核电站辐射测量技术课后题(优秀范文5篇)

合集下载
  1. 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性,平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
  2. 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
  3. 3、如文档侵犯您的权益,请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间:9:00-18:30)。

核电站辐射测量技术课后题(优秀范文5篇)
第一篇:核电站辐射测量技术课后题
2.1核辐射测量的分类:一是测量核辐射的粒子数如放射源活度、射线强度及通量密度等;二是测量核辐射粒子的能量。

2.2测量装置包括:辐射源、探测器、电子学记录系统及计算机系统。

2.3低水平放射性测量:辐射防护、环境检测、核电站的辐射测量等通常都是极其微弱的放射性测量被称作低水平放射性测量。

2.4低水平放射性测量通常分3步进行:1.在所关心的地点采集具有代表性的样品;2.用物理或者化学方法处理样品
3.测量样品并对测量结果作统计学方面的分析判断。

2.5用于低水平放射性测量的测量装置应该具有这样的特点:能用最少的测量时间得到满足测量精度要求的测量数据,可以探测到的最少样品的放射性活度要大。

(这就需要定义优质因子)
2.6本底的主要来源:宇宙射线、周围环境的放射性核素、屏蔽材料及探测器件中的放射性核素
2.7降低本底的措施:降低本底,要根据本底的来源,采用不同的措施。

1.铅屏蔽材料中有微量放射性核素,选择放置较长时间的老铅或特殊精练过的铅,可使本底降低2.为减少氡钍射气造成的本底,可以采用有效的通风
3.为了降低探测元器件的放射性核素带来的本底,可以采用以石英玻璃代替玻璃壳的光电倍增管,可以先对NAI(T1)晶体经过去钾提纯
4.降低宇宙射线中的硬成分的影响可采用反符合屏蔽
5.对于接地不良造成的对电子学线路的干扰,可以尽可能缩短放大器与探测器之间的距离,所有电子学仪器都一点接地。

4.1、燃料元件破损监测的方法?
①一回路冷却剂γ放射性的连续监测②一回路冷却剂放射性的采样测量③辐照后燃料元件包壳破损的啜漏检测
2、燃料元件包壳破损的啜漏检测系统的组成和工作原理?
在线:固定在装卸料机上的压缩空气注入单元和抽真空单元;控
制和测量单元;记录单元。

离线:水循环采样回路、气体回路、隔热回路;啜漏套筒、过滤器
原理:在停堆期间,根据一回路冷却剂放射性跟踪监测提供的信息,将全部或部分燃料燃耗未达到额定值的燃料组件从反应堆卸到燃料水池,先采取在线检测系统对元件包壳破损泄漏监测,进而把泄漏的有破损燃料组件和不带泄漏的完好燃料组件区分开,然后采用离线检测系统定量的测定破损情况。

离线啜漏检测的实验步骤极其费时,因此一般只对在线定性,检测确定为有泄漏的燃料组件作离线定量啜漏检测。

利用啜漏套筒和置于乏燃料水池池边台面上的设备,可对泄漏作出定量探测。

系统中设置水循环采样回路、气体回路、隔热回路等。

一个燃料组件检测完以后,为了降低检测另一个燃料组件时的本底,系统设置有冲洗回路。

3、蒸汽发生器泄漏监测的方法?①蒸汽发生器排污系统排水的γ放射性监测②蒸汽中16N的放射性测量
4、16N监测系统的组成和工作原理?组成:探测器,测量单元,数字式率表,便携式终端及接线盒等;原理:当压水堆动力装置的一回路至冷却剂流经反应堆堆芯时,H2O中16O收到裂变中子的照射而发生核反应n+16O→16N+p由于一回路冷却剂不停的密闭循环,仍然可以根据反应堆内快中子通量密度按空间和能量的分布,根据冷却剂在反应堆中流动和被辐射情况以及冷却剂中16N的主回路中的衰变情况计算出16N的放射性比活度,选择NaI(Tl)闪烁体探测器对而葫芦蒸汽管道测量蒸汽中16N 的γ射线放射性强度就可以监测蒸汽发生器传热管破损造成的一回路冷却剂向二回路给水的泄漏。

5、一回路压力边界泄漏监测方法?①安全壳内气溶胶总β放射性监测②安全壳内空气中气载碘放射性监测③安全壳内空气中惰性气体放射性监测④安全壳内空气中13N的放射性测量
6、差分电离室的工作原理?
差分电离室由两个电离室组成,其中主电离室对β射线和γ射线都是灵敏的,主电离室加正高压,取样气体流经主电离室,由主电离室探测器取样气体的放射性,其输出电流为Iβ+Iγ;补偿电离室是密封
的,加负高压,它只对γ射线灵敏,它输出电流为-Iγ,两个电离室有同一个收集电极所以差分电离室输出电流为Iβ+Iγ-Iγ=Iβ
5.1、烟囱排气辐射监测取样的要求?核电站用于高架排放的烟囱应该越高越好,一般为60~100米。

取样头在烟囱中的高度一般在烟囱高度的0.4~0.8之间。

较为理想的取样头位置是通过实验测定烟囱各截面上的速度分布,以便选取混合均匀的接近烟囱底部的位置。

应设置多个取样管嘴。

由于烟囱直径不同,通常,取样管嘴数目越多越好。

取样管嘴入口速度应与烟囱中该点的气流速率相同,保证气流流速基本不变。

为了减少管道中的沉积损失,应该减少弯头和取样管长度。

2、烟囱排气辐射测量系统的组成?烟囱排气辐射测量系统有气溶胶采取样品滤纸,半导体探测器,131I的活性炭吸附盒,NaI闪烁体探测器,差分电离室,灵敏体积较小的电离室,盛水的3H取样管,盛NaOH溶液的1
4C取样管,烟囱排出流样品取样,惰性气体取样点,气溶胶监测道和碘监测道的压差计,累计流量计,3H和14
C取样之路的累计流量计,阀门组成。

3、液态排出流样品采集的要求?在废液进入液态排出流系统之前,废液排放前,废液排放中以及排放口的混液都必须进行放射性浓度的监测。

这些过程中的采取流量有所不同,废液处理后,取样方式为定期取样,测量方式为实验测量;废液排放前,取样方式为定期取样,测量方式为实验测量;废液排放中,取样方式为连续取样测量方式为就地连续测量;排放口混液,取样方式为连续取样测量方式为实验定期测量。

6.1、核电站工作区域的划分?
非限制区:在其中连续工作的人员一年内受到的区域γ照射一般不超过年剂量限值的十分之一。

监督区:不超过十分之三,但可能超过十分之一。

控制区:有可能超过十分之三。

2、G-M计数管测量区域γ放射性的原理?
由于探测器工作在雪崩区,且雪崩过程随着高压的升高而能通过
自抑制达到各自平衡点,因此,不论引起雪崩过程的初始离子对为多少,其输出脉冲幅度与入射粒子的能量无关,每个入射粒子能够产生一个脉冲输出。

通过测量计数管的输出脉冲的个数,就能够得出被测区域的γ放射性水平。

3、区域中子剂量当量水平连续测量的原理?
由于中子不带电,中子与物质相互作用不能直接引起物质电离,在中子与物质的原子核相互作用时会产生可被探测的次级粒子,对中子的探测是通过测量次级粒子来实现的。

4、多球3He计数管测量中子剂量当量率系统的组成和原理?
组成:镉棒,聚乙烯慢化体,3He气体,前置放大器,放大甄别成形器,数据处理显示器。

原理:对于3He正比计数管,经过聚乙烯慢化后的慢中子进入充满3He气体的正比计数管中,发生3He(n,p)3H核反应,由于正比计数管中有气体放大,p和3H核可以形成幅度较大的脉冲信号,正比计数管的输出脉冲由后续的电子学仪器测量、处和显示,对于慢中子、中能中子和快中子可以直接经过三个不同慢化球将它们慢化成热中子。

通过对慢化球的直径的改变能将等值的中子注量率转换成不同的剂量当量率。

5、α-β比值仪的工作原理?
当氡钛放射气子体基本处于平衡状态下,核电站任一特定区域空气中的气溶胶浓度在反应堆同一功率水平下基本保持不变,通过测量取样样品中总β和α计数的比值K=nβ/nα,可以检查采样区域的空气是否受到污染,因为比值K在无异常的排气或泄漏情况下基本保持恒定,而一旦某一区域的空气受到放射性污染,K值将会发生变化。

K值与取样区的底面、墙壁以及周围物件所使用的材料有关,也与测量时仪器对β和α的探测灵敏度有关,故而需要进行本底水平下K本值的测定,当空气中存在放射性气溶胶污染时,采样样品中污染核素的计数率分别为:nβ=nβ总-nβ本=nβ总-K本*nα本;nα=nα总-nα本=nα总-Kβ本/K本除以各自ηβ和ηα后得出A值代入C=A/v*t*η即可得出区域空气中β和α放射性污染强度。

6、闪烁探测器测β放射性的系统组成和原理?
组成:闪烁体探测器、放大单元、单道脉冲幅度、数据处理显示单元、高压电源、除水装置。

原理:
7.1、对放射物质进行采样时,你是如何考虑的?
样品采集必须以监测目的为依据,采集的样品也必须具有代表性。

同时需考虑进行测定的核素种类、辐射类型、物理特性、以及测量数据的有效性、技术上的可行性、经济上的合理性等因素。

2、在实验室分析测量中,通常要分析那些型的样品?
通常分析电站排出流样品及环境样品中的总α和总β活度
8-1 热释光探测器的灵敏度、剂量响应和能量响应
灵敏度:单位质量的TL材料受单位辐照剂量时的相对光输出。

剂量响应:热释光材料的发光峰值高度或发光曲线下的面积或输出光子数随着辐射剂量的变化关系。

能量响应:在相同γ射线辐照剂量下,热释光强度或发光曲线下的面积等热释光探测器的响应与γ射线能量之间的关系。

8-2 热释光探测器零测量读数的主要来源是什么
(1)摩擦发光。

探测元件摩擦或与别的物质摩擦或读出的表面与空气中的氧摩擦,皆可以产生假荧光。

(2)元件加热时的红外发射。

(3)化学荧光:探测器表面被灰尘、油污、化学气体等沾污、测量时产生假荧光。

(4)光电倍增管的暗电流变化。

(5)剂量计在以前照射和退火过程中的剩余信息。

8-3 何为超线性、产生原因是什么、如何应对
超线性:对各种热释光材料而言,当γ射线的剂量值分别超过某一值时,其热释光输出呈现偏离剂量响应曲线的现象。

产生原因:当热光释材料受大剂量γ射线照射后、其磷光体内的电子、空穴密度大、直接复合的概率增加,被陷阱俘获的电子数目减小,加热激发出的光子数目减少;辐射发热也将使浅陷阱中的俘获电子释放。

应对:敏化。

利用大剂量辐射热释光材料,使陷阱程度由浅变深,从而将剂量响应范围在高水平区拓宽1-2量级,并使灵敏度提高3-5倍。

为克服敏化后的不良反应,在退火时可同时使用紫外灯照射。

8-4 热释光探测器包括哪些系统
包括加热系统、光探测系统、剂量计识别及输送系统、信息处理系统及数据显示管理系统五大部分。

另外,还需提供低压电源、高压电源。

8-5 如何对热释光系统进行点刻度和线刻度
点刻度:将待校准的TL剂量计进行一个已知剂量的照射,然后再在读出系统上读书X,得到其刻度系数K,刻度周期应与剂量计使用中的累计周期30d,60d,180d的相同,一般选30d,步骤如下:在分散性相同的一组TL剂量计中,随抽12支,分成两组;在同样退火程序和退火条件下,作退火处理后编好号码;将一组留作本底,另一组照射适当的剂量D;测被照后的TL剂量计的读数X1i及本底组X2i, 计算各组平均值;刻度数为K=D/(X1i-X2i,)。

线刻度:将多组待校准TL剂量计进行多个不同的已经剂量D的照射,得到读数和照射。

剂量的曲线或者线性回归方程Y=a+bx中的a、b值,具体步骤如下:
在分散性相同的一组中选36支,等分6组,退火后编号;一组作本底,其余分别照射不同剂量;测各组TL剂量计的读出值,并计算其平均值减去本底后的净值;用最小二乘法推导剂量线性刻度公式中的a、b
9.1说明表面玷污检测的目的:
(1)对工作场地、设备表面、墙壁的表面玷污检测目的:1.及时发现污染状况,以便决定去污措施,使表面玷污控制在国际范围以内。

2.及时发现流体包壳物的泄漏,即使发现事故萌头,避免重大不安全事故的发生。

3.检查设备维护人员是否执行了放射性安全操作程序及安全操作程序的正确性。

(2)对工作服、工作鞋的检测目的:1.防止交叉污染事件的发生。

2.从经济角度考虑是否可以重复利用。

3.减小废物量。

9.2对表面污染测量时,是采用直接测量还是采用间接测量,如何考虑?现场墙壁、地面及设备放射性表面玷污的测量可粗略的分为直接测量和采样测量。

核电站工程中,辐射防护人员一般采用直接法进
行控制区表面玷污普查工作。

若先确定仪表面参考水平的话,结合使用仪表制定出纪录水平和导出调查水平,则可以在普查中对低于导出记录水平的玷污不做任何记录,允许工作人员自由出入;对高于导出记录水平但低于导出调查水平的玷污,除了记录外,还需要经常进行间接测量,得到证实后还需寻找出玷污的来源并控制佛年工作人员的出入。

由于测量人员的因素使得测量仪表的探头到被测表面的距离发生变化,其测量结果的可信程度下降,因此,对于超出导出调查水平的玷污,必须采用采样间接测量加以论证。

所谓采样测量就是将被测表面的玷污转移到样品上,然后对样品进行放射性活度的测量,从而确定其玷污的水平。

9.3为什么对测量仪表进行定期刻度? 为保证现场表面沾污直接测量结果具有一定的可靠性,任何状态皆必须利用伴随仪器的参考源进行常规检查。

判断限LC=KaNs+Nb
探测限LD=Lc+KβNs+Nb ;(N0=LD)
2KQ8Nb定量LQ= [1+1+2]=KQσQ
KQ2方差:δns/ts+nb/tb2=(ns-nb)2
优质因子:Q=22δ(ns-nb)2nb)(ns+9.4 1500*SA==90粒子数/2πmin 100N-NbK=co=(70-0)/90*1=7/9 A0*fN-Nb100(30-0)*100==642.85*KS7/9*6<N100=40*100/2=2000 不需要处理
第二篇:互换性与技术测量基础课后作业
作业复习:
第1章课后作业
1.1
(1)正确。

原因:一般情况下,实际尺寸越接近基本尺寸说明制造的误差越小。

(2)错误。

原因:规定的是公差带的宽度,不是位置,没有正负。

(3)错误。

原因:配合是由孔、轴的配合性质、装配等综合因素决定,不是由零件的加工精度决定。

但在通常情况下,加工精度高,可在一定程度上提高配合精度。

(4)正确。

原因:过渡配合必须保证最大过盈量和最小间隙的要求。

(5)错误。

原因:可能是过渡配合,
配合公差是孔、轴公差之和。

1.2
(1)①28,②孔,③下偏差为零,④正值,⑤轴,⑥上偏差为零,⑦负值
(2)①基孔制,②基轴制,③基孔制,④定值刀具、量具的规格和数量
(3)①20,②01,③18,④5到12级
(4)①间隙,②过盈,③过渡,④间隙
1.3
基本尺寸
最大极限尺寸
最小极限尺寸
上偏差
下偏差
公差孔φ12+0.0
32φ12
φ12.050
φ12.032
+0.050 +0.032
0.018 轴φ60+0.053
φ60
φ60.072
φ60.053
+0.072
+0.053
0.019 孔φ30-0.060
φ30
φ29.959
φ29.940
-0.041
-0.060
0.021 轴φ50-0.03
4φ50
φ50.00φ49.966
+0.005
-0.034
0.039 1.4(1)φ50 +0.039 0 0.039-0.025-0.064 0.039 +0.103 +0.025 +0.064 0.078 间隙(2)φ25-0.014-0.035 0.021 0 +0.013 0.013-0.014-0.048-0.031
0.034 过盈(3)φ80 +0.005-0.041 0.046 0-0.030 0.030 +0.035-0.041-0.003 0.076 过渡 1.5
φ40+0.009,(1)φ25-0.041,(2)φ60-0.146,(3)φ50+0.002,(4)(5)φ50+0.080,(6)φ40-0.042,-0.020-0.100+0.018+0.020+0.142-0.017+0.005-0.041+0.072+0.0 50(7)φ30-1.6 00.021,(8)φ80±0.023
(1)φ18h6,(2)φ120H9,(3)φ50e7,(4)φ65M8
1.7 解:因要求最大间隙为+0.013,最大过盈为-0.021,所以需采用过渡配合
在没有特殊要求的前提下,一般采用基孔制配合,并根据工艺等价的要求,孔的公差等级要低于轴1至2个公差等级。

一般孔采用7级公差精度,轴采用6级公差精度,即φ25H7 ⎝⎛+0.021⎫⎪。

⎪0⎭因最大间隙为+0.013=ES—ei=0.021—ei,所以ei=+0.008;最大过盈为-0.021=EI—es=—es,所以es=+0.021。

查表,在6级公差精度条件下,接近计算得到上下偏差值的基本偏差为+0.021φ25m6+0.008
1.8 解:配合公差Tf=0.048-0.014=0.034=Th+Ts
在没有特殊要求的情况下,采用基孔制配合,孔的公差等级采用7级,即φ30H7 ⎝⎛+0.021⎫⎪,孔的公差为0.021。

则轴的公差为0.034—0.021=0.013 0⎪⎭按照工艺等价原则,轴的公差等级暂取为6级,查表,其公差为0.013 最大过盈-0.048=EI—es=0—es,所以es=0.048 最小过盈-0.014=ES—ei=0.021—ei,所以ei=0.035 0.048查表,则轴为φ30s6++0.0351.9
①过盈量不大的过盈配合,②有一定过盈量的过渡配合,③有一定间隙的过渡配合,④保证一定间隙量的间隙配合
P58第2章课后作业
2.1 ①测量的实质是为确定被测对象的量值而进行的实验过程,以确定工件是否符合设计图样的要求。

②被测对象,计量单位,测量方法,测量精度
2.2 ①按“级”使用存在系统误差;②按“等”使用存在随机误差2.3 ①测得值与被测量真值的差值;②绝对误差,相对误差;③因被测要素的几何量大小不同时,不能用绝对误差评定测量精度,所以规定相对误差。

2.4 ①随机误差评定的指标是其正态分布的标准差大小;②随机误差不能消除;③多次测量后按照3倍标准差原则处理2.5 ①单次测量结果用单次测量值和3倍标准差表示,多次测量结果用测量结果的算术平均值和3倍算术平均标准差表示;
②算术平均标准差要小于标准差,即算术平均标准差表示的测量精度要高于平均标准差表示的测量精度2.6 ①第一种方法:从图样上标定的最大和最小极限尺寸分别向工件公差带内移动一个安全裕度验收工件;第二种方法:验收极限等于图样上标定的最大和最小极限尺寸,不取安全裕度。

②第一种方法:上验收极限尺寸=最大极限尺寸-安全裕度,下验收极限尺寸=最小极限尺寸+安全裕度;第二种方法:上验收极限尺寸=最大极限尺寸,下验收极限尺寸=最小极限尺寸2.7 40-0.004=39.996 2.8 用相对误差比较。

0.006/100=6×10,0.008/200=4×10,200mm测量的精度高 2.9(1)算术平均值:(0.042+0.043+0.040+0.043+0.042+0.043+0.040+0.042+0.043 +0.042)/10=0.042,即算术平均值为x 20.042
(2)不存在变值系统误差。

因给定条件中无法判断零位是否正确归位以及测量环境温度的变化趋势。

(3)单次测量值与算术平均值的差并求和:20.042-20.042=0,20.043-20.042=0.001,20.040-20.042=-0.002,20.043-20.042=0.001,20.042-20.042=0,20.043-20.042=0.001,
20.040-20.042=-0.002,20.042-20.042=0,20.043-20.042=0.001,20.042-20.042=0,即
—5
—5∑(xi=110i-x)=0
单次测量值与算术平均值的差的平方并求和:0,1,4,1,0,1,4,0,1,0,即∑(xi-x)=12
i=1102∑(x则σ=i=1102i-x)=129n-1=1.2μm
(4)3σ=3.6μm,即为0.0036mm,单次测量值与算术平均值的差值的绝对值没有大于0.0036的项,因此判断不存在粗大误差。

(5)σx=σn=1.210=0.51μm
(6)±3σx=±0.0015(7)20.043±0.0036(8)20.042±0.0015 2.10(1)φ50e9○E:查表φ50-0.112,安全裕度A=0.0062,计量器具允许不确定度u=0.0056,-0.050分度值为0.01的外径千分尺不确定度为0.004,0.004小于0.0056。

所以验收上验收极限为φ(50-0.050-0.0056)=φ49.9444,下验收极限为φ(50-0.112+0.0056)=φ49.8936(2)E:查表φ60±0.023,安全裕度A=0.0046,计量器具允许不确定度u=0.0041,φ60js8○分度值为0.01的外径千分尺不确定度为0.005,0.005大于0.0041。

所以确定新的安全裕度A’=0.005/0.9=0.0056。

所以验收上验收极限为φ(60+0.023-0.0056)=φ60.0174,下验收极限为φ(60-0.023+0.0056)=φ59.9826
0-0.025(3)查表φ40φ40h7:,安全裕度A=0.0025,计量器具允许不确定度u=0.0023,分度值为0.01的外径千分尺不确定度为0.004,0.004大于0.0023。

所以确定新的安全裕度A’=0.004/0.9=0.0044。

所以验收上验收极限为φ(40-0.0044)=φ39.9956,下验收极限为φ(40-0.025+0.0044)=φ39.9794 +0.6200(4)φ50H14:查表φ40,公差为0.620,安全裕度A=0.062、计量器具允许不确定度u=0.062(均取测量工件公差的十分之一)。

分度值为0.01的内径千分尺不确定度为0.008,0.008小于0.062。

所以验收上验收极限为φ(50+0.620-0.062)=φ50.558,
下验收极限为φ(50+0.062)=φ50.062(5)φ41mm孔GB1804—m:查未注公差等级表(教材38页),公差为0.600,φ41±0.300,安全裕度A=0.06、计量器具允许不确定度u=0.06(均取测量工件公差的十分之一)。

分度值为0.01的内径千分尺不确定度为0.008,0.008小于0.06。

所以验收上验收极限为φ(41+0.300-0.06)=φ41.240,下验收极限为φ(41-0.3+0.06)=φ40.760 P101第3章课后作业
3.1(1)正确。

(2)正确。

(3)正确。

(4)正确。

(5)错误。

(可逆要求不适用于独立原则和包容要求)
(6)正确。

(因为一般情况下位置公差的定向公差大于形状公差)
3.2(1)①同轴度,②平面度、圆度、圆柱度、线轮廓度、面轮廓度、对称度、圆跳动、全跳动,③直线度、平行度、垂直度、倾斜度、位置度
(2)①线线间、平面面平面面间、回转圆柱内,②平行度
(3)①极限,②允许材料量为最多,③极限尺寸,④最大实体边界
(4)①单一尺寸要素的尺寸公差与形状公差之间的关系(尺寸公差与形状公差相互补偿),保证配合性质;②利用尺寸公差补偿形位公差,保证可装配性;③利用尺寸公差补偿形位公差,保证轴类零件和薄壁类零件的强度。

(5)零件的几何特征、零件的使用要求、检测的方便性3.3(1)①B,②B(2)B(3)B(4)A(5)①B,②A 3.4 ①圆柱度;半径差为0.01的两同心包络回转圆柱面;0.01;以图样标注的理想回转圆柱面半径为半径,加0.005、减0.005形成两个同心包络回转圆柱面,加工制造形成的回转圆柱面(被测要素)必须在此两个同心包络回转圆柱面之间
②径向圆跳动;半径差为0.025的两同心包络圆;0.025;以图样中心轴A—B为基准、以图样标注的理想回转圆柱面半径为半径,加0.00125、减0.00125形成两个同心包络回转圆柱面,加工制造形成的回转圆柱面(被测要素)必须在此两个同心包络回转圆柱面之间。

③对称度;平行于基准平面F,平面间距离为0.025、且对称与F平面的两包络平面间区域;0.025;以基准平面F,平面间距离为0.025、且对称与F平面的两包络平面间区域,被测要素中心平面必须在此区域内
④圆柱度;以图样标注轴心为轴心、半径差为0.006的两个同心回转圆柱区域;0.006;被测要素轴心线必须在以图样标注轴心为轴心、半径差为0.006的两个同心回转圆柱区域内⑤径向圆跳动;以基准C—D为基准轴、半径差为0.025两个同心回转圆柱区域;0.025;被测要素必须在以基准C—D为基准轴、半径分别为图样标注圆柱半径加0.0125、减0.0125(半径差为0.025)两个同心回转圆柱区域内
⑥平行度;以图样标注理想轴线为轴线,该轴线必须平行于基准轴线A—B且直径为0.02的回转圆柱面;0.02;被测要素必须在以图样标注理想轴线为轴线,该轴线必须平行于基准轴线A—B且直径为0.02的回转圆柱面内 3.5
3.6
3.7
(a)
(b)
(c)
(d)
3.8 不要求。

可根据列阵变换进行。

3.9(a)独立原则,实体边界,最大=φ20.03、最小=φ19.99,0.01,0.01
(b)包容要求,最大实体边界,最大=φ20.03、最小=φ19.99,0,0.01
(c)最大实体要求,最大实体实效边界,最大=φ20.05、最小=φ20,0.02,0.07
(d)最小实体要求,最小实体实效边界,最大=φ20.05、最小=φ20,0.07,0.02
(e)最大实体要求的零形位公差要求,最大实体实效边界,最大=φ40、最小=φ39.975,0,0.025
(f)可逆的最大实体要求,最大实体实效边界,最大=φ20.04、最小=φ19.99,0.05,0
P118第4章课后作业
4.1(1)在一个取样长度内纵坐标值Z(x)绝对值的算术平均值
(2)在—个取样长度内,最大轮廓峰高Zp和最大轮廓谷深Zv之和的高度
4.2(1)用轮廓滤波器λc抑制了长波轮廓成分相对应的中线,轮廓中线是具有几何轮廓形状并划分轮廓的基准线。

(2)取样长度是用于判别被评定轮廓的不规则特征的x铀方向上的长度,即测量或评定表面粗糙度时所规定的一段基准线长度,它至少包含5个以上轮廓峰和谷。

取样长度lr在数值上与λc滤波器的标志波长相等,x轴的方向与轮廓走向一致。

取样长度值的大小对表面粗糙度测量结果有影响。

一般表而越粗糙,取样长度就越大。

评定长度是用于判别被评定轮廓的x轴方向上的长度。

由于零件表面粗糙度不均匀,为了合理地反映其特征,在测量和评定时所规定的一段最小长度称为评定长度(ln)。

一般情况下,取ln=5 lr,称为标准长度。

如果评定长度取为标准长度,则评定长度不需在表面粗糙度代号上注明。

当然,根据情况,也可取非标准长度。

如果被测表面均匀性较好,测量时,可选ln<5 lr;若均匀性差,可选ln>5 lr。

4.3(1)当允许在表面粗糙度参数的所有实测值中超过规定值的个数少于总数的16%时,应在图样上标注表面粗糙度参数的上限值或下限值。

(2)当要求在表面粗糙度参数的所有实测值中不得超过规定值时,应在图样上标注表面粗糙度参数的最大值或最小值。

(3)表面粗糙度符号上侧,上面数值为上限值,线下面数值为下限值;若在数值后标注max则为标注的最大值,若在数值后标注min 则为标注的最小值。

教材113页表4.7。

4.4 φ60H7的公差为0.030,上偏差为0.030,下偏差为0。

φ60f6的公差为0.019,上偏差为-0.030,下偏差为-0.049。

φ60h6的公差为0.019,上偏差为0,下偏差为-0.019。

φ60H7/f6的最大间隙为0.079,最小间隙为0.030 φ60H7/h6的。

相关文档
最新文档