SPC考试题00答案

统计过程控制（SPC）考试题
（1.5小时）
部门姓名得分
一、填空题：（每空1.5分，共30分）
1、品管七大手法是指层别法、柱状图、拍拉图、散布图、
查检表、鱼骨图、管制图。

2、特殊原因是指一种间断性，不可预计的，不稳定的变差根源，有时可称为可查明原因，它
存在的信号是：存在超过控制限的点或存在控制限之内的链或其它非随机性图形。

3、影响过程的因素包括人、设备、物料、方法和环境等。

4、过程的含义是指一组输入转化为输出的活动。

5、根据收集的数据类型，控制图可分为计量型和计数型。

6、准确度是指反映系统误差的影响程度、
精确度是指反映偶然误差的影响程度。

7
8
1、当某一生产过程处于稳定状态时，其直方图（分布曲线）的形状为 b 。

a、正弦曲线
b、钟型曲线（正态分布）
c、锯齿波
d、方波
2、在现场从多的不良品质问题中，为找出关键的前几名，所采用的统计手法是
d
a、因果图
b、调查表
c、控制图
d、柏拉图
3、当需要通过事物的计量值（如：长度）来管理品质时，可采用 a
a、X-R图
b、P图
c、C图
d、U图
4、当需要通过不良率，报废率等来管理品质时，可采用 b
a、X-R图
b、P图
c、C图
d、U图
5、对系统采取措施，通常用来消除变差 a
a、普通原因
b、特殊原因
c、a+b
d、均不是
6、在使用X-R图时，其子组的大小为 b
a、100个数据b≥25组
c、a+b
d、无需规定
7、为掌握某一生产过程或品质问题的现状，可采用 a
a、直方图
b、检查表
c、因果图
d、a+b
8、当某一过程特性处于稳定受控状态时，其过程能力（CPK）的典型值为 c
a、0.67≤CPK≤1.0
b、1.0≤CPK≤1.33
c、CPK≥1.33
d、≤0.67
9、在对某一过程的过程能力进行解释和评价前，其符合的条件是 d
a、处于统计稳定状态
b、测量值服从正态分布
c、工程规范准确地代表顾客要求
d、a+b+c
10、当使用X-R图来评价和分析某一过程时，可通过以下 c 方法来实现
a、分析X图
b、分析R图
c、先分析R图后分析X图并加以比较
d、先分析X图后分析R图并加以比较
三、计算题（共33分）得分
1、某零件的公差尺寸USL=8-0.05mm,LSL=8-0.10mm,抽样100个零件,经计算X=7.925mm,
σ= R/d2=0.0082，求过程能力指数（CPK）值。

(10分)
1.01626; 0.025/3×0.0082=0.025/0.0246
2、已知：某尺寸规格为30±0.5；X=30.2；R=0.4；n=4；求CPK（需要具体步骤），并加以分析（10分）。

(10分)
参考：Array
0.3/3×0.4/2.06=0.3/3×0.1942=0.515;
0.7/3×0.1942=0.7/0.5826=1.1945
3、已知某扬声器的P控制图数据：(13分)
①求P =0.0518
①计算上下控制限(0.1005;-0.004/0)
②作控制图
四、简述变差的特殊原因与普通原因内容及采取的措施.(7分)
特殊原因---局部措施（一种间断性，不可预计的，不稳定的变差根源，有时可称为可查明原因，它存在的信号是：存在超过控制限的点或存在控制限之内的链或其它非随机性图形）
•通常用来消除变差的特殊原因
•通常由与过程直接相关的人员实施
•通常可纠正大约15%的过程问题
普通原因----对系统采取措施（难以排除，具有稳定、可重复的分布；此时输出可以预测。

）•通常用来消除变差的普通原因
•几乎总是要求管理措施，以便纠正
•大约可纠正85%的过程问题。