2层铜箔指标
铜箔拉力标准
铜箔拉力标准一、引言铜箔作为一种重要的金属材料,在电子、电工、汽车、建筑等领域具有广泛的应用。
其中,铜箔的拉力性能是评定其质量和可靠性的重要指标之一。
本文将详细介绍铜箔拉力标准的制定原则、测试方法和标准数值,并探讨其在工程实践中的应用。
二、铜箔拉力标准的制定原则制定铜箔拉力标准的主要目的是为了确保铜箔的品质、性能和可靠性符合要求,以满足不同行业的需求。
在制定标准时,应考虑以下几个原则:1. 参考国际标准:可以参考国际标准组织(ISO)的相关标准,如ISO 9001质量管理体系标准等,以确保标准的科学性和准确性。
2. 结合行业需求:根据不同行业对铜箔拉力的要求,制定适用于特定行业的标准,考虑到材料特性、工艺要求和产品性能等因素。
3. 统一标准编号:为了方便管理和参考,所有的铜箔拉力标准应统一进行编号和分类,确保标准的层次性和可操作性。
三、铜箔拉力测试方法为了准确测量铜箔的拉力,需要采用科学可靠的测试方法。
以下介绍两种常用的测试方法:1. 万能材料试验机测试方法:使用万能材料试验机进行铜箔拉力测试,该方法能够直接测量材料在拉伸过程中的力和变形,得出拉力-应变曲线及相关指标。
2. 基于厚度和尺寸的计算方法:可以通过测量铜箔的厚度和尺寸,并结合材料力学性能参数,如屈服强度和断裂强度,计算出铜箔的拉力值。
四、铜箔拉力标准数值的确定铜箔拉力标准数值的确定应基于科学的数据和实验研究。
具体步骤如下:1. 收集数据:收集各类铜箔材料的拉力数据,包括不同厚度、不同材质、不同生产工艺等方面的数据。
2. 统计分析:对收集的数据进行统计分析,计算出各种因素对铜箔拉力的影响程度,并从中确定出合适的标准数值范围。
3. 实验验证:通过实验验证标准数值的合理性和可行性,同时考虑到工程实践中的可靠性和经济性。
4. 参考标准:参考国内外相关标准和行业共识,综合考虑各方需求,制定铜箔拉力标准的数值范围,并确保标准的及时更新和迭代。
五、铜箔拉力标准的应用铜箔拉力标准在工程实践中具有广泛的应用。
高密度PCB(HDI)检验标准
高密度PCB(HDI)检验标准1 术语和定义HDI:High Density Interconnect,高密度互连,也称BUM(Build-up Multilayer或Build-up PCB),即积层法多层板。
积层互联通常采用微孔技术,一般接点密度>130点/in2,布线密度>在117in/in2。
图3-1是HDI印制板结构示意图。
Core:芯层,如图3-1,HDI印制板中用来做内芯的普通层。
RCC:Resin Coated Copper,背胶铜箔。
LDP:Laser Drillable Prepreg,激光成孔半固化片。
Build-up Layer:积层,如图3-1,叠积于芯层表面的高密互联层,通常采用微孔技术。
Microvia:微孔,孔直径≤0.15mm的盲孔或埋孔。
Target Pad:如图3-1,微孔底部对应Pad。
Capture Pad:如图3-1,微孔顶部对应Pad。
Buried Hole:埋孔,如图3-1,没有延伸到PCB表面的导通孔。
图3-1 HDI印制板结构示意图。
1.1铜箔包括RCC铜箔与芯层板铜箔,主要性能缺省指标如下表:1.2金属镀层微孔镀铜厚度要求:表5.3-1 微孔镀层厚度要求2 尺寸要求本节描述HDI印制板的尺寸精度的特别要求,包括板材、导线、孔等。
尺度特性需用带刻度的≥30倍的放大系统作精确的测量和检验。
2.1板材厚度要求及公差2.1.1积层厚度要求及公差缺省积层介质为65~80um的RCC,压合后平均厚度≥40um,最薄处≥30um。
2.2导线公差导线宽度以线路底部宽度为准。
其公差要求如下表所示:表6.2-1 导线精度要求2.3孔径公差表6.3-1 孔径公差要求图6.3-1 微孔孔径示意图2.4微孔孔位微孔允许与Target Pad及Capture Pad相切,但不允许破盘。
图6.4-1 微孔孔位示意图3 结构完整性要求结构完整性要求需在热应力(Thermal stress)试验后进行,热应力试验方法:依据IPC-TM-650-2.6.8条件B进行。
铜箔杨氏模量
铜箔杨氏模量摘要:1.引言:介绍铜箔杨氏模量2.铜箔杨氏模量的定义和计算方法3.铜箔杨氏模量的应用4.影响铜箔杨氏模量的因素5.结论:总结铜箔杨氏模量的重要性和应用前景正文:1.引言铜箔是一种广泛应用于电子行业的材料,其优良的导电性和导热性使其成为众多电子产品的关键部件。
在研究铜箔的性能时,杨氏模量是一个非常重要的指标。
本文将从铜箔杨氏模量的定义、计算方法、应用以及影响因素等方面进行详细介绍。
2.铜箔杨氏模量的定义和计算方法杨氏模量,又称拉伸模量,是描述固体材料在拉伸过程中的应力与应变关系的一种物理量。
铜箔杨氏模量就是指铜箔在拉伸过程中的应力与应变关系。
其计算公式为:杨氏模量= 应力/ 应变。
在实际操作中,通常采用万能试验机进行拉伸试验,然后根据试验数据计算出杨氏模量。
3.铜箔杨氏模量的应用铜箔杨氏模量对于铜箔的性能评价具有重要意义。
在实际应用中,杨氏模量越高,铜箔的强度和刚度就越好,因此,杨氏模量是衡量铜箔质量的重要指标。
此外,杨氏模量还可以用于预测铜箔在实际应用中的性能,如导电性、导热性等。
4.影响铜箔杨氏模量的因素铜箔杨氏模量受多种因素影响,主要包括:(1)铜的纯度:铜的纯度越高,铜箔的杨氏模量越大。
(2)加工工艺:不同的加工工艺对铜箔杨氏模量影响较大,如热轧、冷轧等。
(3)厚度:铜箔的厚度对其杨氏模量也有影响,一般来说,厚度越大,杨氏模量越大。
5.结论铜箔杨氏模量是衡量铜箔性能的重要指标,对于评价铜箔质量和预测其在实际应用中的表现具有重要意义。
在实际生产中,应注重提高铜箔的纯度、优化加工工艺以及合理控制铜箔厚度,以提高铜箔的杨氏模量,从而提升铜箔的整体性能。
铜箔电阻率
铜箔电阻率
摘要:
一、铜箔电阻率的定义
二、影响铜箔电阻率的因素
1.材料纯度
2.厚度
3.温度
三、铜箔电阻率的测量方法
1.直流电阻率测量法
2.交流电阻率测量法
四、铜箔电阻率在实际应用中的重要性
正文:
铜箔电阻率是指铜箔材料的电阻程度,它是衡量铜箔导电性能的重要指标。
铜箔电阻率的大小受多种因素影响,如材料纯度、厚度以及温度等。
首先,铜箔电阻率与材料纯度密切相关。
纯度越高,铜箔电阻率越低,导电性能越好。
在实际生产过程中,通常采用电解法来提高铜箔的纯度,以满足不同场合的需求。
其次,铜箔的厚度也会影响其电阻率。
一般来说,厚度越薄,电阻率越低,导电性能越好。
但是,过于薄的铜箔容易破裂,因此,在实际应用中需要根据具体需求选择合适的厚度。
再者,温度对铜箔电阻率也有很大影响。
通常情况下,随着温度的升高,
铜箔的电阻率会降低,导电性能得到提高。
但是,当温度过高时,铜箔可能会发生氧化反应,导致电阻率增加,从而影响其导电性能。
为了准确测量铜箔电阻率,可以采用直流电阻率测量法和交流电阻率测量法。
直流电阻率测量法是通过测量铜箔在直流电压下的电阻值来计算电阻率;交流电阻率测量法则是在交流电压下进行测量,可以有效消除接触电阻的影响,提高测量精度。
总之,铜箔电阻率在实际应用中具有重要意义。
在电子产品、电力系统、通信设备等领域,铜箔作为导电材料,其电阻率的大小直接关系到设备的性能和稳定性。
因此,对铜箔电阻率的控制和测量显得尤为重要。
铜冠铜箔hvlp规格书
铜冠铜箔hvlp规格书一、产品简介铜冠铜箔HVLP是一种用于电子工业的铜箔材料,具有良好的导电性能和抗腐蚀性能。
它广泛应用于电子电路板、太阳能电池、LED封装等领域。
二、产品参数1.材料:采用纯铜为原材料,经过多道工艺加工而成。
2.厚度:常见的厚度有12μm、18μm、35μm、70μm等,可根据客户需求进行定制。
3.宽度:一般宽度为520mm,也可以根据客户要求进行调整。
4.密度:8.9g/cm³。
5.抗拉强度:≥280N/mm²。
6.伸长率:≥4%。
7.电阻率:≤0.018Ω•mm²/m。
三、产品特点1.优良导电性能:铜冠铜箔HVLP具有良好的导电性能,可确保在电子器件中传输电流的稳定性。
2.良好的可加工性:铜箔HVLP可通过冷轧、退火等工艺进行多种形状的加工,并与其他材料进行复合。
3.抗腐蚀性能强:铜箔HVLP表面经过特殊处理,具有很强的抗氧化和抗腐蚀能力。
4.尺寸稳定性高:铜箔HVLP具有较好的尺寸稳定性,可以满足客户对精度要求高的项目。
5.高温性能优越:铜箔HVLP能够在较高温度下长时间工作,具有良好的耐热性能。
6.环保健康:铜箔HVLP不含有害物质,符合环保标准,可安全使用。
四、应用领域1.电子电路板:铜箔HVLP常用于印制电路板(PCB)的导电层。
2.太阳能电池:铜箔HVLP作为太阳能电池的电流收集层,能够提高电池的效率。
3. LED封装:铜箔HVLP可作为LED封装基板,具有良好的热传导性能。
4.通信设备:铜箔HVLP可用于制作通信设备的身份识别卡和导电膜。
5.其他领域:铜箔HVLP还可以应用于电容器、电动工具、装饰材料等领域。
五、质量控制1.原材料检验:对每批次的原材料进行抽样检测,确保其符合相关标准。
2.在线检测:在生产过程中进行连续的在线检测,包括厚度、宽度、抗拉强度等指标。
3.产成品检验:对最终产品进行全面检验,确保产品的质量达到客户要求。
4.质量认证:铜冠铜箔HVLP通过ISO9001质量管理体系认证,确保产品质量可靠。
多层PCB工艺能力指标
min drilling diameter
最小完成孔径min diameter of finished hole
孔位精度accuracy of hole position
槽孔公差tolerance of drilled slot
镀通孔孔径公差tolerance of PTH diameter
孔对边最小公差min routing dimension tolerance(hole to edge)
V槽角度V-cut angle
刨斜边角度范围
range of bevel angle
最小字符宽度/间距
min legend line width/space
线路抗剥强度peel strength of line
沉镍金镍层厚度范围range ofnickle thickness for electroless nickle and immersion gold
沉镍金金层厚度范围range ofgold thickness for electroless nickle and immersion gold
外型最小公差min routing dimension tolerance(edge to edge)
其他特殊工艺other technics
完成板厚度公差tolerance of finished panel thickness
板厚<1.0mm
4-8层板
1.0mm≤板厚<2.0mm
4-8层板
≥10层板
板厚≥2.0mm
内层表面处理工艺surface treating technic of innerlayer
层数layer number
多层板层间对准度registration of innerlayer to innerlayer
铜箔抗拉强度和延伸率标准
铜箔抗拉强度和延伸率标准铜箔是一种常见的金属材料,具有优良的导电性和导热性,被广泛应用于电子、电气、通信等领域。
在制造铜箔时,抗拉强度和延伸率是两个关键的物理性能指标,直接影响着铜箔的质量和可靠性。
本文将就铜箔抗拉强度和延伸率标准这一主题展开讨论,通过深度和广度兼具的方式,帮助读者更全面地了解这一主题。
一、什么是铜箔抗拉强度和延伸率标准?铜箔抗拉强度是指铜箔在受力作用下抵抗拉伸破断的能力,通常以兆帕(MPa)为单位表示。
而延伸率则是指在拉伸过程中,材料发生塑性变形的能力,它是用百分比表示的。
抗拉强度和延伸率是评价铜箔材料性能优劣的重要参数,也是制定铜箔标准的核心指标之一。
二、铜箔抗拉强度和延伸率标准的重要性1. 保证产品质量铜箔广泛应用于PCB电路板、导电纸、太阳能电池等领域,对材料的性能要求非常严格。
合理的抗拉强度和延伸率标准可以保证产品在使用过程中不易发生断裂或变形,从而保证产品的质量和可靠性。
2. 满足工程需求在不同的工程应用中,对铜箔的抗拉强度和延伸率可能会有不同的要求。
制定统一的标准,可以满足不同工程领域的需求,提高铜箔的通用性和适用性。
3. 促进产业发展铜箔是电子信息行业中的关键材料,其品质直接关系到整个产业的发展水平和竞争力。
通过建立科学、合理的抗拉强度和延伸率标准,可以促进产业结构优化升级,推动产业发展。
三、铜箔抗拉强度和延伸率标准的制定和执行1. 国际标准目前,国际上对铜箔抗拉强度和延伸率都有一定的标准和规定。
比如GB/T 14452-1993《铜及铜合金箔材拉伸试验方法》、ASTMB152/B152M-09《Standard Specification for Copper Sheet, Strip, Plate, and Rolled Bar》等标准,它们详细规定了铜箔的抗拉强度和延伸率的测定方法和要求。
2. 企业标准除了国际标准外,一些铜箔生产企业也会根据自身情况和市场需求,制定企业标准。
铜基板厚度标准
铜基板厚度标准
铜基板厚度标准
一、定义
铜基板是指以铜箔为导电层,覆盖在基材上的一种电路板。
铜箔的厚
度是影响铜基板导电性能和机械强度的重要因素之一。
二、标准
1. 铜箔厚度
铜箔厚度是指在制造过程中,将纯铜熔化后制成的薄片,其单位为μm (微米)。
根据国际标准,常见的铜箔厚度有18μm、35μm、70μm、105μm等。
2. 铜基板厚度
铜基板厚度是指整个电路板的总厚度,包括基材和覆盖在其上面的铜箔。
根据国际标准,常见的铜基板厚度有0.4mm、0.6mm、1.0mm 等。
3. 其他要求
除了上述两项标准外,还有一些其他要求需要注意:
(1)不同应用场景下需要不同的铜箔和基材厚度。
例如,在高频率应用中,需要使用较薄的铜箔和基材来保证信号传输质量。
(2)在制造过程中需要保证各个层之间的平衡性,避免出现铜箔厚度不均匀的情况。
(3)在实际应用中,需要根据具体情况进行调整和优化,以保证电路板的性能和可靠性。
三、结论
铜基板厚度标准是保证电路板质量和性能的重要指标之一。
在制造过程中需要严格按照标准要求进行操作,并根据实际情况进行调整和优化。
铜箔制造碳排放指标
铜箔是一种由铜材料制成的薄膜,常用于电子、医疗和装饰行业。
在铜箔的制造过程中,会产生一定的碳排放,包括二氧化碳(CO2)、一氧化碳(CO)和其他碳氢化合物。
碳排放指标是指衡量某种活动或产品对环境的影响的一种指标。
在铜箔制造过程中,具体的碳排放指标包括:
碳排放总量:表示铜箔制造过程中产生的总碳排放量,单位为千克。
碳排放强度:表示每单位产品产生的碳排放量,单位为千克碳排放/千克产品。
碳排放密度:表示每平方公里产品产生的碳排放量,单位为千克碳排放/平方公里。
这些碳排放指标可以帮助企业了解铜箔制造过程中的碳排放情况,并根据需要进行相应的减排措施。
铜箔电阻率
铜箔电阻率铜箔作为一种重要的导电材料,其电阻率受到了广泛关注。
电阻率是衡量材料导电性能的重要指标,铜箔电阻率的高低直接影响到其应用领域。
本文将从铜箔电阻率的基本概念、影响因素、应用以及提高措施等方面进行详细阐述。
一、铜箔电阻率的基本概念铜箔电阻率是指铜箔在单位面积、单位长度下的电阻。
通常用欧姆(Ω)表示,其数值越小,表示导电性能越好。
铜箔电阻率受到制备方法、厚度、温度以及合金元素等多种因素的影响。
二、铜箔电阻率的影响因素1.温度:温度对铜箔电阻率的影响较大,一般情况下,温度越高,电阻率越小。
这是因为温度升高会增加铜原子之间的振动,从而提高导电性能。
2.厚度:铜箔的厚度对其电阻率有明显影响。
厚度越大,电阻率越大。
在实际应用中,需要根据具体需求选择合适的厚度。
3.制备方法:制备方法对铜箔电阻率也有很大影响。
例如,电解法生产的铜箔电阻率较低,而热轧法生产的铜箔电阻率较高。
4.合金元素:合金元素的种类和含量对铜箔电阻率有一定影响。
某些合金元素可以提高铜箔的导电性能,降低电阻率。
三、铜箔电阻率的应用1.电子行业:铜箔在电子行业中有着广泛应用,如印刷电路板、电子元器件等。
高导电性能的铜箔可以降低电阻,提高信号传输速度和功率传输效率。
2.铜箔导电胶:铜箔导电胶是一种具有良好导电性能和粘接性能的材料。
铜箔导电胶广泛应用于电磁屏蔽、抗干扰等领域。
3.电池行业:铜箔在电池行业中具有重要应用,如锂电池、镍氢电池等。
铜箔作为电池的负极材料,具有较高的导电性能,可以提高电池的充放电效率。
四、提高铜箔电阻率的措施1.优化制备工艺:通过改进制备工艺,提高铜箔的纯度和结晶度,从而降低电阻率。
2.控制合金元素含量:合理调整合金元素含量,可以提高铜箔的导电性能。
3.调节温度环境:在生产过程中,控制温度分布,使铜箔在合适的温度下结晶,有助于提高导电性能。
五、总结铜箔电阻率是衡量导电性能的重要指标,其影响因素包括制备方法、厚度、温度和合金元素等。
铜箔达因值
铜箔达因值
铜箔是一种以铜为主要材质的薄片材料,具有良好的导电性、导热性和可塑性等特点,在各个领域中都有着广泛的应用。
铜箔的达因值是指材料的弯曲程度,是评估其柔韧性和可加工性的重要指标。
较低的达因值意味着铜箔具有更加柔软的特性,适合于制作弯曲的电子元器件和灵活显示器。
而较高的达因值表示铜箔更加硬质,适用于制作压电元件和微型细节。
在电子行业中,铜箔是电路板、芯片封装等制作中的重要材料。
其各种规格的达因值适用于不同类型的电子元器件的制作。
除此之外,铜箔还被广泛应用于太阳能电池板、LED封装、隔热材料等领域。
为了确保铜箔在制造和加工过程中能够保持其优越的特性,合理控制达因值显得尤为重要。
制造商一般会通过高精度设备和技术细致地控制铜箔的达因值,并针对性地进行生产工艺和加工模式的调整。
对于我们消费者而言,在选择铜箔相关产品时,需要根据具体需求选取不同达因值的铜箔。
同时,也需要注意保护铜箔表面,避免刮擦、弯曲过度等现象,以保持其良好的性能和使用寿命。
总之,铜箔的达因值虽然看似只是一个数字,但实际上却涉及到材料的性质和应用的广度深度。
在材料选择与加工过程中,科学合理地控制达因值,对材料品质的提高和应用效率的提升都有着十分重要的作用。
锂电行业禁铜标准
锂电行业禁铜标准锂电行业禁铜标准在锂电行业中,铜箔作为一种重要的原材料,其质量对电池的性能和安全性具有重要影响。
为了确保铜箔的质量,行业内制定了一系列的标准和要求。
本文将介绍锂电行业禁铜标准的主要内容,包括铜箔的纯度、厚度、杂质含量、表面质量、抗拉强度、延伸率、耐腐蚀性和氧化程度等方面。
1. 铜箔纯度铜箔的纯度是衡量其质量的重要指标之一。
一般来说,锂电行业对铜箔的纯度要求为99.8%以上,即铜的含量不低于99.8%。
高纯度的铜箔可以保证电池的导电性能和稳定性。
2. 铜箔厚度铜箔的厚度也是锂电行业关注的重要指标。
一般来说,锂电行业对铜箔的厚度要求为10-30微米之间。
过薄的铜箔可能会影响电池的强度和寿命,而过厚的铜箔则可能导致电池内阻增大,影响电池的充放电性能。
3. 杂质含量在锂电行业中,铜箔中的杂质含量也是需要严格控制的质量指标。
常见的杂质包括铁、锌、铅等元素,这些杂质的存在会影响铜箔的导电性能和耐腐蚀性。
因此,锂电行业对铜箔的杂质含量要求非常严格,一般要求杂质总含量不超过0.05%。
4. 表面质量铜箔的表面质量也是需要考虑的因素之一。
表面应光滑、平整,无划痕、起皮、气泡等缺陷。
这些缺陷会影响铜箔与电池其他部分的接触和粘结,从而影响电池的性能和安全性。
5. 抗拉强度抗拉强度是衡量铜箔力学性能的重要指标之一。
在锂电行业中,铜箔需要承受一定的机械应力,因此对其抗拉强度有一定的要求。
一般来说,锂电行业对铜箔的抗拉强度要求为150-350MPa之间。
高抗拉强度的铜箔可以保证电池在使用过程中不易发生断裂或变形。
6. 延伸率延伸率是衡量铜箔塑性的指标之一。
延伸率高的铜箔可以在承受一定应力时发生较大变形而不破裂,具有良好的安全性能。
在锂电行业中,延伸率也是评价铜箔质量的重要指标之一。
一般来说,锂电行业对铜箔的延伸率要求为10%-30%之间。
7. 耐腐蚀性耐腐蚀性是衡量铜箔耐久性的指标之一。
在长期使用过程中,铜箔会受到水分、氧气等环境因素的影响,发生腐蚀生锈。
铜箔检验标准
1、目的
1.1明确描述合肥国轩高科动力能源有限公司所用原材料铜箔之规格。
1.2明确供应商的出厂检验所应包括的主体物理化学成分要求。
1.3本标准规定了锂离子电池用铜箔的各项主要指标的测定仪器、设备及测定步骤。
2、范围
2.1明确合肥国轩高科动力能源有限公司铜箔的采购规格。
2.2重要项:品质检测必须严格按照规格文件执行,不合格则直接退货。
2.3次要项:次要项检测不合格,可根据生产需求,由技术部给出判定是否使用。
3、参考文件(无)
注:带*的为重点抽检项。
pcb孔铜厚度标准及成品铜厚构成、由来
PCB孔铜厚度标准及成品铜厚构成,由来一、概述在PCB(Printed Circuit Board,印刷电路板)的制造过程中,孔(即贯穿整个板厚的导电孔)的铜厚度标准及成品铜厚构成是非常重要的一环。
PCB作为电子产品的基础,其质量直接影响到产品的可靠性和稳定性。
对PCB孔铜厚度标准及成品铜厚构成的了解是非常有必要的。
二、PCB孔铜厚度标准PCB孔铜厚度标准通常指的是孔壁的铜箔厚度,其标准是根据行业规定和生产要求来确定的。
一般来说,孔铜厚度标准在不同的PCB制造工艺中会有所不同,但在大多数情况下,孔壁的铜箔厚度应满足以下要求:1. 内层孔:通常要求铜箔的厚度在15um至25um之间;2. 外层孔:通常要求铜箔的厚度在20um至30um之间。
这一要求是基于对PCB制造工艺和实际应用的考虑而确定的,可以有效地保证PCB的导电性能和机械强度。
三、成品铜厚构成PCB的成品铜厚构成通常包括了板表铜厚度、板内铜厚度和孔壁铜厚度。
这三者的构成对于PCB的性能有着重要的影响。
1. 板表铜厚度:指的是覆盖在PCB表面的铜箔厚度。
一般情况下,板表铜厚度在1oz(35um)至3oz(105um)之间,不同电子产品对板表铜厚度的要求有所不同。
2. 板内铜厚度:指的是PCB板的内层铜箔厚度,在压合制版结束后板材的铜箔厚度即为板内铜厚度。
一般情况下,板内铜厚度在1oz至6oz之间,也根据实际工程应用而定。
3. 孔壁铜厚度:指的是孔的壁内铜箔厚度,是PCB制造中的一个重要指标。
如前所述,按照PCB孔铜厚度标准,通常要求孔壁的铜箔厚度在15um至30um之间。
以上三者构成的合理性对于PCB的导电性能、散热性能和机械强度都有着重要的影响,一个合格的PCB必须保证这三者的合理构成。
四、PCB孔铜厚度标准及成品铜厚构成的由来PCB孔铜厚度标准及成品铜厚构成的建立是行业多年经验的总结,并在实际应用中不断验证和完善而来的。
其中,考虑了包括电路板的导电性能、散热性能、机械稳定性等多方面的因素。
锂电池行业设备禁锌铜标准
锂电池行业设备禁锌铜标准在锂电池行业,对于设备禁锌铜的标准有着严格的要求。
以下是关于铜箔的相关标准:1. 铜箔纯度铜箔的纯度是禁锌铜的重要指标之一。
通常要求铜箔中锌含量低于0.01%,铜含量高于99.9%。
过低的锌含量可以避免因杂质产生的有害影响,而过高的铜含量则可以提高铜箔的导电性和强度。
2. 铜箔厚度铜箔的厚度也是锂电池行业设备禁锌铜的重要指标。
一般要求铜箔厚度在7-10μm之间。
过厚的铜箔会影响电池的能量密度和体积利用率,而过薄的铜箔则可能影响其强度和导电性。
3. 杂质含量在禁锌铜标准中,对铜箔中的杂质含量也有着严格的要求。
一般要求铜箔中杂质总含量不超过0.05%。
这些杂质可能包括铁、镍、铅等,这些元素的存在会影响铜箔的导电性和耐腐蚀性。
4. 表面质量铜箔的表面质量也是禁锌铜标准的重要内容。
要求铜箔表面平整、无毛刺、无颗粒等缺陷。
这些缺陷可能会影响电池的组装和性能。
5. 抗拉强度抗拉强度是评价铜箔力学性能的重要指标。
在禁锌铜标准中,要求铜箔的抗拉强度不低于200MPa。
这一指标可以保证铜箔在制造和电池使用过程中的强度和稳定性。
6. 延伸率延伸率是评价铜箔塑性的重要指标。
在禁锌铜标准中,要求铜箔的延伸率不低于3%。
这一指标可以保证铜箔在制造和电池使用过程中的可塑性和耐疲劳性。
7. 耐腐蚀性耐腐蚀性是禁锌铜标准的重要指标之一。
要求铜箔在盐雾试验条件下,表面无明显腐蚀现象,耐腐蚀性能不低于48小时。
这一指标可以保证铜箔在使用过程中的耐腐蚀性和长期稳定性。
8. 氧化程度氧化程度是评价铜箔抗氧化性能的重要指标。
在禁锌铜标准中,要求铜箔的氧化层厚度不超过1μm。
这一指标可以保证铜箔在使用过程中保持较低的电阻率和良好的导电性能。
变压器用铜箔注意事项
在变压器里铜箔是用来做屏蔽层用的,也就是把初级线圈绕好之后包上一层铜箔再绕次级线圈,把铜箔引出一个头来接地能起到屏蔽作用。
变压器铜箔的绕法以高频变压器使用铜箔的绕法与要求来纤细介绍:a、铜箔绕法除焊点处必须压平外铜箔之起绕边应避免压在BOBBIN 转角处,须自BOBBIN的中央处起绕,以防止第二层铜箔与第一层间因挤压刺破胶布而形成短路。
b、内铜片於层间作SHIE1DING绕组时,其宽度应尽可能涵盖该层之绕线区域面积,又厚度在0.025mm(Imi1)以下时两端可免倒圆角,但厚度在0.05mm(2mi1s)(含)以上之铜箔时两端则需以倒圆角方式处理。
c、铜箔须包正包平,不可偏向一边,不可上挡墙。
5焊外铜。
NOTE:1 .铜箔焊点依工程图,铜箔须拉紧包平,不可偏向一侧。
2 .点锡适量,焊点须光滑,不可带刺。
点锡时间不可太可,以免烧坏胶带。
3 .在实务上,短路铜箔的厚度用0.64mm即可,而铜箔宽度只须要铜窗绕线宽度的一半变压器用铜箔的质量要求1、铜箔纯度绕组是变压器输入和输出电能的电气回路。
电能在传送过程中,绕组自身有电阻损耗。
其电阻损耗与所用铜箔的截面、长度及电阻率有关。
也就是说,电阻率的大小是决定绕组负载损耗的主要指标之,而电阻率的大小是由铜箔的纯度所决定的。
因此铜箔的纯度应不小于99.95%o2、铜箔表面箔材表面应光滑、洁净,不应有分层、裂缝、起皮、气泡、夹杂、起刺、压折和绿锈。
但允许有轻微的、局部的、不使箔材厚度超出其允许偏差的划伤、斑点、凹坑、压人物和提印等缺陷。
铜箔应平直,但允许有轻的波浪;箔的侧边弯曲每米不大于4mm;箔材两边应切齐,无刺,无裂边和卷边。
制约铜箔在变压器绕组上应用的因素1、专用设备由于箔式绕组必须在专用的箔绕机上绕制完成,因此箔绕机是箔式绕组制造的必须设备。
由于箔绕机的价格过高,这样在一定程度上就制约了铜箔在变压器上的应用。
2、铜箔的价格若选用不到Im规格的铜箔,其价格就要有所提高。
复合铜箔技术指标
复合铜箔技术指标
复合铜箔技术指标是指在制造复合铜箔过程中所需要遵循的一系列技术要求和标准。
复合铜箔是一种由两层或多层铜箔通过高温高压复合而成的复合材料,具有优异的导电性、导热性和机械性能,广泛应用于电子、通信、航空航天等领域。
复合铜箔技术指标中的压力要求是非常重要的。
在复合铜箔的制造过程中,需要通过高温高压的方式将两层或多层铜箔复合在一起,因此压力的大小直接影响到复合铜箔的质量和性能。
一般来说,复合铜箔的压力应该在100MPa以上,以保证复合铜箔的牢固性和稳定性。
复合铜箔技术指标中的温度要求也是非常重要的。
在复合铜箔的制造过程中,需要将铜箔放置在高温环境下进行加热,以使其软化并能够与其他铜箔复合在一起。
一般来说,复合铜箔的加热温度应该在300℃以上,以保证复合铜箔的复合效果和质量。
复合铜箔技术指标中的厚度要求也是非常重要的。
在复合铜箔的制造过程中,需要根据不同的应用场景和要求来确定复合铜箔的厚度。
一般来说,复合铜箔的厚度应该在10um以上,以保证其具有良好的导电性和机械性能。
复合铜箔技术指标中的表面处理要求也是非常重要的。
在复合铜箔的制造过程中,需要对其表面进行处理,以保证其具有良好的耐腐
蚀性和附着力。
一般来说,复合铜箔的表面处理应该采用化学镀铜、电镀铜等方式,以保证其表面质量和性能。
复合铜箔技术指标是制造复合铜箔过程中所需要遵循的一系列技术要求和标准。
只有严格遵循这些技术指标,才能够制造出具有优异性能和质量的复合铜箔,为电子、通信、航空航天等领域的发展提供有力支持。
复合铜箔技术指标
复合铜箔技术指标
复合铜箔技术指标是衡量该种产品质量和性能的标准。
以下是相关
技术指标和其解释:
1. 厚度控制精度:指复合铜箔厚度控制的精度,一般要求在±1um以内。
这是一个关键指标,因为厚度不一致会导致整个产品的性能下降,甚
至无法正常工作。
2. 面积重量:指每平方米的复合铜箔重量,一般要求在
5kg/m²~20kg/m²之间。
面积重量越大,导电性能越好,但同时也会增加成本。
3. 排气均匀性:指复合铜箔在复合过程中气体排放的均匀性。
排气均
匀性好的复合铜箔,铜箔之间会更紧密,电性能也更好。
4. 剥离力:指铜箔和聚酰亚胺基材之间的剥离力,一般要求在1.0-
8.0N/15mm之间。
剥离力越大,复合铜箔的结合力越好,但同时也会
导致加工难度增大。
5. 弯曲度:指复合铜箔弯曲时的抗弯性能。
弯曲度越小,复合铜箔的
加工性能越好,但这同时也会影响到其机械性能。
6. 耐热性:指复合铜箔在高温下的性能表现。
耐热性能越好,复合铜
箔使用寿命越长。
7. 电性能:指复合铜箔的导电性能和介电常数。
导电性能越好,介电常数越小,电路性能越好。
8. 表面质量:指铜箔表面的光洁度和无损伤情况。
表面质量越好,复合铜箔的加工性能越好。
这些指标是衡量复合铜箔产品质量和性能的重要参考标准,不同的应用场景有不同的重点关注点。
在生产中,要严格控制这些技术指标,以保证产品的稳定性和可靠性。
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Summary Specifications for 3M™ Flexible Circuits 2-Metal Layer
Note: These Summary Specifications indicate individual capabilities; combinations may or may not be available for your design. Contact a 3M representative to discuss your specific requirements.
Material Kapton® E Film
Nominal thickness 25 or 50µm
Chemical etch patterning:
Min dielectric opening (not metal masked) 125µm (25µm PI); 200µm (50µm PI)
Min dielectric opening (metal masked) 100µm (25µm or 50µm PI)
Min dielectric feature (not metal masked) 125µm (25µm PI); 250µm (50µm PI)
Min dielectric feature (metal masked) 100µm (25µm or 50µm PI)
Min metal mask width 300µm
Feature tolerance +/- 2 mils
Mechanical patterning:
Scope Part excise or debuss
Capabilities Laser (low volume); Punch and die (high volume) Registration Design/equip-dependent. Check with Appl. Eng.
Min feature (punched opening) 250µm
Min spacing between features 500µm
Minimum Lead Width: 30µm (both M1 & M2)
Minimum Space: 30µm (both M1 & M2)
Cu Thickness nominal range:
Designs with vias: 12 – 35µm*
Designs without vias: 5 – 35µm*
* 12 - 18µm recommended
Ni Thickness*: 0 – 3.0µm (1.5µm recommended for wirebonding)
Au Thickness*: 0.4 – 2.5µm (0.75µm recommended for wirebonding) Alternate finishes: Organic Solderability Preservative (OSP) Material: Entek® CU-56HF
*All metal features need to be bussed for electrolytic Ni/Au plating
Fabrication method: Laser-drilled
Typical via sizes*:
Closed via, 1mil substrate:
Entrance: 55µm
Exit: 25µm
Open via, 2 mil substrate (assumes 12 – 15µm Cu thickness)
Entrance: 66µm
Exit: 50µm
*Larger via diameters available with both 1 and 2 mil substrate (including open vias on 1 mil substrate)
Minimum capture pad diameters:
M1: via exit diameter + (2 x via drill-to-M1 layer reg.*) M2: via entrance diameter + (2 x via drill-to-M2 layer reg.*) *via drill-to-Mx layer registration in table below
Minimum via spacing (center-to-center):
Capture pad diameter + minimum space (redundant vias may be spaced closer)
Layers: Flow 1 Flow 2
M1-to-M2 25µm 50 - 100µm*
M1-to-PI (non metal-masked) 50 - 100µm* 25µm
M1-to-PI (metal masked on M1) 0µm 0µm
PICC1-to-M1 50 - 75µm* 50 - 75µm*
PICC2-to-M2 50 - 75µm* 50 - 75µm*
PI-to-M2 (non metal-masked) 55 - 105µm* 55 - 105µm*
PI-to-M2 (metal masked on M2) 0µm 0µm
PICC1-to-PI 70 - 125µm* 55 - 80µm*
PICC2-to-PI 75 - 130µm* 75 - 130µm*
via drill-to-M1 50µm 75µm*
via drill-to-M2 50µm 65µm*
* specified as a typical range because capability is design-dependent
** registration tolerance estimates in blue are derived from the others listed
Materials
Photoimageable: R/Flex® 8080* (Si-free epoxy acrylate)
Screen-printed: Asahi CCR232 (thermally-cured epoxy)
* may be used as a Au-plating mask
Target thicknesses: 12 – 30µm typically
Registration:
Photoimageable: +/- 50-75µm (see registration table above) Screen-printed: +/- 300µm
Test capabilities:
Various available for both low and high volume
Material: R/Flex® 1500Thickness: 25 or 50µm
Capability: Unpatterned adhesive laminated continuously in reel-to-reel format (may be patterned after
lamination by mechanical punching).
Materials: Cu, various on-conducting stiffener materials Finishes: Ni, black oxide, black epoxy Registration:
Down to 70µm radius true position
Types:
Tape-on-reel, strips, singulated, laminated Standard tape formats: 19mm, 24mm, 35mm, S35mm, 48mm, S48mm,
70mm, S70mm
Kapton is a registered trademark of Dupont deNemours, Inc. R/flex is a registered trademark of Rogers Corporation Entek is a registered trademark of Cookson Electronics
Minimum opening
Minimum feature (between openings)
Photoimageable 100µm 100µm Screen-printed
200µm
200µm。