XRD计算D值
xrd的使用方法
xrd的使用方法X射线衍射（XRD）是一种常用的材料科学分析技术，用于研究晶体结构和结构性质。
本文将介绍XRD的基本使用方法，帮助初学者更好地利用这一技术。
首先，在进行XRD实验之前，我们需要准备样品。
样品可以是晶体粉末或薄片。
对于粉末样品，需要将其细磨成均匀的粉末，而对于薄片样品，则需要制备薄片并确保表面光洁。
准备好样品后，将样品放置在XRD仪器的样品台上。
接下来，调整XRD仪器的参数。
主要的参数包括入射角、散射角、扫描范围和扫描速度。
入射角和散射角是X光束与样品的夹角，可以根据具体实验要求进行调整。
扫描范围决定了XRD仪器可以覆盖的角度范围，一般根据待测样品的预期衍射峰位置来设置。
扫描速度则影响到数据采集的时间，一般可以根据实际情况进行选择。
当调整完参数后，开始进行数据采集。
XRD仪器会扫描样品在不同散射角下的衍射强度。
通过记录衍射强度与散射角的关系，我们可以获得样品的衍射谱。
这个衍射谱中的峰代表了样品的晶格结构和晶体取向信息。
根据衍射峰的位置、强度和宽度，我们可以推断样品的晶体结构参数，例如晶胞常数和晶体取向等。
最后，数据分析是使用XRD进行材料研究的关键一步。
我们可以利用专业软件对衍射数据进行拟合和解析。
通过与数据库中已知材料的衍射数据进行比对，可以确定样品的组成和相对含量。
此外，利用衍射数据还可以计算材料的晶体结构信息，例如晶胞参数和晶格畸变等。
综上所述，XRD是一种强大的材料分析技术，可以用于研究晶体结构和性质。
通过准备样品、调整仪器参数、数据采集和数据分析，我们可以从XRD实验中获得有关样品晶格结构的重要信息。
这些信息有助于深入理解材料的性质以及其在各个领域的应用。
xRD晶粒尺寸分析
xRD晶粒尺寸分析XRD晶粒尺寸分析注：晶粒尺寸和晶面间距不同计算晶粒大小：谢乐公式：D=kλ/βcosθD—垂直于反射晶面（hkl）的晶粒平均粒度D是晶粒大小β--（弧度）为该晶面衍射峰值半高宽的宽化程度K—谢乐常数，取决于结晶形状，常取0.89θ--衍射角λ---入射X射线波长（Ǻ）计算晶面间距：布拉格方程：2dsinθ=nλd是晶面间距。
此文档是用XRD软件来分析晶粒尺寸，用拟合的办法，而不是用谢乐公式很多人都想算算粒径有多大。
其实，我们专业的术语不叫粒径，而叫“亚晶尺寸”，它表征的并不是一个颗粒的直径。
A 这么说吧，粉末由很多“颗粒”组成，每个颗粒由很多个“晶粒”聚集而成，一个晶粒由很多个“单胞”拼接组成。
X射线测得的晶块尺寸是指衍射面指数方向上的尺寸，如果这个方向上有M 个单胞，而且这个方向上的晶面间距为d ，则测得的尺寸就是Md 。
如果某个方向（HKL ）的单胞数为N ，晶面间距为d 1，那么这个方向的尺寸就是Nd 1。
由此可见，通过不同的衍射面测得的晶块尺寸是不一定相同的。
B 如果这个晶粒是一个完整的，没有缺陷的晶粒，可以将其视为一个测试单位，但是，如果这个晶粒有缺陷，那它就不是一个测试单位了，由缺陷分开的各个单位称为“亚晶”。
比如说吧，如果一个晶粒由两个通过亚晶界的小晶粒组成（称为亚晶），那么，测得的就不是这个晶粒的尺寸而是亚晶的尺寸了。
C 为什么那么多人喜欢抛开专业的解释而用“粒径”这个词呢？都是“纳米材料”惹的祸。
纳米晶粒本来就很小，一般可以认为一个纳米晶粒中不再存在亚晶，而是一个完整的晶粒，因此，亚晶尺寸这个术语就被套用到纳米晶粒的“粒径”上来了。
实际上，国家对于纳米材料的粒径及粒径分布的表征是有标准的，需要用“小角散射”方法来测量。
比如，北京钢铁研究总院做这个就做了很长时间。
但是呢，一则，做小角散射的地方还不多，做起来也特别麻烦（现在好一些了，特别是对光能自动一些了），所以，很少有人去做，而且，用衍射峰宽计算出来的“粒径”总是那么小，何乐而不为呢？我私下地觉得吧，这些人在偷换概念。
xRD晶粒尺寸分析1
XRD晶粒尺寸分析注：晶粒尺寸和晶面间距不同计算晶粒大小：谢乐公式：D=kλ/βcosθD—垂直于反射晶面（hkl）的晶粒平均粒度 D是晶粒大小β--（弧度）为该晶面衍射峰值半高宽的宽化程度K—谢乐常数，取决于结晶形状，常取0.89θ--衍射角λ---入射X射线波长（Ǻ）计算晶面间距：布拉格方程：2dsinθ=nλ d是晶面间距。
此文档是用XRD软件来分析晶粒尺寸，用拟合的办法，而不是用谢乐公式很多人都想算算粒径有多大。
其实，我们专业的术语不叫粒径，而叫“亚晶尺寸”，它表征的并不是一个颗粒的直径。
A 这么说吧，粉末由很多“颗粒”组成，每个颗粒由很多个“晶粒”聚集而成，一个晶粒由很多个“单胞”拼接组成。
X射线测得的晶块尺寸是指衍射面指数方向上的尺寸，如果这个方向上有M个单胞，而且这个方向上的晶面间距为d，则测得的尺寸就是Md。
如果某个方向（HKL）的单胞数为N，晶面间距为d1，那么这个方向的尺寸就是Nd1。
由此可见，通过不同的衍射面测得的晶块尺寸是不一定相同的。
B 如果这个晶粒是一个完整的，没有缺陷的晶粒，可以将其视为一个测试单位，但是，如果这个晶粒有缺陷，那它就不是一个测试单位了，由缺陷分开的各个单位称为“亚晶”。
比如说吧，如果一个晶粒由两个通过亚晶界的小晶粒组成（称为亚晶），那么，测得的就不是这个晶粒的尺寸而是亚晶的尺寸了。
C 为什么那么多人喜欢抛开专业的解释而用“粒径”这个词呢？都是“纳米材料”惹的祸。
纳米晶粒本来就很小，一般可以认为一个纳米晶粒中不再存在亚晶，而是一个完整的晶粒，因此，亚晶尺寸这个术语就被套用到纳米晶粒的“粒径”上来了。
实际上，国家对于纳米材料的粒径及粒径分布的表征是有标准的，需要用“小角散射”方法来测量。
比如，北京钢铁研究总院做这个就做了很长时间。
但是呢，一则，做小角散射的地方还不多，做起来也特别麻烦（现在好一些了，特别是对光能自动一些了），所以，很少有人去做，而且，用衍射峰宽计算出来的“粒径”总是那么小，何乐而不为呢？我私下地觉得吧，这些人在偷换概念。
XRD定量分析__实例
XRD定量分析__实例X射线衍射（X-ray diffraction，XRD）定量分析是一种常用的材料表征技术，可以用于确定晶体样品的晶体结构、晶体缺陷、晶体取向、晶体粒度等参数。
下面将介绍几个XRD定量分析的实例。
1.确定晶体结构：XRD定量分析可以通过测量材料样品的衍射峰位置和强度来确定其晶体结构。
以硅（Si）晶体为例，它有一个典型的体心立方结构，其中每个硅原子被周围的四个硅原子包围。
通过测量硅晶体样品的衍射峰位置和强度，可以确定晶体的晶胞参数和晶体结构。
2.确定晶体缺陷：材料中的晶体缺陷对其性能和行为具有重要影响。
XRD定量分析可以通过衍射峰的展宽来确定晶体中的缺陷情况。
例如，晶体中的点缺陷（如晶格位点的空位或杂质原子）会导致衍射峰展宽增加。
通过分析衍射峰的形状和展宽，可以定量地确定晶体中的缺陷含量和类型。
3.确定晶体取向：晶体取向是指晶体中晶粒的排列方向。
XRD定量分析可以通过测量晶体样品的衍射峰强度来确定晶粒的取向分布。
例如，在多晶材料中，晶粒的取向分布会导致衍射峰的强度出现峰状分布。
通过分析衍射峰的强度分布，可以了解到晶体中晶粒的取向情况，进而对材料的力学性能和热处理效果进行评估。
4.确定晶体粒度：晶体样品中的晶粒尺寸对其性能具有重要影响。
XRD定量分析可以通过测量衍射峰的半峰宽来确定晶体的平均粒径。
这是因为晶体粒子的尺寸越小，晶体中的X射线衍射峰就越宽。
通过分析衍射峰的半峰宽，可以定量地确定晶体的平均粒径和粒度分布。
需要注意的是，XRD定量分析需要准确的样品制备和仪器设置。
样品的制备需要保证其晶体结构的完整性和纯度，以及避免样品表面的污染和氧化。
在仪器设置方面，需要根据样品的性质和所要测量的参数进行合理的选择，如选择合适的入射角度、X射线波长和探测器类型等。
总的来说，XRD定量分析是一种非常强大和广泛应用的材料表征技术，可以用于确定晶体的结构、缺陷、取向和粒度等参数。
通过合理的样品制备和仪器设置，可以准确地获得有关晶体结构和性能的定量信息，为材料研究和应用提供重要的支持。
X射线衍射分析XRD
Indexing a Powder Pattern
n = 2dsin
Lambda : 1.540562 Å
Experimental data 2theta d intensity Theoretical data (hkl) 2theta dhkl F M F*M
44.67 2.027 100
第三章 X射线衍射分析
第一节 X射线衍射图像的形成
1
衍射仪工作原理
2 d sin
2
2 d sin
• 根据布拉格方程，并不是在任何情况下，晶体都能产生衍 射的，产生衍射的必要条件是入射x射线的波长入和它与 反射面的布拉格角θ 必须符合布拉格方程的要求。 • 因此，· 实现衍射的各种方法都是在实验中设法连续地变化 波长入．或θ 角，来满足衍射几何的要求，以达到产生衍 射的目的。 • 根据实验时采取改变这两个量的方式，可将衍射方法分为 下列三种：
(44.73,46.9)
(65.11,26.4)(78.25,27.8)
2 (°) 45 50 55 60 65 70 75 80
24
X光粉末谱标定
1、计算d值
Calculated
Intensity (%) 100 90 80 70 60 50
2、列表与实验值比较，找出 相应的峰
experimental
连续扫描 步进扫描 局部扫描
11
The Powder XRD Method
12
第三节 多晶X射线衍射仪
13
第四节 多晶X射线衍射物相分析
一、定性分析 二、粉末衍射卡片及索 引 通过XRD分析，确定被检
测物质的物相构成。 每种晶体物质都有特定的 参数
XRD分析测试方法-7
《材料分析测试方法》
(3) 实验步骤
（1）制备Wi∶Ws=1∶1的两相混合样，测定 K si值。
Ii K I s （Ii、Is各选一个或2个合适的衍射峰）
i s
（2）制备待测相的复合样：掺入与 K si 相同的内标物 质，含量可不同。 （ 3 ）测量复合样。精确测量 Ii 、 Is ，所选峰及条件与 K si 同。 （4）通过 K si 求待测相含量。求得 Wi wi
《材料分析测试方法》
计算公式：
I i Ws Wi Wi i , Wi Is Ks (1 Ws )
计算结果：
922 0.69 0.05265 WM 0.05265 ...... WM 17.0% 4892 2.47 1 0.69 8604 0.69 0.15019 WQ 0.15019 ...... WQ 48.4% 4892 8.08 1 0.69 6660 0.69 0.10255 WC 0.10255 ...... WC 33.1% 4892 9.16 1 0.69
i 1
n 1
Wi
I s CK s
2 s Wi ( m ) i
i 1
n 1
Ws
I i K i s Wi i Wi Ks I s K s i Ws Ws
K si 只与两相的密度和衍射角有关，与相的含量无关， K si是一个
常数，要求 Wi 得先求 K si ——参比强度值。
w w 1
I w (m ) 那么 ( I )0 w [(m ) (m ) ] (m )
外标法特点：方法简单，精度差
2. 内标法
若混合物中含有 n 个相，各相的μm不相等，此时可往试样中加入标 准物质，这种方法称为内标法。如加入的标准物质用 S 表示，其质量
谢乐公式计算XRD样品的晶粒尺寸的实例1
谢乐公式计算XRD样品的晶粒尺寸的实例
我们常见的谢乐（Scherrer）公式表达式为D=Kλ /(βcos θ)（K为常数；λ 为X 射线波长；β为为衍射峰半高宽；θ为衍射角）。
在上式中常数K的取值与β的定义有关，当β为半宽高时，K取0.89。
当β为积分宽度时，K取1.0。
我们在计算晶粒尺寸时，一般采用低角度的衍射线，如果晶粒尺寸较大，可用较高衍射角的衍射线来代替。
谢乐公式适用范围为1-100nm，晶粒尺寸小于1nm大于100nm时，使用用谢乐公式不太准确，当晶粒尺寸在30nm时其计算的结果最准确。
同时，谢乐公式只适合球形粒子，对立方体粒子常数K应改为0.943，半高宽应该转化为弧度制，即[(β÷180)×3.14]。
下面这个图是Jade5.0所读的晶粒尺寸为264(A°)即为26.4nm。
38.26)2
159.36(14.3180332.015405.0943.0=⨯⨯⨯=COS D 这边有的数据是X 射线波长λ=0.15405 nm , 半高宽β=0.332，2θ=36.159。
我是这样算的： 自己计算出来的值和用软件计算出来的值很接近。
我这里有2004的PDF 标准卡片，如果有哪位需要的话直接加我qq ，我发给你，我的qq 是425841088。
xRD晶粒尺寸分析
XRD晶粒尺寸分析注：晶粒尺寸和晶面间距不同计算晶粒大小：谢乐公式：D=kλ/βcosθD—垂直于反射晶面（hkl）的晶粒平均粒度D是晶粒大小β--（弧度）为该晶面衍射峰值半高宽的宽化程度K—谢乐常数，取决于结晶形状，常取0.89θ--衍射角λ---入射X射线波长（Ǻ）计算晶面间距：布拉格方程：2dsinθ=nλd是晶面间距。
此文档是用XRD软件来分析晶粒尺寸，用拟合的办法，而不是用谢乐公式很多人都想算算粒径有多大。
其实，我们专业的术语不叫粒径，而叫“亚晶尺寸”，它表征的并不是一个颗粒的直径。
A 这么说吧，粉末由很多“颗粒”组成，每个颗粒由很多个“晶粒”聚集而成，一个晶粒由很多个“单胞”拼接组成。
X 射线测得的晶块尺寸是指衍射面指数方向上的尺寸，如果这个方向上有M个单胞，而且这个方向上的晶面间距为d，则测得的尺寸就是Md。
如果某个方向（HKL）的单胞数为N，晶面间距为d1，那么这个方向的尺寸就是Nd1。
由此可见，通过不同的衍射面测得的晶块尺寸是不一定相同的。
B 如果这个晶粒是一个完整的，没有缺陷的晶粒，可以将其视为一个测试单位，但是，如果这个晶粒有缺陷，那它就不是一个测试单位了，由缺陷分开的各个单位称为“亚晶”。
比如说吧，如果一个晶粒由两个通过亚晶界的小晶粒组成（称为亚晶），那么，测得的就不是这个晶粒的尺寸而是亚晶的尺寸了。
C 为什么那么多人喜欢抛开专业的解释而用“粒径”这个词呢？都是“纳米材料”惹的祸。
纳米晶粒本来就很小，一般可以认为一个纳米晶粒中不再存在亚晶，而是一个完整的晶粒，因此，亚晶尺寸这个术语就被套用到纳米晶粒的“粒径”上来了。
实际上，国家对于纳米材料的粒径及粒径分布的表征是有标准的，需要用“小角散射”方法来测量。
比如，北京钢铁研究总院做这个就做了很长时间。
但是呢，一则，做小角散射的地方还不多，做起来也特别麻烦（现在好一些了，特别是对光能自动一些了），所以，很少有人去做，而且，用衍射峰宽计算出来的“粒径”总是那么小，何乐而不为呢？我私下地觉得吧，这些人在偷换概念。
XRD基本原理-xrd基本原理
一文瞧懂X R D基本原理（必收藏）XRD全称X射线衍射（X—Ray Diffraction ），利用X射线在晶体中得衍射现象来获得衍射后X射线信号特征,经过处理得到衍射图谱。
利用谱图信息不仅可以实现常规显微镜得确定物相，并拥有“透视眼”来瞧晶体内部就是否存在缺陷（位错）与晶格缺陷等，下面就让咱们来简要得了解下X RD寻原理及应用与分析方法,下面先从XF D原理学习开始。
1X射线衍射仪得基本构造XRD疔射仪得适用性很广，通常用于测量粉末、单晶或多晶体等块体材料，并拥有检测快速、操作简单、数据处理方便等优点，就是一个标标准准得“良心产品”。
在X射线衍射仪得世界里，X射线发生系统（产生X射线）就是“太阳”，测角及探测系统（测量2B与获得衍射信息）就是其“眼睛”，记录与数据处理系统就是其“大脑”，三者协同工作，输出衍射图谱。
在三者中测角仪就是核心部件，其制作较为复杂，直接影响实验数据得精度，毕竟眼睛就是心灵得窗户嘛！下面就是X射线衍射仪与测角仪得结构简图•X R D结构简图测角仪XR D立式测角仪2 X射线产生原理X射线就是一种频率很高得电磁波，其波长为10-8 —10- 12m远比可见光短得多,因为其穿透力很强，并且其在磁场中得传播方向不受影响。
小提示:X射线具有一定得辐射，对人体有一定得副作用，目前主要铅玻璃来进行屏蔽。
X射线就是由高速运动得电子流或其她高能辐射流（丫射线、中子流等）流与其她物质发生碰撞时骤然减速,且与该物质中得内层原子相互作用而产生得•X 射线管得结构不同得靶材，因为其原子序数不同，外层得电子排布也不一样，所以产生得特征 X 射线 波长不同•使用波长较长得靶材得X R D 所得得衍射图峰位沿2B 轴有规律拉伸；使用短 波长靶材得XRD 谱沿20轴有规律地被压缩•但需要注意得就是，不管使用何种靶材得 X 射线管，从所得到得衍射谱中获得样品面间距 d 值就是一致得，与靶材无关。
辐射波长对衍射峰强得关系就是：衍射峰强主要取决于晶体结构，但就是样品得质量吸 收系数（M AC ）与入射线得波长有关，因此同一样品用不同耙获得得图谱上得衍射峰强度 会有稍微得差别•特别就是混合物，各相之间得MAC 都随所选波长而变化，波长选择不当 很可能造成XRD 定量结果不准确.因为不同元素MA C 突变拥有不同得波长，该波长就称为材料得吸收限 ，若超过了这个范 围就会出现强得荧光散射。
xrd计算原子散射因子
xrd计算原子散射因子一、X射线衍射（XRD）X射线衍射是一种基于X射线与物质相互作用的分析技术，通过测量材料散射出的X射线的特征衍射图样，可以获得材料的晶体结构、晶格常数等信息。
X射线衍射在材料科学、物理学、化学等领域具有广泛的应用，是一种非常重要的实验手段。
二、原子散射因子原子散射因子是描述原子对X射线的散射能力的物理量。
每个原子都有一个特定的原子散射因子，它与原子的电子结构、原子核电荷数、X射线能量等因素有关。
原子散射因子的计算对于分析和解释X射线衍射实验数据非常重要。
1. 原子散射因子的理论计算原子散射因子可以通过量子力学理论计算得到。
根据原子的电子结构、电子密度分布等信息，可以使用量子力学计算方法，如密度泛函理论（DFT）等，得到原子散射因子的数值。
2. 实验测量原子散射因子实验测量原子散射因子是通过X射线衍射实验得到的。
对于单晶材料，通过测量它的衍射图样，可以通过衍射峰的位置、强度等参数，反推出原子散射因子的数值。
3. 数据库查询对于常见的元素，其原子散射因子已经通过实验测量得到，并存储在各种数据库中。
研究者可以通过查询相关数据库，如国际晶体结构数据库（ICSD）、晶体学数据库（CSD）等，获取所需元素的原子散射因子的数值。
四、xrd计算原子散射因子的应用1. 材料物性研究原子散射因子的计算在材料物性研究中具有重要的作用。
通过计算不同元素的原子散射因子，可以预测材料的晶体结构、晶格常数等性质，有助于理解材料的物理化学性质。
2. 相对原子散射因子的计算相对原子散射因子是指不同原子的原子散射因子之间的比值。
通过计算相对原子散射因子，可以研究材料中不同元素的相互作用、电子云的分布等信息，从而揭示材料的性质。
3. 结构解析通过X射线衍射实验测量得到的衍射数据，可以通过计算原子散射因子，进一步解析材料的结构信息。
这对于材料科学研究和新材料的发现具有重要的意义。
xrd计算原子散射因子是一项重要的研究工作，它在材料科学、物理学和化学等领域具有广泛的应用。
谢乐公式Scherrer公式
介绍一个XRD常用公式：谢乐公式Scherrer公式默认分类2008-04-11 16:16:02 阅读5473 评论0 字号：大中小订阅Scherrer公式D=Kλ/βcosθ中，K为Scherrer常数，其值为0.89；D为晶粒尺寸（nm）；β为积分半高宽度，在计算的过程中，需转化为弧度（rad）；θ为衍射角；λ为X射线波长，为0.154056 nm首先，用XRD计算晶粒尺寸必须扣除仪器宽化影响。
其次，我不知道你用的是不是Cu靶，Kα1和Kα2必须扣除一个，如果没扣除，肯定不准确。
最后，扫描速度也有影响，要尽可能慢。
一般2度/分钟。
本作业指导书参照JY/T 009－1996转靶多晶体X射线衍射方法通则和德国Bruker D8 ADVANCE系列仪器操作手册制定。
1. 适用范围本作业指导书适用于在Bruker D8 ADVANCE粉末衍射仪上进行XRD测试及进行相应的数据处理和结果分析。
2. 术语、符号2.1 X射线：通常将波长为10-3nm~10nm的电磁波叫做X射线。
用于晶体衍射的X射线波长一般从0.05nm到0.25nm。
2.2 晶体：由结构单元在三维空间呈周期性重复排列而成的固态物质。
这里的结构基元指的是原子、分子、离子或它们的集团；在晶体学中，（空间）点阵是用来表达晶体中原子团排列的周期性的工具，是三维空间中，周期重复排列的点的集合。
晶体可以用简单的公式表示如下：晶体＝（空间）点阵＋结构基元2.3多晶体: 由许多小晶粒聚集而成的物体称为多晶体或多晶材料。
它可以是单相的，也可以是多相的。
2.4 晶胞：晶体中用来反映晶体的周期性、对称性及结构单元的基本构造单元。
其形状为一平行六面体。
2.5 晶胞参数；点阵常数：平行六面体形的晶胞可用其三个边的长度a、b、c及它们间的夹角α、b、c边的夹角)、β(a、c边的夹角)、γ(a、b边的夹角)这六个数来表达，这六个数就叫做点阵常数或晶胞参数。
2.6 点阵畸变：存在于点阵内部的不均匀应变。
XRD图谱分析最终版
XRD图谱分析最终版XRD图谱分析解析X射线衍射谱图中，d是晶体晶格中相邻两个晶面的面间距，一般以埃为单位。
晶体的空间结构可以用三轴坐标系表示，也可以用四轴定向表示，尤其是三方、六方晶系用四轴定向表示有其独到的便利。
在三轴定向中，在不同晶向，相邻两个晶面间的晶面间距都可以用d表示。
d的脚标用其所描述的正点阵或倒易点阵的相应晶面指标(hkl)表示。
如:d(100),d(020),d(002),等。
在研究石墨状微晶、多晶石墨或碳纳米管、碳纤维等类石墨结构等材料的X射线衍射测定中，发现石墨、类石墨晶体结构的X射线衍射谱的峰并不多。
常用d002代表石墨状微晶的平均层层间距;用Lc表示微晶层面沿c轴方向(有时刚好也就是002晶面指数，可以使用 002 峰参数进行计算)的堆积厚度;用La表示沿a轴方向的微晶宽度或直径等面间距，使用100峰或110峰(要视具体晶体而定)进行计算。
对于晶体或部分晶体样品的X射线衍射谱解析讨论中，三个晶向上的晶面间距都可以用d表示之，而不论它是否经过拉伸或加温处理而改变晶格结构与否，它都是作为一个一个晶体样品、晶体对象存在的。
但如果在一个系列中，主要研究点是通过加力、加温而使晶体发生变化，再用d表示三轴方向上的面间距就不如使用另一些字母以显示其特点而避免与常规面间距d混淆，La,Lc就是这样应运而生了。
X射线衍射分析，是以布拉格定律(公式)为基础的。
布拉格公式: 2d sinθ=nλ，式中λ为X射线的波长(Cuka 波长为0.15406nm，Cuka1 波长为0.15418nm。
)n为任何正整数，并相应称为n级衍射。
θ是掠射角(也称布拉格角，是入射角的余角)，2θ才是衍射角。
当X射线以掠射角θ入射到某一点阵平面间距为d的原子面上时,在符合上式的条件下，将在反射方向上得到因叠加而加强的衍射线。
布拉格定律简洁直观地表达了衍射所必须满足的条件。
当X射线波长λ已知时(选用固定波长的特征X射线)，采用细粉末或细粒多晶体的线状样品,可从一堆任意取向的晶体中，从每一个θ角符合布拉格条件的反射面得到反射。
XRD看晶格和DM绘制晶格距离
比如选择了Cu2O后，显示的这个界面→点S/M，会弹出下面的对话框→
左键双击要看的材料，如Cu2O后，会弹出下面的数据→
d(A)就是对于面(h,k,l)的晶面间距，（3.02是（110）面的间距，即0.302nm），这里得到的数
据与DM中量得到的数据的参考，如DM量到一个距离为0.302nm，那么你就知道这里是（110）面。
DM软件：打开DM软件后，在右边ROL Tools对话框中选择虚线框，
然后摁住Alt键，在图形上要标定的区域画出一个虚线框→process→FFT（傅里叶变换），这
时会出来明亮的点阵，在选择上图的虚线，通过点阵的中心，将对称的两个亮点连接起来，
然后读出右下角对话框Control中L的数值，这个数值L=1/2d，计算得到d就是这部分的晶
格间距。
这里就是L值
2016,06,28。