品质管理07(台湾讲师课件)
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7-18
第七章 製程能力分析
製程能力指標： 製程能力指標：C 值
pm
在目標值(Tg)為規格中心(MS)的前提下， Cpm公式定義如下：
Cpm = = 6σ = 6 σ 2 + ( µ −T g ) USL − LSL σ2 USL − LSL
2
(µ −T g)2 1+
(µ −T g)2 1+
σ2
7-2
第七章 製程能力分析
7-3
第七章 製程能力分析
與規格公差(USL自然公差 (6σ )與規格公差 LSL)之關係 【 1/3 】 之關係
7-4
第七章 製程能力分析
與規格公差(USL自然公差 (6σ )與規格公差 LSL)之關係 【 2/3 】 之關係
7-5
第七章 製程能力分析
與規格公差(USL自然公差 (6σ )與規格公差 LSL)之關係 【 3/3 】 之關係
a
Ca值在衡量製程平均值(µ)與規格中心 值(MS)之一致性。
µ − MS Ca = T2 T =USL − LSL
Ca值越小，表示製程能力越好。
7-8
第七章 製程能力分析
C 值的討論
a
Ca值只考慮製程平均是否偏離規格中 心，而未考慮製程的變異，因此，不論 製程的變異大小為何，在相同的製程平 均之下，其Ca值是一樣的。職是之故， 單純的 用Ca值來衡量製程能力是有偏 頗的。
7-12
第七章 製程能力分析
C 單邊規格界限
p
| µ − LSL | | USL − µ | Cp = or = 3 σ 3 σ ˆ ˆ | µ − LSL | | USL − µ | ˆ Cp = or = 3ˆ σ 3ˆ σ
7-13
第七章 製程能力分析
7-14
第七章 製程能力分析
7-15
第七章 製程能力分析
7-17
第七章 製程能力分析
之討論(表 之討論 ＣC C， ， 與p之討論 表7-6)
a p pk
製程平均對規格中心不偏時，Cpk＝Cp。 製程平均對規格中心有偏離時，Cpk＜Cp。 在相同的製程變異(σ)下，製程平均對規格中 心有偏時，Cp值不變，而Cpk值會隨著偏離 Cp Cpk 程度加大而變小。 在製程平均對規格中心的偏離程度一定的條 件下，若製程的變異程度越大，則Cp值會越 小，Cpk值也會越小。 既使製程平均對規格中心的偏離程度變大， 但只要製程變異程度較小，仍可能得到較大 的Cpk值，其不良率也有可能會較小。
USL− µ µ − LSL ， pk (L) = Ｃ Cpk (U) =
6σ
T2
3σ
3σ
7-16
第七章 製程能力分析
C 值的等級判定
pk
等級 A B C D E 1.67 ≦ Cpk
Cpk值 1.33 ≦ Cpk ≦ 1.67 1 ≦ Cpk ≦ 1.33 0.67 ≦ Cpk ≦ 1 0 ≦ Cpk ≦ 0.67
7-6
第七章 製程能力分析
對於6 對於 σ > (USL - LSL) 之解決 途徑
與產品設計工程師商討放寬規格的可行 性。 對產品進行100%的檢驗。 設法改變產品個別值分配的離中趨勢。 若可重新加工，則調整產品個別值分 配的集中趨勢。
7-7
第七章 製程能力分析
製程能力指標： 製程能力指標：C 值
第七章 製程能力分析
學習內容
定義 自然公差與規格公差 製程能力指標 以管制圖進行製程能力分析 組件裝配公差
7-1
第七章 製程能力分析
定義
製程能力：製程產出的一致性。 製程能力分析：對製程能力的研究。 自然公差：在管制狀態下，製程中產品 品質變異在六個標準差範圍內。 規格公差：規格上限減規格下限後的界 限寬度。
7-9
第七章 製程能力分析
製程能力指標： 製程能力指標： C 值
p
【 1/2 】
Cp值在衡量製程變異滿足產品品質標 準 (規格公差)之程度。
T USL− LSL Cp = 6σ = 6σ
其中， T = 規格公差
USL= 規格上限 LSL= 規格下限
7-10
(雙邊規格)
第七章 製程能力分析
製程能力指標： 製程能力指標： C 值
製程能力指標： 製程能力指標：Cpk值
Cpk值是將Ca 值與Cp 值合併評估，而 同時衡量製程產出的集中程度與變異程 度。 µ − MS T Cpk = (1− K)× , K= = Ca 因此， Cpk = (1− Ca )Cp (雙邊規格) 或 Cpk = Min?[Cpk (U),Cpk (L)]
7-19
p
【 2/2 】
USL − LSL $ 或 C = p $ 6σ
(雙邊規格)
ˆ 其中， Cp = Cp 的估計值
ˆ σ = σ 的估計值
Cp值越大，表示製程能力越好。
7-11
第七章 製程能力分析
C 值的討論
p
Cp值只考慮製程變異，而未考慮製程 平均是否偏離了規格中心，因此，不論 製程平均偏離規格中心的程度如何，在 同樣的製程變異條件下，其Cp值是一 樣的。因此，單純的用Cp值來衡量製 程能力是有偏頗的。
第七章 製程能力分析
製程能力指標： 製程能力指標：C 值
pm
在目標值(Tg)為規格中心(MS)的前提下， Cpm公式定義如下：
Cpm = = 6σ = 6 σ 2 + ( µ −T g ) USL − LSL σ2 USL − LSL
2
(µ −T g)2 1+
(µ −T g)2 1+
σ2
7-2
第七章 製程能力分析
7-3
第七章 製程能力分析
與規格公差(USL自然公差 (6σ )與規格公差 LSL)之關係 【 1/3 】 之關係
7-4
第七章 製程能力分析
與規格公差(USL自然公差 (6σ )與規格公差 LSL)之關係 【 2/3 】 之關係
7-5
第七章 製程能力分析
與規格公差(USL自然公差 (6σ )與規格公差 LSL)之關係 【 3/3 】 之關係
a
Ca值在衡量製程平均值(µ)與規格中心 值(MS)之一致性。
µ − MS Ca = T2 T =USL − LSL
Ca值越小，表示製程能力越好。
7-8
第七章 製程能力分析
C 值的討論
a
Ca值只考慮製程平均是否偏離規格中 心，而未考慮製程的變異，因此，不論 製程的變異大小為何，在相同的製程平 均之下，其Ca值是一樣的。職是之故， 單純的 用Ca值來衡量製程能力是有偏 頗的。
7-12
第七章 製程能力分析
C 單邊規格界限
p
| µ − LSL | | USL − µ | Cp = or = 3 σ 3 σ ˆ ˆ | µ − LSL | | USL − µ | ˆ Cp = or = 3ˆ σ 3ˆ σ
7-13
第七章 製程能力分析
7-14
第七章 製程能力分析
7-15
第七章 製程能力分析
7-17
第七章 製程能力分析
之討論(表 之討論 ＣC C， ， 與p之討論 表7-6)
a p pk
製程平均對規格中心不偏時，Cpk＝Cp。 製程平均對規格中心有偏離時，Cpk＜Cp。 在相同的製程變異(σ)下，製程平均對規格中 心有偏時，Cp值不變，而Cpk值會隨著偏離 Cp Cpk 程度加大而變小。 在製程平均對規格中心的偏離程度一定的條 件下，若製程的變異程度越大，則Cp值會越 小，Cpk值也會越小。 既使製程平均對規格中心的偏離程度變大， 但只要製程變異程度較小，仍可能得到較大 的Cpk值，其不良率也有可能會較小。
USL− µ µ − LSL ， pk (L) = Ｃ Cpk (U) =
6σ
T2
3σ
3σ
7-16
第七章 製程能力分析
C 值的等級判定
pk
等級 A B C D E 1.67 ≦ Cpk
Cpk值 1.33 ≦ Cpk ≦ 1.67 1 ≦ Cpk ≦ 1.33 0.67 ≦ Cpk ≦ 1 0 ≦ Cpk ≦ 0.67
7-6
第七章 製程能力分析
對於6 對於 σ > (USL - LSL) 之解決 途徑
與產品設計工程師商討放寬規格的可行 性。 對產品進行100%的檢驗。 設法改變產品個別值分配的離中趨勢。 若可重新加工，則調整產品個別值分 配的集中趨勢。
7-7
第七章 製程能力分析
製程能力指標： 製程能力指標：C 值
第七章 製程能力分析
學習內容
定義 自然公差與規格公差 製程能力指標 以管制圖進行製程能力分析 組件裝配公差
7-1
第七章 製程能力分析
定義
製程能力：製程產出的一致性。 製程能力分析：對製程能力的研究。 自然公差：在管制狀態下，製程中產品 品質變異在六個標準差範圍內。 規格公差：規格上限減規格下限後的界 限寬度。
7-9
第七章 製程能力分析
製程能力指標： 製程能力指標： C 值
p
【 1/2 】
Cp值在衡量製程變異滿足產品品質標 準 (規格公差)之程度。
T USL− LSL Cp = 6σ = 6σ
其中， T = 規格公差
USL= 規格上限 LSL= 規格下限
7-10
(雙邊規格)
第七章 製程能力分析
製程能力指標： 製程能力指標： C 值
製程能力指標： 製程能力指標：Cpk值
Cpk值是將Ca 值與Cp 值合併評估，而 同時衡量製程產出的集中程度與變異程 度。 µ − MS T Cpk = (1− K)× , K= = Ca 因此， Cpk = (1− Ca )Cp (雙邊規格) 或 Cpk = Min?[Cpk (U),Cpk (L)]
7-19
p
【 2/2 】
USL − LSL $ 或 C = p $ 6σ
(雙邊規格)
ˆ 其中， Cp = Cp 的估計值
ˆ σ = σ 的估計值
Cp值越大，表示製程能力越好。
7-11
第七章 製程能力分析
C 值的討論
p
Cp值只考慮製程變異，而未考慮製程 平均是否偏離了規格中心，因此，不論 製程平均偏離規格中心的程度如何，在 同樣的製程變異條件下，其Cp值是一 樣的。因此，單純的用Cp值來衡量製 程能力是有偏頗的。