利用线阵CCD非接触测量材料变形量的方法

利用线阵CCD非接触测量材料变形量的方法
王庆有;于涓汇;郭青;张盛彬
【期刊名称】《光电工程》
【年(卷),期】2002(029)004
【摘要】用线阵CCD作为光电传感器非接触测量材料拉伸过程中的变形量,不但比常规的引伸计测量的方法更客观,而且可以测量材料拉伸变形到断裂的全过程.该方法能在X和Y两个方向上同时测量材料变形量,可以获得材料在实验的全过程中两个方向的"应力-应变"关系曲线.采用CCD拼接技术,测量精度可达到1(m,测量范围80mm.
【总页数】4页(P20-23)
【作者】王庆有;于涓汇;郭青;张盛彬
【作者单位】天津大学精密仪器与光电子工程学院, 天津,300072;光电信息技术科学教育部重点实验室,天津,300072;天津大学精密仪器与光电子工程学院, 天
津,300072;光电信息技术科学教育部重点实验室,天津,300072;天津大学精密仪器与光电子工程学院, 天津,300072;光电信息技术科学教育部重点实验室,天
津,300072;天津大学精密仪器与光电子工程学院, 天津,300072;光电信息技术科学教育部重点实验室,天津,300072
【正文语种】中文
【中图分类】TG806
【相关文献】
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