图案化蓝宝石衬底的制备方法及关键技术分析

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LED蓝宝石图形化衬底制备工艺研讨

LED蓝宝石图形化衬底制备工艺研讨

LED蓝宝石图形化衬底制备工艺研讨摘要:随着社会经济的不断发展,能源的需求量不断增加,为了能够将有效降低能源的损耗,实现能源的可持续发展目标,我国对于节能环保事业的发展尤为的关注。

基于科学技术的发展,我国在照明领域开展的环保事业发展取得了一定的成就。

例如LED的研发和应用,其在使用的过程中不仅节能环保,同时也体积比较小,且功能时效时间比较长,与普通的照明源对比来讲更具有发展前景。

经过技术研发人员的不懈努力,找到了一种能够有效提升LED出光率的新技术,即通过蓝宝石图形化衬底实现LED高出光率的目标,为LED广泛应用于多个领域地奠定了坚实的基础。

本文通过对蓝宝石图形化衬底提升LED出光率的机理、表面微结构对LED发光率的影响进行了分析,并探讨了LED蓝宝石图形化衬底的制作过程。

关键词:LED;蓝宝石图形衬底;制备工艺引言:随着物质生活水平的提升,社会群众对于环保节能产业的发展也越发地关注,只有合理控制能源的消耗,才能够有效地提升能源和生态环境可持续发展的潜力。

环保节能在各行各业的发展中都是非常重要战略目标。

在照明领域最显著的发展便是LED的发展与应用,因为其具备良好的性能,尤其在环保节能方面表现出来的优势得到了社会群众的认可,所以被推广到很多的领域的实际应用当中,例如用于一般的照明、LCD背光源等。

随着蓝宝石图形化衬底制备工艺的不断发展,让LED制备白光逐渐成了现实,对于LED的进一步推广和应用有着非常显著的作用。

值得一提的是,LED虽然作为一种特别的固态光源与当前的社会环境倡导节能减排的理念具有极高的契合度,但是在LED实际的发展与应用中还是存在着一些问题,只有技术研发人员加强对LED的创新和优化,才能够为LED的广泛应用,在照明领域代替当前的所使用的传统光源。

为环保节能社会的建设提供良好的支持。

1.LED蓝宝石图形化衬底提高GaN基LED出光率的作用机理1.1降低GaN外延层位错密度在LED衬底材料中蓝宝石所具备的机械性能、可靠性以及易控制特性远超过其他的衬底材料,如单晶硅、单晶碳化硅等。

_LED蓝宝石图形化衬底制备工艺研讨

_LED蓝宝石图形化衬底制备工艺研讨

2013年4月(上)[参考文献][1]X.A.Cao,J.A.Teetsov,F.Shahedipour-Sandvik et al.Microstructural origin of leakage currentinGaN/InGaNlightemittingdiodes[J].J.Cryst.Growth,2004.[2]LiuHai-Ping,ChenIn-Gann,TsayJenq-Dar,etal.Influenceofgrowthtemperature on surfacemorphologiesofGaN crystalsgrown on dot-patterned substrate byhydride vaporphaseepitaxy.JournalofElectroceramics,2004.[3]Wang Woei-Kai,Wuu Dong-Sing,Lin Shu-Hei,et al.Efficiency improvement of near-ultraviolet InGaN LEDs using patterned sapphire substrates.IEEE Journal of QuantumElectronics,2005.[4]汪明刚,杨威风,胡冬冬等.图形化蓝宝石衬底技术综述[J].激光与光电子学进展,2012.[5]T.Kim,A.J.DannerandK.D.Choquette.Enhancement in externalquantum efficiency ofbluefight-emittingdiodebyphotoniccrystalsurfacegrating.ElectronicsLetters,2005.[6]殷子豪.纳米结构光子晶体提高LED出光效率的研究[硕士学位论文].上海:上海交通大学,2007.[7]Su Y K,Chen J J,Lin C L,et al.Pattern-size dependence of characteristics of nitride-basedLEDsgrown on patternedsapphiresubstrates.JournalofCrystalGrowth, 2009.当今节能减排已成为世界经济发展的主题。

LED用蓝宝石基板(衬底)详细介绍,加工制程与技术参数

LED用蓝宝石基板(衬底)详细介绍,加工制程与技术参数

蓝宝石切面图图
晶体结构图上视图
晶体结构侧视图
Al2O3分之结构图
蓝宝石结晶面示意图
最常用来做GaN磊晶的是C面(0001)这个不具极性的面,所以GaN的极性 将由制程决定 (a)图从C轴俯看 (b)图从C轴侧看
蓝宝石(Al2O3)特性表 蓝宝石(Al2O3)特性表 (Al2O3)
分子式 密度 晶体结构 晶格常数 莫氏硬度 熔点 沸点 热膨胀系数 比热 热导率 折射率 dn/dt 透光特性 介电常数
高纯度(> 99。996%) 单晶Al2O3, C轴(0001)±0.3° 50.8±0.2mm 330μm/430μm±25μm <10μm <10μm A面(11-20)±0.5 ° 16±1.2mm epi-ready polished (外延开盒即用) Ra<0.3nm Ra=0.5~1.2μm 洁净室内真空冲氮包装
图9:纳米图案化蓝宝石基板图
3:R-Plane或 Plane蓝宝石基板 3:R-Plane或M-Plane蓝宝石基板
通常,C面蓝宝石衬底上生长的GaN薄膜是沿着其极性轴即c轴方向生长的, 薄膜具有自发极化和压电极化效应,导致薄膜内部(有源层量子阱)产生强 大的内建电场,(Quantum Confine Stark Effect, QCSE;史坦克效应)大 大地降低了GaN薄膜的发光效率. 在一些非C面蓝宝石衬底(如R面或M 面) 和其他一些特殊衬底(如铝酸锂;LiAlO2 )上生长的GaN薄膜是非极性和半极 性的,上述由极化场引起的在发光器件中产生的负面效应将得到部分甚至 完全的改善.传统三五族氮化物半导体均成长在c-plane 蓝宝石基板上,若 把这类化合物成长于R-plane 或M-Plane上,可使产生的内建电场平行于 磊晶层,以增加电子电洞对复合的机率。因此,以氮化物磊晶薄膜为主的 LED结构成长R-plane 或M-Plane蓝宝石基板上,相比于传统的C面蓝宝石 磊晶,将可有效解决LED内部量子效率效率低落之问题,并增加元件的发光 强度。最新消息据称非极性LED能使白光的发光效率提高两倍. 由于无极性GaN具有比传统c轴GaN更具有潜力来制作高效率元件,而许多 国际大厂与研究单位都加大了对此类磊晶技术的研究与生产.因此对于Rplane 或M-Plane 蓝宝石基板的需求与要求也是相应地增加. 下图为半极性和无极性面的简单示意图
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Material Sciences 材料科学, 2020, 10(1), 63-74Published Online January 2020 in Hans. /journal/mshttps:///10.12677/ms.2020.101009Study of the Preparation Methods and KeyTechniques of Patterned Sapphire SubstrateZhiyuan Lai1, Kaihong Qiu2, Xiang Hou2, Jiangtao Zhang1, Zhongwei Hu1*1Institute of Manufacturing Engineering, Huaqiao University, Xiamen Fujian2Fujian Zoomking Technology Co., Ltd., Longyan FujianReceived: Dec. 31st, 2019; accepted: Jan. 13th, 2020; published: Jan. 20th, 2020AbstractThe patterned sapphire substrate (PSS) is a new technology developed in recent years to improve the luminous rate of LED. This paper mainly introduces the principle of patterned sapphire sub-strate to improve the light-emitting rate of GaN-based LED, the effect of surface microstructure (geometry and size) on the luminous efficiency of LED, and focuses on the key technologies in the preparation of patterned sapphire substrates, including the preparation of mask and graphic transfer technology, as well as two main methods of substrate preparation are: dry etching and wet corrosion, and the advantages and disadvantages of the two preparation methods are com-pared. Finally, it is pointed out that the nano-patterned sapphire substrate is the key development direction of the future.KeywordsPatterned Sapphire Substrate, Gallium Nitride (GaN), Mask, Etching图案化蓝宝石衬底的制备方法及关键技术分析赖志远1,仇凯弘2,侯想2,张江涛1,胡中伟1 *1华侨大学制造工程研究院,福建厦门2福建中晶科技有限公司,福建龙岩收稿日期:2019年12月31日;录用日期:2020年1月13日;发布日期:2020年1月20日*通讯作者。

赖志远 等摘要图案化蓝宝石衬底(Patterned Sapphire Substrate ,PSS)是近几年来发展起来的一种用于提高LED 出光率的新技术。

本文就图案化蓝宝石衬底提高GaN 基LED 出光率的作用原理、表面微结构(几何形状及尺寸)对LED 发光效率的影响以及图案化衬底制备的关键技术进行了分析,包括掩膜的制备和图形的转移技术,以及蓝宝石图案化衬底制备的两种主要方法:干法刻蚀和湿法腐蚀,并比较了这两种制备方法的优缺点,最后指出纳米级图案化蓝宝石衬底是未来的重点发展方向。

关键词图案化蓝宝石衬底,氮化镓,掩膜,刻蚀Copyright © 2020 by author(s) and Hans Publishers Inc. This work is licensed under the Creative Commons Attribution International License (CC BY). /licenses/by/4.0/1. 引言随着技术革新与能源消耗加剧,低能耗的发展模式日益受到重视。

在照明领域,LED 具有节能环保、寿命长、体积小等优点,广泛应用于各种显示[1] [2] [3]、LCD 背光源[4] [5]、普通照明[6]等领域。

当基于氮化镓(GaN)材料的蓝光LED 出现后,制备白光变得可行,从此发光二极管在路灯、照明等与人们生活息息相关的领域又有了更加广泛的应用。

在未来,被称作第四代光源的LED 将有望全面替代传统光源如白炽灯和荧光灯等。

作为新一代固态光源,LED 契合节能减排的发展趋势,但现今依然有着许多问题亟待解决。

GaN 是直接带隙结构材料,禁带宽度可通过与其他Ⅲ族氮化物形成固溶体,使其从0.7 eV (InN)到3.39 eV (GaN),再到6.2 eV (AlN)之间连续变化,其对应的波长范围可涵盖整个可见光区(1771~200 nm)。

这使得该类材料在光电子元器领域应用十分广泛[7]。

目前,GaN 基LED 衬底所选用的材料包括:蓝宝石、单晶硅和单晶碳化硅。

相较于单晶硅和单晶碳化硅,蓝宝石所具有的优势在于:具有较好的机械性能、可靠性高、材料制备工艺成熟及易于控制等。

但是,由于GaN 与蓝宝石之间存在大约17%的晶格失配和大约26%的热膨胀系数失配度,因此在蓝宝石衬底上生长的GaN 外延层中将存在109~1010 cm −2的位错密度[8]。

大量的缺陷导致衬底非辐射中心增多及载流子泄露加剧,使得LED 的内量子效率降低。

与此同时,由于GaN 材料对于450 nm 波长的光折射率(2.5)远大于空气的光折射率(1) [9]。

有源区光子逃逸角仅约23˚,大部分的光子被限制在有源区内,致使LED 的光提取率较低。

无法逃逸的光子在外延层中经过一次次反射,最终以热量的形式表现出来,严重限制了LED 的使用寿命。

针对这些难题,近年来发展起来的图案化蓝宝石衬底技术(Patterned Sapphire Substrate ,PSS)在减少GaN 外延层缺陷及提高LED 出光率方面展示出很好的效果。

图案化蓝宝石衬底技术是指通过特殊工艺在蓝宝石晶片表面制作具有细微结构的周期阵列图形。

利用这种图案化的蓝宝石晶片作为衬底,能够有效减少由于晶格不匹配而产生的应力,同时缓解位错的产生,使得位错密度降低1~2个数量级。

所获得的GaN 外延层质量更高,LED 的内量子效率显著提高。

除此之外,高质量的GaN 外延层能够减少LED 工作时产生的热量,增加其使用寿命。

更为重要的是,图案化蓝宝石衬底能够提高有源区光子的逃逸概率,赖志远等使得光提取效率大幅度提升。

2. 图案化蓝宝石衬底提高GaN基LED出光率的作用机理2.1. 降低GaN外延层位错密度图案化蓝宝石衬底能够显著降低GaN外延层中的线位错密度,是由于其表面的微结构改变了GaN 材料的生长过程。

GaN外延层在图案化蓝宝石衬底表面生长过程的示意图如图1所示,从图1中可以看出,生长在衬底图案之间的平面区域内的GaN材料,其位错会向上延伸至外延层表面,但是在衬底图案侧面上生长的GaN材料,其位错方向发生90˚弯曲,则位错线将不能达到外延层表面,从而有效降低GaN 外延层表面的位错密度。

较低的位错密度使得有源区的非辐射复合中心减少,缓解了载流子散射,从而提高了内量子效率。

值得注意的是,图形侧面区域的面积对于位错密度有着较大影响,相较于梯形图案化蓝宝石衬底,圆锥形图案化蓝宝石衬底具有更大比例的侧面,因此更有助于抑制外延层表面的线位错。

Figure 1. Schematic diagram of GaN epitaxial layer dislocations grownon the surface of [9]: (a) trapezoidal PSS, (b) tapered PSS图1.图案化蓝宝石衬底表面生长GaN外延层的位错示意图[9]:(a)梯形图形化蓝宝石衬底;(b) 锥形图形化蓝宝石衬底同样地,增加图案的密集程度也有助于提高侧面区域的比重,从而减少位错,因此,图案化蓝宝石衬底有助于高质量GaN外延层的生长。

图2展示了普通蓝宝石衬底与图案化蓝宝石衬底上外延GaN材料的位错情况。

可明显看出,生长在图案化衬底上的外延层,其缺陷明显少于生长在普通蓝宝石衬底上的外延层。

2.2. 增加光提取率与此同时,图案化蓝宝石衬底有助于LED增加光提取率,其原理如图3所示,由于衬底表面微结构的存在,原本可能被限制于有源区的光子通过蓝宝石衬底的多次反射,改变了传播路径,当角度处于逃逸角范围内时,光子便成功逃逸,因此,图案化的蓝宝石衬底能够增加光子的逃逸概率,使得LED光提取率增加。

赖志远 等Figure 2. Cross section of GaN epitaxial layer under TEM[10]: (a) on PSS, (b) on ordinary sapphire substrate图2. TEM 下的GaN 外延层截面[10]:(a) 图案化蓝宝石衬底;(b) 普通蓝宝石衬底(a) (b) Figure 3. Photon motion paths in GaN epitaxial layers on different substrates: (a) ordinary sapphire substrate, (b) PSS 图3. 不同衬底上GaN 外延层中光子运动路径:(a) 普通蓝宝石衬底;(b) 图案化蓝宝石衬底3. PSS 表面微结构对LED 发光效率的影响为提高图案化蓝宝石衬底的性能,国内外学者从表面微结构的几何参数入手,进行了大量的研究[9][10] [11]。

基于图案化蓝宝石衬底提高LED 出光效率的原理,图案的几何参数对出光率的影响同样包含了对外延层生长质量以及光传播路径的影响。

所谓的几何参数包含了图形的几何形状及图形尺寸。

3.1. 几何形状对LED 发光效率的影响外延层生长质量与成核点的多寡有着密切关系,成核区越小、成核点数量越少,就越有利于外延层横向生长,从而减少位错密度。

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