低压CMOS带隙基准电压源设计
一种结构简单的 CMOS 带隙基准电压源设计
一种结构简单的CMOS带隙基准电压源设计周晏1+,蒋林2+,曾泽沧3+(西安邮电学院 陕西 西安 710061)Abstract: This paper proposes a precise CMOS bandgap voltage reference with high power supply rejection ratio (PSRR). The voltage supply is 3.3V. Using CSMC 0.5 um CMOS process, Spectre simulation shows that the average temperature coefficient is 45.53×10-6/℃ in the rage of -40~80℃. The circuit also has change small when power supply voltage changes from 2~5V. The PSRR is the -73.3dB.Key words: bandgap; power supply rejection ratio; temperature coefficient摘 要: 本文提出了一种结构简单高电源抑制比的CMOS带隙基准电压源,供电电源3.3V。
采用CSMC 0.5um CMOS工艺。
Spectre仿真结果表明,基准输出电压在温度为-40~+80℃时,温度系数为45.53×10-6/℃,输出电压在电源电压为2~5V范围内变化小。
电源抑制比达到-73.3dB。
关键词: 带隙基准;电源抑制比;温度系数文献标识码: A 中图法分类号: TN4321 引言随着集成电路工艺和设计水平的发展,在模/数转换器(ADC)、数/模转换器(DAC)等混合信号集成电路设计中,高性能的电压基准源设计已成为关键技术之一 [1]。
带隙基准源具有以下优点:与标准CMOS工艺完全兼容,可以工作于低电源电压下,温度漂移、噪声和PSRR等性能能够满足大部分系统的要求[4]。
低功耗带隙基准电压源电路设计
低功耗带隙基准电压源电路设计蒋本福【摘要】文章提出一种三层self-cascode管子工作在亚阈值区的低功耗带隙基准电压源电路.该电路具有电路结构简单、功耗低、温度系数小、线性度小和面积小等特点.采用CSMC 0.18μm的标准CMOS工艺,华大九天Aether软件验证平台进行仿真.仿真结果表明,在tt工艺角下电路的启动时间为6.64μs,稳定输出的基准电压Vref为567 mV;当温度在-40℃~125℃范围内时,tt工艺角下基准电压Vref的温度系数TC为18.8 ppm/℃;电源电压在1.2 V~1.8 V范围内时,tt工艺角下基准电压Vref的线性度为2620 ppm/V;在10 Hz~1 kHz带宽范围内,tt工艺角下基准电压Vref的电源抑制比(PSRR)为51 dB;版图核心面积为0.00195 mm2.【期刊名称】《微型机与应用》【年(卷),期】2017(036)003【总页数】3页(P39-41)【关键词】Aether软件;功耗;温度系数;线性度;面积【作者】蒋本福【作者单位】吉林大学珠海学院,广东珠海519000【正文语种】中文【中图分类】TN432在模拟IC和混合IC中,带隙基准电压是不可缺少的电路模块。
传统的低压、低功耗带隙基准电路是基于垂直双极晶体管,在文献[1-2]中分别提出了多种设计方法。
然而,这些方法都需要几百兆欧姆的电阻实现低功耗运行,占用较大芯片面积,浪费资源。
参考文献[3]也提出了由几个工作在亚阈值区的MOS管组成的电路,虽然保证了低功耗,但是也出现了温度补偿不够等问题。
为了实现低温漂带隙基准电压电路,高阶温度补偿技术[5]必须得到广泛应用,以减小带隙电压的温度系数。
因此本文提出在低功耗的带隙基准基础上增加高阶温度补偿电路来实现低温漂基准电压电路。
电路原理图如图1所示,主要由启动电路[4]、电流产生电路[5]和self-cascode[4-5]自偏置电路三部分组成。
CMOS_带隙基准源的设计(IC课程设计报告)
1
图 1、带隙基准电压源原理示意图(选自 Analysis and Design of Analog Integrated Circuits)
2
3 设计过程 3.1 电路结构
图 2、带隙基准电路中运算放大器的电路结构
《IC 课程设计》报告
——模拟部分
CMOS 带隙基准源的设计
华中科技大学电子科学与技术系 2004 级学生 张青雅
QQ:408397243 Email:zhangqingya@
2007 年秋大四上学期 IC 课程设计报告
1
目录
1 设计目标........................................................................................................................................1 2 介绍 ...............................................................................................................................................1 3 设计过程........................................................................................................................................3
LambdaN=0.0622 由跨导公式可以算出:
cmos带隙基准源设计(最终稿)
目录摘要 (1)Abstract (2)第一章绪论 (3)1.1基准源简介 (3)1.2带隙基准源研究的历史与现状 (3)1.2.1基准源设计历史 (3)1.2.2带隙基准源设计的研究现状 (4)1.3本文的主要工作 (4)第二章带隙基准源的工作原理及其基本结构 (5)2.1基本工作原理 (5)2.1.1与电源无关的偏置 (5)2.1.2与温度无关的基准源的实现 (6)2.2电路的两种基本结构 (9)2.3带隙基准源的性能指标 (11)2.4本文采用的两种基本结构的核心电路 (12)第三章基于Banba结构的带隙基准电压源 (14)3.1Banba结构原理图 (14)3.1.1电路组成 (14)3.1.2电路结构特点 (15)3.1.3电路结构具体分析 (15)3.2Cadence软件下的电路原理图及其仿真结果 (19)3.3本章小结 (26)第四章基于Cascode电流镜无运放结构的带隙基准电压源 (27)4.1Cascode结构原理图 (27)4.1.1电路组成 (27)4.1.2电路结构的特点 (28)4.1.3电路结构具体分析 (28)4.2Cadence软件下电路原理图及仿真结果 (30)4.3版图设计 (34)4.3.1本节内容概述 (34)4.3.2版图的设计规则简介 (34)4.3.3带隙基准源版图设计 (35)第五章结论与展望 (37)5.1两种电路的对比 (37)5.2展望 (37)参考文献 (38)致谢 (39)摘要CMOS带隙基准源是集成电路的重要组成部分,其输出的基准电压或基准电流不随温度或电源电压的变化而变化。
本文把CMOS带隙基准电压源当做研究对象,首先介绍了带隙基准源目前国内外的研究状况,然后详细介绍它的工作原理和两种基本结构,并指出本文考察的性能指标。
在此基础上,用两种不同的电路结构实现带隙基准电压源的设计,并用Cadence仿真工具基于GSMC0.18μm工艺下对其进行仿真和分析,并为第二个结构制作了版图。
一种低压高精度CMOS带隙基准
路结构 , 重点提供了高精度的基准电压, 同时使电力 具备 电流源 的功 能 , 省 了芯片 面积 和功耗 。 节
3 高性能低压带隙基准工作原理与电路
度变化的精度 问题。仿真结果表明, 该电路可提供低至 50 V 的低压, 0m 实现 了高阶电流补偿, 在
一
4 ̄ 0C~+ 0  ̄ 温度范围内其温漂系数仅为 37 p / 在芯片主要工作温度 范围内, 10C .pm  ̄ C, 输出基准
关键词 : 压 带 隙基 准 ; 低 电源抑 制 比; 阶补偿 高
第 5期
21 0 1年 l O月
微
处
理
机
No 5 . Oc .. 0 1 t 2 1
MI R0PROC S C ES ORS
・
大 规模 集 成 电路 设 计 、 造 与 应 用 ・ 制
一
种低 压高精度 C O M S带隙基准
王洪全 , 龚 敏
( 四川大 学 物理 科 学 与技 术 学院微 电子技术 四川省 重点实验 室, I 成都 6 06 ) 104 摘 要 : 计 了一种 改进 的 带隙基准 电压源 , 过采 用分 段 电流补 偿 的方 法 , 设 通 实现 了低 压 高精 度供 电。研 究基 于 T M .5x MO V工艺基 础 , 点考虑 主 要工 作 温度 区域输 出电压 随温 S C03 1 C S3 m 重
t si g,t s cr u tc n p o i e5 0mV e e e c otg tla t n hetmp r t r o f c e ti p t e tn hi ic i a r v d 0 r fr n ev la e a e s ,a d t e e au e c e in su o i 3. p 7p m/ ̄ o e h 一4 ( ~ + 1 0 ̄ t mp r t r r n e n h ma n e C v rte 0 ̄ 2 0 C e e au e a g .I t e i tmpea u e a e.t e r t r rng h Ma x de i t n o o tg sl s h n 8 va i fv la e i e st a V , nd t e PS o a h RR n o l 一7 dB. i n y 0 Ke r y wo ds: o —v la e b nd a ee e e; SRR ; g Lw ot g a g p r f rnc P Hi h—l v lc mp ns t n e e o e a i o
低压CMOS带隙电压基准源设计
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将式 (.) 对温度 % 微分并代入 ! 78 和 ! 4 的温 度系数可求得 " , 它使 ! @8A 的温度系数在理论上 因而带隙 为 !。 ! 78受电源电压变化的影响很小, 基准电压的输出电压受电源的影响也很小。 图( 是典型的 -&,+ 带隙电压基准源电路。 . B) 两个 CDC 管 E. 、 E/ 的基极6发射极电压差 "! 78 (/ "! 78 # ! 78/ & ! 78. # ! 4 ’ : ( .
学研ຫໍສະໝຸດ 究与进展
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负载管 "K 、 "’ 和差分对管 "L 、 "2 的宽长比较大, 以抑制电路的热噪声。由于电路中的电阻值较大, (E) 故在工艺中用阱电阻实现。电容 ) 有助于电路的 稳定, 同时还可以减小运放的带宽, 有助于降低噪 声的影响。
低压CM0S带隙基准电压源设计解析
低压CM0S带隙基准电压源设计
电路的器件参数如表1所示,P2,P3,P4管的尺寸较大,是为了降低电路中的1/f噪声。
电流镜的负载管P5,P6和差分对管N1,N2的宽长比较大,以抑制电路的热噪声。
由于电路中的电阻值较大,故在工艺中用阱电阻实现。
电容C0有助于电路的稳定,同时还可以减小于运放的宽度,有助于降低噪声的影响。
2 仿真与结果分析在Cadence设计平台下的Spectre仿真器中基于CSMC 0.5 μm CMOS工艺模型对电路进行了仿真。
得到电路的温度特性曲线、直流电源抑制特性曲线、交流PSRR特性曲线、启动时间曲线如图4所示。
各项仿真结果参数如表2所示。
3 结语在应用典型CMOS电压基准源的基础上,综合一级温度补偿、电流补偿技术,设计了带隙电压基准源电路。
该带隙基准源电路的电源工作范围为1.* V,工作温度为-10~+130℃,基准输出电压VREF为(650.5±0.5)mV,温度系数可低至2.0 ppm/℃,电源抑制比为-70 dB。
仿真结果证明了设计的正确性。
本篇文章共2页,此页为末页首页。
带隙电压基准的设计_毕业设计
1.低电压工作的基准电压源
SOC(Signal Operation Control)的主流工艺是CMOS工艺,目前,5V(0.6um)、3.3V (0.35um)、1.8V(0.18um)、1.5V(0.15um)、1.2V(0.13um)、0.9V(0.09um)等电源电压已经得到广泛的使用。随着手提设备对低电源需求的不断增加,设计低压工作的电压基准源成为当前基准源研究的热点。由于传统带隙电压基准源的带隙电压为1.2V左右,所以,对于电源电压低于1.2V的基准设计必须采用特殊的电路结构,许多文献[2]都提出了输出基准电压低于1.2V的电路结构。采用这些电路结构后主要的工作电压限制通常来自于运放的工作电压,不同运放的电路结构和MOS管衬底效应造成的高阈值电压是限制工作电压的主要因素。
(1.1)
是多晶硅栅和硅衬底的功函数之差的电压值, q是电子电荷, 是衬底的掺杂浓度, 是耗尽区的电荷, 是单位面积的栅氧化层电容。由pn结理论可知, ,其中 表示硅的介电常数。由于 6.9fF/ 。 为漏电流, 为漏源电压, 为n沟道器件的表面迁移率, 为单位面积栅氧化物电容,W为有效沟道宽度,L为有效沟道长度, 为阈值电压,有:
本文首先介绍了基准电压源的国内外发展现状及趋势。然后详细介绍了MOS器件的基本原理、基准电压源电路原理,并对不同的带隙基准源结构进行了比较。在带隙基准电压基准电路设计中,首先对所采用的h05mixddst02v13库中的阈值电压、沟道长度调制系数、跨导参数进行提取,对衬底pnp管的温度特性进行分析,再对电路中的各个管子的宽长比、电容、电阻值进行手动计算,最后通过Hspice软件对电路进行仿真验证。
低功耗CMOS电压基准源的设计
低功耗CMOS电压基准源的设计l 引言电压基准可以在温度及电源电压变化环境中提供稳定的参考电压,被广泛应用于比较器,A/D,D/A转换器,信号处理器等集成电路中。
目前已有不少Bipolar工艺和CMOS工艺的电压基准应用于实际中,并且获得了很高的精度和稳定性。
然而随着各种便携式移动通信和计算产品的普及,对电池的需求大大加强,但是电池技术发展相对落后,降低电路的功耗成为IC设计关注的一个焦点;电路的功耗会全部转换成热能,过多的热量会产生焦耳热效应,加剧硅失效,导致可靠性下降,而快速散热的要求又会导致封装和制冷成本提高;同时功耗大将导致温度高,载流子速度饱和,IC速度无法再提升;并且功耗降低,散热减少,也能减少对环境的影响。
因此,功耗已成为超大规模集成电路设计中除速度,面积之外需要考虑的第三维度。
传统的带隙电压基准源面积大、功耗大、不适应低功耗小面积的要求。
本文立足于低功耗、小面积、利用工作于弱反型区晶体管的特点,对传统的带隙电压基准源做出改进,设计了一款最大消耗380 nA 电流的电压基准源,大大减小了面积,且与CMOS工艺兼容,同时提出一种新的不耗电的启动电路。
本文先介绍传统典型带隙基准电路的原理与功耗组成,提出改进电路结构,并进行分析,最后给出基于0.5μm CMOS工艺模型的仿真结果和测试结果。
2 传统带隙电压基准源传统带隙基准源如图1所示。
由PTAT产生电路,负PTAT产生电路,放大器,加法器组成。
原理是由Q1,Q2两个PNP三极管和电阻R3产生PTAT电流,流过电阻R2产生PTAT电压,再叠加上Q2的负PTAT电压Vbe,通过合理调整电阻R2和R3的比例产生与温度无关的电压基准。
运算放大器A 是为了保证B,C两点电压相等。
这种结构需要三极管、运算放大器以及若干电阻,面积比较大。
其工作时电流由3部分组成:Q1支路的集电极电流;Q2支路的集电极电路,运算放大器A的工作电流。
其中Ql,Q2支路的电流为VT1n N/R3,其中VT=kT/q;q是电荷常量;k是波尔滋曼常数;T是绝对温度;N是三极管Q2与Q1的比值,通常为8,同时要达到好的性能运算放大器的电流不能太小以使晶体管工作于饱和区。
低压CM0S带隙基准电压源设计
低压CM0S带隙基准电压源设计0 引言基准电压源广泛应用于电源调节器、A/D 和D/A 转换器、数据采集系统,以及各种测量设备中。
近年来,随着微电子技术的迅速发展,低压低功耗已成为当今电路设计的重要标准之一。
比如,在一些使用电池的系统中,要求电源电压在3 V 以下。
因此,作为电源调节器、A/D 和D/A 转换器等电路核心功能模块之一的电压基准源,必然要求在低电源电压下工作。
在传统的带隙基准源设计中,输出电压常在1.25 V 左右,这就限制了最小电源电压。
另一方面,共集电极的寄生BJT 和运算放大器的共模输入电压,也限制了PTAT 电流生成环路的低压设计。
近年来,一些文献力图解决这方面的问题。
归纳起来,前一问题可以通过合适的电阻分压来实现;第二个问题可以通过BiCMOS 工艺来实现,或通过低阈值电压的MOS 器件来实现,但工艺上的难度以及设计成本将上升。
基于上面的考虑,本文首先对传统的带隙电压源原理进行分析,然后提出了一种比较廉价且性能较高的低压带隙基准电压源,采用电流反馈、一级温度补偿技术设计了低压CMOS 带隙基准源电路,使其电路能工作在较低的电压下。
本文介绍这种带隙电压基准源的设计原理,给出了电路的仿真结果,并对结果进行了分析。
并基于CSMC 0.5μm Double Poly Mix Process 对电路进行了仿真,得到理想的结果。
l 低压COMS 基准电压源设计1.1 传统的带隙基准源图1 为带隙基准电压源的原理示意图。
双极性晶体管的基极-发射极电压VBE,具有负的温度系数,其温度系数一般为-2.2mV/K。
而热电压VT 具有正的温度系数,其温度系数在室温下为十0.085V/K。
将VT 乘以常数K 并和VBE 相加就得到输出电压VREF:将式(1)对温度T 微分并代入VBE 和VT 的温度系数可求得K,它使VREF 的温度系数在理论上为零。
VBE 受电源电压变化的影响很小,因而带隙基准电压的输出电。
一种高性能的低压CMOS带隙基准电压源的设计
一种高性能的低压CMOS带隙基准电压源的设计安胜彪;侯洁;魏月婷;陈书旺;文环明【摘要】提出一种新型的芯片内基准电压源的设计方案,基准电压源是当代数模混合集成电路以及射频集成电路中极为重要的组成部分.为满足大规模低压CMOS集成电路中高精度比较器、数模转换器、高灵敏RF等电路对基准电压源的苛刻需要,芯片内部基准电压源大部分采用基准带隙电压源.研究并设计了一种低功耗、超低温度系数和较高的电源抑制比的高性能低压CMOS带隙基准电压源.其综合了一级温度补偿、电流反馈技术、偏置电路温度补偿技术、RC相位裕度补偿技术.该电路采用台积电(TSMC)0.18 μm工艺,并利用Specture进行仿真,仿真结果表明了该设计方案的合理性以及可行性,适用于在低电压下电源抑制比较高的低功耗领域应用.%This article proposed a new design of a chip benchmark power sourse, which is a very important component of mixed signal IC and RF integrated circuit. To meet the requirement of low voltage and large-scale integrated CMOS circuit of high-precision, the use of reference source is rigors forA/D and D/A converter, high sensitive RF circuits and so on. Most parts of the benchmark source employ benchmark bandgap voltage source on chip, so a low power consumption, low temperature coefficient and high performance low pressure CMOS bandgap benchmark voltage source with higher PSRR is designed. It uses one level temperature compensation, current feedback technology, offset circuit temperature compensation technology and RC phase margin compensation technology. This circuit adopts the 0. 18 urn process of TSMC, and uses the Specture to simulate. The simulation result verifies the feasibility and rationality of the design.The circuit can be uesd for low voltage and tow power consumption with higher PSRR.【期刊名称】《河北科技大学学报》【年(卷),期】2012(033)004【总页数】5页(P325-329)【关键词】带隙;基准电压源;低温度系数;高电源电压抑制比【作者】安胜彪;侯洁;魏月婷;陈书旺;文环明【作者单位】河北科技大学信息科学与工程学院,河北石家庄050018;河北科技大学信息科学与工程学院,河北石家庄050018;河北科技大学信息科学与工程学院,河北石家庄050018;河北科技大学信息科学与工程学院,河北石家庄050018;河北科技大学信息科学与工程学院,河北石家庄050018【正文语种】中文【中图分类】TN45集成电路技术和半导体工艺发展至今,特别是在深亚微米和超深亚微米CMOS技术的支持下,在数据接收系统、数模转换器、电压控制器、各种芯片的驱动以及各种测量设备中的基准带隙电压源应用都非常广泛。
一种低功耗CMOS带隙基准电压源的实现
3
仿真与测试结果
采用台积电 ( T SM C) 0. 35 m 的 CM OS N 阱
工艺模型和 H Spice 软件对电 路进行仿真。其中, M OS 管采用 H Spice level 49 模型。仿真条 件为: 温度范围 30~ 125 , 电源电压范围 1. 9~ 5. 5 V 。 电路的主要参 数列于表 1。另外, R 1 取 60 k ! , R 2 取 625 k ! , n 等于 8。仿真结果如图 3 和图 4 所示。
第2期
冯勇建等 : 一种低功耗 CM OS 带隙基准电压 源的实现
233
图 3 是仿真的带隙基准电压源电路的交流小信 号特性曲线。从图 3 中可以看出 , 该带隙基准电压 源具有较高的电源抑制比 ( 86 dB) 。实际流片时, 在 对该带隙基准的裸片进行的测试中 , 其电源电压抑 制比为 85 dB 。
( D ep t. of M ech anical and El ec tri cal Eng inee ri ng , X iame n Uni v er si t y , X i amen, Fuj ian 361005, P. R. Chi na)
Abstract:
A lo w pow er CM O S bandg ap v oltage refer ence source wit h a start up circuit is pr esented based on the bandg ap voltag e t heo ry. Results fro m Hspice simulation show that po wer dissipat ion of the circuit is 16. 88 W at 3. 3 V and 25 14. 75 ! 10 - 6 / . T he vo ltag e reference has an o utput vo ltag e of 1. 225 0. 0015 V for a temperature coefficient o f , and a P SR R of 86 dB in the temperature r ang e f rom - 30 to 125 and V DD fr om 1. 9 V t o 5.
低电压带隙基准电压源设计
低电压带隙基准电压源设计基准电压是数模混合电路设计中一个不可缺少的参数,而带隙基准电压源又是产生这个电压的最广泛的解决方案。
在大量手持设备应用的今天,低功耗的设计已成为现今电路设计的一大趋势。
随着CMOS 工艺尺寸的下降,数字电路的功耗和面积会显著下降,但电源电压的下降对模拟电路的设计提出新的挑战。
传统的带隙基准电压源结构不再适应电源电压的要求,所以,新的低电压设计方案应运而生。
本文采用一种低电压带隙基准结构。
在TSMC0.13μmCMOS工艺条件下完成,包括核心电路、运算放大器、偏置及启动电路的设计,并用Cadence Spectre对电路进行了仿真验证。
1 传统带隙基准电压源的工作原理传统带隙基准电压源的工作原理是利用两个温度系数相抵消来产生一个零温度系数的直流电压。
图1所示是传统的带隙基准电压源的核心部分的结构。
其中双极型晶体管Q2的面积是Q1的n倍。
假设运算放大器的增益足够高,在忽略电路失调的情况下,其输入端的电平近似相等,则有:VBE1=VBE2+IR1 (1)其中,VBE具有负温度系数,VT具有正温度系数,这样,通过调节n和R2/R1,就可以使Vref得到一个零温度系数的值。
一般在室温下,有:但在0.13μm的CMOS工艺下,低电压MOS管的供电电压在1.2 V左右,因此,传统的带隙基准电压源结构已不再适用。
2 低电源带隙基准电压源的工作原理低电源电压下的带隙基准电压源的核心思想与传统结构的带隙基准相同,也是借助工艺参数随温度变化的特性来产生正负两种温度系数的电压,从而达到零温度系数的目的。
图2所示是低电压下带隙基准电压源的核心部分电路,包括基准电压产生部分和启动电路部分。
2.1 带隙基准源电路由于放大器的输入端电平近似相等,故由电流镜像原理可得到如下等式:这样,适当选择R2/R1、R2/R3以及n的值,即可得到低电源电压下的基准电平。
基于版图的设计考虑,可选择n为8,这样可以更好地实现三极管的匹配,减小误差。
低成本多路输出CMOS带隙基准电压源设计
低成本多路输出CMOS带隙基准电压源设计蔡元;张涛【摘要】在传统Brokaw带隙基准源的基础上,提出一种采用自偏置结构和共源共栅电流镜的低成本多路基准电压输出的CMOS带隙基准源结构,省去了一个放大器,并减小了所需的电阻阻值,大大降低了成本,减小了功耗和噪声.该设计基于华虹1 μm的CMOS工艺,进行了设计与仿真实现.Cadence仿真结果表明,在-40~140℃的温度范围内,温度系数为23.6 ppm/℃,静态电流为24μA,并且能够产生精确的3V,2V,1V和0.15V基准电压,启动速度快,能够满足大多数开关电源的设计需求与应用.%Based on the traditional Brakaw bandgap reference source, a CMOS bandgap reference source structure of low-cost multi-path reference voltage output is presented, which adopts a self-biased structure and cascode current mirror instead of an amplifier. It decreases the demands of the resistance value, and reduces the cost, power consumption and noise greatly. The circuit was implemented with Hua Hong lμm CMOS technology. Cadence simulation results show that its temperature coefficient is 23. 6 ppm/℃ and the quiescent current is 24 μA at the range of - 40~140℃ , it can generate accurate reference vultages of 3 V, 2 V, 1 V and 0.15 V, has a advantage of fast start-up, and meets the design requirements of the most switching power supplies.【期刊名称】《现代电子技术》【年(卷),期】2012(035)016【总页数】4页(P130-133)【关键词】带隙基准源;多路基准电压输出;温度系数;Cadence【作者】蔡元;张涛【作者单位】武汉科技大学信息科学与工程学院,湖北武汉430081;武汉科技大学信息科学与工程学院,湖北武汉430081【正文语种】中文【中图分类】TN710-340 引言带隙基准电压源通常是模拟和混合信号处理系统中重要的组成模块,它用来提供高稳定的参考电压,对系统的性能起着至关重要的作用。
低压低功耗CMOS基准参考源的设计
低压低功耗CMOS基准参考源的设计低压低功耗CMOS基准参考源的设计摘要:本文针对低压低功耗CMOS基准参考源的设计进行详细讨论。
首先,介绍了基准参考源的重要性及其在现代电子设备中的应用。
接着,探讨了低压低功耗CMOS技术的特点和优势。
然后,详细讲解了低压低功耗CMOS基准参考源的设计原理和关键技术。
最后,结合实际案例,对设计结果进行了验证和分析。
1. 引言随着电子技术的不断发展,电子设备对于基准参考源的要求也越来越高。
基准参考源是电子设备中用来产生稳定的参考电压或电流的重要元件,其精度和稳定性直接影响着整个电子系统的性能。
低压低功耗CMOS基准参考源的设计就成为了当前研究的热点之一。
2. 低压低功耗CMOS技术的特点CMOS技术是当前集成电路制造中常用的技术之一。
低压低功耗CMOS技术具有以下几个特点:(1)低功耗:由于其工作电压较低,能够降低功耗,延长设备的使用寿命。
(2)低电压:低功耗CMOS技术适用于低电压电源环境下的电子设备,使得设备更加节能。
(3)容错性强:低压低功耗CMOS电路对于电源电压波动具有较强的容错能力,保证了其稳定性和可靠性。
3. 低压低功耗CMOS基准参考源的设计原理低压低功耗CMOS基准参考源的设计主要基于以下原理:(1)反馈环路原理:通过将输出信号与参考电压进行反馈,通过比较、放大和稳定电路来实现基准电压的输出。
(2)温度补偿原理:由于温度的变化会对基准电压造成较大的影响,因此需要采用温度补偿电路来保证参考电压的稳定性。
4. 低压低功耗CMOS基准参考源的关键技术低压低功耗CMOS基准参考源的设计需要重点关注以下几个技术:(1)高精度电流源:通过采用高精度的电流源来保证基准电压的稳定性和准确性。
(2)温度传感器:通过温度传感器获取环境温度,并实时调整基准电压,以提高温度补偿效果。
(3)低功耗放大器:采用低功耗放大器来实现对基准电压的放大和稳定。
(4)电源管理电路:为低压低功耗CMOS基准参考源提供可靠的电源管理,以保证其正常工作。
cmos带隙基准源设计(最终稿)
并用Cadence仿真工具基于GSMC 0.18μm 工艺下对其进行仿真和分析,并为第二个结
构制作了版图。
第一个带隙基准电压源基于Banba结构的设计思想,在-40ºC~75ºC的温度范围内, 温度系数约为37.19ppm/ºC,在0.000001Hz到1GHz频率范围内平均电源抑制比(PSRR) 可达到-62dB,启动时间为77.76ns。
第二个带隙基准电压源基于Cascode电流镜结构的设计思想,在-40ºC~70ºC的温 度范围内,温度系数约为3.805ppm/ºC,在0.000001Hz到1GHz频率范围内平均电源抑 制比(PSRR)可达到-42dB,启动时间为30.04ns。
关键词: 温度系数;CMOS带隙基准源;电源抑制比;
1.2.1 基准源设计历史................................................................................ 3 1.2.2 带隙基准源设计的研究现状............................................................. 4 1.3 本文的主要工作.......................................................................................... 4 第二章 带隙基准源的工作原理及其基本结构...................................................... 5 2.1 基本工作原理...............................................................................................5 2.1.1 与电源无关的偏置............................................................................ 5 2.1.2 与温度无关的基准源的实现............................................................ 6 2.2 电路的两种基本结构.................................................................................. 9 2.3 带隙基准源的性能指标............................................................................ 11 2.4 本文采用的两种基本结构的核心电路..................................................... 12 第三章 基于 Banba 结构的带隙基准电压源......................................................14 3.1 Banba 结构原理图................................................................................... 14 3.1.1 电路组成.......................................................................................... 14 3.1.2 电路结构特点.................................................................................. 15 3.1.3 电路结构具体分析.......................................................................... 15 3.2 Cadence 软件下的电路原理图及其仿真结果....................................... 19 3.3 本章小结.....................................................................................................26
1v以下下电源电压的运放和启动电路的CMOS带隙基准电路设计
1v附近下电源电压的运放和启动电路的CMOS带隙基准电路设计摘要----在数字CMOS技术中,带隙基准电路的设计提出了一些设计难题,因为电源电压低于硅带隙在电子伏下的电压(1.2v)。
有一种旨在解决由电源低压所引起的的主要问题的电流模式结构得到使用,但是应用在运放和专用启动电路中值得我们警惕。
即使像耗尽型MOS管这样的非标准器件有助于管理供电比例,它们也很少使用且不好控制。
所以,他们必须避免放在一个具有高移植性的健全电路设计中。
本文提出的这些电路可以适用于低压运放并解决了在达到合适电源电压偏置点的主要问题。
在数字0.18-0.35μm技术中,一些带隙基准电路可以在最小电源电压的为0.9到1.5v的情况下实现500mv的标称输出。
关键词带隙基准CMOS集成电路低压设计电压基准一导言现在,模拟和数字电路都需要对温度敏感度低的基准电压生成器,比如DRAM和闪存芯片。
因为传统的基准电源提供接近于硅带隙在电子伏下的电压,他不能用于最新的电源电压在1v以下深亚微米中。
曾经报道的采用电流模式的实现技术的CMOS带隙基准电源具有绕过电源电压限制的可能性。
但是,这项技术需要最小2v的电源电压(用耗尽型MOSTs提供),而且需要额外增加一个在模拟和混合电路中很少使用的复位电源信号。
最近报道了采用BiMOSE技术的电流模式带隙基准电源,但是低压运放不能用于数字CMOS技术中。
本文将会讨论低压带隙基准电源设计和提出一些有用的电路技术。
此外,还提出了一些在0.18-0.35μmCMOS技术的实现最小供电电源从0.9-1.5v的技术。
二CMOS带隙基准电源在带隙基准电源中,对温度低敏感的输出电压由加在pn结上的电压和与温度成正比的相加得到。
设输出电压Vbg大致与硅带隙在电子伏下的电压相等,有可能抵消它的温度敏感性。
在CMOS,采用竖向PNP的双极晶体管。
由于输出电压为1.2v,这种结构不能用于最新的的CMOS 技术中,这种技术的电源电压从1.8V(0.18μm)到1.2V(0.13μm),到下一代技术规模中,将会降到0.9V。
一个低压高阶曲率补偿的CMOS带隙基准电压源的设计
一个低压高阶曲率补偿的CMOS带隙基准电压源的设计李娟;常昌远;李弦
【期刊名称】《现代电子技术》
【年(卷),期】2007(30)22
【摘要】运用带隙基准的基本原理,采用0.6μm的CMOS工艺,对一个低压高阶曲率补偿的高性能CMOS带隙基准电压源进行研究,并结合所提出电路给出了高阶曲率补偿的数学表达式.Cadence软件仿真结果显示:电源电压最低可为1.2 V,在-20~100℃温度范围内,输出电压为0.6 V,温度系数为9.1 ppm/℃,即基准输出电压随温度变化不超过士0.1%.低频(f=1 kHz)时PSRR为-78 dB.在室温电源电压为1.2 V时总功耗约为38 μW.整个带隙基准电压源具有良好的综合性能.
【总页数】3页(P169-171)
【作者】李娟;常昌远;李弦
【作者单位】东南大学,微电子中心,江苏,南京,210096;东南大学,集成电路学院,江苏,南京,210096;东南大学,微电子中心,江苏,南京,210096
【正文语种】中文
【中图分类】TN432
【相关文献】
1.一种CMOS高阶曲率补偿的带隙基准源电路的设计 [J], 李树镇;冯全源
2.高阶曲率补偿低温漂系数带隙基准电压源设计 [J], 夏俊雅;曾以成;崔晶晶
3.一种高性能的低压CMOS带隙基准电压源的设计 [J], 安胜彪;侯洁;魏月婷;陈书
旺;文环明
4.一种高阶曲率补偿CMOS带隙基准源的设计 [J], 王宇星; 吴金
5.一种无运放低压低功耗CMOS带隙基准电压源的设计 [J], 杨帆;邓婉玲;黄君凯因版权原因,仅展示原文概要,查看原文内容请购买。
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低压CMOS带隙基准电压源设计作者:宁江华王基石杨发顺丁召来源:《现代电子技术》2010年第07期摘要:基准源是模拟集成电路中的基本单元之一,它在高精度ADC,DAC,SoC等电路中起着重要作用,基准源的精度直接控制着这些电路的精度。
阐述一个基于带隙基准结构的Sub-1 V、低功耗、低温度系数、高电源抑制比的CMOS基准电压源。
并基于CSMC 0.5 μm Double Poly Mix Process对电路进行了仿真,得到理想的设计结果。
关键词:CMOS基准电压源; 低功耗; Sub-1 V; 高电源抑制比中图分类号:TM13 文献标识码:A文章编号:1004-373X(2010)07-0115-03Design of Low Voltage CMOS Bandgap Voltage ReferenceNING Jiang-hua1, WANG Ji-shi1, YANG Fa-shun1,2, DING Zhao1,2(1. College of Science, Guizhou University, Guiyang 550025, China;2. Guizhou Provincial Key Lab. for Micro-Nano-Electronics and Software, Guiyang 550025, China)Abstract:Voltage reference is a basic cell of analog integrated circuits. It performs an important role in many analog ICs whose precision is controlled by the precision of these cells, such as ADC, DAC, SOC and so on. A CMOS voltage reference circuit with Sub-1 V output voltage, low power consumption, low temperature coefficient and high PSRR is introduced. The simulation for the circuit was performed based on the CSMC 0.5 μm double poly mix process. The ideal design results were gained.Keywords:CMOS voltage reference; low power consumption; Sub-1 V; high PSRR0 引言基准电压源广泛应用于电源调节器、A/D和D/A转换器、数据采集系统,以及各种测量设备中。
近年来,随着微电子技术的迅速发展,低压低功耗已成为当今电路设计的重要标准之一。
比如,在一些使用电池的系统中,要求电源电压在3 V以下。
因此, 作为电源调节器、A/D和D/A 转换器等电路核心功能模块之一的电压基准源,必然要求在低电源电压下工作。
在传统的带隙基准源设计中[1,2],输出电压常在1.25 V左右,这就限制了最小电源电压。
另一方面,共集电极的寄生BJT和运算放大器的共模输入电压,也限制了PTAT电流生成环路的低压设计。
近年来,一些文献力图解决这方面的问题[3-5] 。
归纳起来,前一问题可以通过合适的电阻分压来实现[6,7];第二个问题可以通过BiCMOS 工艺来实现[8],或通过低阈值电压的MOS 器件来实现[3,9],但工艺上的难度以及设计成本将上升。
基于上面的考虑, 本文首先对传统的带隙电压源原理进行分析,然后提出了一种比较廉价且性能较高的低压带隙基准电压源,采用电流反馈、一级温度补偿技术设计了低压CMOS带隙基准源电路,使其电路能工作在较低的电压下。
本文介绍这种带隙电压基准源的设计原理,给出了电路的仿真结果,并对结果进行了分析。
并基于CSMC 0.5 μm Double Poly Mix Process对电路进行了仿真,得到理想的结果。
1 低压COMS基准电压源设计1.1 传统的带隙基准源[1,10]图1为带隙基准电压源的原理示意图。
双极性晶体管的基极-发射极电压VBE,具有负的温度系数,其温度系数一般为-2.2 mV/K。
而热电压VT具有正的温度系数,其温度系数在室温下为+0.085 V/K[1]。
将VT乘以常数K并和VBE相加就得到输出电压VREF:VREF=VBE+KVT(1)将式(1)对温度T微分并代入VBE和VT的温度系数可求得K,它使VREF的温度系数在理论上为零。
VBE受电源电压变化的影响很小,因而带隙基准电压的输出电压受电源的影响也很小。
图2是典型的CMOS带隙电压基准源电路。
两个PNP管Q1,Q2的基极-发射极电压差ΔVBE:ΔVBE=VBE2-VBE1=VTln(J2/J1)(2)式中和J2是流过Q1和Q2的电流密度。
运算放大器的作用使电路处于深度负反馈状态,使得节点1和节点2的电压相等。
即:VBE2=I1R1+VBE1(3)ΔVBE=VBE2-VBE1=I1R1(4)图1 带隙基准源原理示意图图2 典型的CMOS带隙电压基准源由图2可得:VBE=VBE2+I2R2(5)通过M1和M2的镜像作用,使得I1和I2相等,结合式(4)和式(5)可得:VREF=VBE2+ΔVBER2R1=VBE2+VTR2R1lnJ2J1=VBE2+VTR2R1A1A2(6)式中和A2是Q1和Q2的发射极面积。
比较式(5)和式(1),可得常数K为K=VTR2R1lnA1A2(7)在实际设计中,K值即为式(7)表示。
传统带隙基准源结构能输出比较精确的电压,但其电源电压较高(大于3 V),且基准输出范围有限(1.2 V以上)。
要在1.8 V以下的电源电压得到1.2 V以下的精确基准电压,就必须对基准源结构上进行改进和提高。
1.2 低压COMS基准电压源的电路设计本设计基于CSMC-0.5 μm-CMOS工艺(NMOS的阈值电压为0.536 V,PMOS的阈值电压为-0.736 V),采用一级温度补偿、电流反馈技术设计的低压带隙基准源电路如图3所示。
低压带隙基准源的电流不仅用于提供基准输出所需的电流,也用于产生差分放大器所需的电流源偏置电压,简化了电路和版图设计。
为了与CMOS标准工艺兼容,电路中PNP的e,b,c区分别采用P+,N-well,P-sub集电极接地[1]。
Q2和Q1的发射极面积比为8∶1,流过Q1和Q2的电流相等,这样ΔVBE等于VTln 8。
流过电阻R1的电流与热力学温度成正比。
三路镜像电流源使得流过P2,P3,P4的电流相等(I1=I2=I3)。
I1=VTln NR1+VBER3图3 整体电路图输出电压VREF为:VREF=I1R4=VTR4ln NR1+VBER4R3=R4R3R3R1(ln N)VT+VBE电路中的温度补偿系数K为:K=R3R1ln 8通过调节R4的值,可以调节输出电压VREF的大小。
在电源电压变化时,P2,P3,P4的漏源电压值保持不变,与电源电压无关,其栅极电压由运放调节。
为了降低电路的复杂度,应用电流反馈原理,运放采用简单的一阶运放,由于VDD的变化多于GND的变化,故运放的输入采用NMOS 的差分对结构。
因为整个电路在低压下工作,故整个电路设计的重点是要保证低压下运放的正常工作。
由于带隙基准源存在两个电路平衡点,即零点和正常工作点。
当基准源工作在零点时,节点1、2的电压等于零,基准源没有电流产生。
固需要设计一个启动电路,避免基准源工作在平衡零点。
本设计的启动电路由N5、N6和P7构成。
当电路工作在零点时,N6管导通,迅速提高节点1、2的电压,产生基准电流,节点1的电压通过P7和N5组成的反相器,使N6管完全截止,节点1、2的电压回落在稳定的工作点上,基准源开始正常工作。
电路的器件参数如表1所示,P2,P3,P4管的尺寸较大,是为了降低电路中的1/f噪声。
电流镜的负载管P5,P6和差分对管N1,N2的宽长比较大,以抑制电路的热噪声。
由于电路中的电阻值较大,故在工艺中用阱电阻实现。
电容C0有助于电路的稳定,同时还可以减小于运放的宽度,有助于降低噪声的影响。
2 仿真与结果分析在Cadence设计平台下的Spectre仿真器中基于CSMC 0.5 μm CMOS工艺模型对电路进行了仿真。
得到电路的温度特性曲线、直流电源抑制特性曲线、交流PSRR特性曲线、启动时间曲线如图4所示。
各项仿真结果参数如表2所示。
表1 电路的器件参数componentvaluescomponentvaluescomponentvaluescomponentvaluesP112.4 μm/1 μmP610 μm/1.5 μmN410 μm/2 μmC020 pFP212.4 μm/1 μmP72 μm/18 μmN518 μm/2 μmR15.006 kΩP312.4 μm/1 μmN118 μm/3 μmN62 μm/10 μmR255 kΩP412.4 μm/1 μmN218 μm/3 μmQ15 μm×5 μmR355 kΩP510 μm/1.5 μmN310 μm/2 μmQ240 μm×5 μmR427.5 kΩ表2 仿真结果参数表电源电压 /V工作温度 /℃温度系数 /ppm/ ℃交流 PSRR /dB电源抑制特性/mV/V功耗/μW1.6~4-10~+130-8.034 516(22.257~130 ℃)-72.31~-70.62(0~1 kHz)0.315 287257.64图4 仿真结果3 结语在应用典型CMOS电压基准源的基础上,综合一级温度补偿、电流补偿技术,设计了带隙电压基准源电路。
该带隙基准源电路的电源工作范围为1.6~4 V,工作温度为-10~+130 ℃,基准输出电压VREF为(650.5±0.5)mV,温度系数可低至2.0 ppm/℃,电源抑制比为-70 dB。
仿真结果证明了设计的正确性。
参考文献[1][美]毕查德•拉扎维. 模拟CMOS集成电路设计[M]. 西安:西安交通大学出版社,2003.[2]ABO A M, GRAY P R. A 1.52 V 10-bit 14.3-MS/s CMOS pipeline analog-to-digital converter[J]. IEEE Sol. Sta. Circ., 1999, 34(5): 651-657.[3]MEHR I, SINGER L. A 55 mW 10-bit 40 M sample/s nyquist-rate CMOS ADC[J]. IEEE Sol. Sta. Circ., 2000, 35(3): 318-325.[4]Tao Z, KERAMAT M. A 10-bit 1002 MS/s 50 mW CMOS A/D converter[C]. USA: Int. Symp. Circ. and Syst. 2002.[5]TESCH B J, Pratt P M, BACRANIA K, et al. 14-b 125 M SPS digital-to-analog converter and bandgap voltage refe-rence in 0.5μm CMOS[C]. USA: Proc. of the IEEE 1999 ISCAA ′99, 1999.[6]BANBA H, Shiga H, MMEZAWA A, et al. A CMOS bandgap reference circuit with sub-1-V operation[J]. IEEE Journal of Solid-state Circuits, 1999, 34(5): 670-674.[7]LEUNG N K, MOK P K T. A Sub-1-V 15 ppm/℃ CMOS bandgap voltage reference without requiring low threshold voltage Device [J]. IEEE Journal of Solid-state Circuits, 2002, 37(4): 526-530.[8]RAZAVI B. Design of analog CMOS integrated circuits[M]. Boston: McGraw Hill, 2000.[9]ANNEMA A J. Low-power bandgap r eference featuring DTMO ST′s[J]. IEEE Journal of Solid-state Circuits, 1999, 34(7): 949-955.[10]BANBA H, SHIGA H, MMEZAWA A, et al. A CMOS bandgap reference circuit with sub-1-V operation[J]. IEEE Journal of Solid-state Circuits, 1999, 34(5): 670-674.。