x粉末衍射实验分析报告
材料分析实验报告
材料分析实验报告实验目的：1.通过XRD实验，了解材料的晶体结构和晶格参数。
2.学会使用XRD仪器进行样品测量和数据分析。
实验原理：XRD（X射线衍射）是一种通过照射样品表面的X射线，观察其衍射图谱来分析材料晶体结构和晶格参数的方法。
根据布拉格方程，晶体内的原子平面间距与入射X射线波长、衍射角度之间存在关系。
实验过程：1.样品制备：a.将待分析的材料粉末状样品放入研钵中，加入少量丙酮调制成均匀的浆糊状。
b.使用玻璃片或者石英片将浆糊均匀地涂覆在片上，形成薄膜样品。
c.放置在通风处，使样品完全干燥。
2.实验操作：a.将干燥的样品片安装在XRD仪器的样品台上。
b.设定入射X射线的波长和电流，并确定扫描范围和速度。
c.启动扫描，开始测量样品的衍射图谱。
d.根据实验结果，计算并分析晶体结构和晶格参数。
实验结果：[插入实验结果图谱]根据图谱，我们可以看到明显的衍射峰，表示样品中存在特定晶面的衍射。
通过峰的位置和强度，我们可以判断出样品的晶体结构和晶格参数。
实验结论：根据衍射峰的位置和强度，我们得出样品为立方晶体结构，晶胞参数为a=b=c=3.5Å。
实验总结：通过本次XRD实验，我们学会了使用XRD仪器进行材料分析。
对于具有明显衍射峰的样品，我们可以通过XRD测量来确定其晶体结构和晶格参数。
同时，我们也需要注意样品制备的过程，确保样品干燥和均匀涂覆在片上，以获得准确的实验结果。
通过实验，我们加深了对材料的了解，并为进一步研究和应用提供了基础。
X射线衍射仪实验报告（范文模版）
X射线衍射仪实验报告（范文模版）第一篇：X射线衍射仪实验报告（范文模版）基本构造：（1）高稳定度X射线源提供测量所需的X射线, 改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长, 调节阳极电压可控制X射线源的强度。
（2）样品及样品位置取向的调整机构系统样品须是单晶、粉末、多晶或微晶的固体块。
（3）射线检测器检测衍射强度或同时检测衍射方向, 通过仪器测量记录系统或计算机处理系统可以得到多晶衍射图谱数据。
（4）衍射图的处理分析系统现代X射线衍射仪都附带安装有专用衍射图处理分析软件的计算机系统, 它们的特点是自动化和智能化。
操作：第一步：检查真空灯是否正常，左“黄”右“绿”为正常状态，如果“绿”灯闪或者灭的状态表明真空不正常；第二步：冷却水系统箱，打开其开关（冷却水的温度低于26℃为正常）。
如果“延时关机”为开的状态要关闭。
“曲轴加热”一般在寒冬才用，打开预热10min 后即可继续以下操作。
（此外，测试实验完成后，打开“延时关机”按钮，而冷却水的“关闭”按钮不关，30min后冷却水会自动关闭）第三步：打开机器后面“右下角”的“测角仪”（上开下关），而“左下角”的开关一般为“开”的状态，除有允许不要动；第四步：电脑操作，桌面“右下角”有“蓝色标示”说明电脑和机器已经连接，否则“左击”该标示选择“初始化”即可；第五步：装样品，载物台一般用“多功能”的，粉体或者块体装上后，使其平面与载物台面相平。
如果是粉体还要在滑道上铺层纸，避免掉料污染滑道；第六步：在机器中放样品前，按“Door”按键，听到“嘀嘀”声时，方可打开机器门；第七步：点击“standard measurement”中的运行按钮即可运行机器进行测试中。
第八步：实验完成后，先降电流后降电压，20mA/5min至10mA，5kV/5min至20kV；关闭各个软件，关闭“测角仪”开关。
冷却水箱上的开关可以直接打开“延时关机”开关，而冷却水“关闭”按钮不关，30min后自动关闭冷却水。
X-射线粉末衍射法物相定性分析
X 射线粉末衍射法物相定性分析粉末衍射也称为多晶体衍射，是相对于单晶体衍射来命名的，在单晶体衍射中，被分析试样是一粒单晶体，而在多晶体衍射中被分析试样是一堆细小的单晶体（粉末）。
每一种结晶物质都有各自独特的化学组成和晶体结构。
当X 射线被晶体衍射时,每一种结晶物质都有自己独特的衍射花样。
利用X 射线衍射仪实验测定待测结晶物质的衍射谱，并与已知标准物质的衍射谱比对,从而判定待测的化学组成和晶体结构这就是X 射线粉末衍射法物相定性分析方法。
一.实验目的及要求（1）学习了解X 射线衍射仪的结构和工作原理;（2）掌握利用X 射线粉末衍射进行物相定性分析的原理;（3）练习用计算机自动检索程序检索PDF(ASTM)卡片库，对多相物质进行相定性分析。
二. 实验原理通过晶体的布喇菲点阵中任意3个不共线的格点作一平面，会形成一个包含无限多个格点的二维点阵，通常称为晶面。
相互平行的诸晶面叫做一晶面族。
一晶面族中所有晶面既平行且各晶面上的格点具有完全相同的周期分布。
因此，它们的特征可通过这些晶面的空间方位来表示。
要标示一晶面族，需说明它的空间方位。
晶面的方位（法向）可以通过该面在3个基矢上的截距来确定。
对于固体物理学原胞，基矢为1a ，2a ，3a ，设一晶面族中某一晶面在3基矢上的交点的位矢分别为1r a ，2s a ，3t a ，其中r ，s ，t 叫截距，则晶面在3基矢上的截距的倒数之比为123111::::r s th h h = 其中123,,h h h 为互质整数，可用于表示晶面的法向，就称123h h h 为该晶面族的面指数，记为123()h h h 。
最靠近原点的晶面在坐标轴上的截距为11/a h ，22/a h ，33/a h 。
同族的其他晶面的截距为这组最小截距的整数倍。
在实际工作中，常以结晶学原胞的基矢a ，b ，c 为坐标轴表示面指数。
此时，晶面在3坐标轴上的截距的倒数比记为111::::r s th k l =整数,,h k l 用于表示晶面的法向，称hkl 为该晶面族的密勒指数，记为()hkl 。
Rietveld方法X射线粉末衍射分析报告之一
Ｒｉｅｔｖｅｌｄ方法Ｘ射线粉末衍射分析报告之一李家驹 （中国科学院地质与地球物理研究所 北京） （岛津国际贸易（上海）有限公司 北京办事处 北京） 水泥熟料的物相定量分析１）水泥熟料的四个主要物相是硅酸三钙（Ａｌｉｔｅ， Ｃａ３Ｓｉ２Ｏ７，Ｃ３Ｓ），硅酸二钙（Ｂｅｌｉｔｅ，Ｃａ２ＳｉＯ４， Ｃ２Ｓ），铝酸盐Ａｌｕｍｉｎａｔｅ，Ｃａ３Ａｌ２Ｏ６，Ｃ３Ａ）和铁铝酸盐（Ｆｅｒｒｉｔｅ，Ｃａ４Ａｌ２Ｆｅ２Ｏ１０，Ｃ４ＡＦ），以及微量的ＭｇＯ（方镁石），ＣａＯ或硫酸盐及非晶态相等，有时出现一些反应不完全的残留相，如二氧化硅（ＳｉＯ２，石英），甚至出现一些新的物相，还有一些添加的改善水泥质量与性能的石膏等。
前四种物相的含量的差别是水泥标号的指标。
因此水泥的物相的定量有实际意义。
只有最佳组合相的原材料混合物，才能生产高质量的水泥。
２）传统的水泥物相定量有三种方法。
（１）Ｂｏｇｕｅ法：利用Ｘ射线荧光光谱分析的成分，按几种假设物相配分，计算出主要物相的含量。
但是有以下问题。
ａ．由于生产过程中变化的因素，并非完全产生理想的物相。
ｂ． 非晶态相的含量。
（２）利用光学显微镜（ＯＭ）或扫描电子显微镜加能谱（ＳＥＭ＋ＥＤＸ），计数统计熟料的物相晶粒面积，以及化学成分。
问题是物相判断准确度，特别是细微颗粒，非晶态等的观察和统计。
（３）Ｘ射线粉末衍射法（ＸＲＤ） 。
利用各个物相的主要衍射峰强度的方法。
但由于水泥熟料物相晶体结构的复杂性，衍射峰的重叠。
即使非常注意样品的研磨与制备，对于定量的精确度与准确度有所改善，在工厂实验室，比前两种方法要好。
根据Ｘ射线粉末衍射法的所谓‘直接法’，是唯一能够直接提供熟料物相的分析方法。
以上三种定量方法的比较，使用显微镜方法，Ｃ３Ｓ与Ｃ２Ｓ的定量精度高一些，由于Ｃ３Ａ与Ｃ４ＡＦ近似，所以ＸＲＤ方法比较准确。
３）利用Ｒｉｅｔｖｅｌｄ方法的定量分析。
虽然提出Ｒｉｅｔｖｅｌｄ方法的基本思想是利用粉末衍射数据解析晶体结构。
材料分析(XRD)实验报告
材料分析(XRD)实验报告实验介绍X射线衍射(X-ray diffraction，XRD)作为材料分析的重要技术，广泛应用于理化、材料、生物等多领域的研究中。
通过探测样品经X射线照射后发生的衍射现象，可以研究样品的晶体结构、成分、析出物、方位取向和应力等信息。
本次实验旨在运用XRD技术，对给定的样品进行分析，获得其粉末衍射图谱，并辨识样品的组分和晶体结构。
实验内容实验仪器实验仪器为材料研究机构常用的X射线衍射仪(XRD)。
实验条件•电压：40kV•电流：30mA•Kα射线：λ=0.15418nm实验步骤1.准备样品，测定粒度，并将其均匀地涂抹在无机玻璃衬片上。
2.打开XRD仪器，调节仪器光路使样品受到Kα射线照射。
3.开始测量，记录粉末衍射图谱，并结合实验结果进行分析。
实验结果样品组分辨识通过对样品的粉末衍射图谱进行分析，我们可以得到其组分信息。
我们发现该样品固然是单晶体且结构对称性良好，可能为同质单晶或者异质晶体；而根据峰强度和位置的对比，推测其为氢氧化钠(NaOH)晶体。
样品晶体结构我们通过对样品的峰形、角度和强度等参数进行精确计算与比对，确定了其晶体结构。
结果表明，该样品为六方晶系的氢氧化钠晶体，具有P63/mmc空间群。
数据分析在粉末衍射图谱中，我们观察到了一系列异常峰，其中最强的三个峰分别位于14.1°、28.05°和62.75°。
这些峰的出现是由于样品晶体在受到X射线照射后产生的衍射现象。
观察这些峰的强度和峰形，我们可以获得该样品的晶体结构信息。
6个最强峰分别位于：14.06°、28.106°、32.667°、36.145°、41.704°、50.952°，对应晶面指数hkl为：001、100、102、110、103、112。
我们将其与国际晶体结构数据中心(ICDD)的氢氧化钠(NaOH)晶体结构进行比对，发现两者是相符的，因此可以确认该样品为氢氧化钠(NaOH)晶体。
x射线粉末衍射实验报告
x射线粉末衍射实验报告X射线粉末衍射实验报告引言：X射线粉末衍射是一种重要的实验方法，广泛应用于材料科学、物理学和化学等领域。
本实验旨在通过X射线粉末衍射实验，研究晶体结构和晶体的晶格常数。
实验原理：X射线粉末衍射是利用X射线通过晶体时，由于晶体的周期性结构，X射线会被晶体中的原子散射，并形成一系列衍射斑。
这些衍射斑的位置和强度可以提供关于晶体结构的信息。
实验中使用的X射线源通常是一台X射线衍射仪，而样品则是粉末状的晶体。
实验步骤：1. 准备样品：将晶体样品研磨成粉末状，并均匀地撒在玻片上。
2. 调整仪器：将样品放置在X射线衍射仪的样品台上，并调整仪器使得X射线能够垂直照射到样品上。
3. 开始测量：打开X射线衍射仪，开始测量衍射图样。
4. 数据处理：将测量得到的衍射图样进行分析，确定衍射斑的位置和强度。
5. 结果分析：根据衍射斑的位置和强度，计算晶体的晶格常数和晶体结构。
实验结果：通过对样品进行X射线粉末衍射实验，我们得到了一张衍射图样。
在图样中，我们观察到了一系列的衍射斑，这些斑点的位置和强度提供了关于晶体结构的重要信息。
根据衍射斑的位置和强度，我们可以计算出晶体的晶格常数和晶体结构。
晶格常数是晶体中原子排列的基本单位长度，而晶体结构则描述了晶体中原子的排列方式。
通过对实验结果的分析，我们可以得到晶体的晶格常数和晶体结构。
这些结果对于理解晶体的性质和应用具有重要意义。
讨论与结论：X射线粉末衍射实验是一种非常有用的方法，可以用来研究晶体结构和晶体的晶格常数。
通过实验，我们可以获得关于晶体的重要信息，对于材料科学、物理学和化学等领域的研究具有重要意义。
然而，X射线粉末衍射实验也存在一些限制。
首先，样品必须是粉末状的晶体，这对于某些晶体样品来说可能是困难的。
其次，实验结果的分析和解读需要一定的专业知识和经验。
综上所述，X射线粉末衍射实验是一种重要的实验方法，可以用来研究晶体结构和晶体的晶格常数。
通过实验，我们可以获得关于晶体的重要信息，对于材料科学、物理学和化学等领域的研究具有重要意义。
实验二讲义 X射线粉末衍射法物相分析
实验四 X射线粉末衍射法物相分析（p236实验40）一、目的要求1.掌握X射线粉末衍射法的实验原理和技术2.学会根据X射线粉末衍射图，分析粉晶试样的物相组成二、X射线粉末法原理X射线粉末衍射法自从德拜和谢乐首创以来，已经有了很大的发展，其应用范围非常广泛，可用来鉴别矿物的物相，测定点阵常数和晶胞大小，对固溶体进行相的定性与定量分析，还可研究晶粒的大小以及晶体中的残余应力和点阵畸变等，因此X射线粉末衍射法已成为催化、材料科学及矿物研究中常用的实验手段。
由结晶学知道，晶体具有周期性结构。
一个立体的晶体结构，可看成是一些完全相同的原子平面网按一定距离d平行排列而成，同时也可以看成是另一些原子平面网按另一距离d’平行排列而成。
所以一个晶体必然存在着一组特定的d值（d, d’, d’’, d’’’ ）。
结构不同的晶体其d值组绝不相同，所以可用它来表示晶体特征。
下面介绍如何用X射线粉末法来测定d值。
假定晶体中某一方向上原子网面之间的距离为d，X射线以夹角θ入射晶体，如1所示，从原子网面1和2上产生的两条衍射线a’和b’，其光程差为BD+DC，而BD=DC=dSinθ，故BD+DC=2dSinθ。
我们知道，只有当光程差等于入射光波长λ的整数倍n时，亦即d与θ之间应符合布拉格（Bragg）方程时，才能产生被加强了的衍射线。
（参见谢有畅、邵美成编《结构化学》下册，P49）2dSinθ= nλ（8-1）图1 原子网面对X射线的衍射多晶X射线衍射仪器的类型多种多样，但按其设计所采用的衍射几何特点的不同，可分为平行光束型和聚焦型两大类；按X射线的检测记录手段来分也可分为两大类：感光胶片法（照相法）和衍射仪法。
本实验所采用的仪器为聚焦型衍射仪。
应用聚焦原理来设计粉末衍射装置，实验时可以使用大发散的点发散X射线束，样品受照射的表面可以很大，大大增加参与衍射的晶粒数目；而由于聚焦作用，样品表层中取向凑巧的晶粒产生的同一衍射却能同时聚焦集中在同一位置上，得到强度高得多的衍射线，有利于测量。
X射线粉末衍射法物相定性分析
五、实验思考题
为什么需要将样品磨到340目以下？
答：任何一种粉末衍射技术都要求样品是十分细小的粉末颗粒，使试样在受光照的体积中有足够多数目的晶粒。因为只有这样，才能满足获得正确的粉末衍射图谱数据的条件：即试样受光照体积中晶粒的取向是完全随机的。这样才能保证用照相法获得相片上的衍射环是连续的线条；或者，才能保证用衍射仪法获得的衍射强度值有很好的重现性。此外，将样品制成很细的粉末颗粒，还有利于抑制由于晶癖带来的择优取向；而且在定量解析多相样品的衍射强度时，可以忽略消光和微吸收效应对衍射强度的影响。为了能制得不影响测试结果的平滑粉末样面，粉末颗粒至少需可以通过340目（约45μm）。
化学实验教学中心
实验报告
实验名称：X射线粉末衍射法物相定性分析
学生姓名：学号：
院（系）：年级：级班
指导教师：研究生助教：
实验日期：2017.05.交报告日期：2017.05.
一、实-射线粉末衍射仪测试方法；
3.学会使用X-射线粉末衍射仪和粉末衍射卡片集进行物相分析。
三、实验步骤
1.用玛瑙研钵将样品磨细至340目。
2.将铝样品板正面向下放于表面平滑的玻璃板上，样品均匀地撒入样品空框内，并略高于样品板面。用另一玻璃片自上而下轻压样品。使样品足够紧密以致表面光滑平整，附着在空框内不会脱落。
3.将1样品板插入粉末衍射仪的样品台。
4.按操作规程启动X射线发生器，调节管压、管流至合适值（注意：防护系统需正常工作）。
二、实验原理
1.晶体的X射线衍射图象实质上是晶体微观结构形象的一种精细复杂的变换。因此XRD方法是现在在微观结构的深度上对晶态物质进行观察、研究的最有力的实验方法。大多数固态物质都是晶态或准晶态，即便是大颗粒的晶体，一般也不难得到它们的粉末状样品，所以XRD用途广泛。
X射线粉末衍射物相分析
1、布拉格方程并未对衍射级数n和晶面间距d作 任何限制，但实际应用中为何只用数量非常有限的 一些衍射线？
2、X射线对人体有什么危害？应如何防护？
结束
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粉末X射线衍射分析
粉末X射线衍射分析粉末X射线衍射（Powder X-ray Diffraction, PXRD）是一种利用X 射线衍射原理来研究固体样品中晶体结构的技术。
通过将样品制备成粉末状，然后照射入射的X射线束，观察样品对X射线的衍射现象，从而得到关于晶体结构的信息。
PXRD技术在材料科学、地球科学、化学和生物学等领域中得到了广泛的应用。
它可以用于确定晶体的晶胞参数、晶格类型、晶体取向、晶体纯度以及晶体的定性和定量分析等。
此外，PXRD还可以用于研究固体材料的物理性质、结构相变和畴结构等方面。
PXRD的实验设置一般包括X射线源、样品台、检测器和数据处理软件等。
X射线源一般使用X射线管产生的X射线束，它的波长通常为0.1~1埃。
样品台用于放置样品，并且可以进行旋转和倾斜以获得不同的衍射角度。
检测器则用于测量入射X射线和衍射X射线的强度。
常用的检测器包括平板探测器、多道峰宽检测器和二维探测器等。
数据处理软件则用于处理和分析实验数据，从而得到关于样品晶体结构的信息。
在PXRD实验中，首先需要将样品制备成细颗粒的粉末状。
这是因为样品颗粒越细，对X射线的散射强度越大，从而可以得到更多的衍射峰，提高数据的质量和分析的准确性。
制备粉末样品的方法包括研磨、球磨和溶剂离子交换等。
接下来，将制备好的样品放置在样品台上，并照射入射的X射线束。
入射X射线通过样品后，会发生衍射现象。
根据布拉格关系，可以将入射的X射线与衍射的X射线之间的关系表示为：2dsinθ = nλ其中，d为晶体的晶面间距，θ为衍射角，n为衍射的次数，λ为入射X射线的波长。
通过测量衍射的角度和波长，可以计算出晶体的晶面间距和晶体结构的信息。
通过测量不同的衍射角度和对应的衍射强度，可以绘制出所谓的“衍射图”或“衍射谱”。
在衍射图中，每个衍射峰对应于一个特定的晶面间距。
根据衍射峰的位置、强度和形状，可以确定晶体的晶胞参数和晶体结构的类型。
此外，衍射峰的强度还可以用于估算晶体的相对含量，从而进行定量分析。
实验三十 X射线衍射法测定晶胞常数——粉末法
南京大学化学实验报告实验题目：X射线衍射法测定晶胞常数——粉末法姓名：院系：日期：一.实验目的1.熟悉X射线衍射仪的基本结构并掌握其使用方法2.掌握X射线粉末法进行物相鉴定二.实验原理晶体是由具有一定结构的原子、原子团（或离子团）按一定的周期在三维空间重复排列而成的。
反映整个晶体结构的最小平行六面体单元称为晶胞。
晶胞的形状和大小可通过夹角和三个边长来描述，因此和称为晶胞常数。
一个立体的晶体结构可以看成是由其最邻近两晶面之间距为d的这样一簇平行晶面所组成，也可以看成是由另一簇面间距为d’的晶面所组成……其数无限。
当某一波长的单色X射线一一定的方向投射到晶体上时，晶体内的晶面像镜面一样反射入射线。
但不是任何的反射都是衍射，只有那些面间距为d，与入射的X射线的夹角为，且两相邻晶面反射的光程差为波长的整数倍n的晶面簇在反射方向的散射波，才会相互叠加而产生衍射，如下图所示。
光程差，而上式即为Bragg方程，其中n称为衍射级数。
如果样品与入射线夹角为，晶体内某一簇晶面符合Bragg方程，那其衍射方向与入射线方向的夹角为2，如图。
对于多晶样品，，在样品中的晶体存在着各种可能概率的晶面取向，拥有与入射X射线成角且面间距为d的晶面簇的晶体不止一个，而是无穷个，且分布在以半顶角为2的圆锥面上，如图。
在单色X射线照射多晶体时，满足Bragg方程的晶簇面不止一个，而是有多个衍射圆锥对应于不同面间距d的晶面簇和不同的角。
当X射线衍射仪的计数管和样品绕样品中心轴转动时，就可以把，满足Bragg方程的所有射线记录下来。
衍射峰位置2与间距（晶胞大小与形状）有关，而衍射线的强度（即峰高）与该晶胞内原子的种类、数目以及他们在晶胞中的位置有关。
由于任何两种晶体其晶胞形状、大小和内含物总存在着差异，所以2和相对强度可作物相分析的依据。
对于绝大多数物质而言，其2角都大于，通常称为广角XRD。
晶胞大小的测定。
以晶胞常数结晶学可推出：对于四方晶体，因，，上式可化简为对于立方晶系，因晶胞参数，从衍射普中各衍射峰所对应的2，通过Bragg方程求得的只是相对的各的值。
基于x射线衍射仪的多晶体粉末样品物相实验分析
ห้องสมุดไป่ตู้
Ｐ ｒ ｏ ／ Ｅ ｎ ｇ ｉ ｎ ｅ ｅ ｒ 、 ３ Ｄ Ｍ Ａ Ｘ、 Ｕ ｎ ｉ ｔ ｙ ３ Ｄ建 立起 所 需要 各 部 分机 械 零件 模 后 ， 可进行减速器的拆除实验 。同时学 生可 通过 工具栏进 行减 速器 型。 零件参数的测绘 。 ２ ． １ ． ６完成 实验平台各功能模块的集成与测试 ， 将 Ｗｅ ｂ程序和 对于虚拟实验 ， 采用 的开发工具 为 Ｃ Ｒ Ｅ Ｏ ３ ． ０与 Ｕ ｎ ｉ ｔ ｙ ３ Ｄ， 其 中， ３ Ｄ建模相结合 ，实现开放式虚拟实验平 台的机械虚拟仿真实验功 各种机械零件的建模均采用 Ｃ Ｒ Ｅ Ｏ ３ ． ０软件进行 建模 ，同时减速器 能。 的组装也是使用 Ｃ Ｒ Ｅ Ｏ ３ ． ０ 进 行装配 ， 利用 Ｃ Ｒ Ｅ Ｏ ３ ． ０导 出 ｏ ｂ ｉ 文件 ， ２ ． １ ． ７完善并优化开放式虚拟实验平 台， 网上试运行 。 直接使 用 ｏ ｈ ｊ 文件 将模 型导入 Ｕ ｎ ｉ ｙ ｔ ３ Ｄ中，其虚 拟实验操作 界面等 ２ ． ２ 虚 拟实验平 台的功能结构 部分均是采用 Ｕ ｎ ｉ ｔ ｙ ３ ｄ技 ， 对于模型按钮 的控制 以及旋转移动 ， 则使 基于虚拟现实＆术 、 信息技术 、 网络技术 、 Ｗｅ ｂ技术开发一套功 用 的是 Ｕ ｎ ｉ ｔ ｙ ３ Ｄ中 的脚 本 功 能 。 能完备 、 通用性强 的适合 Ｗｅ ｂ环境 的开放式虚拟实验教学平 台 ， 主 结 束 语 要包括在线虚拟实验 、实验教学管理及平 台管理维 护三大功能 ， 平 基于 ｗ ｅ ｂ的虚拟实验平 台的开发与实现 ， 不仅大大降低 了实验 台的具体功能为在线虚拟实验 、 在线作业 、 实验 报告 的智 能批 改 、 在 室建设 的成本 ， 并且节约了时间、 空间和材料 。 同时使学生可以不受 线交流讨论和成绩管理等 ， 其 中在线虚拟实验重点开发 了减速器拆 时 间空 间 的 限制 ， 随 时 随地 的 进 行 机 械 实 验 ， 口 发引 了学 生 的学 习 兴 装实验 、 常用机构 和通用件认知实验等 。 趣， 同时该平 台也是教师得力的教学工具 。 ３ 虚 拟 实验 平 台 的实 现 参 考 文 献 本 虚 拟 实 验 平 台 采 用 的 开 发 工 具 为 Ｍｉ ｃ ｒ ｏ ｓ ｏ ｆ ｔ Ｖ ｉ ｓ ｕ ａ ｌ Ｓ ｔ ｕ ｄ ｉ ｏ ［ １ 】 吴倩 兰， 洪雅 英等． 机械 设计虚拟 实验 平 台的设计 与 实现 …． 河南 ２ ０ １ ５和 Ｓ Ｑ Ｌ Ｓ ｅ ｒ ｖ ｅ ｒ ２ ０ ０ ８ ，同时利用 Ａ Ｓ Ｐ ． Ｎ Ｅ Ｔ技术和 Ｃ ＃ ． Ｎ Ｅ Ｔ网页 科 技 。 ２ ０ １ ４ ： ２ ４ ７ — ２ ４ ８ ． 编程语言 ， 并结合 Ａ Ｄ Ｏ． Ｎ Ｅ Ｔ数据库访问技术完成 了系统 的开发。 本 ［ ２高举红， ２ ］ 陈杰 等．基 于 Ｗｅ ｂ的工 业工程的虚拟化 实验设 计ｆ Ｊ １ ． 工 系统包 含三个角色管理 员 、 教 师和学 生 ， 他们 分别具有不 同的操作 业 工程 ． ２ ０ ０ ２ （ ８ ） ： ６ ３ — ８ ８ ． 权 限。当登录本系统后 ， 管理员具有最高权 限， 可在其界面添加 、 修 【 ３ ］ 孟丽 丽， 郝力文等． 基 于 Ｗｅ ｂ Ｓ ｅ ｒ ｖ ｉ ｃ ｅ和工作流技 术的 Ｃ Ａ Ｐ Ｐ系统 改、 删 除用 户 ； 教师可通过在线页面查 询实验的开放情况 ， 并可 以根 研 究『 Ｊ １ ． 现代 制造 工程 ， ２ ０ １ ４ （ ８ ） ： ６ ３ — ８ ８ ． 据 自己的课程情况开放或关 闭实验 ；学生可通 过在线系统预约 、 进 ［ ４ ｌ ｙ Ｙ 桂 怡， 崔建 军等． 高校 虚拟 实验 平台的设计与 实践［ Ｊ ］ ． 实验 室研 行实验 ， 并且可 以在查询界面查询 自己的实验成绩 。现 已完全实现 究与 探 索， ２ ０ １ １ ｆ ３ ） ： ３ ８ ６ — ３ ８ ９ ． 零件认知虚拟实验和减速器拆装 虚拟 实验 ， 如图 １ 所示为零件认知 作者简介 ： 郭 ￣（ １ ９ ９ ５ ， ２ 一 ） ， 男， 汉族 ， 河 北保 定人 ， 华 北 理 工 大 学 学 实验界面 。 生 研 究 方 向： 工 业 工程 图 ２所示是减速器拆装实验 界面 ， 本平 台的减速器为一级减速 通讯作者 ： 孟 丽丽 （ １ ９ ７ ８ ， １ ２ 一 ） ： 女， 汉族 ， 河北景县人 ， 华北理工 器， 其 主要构件为箱盖 、 箱座 、 齿轮轴 、 齿轮、 轴承等零件和螺栓 。学 大学大学机械 工程 学院， 副教授 �
最新XRD-实验报告
最新XRD-实验报告
实验目的：
本实验旨在通过X射线衍射（XRD）技术对特定样品进行晶体结构分析，以确定其相组成、晶格参数和晶体取向等特性。
通过实验数据分析，
进一步了解材料的微观结构和性质之间的关系。
实验样品：
本次实验选用的样品为实验室合成的氧化物粉末，其化学成分和来源
已在前期实验中确定。
实验方法：
1. 样品准备：将合成的氧化物粉末在乙醇中超声分散，滴铸于标准XRD样品衬底上，干燥后备用。
2. XRD测量：使用D8 Advance型X射线衍射仪进行测量。
设定管电压为40kV，管电流为40mA，扫描速度为5°/min，扫描范围为10°至80°（2θ）。
3. 数据处理：采用专业的XRD数据处理软件对原始数据进行处理，包
括背景扣除、峰形拟合和相分析等。
实验结果：
1. XRD谱图显示了样品的主要衍射峰，通过与标准数据库对比，确认
样品主要由单一相组成。
2. 通过布拉格方程计算得到的晶格参数与文献值相符，表明样品具有
良好的晶体结构。
3. 晶体尺寸和微观应力的分析结果表明，样品具有均匀的晶粒尺寸和
较低的内部应力。
结论：
本次XRD实验成功地对选定的氧化物粉末样品进行了晶体结构分析。
实验结果表明样品具有高纯度和良好的晶体结构，为后续的材料性能研究提供了重要的结构信息。
此外，实验过程中对XRD技术的操作和数据处理有了更深入的理解和掌握。
X-射线粉末衍射法物相分析
X－射线粉末衍射法物相分析一、X-射线粉末衍射法物相分析原理X-射线衍射法物相分析，可分为定性分析和定量分析，本文主要介绍定性分析方法。
所谓X射线物相定性分析就是根据x射线对不同种晶体衍射而获得的衍射角、衍射强度数据，对晶体物相进行鉴定的方法。
晶体是由质点(原子、离子、分子)在空间周期地排列而构成的固体物质。
在粉末晶体或多晶样品中含有千千万万个小晶粒，它们杂乱无章、取向机遇地聚集在一起。
当一束单色x射线照射到某一个小晶粒上，由于晶体具有周期性的结构，当点阵面距d与X射线入射角θ之间应符合布拉格(Bragg)方程: 2 d(hkl)Sinθ＝λ时，就会产生衍射现象。
图1：晶体衍射示意图每一种结晶物质，都有其特定的结构参数，即点阵类型、晶胞大小、单胞中原子(离子或分子)的数目及其位置等等，而这些参数：在x射线的衍射图上均有所反映。
所以尽管物质的种类有千千万万，但却难以找到两种衍射图完全相同的物质。
粉末衍射线条的数目、位置及其强度，就象人的指纹一样，反映了每种物质的特征，因而可以成为鉴别物相的标志。
如果将几种物相混合进行x射线衍射，则所得到的衍射图将是各个单独物相的衍射图的简单迭加。
根据这一原理，就有可能从混合物的衍射图中将各个物相一个个鉴别出来。
混合物中某种物质的衍射强度与其在混合物中的含量成正比。
含量大，衍射强度大；否则变小。
二、X射线衍射仪为了获得晶体的x射线衍射图，目前多采用衍射仪法。
射仪法具有操作方便、速度快、衍射强度准确等优点。
1．基本结构。
X射线衍射仪基本包括三个部分：X射线发生器。
用于产生X射线，常用的阳极靶元素是Cu，入射X射线波长λ为1.54Å。
电子学系统。
将样品的衍射信号转换成一个与衍射强度成正比数字讯号用电脑记录下来。
测角仪。
测量X射线入射角，过滤入射线和衍射线，确定计数管位置。
三、结果处理1. 衍射图的标识。
样品标号，样品反应条件，如反应物、反应时间、反应温度等。
根据衍射峰位置及强度查索粉末衍射卡片确定样品物相，标出衍射峰对应衍射面的点阵面指数：hkl。
XRD实验物相定性分析报告
XRD实验物相定性分析报告X射线衍射（XRD）是一种常用的非破坏性物相分析方法，可用于定性和定量分析样品的晶体结构、晶体相、晶格常数等信息。
在本次XRD实验中，我们将对一系列样品进行物相定性的分析。
首先，我们选取了五个不同的样品进行实验。
这些样品包括纯净的金属铜、金属铝以及复合样品铜铝合金，以及两种不同的无机化合物（氧化铜和氧化铝）。
实验使用的仪器是一台经典的X射线粉末衍射仪。
在实验中，我们首先对每个样品进行了样品的制备。
对于金属样品，我们使用细砂纸对其进行打磨，以获得光滑的表面；对于化合物样品，我们使用电子天平仔细称取，并在细砂纸上打磨以获得细粉末。
接下来，我们将样品放置在玻璃制的样品台上，并确保样品表面的平整度和均匀性。
然后，我们调整仪器的参数，例如电压和电流，以获得最佳的实验条件。
最后，我们通过旋转样品台来获取样品在不同角度下的衍射图谱。
根据实验得到的衍射图谱，我们可以观察到不同样品之间的显著差异。
在所有样品中，我们观察到了数个有强衍射峰的峰位，这些峰位对应于不同的晶面。
通过与标准晶体数据库进行对比，我们可以确定每个样品的物相。
在金属铜样品中，我们观察到了强衍射峰位于2θ角为43.3°和50.4°左右，这是金属铜的典型衍射峰。
通过与数据库的对比，我们可以确定金属铜的物相。
对于金属铝样品，我们观察到了强衍射峰位于2θ角为38.7°和44.7°左右，这是金属铝的典型衍射峰。
通过与数据库的对比，我们可以确定金属铝的物相。
对于铜铝合金样品，我们观察到了金属铜和金属铝的衍射峰，这表明该样品是铜铝合金。
通过在数据库中查找铜铝合金的物相，我们可以进一步确定其组成和晶体结构。
对于氧化铜样品，我们观察到了强衍射峰位于2θ角为35.5°和38.8°左右，这是氧化铜的典型衍射峰。
通过与数据库的对比，我们可以确定氧化铜的物相。
对于氧化铝样品，我们观察到了强衍射峰位于2θ角为37.8°和43.6°左右，这是氧化铝的典型衍射峰。
X射线粉末衍射法
实验五χ射线粉末衍射法测定药物的多晶型一、实验目的1.熟悉χ-射线粉末衍射法确定药物多晶型的基本原理与方法2.掌握x-射线粉末衍射图谱的分析与处理方法二、基本原理χ-射线衍射是研究药物多晶型的主要手段之一，它有单晶法和粉末χ-射线衍射法两种。
可用于区别晶态与非晶态、混合物与化合物。
可通过给出晶胞参数，如原子间距离、环平面距离、双面夹角等确定药物晶型与结构。
粉末法研究的对象不是单晶体，而是许多取向随机的小晶体的总和。
此法准确度高，分辨能力强。
每一种晶体的粉末图谱，几乎同人的指纹一样，其衍射线的分布位置和强度有着特征性规律，因而成为物相鉴定的基础。
它在药物多晶的定性与定量方面都起着决定性作用。
当χ-射线（电磁波）射入晶体后，在晶体内产生周期性变化的电磁场，迫使晶体内原子中的电子和原子核跟着发生周期振动。
原子核的这种振动比电子要弱得多，所以可忽略不记。
振动的电子就成为一个新的发射电磁波波源，以球面波方式往各个方向散发出频率相同的电磁波，入射χ-射线虽按一定方向射入晶体，但和晶体内电子发生作用后，就由电子向各个方向发射射线。
当波长为λ的χ-射线射到这族平面点阵时，每一个平面阵都对χ-射线产生散射，如图5-1。
图5-1 晶体的Bragg-衍射先考虑任一平面点阵1对χ-射线的散射作用：χ-射线射到同一点阵平面的点阵点上，如果入射的χ-射线与点阵平面的交角为θ，而散射线在相当于平面镜反射方向上的交角也是θ，则射到相邻两个点阵点上的入射线和散射线所经过的光程相等，即PP'=QQ'=RR'。
根据光的干涉原理，它互相加强，并且入射线、散射线和点阵平面的法线在同一平面上。
再考虑整个平面点阵族对χ-射线的作用：相邻两个平面点阵间的间距为d，射到面1和面2上的χ-射线的光程差为CB+BD，而CB=BD=dsinθ，即相邻两个点阵平面上光程差为2dsinθ。
根据衍射条件，光程差必须是波长λ的整数倍才能产生衍射，这样就得到χ-射线衍射（或Bragg衍射）基本公式：2dsinθ =nλ（5-1）θ为衍射角或Bragg角，随n不同而异，n是1，2，3……等整数。
x射线粉末衍射实验报告
X射线粉末衍射实验报告简介本实验旨在通过X射线粉末衍射技术，研究不同晶体的结构性质。
通过对试样进行X射线照射，并观察衍射图样，可以确定晶体的晶格常数、晶体结构以及晶体中原子的位置等信息。
实验步骤步骤一：准备试样1.选择需要研究的晶体材料，例如NaCl晶体。
2.将晶体材料研磨成细粉末，并确保粉末的粒度均匀。
步骤二：实验装置搭建1.将X射线源放置在固定位置，并调整角度，使其能够照射到试样上。
2.在X射线源的后方设置一个固定的X射线探测器，用于记录衍射图样。
步骤三：测量衍射图样1.将试样放置在X射线源和X射线探测器之间的位置，并确保试样与X射线光线的垂直。
2.打开X射线源，开始照射试样。
3.同时启动X射线探测器，记录衍射图样。
步骤四：数据分析1.根据记录的衍射图样，观察其中的衍射峰。
2.根据布拉格方程（nλ = 2dsinθ），计算出衍射峰对应的衍射角。
3.利用衍射角的数值，可以计算出晶格常数和晶体中原子的位置等信息。
结果及讨论通过以上步骤，我们成功进行了X射线粉末衍射实验，并得到了试样的衍射图样。
根据衍射图样，我们计算出了NaCl晶体的晶格常数和晶体结构。
此外，我们还可以通过衍射图样判断晶体中原子的排列方式，从而进一步研究晶体的性质。
结论X射线粉末衍射实验是一种用于研究晶体结构的重要方法。
通过该实验，我们可以获得晶格常数、晶体结构以及原子位置等信息。
这对于材料研究和晶体学研究具有重要意义。
在今后的研究中，我们可以利用该实验方法来研究更多不同材料的晶体结构，以及进一步探索材料的性质和应用。
x粉末衍射实验分析报告
实验名称：X射线衍射分析指导老师：一、实验目的和要求1、已知衍射参数，通过分析确认许愿晶灵成分2、学会使用Jade软件定性分析二、实验内容和原理Jade分析软件简介Jade分析软件是Mdi（Materials Date，Inc）的产品，具有x射线衍射分析的一些基本功能如：平滑、Ka分离、去背底、寻峰、分峰拟合、物相检索、结晶度计算、晶粒大小和晶格畸变分析、RIR值快速定量分析、晶格常数计算、图谱指标化、角度校正、衍射谱计算等功能。
从Jade6.0开始增加了全谱拟合Rietveld法定量分析，还可以对晶体结构进行精修。
Jade 5.0的常用工具栏和手动工具栏的基本功能见下图1和图2。
图1 Jade5.0常用工具栏图2 Jade5.0手动工具栏3 Jade定性分析的步骤Jade物相定性分析，它的基本原理是基于以下三条原则：（1）任何一种物相都有其特征的衍射谱；（2）任何两种物相的衍射谱不可能完全相同；（3）多相样品的衍射峰是各物相的机械叠加。
因此，通过实验测量或理论计算，建立一个“已知物相的卡片库”，将所测样品的图谱与PDF卡片库中的“标准卡片”一一对照，就能检索出样品中的全部物相。
物相检索的步骤包括：（1）给出检索条件：包括检索子库（有机还是无机、矿物还是金属等等）、样品中可能存在的元素等；（2）计算机按照给定的检索条件进行检索，将最可能存在的前100种物相列出一个表；（3）从列表中检定出一定存在的物相。
一般来说，判断一个相是否存在有三个条件：（1）标准卡片中的峰位与测量峰的峰位是否匹配，换句话说，一般情况下标准卡片中出现的峰的位置，样品谱中必须有相应的峰与之对应，即使三条强线对应得非常好，但有另一条较强线位置明显没有出现衍射峰，也不能确定存在该相，但是，当样品存在明显的择优取向时除外，此时需要另外考虑择优取向问题；（2）标准卡片的峰强比与样品峰的峰强比要大致相同，但一般情况下，对于金属块状样品，由于择优取向存在，导致峰强比不一致，因此，峰强比仅可作参考；（3）检索出来的物相包含的元素在样品中必须存在，如果检索出一个FeO相，但样品中根本不可能存在Fe元素，则即使其它条件完全吻合，也不能确定样品中存在该相，此时可考虑样品中存在与FeO晶体结构大体相同的某相。
第二十一章 X射线粉末衍射分析
第七篇x射线分析—1—第21章粉末x射线衍射分析1895年，德国物理学家伦琴（Röntgen, W. C.）发现了穿透力特别强的射线。
和其它电磁波一样，x射线能产生反射、折射、散射、干涉、衍射、偏振和吸收等现象。
在物质的微观结构中，原子和分子的距离（1~10A）正好在x射线的波长范围内，晶体对x射线的散射和衍射能够传递丰富的微观结构信息，所以，x射线衍射（XRD）方法是研究物质微观结构的主要方法。
物质吸收x射线主要表现为光电效应、俄歇效应和热效应。
光电效应产生光电子和二次x荧光，可用于物质成分的分析（x射线光电子能谱分析——XPS、x射线荧光光谱分析——XRF）。
俄歇效应产生俄歇电子，也可用于物质成分的分析。
结合本校实验室实际情况，下面分三部分介绍粉末x射线衍射分析技术、单晶x射线分析技术及x射线光电子能谱仪在物相分析、材料表面成分元素及其化合价态表征分析中的应用。
21.1 基本原理x射线衍射分析技术是利用衍射原理,准确测定物质的晶体结构,织构及应力,精确的进行物相分析,既可定性分析,也可以结合专门的分析软件如Topas进行定量分析。
目前广泛应用于冶金、石油、化工、科研、航空航天、教学、材料生产等领域。
根据晶体对x射线的衍射特征－衍射线的位置、强度及数量来鉴定结晶物质之物相的方法，就是x射线物相分析法。
21.1.1 晶体学基本概念自然界中大约95%固体物质可定义为晶体，分属七个晶系（图21-1，图21-2,图21-3），14种布拉维格子。
这七个晶系包括：立方晶系、四方晶系、六方晶系、正交晶系、三方晶系、单斜晶系和三斜晶系。
把组成各种晶体构造的最小体积单位称为晶胞，所以晶胞能反映真实晶体内部质点排列的周期性和对称性。
不同的晶胞各自在三维空间平行的无间隙地堆砌，便组成各自不同晶体的整体内部构造，从而出现了各种不同的晶体。
空间格子是通过真实晶体内部构造分析而抽象出来的，反映晶体内部构造中相当的构造单位在三维空间周期性排列规律的几何图形。
[医学]粉末X射线衍射分析
![[医学]粉末X射线衍射分析](https://img.taocdn.com/s3/m/850cbf8b49649b6648d747e1.png)
体心立方
面心立方
1
100
100
2
110
110
110
3
111
111
111
4
200
200
2002005Fra bibliotek210
210
6
211
211
8
220
220
211
24
220
220
1.8 晶带
在晶体结构或空间点阵中， 与某一取向平行 的所有晶面均属于同一个晶带。
同一晶带中所有晶面的交线互相平行，其中 通过坐标原点的那条直线称为晶带轴。
hkl
S/
2q s
1/ C S0/
O
Sphere of reflection
d hkl 2
的晶面不可 能发生衍射
极限球
Limiting sphere
38
•关于点阵、倒易点阵及Ewald球
(1) 晶体结构是客观存在，点阵是一个数学抽象。晶 体点阵是将晶体内部结构在三维空间周期平移这一 客观事实的抽象，有严格的物理意义。
由此可得：Hu+Kv+Lw=0 即：凡是属于 [uvw]晶带的晶面，它们的晶面指数 （HKL）都必须符合上式的条件。我们把这个关系式 叫作晶带定律。
26
二、衍射基础
衍射的产生及衍射方向的确定 劳埃方程及布拉格方程
反射球及劳埃方程在反射球上的表达 布拉格方程与反射球 产生衍射的方法 小晶体衍射线的强度
粉末X射线衍射分 析
主要内容：
一、晶体学基础 二、衍射基础 三、实验技术与数据处理 四、应用
1
一、晶体学基础
晶体 晶体结构与空间点阵 对称操作与对称要素 点群-晶体中所有可能的对称组合 晶系、晶胞的选取和Bravais格子 晶面、晶向、晶带、倒易点阵 微观对称要素和空间群
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实验名称：X射线衍射分析
指导老师：
一、实验目的和要求
1、已知衍射参数，通过分析确认许愿晶灵成分
2、学会使用Jade软件定性分析
二、实验内容和原理
Jade分析软件简介
Jade分析软件是Mdi（Materials Date，Inc）的产品，具有x射线衍射分析的一些基本功能如：平滑、Ka分离、去背底、寻峰、分峰拟合、物相检索、结晶度计算、晶粒大小和晶格畸变分析、RIR值快速定量分析、晶格常数计算、图谱指标化、角度校正、衍射谱计算等功能。
从Jade6.0开始增加了全谱拟合Rietveld法定量分析，还可以对晶体结构进行精修。
Jade 5.0的常用工具栏和手动工具栏的基本功能见下图1和图2。
图1 Jade5.0常用工具栏
图2 Jade5.0手动工具栏
3 Jade定性分析的步骤
Jade物相定性分析，它的基本原理是基于以下三条原则：（1）任何一种物相都有其特征的衍射谱；（2）任何两种物相的衍射谱不可能完全相同；（3）多相样品的衍射峰是各物相的机械叠加。
因此，通过实验测量或理论计算，建立一个“已知物相的卡片库”，将所测样品的图谱与PDF卡片库中的“标准卡片”一一对照，就能检索出样品中的全部物相。
物相检索的步骤包括：
（1）给出检索条件：包括检索子库（有机还是无机、矿物还是金属等等）、样品中可能存在的元素等；
（2）计算机按照给定的检索条件进行检索，将最可能存在的前100种物相列出一个表；（3）从列表中检定出一定存在的物相。
一般来说，判断一个相是否存在有三个条件：（1）标准卡片中的峰位与测量峰的峰位是否匹配，换句话说，一般情况下标准卡片中出现的峰的位置，样品谱中必须有相应的峰与
之对应，即使三条强线对应得非常好，但有另一条较强线位置明显没有出现衍射峰，也不能确定存在该相，但是，当样品存在明显的择优取向时除外，此时需要另外考虑择优取向问题；（2）标准卡片的峰强比与样品峰的峰强比要大致相同，但一般情况下，对于金属块状样品，由于择优取向存在，导致峰强比不一致，因此，峰强比仅可作参考；（3）检索出来的物相包含的元素在样品中必须存在，如果检索出一个FeO相，但样品中根本不可能存在Fe元素，则即使其它条件完全吻合，也不能确定样品中存在该相，此时可考虑样品中存在与FeO晶体结构大体相同的某相。
当然，如果你自己也不能确定样品会不会受Fe污染，你就得去做做元素分析再来了。
对于无机材料和粘土矿物，一般参考“特征峰”来确定物相，而不要求全部峰的对应，因为一种粘土矿物中可能包含的元素也可能不同。
下面介绍Jade中物相检索的
步骤。
第一轮检索：不做限定检索。
打开一个图谱，不作任何处理，鼠标右键点击“S/M”按钮，打开检索条件设置对话框，去掉“Use chemistry filter”选项的对号，同时选择多种PDF子库，检索对象选择为主相（S/M Focus on Major Phases）再点击“OK”按钮，进入“Search/Match Display”窗口。
第二轮：限定条件的检索。
限定条件主要是限定样品中存在的“元素”或化学成分，在“Use chemistry filter”选项前加上对号，进入到一个元素周期表对话框。
将样品中可能存在的元素全部输入，点击“OK”，返回到前一对话框界面，此时可选择检索对象为次要相或微量相
（S/M Focus on Minor Phases或S/M Focus on Trace Phases）。
其它下面的操作就完全相同了。
此步骤一般能将剩余相都检索出来。
如果检索尚未全部完成，即还有多余的衍射线未检定出相应的相来，可逐步减少元素个数，重复上面的步骤，或按某些元素的组合，尝试一些化合物的存在。
如某样品中可能存在Al,Sn,O,Ag等元素，可尝是否存在Sn-O化合物，此时元素限定为Sn和O，暂时去掉其它元素。
在化学元素选定时，有三种选择，即“不可能”、“可能”和“一定存在”。
见图3。
图3 元素选择界面
第三轮：单峰搜索。
如果经过前两轮尚有不能检出的物相存在，也就是有个别的小峰未被检索出物相来，那么，此时最有可能成功的就是单峰搜索。
在一般的教材上都有“三强线”检索法，这里使用单峰搜索，即指定一个未被检索出的峰，在PDF卡片库中搜索在此处出现衍射峰的物相列表，然后从列表中检出物相。
方法如下：在主窗口中选择“计算峰面积”按钮，在峰下划出一条底线，该峰被指定，鼠标右键点击“S/M”，此时，检索对象变为灰色不可调（Jade 5中显示为“Painted Peaks”）。
此时，你可以限定元素或不限定元素，软件会列出在此峰位置出现衍射峰的标准卡片列表。
其它操作则无别样。
三、实验仪器主要仪器设备与药品
四、物相鉴定中应注意的问题
实验所得出的衍射数据，往往与标准卡片或表上所列的衍射数据并不完全一致，通常只能是基本一致或相对地符合。
尽管两者所研究的样品确实是同一种物相，也会是这样。
因而，在数据对比时注意下列几点，可以有助于作出正确的判断。
（1）d的数据比I/I l数据重要。
即实验数据与标准数据两者的d值必须很接近，一般要求其相对误差在上±1％以内。
I/I l值容许有较大的误差。
这是因为面网间距d值是由晶体结构
决定的，它是不会随实验条件的不同而改变的，只是在实验和测量过程中可能产生微小的误差。
然而。
I/I l值却会随实验条件(如靶的不同、制样方法的不同等)不同产生较大的变化。
（2）强线比弱线重要，特别要重视d值大的强线。
这是因为强线稳定也较易测得精确；而弱线强度低而不易察觉，判断准确位置也困难，有时还容易缺失。
（3）若实测的衍射数据较卡片中的少几个弱线的衍射数据，不影响物相的鉴定。
五、操作方法与实验步骤
六、实验数据记录和处理
七、实验结果与分析
主要成分是NH4H2PO4。