量中的两个,就可以根据欧姆定律求出第三个量,即
相位: 相位是反映交流电任何时刻的状态的物理量。交流电的大小和方向是随时间变化的。比如正弦交流电流,它的公式是i=Isin2πft。i是交流电流的瞬时值,I是交流电流的最大值,f是交流电的频率,t是时间。随着时间的推移,交流电流可以从零变到最大值,从最大值变到零,又从零变到负的最大值,从负的最大值变到零。在三角函数中2πft相当于角度,它反映了交流电任何时刻所处的状态,是在增大还是在减小,是正的还是负的等等。因此把2πft叫做相位,或者叫做相。
ICT基本测试原理
ICT基本测试原理1.电阻测试原理2.电容/电感测试原理3.二极体及IC保护二极体测试原理4.齐纳二极体测试原理5.电晶体(三极管)测试原理6.光藕合元件测试原理7.电容极性测试原理1.1 电阻测试原理1.1.1 固定电流源(Constant Current)模式(MODE 0)对于不同的电阻值,ICT本身会自动限制一个适当的固定电流源做为测试的讯号源使用,如此才不会因使用都的选择不当,因而产生过高的电压而烧坏被测试元件,故其测试方式为:提供一个适当的固定电流源I,流经被测电阻R,再于被测电阻R两端,测量出Vr,由于Vr及I已知,利用Vr=IR公式,即可得知被测电阻R值,如附图一.RANGE CURRENT1欧姆--299.99欧姆5mA300欧姆-- 2.99K欧姆500uA3K欧姆--29.99K欧姆50uA30K欧姆--299.99K欧姆5uA300K欧姆-- 2.99M欧姆0.5uA3M欧姆--40M欧姆0.1uAVr=IR R Vr1.1 电阻测试原理1.1.2 低固定电流源(Low Constant Current)模式(MODE 1)该测试方法和上述固定电流源模式一样,只是在被测电阻于电路上并联(Parallel)着二极体(Diode)或是IC保护二极体(IC Clamping Diode)时,对于该电阻两端测量电压值若超过0.5V至0.7V左右时,因为二极体导电的关系,该电阻两端电压将被维持在0.5V至0.7V 左右,固无法量测出真正的Vr值,为了解决此问题,只要将原先的电流源降低一级即可.如附图二.RANGE CURRENT1欧姆--299.99欧姆500uA300欧姆-- 2.99K欧姆50uA3K欧姆--29.99K欧姆5uA30K欧姆--299.99K欧姆0.5uA300K欧姆-- 2.99M欧姆0.1uAVr=IR R Vr1.1 电阻测试原理1.1.3 交流相位(AC Phase)测试模式(MODE 3 、MODE 4 、MODE 5)由于电路设计关系,被测试电阻,将会并联着电感等元件,对于此电阻值测量,若使用固定电流源方式测试,电阻值将会偏低而无法测量出真正的电阻值,故使用AC 电压源,利用相位角度的领先,及落后方式而得知被测电阻值.故其测试方式为:提供一个适当频率的AC 电压源V,同时在被测电阻两端测量出Iz,由于V=Iz*Zrl,因为V 及Iz 已知,故可得知Zrl,又因为R=Zrl*cos θ,而Zrl 及cos θ已知,故即可得知被测电阻R 值.如附图三.SIGNAL RANGE(L) RANGE(R)1KHz 600uH --60H 5欧姆--300欧姆10KHz 60uH --600mH 5欧姆--40K 欧姆100KHz 6uH --6mH 5欧姆--4K 欧姆V = Iz*Zrl R = Zrl*cos θ(图三: 交流相位测试方法)RLV1.1 电阻测试原理1.1.4 快速(High-Speed)测试模式(MODE 2)假如被测电阻并联一颗0.3uF 以上的电容时,若使用上述固定电流源测试时,需要花费很长的时间,让电容充饱电荷,再去测量出Vr 值,而得知R 值,如此测试方法将增加ICT 测试时间,为解决此问题,可以将固定DC 电流源改为0.2V DC 固定电压源,直接接于被测电阻两端,如此电容将会在短暂时间内使其Ic=0,故电路上所有电流将流经电阻R.其测量方式为:提供一个0.2V DC 电压源,当Ic=0时,再测试流经电阻两端的Ir,因为V=IrR,而V 及Ir 已知,即可得知电阻R 值.如附图四.SIGNAL RANGE(L) RANGE(R)1KHz 600uH --60H 5欧姆--300欧姆10KHz 60uH --600mH 5欧姆--40K 欧姆100KHz 6uH --6mH 5欧姆--4K 欧姆V = Ir*R (图四: 交流相位测试方法)RC0.2V2 电容/电感测试原理2.1 固定AC电压源(Constant AC Voltage)测试模式(MODE 0 、MODE 1、MODE 2、MODE )对于不同阻抗的电容或电感,ICT本身会自动选择一个适当频率(frequency)的AC电压源,作为测试使用,其频率计有:1KHz , 10KHz , 100KHz , 1MHz ,对于极小阻抗值的电容或电感将需要较高频率的AC电压源,再测量被测元件两端的电压源,由于V=Ic*Zc或V=Il*Zl,而V及Ic或Il已知,故得知Zc=1/2π*f*C或Zl=2πfL,又因f已知,故即可得知电容C或电感L值.如附图五.DEBUG SIGNAL CAPACITOR INDUCTORMODE SOURCE RANGE RANGE0 1KHz400pF --30uF 6mH--60H1 10KHz40pF --4uF 600mH以下2 100KHz1pF --40nF 6mH以下3 1MHz1pF --300pF 1uH --60uHIcZcVV = Ic*Zc = 1/2*π*f*C*IV = Il*Zl = 1/2 *π*f*L*I2 电容/电感测试原理2.2 AC 相位(AC Phase)测试模式(MODE 5 、MODE 6、MODE 7 )对于电容或电感的测试,若并联电阻时,则利用相位角度的领先及落后方式来测量出阻抗值,故其测量方式为:提供一个适当频率的AC 电压源并在被测元件两端测量出Iz,由于V=Iz*Zrc 或V=Iz*Zrl,而V 及Iz 已知,故可得知Zrc 或Zrl 值,又因Zc=Zrc*sin θ或Zl=Zrl*sin θ而Zrc 及sin θ或Zrl 及sin θ已知,故可得知Zc 或Zl,又因为Zc= 1/2*π*f*C 或Zl= 1/2*π*f*L,而Zc 及f 或Zl 及f 已知,故即可得知电容C 值或电感L 值.如附图六.DEBUG SIGNAL CAPACITOR INDUCTORMODE SOURCE RANGE RANGE5 1KHz 400pF --30uF 6mH --60H6 10KHz 40pF --4uF 600mH 以下7 100KHz 1pF --40nF 6mH 以下V = Iz*Zrc ; V = Iz*Zrl ; Zc = Zrc*sin θ; Zc = 1/2*π*f*C ;Zc = Zrc*sin θ;Zl = 2 *π*f*L ;(图六: AC 相位测试方法)V IzR C2 电容测试原理2.3 DC 固定电流(DC Constant Current)模式(MODE 4)对于3uF 以上电容值的电容,若使用上述AC 电压源模式测试时,将需要较低频率来测试,而增加ICT 测试时间,故可利用电容充电曲线的斜率方式得知电容值,故其测试方式为:提供一个固定的DC 电流源,并在T1时间测量电容两端的V1值及T2时间测量电容两端的V2值,由于Slope=(V2-V1)/(T2-T1)=△V/△T,而V1、V2及T1、T2已知,故得知Slope,又因Slope*C=Constant,Slope 及Constant 已知,故即可得电容C 值,如附图七.Slope = (V2-V1)/(T2-T1) = △V/△TVc C IT1 T2V2V1VT3. 二极体(Diode)及IC保护二极体原理ICT(In-Circuit Tester)对于IC元件的测试方式有三种(1)IC保护二极体(IC Clamping Diode)测试(2)IC Pattern测试(3)IC Boundary Scan测试,其中以IC保护二极体方式最简单,其方式和一般Diode测试一样,它可以测量出IC的短路、开路、IC反插及IC保护二极体不良等问题,故其测量方式为:提供一个3mA或30mA的固定电流及0V –10V可程式电压源(Programmable Voltage)直接加在二极体两端,并输入该二极体正向导通所需电压来测试即可.如附图八.CLV DCL : Current LimitSignal Source•3mA/30mA Constant(MODE 0 、MODE 1 、MODE 2)•0 –10V Programmable Voltage(图八: 二极体及IC保护二极体测试原理)4. 齐纳二极体(Zener Diode)测试原理齐纳二极体的测试和二极体测试一样,其差异性只是在测试电压源不同,其电压源为0V –10V及0V –40V可程式电压源两种.如附图九.CLV ZDCL : Current LimitSignal Source(MODE 0 、MODE 1 )•3mA/30mA Constant Current0 --10V Programmable Voltage•4mA/30mA Constant Current0 –40V Programmable Voltage(图九: 齐纳二极体测试原理)5. 电晶体(Transistor)测试原理对于电晶体测试需要三步骤(Step)测试,其中(1)B-E 脚(2)B-C 脚测试是使用二极体测试方式(3)E-C 脚使用Vcc 的饱和电压值及截止电压值的不同,来测试电晶体是否反插.电晶体反插测试方法为:在电晶体的B-E 脚及E-C 脚两端各提供一个可程式电压源,并测量出电晶体E-C 脚正向饱和电压值为Vce=0.2V 左右,若该电晶体反插时,则Vce 电压将会变成截止电压,并大于0.2V,如此即可测出电晶体反插的错误.如附图十.Signal Source(MODE 3 、MODE 4 )•3mA/30mA Constant Current0 --10V Programmable Voltage(图十: 电晶体测试原理)CL V CL : Current Limit VCLCEB6. 光藕合元件(Photo -coupler)测试原理测量光藕合元件是在第1 、2脚及第3 、4脚各提供一个DC 可程式电压源,并于第3 、4脚测量其电压是否为正向饱和电压值,如此即可检测出该元件是否反插错误及不良故障等问题.如附图十一.Signal Source(MODE 0 、MODE 1 )•3mA/30mA Constant Current0 --10V Programmable Voltage•4mA/30mA Constant Current0 –40V Programmable Voltage (图九: 光电藕合元件测试原理)CLV CL : Current LimitCL V12347. 电容极性(Capacitor Polarization)测试原理电容极性的测试若使用电容值测试方式,将无法测试出来,因为电容于正反插时,其电容值都非常接近,但若使用测量电容的漏电流(Leakage Current)方式,则可以测量出来,因为正向的电容漏电流小于反向的电容漏电流.然而因为电路效应关系,例如:电容并联IC 或电感等元件时,将会使得两者的漏电流值差异不大,而无法测试,故一般电容极性使用漏电流测试方式,其可测率约45 –55%左右,故其测量方式为:提供一个DC 可程式电压源,连接于电容两端,再去测量其正向漏电流值即可.如附图十二.Signal Source(MODE 5 、MODE 6 )•3mA/30mA Constant Current0 --10V Programmable Voltage •4mA/30mA Constant Current0 –40V Programmable Voltage(图十二: 电容极性测试原理)MV Ic M : Current Meter。
交流电路电阻、电感和电容的串、并联实验
6. 分析并联电路特性
7. 对比串并联电路特性
使用测量仪表分别测量并联电路中的电压、电流和功率因数等参数,并记录数据。
根据测量数据,分析并联电路中电阻、电感和电容对电路特性的影响,如阻抗、相位角等。
将串联电路和并联电路的测量数据进行对比,分析两种不同连接方式对电路特性的影响。
实验步骤
2. 在连接电路时,应注意正负极的连接顺序,避免短路或接反导致实验失败或损坏实验器材。
电容串联实验数据记录与处理
04
电阻、电感、电容并联实验
并联电路中各元件的电压相等,即U1=U2=U3=…=Un。
并联电路的总电流等于各元件电流之和,即I=I1+I2+I3+…+In。
并联电路具有分流作用,即每个元件分得的电流与其电阻成反比。
01
02
03
04
并联电路特点分析
数据记录
记录各电阻的阻值和总电阻的阻值,以及实验过程中的其他相关数据。
通过实验数据,我们验证了交流电路中欧姆定律、基尔霍夫定律等基本原理的正确性。
串联电路中,总阻抗等于各元件阻抗之和,而并联电路中,总阻抗的倒数等于各元件阻抗倒数之和。
实验结果还表明,在特定频率下,电感和电容的阻抗相等,此时电路处于谐振状态,电流达到最大值。
实验结论总结
进一步研究不同频率下电阻、电感和电容的串并联特性,以及它们对电路性能的影响。
交流电桥
交流电桥是一种测量交流电路阻抗和相位差的实验仪器。通过调节电桥平衡,可以测量出待测电路的阻抗和相位差。
实验原理
阻抗
01
在交流电路中,阻抗是表示元件对电流阻碍作用的物理量,包括电阻、电感和电容的阻抗。阻抗的大小和相位角反映了元件对电流的阻碍程度和电流与电压之间的相位关系。
lcr测试仪工作原理
lcr测试仪工作原理
摘要:
I.引言
- 介绍LCR 测试仪
II.LCR 测试仪的工作原理
- 什么是LCR 测试仪
- LCR 测试仪的工作原理
- 测试电感
- 测试电容
- 测试电阻
III.LCR 测试仪的应用领域
- 电子工程
- 电路设计
- 制造领域
IV.LCR 测试仪的使用方法
- 设置测试频率
- 设置测试电压或电流水平
- 屏蔽测试电缆
V.LCR 测试仪的优缺点
- 优点
- 高精度
- 专业工具
- 广泛应用
- 缺点
- 操作复杂
- 成本较高
VI.结论
- 总结LCR 测试仪的工作原理及应用
正文:
LCR 测试仪是一种专业的电子测试仪器,可以用于测量电感、电容和电阻等参数。
在电子工程、电路设计和制造领域中,LCR 测试仪是必不可少的工具之一。
LCR 测试仪的工作原理是通过自动平衡电桥法来测量电感和电容。
当测试对象接入电路时,放大器的负反馈配置自动使得输入端虚地。
通过测量输入端的电压和电流,可以计算出测试对象的阻抗。
对于电阻的测量,LCR 测试仪则通过直接测量电流和电压来计算出电阻值。
在使用LCR 测试仪时,需要先设置测试频率,然后设置测试电压或电流水平。
此外,为了减少误差,应该尽可能地屏蔽测试电缆。
LCR 测试仪具有高精度、专业工具和广泛应用等优点。
然而,由于其操作复杂且成本较高,LCR 测试仪并不适用于所有场合。
总的来说,LCR 测试仪是一种非常有用的电子测试工具,可以用于测量电感、电容和电阻等参数。
实验内容电阻电感电容的测量doc
电阻、电感、电容的测量一、目的1、学习使用兆欧表。
2、学习万用表的工作原理。
3、学习使用直流电桥,万用电桥。
掌握误差分析的计算方法。
4、设计一个简单的直流电桥。
二、原理(略)三、实验设备(1)直流毫安表1台(2)直流单臂电桥1台(3)直流双臂电桥1台(4)交流电桥1台1台(5)兆欧表(6)电阻箱4 1台(7)实验装置1台四、实验内容与步骤1、直流单电桥测量电阻○1将检流计调零,使其机械指零。
○2将30Ω的电阻接在QJ23型直流单电桥上x R的两个接线柱上,选择适当的比较臂,各档充分利用,以提高测量的精度,选用⨯0.01档○3调节“比较臂”的电阻为300Ω。
○4按下电源按钮B并锁住,按下按钮G,若指针向正的方向偏转,则应加大比较臂电阻,反之,则应减小电阻,直流检流计指针为零,说明此时电桥平衡,记下比较臂的电阻值。
○5分别将按钮G、B放松,将30Ω电阻换为51Ω、510Ω、200Ω,重复以上步骤,数据见表1。
表1、直流单电桥2、直流双电桥测量电阻○1在直流双电桥底部装入电池,并将被测电阻按电路图接在电桥相应的1C 、2C 、1P 、2P 接线柱上○2将开关K 扳到“开”的位置,稍等片刻,调节指零仪指针,使其指零。
○3选择量程因素为⨯1,调节步进盘读数为0.04,调节指零仪的灵敏度旋钮,使其处于最低位置,○4按下按钮 G并锁住,用手按住B ,调节步进盘和滑线盘读数,调节指零仪的灵敏度旋钮,增加灵敏度,使其指针为零,记下步进盘和滑线盘的读数。
○5选择量程因素为⨯0.1,⨯0.01,重复步骤○4。
数据见表2。
3、设计一个简单的直流电桥。
用三个电阻箱,一个电流表,以及利用实验装置上的直流稳压源组成一个简单的直流电桥。
如图1如图1所示。
其中,1R 、2R 、3R 和4R 构成四个桥臂,a 、b 、c 和d 是四个顶点,G 是电流表,E 是电源。
a 、b 两点之间接有电源,称电源对角线;c 、d 两点之间有接有检流计,称检流计对角线。
ICT测试原理
F
G
E
1
Vcc
A1
5
0V
10
10
HV
0
10
2
5
0
0
0
1
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
1
2
Vcc3
A1
3.3
0V
10
10
日規電晶體量測只須量BC、BE兩端之二極體,就可量測到是否空焊反接 (如程式1、2
項),但美規電晶體由於Base腳在中間,因此須用三端點來量測 (程式第3項),才能
偵測到反接的問題。何用三端點量測法來測試電晶體 ?
程式設定如下
STEP
Device
STDVAL
0
0
0
1
8
END
A1
0.1
0V
10
00
HV
0
10
2
5
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
1
9
END
A1
1mA
0.1V
00
二極體並聯須用CM mode 量測。程式須設定如下:
STEP
Device
Lc
STD
ACT
+%
-%
MD
RG
TM
ICT基本测试原理
ICT基本测试原理ICT基本测试原理1.电阻测试原理2.电容/电感测试原理3.⼆极体及IC保护⼆极体测试原理4.齐纳⼆极体测试原理5.电晶体(三极管)测试原理6.光藕合元件测试原理7.电容极性测试原理1.1 电阻测试原理1.1.1 固定电流源(Constant Current)模式(MODE 0)对于不同的电阻值,ICT本⾝会⾃动限制⼀个适当的固定电流源做为测试的讯号源使⽤,如此才不会因使⽤都的选择不当,因⽽产⽣过⾼的电压⽽烧坏被测试元件,故其测试⽅式为:提供⼀个适当的固定电流源I,流经被测电阻R,再于被测电阻R两端,测量出Vr,由于Vr及I已知,利⽤Vr=IR公式,即可得知被测电阻R值,如附图⼀.RANGE CURRENT1欧姆--299.99欧姆5mA300欧姆-- 2.99K欧姆500uA3K欧姆--29.99K欧姆50uA30K欧姆--299.99K欧姆5uA300K欧姆-- 2.99M欧姆0.5uA3M欧姆--40M欧姆0.1uAVr=IR R Vr1.1 电阻测试原理1.1.2 低固定电流源(Low Constant Current)模式(MODE 1)该测试⽅法和上述固定电流源模式⼀样,只是在被测电阻于电路上并联(Parallel)着⼆极体(Diode)或是IC保护⼆极体(IC Clamping Diode)时,对于该电阻两端测量电压值若超过0.5V⾄0.7V左右时,因为⼆极体导电的关系,该电阻两端电压将被维持在0.5V⾄0.7V 左右,固⽆法量测出真正的Vr值,为了解决此问题,只要将原先的电流源降低⼀级即可.如附图⼆.RANGE CURRENT1欧姆--299.99欧姆500uA300欧姆-- 2.99K欧姆50uA3K欧姆--29.99K欧姆5uA30K欧姆--299.99K欧姆0.5uA300K欧姆-- 2.99M欧姆0.1uAVr=IR R Vr1.1 电阻测试原理1.1.3 交流相位(AC Phase)测试模式(MODE 3 、MODE 4 、MODE 5)由于电路设计关系,被测试电阻,将会并联着电感等元件,对于此电阻值测量,若使⽤固定电流源⽅式测试,电阻值将会偏低⽽⽆法测量出真正的电阻值,故使⽤AC 电压源,利⽤相位⾓度的领先,及落后⽅式⽽得知被测电阻值.故其测试⽅式为:提供⼀个适当频率的AC 电压源V,同时在被测电阻两端测量出Iz,由于V=Iz*Zrl,因为V 及Iz 已知,故可得知Zrl,⼜因为R=Zrl*cos θ,⽽Zrl 及cos θ已知,故即可得知被测电阻R 值.如附图三.SIGNAL RANGE(L) RANGE(R)1KHz 600uH --60H 5欧姆--300欧姆10KHz 60uH --600mH 5欧姆--40K 欧姆100KHz 6uH --6mH 5欧姆--4K 欧姆V = Iz*ZrlR = Zrl*cos θ(图三: 交流相位测试⽅法)RLV1.1 电阻测试原理1.1.4 快速(High-Speed)测试模式(MODE 2)假如被测电阻并联⼀颗0.3uF 以上的电容时,若使⽤上述固定电流源测试时,需要花费很长的时间,让电容充饱电荷,再去测量出Vr 值,⽽得知R 值,如此测试⽅法将增加ICT 测试时间,为解决此问题,可以将固定DC 电流源改为0.2V DC 固定电压源,直接接于被测电阻两端,如此电容将会在短暂时间内使其Ic=0,故电路上所有电流将流经电阻R.其测量⽅式为:提供⼀个0.2V DC 电压源,当Ic=0时,再测试流经电阻两端的Ir,因为V=IrR,⽽V 及Ir 已知,即可得知电阻R 值.如附图四.SIGNAL RANGE(L) RANGE(R)1KHz 600uH --60H 5欧姆--300欧姆10KHz 60uH --600mH 5欧姆--40K 欧姆100KHz 6uH --6mH 5欧姆--4K 欧姆V = Ir*R(图四: 交流相位测试⽅法)RC0.2V2 电容/电感测试原理2.1 固定AC电压源(Constant AC Voltage)测试模式(MODE 0 、MODE 1、MODE 2、MODE )对于不同阻抗的电容或电感,ICT本⾝会⾃动选择⼀个适当频率(frequency)的AC电压源,作为测试使⽤,其频率计有:1KHz ,10KHz , 100KHz , 1MHz ,对于极⼩阻抗值的电容或电感将需要较⾼频率的AC电压源,再测量被测元件两端的电压源,由于V=Ic*Zc或V=Il*Zl,⽽V及Ic或Il已知,故得知Zc=1/2π*f*C或Zl=2πfL,⼜因f已知,故即可得知电容C或电感L值.如附图五.DEBUG SIGNAL CAPACITOR INDUCTORMODE SOURCE RANGE RANGE0 1KHz400pF --30uF 6mH--60H1 10KHz40pF --4uF 600mH以下2 100KHz1pF --40nF 6mH以下3 1MHz1pF --300pF 1uH --60uHIcZcVV = Ic*Zc = 1/2*π*f*C*IV = Il*Zl = 1/2 *π*f*L*I2 电容/电感测试原理2.2 AC相位(AC Phase)测试模式(MODE 5 、MODE 6、MODE 7 )对于电容或电感的测试,若并联电阻时,则利⽤相位⾓度的领先及落后⽅式来测量出阻抗值,故其测量⽅式为:提供⼀个适当频率的AC电压源并在被测元件两端测量出Iz,由于V=Iz*Zrc或V=Iz*Zrl,⽽V及Iz已知,故可得知Zrc或Zrl值,⼜因Zc=Zrc*sinθ或Zl=Zrl*sinθ⽽Zrc及sin θ或Zrl及sin θ已知,故可得知Zc或Zl,⼜因为Zc= 1/2*π*f*C或Zl= 1/2*π*f*L,⽽Zc及f或Zl及f已知,故即可得知电容C值或电感L值.如附图六.DEBUG SIGNAL CAPACITOR INDUCTORMODE SOURCE RANGE RANGE5 1KHz400pF --30uF 6mH--60H6 10KHz40pF --4uF 600mH以下7 100KHz1pF --40nF 6mH以下V = Iz*Zrc ; V = Iz*Zrl;Zc = Zrc*sin θ; Zc = 1/2*π*f*C ;Zc = Zrc*sin θ;Zl = 2 *π*f*L ;(图六: AC相位测试⽅法)VIzRC2 电容测试原理2.3 DC 固定电流(DC Constant Current)模式(MODE 4)对于3uF 以上电容值的电容,若使⽤上述AC 电压源模式测试时,将需要较低频率来测试,⽽增加ICT 测试时间,故可利⽤电容充电曲线的斜率⽅式得知电容值,故其测试⽅式为:提供⼀个固定的DC 电流源,并在T1时间测量电容两端的V1值及T2时间测量电容两端的V2值,由于Slope=(V2-V1)/(T2-T1)=△V/△T,⽽V1、V2及T1、T2已知,故得知Slope,⼜因Slope*C=Constant,Slope 及Constant 已知,故即可得电容C 值,如附图七.Slope = (V2-V1)/(T2-T1) = △V/△TVc CI T1 T2V2V1VT3. ⼆极体(Diode)及IC保护⼆极体原理ICT(In-Circuit Tester)对于IC元件的测试⽅式有三种(1)IC保护⼆极体(IC Clamping Diode)测试(2)IC Pattern测试(3)IC Boundary Scan测试,其中以IC保护⼆极体⽅式最简单,其⽅式和⼀般Diode测试⼀样,它可以测量出IC的短路、开路、IC反插及IC保护⼆极体不良等问题,故其测量⽅式为:提供⼀个3mA或30mA的固定电流及0V –10V可程式电压源(Programmable Voltage)直接加在⼆极体两端,并输⼊该⼆极体正向导通所需电压来测试即可.如附图⼋.CLV DCL : Current LimitSignal Source3mA/30mA Constant(MODE 0 、MODE 1 、MODE 2)0 –10V Programmable Voltage(图⼋: ⼆极体及IC保护⼆极体测试原理)4. 齐纳⼆极体(Zener Diode)测试原理齐纳⼆极体的测试和⼆极体测试⼀样,其差异性只是在测试电压源不同,其电压源为0V –10V及0V –40V可程式电压源两种.如附图九.CLV ZDCL : Current LimitSignal Source(MODE 0 、MODE 1 )3mA/30mA Constant Current0 --10V Programmable Voltage4mA/30mA Constant Current0 –40V Programmable Voltage(图九: 齐纳⼆极体测试原理)5. 电晶体(Transistor)测试原理对于电晶体测试需要三步骤(Step)测试,其中(1)B-E 脚(2)B-C 脚测试是使⽤⼆极体测试⽅式(3)E-C 脚使⽤Vcc 的饱和电压值及截⽌电压值的不同,来测试电晶体是否反插.电晶体反插测试⽅法为:在电晶体的B-E 脚及E-C 脚两端各提供⼀个可程式电压源,并测量出电晶体E-C 脚正向饱和电压值为Vce=0.2V 左右,若该电晶体反插时,则Vce 电压将会变成截⽌电压,并⼤于0.2V,如此即可测出电晶体反插的错误.如附图⼗.Signal Source(MODE 3 、MODE 4 )3mA/30mA Constant Current0 --10V Programmable Voltage(图⼗: 电晶体测试原理)CLV CL : Current LimitVCL C EB6. 光藕合元件(Photo -coupler)测试原理测量光藕合元件是在第1 、2脚及第3 、4脚各提供⼀个DC 可程式电压源,并于第3 、4脚测量其电压是否为正向饱和电压值,如此即可检测出该元件是否反插错误及不良故障等问题.如附图⼗⼀.Signal Source(MODE 0 、MODE 1 )3mA/30mA Constant Current0 --10V Programmable Voltage4mA/30mA Constant Current0 –40V Programmable Voltage(图九: 光电藕合元件测试原理)CLV CL : Current LimitCL V12347. 电容极性(Capacitor Polarization)测试原理电容极性的测试若使⽤电容值测试⽅式,将⽆法测试出来,因为电容于正反插时,其电容值都⾮常接近,但若使⽤测量电容的漏电流(Leakage Current)⽅式,则可以测量出来,因为正向的电容漏电流⼩于反向的电容漏电流.然⽽因为电路效应关系,例如:电容并联IC 或电感等元件时,将会使得两者的漏电流值差异不⼤,⽽⽆法测试,故⼀般电容极性使⽤漏电流测试⽅式,其可测率约45 –55%左右,故其测量⽅式为:提供⼀个DC 可程式电压源,连接于电容两端,再去测量其正向漏电流值即可.如附图⼗⼆.Signal Source(MODE 5 、MODE 6 )3mA/30mA Constant Current0 --10V Programmable Voltage4mA/30mA Constant Current0 –40V Programmable VoltageMV IcM : Current Meter。
ICT基本测试原理
ICT基本测试原理(FOR TR-518F)1. 电阻测试原理:1.1 固定电流源(constant Current)模式(mode0)对于不同的电阻值,ICT本身会自动限制一个适当的固定电流源做为测试的讯号源使用,如此才不会因使用都的选择不当,因而产生过高的电压而烧坏被测元件,帮其测试方式为:提供一个适当的固定电流源I,流经被测电阻R,再于被测电阻R两端,测量出Vr,由于Vr及I已知,利用Vr=IR公式,即可得知被测电阻R值.RANGE Current1欧姆~299.99欧姆 5mA300欧姆~2.99K欧姆 500uA3K欧姆~29.99K欧姆 50uA30K欧姆~299.99K欧姆 5uA300K欧姆~2.99M欧姆0.5uA3M欧姆~40M欧姆 0.1uA1.2 低固定电流源(Low constant Current)模式(mode1)该测试方法和上述固定电流源模式一样,只是在被测电阻于电路上若有并联(Parallel)着二极体(Diode)或IC保护二极体(IC Clamping Diode)时,对于该电阻两端测量电压值若超过0.5V至0.7V左右时,因二极体导电的关系,该电阻两端电压将被维持在0.5V~0.7V左右,固无法量测出真正的Vr值,为解决此问题,只要将原先的电流源降低一级即可.RANGE Current1欧姆~299.99欧姆500uA300欧姆~2.99K欧姆 50uA3K欧姆~29.99K欧姆 5uA30K欧姆~299.99K欧姆 0.5uA300K欧姆~2.99M欧姆0.1uA1.3 快速(High-Speed)测试模式(MODE2)假如被测电阻并联一个0.3uF以上的电容时,若使用上述固定电流源测试时,需要花费很长的时间,让电容充饱电荷,再去测量出Vr值,而得知R值,如此测试方法将增加ICT测试时间,为解决此问题,可以将固定DC 电流源改为0.2V DC固定电压源,直接接于被测电阻两端,如此电容将会在短暂时间内使其Ic=0,故电路上所有电流将流经电阻R.其测量方式为:提供一个0.2V DC电压源,当Ic=0时,再测试流经电阻两端的Ir,因为V=IrR,而V及Ir已知,即可得知电阻R的值.1.4 交流相位(AC Phase)测试模式(MODE3,MODE4,MODE5)由于电路设计关系,被测试电阻将会并联着电感等元件,对于此电阻值测量,若使用固定电流源方式测试,电阻值将会偏低而无法测量出真正的电阻值,故使用AC电压源,利用相位角度的领先,及落后方式而得知被测电阻值.故其测试方式为:提供一个适当频率的AC电压源V,同时在被测电阻两端测量出Iz,由于V=Iz*Zrl,因为V及Iz已知,故可得知Zrl,又因为R=Zrl*cosθ,而Zrl及cosθ已知,故即可得知被测电阻R值.SIGNAL RANGE(L) RANGE(R)1KHz 600uH~60H 5欧姆~300K欧姆10KHz 60uH~600mH 5欧姆~40K欧姆100KHz 6uH~6mH 5欧姆~4K欧姆2. 电容/电感测试原理:2.1 固定AC电压源(Constant AC Voltage)测试模式(MODE0,MODE1,MODE2,MODE3)对于不同阻抗的电容或电感,ICT本身会自动选择一个适当频率(frequency)的AC电压源作为测试使用,其频率计有:1KHz,10KHz,100KHz,1MHz,对于极小阻抗值的电容或电感将需要较高频率的AC电压源,再测量被测元件两端的电压源,由于V=Ic*Zc或V=Il*Zl,而V及Ic或Il已知,故得知Zc=1/2π*f*C或Zl=2πfL,又因f已知,故即可得知电容C或电感L值.Debug MODE Signal Source Capacitor Range Inductor Range0 1KHz 400pF~30uF 6mH~60H1 10KHz 40pF~4uF 600mH以下2 100KHz 1pF~40nF 6mH以下3 1MHz 1pF~300pF 1uH~60uHICT后續之發展前景在ICT沒有辦法改善現有缺陷之狀況下,几乎無法成為測試之主流。
阻抗测量原理
阻抗测量原理
阻抗测量是一种用于测试电路或设备阻抗(即电阻、电感和电容)的方法。
阻抗测量的原理是基于交流电信号在电路中的传输和响应。
以下是阻抗测量的基本原理:
1. 交流电信号:阻抗测量通常使用交流电信号,以便能够测量电路或设备对不同频率的信号的响应。
交流电信号是由正弦波组成的,并且其频率可以根据需要进行调整。
2. 激励电压:在阻抗测量中,需要在被测电路或设备上施加一个已知的交流电压。
这个电压可以通过信号发生器或其他电源产生。
3. 测试电流:被测电路或设备对施加的交流电压会产生响应,导致电流流动。
在测量中,需要测量通过电路或设备的电流大小。
4. 相位差测量:除了测量电流大小外,还需要测量电流和施加电压之间的相位差。
相位差可以提供关于阻抗性质的额外信息。
5. 计算阻抗:通过测量电流和电压以及计算它们之间的相位差,可以计算出电路或设备的阻抗值。
不同阻抗元素(电阻、电感和电容)对交流电信号的响应不同,因此通过测量可以确定它们的存在和值。
阻抗测量的原理是基于交流电信号的传输特性和电路响应的分析。
通过测量电流、电压和相位差等参数,可以计算出电路或
设备的阻抗值,从而了解其性质和特征。
这种测量方法在电子工程、电力系统和通信领域等具有广泛的应用。
lcr表测电感的原理
LCR表测电感的原理一、交流测量原理LCR表是一种用于测量电子元件的电感(L)、电容(C)和电阻(R)的仪器。
它采用交流测量原理,通过向被测元件施加交流信号,并测量其响应信号来计算元件的参数。
在测量电感时,LCR表向电感施加一个交流电压或电流,并测量其响应的电流或电压,从而计算出电感值。
二、电感元件的阻抗特性电感元件的阻抗由电阻和感抗两部分组成,感抗与频率和电感量有关。
在测量电感时,LCR表通常使用较高的测试频率(例如1MHz),以减小感抗的影响,从而更准确地测量电感的电阻值。
三、电感值的计算方法电感值的计算公式为:L=(Z/ω)-(1/ωC)。
其中,Z为阻抗,ω为角频率(ω=2πf),C为电容。
通过测量阻抗Z和已知的测试频率f,可以计算出电感值L。
四、精度与误差分析LCR表的精度与测试频率、电压、电流的幅值以及测量电路的噪声有关。
此外,测试环境(如温度、湿度)和被测元件的物理特性也会影响测量精度。
因此,在进行电感测量时,应考虑这些因素并采取相应的措施来减小误差。
五、应用范围与注意事项LCR表广泛应用于电子元件生产、测试、研发等领域。
它可以测量各种类型的电感,包括线圈、磁珠、变压器等。
在使用LCR表时,应注意以下事项:1.选择合适的测试频率和电压/电流幅值;2.确保测试环境符合要求;3.遵循安全操作规程;4.对于一些特殊类型的电感(如铁氧体磁珠),需要注意其磁饱和特性对测量结果的影响。
六、LCR表的优缺点优点:1.可同时测量电感的电阻、电容和电感;2.测量精度高;3.操作简便;4.可重复性好。
缺点:1.对于一些特殊类型的电感,可能需要采用特殊的测试方法;2.对于大电感值的电感,可能会受到测试电源的限制;3.成本较高。
电阻、电容、电感测试仪设计方案与系统的原理框图
电阻、电容、电感测试仪设计⽅案与系统的原理框图电阻、电容、电感测试仪设计⽅案⽐较电阻、电容、电感测试仪的设计可⽤多种⽅案完成,例如利⽤模拟电路,电阻可⽤⽐例运算器法和积分运算器法,电容可⽤恒流法和⽐较法,电感可⽤时间常数发和同步分离法等、使⽤可编程逻辑控制器(PLC)、振荡电路与单⽚机结合或CPLD与EDA相结合等等来实现。
在设计前对各种⽅案进⾏了⽐较:1)利⽤纯模拟电路虽然避免了编程的⿇烦,但电路复杂,所⽤器件较多,灵活性差,测量精度低,现在已较少使⽤。
2)可编程逻辑控制器(PLC) 应⽤⼴泛,它能够⾮常⽅便地集成到⼯业控制系统中。
其速度快,体积⼩,可靠性和精度都较好,在设计中可采⽤PLC对硬件进⾏控制,但是⽤PLC实现价格相对昂贵,因⽽成本过⾼。
3)采⽤CPLD或FPGA实现应⽤⽬前⼴泛应⽤的VHDL硬件电路描述语⾔,实现电阻,电容,电感测试仪的设计,利⽤MAXPLUSII集成开发环境进⾏综合、仿真,并下载到CPLD或FPGA可编程逻辑器件中,完成系统的控制作⽤。
但相对⽽⾔规模⼤,结构复杂。
4)利⽤振荡电路与单⽚机结合利⽤555多谐振荡电路将电阻,电容参数转化为频率,⽽电感则是根据电容三点式电路也转化为频率,这样就能够把模拟量近似的转换为数字量,⽽频率f是单⽚机很容易处理的数字量,⼀⽅⾯测量精度⾼,另⼀⽅⾯便于使仪表实现⾃动化,⽽且单⽚机构成的应⽤系统有较⼤的可靠性。
系统扩展、系统配置灵活。
容易构成各种规模的应⽤系统,且应⽤系统有较⾼的软、硬件利⽤系数。
单⽚机具有可编程性,硬件的功能描述可完全在软件上实现,⽽且设计时间短,成本低,可靠性⾼。
综上所述,利⽤振荡电路与单⽚机结合实现电阻、电容、电感测试仪更为简便可⾏,节约成本。
所以,本次设计选定以单⽚机为核⼼来进⾏。
系统的原理框图本设计中,考虑到单⽚机具有物美价廉、功能强、使⽤⽅便灵活、可靠性⾼等特点,拟采⽤MCS - 51系列的单⽚机为核⼼来实现电阻、电容、电感测试仪的控制。
电容电感测试原理
电容电感测试原理电容和电感是电路中常用的两种元件,它们在电路分析和设计中扮演着重要的角色。
为了准确测量电容和电感的数值,我们需要使用相应的测试方法和原理。
本文将介绍电容和电感测试的原理及其在实际应用中的意义。
一、电容测试原理电容是一种存储电荷的元件,其主要特性是电容值。
为了测量电容值,我们可以采用以下测试原理之一:1. 基本原理当电容器两端加有稳定的直流电压时,电容器内部会储存电荷,并且电容器两端的电压将会逐渐增加。
根据电容器充电过程中的电压变化规律,我们可以通过测量电压随时间的变化来计算电容值。
2. 充放电原理在充放电电路中,通过对电容器充电或放电的时间和电压进行测量,可以得到电容值。
充放电电路通常包括一个已知电阻和一个待测电容器,通过测量电容器的充电或放电时间常数,可以计算出电容值。
3. 频率响应原理频率响应测试原理是通过施加不同频率的信号输入,测量电容器对不同频率信号的响应来计算电容值。
通过分析电容器对不同频率信号的阻抗,可以得到电容值。
二、电感测试原理电感是一种存储磁场能量的元件,其主要特性是电感值。
为了测量电感值,我们可以采用以下测试原理之一:1. 自感原理根据自感原理,当通过一个电感线圈中流过交流电时,线圈内会产生感应电动势。
通过测量感应电动势和通过线圈的电流,可以计算出电感值。
2. 互感原理互感是指两个或多个线圈之间相互感应的现象。
通过测量互感线圈的感应电动势和通过线圈的电流,并结合互感系数,可以计算出电感值。
3. 频率响应原理类似于电容的频率响应原理,对于电感元件也可以通过施加不同频率的信号输入,测量电感器对不同频率信号的响应来计算电感值。
三、电容电感测试的意义与应用电容和电感是电路中常用的元件,其数值决定了电路的性能和特性。
准确测试电容和电感的数值对于电路分析、故障诊断和设计调整具有重要意义。
在电路分析中,通过测量电容和电感的数值,我们可以计算元件的频率响应、电路的时域特性和稳态工作点等参数,从而更好地了解电路的工作原理和性能。
ICT原理介绍
-------华科胜电子转载ICT原理介绍:一.隔离 ( Guarding )原理隔离为ICT量测很重要的一种应用技术,乃是将待测零件相连接的零件给予隔离,使待测零件的量测不受影响,如下图所示,应用运算放大器设计之电压随耦器,使输出电压 ( VG )与其输入电压 ( VA )相等,及运算放大器之两输入端间虚地( Virtual Ground )的原理,使得与待测零件相连的零件之两端同电位,而不会产生分流来影响待测零件的量测,如同是已将将待测零件相连接的零件给予隔离。
经由隔离之实施后,流经R1的电流几近零,不致影响R之量测。
由于V G=V A,因此I3=0所以R1=V/I1隔离 ( Guarding )基本原理图定电流测量法如下图所示,为被使用测量大电阻的测量法,乃是应用欧姆定律( Ohm’s Law ):R = V / I,提供定电流源至待测电阻,再由其两端所量测之电压值,来计算待测电阻之阻值。
定电流/电压测量法如下图所示,为常被使用之电阻的测量法,乃是应用反相放大器( Inverting Amplifier )原理:Vo = -Vi * Rf / R,计算出待测电阻R dut= -Vi * Rf / Vi。
I DUT = -I REFVi/R DUT = -Vo/R REFR DUT = -(Vi*R REF)/Vo 定电压测量法二.电容器的测试原理定电压测量 ( MODE C )图十二如上图所示应用运算放大器( OPA )之反相放大原理:Vo = -V * R / Xc,其中Xc =1/ ( 2fC )乃电容所产生的电抗,f为交流定电压的频率,再以角加速度『 = 2f』来代表,则可由公式:C = -Vo / ( V * * R ),来计算出电容之值定电流测量 ( MODE C )当电容值为10uF以上时,计算机会自动设定DC电容量测法。
此法是用DC定电流来使待测电容充电,然后由充电的时间可算出电容值。
电路元件参数测量
Cx
(2
1 f
)2
L
C0
〔3-3〕
式中 Cx —被测电容的容量;
L—标准电感
C0—标准电感的分布电容。
4.交流电桥法测量电容量和损耗因数
①串联电桥
RX R3
CX
G
Cn
Rn
R4
图4.8 (a)交流串联电桥测量电容和损耗因数
由电桥的平衡条件可得:
Cx
R4 R3
Cn
〔3-4〕
式中 Cx—被测电容的容量; Cn—可调标准电容; R3,R4—固定电阻。
可求得
:
Rx
R1 R2
Rn
kRn
③伏安法测量
伏安法测量原理如图4.4(a)、(b)所示, 有电流表内接和电流表外接两种测量电路。
RX + RA mA
RA
RX
+
-
mA
+
-
V
+
-
V
(a)电流表内接
(b)电流表外接
图4.4 伏安法测电阻原理图
〔1〕电流表内接 电流表内接时,电流表的读数I等于被
测电R x 阻 中流过的I电x 流 ,电压表的读数 等于R被x 测电阻 上的电压与电流表上的电 压之和。被测电阻的测值为:
RX —被测电阻的实际值;
RU —电压表内阻。
用伏安法测电阻,由于电阻接入的方法不同,测量 值与实际值有差异。此差异为系统误差,为了尽可 能减少系统误差,
一是采用加修正值的方法;
二是根据被测电阻的阻值范围合理选用 电路。
–当Rx»RA,即 kRxM,可采用电流
表内接电路;
– 当Rx«RU,即几 百 Rx1,可采用电
电感测量原理
电感测量原理
电感测量原理是通过测量电感元件对交流电信号的阻碍程度来确定电感元件的电感值。
电感是指电流在导体中产生的磁场所形成的储能现象。
当通以交流电信号时,电感元件内部会产生变化的磁场,该磁场会产生感应电动势,从而产生电流。
由于电感元件的存在,磁场的产生和消失不会非常迅速,而是会有一个延迟时间。
这种延迟可以用电感元件的电感来描述。
测量电感的一种常用方法是使用LCR测量仪。
LCR测量仪可
以通过对电感元件通以一定频率的交流电信号并测量相位差和电流幅度来计算电感值。
交流电信号通过电感元件时,会产生一个相位差,即电流波形和输入电压波形之间的相位差。
同时,电感元件对交流电信号的阻抗会引起电流幅度的变化。
通过测量相位差和电流幅度,可以计算出电感元件的电感值。
另一种测量电感的方法是使用阻尼振荡法。
该方法利用电感元件和电容元件共同组成的谐振电路,通过测量谐振频率来计算电感值。
当电感元件和电容元件共同组成谐振电路时,谐振频率会受到电感值的影响。
通过测量谐振频率,可以得到电感元件的电感值。
总结而言,电感测量原理是通过测量电感元件对交流电信号的阻碍程度来确定电感值,常用的方法包括LCR测量仪和阻尼
振荡法。
这些方法可以通过测量相位差、电流幅度或谐振频率来计算电感值。
阻抗测试原理
阻抗测试原理阻抗测试是一种用于测量电路、电子元件或材料的电学特性的方法。
在电气工程和电子领域中,阻抗测试被广泛应用于电路设计、故障诊断和材料分析等方面。
本文将介绍阻抗测试的原理及其在实际应用中的重要性。
首先,让我们来了解一下阻抗的概念。
阻抗是指电路对交流电的阻碍程度,它是由电阻、电感和电容构成的。
在交流电路中,阻抗是一个复数,包括实部和虚部,分别代表电阻和电抗。
而阻抗测试就是通过测量电路或元件对交流电的响应来确定其阻抗大小和相位关系。
在阻抗测试中,常用的测试方法包括交流阻抗测试和频谱阻抗测试。
交流阻抗测试是通过在被测电路上加上交流电压或电流,然后测量电压和电流之间的相位差和幅值来计算阻抗。
而频谱阻抗测试则是通过对被测电路施加不同频率的交流信号,然后测量其对应频率下的阻抗值,从而得到阻抗随频率变化的特性。
阻抗测试在电路设计中起着至关重要的作用。
通过对电路的阻抗进行测试,可以帮助工程师了解电路在不同频率下的响应特性,从而优化电路设计。
此外,阻抗测试还可以用于故障诊断。
通过比较实际测量的阻抗值与正常工作状态下的阻抗值,可以快速定位电路中的故障元件,提高故障诊断的效率。
除此之外,阻抗测试还在材料分析领域有着重要的应用。
许多材料在不同频率下的阻抗特性会发生变化,通过对材料的阻抗进行测试,可以帮助科研人员了解材料的电学特性,从而指导材料的设计和制备。
总之,阻抗测试作为一种重要的电学测试方法,不仅在电路设计和故障诊断中发挥着重要作用,还在材料分析领域有着广泛的应用前景。
通过对阻抗测试原理的深入了解,可以更好地应用这一测试方法,为电路设计和材料分析提供有力的支持。
阻抗测量原理
阻抗测量原理阻抗测量是一种用于测量电路或电子元件对交流电信号的阻力的方法。
在电子工程中,阻抗测量是非常重要的,因为它可以帮助工程师们了解电路的性能和特性。
本文将介绍阻抗测量的原理及其在电子工程中的应用。
首先,让我们来了解一下阻抗的概念。
阻抗是电路或电子元件对交流电信号的阻力,它包括电阻和电抗两部分。
电阻是电路对电流的阻力,而电抗则包括电感和电容两种。
在交流电路中,电阻、电感和电容都会对电流产生影响,因此我们需要测量它们的阻抗来了解电路的性能。
阻抗测量的原理基于欧姆定律和基尔霍夫定律。
欧姆定律指出,电阻的阻抗与电阻成正比,而基尔霍夫定律则描述了电路中电流和电压的关系。
通过测量电路中的电流和电压,我们可以计算出电路的阻抗。
在实际应用中,我们通常使用示波器、信号发生器和万用表等仪器来进行阻抗测量。
示波器可以用来观察电路中的电压波形,信号发生器则可以产生不同频率的交流信号,而万用表则可以测量电路中的电流和电压。
通过这些仪器的配合,我们可以准确地测量电路的阻抗。
阻抗测量在电子工程中有着广泛的应用。
在电路设计和测试中,工程师们经常需要对电路的阻抗进行测量,以确保电路的正常工作。
此外,在无线通信和射频工程中,阻抗匹配是非常重要的,因为它可以影响信号的传输和接收质量。
通过阻抗测量,工程师们可以优化无线电路的设计,提高通信质量。
总之,阻抗测量是电子工程中的重要技术,它可以帮助工程师们了解电路的性能和特性。
通过测量电路的阻抗,我们可以优化电路设计,确保电路的正常工作。
在未来的电子工程中,阻抗测量将继续发挥重要作用,促进电子技术的发展和应用。
希望本文对阻抗测量原理有所帮助,谢谢阅读!。
ICT测试工作原理
ICT测试工作原理 ICT测试工作原理
•
若电感此时采用直流信号源,L就相当于非常小 的电阻. 即将其当作小电阻进行测试,这样也可 测试电感漏件或断件的不良,但对于内部短路就 无法检测.
ICT测试工作原理 ICT测试工作原理 四. 二极管测试(D): • • 二极管正向测试时,加一正向电流在二极管上, 二极管的正向压降为0.7V(硅材料管),如果加一 反向电流在二极管上,二极管压降会很大. 加载电流有3mA , 20mA或 10mA.
ICT测试工作原理 ICT测试工作原理
•
1. 2.
思考:
为什么大电容需要用DC信号源?
若测试大电容采用直流电流源可以?
?
ICT测试工作原理 ICT测试工作原理
三.电感测试(L):
电感的测试方法和电容的测试类似,只用交流信 号测试. 利用:
XL=U/I
• 同时XL=ωL , 得到:
L=U/Iω=U/2πfI
ictict测试工作原理测试工作原理二极管正向测试时加一正向电流在二极管上二极管的正向压降为07v硅材料管如果加一反向电流在二极管上二极管压降会很大
ICT测试工作原理 测试工作原理
TV-PE/FTE:吴建飞
ICT测试工作原理 ICT测试工作原理
一.电阻测试(R):
• • 电阻是测试其阻值. 工作原理:就是在电阻的测试针上加一个电流, 然后测试这个电阻两端的电压,利用欧姆定律:
• 同时XC=1/ X =1/ωC,得到: C=I/Uω=I/2πfU
ICT测试工作原理 ICT测试工作原理 • 其中,F是测试频率,U、I是测试信号的电压和 电流有效值.
•
大容量(>3uf)的电容测试用DC方法,即用直 流电压加在电容两端,充电流随时间或指数减少 的规律,在测试时加一定的延时时间就可测出其 容量.
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三:测试原理
3.1隔离技术(GUARDING)
隔离技术是ict有别于万用表,是ICT特有的一种技术.因电路板上的元器件都是串并联在一起的,直接测试会因周边零件的影响而造成测试数值不准确,故在ICT里面有一种非常重要的技术,它就是隔离技术,通过隔离来屏蔽其他零件的影响。
如图所示:
D 隔离是利用运算放大器的“虚断”和“虚短”原理使C点的电位保持和B点基本等同接地,电压为0V。
隔离一般为分二种:隔离VCC与地。
一般电阻测试都是隔离VCC,电容测试隔离地(GND)隔离点(G点)的设置一般在3个以下,三个以上的隔离点使用效果也不太。
3.2电阻测试原理
3.2.1 电阻器的分类
电阻器有不同的分类方法。
按材料分,有碳膜电阻、水泥电阻、金属膜电阻和线绕电阻等不同类型;按功率分,有 1/2W、 1/4W、 1/8W、1/16W 、1W、2W等额定功率的电阻;按电阻值的精确度分,有精确度为± 5%、± 10%、± 20%等的普通电阻,还有精确度为± 0.1%、± 0.2%、± 0.5%、± l%和± 2%等的精密电阻。
电阻的类别可以通过外观的标记识别。
电阻器的种类有很多,通常分为三大类:固定电阻,可变电阻,特种电阻。
在电子产品中,以固定电阻应用最多。
而固定电阻以其制造材料又可分为好多类,但常用、常见的有RT型碳膜电阻、RJ型金属膜电阻、RX型线绕电阻,还有近年来开始广泛应用的片状电阻。
型号命名很有规律,第一个字母R代表电阻;第二个字母的意义是:T-碳膜,J-金属,X-线绕,这些
符号是汉语拼音的第一个字母。
在国产老式的电子产品中,常可以看到外表涂覆绿漆的电阻,那就是RT型的。
而红颜色的电阻,是RJ型的。
一般老式电子产品中,以绿色的电阻居多。
为什么呢?这涉及到产品成本的问题,因为金属膜电阻虽然精度高、温度特性好,但制造成本也高,而碳膜电阻特别价廉,而且能满足民用产品要求。
电阻器当然也有功率之分。
常见的是1/8瓦的“色环碳膜电阻”,它是电子产品和电子制作中用的最多的。
当然在一些微型产品中,会用到1/16瓦的电阻,它的个头小多了。
再者就是微型片状电阻,它是贴片元件家族的一员,以前多见于进口微型产品中,现在电子爱好者也可以买到了国产产品用来制作小型电子装置。
1、线绕电阻器:通用线绕电阻器、精密线绕电阻器、大功率线绕电阻器、高频线绕电阻器。
2、薄膜电阻器:碳膜电阻器、合成碳膜电阻器、金属膜电阻器、金属氧化膜电阻器、化学沉积膜电阻器、玻璃釉膜电阻器、金属氮化膜电阻器。
3、实心电阻器:无机合成实心碳质电阻器、有机合成实心碳质电阻器。
4、敏感电阻器:压敏电阻器、热敏电阻器、光敏电阻器、力敏电阻器、气敏电阻器、湿敏电阻器。
3.2.2 固定电流源(Constant Current)模式C2 f! r' H' r; \: `
对于不同的电阻值,ICT本身会自动限制一个适当的固定电流源做为测试的信号源使用,如此才不会因使用都的选择不当,因而产生过高的电压而烧坏被测试元件,故其测试方式为:提供一个适当的固定电流源I,流经被测电阻R,再于被测电阻R两端,测量出Vr,由于Vr及I已知,利用Vr=IR公式,即可得知被测电阻R值,如图: y2 A( K1 Q3 R9 k5 z
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U8 S( b2 n! Z9 ~
: R2 a+ m. F9 j3 t
3.2.3低固定电流源(Low Constant Current)模式
该测试方法和上述固定电流源模式一样,只是在被测电阻于电路上并联 (Parallel)着二极体(Diode)或是IC保护二极体(IC Clamping Diode)时,对于该电阻两端测量电压值若超过0.5V至0.7V左右时,因为二极体导电的关系,该电阻两端电压将被维持在0.5V至0.7V左右,固无法量测出真正的Vr值,为了解决此问题,只要将原先的电流源降低一级即可.如附图.& {* [% ?5 v0 ]0 w. E( |
3.2.4减小电容对电阻测试的影响:
在电路中,经常有RC电路,由于电容的特殊功能,导致所测量的电阻值有很大的偏差,此方法可以有效减小电容的充放电效应的影响。
如图所示:
在测试过程中,若对A点加加一个电压200mV,对电容C1和C2来说都要有一个充电的过程,在C1和C2未充满电去测量B点电流,电流值偏小引起R测试值和实际值偏差,可以在测试时激励端加一个延时(DELAY),相对应的在测量端也增加一个延时(RDELAY),这样能够有效的减小C对R测试值的影响。
e$ 3.3电容/电感测试原理
3.3.1电容/电感的分类:
按照结构分三大类:固定电容器、可变电容器和微调电容器。
按电解质分类有:有机介质电容器、无机介质电容器、电解电容器和空气介质电容器等。
按用途分有:高频旁路、低频旁路、滤波、调谐、高频耦合、低频耦合、小型电容器。
高频旁路:陶瓷电容器、云母电容器、玻璃膜电容器、涤纶电容器、玻璃釉电容器。
低频旁路:纸介电容器、陶瓷电容器、铝电解电容器、涤纶电容器。
滤波:铝电解电容器、纸介电容器、复合纸介电容器、液体钽电容器。
调谐:陶瓷电容器、云母电容器、玻璃膜电容器、聚苯乙烯电容器。
高频耦合:陶瓷电容器、云母电容器、聚苯乙烯电容器。
低频耦合:纸介电容器、陶瓷电容器、铝电解电容器、涤纶电容器、固体钽电容器。
小型电容:金属化纸介电容器、陶瓷电容器、铝电解电容器、聚苯乙烯电容器、固体钽电容器、玻璃釉电容器、金属化涤纶电容器、聚丙烯电容器、云母电容器。
电感的种类(电感线圈,色环电感,功率电感,电感器,色码电感,电感封装,滤波电感,共模电感)
3.3.2固定AC电压源(Constant AC Voltage)测试原理V5 O" r6 D
对于不同阻抗的电容或电感,ICT本身会自动选择一个适当频率的AC电压源,作为测试使用,其频率计有:1KHz , 10KHz , 100KHz , 对于极小阻抗值的电容或电感将需要较高频率的AC电压源,再测量被测元件两端的电压源,由于V=Ic*Zc,而V及Ic或Il已知,故得知Zc=1/2π*f*C或Zl=2πfL,又因f已知,故即可得知电容C或电感L值.如图:
3.4 GUARDING的方法:
1:DEBUG,元器件链接复杂的一端可为激励,而另一端相对简单的可作为测量端。
2:大电阻测试时,若出现偏差较大,可适当增大激励电压。