量具及测量仪器校正指引

示值最大允许误差：
70mm：允许误差±0.02mm； 200mm：允许误差±0.03mm；
300mm：允许误差±0.04mm 500mm：允许误差±0.05mm；
1000mm：允许误差±0.07mm 1500mm：允许误差±0.14mm；
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5.3.1.5测内径接触面磨损程度：
3.2采购部：依品管部提供的量具仪器外校《申购单》或部门提供的《维修申请单》，联络有资格的校正机构或维修机构，对本公司的量具仪器进行校正或维修，负责跟进外校或维修的进度。
四 流程图
（无）
五 内容
5.1量具及测量仪器的外部校准操作
5.1.1品管部在《量具仪器校正记录一览表》筛选外部校正量具仪器清单及校正记录；
5.2.4品管部需做好内校量具仪器的校正记录表，并及时更新《量具仪器校正记录一览表》中量具仪器的使用状态。
5.2.5量具仪器使用过程中，由使用部门依规定进行日常检查和维护保养；
5.2.6量具仪器使用、维护、校正过程中呈现不适用和异常状态，应立即停止使用，并通知品管部确认，以确定是内部调修，还是申请外修。
5.3.1.8校正周期：3个月
5.3.1.9相关记录：《量具仪器校正记录一览表》
5.3.2.0校准所依据的技术文件:JJG30-2012通用卡尺检定规程
5.3.2千分尺内部校验规程
5.3.2.1校验基准：外校合格的标准块规。
5.3.2.2环境条件:室温20±5℃检定室内相对湿度不大于70％
5.3.2.3校验步骤
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一 目的
1.1对量具或测量仪器进行内部及外部校准,确保其准确度和适用性保持完好。
二 适用范围
2.1内部校正适用于卡尺、千分尺、高度尺、针规、塞尺、磁座、平台及本公司内部制作
的各种Βιβλιοθήκη Baidu具；
2.2外部校正适用于二次元、三次元、角度规、块规、牙规、电子秤、硬度计。
三 职责
3.1品管部：依照指引对本公司的量具及测量仪器进行管理，量具仪器的验收，合理安排量具仪器的内部及外部校正，跟踪量具及测量仪器的状态，保证量具及测量仪器的准确度，以及量具仪器的维修确认及对报废量具的确认；
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c.示值的漂移性:数显高度尺的数字漂移在1H时间内不超过0.01MM。
d.示值误差: 用外校合格的量块在平台上校准,受检点不得少于5点,示值误差如下：≤200mm：±0.03mm; 200<L≤300mm:±0.04mm; 300<L≤500mm:±0.05mm;
500<L≤1000mm:±0.07mm; 1000<L≤2000mm:±0.25mm;
d.素材直线度：0.1~1.5mm:±0um; >1.5～3mm：±5um;
>3～6mm：±3um; >6～10mm：±1.5um; >10～25mm：±1.0um;
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生效日期
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5.3.7.4 校正周期:12个月
5.3.7.5 相关记录:《量具仪器校正记录一览表》
5.3.7.6校准所依据的技术文件:JJF1207-2008针规检定规程
5.2量具及测量仪器的内部校准操作
5.2.1品管部在《量具仪器校正记录一览表》筛选内部校正量具仪器清单及校正记录；
5.2.2品管部（不影响生产的前提下）合理安排量具及测量仪器的内校；
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5.2.3品管部依标准对量具仪器进行校正，校正合格贴《校正合格标签》，不合格量具仪器贴《仪器量具限用标签》，由使用部门填写《维修申请单》由品管部进行维修，如内部不能维修，需通知使用部门填写《维修申请单》，交采购部联络维修机构进行维修，维修后品管部需对量具仪器进行校正确认，合格贴《校正合格标签》，不合格则由维修机构重新维修，若确认不能维修则通知使用部门提出报废申请，交品管部负责人批准后报废或作为其它低级别限制使用；
a.外观:磁座工作表面不允许有锈蚀、碰伤等影响使用准确度的外观缺陷；
b.工作面平面度:清洁磁座、大理石平台及高度尺,使工作面无灰尘、油污,将磁座放置于平台上,用高度尺对磁座工作面测量其平面度及垂直度,测量差值不允许超过0.02MM。
5.3.6.4 校正周期:12个月。
5.3.6.5 相关记录:《量具仪器校正记录一览表》
5.1.2品管部（不影响生产的前提下）合理安排量具及测量仪器的外校；
5.1.3品管部填写《申购单》经批准后和需外校的量具仪器一起送交采购部；
5.1.4采购部联络有资格的校准机构，将校正的量具仪器送校准机构校正，并跟进校正的进度；
5.1.5对外校返回量具仪器的校正结果登记（包括校正日期、校正结果）在《量具仪器校正记录一览表》，保存校验报告。
50～100mm:±0.005mm;100～150mm:±0.006mm;150～200mm:±0.007mm;
200～250mm:±0.008mm;
数显外径千分示值的最大允许误差范围：0～50mm:±0.002mm；
50～100mm:±0.003mm;100～150mm:±0.003mm;150～200mm:±0.004mm;
5.3.5.4 校正周期:6个月。
5.3.5.5相关记录:《量具仪器校正记录一览表》
5.3.5.6校准所依据的技术文件:JJG31-2011高度尺检定规程
5.3.6磁座内部校验规程
5.3.6.1 校准基准: 校正合格的高度尺。
5.3.6.2环境条件: 室温20±5℃检定室内相对湿度不大于80％
5.3.6.3校验步骤:
5.3.8检具内部检验规程:
5.3.8.1 校准基准: 校正合格的高度尺。
5.3.8.2 环境条件: 室温20±5℃检定室内相对湿度不大于80％
5.3.8.3 校验步骤:
a.外观:检查检具外表面是否有碰伤、划痕、毛刺、锈斑等影响使用计量特性的外观缺陷；
b.尺寸测量:用检测合格的相关测试仪器对其控制的尺寸进行测 量;
5.3.4.4 校正周期:12个月。
5.3.4.5 相关记录:《量具仪器校正记录一览表》。
5.3.4.6校准所依据的技术文件:JJG62-2007塞尺检定规程
5.3.5高度尺内部校验规程
5.3.5.1 校准基准: 外校合格的块规
5.3.5.2 环境条件: 室温20±5℃检定室内相对湿度不大于80％
5.3.5.3校验步骤:
a.检查塞尺的工作面有无划痕、毛刺、锈斑等影响使用计量特性的外观缺陷；
b.保护板上应标出制造厂商、规格及出厂编号，每片塞尺上应标出厚度的标称值；
C. 塞尺与保护板的联接应可靠，塞尺绕联接件转动应灵活,不得有松动、卡滞现象。
d.示值误差:用外校合格千分尺进行校准,对每片塞尺的工作长度至少取5点测量,边缘1㎜内超负公差可接受,误差不允许超过±0.005㎜。
200～250mm:±0.004mm;
5.3.2.5历次测量值与标准值之差，均在允许误差范围内，判校准合格。
5.3.2.6校正周期3个月。
5.3.2.7相关记录：《量具仪器校正记录一览表》
5.3.2.8校准所依据的技术文件:JJG21-2008千分尺检定规程
5.3.3大理石平台内部校验规程
5.3.3.1校验基准：外校合格的高度尺
A.检查千分尺测量接触面是否平整、干净、无污渍、锈迹、刻度是否清晰；
B.扭动千分尺螺栓调校零位，使刻度对准零点；
C.根据不同量程的千分尺选择适宜的标准量块，（可对标准量块进行组合测量）。每块量块连续三次，每次测量值均应在允许误差范围内，将其平均值记录在《量具仪器校正记录一览表》内。
5.3.2.4外径千分示值的最大允许误差范围：0～50mm:±0.004mm；
5.3.6.6校准所依据的技术文件:JJG117-2005平板检定规程
5.3.7针规内部校验规程
5.3.7.1 校准基准: 校正合格的高度尺。
5.3.7.2 环境条件: 室温20±5℃检定室内相对湿度不大于80％
5.3.7.3 校验步骤:
a.外观:检查检个的外表面是否有碰伤、划痕、毛刺、锈斑等影响使用计量特性的外观缺陷；
B.调校零位，或使指针对准零点；
C.先取一块10MM基准量块进行度量，量块被测面要干净、平整；
D.连续测量3次，允许误差为±0.02MM,取其平均值记录于《量具仪器校正记录一览表》内，在度量过程中卡尺要和被测量块同方向平直。
5.3.1.4以同样方法，用以下基准量块逐个度量，每量程测量3次取其平均值，记录于《量具仪器校正记录一览表》内：
5.3.3.4校正周期:6个月。
5.3.3.5相关记录:《量具仪器校正记录一览表》
5.3.3.6校准所依据的技术文件:JJG117-2005平板检定规程
5.3.4塞尺内部校验规程
5.3.4.1校验基准:外校合格的千分尺
5.3.4.2 环境条件: 室温20±5℃检定室内相对湿度不大于80％
5.3.4.3 校验步骤:
b.偏差:用外校合格的千分尺,对每个针规的工作长度至少取3点测量,记录
测量的平均值,根据现有客户产品的公差精度，暂定偏差等级为2级，任
意直径的极限偏差如下：0.1～10mm：±2um； >10～25mm：±3um
c.直径变动量及圆度:根据现有客户产品的公差精度，暂定偏差等级为2
级，标准如下：0.1～10mm：±1.6um； >10～25mm：±2.4um
5.3.3.2环境条件：室温20±5℃检定室内相对湿度不大于80％
版本号
生效日期
拟制
审核
批准
5.3.3.3校验步骤
a. 外观: 目视平台上色彩均匀,不应有裂纹、划痕、碰伤、凹坑等影响平台使用准确度的缺陷；
b. 工作面平面度误差校准:清洁平台,高度尺,使其无灰尘、油污，再在平台前、中、后各选取三点,用高度尺测量其值并记录之,测量结果的最大值与最小值的差值就是平面度的误差值,最大误差值不允许超过0.02MM。
5.3量具及测量仪器内部校正规范
5.3.1卡尺内部校正规范
5.3.1.1校验用基准物质：外校合格的标准块规（量块）
5.3.1.2环境条件：室温20±5℃ 检定室内相对湿度不大于80％
5.3.1.3校验步骤
A.检查所校准卡尺测量接触面是否平整、干净、无污渍、锈迹、指针式表头的指针是否完好、有无松动、刻度是否清晰、推动表头是否平稳。凡严重不符合则判不合格予以更换；
取两块同样大小的量块（构成测量基准面），夹紧一块50MM的量块成“H”型，然后移动表头，使卡尺上面的测量端张开靠紧两基准面后再读数，测量3次，取平均值记录于《量具仪器校正记录一览表》内。
5.3.1.6可根据不同量程的卡尺选用不同的基准量块或其组合进行校准。
5.3.1.7历次测量值和标准值之差，均在允许误差范围内，判校准合格。
a.外观: 高度尺导杆不应有碰伤、锈蚀、镀层脱落、明显划痕、表蒙透明清洁、数显窗不得倾斜、破损以及影响使用准确度的其它缺陷；
b.各部分相互作用:高度尺底座放在平台上应平稳,尺框沿导杆移动移应手感平稳,不应有阻滞或自重下滑现象,数字显示应清晰、完整、无黑斑和闪跳现象,各按扭功能可靠,工作稳定；紧固螺钉的作用应可靠,微动装置的空程,应不超过1/2转。
5.3.8.4 校正周期:12个月
5.3.8.5 相关记录:《检具校正记录一览表》
5.3.8.6校准所依据的技术文件:客户图纸.
5.3.9内部制作检具免校规定:
5.3.9.1无尺寸、功能方面的辅助检具可免校;
例:沙拉钉、压钉数量及位置对比检具等;