ICT测试原理及程式简介
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S
Pins Test - Syntax
nodes "A" nodes "B" nodes "C" nodes "D" !nodes "E” nodes ”F" nodes ”G"
! node capacitively isolated
Pins Test Called from
testplan
Pins test的预定义 sub Set_Custom_Option …… global Off, Pretest, Failure
公司: TRI (Test Research Inc.)德律科技
產地: 台灣
TRI 8001測試畫面
工作條件
電源:3Ø AC 220V-245V, 50/60 Hz±5%
氣壓: 4－6KGF／ CM2
公司: TRI (Test Research Inc.)德律科技 產地: 台灣
TRI 518測試操作畫面
Fixture
Printed Circuit Board
R1
Vacuum Gasket
Support Plate
Test Probe Probe Plate
Personality Pin Fixture Frame
Alignment Plate
Probe to Pin Wiring
Stimulus Response
Agilent 3070 TestHead
Anatomy of the Agilent Medalist 3070
Slot 1
Bank 2
Pin 1 78
Bank 1
-
Slot 1
Module 2 Module 0 Module 3 Module 1
Slot 1
Slot 1
Pin 78
-
1
Slot 1: ASRU
相匹配的治具簡介
相匹配的治具必需為真空治具, 即治具下壓 的動力為真空. 真空治具根據繞線長度分為: 長 線治具,短線治具和無線治具.
我們現在使用的治具為長線治具.
治具內部結構如下:
SENS OR
壓 棒
密封墊 彈簧
探針
BUFFER BOARD
油壓撐竿
氣管
雙絞線繞線
Interface
Introduction of Agilent 3070
source: /vol_6/chpt_2/1.html
An Overview of 3070 Test
Unpowered Tests Pins
Shorts
Powered Tests
Setup Power Supplies
Analog Incircuit
DUT power supplies External Instruments
Testhead
Testhead
Flat Screen Monitor on moveable arm.
Keyboard on moveable arm.
End Cabinet contains
Computer, Power Distribution Unit, Testhead rotation switch.
Digital Incircuit
VTEP/TestJet
Analog Powered
Other Powered
Part 3
Pins Test
Pins测试概述
ICT测试的原理要求夹具的探针和电路板的测试点(testpad)要有良好的 电气接触.
Pins测试就是在测试正式开始前验证探针和测试点有无接触的工序. Pins测试只定性验证有无接触，pins pass是最低要求，并不能保证接
1.ICT程式命名規則 設備型號T(TR8001,TR518), A(Agilent 3070) T,A+ P/N+EC+ 夾具套數
2.ICT夾具命名規則 設備型號T,A+P/N+夾具套數
MHS机种为例：
P/N：69Y4784 EC:N31078R ICT程式命名: A90Y4784N31078R_01 ICT程式命名:A90Y4784_01
Part 4
Shorts Test & Opens Test
L201-1
L201
L201-2
DVM
0.1V
100 ohms
Shorts Test overview
Shorts Test
L201-1
L201
Series Resistance = 6ohms
DVM
R201 at 20k
R201-1 R201-2 R202-1 R202-2
二. ICT的硬件結構
ICT包括ICT系統主機，電腦系統，壓床，測試治具。其中ICT系統 主機包括：電源部分，量測控制板，I/O卡，DC量測板，AC量測板， 開關板，HP-JET量測板，高壓量測板(選配件)。
工作條件
治具類型: 真空治具. 真空壓力: 最小56cmHg. 外部真空管2根. 氣壓: 4kg/cm2 ～ 6kg/cm2. 氣壓管1根. 操作溫度: 0。C ～ 30。C. 環境濕度: 25% RH-75%RH. 最小工作空間: 深：1.5 公尺。 寬：2.0 公尺。 高：2.0 公尺。
ICT測試原理及程式簡介
EPDVIII ICT Randy .xiang
一.ICT的功能
ICT也叫在線測試儀，是一台靜態元件測試儀，它能准確，高速地測量PCB上 已裝元件的不良問題，包括元件的漏件，錯件，裝反，空焊，來料不良，PCB 上金道之間的開短路等。可測元件包括：電阻，電容，二極管，三極管，電 感，變壓器，IC等絕大多數電子元件。
L201-2
! IPG: rev B.03.60 <date>
threshold 12
settling delay 50.00u
settling delay 525.0u
short “L201-1” to “L201-2”
settling delay 50.00u
short “J201-1” to “J201-2”
三. ICT的基本測試原理
1. 隔離量測原理
ICT其實是一台高級的萬用表，但它具有隔離 (GUARDING)功能，這是它不同于萬用表的最大特 點。GUARDING的作用是使一個被測元件在測試時 不受旁路元件的影響，而萬用表做不到這一點。 在 ICT 內部電路中利用一顆 OP放大器 當做一個 隔離點（最多可有五個隔離點），如果是:
Pins测试的调试
① Pins测试中的节点排列顺序不影响测试结果 ② Pins测试中没有其他测试选项 ➢ 所以pins测试只有node的取舍
哪些节点pins不可测?
电容阻隔的点（capacitively isolated）－ IPG自动注释 只连到IC的NC脚的 － IPG自动注释 所连器件在板上都没有放(no pop)的 － 手动确认
• The Analog Stimulus - Response Unit (ASRU)
Mother card
Slot 1
Slot 2 Slot 3 Slot 4 Slot 5 Slot 6
Slot 7 Slot 8
Slot 9 Slot 10 Slot 11
ASRU card
Pin card Pin card Pin card Pin card Control cPairnd card Pin card Pin card
Hybrid 32 Card
Channel 0 Channel 8 ......
6:2 3:2
ASRU
Source
Analog Subsystem
MOA Detector Aux
MUX
S I AB
LG
Digital Subsystem Pin Card
X1.…...X8 XG XL
ICT TEST程式与夾具命名規則
Hybrid Double Density
Channel A Channel B ...... Channel H
R1
9:2
ASRU
Source
Analog Subsystem
MOA Detector Aux
......
MUX
S I AB
LG
Digital Subsystem Pin Card
X1.…...X8 XG XL
Test Fixture Emergency Power Off Switch
Agilent 3070
Mother Board
(one per bank)
Module power Supplies
Agilent30
Medalist i3070
Module 2 Slot 6: Control Slot 1: ASRU
MOTHER BOARD
Row11 Row 13
Slot 1: ASRU Module 1
Slot 6: Control
Row 23
Slot 1: ASRU
MOTHER BOARD
Row 1
Row11 Row 13
Row 23
触良好.(绕线出现错误；pins接触不好，阻抗大，但依然有current flow;隔离点无法 测)
Pins Test
“Node_Names”
“A “B “C “D “E “F
“G
”
”
”
””
”
”
+2.5V
DVM
10K
Node E has no current flow. It is capacitively isolated and cannot be tested in Pins
...
threshold 1000
R202
...
at
33ohms
nodes nodes
“Data7” “R201-2”
nodes “R201-1”
...
DVM
threshold 8
...
nodes “R202-2”
nodes “R202-1”
nodes “GND”
Expected Shorts
L201 L201-1 L201-2
DVM
0.1V
100 ohms
如图，对L201 进行shorts测试，预期为短路。 a).设置阀值为12欧姆，如果R测量 <12(threshold) ，
则测试pass，反之，fail。 b).设置从加信号到开始测量的延时，以致等待 信号稳定。 c).测量两个节点之间的阻值，并判断！ 语法如下： !@ In the “shorts” file @! !@ Syntax @! !@ short “Node_1” to “Node_2” @! threshold 12 Settling delay 50u Settling delay 525u Shorts “L201-1” to “L201-2
1A at: 2 20 61
Double Density node at: 2 20 1 61
CLOCK_ENABLE at: 2 18 48 Bank 1 Node:
1 18 48
Agilent 3070 Module
• Anatomy of the Agilent Medalist 3070
• The Module Control Cards
Slot 6: Module Control Card
All others: Pin Cards
Fixture Numbering
BRC: Bank Row Column
Bank 2 Bank 1
Column 78
1 78
1
Row 1
Module 0
Slot 6: Control
Module 3 Slot 6: Control Slot 1: ASRU
Pin card Pin card
Module card configurati on
ASRU Card
提供模拟激励信号 使用测量运算放大器进行反馈信号的测量 提供上电测试的电源通道 配在每个模块第1号插槽
Module Control Card
控制实际的测试过程 2个rcvc,测试频率 带有8个通用开关 (GP Relay) 配在每个模块的第 6 号插槽
常量 global Chek_Point_Mode …… Chek_Point_Mode=Pretest
！设置全局
!choose {Off, Pretest, Failure}
模式，off＝不进行pins测试
试前进行pins测试 fail后，进行pins测试
end sub
！选择pins测试
！pretest＝在其它测 ！failure＝其它测试
Agilent 3070 Family
307X, up to 5200 nodes
317X, up to 2600 nodes
327X, up to 1300 nodes
Agilent 3070 Hardware
Anatomy of the Agilent Medalist 3070
Test Fixture Electronics Cabinet
Pins Test - Syntax
nodes "A" nodes "B" nodes "C" nodes "D" !nodes "E” nodes ”F" nodes ”G"
! node capacitively isolated
Pins Test Called from
testplan
Pins test的预定义 sub Set_Custom_Option …… global Off, Pretest, Failure
公司: TRI (Test Research Inc.)德律科技
產地: 台灣
TRI 8001測試畫面
工作條件
電源:3Ø AC 220V-245V, 50/60 Hz±5%
氣壓: 4－6KGF／ CM2
公司: TRI (Test Research Inc.)德律科技 產地: 台灣
TRI 518測試操作畫面
Fixture
Printed Circuit Board
R1
Vacuum Gasket
Support Plate
Test Probe Probe Plate
Personality Pin Fixture Frame
Alignment Plate
Probe to Pin Wiring
Stimulus Response
Agilent 3070 TestHead
Anatomy of the Agilent Medalist 3070
Slot 1
Bank 2
Pin 1 78
Bank 1
-
Slot 1
Module 2 Module 0 Module 3 Module 1
Slot 1
Slot 1
Pin 78
-
1
Slot 1: ASRU
相匹配的治具簡介
相匹配的治具必需為真空治具, 即治具下壓 的動力為真空. 真空治具根據繞線長度分為: 長 線治具,短線治具和無線治具.
我們現在使用的治具為長線治具.
治具內部結構如下:
SENS OR
壓 棒
密封墊 彈簧
探針
BUFFER BOARD
油壓撐竿
氣管
雙絞線繞線
Interface
Introduction of Agilent 3070
source: /vol_6/chpt_2/1.html
An Overview of 3070 Test
Unpowered Tests Pins
Shorts
Powered Tests
Setup Power Supplies
Analog Incircuit
DUT power supplies External Instruments
Testhead
Testhead
Flat Screen Monitor on moveable arm.
Keyboard on moveable arm.
End Cabinet contains
Computer, Power Distribution Unit, Testhead rotation switch.
Digital Incircuit
VTEP/TestJet
Analog Powered
Other Powered
Part 3
Pins Test
Pins测试概述
ICT测试的原理要求夹具的探针和电路板的测试点(testpad)要有良好的 电气接触.
Pins测试就是在测试正式开始前验证探针和测试点有无接触的工序. Pins测试只定性验证有无接触，pins pass是最低要求，并不能保证接
1.ICT程式命名規則 設備型號T(TR8001,TR518), A(Agilent 3070) T,A+ P/N+EC+ 夾具套數
2.ICT夾具命名規則 設備型號T,A+P/N+夾具套數
MHS机种为例：
P/N：69Y4784 EC:N31078R ICT程式命名: A90Y4784N31078R_01 ICT程式命名:A90Y4784_01
Part 4
Shorts Test & Opens Test
L201-1
L201
L201-2
DVM
0.1V
100 ohms
Shorts Test overview
Shorts Test
L201-1
L201
Series Resistance = 6ohms
DVM
R201 at 20k
R201-1 R201-2 R202-1 R202-2
二. ICT的硬件結構
ICT包括ICT系統主機，電腦系統，壓床，測試治具。其中ICT系統 主機包括：電源部分，量測控制板，I/O卡，DC量測板，AC量測板， 開關板，HP-JET量測板，高壓量測板(選配件)。
工作條件
治具類型: 真空治具. 真空壓力: 最小56cmHg. 外部真空管2根. 氣壓: 4kg/cm2 ～ 6kg/cm2. 氣壓管1根. 操作溫度: 0。C ～ 30。C. 環境濕度: 25% RH-75%RH. 最小工作空間: 深：1.5 公尺。 寬：2.0 公尺。 高：2.0 公尺。
ICT測試原理及程式簡介
EPDVIII ICT Randy .xiang
一.ICT的功能
ICT也叫在線測試儀，是一台靜態元件測試儀，它能准確，高速地測量PCB上 已裝元件的不良問題，包括元件的漏件，錯件，裝反，空焊，來料不良，PCB 上金道之間的開短路等。可測元件包括：電阻，電容，二極管，三極管，電 感，變壓器，IC等絕大多數電子元件。
L201-2
! IPG: rev B.03.60 <date>
threshold 12
settling delay 50.00u
settling delay 525.0u
short “L201-1” to “L201-2”
settling delay 50.00u
short “J201-1” to “J201-2”
三. ICT的基本測試原理
1. 隔離量測原理
ICT其實是一台高級的萬用表，但它具有隔離 (GUARDING)功能，這是它不同于萬用表的最大特 點。GUARDING的作用是使一個被測元件在測試時 不受旁路元件的影響，而萬用表做不到這一點。 在 ICT 內部電路中利用一顆 OP放大器 當做一個 隔離點（最多可有五個隔離點），如果是:
Pins测试的调试
① Pins测试中的节点排列顺序不影响测试结果 ② Pins测试中没有其他测试选项 ➢ 所以pins测试只有node的取舍
哪些节点pins不可测?
电容阻隔的点（capacitively isolated）－ IPG自动注释 只连到IC的NC脚的 － IPG自动注释 所连器件在板上都没有放(no pop)的 － 手动确认
• The Analog Stimulus - Response Unit (ASRU)
Mother card
Slot 1
Slot 2 Slot 3 Slot 4 Slot 5 Slot 6
Slot 7 Slot 8
Slot 9 Slot 10 Slot 11
ASRU card
Pin card Pin card Pin card Pin card Control cPairnd card Pin card Pin card
Hybrid 32 Card
Channel 0 Channel 8 ......
6:2 3:2
ASRU
Source
Analog Subsystem
MOA Detector Aux
MUX
S I AB
LG
Digital Subsystem Pin Card
X1.…...X8 XG XL
ICT TEST程式与夾具命名規則
Hybrid Double Density
Channel A Channel B ...... Channel H
R1
9:2
ASRU
Source
Analog Subsystem
MOA Detector Aux
......
MUX
S I AB
LG
Digital Subsystem Pin Card
X1.…...X8 XG XL
Test Fixture Emergency Power Off Switch
Agilent 3070
Mother Board
(one per bank)
Module power Supplies
Agilent30
Medalist i3070
Module 2 Slot 6: Control Slot 1: ASRU
MOTHER BOARD
Row11 Row 13
Slot 1: ASRU Module 1
Slot 6: Control
Row 23
Slot 1: ASRU
MOTHER BOARD
Row 1
Row11 Row 13
Row 23
触良好.(绕线出现错误；pins接触不好，阻抗大，但依然有current flow;隔离点无法 测)
Pins Test
“Node_Names”
“A “B “C “D “E “F
“G
”
”
”
””
”
”
+2.5V
DVM
10K
Node E has no current flow. It is capacitively isolated and cannot be tested in Pins
...
threshold 1000
R202
...
at
33ohms
nodes nodes
“Data7” “R201-2”
nodes “R201-1”
...
DVM
threshold 8
...
nodes “R202-2”
nodes “R202-1”
nodes “GND”
Expected Shorts
L201 L201-1 L201-2
DVM
0.1V
100 ohms
如图，对L201 进行shorts测试，预期为短路。 a).设置阀值为12欧姆，如果R测量 <12(threshold) ，
则测试pass，反之，fail。 b).设置从加信号到开始测量的延时，以致等待 信号稳定。 c).测量两个节点之间的阻值，并判断！ 语法如下： !@ In the “shorts” file @! !@ Syntax @! !@ short “Node_1” to “Node_2” @! threshold 12 Settling delay 50u Settling delay 525u Shorts “L201-1” to “L201-2
1A at: 2 20 61
Double Density node at: 2 20 1 61
CLOCK_ENABLE at: 2 18 48 Bank 1 Node:
1 18 48
Agilent 3070 Module
• Anatomy of the Agilent Medalist 3070
• The Module Control Cards
Slot 6: Module Control Card
All others: Pin Cards
Fixture Numbering
BRC: Bank Row Column
Bank 2 Bank 1
Column 78
1 78
1
Row 1
Module 0
Slot 6: Control
Module 3 Slot 6: Control Slot 1: ASRU
Pin card Pin card
Module card configurati on
ASRU Card
提供模拟激励信号 使用测量运算放大器进行反馈信号的测量 提供上电测试的电源通道 配在每个模块第1号插槽
Module Control Card
控制实际的测试过程 2个rcvc,测试频率 带有8个通用开关 (GP Relay) 配在每个模块的第 6 号插槽
常量 global Chek_Point_Mode …… Chek_Point_Mode=Pretest
！设置全局
!choose {Off, Pretest, Failure}
模式，off＝不进行pins测试
试前进行pins测试 fail后，进行pins测试
end sub
！选择pins测试
！pretest＝在其它测 ！failure＝其它测试
Agilent 3070 Family
307X, up to 5200 nodes
317X, up to 2600 nodes
327X, up to 1300 nodes
Agilent 3070 Hardware
Anatomy of the Agilent Medalist 3070
Test Fixture Electronics Cabinet