偏转磁芯烧结裂纹探索

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MnZn铁氧体磁心烧结裂纹成因浅探

MnZn铁氧体磁心烧结裂纹成因浅探
法和 粉 料工 艺特 性等 手段 即可解 决 。
1 3 气 氛 .
铁氧 体 在 15。 0 0C左 右 易 被 氧 化 而 析 出 另 相 如 J 3 一
Mn O 。该 相 为 正方 结构 , Mn铁氧 体 ( 心 立 方 ) 。 与 面 不
能 固溶 , 引起 品格 畸 变 , 不仅 对磁 性 能 影 响很 大 , 且 由 而 于氧 化首 先发 生 在 坯 体 表 面 , 面 被 氧 化 为 另相 , 内 表 与
合 理 的降 温制 度能 有效 避 免各种 开 裂现 象 。
图 5
过 度 氧 化 的 Mn Zn铁 氧 体 表 面 裂 纹
综 上所 述 , 烧结 裂 纹是 影 响铁 氧体 磁 心 合 格 率 的一
个 重要 因素 。 在生坯 没 有任 何 问题 的前 提 下 , 料 的波 粉 动、 烧结 制 度 、 结气 氛 、 品规 格 大 小 、 坯 方 法 等 都 烧 产 排 会 影 响裂纹 的 产 生 。 产 品 出现 裂 纹 时 , 综 合 考 虑 , 应 积
到正常 水平 。 由于 固相反 应 的特 殊 性 , 坯体 表 面 首 先急 剧地 氧 化收 缩 , 而坯 体 内还 未 能 进 行 , 种 不 均 匀 的 收 这 缩往 往会 在坯 体 表 面造 成 裂 纹 。 因此 根 据 实 际 生产 状 况 , 整 窑炉 升温 段气氛 , 证 适 当 的氧 分压 , 消 除烧 调 保 是
进行 检 测排 除 , 以保证 产 品 的质 量 。
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图 1 升 温 开 裂 的典 型 断 面

软磁铁氧体磁芯在烧结过程中的开裂控制

软磁铁氧体磁芯在烧结过程中的开裂控制

软磁铁氧体磁芯在烧结过程中的开裂控制摘要:本文论述了磁芯在烧结过程中出现开裂的原因及其控制方法。

关键词:磁芯开裂烧结控制1 引言磁性材料作为在国民经济各个领域不可缺少的功能材料,其产量和使用量成为衡量一个国家经济和信息技术发展程度的标志之一,特别是软磁材料,随着电子设备向轻薄短小、集成化、智能化和多功能化方向发展,各种软磁铁氧体磁芯发展迅猛。

软磁铁氧体中,目前需求最多就是功率铁氧体和高磁导率铁氧体,功率铁氧体主要用于各种小型化的开关电源(如AC-DC,DC-DC变换器)及显示器回扫变压器,高磁导率铁氧体主要用于宽带变压器,脉冲变压器和抗电磁波干扰器件等。

软磁铁氧体磁芯生产工序多,生产周期长,产品质量给每个工序的质量息息相关,任何一个工序的质量问题都有造成后续产品的质量等级降低和报废,其中烧结过程中的产品开裂问题是关键的一环,如果控制不好,就会导致烧结产品大批次的开裂,由此引起的废品损失是相当惊人的。

图1示出了软磁铁氧体磁芯生产工艺流程简图。

2 软磁铁氧体磁芯烧结开裂控制针对软磁铁氧体材料的基本属性,从软磁铁氧体产品的制备工艺入手,找出诱发产品开裂因素,经大量实验表明,烧结产品开裂有以下四方面原因造成,一为粉体制备工艺的预烧(RK)工序;二为喷雾造粒(SD)工序粉体参数的质量控制;三为坯件成型工艺参数的质量控制;四为烧结产品的质量控制。

2.1 预烧工序的质量控制预烧(RK)工序是粉料制备中的关键工序,它是经混合后的Fe2O3、MnO、ZnO原料在一定温度下进行预烧结后使其初步形成MnFe2O4和ZnFe2O4的全过程。

同时预烧温度,抽排气状况、预烧时间、进料量大小、回转窑转速、预烧粉料的出口温度等因素直接关系到预烧料得氧化程度,若预烧料氧化不充分,会使下道工序的成型坯件在最终烧结过程中带来两个问题。

(1)由于坯件各部分收缩不均匀,从而产生内部应力不断增大,应力集中的部位产生裂纹。

(2)如果预烧温度过低,在最终烧结过程中,由于温度的急剧升高,使得坯件重新氧化,产生热膨胀效应,会使产品产生裂纹。

磁芯开裂的原因

磁芯开裂的原因

磁芯开裂的原因
磁芯开裂是指在磁芯的表面或内部出现裂纹或断裂现象。

磁芯作为一种重要的电磁元件,在电子设备和通信设备中起着至关重要的作用。

然而,由于各种原因,磁芯可能会出现开裂的情况,从而影响其正常工作。

下面将详细探讨磁芯开裂的原因。

磁芯的开裂可能是由于制造过程中存在的缺陷导致的。

在磁芯的生产过程中,如果材料的质量控制不严格,或者工艺不到位,就有可能导致磁芯内部存在气泡、夹杂物或者晶界不饱满等缺陷,从而降低了磁芯的强度和韧性,容易发生开裂现象。

磁芯在运输、存储和使用过程中受到外部力的作用,也可能导致磁芯开裂。

比如,在搬运过程中磁芯受到重物挤压或者碰撞,就有可能引起磁芯的破损。

在存储过程中,如果磁芯长时间处于高温、潮湿或者振动的环境中,也容易导致磁芯的劣化和开裂。

而在使用过程中,如果磁芯受到过大的电磁场或者温度变化等因素的影响,也可能导致其开裂。

磁芯的开裂还可能与设计不当或者安装不正确有关。

如果磁芯的设计参数不合理,超过了其承受范围,就容易导致磁芯过载而发生开裂。

另外,在安装过程中,如果没有按照要求正确安装磁芯,比如固定方式不当、受力方向错误等,也可能导致磁芯受力不均匀而开裂。

总的来说,磁芯开裂的原因主要包括制造过程中的缺陷、运输、存储和使用过程中的外部力作用以及设计不当或者安装不正确等因素。

为了避免磁芯开裂,我们应该加强对磁芯的质量控制,提高制造工艺水平,注意在运输、存储和使用过程中保护磁芯,合理设计和正确安装磁芯。

只有做好这些工作,才能保证磁芯的正常工作和使用寿命,提高电子设备和通信设备的可靠性和稳定性。

偏转磁芯烧结裂纹探索

偏转磁芯烧结裂纹探索

偏转磁芯烧结裂纹探索摘要:运用偏转磁芯的升温与排胶理论,对偏转磁芯烧结用推板窑炉内的气流状况进行了分析,对偏转磁芯烧结温度曲线进行了定量讨论,对常见烧结竖裂产生的原因进行了分析,并提出了由于窑炉烧结产生的裂纹的解决办法。

关键词:偏转磁芯升温与排胶烧结裂纹1.前言偏转磁芯由于形状复杂,尺寸较大,在烧结过程中,竖裂是经常出现的现象,也是影响产品合格率提高的主要因素,因此研究探索竖裂的机理十分重要,同时,我们只有掌握这些原理,才能在烧结出现竖裂时,有针对性地进行调节,避免不必要的损失。

2.窑内气流和气氛的均匀性气流是流体的一种,它具有易流动性,也具有粘滞性,还有惯性和压缩性。

气体在窑内流动时,受到阻力有两种:一种是由于气体本身的粘滞性及其与窑内壁、推板、承烧座、坯件构成的气流边界间的摩擦产生的阻力称为摩擦阻力或沿程阻力;另一种是气流经过窑壁某些部分(凹凸部分)、承烧座、坯件时,由于流速方向和大小的变化产生涡流而造成的,这种阻力只发生在局部地方,称为局部阻力。

双推板烧结窑垂直于推进方向的截面如图1所示。

窑腔内坯件和窑顶之间的空间、坯件和窑左右侧面之间的空间以及两列推板上的坯件的边沿与窑膛中心之间的空气均为气流的主通道。

从冷却段至烧结段的气流大部分都沿此边界流动,然后从升温段排出。

图2是烧结段进气、排气孔部分沿推进方向的局部截面的流线示意图,图中可以看出两个相邻的承烧板上坯件之间的空间经过坯件上部的气流造成了沿程阻力致使期间气流形成漩涡。

从坯件顶部至窑顶气流的速度分布见图3.两列推板及承烧座所装的坯件靠窑腔中心的边沿构成的通道中,从推板结合部的推板面至窑顶的气流分布如图4所示。

由于气流边界的沿程阻力的影响,主通道内的气流在同一截面都呈不均匀分布。

图1 垂直于推进方向的截面图图2 沿推进方向的局部截面的流线图在烧结偏转磁芯元件的双推道烧结窑内,在其推进方向上要满足三条工艺曲线:温度曲线、气氛(含氧量)曲线和压强曲线。

常见的电子元器件失效机理与分析

常见的电子元器件失效机理与分析

常见的电子元器件失效机理与分析电子元器件的主要失效模式包括但不限于开路、短路、烧毁、爆炸、漏电、功能失效、电参数漂移、非稳定失效等。

对于硬件工程师来讲电子元器件失效是个非常麻烦的事情,比如某个半导体器件外表完好但实际上已经半失效或者全失效会在硬件电路调试上花费大把的时间,有时甚至炸机。

硬件工程师调试爆炸现场所以掌握各类电子元器件的实效机理与特性是硬件工程师比不可少的知识。

下面分类细叙一下各类电子元器件的失效模式与机理。

电阻器失效失效模式:各种失效的现象及其表现的形式。

失效机理:是导致失效的物理、化学、热力学或其他过程。

电阻器的失效模式与机理▶开路:主要失效机理为电阻膜烧毁或大面积脱落,基体断裂,引线帽与电阻体脱落。

▶阻值漂移超规范:电阻膜有缺陷或退化,基体有可动钠离子,保护涂层不良。

▶引线断裂:电阻体焊接工艺缺陷,焊点污染,引线机械应力损伤。

▶短路:银的迁移,电晕放电。

失效模式占失效总比例表▶线绕电阻:▶非线绕电阻:失效模式机理分析电阻器失效机理是多方面的,工作条件或环境条件下所发生的各种理化过程是引起电阻器老化的原因。

▶导电材料的结构变化:薄膜电阻器的导电膜层一般用汽相淀积方法获得,在一定程度上存在无定型结构。

按热力学观点,无定型结构均有结晶化趋势。

在工作条件或环境条件下,导电膜层中的无定型结构均以一定的速度趋向结晶化,也即导电材料内部结构趋于致密化,能常会引起电阻值的下降。

结晶化速度随温度升高而加快。

电阻线或电阻膜在制备过程中都会承受机械应力,使其内部结构发生畸变,线径愈小或膜层愈薄,应力影响愈显著。

一般可采用热处理方法消除内应力,残余内应力则可能在长时间使用过程中逐步消除,电阻器的阻值则可能因此发生变化。

结晶化过程和内应力清除过程均随时间推移而减缓,但不可能在电阻器使用期间终止。

可以认为在电阻器工作期内这两个过程以近似恒定的速度进行。

与它们有关的阻值变化约占原阻值的千分之几。

电负荷高温老化:任何情况,电负荷均会加速电阻器老化进程,并且电负荷对加速电阻器老化的作用比升高温度的加速老化后果更显著,原因是电阻体与引线帽接触部分的温升超过了电阻体的平均温升。

贴片电感失效原因分析总结

贴片电感失效原因分析总结

贴片电感失效原因分析总结贴片电感失效原因主要表现在五个方面,分别是耐焊性、可焊性、焊接不良、上机开路、磁路破损等导致的失效,本文将就这五点做出解释。

在此之前,我们先了解一下电感失效模式,以及贴片电感失效的机理。

电感器失效模式:电感量和其他性能的超差、开路、短路。

贴片功率电感失效原因:1.磁芯在加工过程中产生的机械应力较大,未得到释放;2.磁芯内有杂质或空洞磁芯材料本身不均匀,影响磁芯的磁场状况,使磁芯的磁导率发生了偏差;3.由于烧结后产生的烧结裂纹;4.铜线与铜带浸焊连接时,线圈部分溅到锡液,融化了漆包线的绝缘层,造成短路;5.铜线纤细,在与铜带连接时,造成假焊,开路失效。

一、耐焊性低频贴片功率电感经回流焊后感量上升<20%。

由于回流焊的温度超过了低频贴片电感材料的居里温度,出现退磁现象。

贴片电感退磁后,贴片电感材料的磁导率恢复到最大值,感量上升。

一般要求的控制范围是贴片电感耐焊接热后,感量上升幅度小于20%o耐焊性可能造成的问题是有时小批量手工焊时,电路性能全部合格(此时贴片电感未整体加热,感量上升小)。

但大批量贴片时一,发现有部分电路性能下降。

这可能是由于过回流焊后,贴片电感感量会上升,影响了线路的性能。

在对贴片电感感量精度要求较严格的地方(如信号接收发射电路),应加大对贴片电感耐焊性的关注。

检测方法:先测量贴片电感在常温时的感量值,再将贴片电感浸入熔化的焊锡罐里10秒钟左右,取出。

待贴片电感彻底冷却后,测量贴片电感新的感量值。

感量增大的百分比既为该贴片电感的耐焊性大小。

二、可焊性当达到回流焊的温度时,金属银(Ag)会跟金属锡(Sn)反应形成共熔物,因此不能在贴片电感的银端头上直接镀锡。

而是在银端头上先镀银(2um左右),形成隔绝层,然后再镀锡(4 — 8 u m) o可焊性检测将待检测的贴片电感的端头用酒精清洗干净,将贴片电感在熔化的焊锡罐中浸入4秒钟左右,取出。

如果贴片电感端头的焊锡覆盖率达到90% 以上,则可焊性合格。

软磁铁氧体烧结过程的质量问题现象及解决措施

软磁铁氧体烧结过程的质量问题现象及解决措施

软磁铁氧体烧结过程的质量问题现象及解决措施一、烧结条件对磁性能的影响烧培条件对铁氧体的磁性能有很大影响。

烧结温度、烧结气氛和冷却方式是烧结条件的三个主要方面。

(一)烧结温度对磁性能的影响一般说来,烧结温度偏低时,晶粒大小不均匀,气孔分散于晶界和晶粒内部,呈不规则多面形。

磁导率μi和剩磁感应强度Br都较低,但是矫顽力HCB 较大。

烧结温度适当,则晶粒趋于均匀、气孔呈球形、烧结密度较低、磁导率μi和剩磁感应强度Br较大,矫顽力HCB有所减少。

烧结温度过高时,晶粒虽然增大,但是由于内部的气孔迅速膨胀,有的杂质发生局部熔融而使晶界变形,则不仅烧结密度低,磁导率μi和剩磁感应强度Br也将显著下降,机械性能极其脆弱,无实用价值。

对软磁铁氧体而言,在一定的烧结温度范围内,初始磁导率μi随烧结温度升高而增大,损耗角正切tgδ也随温升而增大(即Q值减少)。

对硬磁铁氧体而言,烧结温度高,剩磁感应强度Br也高,而矫顽力HCJ减小。

对旋磁铁氧体而言;烧结温度高,则饱和磁化强度也较高。

在生产中,必须针对各种材料的不同特点,结H合产品的其它性能要求而区别对待,由试验确定最佳的烧结温度。

(二)烧结气氛对磁性能的影响气氛条件对铁氧体烧结非常重要,尤其对含有易变价的Mn,Fe,Cu,Co等金属元素的铁氧体,在烧结过程中随着氧分压和温度的变化而发生电价的变化以至相变,过度的氧化与还原,就有另相析出(如α-Fe2O3,FeO,Fe3O4,Mn2O3等),将导致磁性能的急剧变化。

在升温阶段,因为还没有形成单一尖晶石相,对周围气氛要求不苛刻,在空气中、真空中或氮气中升温均可;在保温过程中,由于发生了气孔的排除、晶粒的长大和完善、单一结构铁氧体的生成,这些均要求控制好烧结气氛。

可以说,烧结气氛是影响磁性能的一个重要因素。

烧结气氛和固相反应速度、产物及微观结构均有直接关系。

因此要控制好烧结气氛来生产各种不同性能的铁氧体(如各种高磁导率、低损耗、高密度的软磁铁氧体和高电阻率的旋磁铁氯体等)。

磁芯开裂的原因

磁芯开裂的原因

磁芯开裂的原因
磁芯开裂的原因可能有多种,主要包括以下几个方面:
一、材料质量问题
磁芯是一种特殊的材料,需要具备良好的磁性、机械性和化学稳定性等特点。

如果磁芯材料的质量不达标,则可能出现开裂的情况。

例如,磁芯含有太多的夹杂物或气孔等缺陷,就容易因为内部应力的集中导致裂纹的形成。

二、制造工艺问题
磁芯的制造过程中可能存在多种工艺问题,如加工精度不够、烧结温度不当、表面处理不当等。

这些问题都有可能导致磁芯的结构不稳定,从而引发开裂问题。

三、使用环境问题
磁芯的使用环境也是造成开裂的重要因素,环境温度、湿度、电压、使用频率等都会对磁芯的稳定性产生影响。

如果磁芯一直处于高温、高压的工作环境中,就容易因为热膨胀或温度差异等因素而导致开裂的问题。

四、外力作用问题
磁芯一旦遭受外部冲击或挤压等力量的作用,也可能会出现开裂的情况。

这些力量的大小和方向会对磁芯产生不同的影响,比如只产生表面裂纹或者会导致内部结构的破坏。

以上是磁芯开裂的可能原因,需要在实际生产和使用中注意相关问题,以保证磁芯的质量和稳定性。

同时,也需要通过合理的检测和维护手段来预防和处理可能的开裂问题,以延长磁芯的使用寿命和效能。

旋转磁场激励下激光焊接裂纹磁光成像规律研究

旋转磁场激励下激光焊接裂纹磁光成像规律研究

旋转磁场激励下激光焊接裂纹磁光成像规律研究杜亮亮;高向东;周晓虎;王春草【摘要】为了研究旋转磁场激励下焊接裂纹磁光成像规律,采用工频旋转磁场对焊接裂纹激励并由磁光传感器获取裂纹磁光图像的方法,进行了理论分析和实验验证,取得了工频旋转磁场不同励磁强度下的动态磁光图像.结合磁光成像原理和旋转磁场理论,对所获数据的灰度值进行了对比分析.结果表明,旋转磁场工频励磁下任意1帧磁光图随励磁时间的推移都会发生变化,并以初始3帧磁光图为一个循环周期依次向下一帧磁光图转换,经过885帧磁光图后回到初始状态.该规律的发现有利于减少有效励磁时间,提高焊接缺陷无损检测效果.【期刊名称】《激光技术》【年(卷),期】2018(042)006【总页数】5页(P780-784)【关键词】传感器技术;磁光成像;无损检测;旋转磁场;裂纹【作者】杜亮亮;高向东;周晓虎;王春草【作者单位】广东工业大学广东省焊接工程技术研究中心,广州 510006;广东工业大学广东省焊接工程技术研究中心,广州 510006;广东工业大学广东省焊接工程技术研究中心,广州 510006;广东工业大学广东省焊接工程技术研究中心,广州510006【正文语种】中文【中图分类】TG456.7引言激光焊接技术能将激光束集中于非常狭小的区域,从而产生高能量密度的热源,已广泛应用于制造业和航空业[1]。

为保证焊接产品的质量,需对激光焊接缺陷进行精确有效的检测。

目前国内外检测焊接缺陷的方法主要有射线检测、超声检测、渗透检测、磁粉检测、涡流检测、漏磁检测以及结构光视觉检测等[2-3]。

虽然这些方法在保证焊接产品质量方面起到了重要作用,但是它们也存在一定的局限性,例如射线检测的光源对人体有辐射[4];超声检测需要耦合剂,并且和涡流成像一样难以对焊接缺陷直接成像[5-6];渗透检测的显像剂对人体有害;磁粉检测对工件表面要求严格,主要用于表面缺陷的检测[7];漏磁检测只适用于磁性焊接材料的检测,并且检测结果不直观,无法可视化显示[8]。

微波炉磁控管用永磁铁氧体外观裂纹缺陷影响因素分析

微波炉磁控管用永磁铁氧体外观裂纹缺陷影响因素分析

微波炉磁控管用永磁铁氧体外观裂纹缺陷影响因素分析程博1,范 博1,谢金强2,唐正华1(1. 四川大学材料科学与工程学院,四川成都 610064;2.广东捷科磁电系统有限公司,广东广州 511466)摘 要:以Y30H预烧料为基本原料制备微波炉磁控管用铁氧体磁环,分析了成型工艺中取向电流(场强)、成型压力、退磁方式对外观缺陷的影响。

结果表明,取向电流从24A到50A范围内,随着电流(场强)的增大,弱磁面裂纹减少直至消失;随着成型压力的增高,强磁面圈裂减少;一定的取向电流、成型压力条件下,保压退磁可解决磁体强弱磁面外观裂纹问题。

关键词:磁控管; 永磁铁氧体; 外观缺陷; 取向电流; 成型压力中图分类号:TM277+.5 文献标识码:A 文章编号:1001-3830(2016)03-0048-05 Analysis on factors affacting the crack defects of permanentmagnet for magnetron in microwave ovenCHENG Bo1, FAN Bo1, XIE Jin-qiang2, TANG Zheng-hua11. College of Material Science and Engineering, Sichuan University, Chengdu 610064, China;2. JQM magnetic Systems Inc, Guangzhou 511466, ChinaAbstracts: Ring ferrite magnets for magnetron in microve oven were prepared using Y30H presintered powders. Influence of aligning current(field), molding pressure and demagnetizing way on the appearance defects was analyzed. The results show that within a certain range, with the increase of the aligning current, weak magnetic surface crack tends to decrease and even disappear; with increasing molding pressure the strong magnetic surface crack reduces; under condition of suitable aligning current and molding pressure, demagnetizating in pressure can eliminate surface cracks of the ring magnet.Key words: magnetron; permanent ferrite magnet; appearance defect; ailgning current;molding pressure1 引言M型铁氧体具有良好的化学稳定性、耐热性和抗腐蚀性,特别是较高的磁晶各向异性[1], 这些优势使其广泛用于永磁材料、微波器件、高密度磁记录和无线电通信方面等[2-3]。

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偏转磁芯烧结裂纹探索
摘要:运用偏转磁芯的升温与排胶理论,对偏转磁芯烧结用推板窑炉内的气流状况进行了分析,对偏转磁芯烧结温度曲线进行了定量讨论,对常见烧结竖裂产生的原因进行了分析,并提出了由于窑炉烧结产生的裂纹的解决办法。

关键词:偏转磁芯升温与排胶烧结裂纹
1.前言
偏转磁芯由于形状复杂,尺寸较大,在烧结过程中,竖裂是经常出现的现象,也是影响产品合格率提高的主要因素,因此研究探索竖裂的机理十分重要,同时,我们只有掌握这些原理,才能在烧结出现竖裂时,有针对性地进行调节,避免不必要的损失。

2.窑内气流和气氛的均匀性
气流是流体的一种,它具有易流动性,也具有粘滞性,还有惯性和压缩性。

气体在窑内流动时,受到阻力有两种:一种是由于气体本身的粘滞性及其与窑内壁、推板、承烧座、坯件构成的气流边界间的摩擦产生的阻力称为摩擦阻力或沿程阻力;另一种是气流经过窑壁某些部分(凹凸部分)、承烧座、坯件时,由于流速方向和大小的变化产生涡流而造成的,这种阻力只发生在局部地方,称为局部阻力。

双推板烧结窑垂直于推进方向的截面如图1所示。

窑腔内坯件和窑顶之间的空间、坯件和窑左右侧面之间的空间以及两列推板上的坯件的边沿与窑膛中心之间的空气均为气流的主通道。

从冷却段至烧结段的气流大部分都沿此边界流动,然后从升温段排出。

图2是烧结段进气、排气孔部分沿推进方向的局部截面的流线示意图,图中可以看出两个相邻的承烧板上坯件之间的空间经过坯件上部的气流造成了沿程阻力致使期间气流形成漩涡。

从坯件顶部至窑顶气流的速度分布见图3.两列推板及承烧座所装的坯件靠窑腔中心的边沿构成的通道中,从推板结合部的推板面至窑顶的气流分布如图4所示。

由于气流边界的沿程阻力的影响,主通道内的气流在同一截面都呈不均匀分布。

图1 垂直于推进方向的截面图图2 沿推进方向的局部截面的流线图
在烧结偏转磁芯元件的双推道烧结窑内,在其推进方向上要满足三条工艺曲线:温度曲线、气氛(含氧量)曲线和压强曲线。

气体压强曲线是为气氛曲线服务的,是气氛调节和控制的基本条件。

3.磁芯坯件的升温与排胶
热量的传递有传导、对流和辐射三种方式,偏转磁芯毛坯在烧结时实际上是这三种方式的综合,只不过在不同的情况下,这三种方式有主次之分。

对烧结偏转磁芯的双推窑而言,从升温至烧结结束,可以按三个阶段来划分:第一阶段为排胶段,从室温到600℃,主要是坯件内水分的蒸发和粘合剂的挥发过程,这一阶段以对流传热为主,辐射、传导传热为辅;第二阶段为升温阶段,其温度在600℃-1200℃,以对流传热为主向以辐射传热为主过渡,传导传热为辅;第三阶段为保温烧结段,气温度在1200℃以上,以辐射传热为主,对流、传导
为辅。

不管用哪一种方式得到热传导的情况下,在坯件加热的过程中,坯件必须先由表面吸收热量,然后坯件表面向坯件内部传递热量,坯件个部分要达到热平衡需要一定的时间,因此,加热坯件并达到预定的温度和温度均匀性,足够的吸热面积和足够的加热时间是很重要的。

坯件在加热过程中所需的吸热量按下式计算:
Q=C m(θ1-θ2)(cal)
式中:θ1、θ2——坯件的终温和初温(℃)
m——坯件的重量(g)
C ——坯件θ2至θ1这一温区间的平均比热容(cal/℃·g)
偏转磁芯坯件的比热容与其无机物的种类和各成分含量、有机物种类和各成分含量、水分含量、坯件密度有关,同时,坯件比热容随坯件所处的环境温度变化。

在加热过程中坯件升温所需要的热量首先必须通过坯件表面来吸收,施热物体向受热物体表面传热。

通过坯件表面向坯件传热所需的时间与工作的吸热面积成反比(导热系数、传热系数、辐射系数确定时)。

影响偏转磁芯坯件排胶的因素主要有:
3.1温度和时间
坯件在窑内烧结时,坯件温度不一定是仪表显示温度,而且坯件本身各部位都存在温差。

当推进速度较快或升温曲线过于陡峭时,坯件的平均温度往往滞后于仪表显示的温度坯件内部的温差也会增大。

PVA和有机添加剂的沸腾、分解和挥发则直接与其所在部分的温度有关,因此,即使同一坯件,PVA和有机添加剂的排出都有先有后,而且是由表及里地进行。

另外,任何化学反应都有一个过程,需要足够的时间才能完成。

3.2气氛中的饱和蒸汽压
液体的挥发(蒸发)与所处环境的饱和蒸汽压有关。

在排胶区,PVA和各种有机添加剂在160℃-290℃会先后挥发,若不及时排出窑外,该有机物就不容易挥发出来。

3.3排出通道
坯件中的水分及有机添加剂的排出是由表及里地进行,坯件表面的容易排出,坯件内部的要排出必须有排出通道才行。

特别是较厚的坯件或坯件中较厚的部位,坯件中间的有机物排出比较困难;坯件密度小,排胶容易,坯件密度达到3.0g/cm3以上时,排胶相当困难。

在坯件较厚的密度较大的情况下,若推进的速度较快,坯件内的PVA和有机物在该排出的温度下没有排出,由于温度升高,坯件内的有机物的挥发非常剧烈,有没有排出通道,因此,将在坯件内某一部分形成高压气体,当压强达到坯件的强度不能承受的时候,气体会冲破坯件排出来,使坯件形成裂纹。

这种裂纹往往发生在坯件的最厚部位或坯件两部分之间的结合部位。

3.4有机物含量及其在坯件中的分布
PVA及有机添加剂是制作偏转磁芯产品的辅助材料,最终它们要被排出产品之外,使用它们主要是因为制作工艺的需要,因此,这些有机物的含量在满足工艺要求需要的前提下应尽量少,含量过多,有百害而无一利。

同时,这些有机物在坯件中的分布应相当均匀,否则,在这些有机物集中的部位排胶必然困难。

根据以上理论指导,我们彩偏磁芯生产线上的常见的窑炉裂纹问题就可以很好解决了。

4.竖裂原因分析及解决办法
彩偏磁芯的竖裂主要是指由于毛坯挥发过于集中造成的白印,沿裂纹炸开后有明显的氧化面,属于典型的烧前裂,裂纹的不平整表面是结合剂裂痕的典型特征。

调整的关键在于控制升温区的温度曲线,尤其是毛坯中胶体急剧挥发的200—400℃温度段,使其尽量延长,避免毛坯胶体大量集中挥发。

竖裂有三项考察指标:升温排胶曲线、升温区上下温差和升温区的饱和蒸汽压,这三项指标必须全部合适,才能保证产品不会出现竖裂。

偏转磁芯颗粒料中的PVA和有机添加剂在230℃左右开始急剧挥发,但这是在理想状态下测试的。

考虑到双推板窑炉的加热方式、饱和蒸汽压、推进速度、外界环境温度等因素,偏转磁芯毛坯在窑炉烧结中急剧挥发的区域在34米窑S2到S3。

此时,加热组温度仪表设定为400℃,窑腔中的温度大约为300℃,毛坯的温度才能到230℃.
2012年,我对8号34米电窑产品的竖裂进行了专门研究,发现最佳温度曲线为:进口:80℃,S1:200℃,S2:310℃,S3:430℃,S4:600℃,波动在±20℃,如果S1、S2过低,就会导致升温曲线过于陡峭,容易产生竖裂。

但单独温度曲线合适还不够,还必须保证升温区的上下温差。

对于S2对应的测压孔上层和下层,只要S2温度为310℃,上层的温度在230℃左右,出现竖裂时下层的温度为150℃.这时,如果开大逆风(作用明显)或升高下部加热组温度(效果不明显)下层温度只要超过180℃,产品的竖裂就比较少。

偏转磁芯的竖裂还于窑腔内升温区的饱和蒸汽压有关。

饱和蒸汽压的大小通过升温区火线的颜色来判定,火线越亮,饱和蒸汽压越小,越有利于毛坯内胶体的挥发;反之,火线越暗,饱和蒸汽压越大,越不利于毛坯内胶体的挥发,容易产生竖裂。

一般情况下,大雾天气容易使窑内饱和蒸汽压增大。

5.结束语
烧结竖裂问题是今年来长期困绕彩偏磁芯生产的主要问题,严重影响了彩偏磁芯合格率的提高,现在我们找到了竖裂产生的原因,并提出了相应的调整办法和解决措施,收到了非常明显的效果。

同时,也考虑到了恶劣天气对彩偏磁芯烧结的影响,尤其是大雾天气造成的竖裂和外界温度较低造成的暗裂,并提出了行之有效的改进措施。

参考文献:
1.《窑内气流和气氛的均匀性》,《铁氧体坯件的升温与排胶》,阳开新著。

2.《磁性材料工艺原理》,贾利军编写,二零零零年七月,电子科技大学出版社。

3.《MgMnZn铁氧体裂痕的形成》,朱玲、李晓光著。

4.《磁性材料》,张有纲、黄永杰、罗迪民编写,一九八七年七月,电子工业出版社。

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