基于XRD-Rietveld全谱拟合技术定量分析花岗岩风化壳中矿物组成
材料现代分析测试方法-rietveld
材料A的Rietveld分析
通过Rietveld分析确定了材料 A的晶格参数和晶体结构。对定量 分析，确定了多相材料的不 同相的含量。
应力分析中的Rietveld 分析
利用Rietveld分析和细致的晶 格参数测定，研究了材料内 部应力分布的变化。
材料现代分析测试方法rietveld
欢迎来到本次演讲，我们将介绍材料现代分析测试方法中的一种重要技术— —Rietveld分析。让我们一起探索这个引人入胜的领域。
什么是Rietveld分析
Rietveld分析是一种用于材料结构精确测定和相对定量分析的X射线衍射技术。它通过模拟实验光 谱与理论衍射谱之间的匹配，获得材料中的晶格参数、晶体结构和物相信息。
高分子材料
用于聚合物晶体结构、配位化合物和疏水 材料的分析。
Rietveld分析的优势和局限性
优势
• 高精度的结构测定 • 广泛适用于不同材料和结构类型 • 非破坏性分析
局限性
• 对样品质量和衍射数据的要求较高 • 无法解析非晶态或非结晶态样品 • 需要对实验结果进行仔细解释
Rietveld分析的实例和案例研究
总结和展望
Rietveld分析作为一种先进的材料现代分析测试方法，在材料科学和许多其他领域具有广泛应用前 景。希望本次演讲能为大家提供了对Rietveld分析的全面了解和启发。
3 模型优化
4 结构分析
通过最小二乘法将实验和计算的衍射谱 拟合。
从拟合结果中提取材料的晶格参数和晶 体结构信息。
Rietveld分析的应用领域
材料科学
用于研究材料的晶体结构、相变以及材料 表征。
地球科学
用于研究岩石、矿石和地质样品的晶体结 构和相组成。
药物化学
Rietveld方法X射线粉末衍射分析报告之一
Ｒｉｅｔｖｅｌｄ方法Ｘ射线粉末衍射分析报告之一李家驹 （中国科学院地质与地球物理研究所 北京） （岛津国际贸易（上海）有限公司 北京办事处 北京） 水泥熟料的物相定量分析１）水泥熟料的四个主要物相是硅酸三钙（Ａｌｉｔｅ， Ｃａ３Ｓｉ２Ｏ７，Ｃ３Ｓ），硅酸二钙（Ｂｅｌｉｔｅ，Ｃａ２ＳｉＯ４， Ｃ２Ｓ），铝酸盐Ａｌｕｍｉｎａｔｅ，Ｃａ３Ａｌ２Ｏ６，Ｃ３Ａ）和铁铝酸盐（Ｆｅｒｒｉｔｅ，Ｃａ４Ａｌ２Ｆｅ２Ｏ１０，Ｃ４ＡＦ），以及微量的ＭｇＯ（方镁石），ＣａＯ或硫酸盐及非晶态相等，有时出现一些反应不完全的残留相，如二氧化硅（ＳｉＯ２，石英），甚至出现一些新的物相，还有一些添加的改善水泥质量与性能的石膏等。
前四种物相的含量的差别是水泥标号的指标。
因此水泥的物相的定量有实际意义。
只有最佳组合相的原材料混合物，才能生产高质量的水泥。
２）传统的水泥物相定量有三种方法。
（１）Ｂｏｇｕｅ法：利用Ｘ射线荧光光谱分析的成分，按几种假设物相配分，计算出主要物相的含量。
但是有以下问题。
ａ．由于生产过程中变化的因素，并非完全产生理想的物相。
ｂ． 非晶态相的含量。
（２）利用光学显微镜（ＯＭ）或扫描电子显微镜加能谱（ＳＥＭ＋ＥＤＸ），计数统计熟料的物相晶粒面积，以及化学成分。
问题是物相判断准确度，特别是细微颗粒，非晶态等的观察和统计。
（３）Ｘ射线粉末衍射法（ＸＲＤ） 。
利用各个物相的主要衍射峰强度的方法。
但由于水泥熟料物相晶体结构的复杂性，衍射峰的重叠。
即使非常注意样品的研磨与制备，对于定量的精确度与准确度有所改善，在工厂实验室，比前两种方法要好。
根据Ｘ射线粉末衍射法的所谓‘直接法’，是唯一能够直接提供熟料物相的分析方法。
以上三种定量方法的比较，使用显微镜方法，Ｃ３Ｓ与Ｃ２Ｓ的定量精度高一些，由于Ｃ３Ａ与Ｃ４ＡＦ近似，所以ＸＲＤ方法比较准确。
３）利用Ｒｉｅｔｖｅｌｄ方法的定量分析。
虽然提出Ｒｉｅｔｖｅｌｄ方法的基本思想是利用粉末衍射数据解析晶体结构。
XRD全图拟合相定量分析
目前多相材料X射线衍射相定量分 析中存在的问题
▪ 内标法与K值法局限性
1. 定量分析所选定的hkl或hkl衍射族不是一个不变量， 标准样与待测样中相应物相晶胞内原子位置和微 结构是不可能完全相同。作为一个物相，在晶胞 内容相同条件下，整个衍射空间散射总量是一不 变量。但每个hkl衍射线的强度随晶胞中元素位置 的变化而变化，这种变化与结构形成时条件有关。 在多晶材料中，这种现象是很普遍的。许多新合 成的化合物，往往不可能是单一物相，要找所谓 标准样更是困难。
海洋锰结核矿的定量相分析图
全谱拟合分析相定量准确度及实 验和分析中应注意的事项
▪ 样品制备与实验数据采集
实验样品应按粉末衍射要求，在充分研磨基础上， 保证粉末的细度，要求在10um以下。对粒子粗或粒子 分布不均匀样品得到的实验数据，往往得不到好的拟 合分离结果。制样时要尽量减少织构。数据采集除保 证足够强度以为，要保证在整个散射空间强度分布失 真度要小，引起失真原因多数是仪器色散，狭缝使用 不当。
多相全谱拟合相定量分析法
▪ 散射体模型问题
从上面的分析讨论可知，全谱拟合多相定量分析法，关 键是要有每个组成相的散射体模型，根据我多年研究，全谱 拟合相定量分析，多数物相的结构模型可以在无机晶体数据 库（ICSD）中查到，某些所谓找不到模型的物相或者是已知 某种结构的类质同系物，适当变形也可以获得，特别是天然 矿物，除粘土矿外，找不到结构模型的几乎很少碰到。困难 的样品，是无序度高的粘土矿物或层状结构的人工合成化合 物。此类化合物结构堆叠中的生长位错、堆叠位错和形变位 错致使此类化合物某些衍射峰宽化、不对称，某些hkl衍射峰 位移，甚至强度变化，相变。但此类化合物基本层结构都是 十分稳定的，找不到拟合模型或已有的模型无法实行满意的 拟合。对此类化合物，我提出用“等效散射体”作为拟合模 型参与相拟合分析。
Rietveld方法简介
Rietveld方法简介从1967年里特沃尔德根据中子衍射图谱，提出衍射峰形拟合法修正晶体结构以来，由于中子衍射峰型简单，且基本复合高斯分布，在20世纪70年代初，里特沃尔德衍射峰形拟合法在中子粉末衍射修正晶体结构方面得到了广泛的应用，并获得了成功。
1977年以后里特沃尔德图形拟合修正晶体结构的方法开始用于X射线粉末衍射，其中包括同步X射线辐射源的应用，得到了很大的发展。
Rietveld图形拟合修正结构法，就是利用电子计算机程序逐点（通过一定的实验间隔取衍射数据，一个衍射峰可以取若干点衍射强度数据，这样就可以有足够多的衍射强度实验点）比较衍射强度的计算值和观察值，用最小二乘法调节结构原子参数和峰形参数，使计算峰形与观察峰形拟合，即图形的加权剩余差方因子Rwp为最小。
由于所修正的参数都不是线性关系，为了使最小二乘法能够收敛，初始输入的结构原子参数必须基本正确。
因此Rietveld方法只用于修正结构参数，它不能用于测定未知结构的粉末试样的晶体结构。
Rietveld方法用最小二乘法修正的参数有两类：（1）结构参数：包括在不对称单位内全部原子的位置xi , yi , zi，比例因子S(scale factor)，全部原子的各向同性或各向异性的温度因子Bi；（2）峰形参数：包括峰形半高宽参数U、V、W，仪器的零点Z0, 晶体的点阵常数a, b, c, α, β, γ以及峰形的不对称参数、择优取向参数等。
Rietveld图形拟合修正结构法是否能够获得满意的结果，受到很多因素的影响：如峰型函数Gk,峰宽函数Hk,背景函数Yib,择优取向的校正等，因此Young等经过建议修正结构参数和峰型参数的顺序(见文献)。
选择正确的修正晶体结构的策略，可节省大量时间和避免过失。
Rietveld法晶体结构修正结果的正确性虽然用拟合图示法（包括全谱的观察值和计算值，以及它们之间的差值）可能是最好的一种表示法，但剩余方差R因子也是一种常用的作为Rietveld法修正结果的数值判据。
X射线晶体学 第13章 Rietveld全谱拟合精修 图文
比较好的精修方法是逐步放开参数，开始先修正一两 个线性或稳定的参数，然后再逐步放开其他参数一起修 正，最后一轮的修正应放开所有参数。
在修正的过程中，应经常利用图形软件显示修正结果， 从中可获得一些有关参数的重要信息，以便进行进一步 精修，直到得到很好的结果。
(4) Rietveld精修软件
从1979年R. A. Young等人发表第一个用于Rietveld分析 的计算软件DBWS以来，已有很多类似的软件问世，但 目前广泛被采用的主要有GSAS、FULL-PROF、BGMN、 JANA2000、DBWS等。 由于Rietveld分析方法的优化参数众多，而且是一个迭 代过程，使得上述各程序都具有难于书写控制文件的缺 点。
X射线晶体学
12. Rietveld全谱拟合精修
提纲
1. Rietveld结构精修方法 2. 全谱拟合精修过程举例 3. 物相的添加 4. 全局变量精修 5. 物相参数精修 6. 物相原子参数精修 7. 精修控制 8. 精修显示与结果输出 9. 全谱拟合精修应用实例
1. Rietveld结构精修方法
Rietveld方法是荷兰晶体学家H. M. Rietveld在1969年提 出的，是一种由中子粉末衍射图阶梯扫描测得的峰型 强度数据对晶体结构进行修正的方法。
1979年，R.A.Young 等人将Rietveld方法应用于X射线 衍射领域，并对属于15种空间群的近30种化合物的结 构成功地进行了修正。
FULLPROF是一个非常优秀的Rietveld分析软件，对于 初 学者来说，此软件的操作毕竟不是一件容易的事情。
Rietveld 结构精修原理与应用
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汇报人：
应用效果：提高了核磁共振实验的精度和准确性为样品的结构分析提供 了有力的支持。
05
Rietveld 结构精修的 未来发展
Rietveld 结构精修技术的改进与创新
提高计算效率：通 过优化算法和并行 计算技术提高精修 速度
提高精度：通过引 入更高精度的测量 技术和更精确的模 型提高精修精度
扩展应用领域：将 Rietveld结构精修 技术应用于更多领 域如生物大分子、 纳米材料等
Rietveld 结构精修的算法流程
输入：X射线衍射数据、晶体结构模型 计算：根据输入数据计算结构因子 拟合：将计算结果与实验数据进行拟合 优化：根据拟合结果调整晶体结构模型 输出：优化后的晶体结构模型
Rietveld 结构精修的优缺点
优点：精确测定晶体结构适用于多种晶体材料 缺点：需要大量数据计算量大需要专业软件支持
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案例目的：通过 Rietveld 结构精修可以获 得更精确的晶体结构信息从而更好地理解晶 体的物理和化学性质。
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案例结果：通过 Rietveld 结构精修可以获 得更精确的晶体结构信息从而更好地理解晶 体的物理和化学性质。
Rietveld 结构精修在粉末 X 射线衍射中的应用案例
Rietveld 结构精修在单晶 X 射线衍射中的应用案例
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案例背景：单晶 X 射线衍射是一种常用的 结构分析方法Rietveld 结构精修是其中一 种重要的数据处理方法。
添加 标题
案例方法：首先通过单晶 X 射线衍射实验 获得衍射数据；然后使用 Rietveld 结构精 修方法对数据进行处理和分析；最后得到更 精确的晶体结构信息。
药物设计：利用 Rietveld结构精 修技术进行药物 设计提高药物研 发效率
【X射线衍射分析】第三章全谱拟合法
它是用衍射谱上各（2θ）处的衍射强度Yi代替衍射线的积 分强度Ik来进行精修的。一张从50（2θ）~900（2θ）的多晶 衍射谱就会有8000多个实验数据，这样多个实验数据是可 在统计上保证精修结果的准确性，解决了多晶体衍射中数 据量不够，不能从统计上保证精修结果准确的问题。
到了1977年，Malmros和Thomas首次将这一方法应用到X射线 领域。80年代，一方面高分辨多晶体衍射技术得到了发展，特 别是同步辐射高分辨多晶体衍射的发展，使衍射峰重叠大大减 少，直接测得的衍射峰数可超过100，提高了衍射谱的准确性 和分辨率。另一方面，Rietveld方法本身也得到了发展。
80年代陆续报道了一些多晶体衍射从头晶体结构测定的例子 ，到了90年代，这一技术得到了发展，在文献上已出现许多 这方面工作的报道。不仅如此，全谱拟合法还可应用到多晶 体衍射的各传统应用领域，如定量分析，晶粒大小及微结构 测定等方面，得到了比传统法更完美、更准确的结果。它在 研究实际晶体的结构方面，取得了极耀眼的成果。
全谱峰形拟合包括两类方法：即应用晶体结构数据的 Rietveld精修和不需晶体结构数据的另一类方法。
多晶体衍射全谱线形拟合法原来是用作晶体结构精修的， 以后发展到从头解出晶体结构。不仅如此，它还渗透入用来 表征多晶体的许多传统领域，不仅可用来研究多晶聚集体的 结构，更可以研究晶体内的微结构。由于其理论比较严密， 研究得就更深入、更细致，所得结果也常常比传统法更准确 ，而且其做法也常比较简单。
Rietveld全谱拟合及应用
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理 想 的 PV 峰 形 是 对 称 的 ， 但是由于实验条件的影 响，使得实际得到的峰 形是不对称的，所以要 进行校正。
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精修步骤（分布精修）： 由于精修的参数很多，如果一开
始就同时对所有的参数精修，则参数改 变的途径会很多，可能使得到的最小二 乘法收敛到伪极小。
Rietveld Refinement
Refined model
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全谱拟合原理 1.衍射峰可用函数模拟（Gik为峰形函数）
Yik Gik Ik
Ik SMkLk Fk 2
F k fje x p [2i(H xj K yj L zj)] j
2.衍射谱是各衍射峰的叠加
Yi Yib Yik k 精品课件
2.峰型参数：其中包括峰型参数、峰宽参 数、不对称参数、择优取向参数、本底 参数、消光校正及零位校正等。
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三、Material Studio软件中Reflex 模块的作用 1. 应用晶体结构数据的Rietveld精
修 2. 利用衍射谱从头晶体结构的测定
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因此，Rietveld精修总是分布 进行。先调整、精修1～2个参数，将其 它的固定在处之。在最小二乘方极小后， 在增加1～2个参数，这样逐步增加，直 到全部参数都被修正。
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一般地，先精修的常是定 标因子和零位校正，接下来是本底 参数和晶胞参数，其后是原子坐标， 占有率和各向同性温度因子，再后 是考虑各种线性参数，如高斯峰宽 中的U、V、W，洛仑兹峰宽中的X、Y、 Z，PV函数中的比例因子等，最后是 各向异性温度因子的精修。
Rietveld定量方法在蒸发岩矿物组分分析中的精确度评价和误差来源
Rietveld定量方法在蒸发岩矿物组分分析中的精确度评价和误差来源陈爱清;薛雍;徐洪柳;李国武【摘要】The Rietveld phase quantitative analysis (RQPA) method has been widely applied in geology.In the analysis of evaporite, the evaluation and error control of precision are important factors to improve the quality.The RQPA method was applied to simulated binary mixtures (halite and sylvite), ternary mixtures (halite, sylvite, and calcite), and geological samples (i.e., gypsum and sylvite samples).The contents of each mineral calculated by RQPA were compared with the results of chemical analytical data to evaluate the RQPA''s accuracy and the main error sources were analyzed.The results show that the absolute errors between theoretical and calculated values are in the range of 0.4%-0.9% and 0.1%-1.2% for the binary and ternary mixtures, respectively.The mineral contents of geological samples matched very well with the results of the chemical analysis.The standard deviation of binary mixtures is 0.702 for 10 calculated results.The relative standard deviation of the same samples are 1.74%(KCl) and 1.17%(NaCl), respectively.The study indicates that the RQPA method is accurate in the quantitative analysis of mineral contentsof evaporite rocks.The error sources arose mainly from the nature of the samples, sample preparation, measuring conditions, and refinement process.Due to the advantages of reducing the preferred orientation, not requiring pure samples, and high utilization of data, the RQPA method hasa potentially extensive application in mineral exploration analysis, reserve evaluation, and industries of evaporites, when coupled with the chemical analysis method.%Rietveld物相定量分析(RQPA)方法在地质学中已有大量应用,在蒸发岩定量分析中,对精确度的评价和误差控制是提高分析质量的重要因素.本文对人工配制和野外采集的样品(石膏和钾盐)进行RQPA分析,并与化学分析结果对比,评价其精确度并分析其主要的误差来源.结果表明:人工配制的氯化钠-氯化钾二元物相的绝对误差为0.4%~0.9%;氯化钠-氯化钾-碳酸钙三元物相的绝对误差为0.1%~1.2%;二元物相样品10次分析的标准偏差为0.702%,相对标准偏差为1.74%(氯化钾)和1.17%(氯化钠);野外采集的石膏和钾盐样品的RQPA分析结果与化学分析结果具有很好的一致性.表明RQPA方法在蒸发岩矿物组分定量分析中具有较高的精确度,其误差主要来源于样品性质、样品制备、测试条件和精修过程等.RQPA方法具有减弱择优取向效应、无需纯样以及提高数据利用率等优点,与化学分析技术联用在蒸发岩矿产勘探、储量评价以及工业应用中具有广泛的前景.【期刊名称】《岩矿测试》【年(卷),期】2017(036)004【总页数】8页(P374-381)【关键词】蒸发岩;Rietveld物相定量分析;结构精修;钾盐【作者】陈爱清;薛雍;徐洪柳;李国武【作者单位】中国科学院矿物学与成矿学重点实验室,广东省矿物物理与材料研究开发重点实验室,中国科学院广州地球化学研究所,广东广州 510640;中国科学院大学,北京 100049;北京北达燕园微构分析测试中心,北京100084;湖南省有色地质勘查研究院测试中心,湖南长沙 410000;中国地质大学(北京)科学研究院,北京100083【正文语种】中文【中图分类】P588.247蒸发岩(如钾盐)是由水盆地中溶解度较大的无机盐类逐渐浓缩以至沉淀而成的一种重要的矿产资源,这种化学成因的岩石主要由钾、钠、镁、钙的氯化物、硫酸盐、碳酸盐、硝酸盐等组成[1]。
Rietveld精修原理全文
19
2
➢ 其他参数 ④ 晶粒形状
默认球形 可选：
椭球形 其他形状
计算谱的构成
20
2
计算谱的构成
➢ 其他参数 ⑤ 织构函数
Pk
exp(
G
2 k
)
Pk
exp[G( 2
k )2]
Pk
3 2
(G2 cos2 k
sin2 k
G
)
其中G为择优取向修正参数,k为择优取向晶面与衍射面的夹角。
21
2
➢ 其他参数 ⑥ 应力及其它因素
物相的晶体结构通过查找各种晶体结构数据库而获得。
12
2
➢ 其他参数 峰形函数G
计算谱的构成
衍射峰的形状以一个函数来拟合
Gaussian函数
I 2
I ek (2 2 p )2 p
峰形对称，适合于中子衍射
Cauchy函数 Cauchy平方函数
I
2
1
k
I
(2
p
2
p
)
2
I2
Ip
1 k(2 2 p )2
物相的晶体结构通过查找各种晶体结构数据库而获得。
11
2
计算谱的构成
➢ 晶体结构
ICSD——无机晶体结构数据库(The Inorganic Crystal Structure Database,简 称ICSD)由德国的The Gmelin Institute (Frankfurt)和FIZ(Fach informations zentrum Karlsruhe)合办。https://icsd.fiz-karlsruhe.de/search/。 CSDS——剑桥结构数据库系统(The Cambridge Structural Database System,简 写为CSDS)。 ICDD——国际衍射数据中心(The International Centre for Diffraction Data,ICDD)。 NIST——NIST Crystal Data：Http：///srd/3.h也包含有23000条 晶体结构。 COD——Crystallography Open Database,晶体学开放数据库(COD)。通过网站访 问,其中包含较多的晶体结构数据。 当然,通过文献,查找一些最新发表的结构,也是前沿研究必要的工作之一。
XRD讲稿Rietveld方法
定量分析、多晶材料的粒度测定、固溶体研究及
新相的结晶学表征等有效手段，早已被广泛应用
于工业部门和科学技术的许多领域中。由于X-射 线多晶衍射图中衍射线的重叠及分辨率低，欲利 用它的布拉格反射的强度数据，提供有关晶体结 构的准确数据，往往是困难甚至是无效的。因此， 长期以来，为获得晶体结构的信息，几乎唯一依 靠单晶的各种衍射方法。
函数分布，这些优点使多晶体的从头结构测定更易
于实现。
对于多晶的晶体结构测定，首先要求收集高质
量的粉末衍射数据。除射线源不同外，收集数据
方式还按固定波长变动衍射角度，或固定衍射角
度改变波长测定衍射的强度进行分类。其中应用
更广泛的是固定波长变动衍射角度的方式。
全谱拟合的理论要点
Rietveld首先应用峰形拟合技术修正了粉末的中子
息的缺点，使粉末衍射方法作为提供结构信息的手
段，取得了重要成就。因此，这一新方法的提出， 引起了晶体学界广泛的兴趣和重视。
一个晶胞对X射线的散射是该晶胞中所有原子的散
射的总和，对晶胞中所有原子求和所得的结构因
子为:
Fhkl f j e
j
2i ( hx j ky j lz j )
• 单晶衍射强度数据： h k l Intensity 1 0 0 1100 …..
Rietveld 引入 Profile Refinement technique for
refining powder neutron diffraction data
• 衍射强度数据为step intensity（步长数据）
位于2θk位置的Bragg峰对Yi的贡献记为:
2 Yi tFK jk Lk 2 ln 2 ( H k ) exp 4 ln 2(2i 2 k ) Hk
XRD_Rietveld法用于水泥基材料物相的定量分析_李华
测试仪器采用配制了 LynxEye 阵列探测器的 BrukerAxs D8 DISCOVER X 射线衍射仪，靶材为 Cu 靶，设置工 作电压 40 kV，工作电流 30 mA，4.0°索拉狭缝，步宽 step size= 0.02°（2θ），扫描速度 0.30 s/step，扫描角度范围 7°~80°（2θ）。 将待测粉末压制在衍射仪专用玻璃样品板上，待仪器参数 调好后，放入样品架进行测试。每个样品分别制取 3 个样 片，测量 3 次，取平均值。
就必须先知道晶体结构数据，从而计算出 Fk 及 Lk，再通过 Yci 与 Yoi 有最好拟合而得到合适的 S。
评价拟合最终结果的可靠性可通过计算可信度因子，
即 R 因子实现。一般地，R 值越小，拟合越好，晶体结构正
确的可能性就越大。常用的是 Rw（p 加权剩余差方因子），Rwp 基本反映了总体计算图谱与实测图谱的吻合程度，由于试
Vj Vj2u
=K mj ZjMjVju
wj= mj = SjZjMjVju
Σ Σ mp
SpZpMpVpu
p
p
式中：S — ——标度因子；
（1） （2）
V —— —物相在样品中的体积的晶胞体积；
Vu —— —物相在样品中的物相的晶胞体积； Z —— —晶胞内化学式（“原子”或“分子”）数；
M —— —化学式相对分子量；
验数据本身的偏差，Rwp 值不可能为 0。；若 <10%则更理想。另有 S（拟合优 度）也可用作评价衍射图谱拟合好坏的判据，正确的晶体 结构模型的 S 值在 1.0~2.0 之间。
2 试验
2.1 原材料与样品的制备
试验所用水泥为 P·I 52.5 级水泥，由华新水泥股份有 限公司生产。配制混合样品所用材料为 P·I 52.5 级水泥和 氢氧化钙（分析纯），配制前将这两种物质均过 80 μm 的方 孔筛，之后将水泥粉末与氢氧化钙粉末分别以 9∶1、8∶2 和7∶3 的质量比称取后混合，编号分别记为 90C+10P、80C+20P、 70C+30P。将混合样品在玛瑙研钵中与适量无水乙醇一起 混研 0.5~1 h，以达到混匀的目的。硫酸盐侵蚀样品取自 于在 5.0%浓度（以质量分数计）的 Na2SO4 溶液中浸泡两年的 尺寸为 Φ14 mm×250 mm 水泥净浆试件，试件水灰比为 0.35。从试件上取出 Φ14 mm×10 mm 的一小段，置于无水乙 醇中浸泡数天后，放入 50 ℃的真空干燥箱中干燥 2 d，再 在玛瑙研钵中与适量无水乙醇一起混研至过 80 μm 的方 孔筛。称取一定量同样过 80 μm 方孔筛的标准 α-Al2O3 粉 末，与水泥净浆粉末以 1∶9 的质量比混合后，在玛瑙研钵中 与适量无水乙醇一起混研 1 h 以混合均匀。混匀后的所有 样品置于真空干燥器中以待测试。
SITP七期教师项目信息xls
长期以来，国内外学者一直非常重视水泥基材料微结构的实验研究，提出了各种适用于微结构定量表征的方法，如 X射线粉末衍 射Rietveld全谱拟合法（XRD/Rietveld）、背散射电子图像分析法（BSE/IA）、热分析法等，通过这些方法可获得水泥原料和 硬化浆体中主要物相（晶相和无定形相）的含量、分布、孔隙率等定量分析结果，极大地推动了水泥科学理论研究的进步。然 而，这些方法仍停留在非可视化或二维可视化阶段，对复合水泥三维空间微结构的表征存在很大的局限性。目前，三维空间微 结构表征最有效的实验方法是计算机断层成像技术（或称CT）。其测试原理是利用X射线对原子密度不同的被测物体进行照射后 会发生不同程度的衰减，因而所得投影的明暗程度不同，通过计算机将X射线在不同照射角度所得的投影进行重构，还原出被测 物体在三维空间中的影像。利用该技术，可以获得诸如颗粒形态学、水泥早期水化过程、硬化浆体中熟料、水化产物和孔的形 态、空间分布及体积变化等方面的信息，用于推测材料的流变性能、力学性能及耐久性，尤其可获得孔的连通性和曲折程度信 息，为水泥基材料中水的传输情况、渗透性和耐久性研究提供了一种可能的技术手段。本项目对复合水泥体系进行 X射线断层成 像表征，并应用相关软件对识别出的物相和孔进行三维空间微结构的定量分析，计算各组成相的形态学参数、体积含量、空间 分布函数、连通性等，建立复合水泥微结构演变的三维可视化模型，从三维尺度上探索材料的组成、结构与性能之间的关系。 水泥基材料的性能（如强度、渗透性）由其孔结构决定，孔结构包括孔的形状、表面积、孔隙率、孔径分布、孔的连通性等内 涵。已有多种方法用于表征孔结构，最为常用的是压汞法（MIP），其测试原理是测得渗透到孔或空隙中的汞体积是与孔径相关 的静压的函数，可获得孔隙率、表面积、孔径分布等定量指标，测量孔径范围为 0.003μ m至 400μ m。但是 MIP并不能表征所有 形状的孔，如墨水瓶孔和闭孔，在外加压力下，还可能发生开孔发生坍塌、闭孔被打开的现象，使得结果产生误差，另外，MIP 也不能给出孔的空间分布状态和连通情况，因此该方法已被证实是不适用于水泥基材料的。但MIP仍具有一定的可比性。背散射 电子图像分析法（BSE/IA）是对硬化浆体抛光面在扫描电镜背散射电子成像模式下，产生包含成份（平均原子序数）信息的灰 度照片，结合图像分析系统获得样品中各主要组成相（未反应的原料、水化产物、孔）的形状、分布和所占比例的定量结果。 BSE/IA法是一种二维可视化的测试技术，对抛光平面的研究具有一定的代表性和可重复性，因此是对水泥基材料微结构定量表 征的一种有效手段，在孔结构研究方面具有不可替代的优越性。在用图像分析系统进行数据处理时，首先需要对各种物相（包 括孔）进行灰度识别，通常采用灰度阀值划分的方法，这就要求样品中的各种物相在成像时具有明显的灰度差异性。因此对于 孔结构研究来说，至关重要的一点是制样阶段需要用与基体相具有明显灰度差异性的材料填充孔隙并获得平整的抛光平面。本 项目采用不同种类的镶嵌材料填充水泥基材料的孔隙，制备适用于扫描电镜背散射电子图像分析法的样品，进行图像采集和处 理，以获取水泥基材料的孔结构信息，并与压汞法获得的数据进行比较分析，从而完善现有孔结构分析的技术手段。 决定水泥基材料宏观性能的因素除了其组分外，更重要的是这些组分在浆体内的组合，即微结构，包括固相的种类、含量、分 布、相互之间的作用，以及固相之间所形成的孔结构。目前，对物相种类和含量分析最为有效的方法是X射线粉末衍射。X射线 粉末衍射定性分析可以用于鉴别物相种类，目前已经发展得较为成熟，而X射线粉末衍射定量分析则相对不易，尤其是对于水 泥基材料这类含有多至十几种物相的复杂体系，不同物相衍射峰的重叠干扰为定量分析带来了极大的困难。近年来，研究者将 X射线粉末衍射Rietveld全谱拟合法（XRD/Rietveld）应用到水泥基材料的结构精修和定量分析中，为定量表征水泥基材料中的 物相组成提供了一种快速、可靠、准确的技术手段，该方法是目前水泥基材料物相定量表征方法中最为准确的一种。 XRD/Rietveld法的测试原理是利用计算机软件，将待测物的XRD实验图谱与已知含量、晶体结构参数、仪器测试参数的若干种 物相混合物参比样的XRD图谱进行最小二乘法拟合，使得两者之间的差异最小，以获得待测物中各种物相的含量。通过在参比 样中添加已知含量的标准物质作为参照物可获得待测物中无定形物相或未知物相的含量。本项目通过制备已知物相含量的各类 水泥熟料（如白水泥、普通硅酸盐水泥、铝酸盐水泥、硫铝酸盐水泥、铁铝酸盐水泥等），研究XRD/Rietveld法在水泥熟料定 量分析中的应用效果，获取定量分析参数，探索材料的微观组成和宏观性能之间的关系，并为XRD/Rietveld法在其它类水泥基 材料中的进一步应用奠定基础。 聚合物胶束或囊泡由于具有临界胶束浓度较低、增容空间较大、结构稳定等特点，且可以依据聚合物疏水链段的性质不同，采 用物理、化学等方法包裹药物；也可以利用催化剂性质或者环境条件选择不同响应性的胶束，从而使其应用于环境领域。 McCormick课题组设计合成了一系列刺激响应性的聚合物胶束，与普通聚合物胶束相比，这种刺激响应性胶束结构可控性、生 物相容性较好，易于通过改善功能性单体的选择来提高聚合物胶束的包覆性能。而Armes课题组则研究了多重响应性胶束，多重 响应性胶束使胶束的应用范围增广，且对外在环境的变化更敏感，使胶束的可控性和定向性得到增强；张先正和卓仁禧教授课 题组，在热响应性壳交联胶束材料的制备方面取得了丰硕成果，当壳交联应用于多重响应性胶束时，可以使胶束在生物环境中 的稳定性及靶向性得到进一步提升。基于此，本课题拟采用在水溶液中RAFT聚合、嵌段共聚物自组装、化学交联及解交联等相 结合的方法来制备一种双响应性壳交联聚合物胶束，这种方法可以很好的用于壳交联胶束的制备和下一步应用。本课题运用到 的这种低成本、操作可控的RAFT聚合方法在智能化胶束方面的应用成功，可以降低聚合物胶束的生产成本，同时，化学交联提 高了聚合物胶束的稳定性，且交联结构具有可触发性，因而在生物医用和环境污染方面具有很好的应用；而交联的可逆性使得 该胶束比单一聚合物壳交联胶束更具有竞争优势，研究结果对于开发高性能的聚合物壳交联胶束，推动壳交联胶束在生物医药 及环境领域的应用具有重要的理论和实用价值。
Rietveld法的理论分析及其在相分析中的应用
Rietveld法的理论分析及其在相分析中的应用X射线多晶衍射的Rietveld法是一种在材料结构分析领域被广泛采用的方法。
本文通过XRD图谱的模拟计算清楚的解释了Rietveld法的原理,并利用该方法对一些合金相的晶体结构进行了研究。
1.XRD图谱的模拟计算根据X射线衍射强度理论,采用不同的峰形函数计算了Ti粉的衍射谱,在加入择优取向因子校正后还计算了冷轧Ti片的衍射谱。
从总体上看计算谱与实验谱大致相符。
2.晶体结构精修采用Rietveld法对三元化合物Zn<sub>55.24</sub>Al<sub>18.86</sub>Zr<sub>25.9</sub>的晶体结构进行了研究,Rietveld精修的可靠性因子为Rp=7.15%,Rwp=9.56%。
该化合物属正方晶系,空间群为P4/mmm,点阵常数:a=b=4.07080（3）（?）,c=4.07366（9）（?）。
精修的结果表明Zr原子占据1a位置,部分Zn原子占据2e位置,另一部分Zn原子和Al原子混合占据1c位置。
最后通过理论计算验证了所得结构的合理性。
采用Rietveld法对三元硼化物Mo<sub>2</sub>NiB<sub>2</sub>的晶体结构及相变进行了研究,结果表明在掺V后Mo<sub>2</sub>NiB<sub>2</sub>的晶体结构发生了由斜方向正方的转变。
Mo<sub>2</sub>NiB<sub>2</sub>的点阵常数:a=7.0914（2）（?）,b=4.5639（9）（?）,c=3.1787（8）（?）,精修的可靠性因子为Rp=6.74%,Rwp=8.52%。
Mo<sub>2</sub>NiB<sub>2</sub>掺V的点阵常数:a=b=5.8244（5）（?）,c=3.1239（6）（?）,可靠性因子为Rp=5.69%,Rwp=7.41%。
Rietveld全谱拟合及应用汇总
可能空间群
I 41md , I 4 2 d , I 4 1
a
md
ALLHKL分峰，PV峰形函数，得258个|F| 据强度统计，应中心对称，取 I 4 1a md 解初始结构：XTAL，直接法
电子密度得9个原子位置（4Si, 5O）
差值电子密度扩展出全部原子
结构精修XRS-82，2扩展至92-96
前8峰的峰形函数与以后的不同
求得大孔中有机模板分子(1-aminoadamantane)中 各碳原子位置
Sigma-2中有两种孔，大孔近圆形，直径约0.75nm， 小孔数目为大孔之2倍。 孔形状见图
2. [Co(NH3)5CO3]NO3H2O晶体结构的测定
实验室Rigaku D/MAX-rB粉末衍射仪
5.强度准确衍射谱的收集及分峰，校核空间群
解结构时，强度准确比位置准确,高分辨更重要 6.解初始结构(包括结构扩展) 直接法，派特逊法，电子密度图，差值电子密度 程序：SHLEX，MULTAN等 7.结构精修 Rietveld精修，DBWS，XRS，GSAS等 8.列表输出各种结构参数、绘制分子结构及晶体结 构图
(二)精修策略
1.分步精修整体精修 2.约束的引入： 键长、键角的变化范围 ;从
其他方法得到的结构信息
3.择优取向校正，峰形不对称修正
4.多组数据同时精修
不同实验条件下的数据组
不同实验方法 (XPD、NPD) 的数据组互补
(F不同)，可增加结构信息量
5.常用程序DBWS、XRS、GSAS
(三)举例
c Yi c Yik k
以晶胞参数及峰形参数为变量作最小二乘拟合
c 从最佳拟合谱上得各： Yik Yi c
o o Y Y 实测谱上也有 i ik k
钢中残余奥氏体定量测量
钢中残余奥氏体定量测量钢中残余奥氏体定量测量的方法有很多种，其中包括XRD法（线对法+Rietveld法）、金相法、磁性法和EBSD法等。
以下是这些方法的简要介绍：- XRD法：- 线对法：冶金标准YB/T 5338-2019规定用X射线衍射仪（XRD）来测量钢中的残余奥氏体含量。
首先，选择α相的（200）、（211）两晶面和γ相的（200）、（220）、（311）三晶面的衍射线，然后将测量的五条衍射线进行组合，共组成六条衍射线对。
接着，分别计算每条衍射线对所对应的衍射线的累积强度之比，代入公式（1-1）即可求得残余奥氏体的含量VA。
最后，实验结果取6个VA的平均值。
其中，VA为残余奥氏体的含量，IM和IA分别是马氏体和奥氏体对应衍射线的累积强度，Vc为碳化物相的体积分数，G为强度因子系数。
- Rietveld全谱拟合结构精修方法：当试样中织构较强时，可采用此方法进行强织构试样的残余奥氏体含量分析。
该方法的基本原理是在假设晶体结构模型和结构参数基础上，结合某种峰形函数来计算多晶衍射谱，然后调整结构参数与峰形参数使计算出的衍射谱与实验谱相符合，从而确定结构参数与峰值参数的方法。
拟合采用最小二乘法，直到两者的差值最小为止。
- 金相法：又叫染色法，是一种传统的用于确定不同相所占比例的方法。
它利用不同相的着色度不同来区分各相，通过计算残余奥氏体相的面积占总面积的比例，即可获得残余奥氏体的含量。
- 磁性法：该方法通过测量外加强磁场中样品的饱和磁感应强度来计算残余奥氏体含量。
饱和磁感应强度的强弱仅仅与样品中的非磁性相（残余奥氏体）的含量有关，与样品中晶粒的择优取向无关。
- EBSD法：电子背散射衍射（Electron Backscattered Diffraction，EBSD）技术是基于扫描电镜中电子束在倾斜的样品表面激发并形成的衍射菊池带的分析来获得晶体学信息的方法。
它可以将晶体结构、取向信息与微观组织形貌相对应。
X射线衍射综合性分析实验教学模式设计
·实验教学·X 射线衍射综合性分析实验教学模式设计王古平（台州学院 医药化工与材料工程学院，台州 318000）摘要：为提高X 射线衍射（XRD ）分析应用教学水平，该文设计了一个XRD 综合性分析实验。
以立方晶体Cu 和Cr 的XRD 图为例，数学推导其布拉菲点阵、晶面指数、晶格参数。
以TiO 2的XRD 图为例，用Jade 软件分析其物相组成。
用K 值法、峰形拟合和Rietveld 全谱拟合法对样品进行了物相定量分析。
结果表明：相比于峰形拟合法，Rietveld 全谱拟合法具有不依赖于RIR 值的优点，晶体模型一致而RIR 值不同的物相组成的定量分析结果相一致，并能方便获取精确的晶胞参数值。
数学推导晶体结构及物相定量计算、软件进行物相定性以及在物相定量分析中不同软件不同方法的比较使用，能有效提高学生的XRD 理论与实践水平。
关 键 词：XRD 综合分析实验；晶体结构推导；物相定性分析；物相定量分析中图分类号：G642.0 文献标志码：A DOI: 10.12179/1672-4550.20200201Design of the Teaching Model of X-Ray DiffractionComprehensive Analysis ExperimentWANG Guping（School of Pharmaceutical and Material Engineering, Taizhou University, Taizhou 318000, China ）Abstract: In order to improve the teaching level of X-ray diffraction (XRD) analysis application, a XRD comprehensive analysis experiment is designed. Taking the XRD pattern of cubic crystals Cu and Cr as an example, the Bravais lattice, index of crystal face and lattice parameters are derived mathematically. Taking the XRD pattern of TiO 2 as an example, its phase compositions are analyzed by Jade software. The quantitative analysis of phase is obtained by K-value method, peak fitting and Rietveld whole pattern fitting.The results show that Rietveld whole pattern fitting has the advantages of being independent of RIR value compared with peak fitting;the quantitative analysis results of phase composition with the same crystal model and different RIR value are consistent; it is convenient to obtain accurate crystal cell parameter values. Mathematical derivation of crystal structure and quantitative calculation of phase, qualitative analysis of phase by software and comparative use of different software and different methods in quantitative analysis of phase can effectively improve students’ XRD theory and practice level.Key words: XRD comprehensive analysis experiment; crystal structure derivation; qualitative analysis of phase; quantitative ana-lysis of phaseX 射线衍射（XRD ）技术是一种应用广泛的无损检测技术，在材料、地质、矿产、冶金、医药、农林、建筑等领域均得到广泛应用[1−2]，可用于样品的物相类型及定量分析、晶体晶胞参数、晶体结构、晶体织构、晶粒尺寸、宏观应变、微观应变、电子散射分布函数等。
xrd计算物相含量方法
xrd计算物相含量方法一、引言X射线衍射是一种常用的非破坏性分析技术，可用于研究晶体结构和物相含量。
物相含量是指样品中各个晶相的相对比例。
通过XRD 技术，可以获取样品的衍射图谱，然后利用定量相分析方法计算出各个晶相的含量。
二、XRD技术原理XRD技术基于布拉格定律，即当入射X射线与晶面发生衍射时，满足2d sinθ = nλ的关系，其中d为晶面间距，θ为衍射角，n为整数，λ为入射X射线的波长。
通过测量衍射角θ和入射X射线波长λ，可以确定晶面间距d。
三、定量相分析方法1. 标准曲线法标准曲线法是一种常用的定量相分析方法。
首先，制备一系列已知物相含量的标准样品，并进行XRD测量，得到它们的衍射图谱。
然后，测量待测样品的衍射图谱，并将其与标准样品的衍射图谱进行比较。
根据衍射峰的强度和位置，可以推算出待测样品中各个物相的含量。
2. RIR法RIR（Rietveld Internal Standard Relative Intensity Ratio）法是一种基于内标法的定量相分析方法。
该方法通过在样品中添加已知物相含量的内标物质，来确定待测样品中各个物相的含量。
内标物质与待测样品的衍射峰强度之比称为相对强度比。
通过测量待测样品和内标物质的衍射图谱，可以计算出相对强度比，从而得到物相含量。
3. Rietveld法Rietveld法是一种基于全谱拟合的定量相分析方法。
该方法通过将样品的整个衍射图谱与已知物相的理论衍射图谱进行拟合，来确定样品中各个物相的含量。
利用最小二乘法，调整各个物相的相对比例和晶体结构参数，使得拟合曲线与实际衍射图谱最为接近。
通过对拟合参数的优化，可以得到物相含量。
四、注意事项1. 样品制备要均匀、细致，以保证测量结果的准确性。
2. XRD测量条件要合适，包括入射X射线波长、衍射角范围等。
3. 在计算物相含量时，要考虑样品的晶体结构、晶胞参数等因素，以提高计算精度。
五、总结XRD技术是一种可靠的方法，用于计算物相含量。
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! 收 稿 日 期 &,%(U%%U%A修 订 日 期 &,%*U,AU,O ! 基 金 项 目 国 家 自 然 科 学 基 金 项 目 *A%AO&,,++"广 西 自 然 科 学 基 金 项 目 *&,%A[`4>DEE%%*#,A+"广 西 高 校 重 点 实 验 室 基 金 项 目 *桂 科 隐 %&U
如在水泥 基 料 及 原 料 的 物 相 研 究 等 方 向 上 取 得 了 很 多 进 展%&U+&"而 在 地 质 学 领 域 鲜 有 应 用 和 相 关 报 道 $
在地质学领域"风化壳或土壤是一个 典 型 的 复 杂 多 相 混 合物体系$如何准确获得风化壳或土壤中 各 类 组 成 矿 物 的 含 量"特别是粘土 矿 物 含 量"一 直 是 困 扰 地 质 学 家 的 难 题%O&$ 除了采用化学分析法来间接推断土壤中的矿物组成和含量以 外"更多学者尝试通过 `PV 技术来实现粘土 矿 物 的 定 量 化" 如 Q 值法!参比强度法!基体 清 洗 法 和 内 标 法%(&等$上 述 方 法或多或少地都存在定量误差偏大的老 问 题"因 而 探 索 一 种 可靠的且能适用于风化物或土壤样品的矿物定量技术就显得 尤为必要$研究基于 P03<S31K全谱 拟 合 方 法 在 复 杂 多 相 混 合 物定量分析方面的强大功能"尝试以广西 玉 林 地 区 的 花 岗 岩
第#*卷 "第(期! !!!!!!!!!!!光 谱 学 与 光 谱 分 析 &,%* 年 ( 月!!!!!!!!!!! !>237<;G-7G2F5?K>237<;51E?51F-0-
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基于 ^!;B!/")L"2+全谱拟合技术定量分析花岗岩风化壳中矿物组成
摘!要!`PVUP03<S31K全谱拟合方法突破了传统 `PV 定量分析的众多技术局限"在解决复杂多相混合物 的 定量问题方面具有显著优势$将 `PVUP03<S31K全谱拟合方法 引 入 风 化 壳 矿 物 学 研 究"有 助 于 解 决 长 期 以 来 地学界对风化壳中矿物组分缺乏准确定量认知的技术 瓶 颈$在 制 定 专 门 针 对 风 化 样 品 的 全 谱 拟 合 精 修 策 略 基础上"以广西玉林大容山地区的花岗岩风化壳为研究对象"对发育在两组 不 同 岩 性 之 上 的 风 化 剖 面*剖 面 E 和剖面 B+进行了对比研究$结果表明"风化剖面 E*母岩 为 粗 粒 黑 云 母 花 岗 岩+的 矿 物 组 合 及 含 量 变 化 范 围为(高 岭 石 *O',+) "AA'O()+$ 伊 利 石 *%+'*+) "AZ'+Z)+$ 石 英 *&Z'(&) "AO'%+)+$ 钾 长 石 *%&',A)"&&'*+)+$斜长石*&A'##)"#&'(,)+#风化剖面 B*母岩为细粒黑云母花岗岩+的矿物组合及含 量变化范围为(高岭石*#'%&)"%%'A()+$伊利石*%#'Z+)"#%'ZA)+$ 石 英 *&O'O,) "+*',+)+$ 钾 长 石*%#'(,)"A#'A()+$斜长石*%('Z+)"&#'A()+$两组剖面的全谱拟合修正因子 !T2值&%+且 CG]值& +"计 算 谱 与 原 始 谱 拟 合 效 果 好 "指 示 矿 物 定 量 数 据 可 靠 "且 能 与 地 质 规 律 较 好 匹 配 $在 地 质 意 义 上 "本 研 究 通过母岩原生矿物与次生矿物的含量同步变化"深 入 揭 示 了 研 究 区 内 花 岗 岩 的 化 学 风 化 过 程"厘 定 了 长 石 类矿物在亚热带气候环境下所经历的长石8伊利石8高岭石演变序列$基于 剖 面 E 与 剖 面 B 中 粘 土 矿 物 总 量和矿物构成出现显著差异"研究认为在研究区内粗粒 黑 云 母 花 岗 岩 比 细 粒 黑 云 母 花 岗 岩 更 易 遭 受 强 烈 的 化学风化作用$
EU,&U,%"桂 科 能 %+U%A,U&(U%,+和 桂 林 理 工 大 学 研 究 生 创 新 项 目 *>>&,%O,%+资 助 ! 作 者 简 介 付 ! 伟 "%Z*, 年 生 "桂 林 理 工 大 学 教 授 ! !3U:501(]"T30#C1"<'3K"'7?
付 ! 伟%&彭 ! 召&曾 祥 伟#覃 建 勋A李 学 彪+赖 ! 胜&李 晓 婷&张 银 梦&
%8广西有色金属隐伏矿床勘查及材料开发协同创新中心"桂林理工大学"广西 桂林!+A%,,A!!! &8桂林理工大学地球科学学院"广西 桂林!+A%,,A #8广州市地质调查院"广东广州!+%,AA, A8广西地质调查院"广西 南宁!+#,,&# +8中国有色桂林矿产地质研究院有限公司"广西有色金属工程技术研究中心"广西 桂林!+A%,,A
关 键 词 !`PVUP03<S31K 全 谱 拟 合 #矿 物 定 量 #风 化 壳 #花 岗 岩 #广 西 中 图 分 类 号 9O+('#! ! 文 献 标 识 码 E! ! !;<=%,'#ZOAd'0--?'%,,,U,+Z#&,%*,(U&&Z,U,O
引!言
!!针对复杂多相 的 混 合 物"P03<S31K全 谱 拟 合 法 被 认 为 是 当前更可靠和 健 全 的 定 量 分 析 方 法%%&$相 比 于 传 统 的 `PV 物相定量方法"如内标法!外标法!Q 值 法!定 向 制 片 法 等" `PVUP03<S31K全谱拟 合 技 术 是 根 据 物 相 结 构 信 息 而 进 行 全 谱拟合的新方法"它省去了需 要 纯 物 质 制 作 标 准 衍 射 图"能 有效消除结晶度和择优取向等对衍射强 度 的 影 响"改 善 了 只 依赖特征峰进行标定的局限性"有效解决 了 多 相 混 合 物 衍 射 峰重叠等问题"从 而 获 得 更 准 确 的 定 量 分 析 结 果%&&$当 前" 国内对 `PVUP03<S31K全 谱 拟 合 技 术 的 应 用 集 中 在 材 料 领 域"