统计过程控制讲义(质量工程师考试)

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统计过程控制培训讲义

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过程变差
普通原因变差 影响过程中每一个单位 在控制图上表现为随机性 没有明确的图案 但遵循一个分布 是由所有不可分派的小变差源组成 通常需要采取系统措施来减少
34
过程变差
特殊原因变差
间断的、偶然的、通常是不可预测的和不稳定的变差 在控制图上表现为超出控制限的点或链或趋势 非随机的图案 是由可分派的变差源造成,该变差源可以纠正
reliable 100%inspection can be.
请用1分钟,彻底检查一次,看看字母“F”出现的次数
答案=?
6
F字母计数练习
结论:
100%的检验不能保证100%的合格
7
预防与检测
过去,制造商经常通过生产来制造产品,通过 质量控制来检查最终产品并剔除不合格产品。 在管理部门则经常靠检查或重新检查工作来找 出错误,在这两种情况下都是使用检测的方法, 这种方法是浪费的,因为它允许将时间和材料 投入到生产不一定有用的产品或服务中。
47
控制图的使用策划
作控制图需要按以下步骤:
计划 资源 评估和改进
48
控制图的使用策划
要点
建立适于采取措施的环境 确定过程 确定待管理的特性
考虑: 考虑客户的要求 当前及潜在的问题区 特性间的相互关系
确定测量系统 使不必要的变差最小化
49
计量型控制图:Xbar-R图
平均数-全距控制图
13
基本统计概念
Mo 众数(mode) 众数是总体中出现次数最多或最普遍的标
志值,即频次或频率最大的标志值。数列中最 常出现的标志值说明该标志值最具有代表性。
14
基本统计概念
2 方差/变异(variance)
n
2

SPC统计过程控制培训讲义课件

SPC统计过程控制培训讲义课件

上、下 控制线
样本数据点 目标值 样本平均值
上、下 规格线
数据点超出上下控制线
连续7个或以上数据在中心线上方或下方
数据呈固样品点的水平突变
样品点分布的水平位置渐变
样品点的离散度较大
制程失控
制程失去控制时的特征: 1.数据点超出上下控制线 2.连续7个或以上数据在中心线上方或下方 3.数据呈固定形式变化 4.较多数据点接近上下控制线 5.样品点的水平突变 6.样品点分布的水平位置渐变 7.样品点的离散度较大
Moving Range Chart 二. 移动偏差图
Line 1 Cp = 1.65 Mean=12.55
Qoo PET Cpk = 1.1
SD =0.03
35 100.0% 1500 SPC Brix Monitoring
Sample wthin spec 100.0 %
上控线(UCTLR)UE
(n-1)
标准偏差σ是衡量样本数据点与平均值间偏差平均
值的典型参数,广泛使用于数据统计中。
Cp-潜在过程能力指数
cp=
spe_max-spe_min 6
( -样本的标准偏差)
Cp不反映过程的集中性 (即与目标的偏离),因 此如果过程的平均值并不是我们的期望的目标值, 那么用Cp来衡量过程就会产生误差。
4.0 4.125
(下控线= 目标值 - 3×能力测试所得标准偏差)
样本标准偏差σ的计算
假设有以下一些数据:12.50,12.45,12.49,12.48,12.51…
X1
x2
x3
x4 x5 … xn
首先计算出它们的 平均值 x= X1 + x2+ x3+ x4+ x5 + … + xn

质量工程师《质量专业基础理论与实务(初级)》【名师讲义】(统计过程控制)

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第七章 统计过程控制
统计过程控制是一种质量管理技术,其内容包括两个方面,一是利用控制图分析过程的 稳定性,对过程存在的异常因素进行预警;二是计算过程能力指数,分析稳定的过程能力满 足技术要求的程度,对过程质量进行评价。
第一节 统计过程控制的基本知识
一、统计过程控制的基本概念 统计过程控制(Statistical Process Control 简称 SPC)是应用统计方法对过程中的各 个阶段进行评估和监控,建立并保持过程处于可接受的并且稳定的水平,从而保证产品与服 务符合规定要求的一种质量管理技术。 SPC 中的主要工具是控制图。来自现场的助理质量工程师的职责: (1)在现场能够较熟练地建立控制图; (2)在生产过程中对于控制图能够初步使用和判断; (3)能够针对出现的问题提出初步的解决措施。 统计质量控制发源于美国。20 世纪 20 年代,休哈特(W.A.shewhart)在美国贝尔电 话实验室工作时提出了过程控制理论以及控制理论的具体工具即控制图。1931 年休哈特的 代表作——《加工产品质量的经济控制》的出版标志着统计过程时代的开始。
备、原材料、工艺方法、测量和环境)。从对产品质量的影响大小来分,影响质量波动的原
因可分为偶因与异因两类。
偶因是过程固有的,始终存在,对质量的影响微小,但从技术上难以除去或从经济上考
虑不值得消除;异因则非过程固有,有时存在,有时不存在,对质量影响大,但不难除去。
偶因引起质量的偶然波动,偶然波动不可避免的,对质量的影响不大;异因引起质量的
二、控制图的重要性 1.控制图是贯彻预防原则的 SPC 的重要工具;控制图可用以直接控制与诊断过程,是 质量管理七个工具的重要组成部分。 2.1984 年日本名古屋工业大学调查了 200 家日本各行各业的中小型工厂,结果发现 平均每家工厂采用 137 张控制图。这个数字对于推行 SPC 有一定的参考意义。 3.工厂中使用控制图的张数在某种意义上反映了管理现代化的程度。

统计过程控制培训讲义

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•分析用控制图与控制用控制图
• ●分析用控制图
• 应用控制图时,首先将非稳态的过程调整到稳态, 用分析控制图判断是否达到稳态。确定过程参数
• 特点:

1、分析过程是否为统计控制状态

2、过程能力指数是否满足要求?
• ●控制用控制图
• 等过程调整到稳态后,延长控制图的控制线作为 控制用控制图。应用过程参数判断
5、使不必要的变差最小 确保过程按预定的方式运行 确保输入的材料符合要求 恒定的控制设定值
注:应在过程记录表上记录所有的相关事件,如:刀具更 新,新的材料批 次等,有利于下一步的过程分析。
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均值和极差图(X-R)
1、收集数据
以样本容量恒定的子组形式报告,子组通常包括2-5件连续的产品, 并周性期的抽取子组。
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2024/2/5
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n 持续改进及过程控制 n • 企业目标-客户满意 n • 实现目标-持续改进,强调缺陷的预防 n • 有效方法-统计过程控制
n
n
n 检验和预防 n • 检验是对过程结束后的输出进行测量 n – 通过抽样检验--发现合格/不合格 n – 通过100%检验--发现合格/不合格 n • 预防是在生产中对过程进行测量 n – 通过对过程的测量,使质量问题在导致报废、返

•使用c或u图
•否
•子组均值 是
•否
•使用中
•否能很方
•位数图
便
•地•计是算?
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•接上页
•子组容量 是否大于 或等于9?
•是
•否 •使用
•X—R 图
•是否能方便 地计算每个

质量工程师中级讲义第四章-常规控制图的应用

质量工程师中级讲义第四章-常规控制图的应用

四常规控制图的应用单选5—7题,多选7-9题,综合分析1—2题。

考查方式以理解题和计算题为主。

总分值35-45分.总分170分。

一、统计过程控制概述1.掌握统计过程控制的含义 (重点) 2.了解统计过程控制的作用和特点(重点)二、控制图原理1.掌握控制图的基本原理(重点) 2.了解控制图的两种错误(难点)3.掌握常规的控制图分类。

(难点。

重点)三、分析用控制图和控制用控制图1.熟悉分析用控制图和控制用控制图的区别(难点) 2.掌握过程改进策略3.掌握控制图的判异准(重点)四、常规控制图的应用1.掌握x-r 图、x—s 图和p 图的作用和使用方法(难点。

重点)2.了解x-rs 图、me-r 图、c 图和u 图的作图和应用。

(难点.重点)五、过程能力与过程能力指数1.熟悉过程能力的定义(重点) 2.了解过程性能指数的概念3.掌握过程能力指数c p 和cpk 的计算和评价(难点.重点)六、过程控制的实施1.熟悉过程控制的基本概(重点) 2.掌握过程分析的基本步骤(难点)3.熟悉过程管理点的要求@#4。

1统计过程控制概述4。

1统计过程控制概述统计过程控制主要解决两个问题:一是过程运行状态是否稳定,二是过程能力是否充足.前者可利用控制图这种统计工具进行测定,后者可通过过程能力分析来实现。

统计过程控制理论是从制造业中的加工过程开始的,但是目前其应用已扩展到各种过程,如设计过程、管理过程、服务过程等。

学习目标要求(含4。

1;4。

2;4.3;)1、掌握统计过程的含义2、了解统计过程的作用和特点(一)过程控制p991、概念.过程控制是指为实现产品的生产过程质量而进行的有组织、有系统的过程管理活动。

目的在地为生产合格产品创造有利的生产条件和环境,从根本上预防和减少不合格品的产生。

2、过程控制的主要内容(1)过程分析,建立控制标准。

分析影响过程质量的主导因素,找出最佳水平,实现标准化.确定关键过程,建立控制点(管理点),制定控制文件。

初级质量工程师:统计过程控制考试资料.doc

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初级质量工程师:统计过程控制考试资料 考试时间:120分钟 考试总分:100分遵守考场纪律,维护知识尊严,杜绝违纪行为,确保考试结果公正。

1、单项选择题 统计过程控制(SPC)是应用( )对过程中的各个阶段进行评估和监控,建立和保持过程处于可接受的并且稳定的水平,从而保证产品与服务符合规定要求的一种质量管理技术。

A.电子技术 B.统计技术 C.科学计算 D.控制技术 本题答案:B 本题解析:暂无解析 2、多项选择题 分析用控制图,它主要是( )。

A.分析过程是否处于统计控制状态 B.分析产品的顾 客满意程度 C.分析过程的成本是否经济 D.分析过程能力指数是否满足技术要求 本题答案:A, D 本题解析:暂无解析 3、多项选择题 某商场对服务质量进行抽查验收,根据顾客的抱怨次数来判断服务员的服务质量是否符合要求,这种检验属于( ).A.计量检验 B.计件检验 C.计点检验姓名:________________ 班级:________________ 学号:________________--------------------密----------------------------------封 ----------------------------------------------线----------------------D.计数检验本题答案:C, D本题解析:暂无解析4、多项选择题在过程控制中,提高产品合格率的措施有()。

A.减小分布中心与公差中心的偏离B.扩大控制限范围C.提高过程能力D.尽量减小特性值的波动情况本题答案:A, C, D本题解析:暂无解析5、单项选择题如图回答问题:A.AB.BC.CD.D本题答案:A本题解析:暂无解析6、单项选择题当工序有偏离时,提高CpK的途径不包括()。

A.缩小公差B.减少偏离量C.降低离散度D.适当加大公差本题答案:A本题解析:暂无解析7、多项选择题由偶然原因造成的质量变异()。

统计过程控制讲义(质量工程师考试)

统计过程控制讲义(质量工程师考试)

统计过程控制(复习题)1.下述中适合使用常规控制图的是( ).A.提高车间生产能力B.检测不合格品或不合格批C.消除过程中存在的异常因素D.监控并预警工序中存在的变异2.控制图的描点员按规定时间在短期内抽取4件产品组成一个子组进行检测,并将测得的每个产品的特性值在X图上描了4个点,发现其中有1个点出界. 则( ).A.查找出界原因,并尽快消除异常B.剔除出界的点,继续描点C.不能作出判断,作图不正确D.生产过程出现异常,必须停产3.用20个样本绘制X—R控制图,每个样本(子组)样本量5, 已计算得X=33.6, R=6.2, A2=0.577, D4=2.115, D3=0. 今在加工过程中采集了一个样本,观测值为38, 43, 37, 36, 25. 则该样本的( )在控制限内.A.均值和极差都B.极差C.极差不D.均值不4.合理子组原则要求在尽可能短的时间内收集一个子组的样品,主要因为( ).A.尽快计算不合格品率B.尽量缩小组内差异C.希望节省取样时间D.尽快绘制出控制图5.常规控制图的理论基础是( ).A.小概率原理B.试验设计C.指数分布的性质D.对数正态分布的性质E.正态分布的性质6.常规控制图适用于( )的控制.A.批量为25的一批产品的生产B.成批连续生产零件C.车间大批量生产零件D.连续生产流程性材料7.一生产企业要利用控制图对生产过程进行监控,下述中正确的做法是( ).A.选择欲控指标B.收集数据计算过程能力指数,判断过程是否稳定C.根据欲控质量特性的数据,选取控制图D.确定子组数目和抽取子组的时间间隔及其抽取方式E.按生产顺序从加工的产品中随机抽取子组绘制控制图8.用均值作控制图监控生产过程变化的主要原因是( ).A.多数质量特性值为计量值数据B.可以扩大控制限的范围C.均值可以使部分偶然因素相抵消,从而缩小上、下控制限的距离D.可以判断产品质量特性的平均值是否合格E.提高对异常波动监控的灵敏度9.过程能力指数C pk的公式是( ).A.(UCL-μ)/3σB.(T U-μ)/3σC.(T L-μ)/3σD.(μ-T L)/3σE.(1-k)T/3R10.在何种情形下,控制图需要重新制定?().A.人员和设备均变动B.改变工艺参数或采用新工艺C.环境改变D.更换供应商或更换原材料、零部件E.点子出界11.选择常规控制图依据的主要因素是( ).A.工艺方法B.设备C.控制关键指标的个数D.使用方便E.控制对象的数据性质12.从工程上提高C p的途径有( ).A.减小σB.增大UCLC.由技术决定是否适当加大公差D.减小LCLE.减小偏离度k13.当所考察的质量特性为某企业月工伤事故数时.应选用( )控制图.A.p图B.u图C.X—R图D.X—s图14.合理子组原则包含的内容有( ).A.组内差异由异因(可查明因素)造成B.组间差异主要由偶因(偶然因素)造成C.组内差异既由偶因也由异因造成D.组间差异主要由异因造成15.控制图中控制限的作用有( ).----------------------------精品word文档值得下载值得拥有----------------------------------------------A.区分合格与不合格B.区分偶然波动与异常波动C.点子落在控制限内,判断过程处于统计控制状态D.点子落在控制限外,判断过程未处于统计控制状态16.过程处于统计控制状态, 则( ).A.表示过程稳定,可预测B.点子无趋势和其他模式C.点子在控制限内随机分布D.过程中存在可查明原因17.某生物制药厂半成品指标的检验时间很长,对它的控制宜采用( ).A.均值—极差控制图B.不合格品率控制图C.单值—移动极差控制图D.不合格品数控制图18.在过程不变的情况下,若控制图中上、下控制限的间隔距离增加, 则( ).A.α减小,β增大B.α增大,β减小C.α增大,β增大D.α减小,β减小19.过程保持在统计控制状态下的好处是( ).A.能及时发现异常因素的影响B.可以使过程能力保持相对稳定C.能将产品的质量特性值保持在公差范围内D.可以使过程的变异保持相对稳定20.若人员和设备已固定,在( )的情况下,控制图需要重新制定.A.现有控制图已经使用很长时间B.工艺参数改变C.环境改变D.上级下达更高指标E.更换了供应商21.在分析控制图阶段,利用X—R图对过程进行分析,该过程输出的质量特性值X服从N(210.5, 1.12). 质量改进小组为进一步改进质量,从明确分析用控制图的主要作用开始,一步一步深入地改进质量,具体如下:(1)分析用控制图阶段主要分析( ).A.是否需要继续抽取样本(子组)B.过程是否处于统计控制状态C.过程的过程能力指数是否处于技术控制状态D.是否要扩大规范限(2)若过程的规范上、下限为210±3mm, 则C p=( ).A.0.91B.0.99C.1.33D.0.67(3)若将该过程的标准差1.1减小为0.7, 则新的C p=( ).A.1.67B.1.49C.1.43D.1.30(4)(新的)偏移度k=( ).A.3/8B.2/9C.1/6D.0(5)新的C pk=( ).A.1.40B.1.33C.1.25D.1.19(6)若经过调整,过程中心μ已从210.5mm与规范中心M=210mm重合, 则这时C pk=( ).A.1.43B.1.53C.1.67D.1.80(7)下述中正确的说法是( ).A.此时过程处于技术控制状态B.此时过程尚未处于统计控制状态C.此时过程可运用控制图进行控制D.此时过程能力仍不足22.某种钢管内径X的规格为210±5mm,生产过程稳定,X服从正态分布N(210, 2.492).(1)过程能力指数C p=( ).A.0.38B.0.61C.0.67D.1.03(2)过程的不合格品率p=( ).A.0.3237B.0.0455C.0.027D.0.00058(3)若过程中心发生偏移,过程中心移至212,但标准差仍为2.49, 则此时过程能力指数C pk=( ).A.0.40B.0.76C.1.08D.0.98(4)经技术革新,使分布中心与公差中心重合,且标准差降为1.25, 则此时过程能力指数C pk=( ).A.1.33B.1.77C.1.22D.1.48(5)经过质量改进和技术革新后, 过程的不合格品率为( ).----------------------------精品word文档值得下载值得拥有----------------------------------------------A.0.063B.0.0063C.0.00063D.0.00006323.某生产车间对轴的外径进行控制,规范限为T U=54mm, T L=46mm, 25个子组,子组样本量为5,计算得X=50.5mm, s=2.5mm, A2=0.577, A3=1.427, B4=2.809, D4=2.115, B3=0, D3=0, C4=0.94, d2=0.4299. 则:(1)X图的上、下控制限分别为( ).A.54.07, 46.93B.50.92, 48.80C.51.94, 49.06D.53.01, 50.55(2)过程能力为( ). A.15.96 B.15 C.31.92 D.12(3) s图上、下控制限分别为( ). A.5.22, 0 B.3.58, 0 C.1.44, 0 D.5.56, 0(4)过程能力指数C pk=( ). A.0.64 B.0.30 C.0.40 D.0.44(5)若收集了3组数据,其平均值分别为51.24, 47.32, 46.93, 则( ).A.可以认为点子在界内随机排列B.点子出界, 判异C.点子在界内非随机排列D.点子均在界内,但无法判断其随机性24.假定电阻合格下限为95Ω, 合格上限为105Ω.(1)一批电阻阻值取自均值100Ω,标准差2Ω的正态总体.Φ(x)为N(0, 1)的分布函数.则合格品率为( ).A.2Φ(2.5)-1B.2Φ(2.5)C.Φ(2.5)D.Φ(2.5)+Φ(-2.5)(2)过程能力指数C p=( ). A.3/5 B.6/5 C.5/6 D.5/3(3)假定电阻合格上、下限不变,另一批电阻阻值取自均值101Ω,标准差1Ω的正态总体. 则C pk=( ).A.4/3B.2/3C.1D.2.33(4)在此状态下说明技术管理能力( ). A.较勉强 B.很差 C.过高 D.很好25.某企业有4个车间,第一车间是手工生产,工艺复杂,属于单件生产车间; 第二车间生产品种相对稳定,但产品质量波动较大,主要因为设备精度达不到要求,企业又无法对设备精度进行改进; 第三车间产量大,生产相对稳定; 第四车间品种单一,产量大,生产质量较为均匀,但检测所需时间长.有关此案例的分析如下:(1)适宜使用常规控制图的车间是( ).A.第一车间B.第二车间C.第三车间D.第四车间(2)若使用均值—极差控制图,更适宜在( )使用.A.第一车间B.第二车间C.第三车间D.第四车间(3)在此车间利用均值—极差控制图对过程进行监控,在确定控制的质量指标时更适宜选择( ).A.对成本影响较大的性能指标B.技术要求高的质量性能指标C.不重要的质量性能指标D.工艺结构不断发生变化的质量性能指标(4)在抽样过程中,应尽可能做到( ).A.取得的子组数目应在25组以上B.抽取产品越少越好C.过程稳定时可以多抽取样本D.尽可能在较短的时间段内获得子组观测值(5)若绘制的控制图,发现有点子出界, 应( ).A.立即停止生产B.立即查找点子出界的原因C.立即重新绘制控制图D.延长控制界线,将分析用控制图转化为控制用控制图26.在解释C p和C pk的关系时,正确的表述是( ).A.规格中心与分布中心重合时,C p=C pkB.C pk总是大于或等于C pC.C p和C pk之间没有关系D.C pk总是小于C p27.在X图上,如果连续5个点中,有4个点落在中心线同一侧的C区以外,则可能的原因是( ).A.μ变大B.μ变小C.σ变大D.σ变小E.μ和σ不变28.X—R s控制图与X—s控制图相比,下述论断正确的是( ).----------------------------精品word文档值得下载值得拥有----------------------------------------------A.R s图计算简单B.R s图计算复杂C.用R s估计σ的效率较高D.用R s估计σ的效率较低E.X图比X图反应过程波动更灵敏29.p控制图的n=25,UCL=0.28,Cl=0.10,LCL=—. 若n改为100, 则( ).A.UCL=0.19B.UCL=0.145C.UCL=—D.LCL=0.01E.CL=0.00130.轴的直径为2.0±0.01mm, 用X—R图对其直径进行监控,子组大小为5,下列情况中显示过程异常的是( ). A.有一根轴直径大于2.01 B.有一根轴直径小于1.99C.有一子组的均值大于上控制限D.有一子组均值小于公差下限E.控制图上有7个点子连续递增31.下列数据中可以绘制控制图的是( ). A.连续加工过程的巡检数据B.连续加工过程的批验收记录C.从多个供应商处采购的批验收记录D.从某个检验批中抽取100件产品的检验记录E.某个供应商的各类需部件的特性数据32.均值—标准差控制图和其他计量控制图相比,( ).A.均值—标准差图更适用于抽样困难、检验成本大的场合B.标准差图更准确地反映过程波动的变化C.当子组大小大于10时不适于使用标准差控制图D.均值图分析过程中心的波动较单值图更灵敏E.均值—极差图的子组大小应大于均值—标准差图的子组大小33.下列异常现象中可能是由于数据分层不够造成的是( ).A.一点落在A区以外B.连续6点递增或递减C.连续14点相邻点上下交替D.连续8点在中心线两侧,但无一在C区E.连续15点落在C区内34.设一个电子产品由17个同等复杂且同等重要的部件串联组成,如果该电子产品的C p要求达到0.67, 则 ;(1)要求产品不合格品率p不能大于( ). A.4.6% B.2.3% C.0.27% D.1.35%(2)当对此要求选用抽样方案时,选用的AQL(%)为( ). A.4.0 B.6.5 C.0.4 D.0.65(3)部件的不合格品率p要求不高于( ). A.4.6% B.2.3% C.0.27% D.1.35%(4)当对部件的质量要求选用抽样方案时,选用的AQL(%)为( ).A.0.040B.0.065C.0.25D.0.004035.企业欲用控制图对某零件的生产过程进行监控,需要进行的工作主要有:(1)确定控制图的使用场合和控制对象,须分析( ).A.产品的质量特性和重要程度B.各工序的加工特点和对关键特性的影响程度C.工序的质量状况和加工的规律性D.绘制控制图的人员(2)选择控制图,应考虑( ).A.质量特性数据的性质B.控制图保管的方便性C.控制图的检出力D.检验的成本和取样的难易程度(3)如果选择使用均值—极差控制图,那么,子组大小最好为( ).A.4~5B.10以上C.1D.越多越好(4)在抽取子组时应做到( ).A.过程稳定性好,子组间间隔可以扩大B.过程稳定性差,子组内产品的抽取间隔加大C.子组内产品抽取应尽可能在短时间内完成D.子组内产品抽取间隔与子组间间隔尽可能相同(5)在均值图上应使用( )打点.A.每个产品的测量值B.子组均值C.子组标准差D.子组极差36.加工一种轴承, 其规格为10±0.08mm. 要求C pk≥1. 收集25组数据绘制分析用控制图, 未显示异常.计算得到: μ≈10.04mm, σ≈0.02mm.(1)下列论述正确的是( ).A.过程处于统计控制状态和技术控制状态B.过程处于统计控制状态,未处于技术控制状态----------------------------精品word文档值得下载值得拥有----------------------------------------------C.过程未处于统计控制状态,处于技术控制状态D.过程未处于统计控制状态和技术控制状态(2)比较经济的改进措施为( ). A.同时调整μ,σ B.调整μ C.调整σ D.μ和σ都无需调整(3)如果只调整μ, 则μ调整为( ),即可满足要求.A.10.00B.10.01C.10.02D.10.03(4)如果只调整σ, 则σ调整为( ),即可满足要求.A.0.010B.0.0133C.0.0150D.0.016737.过程处于统计控制状态,意味着( ).A.生产出来的产品都合格B.该过程的过程能力指数C p大于1C .生产出来的产品大部份都落在控制图的控制限内D.过程中只存在偶然因素E.控制图上没有点出界和异常排列38.若控制图中有一点出界,下列判断中正确的是( ).A.过程可能存在异常因素B.过程存在偶然因素C.过程可能不稳定D.过程没有异常E.过程处于统计控制状态39.要求子组大小相同的计数控制图是( ).A.p图B.np图C.单值—移动极差图D.u图E.c图40.利用过程能力指数可以( ).A.实时监控过程随时间的波动状况B.计算过程的不合格品率C.分析不稳定过程的加工质量D.衡量稳定过程满足技术要求的能力E.分析过程的异常因素41.单值—移动极差控制图更适用于( ).A.产品均匀的场合B.大批量且需对过程变化作出灵敏判断的场合C.需要取得信息多,判断准确的场合D.检验成本较大,检验时间较长的过程E.控制对象为计数值的情况42.检验员用一次抽样方案(80, 0)对连续产品批进行验收,并记录了样本中不合格项和不合格品数,利用这些数据可以绘制( ).A.np图和p图B.单值—移动极差图C.均值—极差图D.c图和u图E.排列图43.下列现象中判定过程异常的是( ).A.一点落在A区以外B.连续6点递增或递减C.连续15点相邻点上下交替D.连续8点在中心线两侧E.连续14点落在C区内44.利用均值—极差图控制过程,得到X=65,R=2.0,查表得A2=0.577,D4=2.115,D3=0. 从现场采集一组数据,X=67.1,R=5. 可以得到的结论是( ). A .X在控制限内 B.X在控制限外C. R在控制限内D. R在控制限外E.无法判断45.计量控制图与p图相比,下述叙述正确的有( ).A.计量控制图子组大小要求较大B.计量控制图子组大小要求较小C.p图更为灵敏D.计量控制图对测量器具的精度要求较高E.计量控制图对测量器具的精度要求较低46.在统计过程控制中,偶然因素的特点是( ).A.过程固有的B.非过程固有的C.始终存在的D.对质量影响大E.可以通过质量改进完全除去47.加工一种轴承,其规格为10±0.08mm,要求过程能力指数C pk≥1. 收集25组数据绘制分析用控制图,未显示异常. 计算得到: μ≈10.04mm, σ≈0.02mm.(1).C p为( ). A.2/3 B.4/3 C.1 D.1.5(2)C pk为( ). A.2/3 B.4/3 C.1 D.1.5(3)根据上述计算结果,判断过程( ).A.处于统计控制状态和技术控制状态B.处于统计控制状态,未处于技术控制状态C.未处于统计控制状态,处于技术控制状态D.未处于统计控制状态和技术控制状态----------------------------精品word文档值得下载值得拥有----------------------------------------------48.依技术标准,某工艺环节的水份含量为20~22(%). 该厂采用均值—标准差(X—s)控制图对水份含量进行控制.在统计控制状态下,计算得X=21.12, s=0.25,子组大小为5,查表得B4=2.089,A3=1.427.(1)关于对技术标准的以下解释,正确的有( ).A.公差上限为22B.公差为21C.公差下限为0D.公差下限为20(2) s图的上控制限为( ). A.5.28 B.0.357 C.0.522 D.0.250(3)X图的下控制限为( ). A.21.642 B.21.477 C.20.763 D.20.598 (完)----------------------------精品word文档值得下载值得拥有----------------------------------------------。

质量工程师《质量专业基础理论与实务(中级)》名师讲义(统计过程控制 下)【圣才出品】

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质量工程师《质量专业基础理论与实务(中级)》名师讲义 第四章 统计过程控制 下
第四节 常规控制图的做法及其应用 一、各类常规控制图的使用场合 (1) X R控制图 对于计量数据而言,最常用最基本的控制图。它用于控制对象为长度、重量、强度、纯 度、时间、收率和生产量等计量值的场合。 X 控制图主要用于观察正态分布的均值的变化,R 控制图用于观察正态分布的分散或 变异情况的变化,而 X R控制图则将二者联合运用,用于观察正态分布的变化。
【例题 4.4.2】某公司每天都从当天生产的过程中随机抽取一个样本,检验其不合格品 数。过去一个月中每天抽取的样本量(子组大小)为 150,240,…,360。为控制产品的 不合格品率,应采用( )。[2007 年真题]
A. X R控制图 B.np 控制图 C.p 控制图 D.c 控制图 【答案】C 【解析】p 控制图用于控制对象为不合格品率或合格品率等计数质量指标的场合,如控 制不合格品率、交货延迟率、缺勤率,差错率等。
(2) X s 控制图
与 X R图相似,只是用标准差 s 代替 R 图。极差计算简便,故 R 图得到广泛应用,但 当样本量 n>10 时,应用极差估计总体标准差σ的效率减低,需要应用 s 图来代替 R 图。
(3) Me-R 控制图
与 X R图相似,只是用中位数 Me 图代替均值 X 图。由于中位数的确定比均值更简单, 所以多用于现场需要把测定数据直接记入控制图进行控制的场合。
【例题 4.4.3】欲利用控制图监控铸件上的砂眼数,适宜采用的控制图为( )。[2010 年真题]
A. X R图 B.p 图 C.c 图 D.X-RS 图 【答案】C 【解析】c 控制图用于控制一部机器,一个部件,一定的长度,一定的面积或任何一定 的单位中所出现的不合格数目。如布匹上的疵点数、铸件上的砂眼数、机器设备的不合格数 或故障次数、电子设备的焊接不良数、传票的误记数、每页印刷错误数和差错次数等等。

注册质量工程师教案(初级,第七章,统计过程控制)

注册质量工程师教案(初级,第七章,统计过程控制)

质量波动理论


偶因是过程固有的,始终存在,对质量 的影响微小,但难以除去,例如机床开 动时的轻微振动等。异因则非过程固有, 有时存在,有时不存在,对质量影响大, 但不难除去,例如车刀磨损等。 偶因引起质量的偶然波动,异因引起质 量的异常波动。
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质量波动理论



偶然波动是不可避免的,但对质量的影 响一般不大。 异常波动则不然,它对质量的影响大, 且可以通过采取恰当的措施加以消除, 故在过程中异常波动及造成异常波动的 异因是我们注意的对象。 一旦发生异常波动,就应该尽快找出原 因,采取措施加以消除。
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㈢、控制图原理的第二种解释


1、质量波动理论 影响质量的原因(因素)可分为 5M1E (人 员、设备、原材料、工艺方法、测量和 环境)。 但从对产品质量的影响大小来分,又可 分为偶然因素(简称偶因)与异常因素(简 称异因,在国际标准和我国国家标准中 称为可查明原因)两类。
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10
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样 本 统 计 量 数 值
控制图示例

● ● ●
UCL


CL
● ●
● LCL
11
时间或样本号
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二、控制图的重要性


⑴控制图是贯彻预防原则的SPC的重要工 具; ⑵国外企业的应用; ⑶大企业的应用。
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三、控制图 的形成及控制图原理解释


将通常的正态分布图转个方向,使自变量 增加的方向垂直向上,并将μ、μ+3σ、 μ3σ 分别标为CL、UCL和LCL,这样就得 到了一张控制图。 图中: UCL——上控制限; LCL——下控制限; CL——中心线。

统计过程控制提纲(质量工程师考试)

统计过程控制提纲(质量工程师考试)

第四章统计过程控制提纲(中级, 2007) p.171~211第一节统计过程控制概述p.171~1721.什么叫过程?什么叫过程控制?过程控制的主要内容是什么?p.1712.什么叫统计过程控制(SPC)?统计过程控制的主要方面是什么?p.172(1)利用控制图分析过程的稳定性,对过程存在的异常因素进行告警;(2)计算过程能力指数,对过程质量进行评价.为保证产品质量,抽样检验是“事后”的方法,而统计过程控制是“事中”的方法,是预防性措施.3.统计控制技术上,生产控制的方式是什么?p.172假定质量特性值X~N(μ,σ2). 过去常用3σ控制方式; 当今有的已采用6σ控制方式.4.什么叫统计过程诊断(SPD)?p.173第二节控制图p.173~1791.什么是控制图?p.173它是控制过程质量特性值的图. 图的结构如下:(1)上控制限UCL (虚线)(2)中心线CL (实线)(3)下控制限LCL (虚线)(4)统计量数值或质量特性值的描点序列2.控制图的设计原理是什么?p.174X~N(μ,σ2) 或x~N(μ,σ2/n )(1) 3σ原理p.177(2)解释:1)用“小概率事件原理”解释点子出界p.1752)用偶然因素和异常因素解释p.175常规控制图的实质是区分偶然因素和异常因素.3.根据预防原则,控制图显示什么作用?p.176(1)描点序列呈上升(或下降)趋势,显示过程可能出现异常因素;(2)点子突然出界,显示可能发生异常,应及时告警.4.什么叫统计控制状态?p.176(1)过程处于稳定状态(质量特性值处在规定的波动范围内).(2)过程只受偶然因素影响,不受异常因素影响.过程处在统计控制状态下有些什么好处?p.1765.对过程判稳或判异会出错吗?出错的可能性有多大?p.176~177会. 有可能发生两种错判:(1)第一类错误: 虚发警报. 过程正常却告警(以真当假). P(第一类错误)=α(2)第二类错误: 漏发警报. 过程异常却未告警(以假当真). P(第二类错误)=β(3)人们总希望α和β都尽可能小,这可能做到吗?在数理统计学中可以证明:若α增大,则β减小; 若α减小,则β增大. 在样本量n不变时,不可能使α、β同时小下来,唯一办法是增加样本量. p.716.什么叫规范限(规格限、容差限)?它与控制限有什么不同?p.177(1)作法不同: T U与T L, UCL与LCL 控制限与规范限未必重合.(2)作用不同: 规范限–区分产品合格与否; 控制限–区分过程发生异常波动与否.(3)原理不同: 规范限是根据产品特性设计的; 控制限是由产品质量特性值分布运用3σ原理作出的P[μ-3σ<X<μ+3σ]=99.73%P[μ-3σ/n<x<μ+3σ/n]=99.73%7. 常规控制图的分类p.177表4.2-1 中8种控制图: 控制图名称、代号、分布和使用场合, 必须记住!第三节分析用控制图与控制用控制图p.179~1821.使用控制图的前提: 过程应处于稳定状态(统计控制状态).因此,控制图就应在过程稳定状态下制作.2.什么是过程能力指数(工序能力指数)C p?p.183C p=(T U-T L)/(6σ) = T/(6σ)3.什么是分析用控制图?p.179(1)用来分析过程是否已达到统计控制状态的控制图.(2)用来分析过程是否已达到技术控制状态, C p是否满足要求的控制图.表4.3-1说明各种可能状态及状态间如何调整. p.1804.什么是控制用控制图?p.1805.常规控制图的设计思路p.180(1)先确定α, 再考虑β.(2)通常α=1% 或5% 或10%(3)对休哈特控制图α取得特别小,β就大.为此即使点子不出界,给出8种第二类判异准则.6. 8个判异准则: 必须记住! p.181~182将两条控制限内的区域划分为2个C区、2个B区、2个A区(如p.181诸图).问点子落在各区中的概率是多少?7.什么叫局部问题对策?什么叫系统改进?p.182第四节过程能力与过程能力指数p.182~1881.什么叫过程能力(工序能力)?什么叫生产能力?p.182过程能力是指过程加工质量方面的能力,它决定于质量因素( 5M1E ),与公差无关. 通常用6σ表示过程能力,其数值越小越好! 生产能力是指过程加工数量方面的能力.2.什么叫过程能力指数?p.183(1)定义: C p =T/(6σ)=(T U-T L)/(6σ)(2)C p的估计: 当σ未知时,用σ1=R/d2或σ2=s/c4来估计σ, 从而估计C p . p.65 p.183(3)对C p的评价: C p的值越大,表明加工质量越好. 表4.4-1 必须记住! p.1843.单侧公差情况的过程能力指数p.184(1)对望小特性值,只有规范上限要求,无规范下限要求.这时过程能力指数定义为:C pU = (T U-μ)/(3σ) , 当μ<T U时C pU=0 , 当μ>T U时(2)对望大特性值,只有规范下限要求,无规范上限要求.这时过程能力指数定义为:C pL=(μ-T L)/(3σ), 当T L<μ时C pL=0 , 当T L>μ时(3)C pU与C pL的估计p.1854.有偏移情况的过程能力指数p.185(1)什么叫“有偏移”?产品质量特性值的分布中心(均值)μ与公差中心M不重合时,称之为“有偏移”.在有偏移时,不合格品率将会增加.(2)什么叫“偏移度k”?k=2ε/T , ε= ︳μ-M ︳; 若k=0, 则为无偏移, 0≤k<1(3)有偏移时,过程能力指数修改为: C pk为无偏移时的C p打个折扣.C pk=(1-k)C p=(1-k)T/(6σ) (★)(4)C pk的另一表示法:︱C pU , 当M<μ时C pk = min( C pU, C pL ) =︱(★★)︱C pL , 当M>μ时不难证明: (★)与(★★) 等价.5.C p与C pk的比较:(1)总有C pk≤C p∵0≤k<1(2)对固定的k, C p越大, C pk也越大.(3)C p越大,表示加工质量越好; 当C p固定时,C pk越大,表示k越小,M与μ越接近.(4)C p与C pk联合使用时产品的合格品率: 见表4.4-2 p.1851)当C pk=C p时,即无偏移,表中左上角到右下角的对角线上的概率分别为1σ、2σ、3σ、4σ、5σ、6σ原则下的合格率.P[μ-iσ<X<μ+iσ]=?i=1、2、3、4、5、6 p.42 p.185 p.2982)当C pk<C p (有偏移)时,若C p固定,则C pk越小,产品的合格品率越低; 若C pk固定,则C p越大,产品的合格品率越高.当C pk=0.33, C p=0.67时,合格品率是多少?是如何计算的?不合格品率是多少?6.过程改进策略包括什么环节?图4.4-4 p.1867.过程性能指数(长期过程能力指数) p.186~187(1)什么叫过程性能指数?p.186C p、C pk中的σ通常是用短期有关资料进行估计的.若σ改为长期有关资料进行估计,则所得C p、C pk分别改记为P p、P pk, 并称之为过程性能指数. 详细见p.187 表4.4-3. 表中有关下标st=short time , =long time. 应熟悉该表中的符号、名称和计算公式.Lt(2)P p、P pk的好处是什么?p.187(3)什么叫过程稳定系数?什么叫过程相对稳定系数?p.188 表4.4-4 记住!第五节常规控制图的作法及其应用p.186~2041. 8种常规控制图的使用场合p.177 p.188 p.189 记住!2.应用控制图需要考虑的一些问题: (1)~(8) p.189 p.1903.x—R图: 由x图和R图组成(重点掌握) p.190~196(1)x—R图的特点(2)x—R图的作法: 先作R图,判稳后,再作x图.(3)x—R图的操作步骤(步骤1~步骤9) p.192(4)x—R图示例: [例4.5-1] p.192~1964.x—s图: 由x图和s 图组成. 先作s 图,判稳后,再作x图. [例4.5-2] p.196~2005. X—R s图(单值—移动极差图) p.200~201(1)适用场合(2)控制限(3)[例4.5-3]6.Me—R图(中位数—极差图) p.201~202(1)适用场合(2)控制限(3)[例4.5-4]7. p图(不合格品率p控制图) (掌握) p.202~205(1)适用场合(2)控制限(3)[例4.5-5]8. c图p.205~206(1)适用场合(2)控制限(3)[例4.5-6]9. u图p.206~207(1)适用场合(2)控制限。

统计过程控制SPC1

统计过程控制SPC1

日复一日的努力只为成就美好的明天 。01:07:4501:0 7:4501:07Sund ay , January 03, 2021
安全放在第一位,防微杜渐。21.1.321 .1.301:07:4501 :07:45J anuary 3, 2021
加强自身建设,增强个人的休养。202 1年1月 3日上 午1时7 分21.1.3 21.1.3
8. 标准差
8.1. 定义 过程输出分布宽度的量度,或从过程中 统计抽样值分布宽度的量值。 标识:σ或s
)
SPC-基本概念
8ห้องสมุดไป่ตู้2. 估计标准差类型
8.2.1. σR/d2 8.2.2. σs/c4 s=√1/(n-1) ∑(Xi-X)2
9. 规范
9.1. 定义 某特定特性是否可接受的工程技术要求。
位置 形狀
散佈
大小→ )
大小→
大小→
SPC-基本概念
6. 措施
6.1. 定义 减小或消除变差的对策。
6.2. 分类 局部措施
系统措施
7. 统计过程控制
7.1. 定义 使用控制图等统计技术来分析过程或输出, 以便采取适当的措施达到并保持统计过程状 态。
)
SPC-基本概念
7.2. 分析过程输入 7.3. 分析过程输出
科学,你是国力的灵魂;同时又是社 会发展 的标志 。上午1 时7分4 5秒上 午1时7 分01:07:4521.1. 3
每天都是美好的一天,新的一天开启 。21.1.3 21.1.30 1:0701:07:450 1:07:45 Jan-21
相信命运,让自己成长,慢慢的长大 。2021 年1月3 日星期 日1时7 分45秒Sunday , January 03, 2021
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统计过程控制(复习题)1.下述中适合使用常规控制图的是( ).A.提高车间生产能力B.检测不合格品或不合格批C.消除过程中存在的异常因素D.监控并预警工序中存在的变异2.控制图的描点员按规定时间在短期内抽取4件产品组成一个子组进行检测,并将测得的每个产品的特性值在X图上描了4个点,发现其中有1个点出界. 则( ).A.查找出界原因,并尽快消除异常B.剔除出界的点,继续描点C.不能作出判断,作图不正确D.生产过程出现异常,必须停产3.用20个样本绘制—R控制图,每个样本(子组)样本量5, 已计算得X=33.6, =6.2, A2=0.577, D4=2.115, D3=0. 今在加工过程中采集了一个样本,观测值为38, 43, 37, 36, 25. 则该样本的( )在控制限内.A.均值和极差都B.极差C.极差不D.均值不4.合理子组原则要求在尽可能短的时间内收集一个子组的样品,主要因为( ).A.尽快计算不合格品率B.尽量缩小组内差异C.希望节省取样时间D.尽快绘制出控制图5.常规控制图的理论基础是( ).A.小概率原理B.试验设计C.指数分布的性质D.对数正态分布的性质E.正态分布的性质6.常规控制图适用于( )的控制.A.批量为25的一批产品的生产B.成批连续生产零件C.车间大批量生产零件D.连续生产流程性材料7.一生产企业要利用控制图对生产过程进行监控,下述中正确的做法是( ).A.选择欲控指标B.收集数据计算过程能力指数,判断过程是否稳定C.根据欲控质量特性的数据,选取控制图D.确定子组数目和抽取子组的时间间隔及其抽取方式E.按生产顺序从加工的产品中随机抽取子组绘制控制图8.用均值作控制图监控生产过程变化的主要原因是( ).A.多数质量特性值为计量值数据B.可以扩大控制限的范围C.均值可以使部分偶然因素相抵消,从而缩小上、下控制限的距离D.可以判断产品质量特性的平均值是否合格E.提高对异常波动监控的灵敏度9.过程能力指数C pk的公式是( ).A.(UCL-μ)/3σB.(T U-μ)/3σC.(T L-μ)/3σD.(μ-T L)/3σE.(1-k)T/3R10.在何种情形下,控制图需要重新制定?().A.人员和设备均变动B.改变工艺参数或采用新工艺C.环境改变D.更换供应商或更换原材料、零部件E.点子出界11.选择常规控制图依据的主要因素是( ).A.工艺方法B.设备C.控制关键指标的个数D.使用方便E.控制对象的数据性质12.从工程上提高C p的途径有( ).A.减小σB.增大UCLC.由技术决定是否适当加大公差D.减小LCLE.减小偏离度k13.当所考察的质量特性为某企业月工伤事故数时.应选用( )控制图.A.p图B.u图C.X—R图D.X—s图14.合理子组原则包含的内容有( ).A.组内差异由异因(可查明因素)造成B.组间差异主要由偶因(偶然因素)造成C.组内差异既由偶因也由异因造成D.组间差异主要由异因造成15.控制图中控制限的作用有( ).A.区分合格与不合格B.区分偶然波动与异常波动C.点子落在控制限内,判断过程处于统计控制状态D.点子落在控制限外,判断过程未处于统计控制状态16.过程处于统计控制状态, 则( ).A.表示过程稳定,可预测B.点子无趋势和其他模式C.点子在控制限内随机分布D.过程中存在可查明原因17.某生物制药厂半成品指标的检验时间很长,对它的控制宜采用( ).A.均值—极差控制图B.不合格品率控制图C.单值—移动极差控制图D.不合格品数控制图18.在过程不变的情况下,若控制图中上、下控制限的间隔距离增加, 则( ).A.α减小,β增大B.α增大,β减小C.α增大,β增大D.α减小,β减小19.过程保持在统计控制状态下的好处是( ).A.能及时发现异常因素的影响B.可以使过程能力保持相对稳定C.能将产品的质量特性值保持在公差范围内D.可以使过程的变异保持相对稳定20.若人员和设备已固定,在( )的情况下,控制图需要重新制定.A.现有控制图已经使用很长时间B.工艺参数改变C.环境改变D.上级下达更高指标E.更换了供应商21.在分析控制图阶段,利用X—R图对过程进行分析,该过程输出的质量特性值X服从N(210.5, 1.12). 质量改进小组为进一步改进质量,从明确分析用控制图的主要作用开始,一步一步深入地改进质量,具体如下:(1)分析用控制图阶段主要分析( ).A.是否需要继续抽取样本(子组)B.过程是否处于统计控制状态C.过程的过程能力指数是否处于技术控制状态D.是否要扩大规范限(2)若过程的规范上、下限为210±3mm, 则C p=( ).(3)若将该过程的标准差1.1减小为0.7, 则新的C p=( ).(4)(新的)偏移度k=( ).A.3/8B.2/9C.1/6D.0(5)新的C pk=( ).(6)若经过调整,过程中心μ已从210.5mm与规范中心M=210mm重合, 则这时C pk=( ).(7)下述中正确的说法是( ).A.此时过程处于技术控制状态B.此时过程尚未处于统计控制状态C.此时过程可运用控制图进行控制D.此时过程能力仍不足22.某种钢管内径X的规格为210±5mm,生产过程稳定,X服从正态分布N(210, 2.492).(1)过程能力指数C p=( ).(2)过程的不合格品率p=( ).(3)若过程中心发生偏移,过程中心移至212,但标准差仍为2.49, 则此时过程能力指数C pk=( ).(4)经技术革新,使分布中心与公差中心重合,且标准差降为1.25, 则此时过程能力指数C pk=( ).(5)经过质量改进和技术革新后, 过程的不合格品率为( ).23.某生产车间对轴的外径进行控制,规范限为T U=54mm, T L=46mm, 25个子组,子组样本量为5,计算得=50.5mm, s=2.5mm, A2=0.577, A3=1.427, B4=2.809, D4=2.115, B3=0, D3=0, C4=0.94, d2=0.4299. 则:(1)X图的上、下控制限分别为( )., 46.93 , 48.80 , 49.06 , 50.55(2)过程能力为( ). B.15 D.12(3) s图上、下控制限分别为( ). , 0 , 0 , 0 , 0(4)过程能力指数C pk=( ).(5)若收集了3组数据,其平均值分别为51.24, 47.32, 46.93, 则( ).A.可以认为点子在界内随机排列B.点子出界, 判异C.点子在界内非随机排列D.点子均在界内,但无法判断其随机性24.假定电阻合格下限为95Ω, 合格上限为105Ω.(1)一批电阻阻值取自均值100Ω,标准差2Ω的正态总体.Φ(x)为N(0, 1)的分布函数.则合格品率为( ).A.2Φ(2.5)-1B.2Φ(2.5)C.Φ(2.5)D.Φ(2.5)+Φ(-2.5)(2)过程能力指数C p=( ). A.3/5 B.6/5 C.5/6 D.5/3(3)假定电阻合格上、下限不变,另一批电阻阻值取自均值101Ω,标准差1Ω的正态总体. 则C pk=( ).A.4/3B.2/3C.1(4)在此状态下说明技术管理能力( ). A.较勉强 B.很差 C.过高 D.很好25.某企业有4个车间,第一车间是手工生产,工艺复杂,属于单件生产车间; 第二车间生产品种相对稳定,但产品质量波动较大,主要因为设备精度达不到要求,企业又无法对设备精度进行改进; 第三车间产量大,生产相对稳定; 第四车间品种单一,产量大,生产质量较为均匀,但检测所需时间长.有关此案例的分析如下:(1)适宜使用常规控制图的车间是( ).A.第一车间B.第二车间C.第三车间D.第四车间(2)若使用均值—极差控制图,更适宜在( )使用.A.第一车间B.第二车间C.第三车间D.第四车间(3)在此车间利用均值—极差控制图对过程进行监控,在确定控制的质量指标时更适宜选择( ).A.对成本影响较大的性能指标B.技术要求高的质量性能指标C.不重要的质量性能指标D.工艺结构不断发生变化的质量性能指标(4)在抽样过程中,应尽可能做到( ).A.取得的子组数目应在25组以上B.抽取产品越少越好C.过程稳定时可以多抽取样本D.尽可能在较短的时间段内获得子组观测值(5)若绘制的控制图,发现有点子出界, 应( ).A.立即停止生产B.立即查找点子出界的原因C.立即重新绘制控制图D.延长控制界线,将分析用控制图转化为控制用控制图26.在解释C p和C pk的关系时,正确的表述是( ).A.规格中心与分布中心重合时,C p=C pkB.C pk总是大于或等于C pC.C p和C pk之间没有关系D.C pk总是小于C p27.在X图上,如果连续5个点中,有4个点落在中心线同一侧的C区以外,则可能的原因是( ).A.μ变大B.μ变小C.σ变大D.σ变小E.μ和σ不变28.X—R s控制图与X—s控制图相比,下述论断正确的是( ).A.R s图计算简单B.R s图计算复杂C.用R s估计σ的效率较高D.用R s估计σ的效率较低E.X图比图反应过程波动更灵敏29.p控制图的n=25,UCL=0.28,Cl=0.10,LCL=—. 若n改为100, 则( ).A.UCL=0.19B.UCL=0.145C.UCL=—D.LCL=0.01E.CL=0.00130.轴的直径为2.0±0.01mm, 用X—R图对其直径进行监控,子组大小为5,下列情况中显示过程异常的是( ). A.有一根轴直径大于2.01 B.有一根轴直径小于1.99C.有一子组的均值大于上控制限D.有一子组均值小于公差下限E.控制图上有7个点子连续递增31.下列数据中可以绘制控制图的是( ). A.连续加工过程的巡检数据B.连续加工过程的批验收记录C.从多个供应商处采购的批验收记录D.从某个检验批中抽取100件产品的检验记录E.某个供应商的各类需部件的特性数据32.均值—标准差控制图和其他计量控制图相比,( ).A.均值—标准差图更适用于抽样困难、检验成本大的场合B.标准差图更准确地反映过程波动的变化C.当子组大小大于10时不适于使用标准差控制图D.均值图分析过程中心的波动较单值图更灵敏E.均值—极差图的子组大小应大于均值—标准差图的子组大小33.下列异常现象中可能是由于数据分层不够造成的是( ).A.一点落在A区以外B.连续6点递增或递减C.连续14点相邻点上下交替D.连续8点在中心线两侧,但无一在C区E.连续15点落在C区内34.设一个电子产品由17个同等复杂且同等重要的部件串联组成,如果该电子产品的C p要求达到0.67, 则;(1)要求产品不合格品率p不能大于( ).(2)当对此要求选用抽样方案时,选用的AQL(%)为( ). A.4.0 B.6.5 C.0.4(3)部件的不合格品率p要求不高于( ).(4)当对部件的质量要求选用抽样方案时,选用的AQL(%)为( ).35.企业欲用控制图对某零件的生产过程进行监控,需要进行的工作主要有:(1)确定控制图的使用场合和控制对象,须分析( ).A.产品的质量特性和重要程度B.各工序的加工特点和对关键特性的影响程度C.工序的质量状况和加工的规律性D.绘制控制图的人员(2)选择控制图,应考虑( ).A.质量特性数据的性质B.控制图保管的方便性C.控制图的检出力D.检验的成本和取样的难易程度(3)如果选择使用均值—极差控制图,那么,子组大小最好为( ).A.4~5B.10以上C.1D.越多越好(4)在抽取子组时应做到( ).A.过程稳定性好,子组间间隔可以扩大B.过程稳定性差,子组内产品的抽取间隔加大C.子组内产品抽取应尽可能在短时间内完成D.子组内产品抽取间隔与子组间间隔尽可能相同(5)在均值图上应使用( )打点.A.每个产品的测量值B.子组均值C.子组标准差D.子组极差36.加工一种轴承, 其规格为10±0.08mm. 要求C pk≥1. 收集25组数据绘制分析用控制图, 未显示异常.计算得到: μ≈10.04mm, σ≈0.02mm.(1)下列论述正确的是( ).A.过程处于统计控制状态和技术控制状态B.过程处于统计控制状态,未处于技术控制状态C.过程未处于统计控制状态,处于技术控制状态D.过程未处于统计控制状态和技术控制状态(2)比较经济的改进措施为( ). A.同时调整μ,σ B.调整μ C.调整σ D.μ和σ都无需调整(3)如果只调整μ, 则μ调整为( ),即可满足要求.(4)如果只调整σ, 则σ调整为( ),即可满足要求.37.过程处于统计控制状态,意味着( ).A.生产出来的产品都合格B.该过程的过程能力指数C p大于1C .生产出来的产品大部份都落在控制图的控制限内D.过程中只存在偶然因素E.控制图上没有点出界和异常排列38.若控制图中有一点出界,下列判断中正确的是( ).A.过程可能存在异常因素B.过程存在偶然因素C.过程可能不稳定D.过程没有异常E.过程处于统计控制状态39.要求子组大小相同的计数控制图是( ).A.p图B.np图C.单值—移动极差图D.u图E.c图40.利用过程能力指数可以( ).A.实时监控过程随时间的波动状况B.计算过程的不合格品率C.分析不稳定过程的加工质量D.衡量稳定过程满足技术要求的能力E.分析过程的异常因素41.单值—移动极差控制图更适用于( ).A.产品均匀的场合B.大批量且需对过程变化作出灵敏判断的场合C.需要取得信息多,判断准确的场合D.检验成本较大,检验时间较长的过程E.控制对象为计数值的情况42.检验员用一次抽样方案(80, 0)对连续产品批进行验收,并记录了样本中不合格项和不合格品数,利用这些数据可以绘制( ).A.np图和p图B.单值—移动极差图C.均值—极差图D.c图和u图E.排列图43.下列现象中判定过程异常的是( ).A.一点落在A区以外B.连续6点递增或递减C.连续15点相邻点上下交替D.连续8点在中心线两侧E.连续14点落在C区内44.利用均值—极差图控制过程,得到X=65,R=2.0,查表得A2=0.577,D4=2.115,D3=0. 从现场采集一组数据, X=67.1,R=5. 可以得到的结论是( ). A .X在控制限内 B.X在控制限外C. R在控制限内D. R在控制限外E.无法判断45.计量控制图与p图相比,下述叙述正确的有( ).A.计量控制图子组大小要求较大B.计量控制图子组大小要求较小C.p图更为灵敏D.计量控制图对测量器具的精度要求较高E.计量控制图对测量器具的精度要求较低46.在统计过程控制中,偶然因素的特点是( ).A.过程固有的B.非过程固有的C.始终存在的D.对质量影响大E.可以通过质量改进完全除去47.加工一种轴承,其规格为10±0.08mm,要求过程能力指数C pk≥1. 收集25组数据绘制分析用控制图,未显示异常. 计算得到: μ≈10.04mm, σ≈0.02mm.(1).C p为( ). A.2/3 B.4/3 C.1 D.1.5(2)C pk为( ). A.2/3 B.4/3 C.1 D.1.5(3)根据上述计算结果,判断过程( ).A.处于统计控制状态和技术控制状态B.处于统计控制状态,未处于技术控制状态C.未处于统计控制状态,处于技术控制状态D.未处于统计控制状态和技术控制状态48.依技术标准,某工艺环节的水份含量为20~22(%). 该厂采用均值—标准差(X—s)控制图对水份含量进行控制.在统计控制状态下,计算得X=21.12, s=0.25,子组大小为5,查表得B4=2.089,A3=1.427.(1)关于对技术标准的以下解释,正确的有( ).A.公差上限为22B.公差为21C.公差下限为0D.公差下限为20(2) s图的上控制限为( ).(3)X图的下控制限为( ). (完)。

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