温度源的温度控制实验

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温度控制的实验报告

温度控制的实验报告

温度控制的实验报告1. 引言温度是物体分子热运动的表现,是许多实验和工业过程中需要精确控制的一个变量。

本实验旨在研究温度控制的原理和方法,通过实验验证不同温控设备的性能,并对温度控制的误差进行分析。

2. 实验目的1. 了解温度控制的基本原理和方法;2. 掌握温度控制设备的操作方法;3. 分析温度控制的误差来源,并提出改进方案。

3. 实验装置和材料- 温度控制设备:恒温水浴器、温度计;- 反应容器:玻璃烧杯、烧杯夹;- 实验溶液:蒸馏水。

4. 实验步骤1. 将恒温水浴器放在实验台上,接通电源并调整温度设置;2. 在玻璃烧杯中加入适量蒸馏水;3. 将烧杯夹固定在温水浴器外壁上,并将玻璃烧杯置于夹子中,使其与恒温水浴器中的水接触;4. 等待一段时间,使烧杯中的水温稳定在设定的温度;5. 用温度计测量烧杯中水的实际温度,并记录下来;6. 根据测量结果,分析温度控制设备的误差和准确度。

5. 实验结果设置温度() 实际温度():: ::30 29.540 39.850 49.960 59.76. 结果分析通过实验结果可以看出,温度控制设备在大部分情况下能够实现较为准确的温度控制,但仍存在一定的误差。

可能的误差来源包括:1. 温度计的准确度:温度计本身存在一定的误差,会对实际温度测量结果产生影响;2. 温度控制设备的稳定性:恒温水浴器在调整温度过程中可能存在波动,导致实际温度与设定温度不完全一致;3. 烧杯和夹子的传热性能:烧杯与恒温水浴器之间的传热效果可能存在差异,影响实际温度的稳定性。

为减小温度控制误差,可以采取以下改进措施:1. 使用更加精准的温度计进行测量,减小温度计本身误差对实验结果的影响;2. 对恒温水浴器进行进一步调试,提高其温度控制的稳定性;3. 优化烧杯与夹子之间的接触条件,改善传热效果。

7. 结论通过本实验的探究,我们对温度控制的原理和方法有了更深入的了解,并掌握了温度控制设备的操作方法。

温度控制系统实验报告

温度控制系统实验报告

温度控制系统实验报告温度控制系统实验报告一、引言温度控制系统作为现代自动化领域的重要组成部分,广泛应用于工业生产、家电和环境控制等领域。

本实验旨在通过搭建一个简单的温度控制系统,了解其工作原理和性能特点。

二、实验目的1. 了解温度控制系统的基本原理;2. 掌握温度传感器的使用方法;3. 熟悉PID控制算法的应用;4. 分析温度控制系统的稳定性和响应速度。

三、实验装置本实验使用的温度控制系统由以下组件组成:1. 温度传感器:用于测量环境温度,常见的有热敏电阻和热电偶等;2. 控制器:根据温度传感器的反馈信号,进行温度控制;3. 加热器:根据控制器的输出信号,调节加热功率;4. 冷却装置:用于降低环境温度,以实现温度控制。

四、实验步骤1. 搭建温度控制系统:将温度传感器与控制器、加热器和冷却装置连接起来,确保各组件正常工作。

2. 设置控制器参数:根据实际需求,设置控制器的比例、积分和微分参数,以实现稳定的温度控制。

3. 测量环境温度:使用温度传感器测量环境温度,并将测量结果输入控制器。

4. 控制温度:根据控制器输出的控制信号,调节加热器和冷却装置的工作状态,使环境温度保持在设定值附近。

5. 记录数据:记录实验过程中的环境温度、控制器输出信号和加热器/冷却装置的工作状态等数据。

五、实验结果与分析通过实验数据的记录和分析,我们可以得出以下结论:1. 温度控制系统的稳定性:根据控制器的调节算法,系统能够在设定值附近维持稳定的温度。

但是,由于传感器的精度、控制器参数的选择等因素,系统可能存在一定的温度波动。

2. 温度控制系统的响应速度:根据实验数据,我们可以计算出系统的响应时间和超调量等参数,以评估系统的控制性能。

3. 温度传感器的准确性:通过与已知准确度的温度计进行对比,我们可以评估温度传感器的准确性和误差范围。

六、实验总结本实验通过搭建温度控制系统,探究了其工作原理和性能特点。

通过实验数据的分析,我们对温度控制系统的稳定性、响应速度和传感器准确性有了更深入的了解。

实验室温度控制技术使用指南

实验室温度控制技术使用指南

实验室温度控制技术使用指南在现代科学研究中,实验室温度控制是一个至关重要的环节。

温度的变化能够直接影响实验结果的准确性和可重复性。

因此,对于实验室温度的控制非常重要。

本文将介绍一些实验室温度控制技术的使用指南,帮助科研人员更好地进行实验。

1. 环境温度的控制实验室内的环境温度对于实验结果的准确性有着重要的影响。

首先,实验室应该安装空调设备,并确保温度的稳定性和均匀性。

一般来说,实验室的温度应该保持在20℃-25℃之间,以避免外界温度对实验结果的影响。

此外,实验室还需配备温湿度记录仪,以实时监测环境温湿度的变化情况。

2. 实验器材的温度控制实验器材的温度对实验结果同样至关重要。

不同的实验对温度控制的要求各不相同。

在低温实验中,科研人员可以使用低温冰箱或液氮罐等设备来控制样品温度。

而在高温实验中,可以使用高温炉等设备来控制试剂或样品的温度。

此外,在一些需要控制反应温度的化学合成实验中,可以通过加热器或冷却器来调控反应过程的温度。

3. 恒温槽的使用恒温槽是实验室中常见的温度控制设备,它能够通过水或液态介质来维持设定的恒定温度。

在使用恒温槽时,科研人员需注意以下几点:(1)选择适合的介质:根据实验的需求选择合适的液态介质,如水、油或其他能够满足实验要求的介质。

(2)设定合适的温度:根据实验需求设定合适的温度,并确保恒温槽能够稳定地维持该温度。

(3)注意散热问题:长时间运行恒温槽会产生热量,为防止过热损坏设备,应保证恒温槽有足够的散热条件。

4. 温度控制曲线的绘制和分析为了更好地了解实验过程中温度的变化情况,科研人员可以通过绘制温度控制曲线来分析实验结果。

绘制温度控制曲线需要记录实验过程中的温度变化,并将数据进行整理和分析。

这些曲线可以帮助科研人员发现实验过程中的异常温度变化,以及在实验设计、仪器选择和参数优化等方面提供指导。

综上所述,实验室温度控制在科学研究中起着至关重要的作用。

科研人员应该关注实验室环境温度的控制、实验器材温度的调节、恒温槽的使用以及温度控制曲线的分析。

温度控制实验技术的使用方法与调优技巧

温度控制实验技术的使用方法与调优技巧

温度控制实验技术的使用方法与调优技巧引言:温度控制是许多实验和工业过程中的重要环节。

不同实验室应用和工业生产过程中的温度要求各异,因此温度控制的准确性和稳定性对实验结果和工业产品的质量至关重要。

本文将介绍一些常见的温度控制实验技术的使用方法和调优技巧,帮助读者更好地掌握这一关键领域。

一、传统温度控制技术的使用方法1.1 温控仪的选择在常见的温度控制实验中,我们通常会使用温控仪来监测和控制温度。

选择适合实验需求的温控仪十分重要。

常见的温控仪有PID控制器、ON/OFF控制器等。

PID控制器通常能提供更精确的温度控制,而ON/OFF控制器则适用于对温度要求不是很高的实验。

1.2 温度传感器的安装和校准温度传感器是传统温度控制系统中不可或缺的组成部分。

在使用温度传感器前,我们需要确保其准确性和精度。

安装温度传感器时,避免其与外界环境发生热交换,防止测量误差的产生。

此外,定期对温度传感器进行校准是必不可少的步骤,以保证测量结果的准确性。

1.3 控制器参数的设定在使用传统温度控制技术时,我们需要设定一些控制器的参数,以实现对温度的准确控制。

常见的参数包括P(比例系数)、I(积分时间)和D(微分时间),它们的设定与实验要求和系统的惯性有关。

一般而言,P系数较大可提供较快的响应,而较小的I和D系数可使控制更加平稳。

在设定参数时,我们可以根据实验数据进行反复试验和调整,以达到最佳的控制效果。

二、现代温度控制技术的调优技巧2.1 模型预测控制(MPC)模型预测控制是一种基于系统动态模型的高级控制技术。

它可以根据系统的状态和被控对象的动态特性进行预测,并通过优化算法计算出最优的控制策略。

MPC技术在温度控制中的应用越来越广泛,可以提供更高的控制精度和鲁棒性。

2.2 自适应控制自适应控制技术能够根据被控对象的动态变化和环境条件的变化,在控制过程中自动地调整控制算法和参数。

与传统方法相比,自适应控制能够更好地适应不确定性和变化性,提供更加稳定和精确的温度控制。

温度控制器实验报告

温度控制器实验报告

温度控制器实验报告目录一、实验概述 (2)1. 实验目的 (2)2. 实验设备与材料 (2)3. 实验原理 (3)二、实验内容与步骤 (4)1. 实验内容 (5)1.1 温度控制器的基本操作 (6)1.2 温度控制器的参数设置与调整 (7)2. 实验步骤 (8)2.1 安装温度控制器 (9)2.2 校准温度计 (9)2.3 设置温度控制器参数 (11)2.4 观察并记录实验数据 (13)2.5 分析实验结果 (13)三、实验数据与结果分析 (14)1. 实验数据 (15)1.1 温度控制器的温度读数 (17)1.2 温度控制器的设定温度 (18)1.3 温度控制器的实际输出温度 (19)2. 结果分析 (19)2.1 温度控制器的性能评价 (20)2.2 温度控制器在不同条件下的适应性分析 (21)四、实验结论与建议 (22)1. 实验结论 (23)2. 实验建议 (24)一、实验概述本实验旨在通过设计和制作一个温度控制器,让学生了解温度控制器的基本原理、结构和工作原理,并掌握温度控制器的制作方法。

学生将能够熟练掌握温度控制器的设计、制作和调试过程,为今后从事相关领域的工作打下坚实的基础。

本实验的主要内容包括,在实验过程中,学生将通过理论学习和实际操作相结合,全面掌握温度控制器的相关知识和技能。

1. 实验目的本实验旨在探究温度控制器的性能及其在实际应用中的表现,通过一系列实验,了解温度控制器的控制原理、操作过程以及性能特点,验证其在实际环境中的温度控制精度和稳定性。

本实验也旨在培养实验者的实践能力和问题解决能力,为后续相关领域的深入研究和实践打下坚实的基础。

2. 实验设备与材料温度控制器:作为实验的核心设备,本实验选择了高精度数字式温度控制器,具备较高的稳定性和精确度,能够确保实验结果的可靠性。

恒温箱实验箱:为了模拟不同的环境温度,采用了具有温控功能的恒温箱或实验箱。

通过调节箱内的温度,可以观察温度控制器在不同环境下的表现。

温度的控制实验报告

温度的控制实验报告

温度的控制实验报告温度的控制实验报告一、引言温度是我们日常生活中非常重要的一个因素,它不仅影响着我们的舒适度,还对各种化学、物理和生物过程起着重要作用。

为了更好地理解和控制温度,我们进行了一系列实验。

二、实验目的本次实验的目的是探究不同因素对温度的影响,并寻找最佳的温度控制方法。

三、实验材料与方法1. 实验材料:- 温度计- 恒温箱- 热水槽- 冷却器- 实验容器2. 实验方法:- 将温度计插入实验容器中,以测量温度。

- 将实验容器放置在恒温箱中,并设定不同的温度。

- 将实验容器放置在热水槽或冷却器中,以改变温度。

- 记录不同条件下的温度变化。

四、实验结果与分析1. 温度与环境因素的关系:我们首先探究了温度与环境因素的关系。

在恒温箱中,我们设定了不同的温度,分别是25°C、30°C、35°C和40°C。

通过观察温度计的读数,我们发现温度随着设定值的增加而上升,这表明环境温度对实验容器内的温度有直接影响。

2. 温度与时间的关系:我们进一步研究了温度与时间的关系。

在恒温箱中设定了一个温度,并记录了实验容器内的温度随时间的变化。

实验结果显示,温度在设定值附近波动,并逐渐趋于稳定。

这表明温度需要一定的时间来达到平衡状态。

3. 温度与介质的关系:我们还研究了温度与介质的关系。

通过将实验容器放置在热水槽或冷却器中,我们改变了介质的温度。

实验结果表明,实验容器内的温度随着介质温度的变化而变化。

这说明介质的温度对实验容器内的温度有直接影响。

五、实验结论通过本次实验,我们得出了以下结论:1. 温度受环境因素的影响,不同的环境温度会导致实验容器内的温度变化。

2. 温度需要一定的时间来达到平衡状态。

3. 介质的温度对实验容器内的温度有直接影响。

六、实验改进与展望在本次实验中,我们仅探究了温度与环境因素、时间和介质的关系。

未来的实验可以进一步研究其他因素对温度的影响,如湿度、压力等。

温度控制实验

温度控制实验

PID
PROC NEAR MOV AX,UR MOV BL,ADZ MOV BH,0 CLC SBB AX,BX MOV SI,OFFSET E0 MOV [SI],AX MOV BX,KP IMUL BX MOV SI,OFFSET PPK MOV [SI],AX MOV [SI+2],DX MOV SI,OFFSET E0 MOV AX,[SI] MOV BX,KI IMUL BX MOV SI,OFFSET PIK1
data ends
CODE SEGMENT ASSUME CS:CODE,ds:data START: mov ax,data mov ds,ax PUSH DS MOV DX,MY8255_MODE ;初始化8255工作方式 MOV AL,80H OUT DX,AL MOV DX,MY8255_b MOV AL,0H OUT DX,AL cli mov al,1ch mov ah,35h int 21h ;取中断矢量 ;初始化8255工作方式 ;工作方式0,A口输出,B口输入 ;工作方式0,A口输出,B口输入
MOV AL,36H
OUT DX,AL
MOV DX,PC8254_COUNT0; 系统时钟CLK=1.041667MHz MOV AL,69H; 2D69H = 11625B 11625/CLK=11.16ms OUT DX,AL; MOV AL,2DH OUT DX,AL PPP0: sti CALL PICKAD PPP: CMP CNT,250 JE RP1 JMP PPP RP1: MOV CNT,0 CALL PICKAD mov ax,data mov ds,ax 应该为 28B0
用户利用int1ch定时执行的特点改变int1ch的中断矢量使之指向用户编写的定时操作程序即可使cpu在运行主程序过程中定时完成指定的操作如图346所示

温度检测与控制实验报告

温度检测与控制实验报告

实验三十二温度传感器温度控制实验1.了解温度传感器电路的工作原理2.了解温度控制的基本原理3.掌握一线总线接口的使用这是一个综合硬件实验,分两大功能:温度的测量和温度的控制。

1.DALLAS 最新单线数字温度传感器 DS18B20 简介Dallas 半导体公司的数字化温度传感器 DS1820 是世界上第一片支持“一线总线”接口的温度传感器。

现场温度直接以“一线总线”的数字方式传输,大大提高了系统的抗干扰性。

适合于恶劣环境的现场温度测量,如:环境控制、设备或者过程控制、测温类消费电子产品等。

与前一代产品不同,新的产品支持3V~5.5V 的电压范围,使系统设计更灵便、方便。

DS18B20 测量温度范围为 -55°C~+125°C,在-10~+85°C 范围内,精度为±0.5°C。

DS18B20 可以程序设定 9~12 位的分辨率,及用户设定的报警温度存储在EEPROM 中,掉电后依然保存。

DS18B20 内部结构DS18B20 内部结构主要由四部份组成: 64 位光刻ROM、温度传感器、非挥发的温度报警触发器 TH 和 TL、配置寄存器。

DS18B20 的管脚罗列如下: DQ 为数字信号输入/输出端; GND 为电源地; VDD 为外接供电电源输入端(在寄生电源接线方式时接地)。

光刻ROM 中的 64位序列号是出厂前被光刻好的,它可以看做是该DS18B20 的地址序列码。

64 位光刻 ROM 的罗列是:开始 8 位(28H)是产品类型标号,接着的 48 位是该 DS18B20 自身的序列号,最后 8 位是前面 56 位的循环冗余校验码(CRC=X8+X5+X4+1)。

光刻 ROM 的作用是使每一个 DS18B20都各不相同,这样就可以实现一根总线上挂接多个DS18B20 的目的。

DS18B20 中的温度传感器可完成对温度的测量,以 12 位转化为例:用 16 位符号扩展的二进制补码读数形式提供,以 0.0625℃/LSB 形式表达,其中 S 为符号位。

PID温度控制实验

PID温度控制实验

PID温度控制实验PID 温度控制实验PID( Proportional Integral Derivative)控制是最早发展起来的控制策略之⼀,它根据系统的误差,利⽤⽐例、积分、微分计算出控制量对系统进⾏控制。

当我们不完全了解⼀个系统和被控对象,或不能通过有效的测量⼿段来获得系统参数时,最适合⽤PID 控制技术。

由于其算法简单、鲁棒性好和可靠性⾼,被⼴泛应⽤于⼯业过程控制。

PID 调节控制是⼀个传统控制⽅法,它适⽤于温度、压⼒、流量、液位等⼏乎所有现场,不同的现场,仅仅是PID 参数应设置不同,只要参数设置得当均可以达到很好的效果。

本实验以PID 温度控制为例,通过此实验可以加深对检测技术、⾃动控制技术、过程控制等专业知识的理解。

⼀、实验⽬的 1、了解PID 控温原理2、掌握正校实验的⽅法,并⽤正交实验法来确定最佳P 、I 、D 参数3、会求根据温度变化曲线求出相应的超调量、稳态误差和调节时间的⽅法⼆、仪器与⽤具加热装置、加热控制模块、单⽚机控制及显⽰模块、配套软件、电脑。

三、实验原理1、数字PID 控制原理数字PID 算法是⽤差分⽅程近似实现的, ⽤微分⽅程表⽰的PID 调节规律的理想算式为:01()()[()()]tP D I de t u t K e t e t dt T T dt=++? (1)单⽚机只能处理数字信号,上式可等价于:10[()]nDn P n i n n i IT TU K e e e e T T-==++-∑ (2)(2)式为位置式PID 算法公式。

也可把(2)式写成增量式PID 算法形式:1112[(2)]D n n n P n n n n n n I T TU U U K e e e e e e T T----?=-=-++-+ (3)其中, e n 为第n 次采样的偏差量;e n-1为第n- 1次采样的偏差量;T 为采样周期;T I 为积分时间;T D 为微分时间;K P 为⽐例系数。

使用恒温器进行精确温度控制的实验技巧

使用恒温器进行精确温度控制的实验技巧

使用恒温器进行精确温度控制的实验技巧温度是许多科学实验中一个关键的变量,而恒温器是用来控制和维持特定温度的设备。

在实验中,精确的温度控制对于获得准确的结果至关重要。

以下是一些使用恒温器进行精确温度控制的实验技巧。

首先,选择适当的恒温器非常重要。

恒温器的稳定性、精确性和可调范围是选择的关键因素。

确保选择与实验需求相符的恒温器是成功控制温度的第一步。

第二,合理设置恒温器。

在设定温度前,对恒温器进行适当的预热是十分必要的。

预热的目的是让仪器在合适的温度范围内稳定运行。

通常建议在设定温度之前,将恒温器预热至目标温度的0.5-1.0度。

第三,正确放置实验样品。

为了获得准确的温度控制,实验样品的放置非常重要。

将样品放置在恒温器中心位置可以避免温度梯度造成的误差。

确保样品与温度探头(一般是热电偶或温度传感器)的接触良好,这样可以保证温度的准确度。

第四,准备合适的控制系统。

恒温器通常配备了温度控制系统,包括温度传感器和反馈回路。

在进行实验之前,需要确保控制系统正常工作。

校准温度传感器以保证准确度,并确保反馈回路稳定运行。

第五,使用嵌套恒温器进行大容量实验。

如果需要进行大容量实验,使用嵌套恒温器是一个不错的选择。

嵌套恒温器可以提供更大的工作容量,并且在控制温度变化时更为稳定。

这可以确保实验在整个温度范围内都能获得高准确度。

第六,注意周围环境的影响。

恒温器的正常工作还需要注意周围环境的影响。

避免阳光直射、气流干扰或温度波动等因素对温度控制产生干扰。

在实验室中进行实验时,保持恒温器周围的环境稳定将有助于提高温度的准确性和稳定性。

第七,进行恒温器的校准和维护。

定期校准恒温器是保持准确温度控制的关键。

使用可追踪的热电偶或温度校准仪器进行校准,并记录校准结果。

同时,进行定期的维护,及时更换老化的部件,以确保恒温器的稳定性和长久的使用寿命。

综上所述,使用恒温器进行精确温度控制的实验技巧包括选择适当的恒温器、合理设置恒温器、正确放置实验样品、准备合适的控制系统、使用嵌套恒温器进行大容量实验、注意周围环境的影响以及进行恒温器的校准和维护。

实验二十六 温度传感器及温度控制实验

实验二十六  温度传感器及温度控制实验

实验二十六 温度传感器及温度控制实验(AD590)一、实验目的1、熟悉半导体型温度传感器AD590的基本性能。

2、应用AD590实现对温度的检测和简单控制。

二、实验所用单元温度传感器、温度传感器转换电路板、温度控制电路板、玻璃管水银温度计、直流稳压电源、低压交流电源、数字电压表、位移台架。

三、实验原理及电路1、温度传感器电路如图26-1所示。

AD590能把温度信号转变为与绝对温度值成正比的电流信号I 0,比例因子为1μA/K 。

通过运算放大器实现电流运算102I I I -=,在运算放大器输出端得到与温度成线性关系的电压U O 。

通过调节电位器RP 1和RP 2,可以使U O 在被测温度范围内具有合适数值。

例如被测温度范围为0~100℃,则可在0℃时,调节RP 1使U O 为0V ;在100℃时,调节RP 2使U O 为5V ,这样被测温度每变化1℃对应U O 变化50mV 。

R R AD 590图26-1 温度传感器实验原理图在本实验中,由于0℃和100℃这两个温度不便得到,因此温度/电压的标定采用理论值推算的方法。

在0℃下AD590的电流理论值为273.2μA ,要使输出电压U O 为0V ,则I 0与I 1相等:A2.273RP R V 5I I 1101μ=+==,那么Ω=μ=+K 31.18A2.273V 5RP R 11100℃下AD590的电流理论值为373.2μA ,此时要使U O 为5V ,则:A100I I RP R U I 1022O 2μ=-=+=,那么Ω=μ=+K 50A100V 5RP R 222、如果将转换电路的输出电压连接到加热及温度控制电路中(图26-2)的电压比较器,通过继电器控制保温盒电热元件的通电或断电,这样根据电压比较器调温端的基准电压大小,就能使保温盒内的温度保持在某一数值范围内。

+5V 1R图26-2 加热及温度控制电路图四、实验步骤1、固定好位移台架,将温度传感器置于位移台架上,将水银温度计插入温度传感器上方的小孔内,轻靠在温度传感器上。

一、实验原理温度源把温度信号转成电信号,模块将采集到的模拟量...

一、实验原理温度源把温度信号转成电信号,模块将采集到的模拟量...

一、实验原理温度源把温度信号转成电信号,模块将采集到的模拟量转化成数字量与上位机(计算机)通过232接口通讯,上位机发出相应的指令控制反馈模块对输出量进行实时控制。

这样就构成了一个计算机温度控制系统。

在定时(5秒)过程中通过控制加热开关的导通和闭合的时间比达到温度控制的目的。

二、实验目的及内容1、目的建立计算机温度控制的实践基础。

综合应用所学过的传感器知识,计算机数据采集知识和控制算法,自行设计一个计算机温度控制系统,理解计算机控制系统的基本构成。

2、内容可通过图1中的任何路径来组建计算机温度控制方案。

图1.计算机温度控制方案在本实验中,采用K热电偶作为传感器,通过采集模块将信号输给计算机。

通过在VB环境下对其进行编程,选用PID控制。

三、实验仪器设备1、CSY-2000型温度源,220V交流电提供加热电源,24V直流电提供风扇电源。

2、工业控制计算机。

3、K型热电偶。

4、台湾铭纬开关电源,220V交流电输入,输出直流电压24V,电流1.5A。

5、SASR-25DA施耐德固态继电器,输入直流电压3~32V,输出交流电压24~380V。

6、台湾泓格公司模块7018、7060、7520,24V直流供电。

7、计算机及232串口线。

8、导线若干。

四、实验方法与步骤1、打开E盘下面的“温度控制.BMP”文件,按照图中所示接线。

其中,220V交流电为系统提供加热电源,开关电源将其转化为24V直流电,为模块和温度源的冷却风扇供电。

K热电偶作为传感器将温度信号转化为有用的电压信号传入7018模块。

7018是一个AD转换模块,它能将电压模拟量转化为机器能识别的数字量,通过DATA口与另外两个模块进行数据传输。

各模块之间采用的是485方式通讯,而计算机只有232接口,7520能将这两种方式互相转化,从而使模块和计算机之间能够进行通讯。

当信号传到计算机上时,计算机通过PID算法对7060模块发出相应的指令。

7060是一个继电器开关模块,收到指令后,控制固态继电器的闭合时间,从而控制温度源加热的时间,起到调节温度的效果。

物理实验技术中温度控制的方法与技巧

物理实验技术中温度控制的方法与技巧

物理实验技术中温度控制的方法与技巧引言:温度是物理实验中一个非常关键的参数,它直接影响着实验结果的准确性和可重复性。

因此,在物理实验中正确控制温度是非常重要的。

本文将介绍一些物理实验技术中温度控制的方法与技巧。

一、传统温度控制方法传统的温度控制方法主要包括两种,即通过热源和冷源的调节来控制温度。

1. 热源:常见的热源包括热水浴、加热板等。

通过调节热源的温度,可以控制实验器材的温度。

这种方法相对简单易行,但需要注意热源的温度稳定性和均匀性,以免对实验结果产生影响。

2. 冷源:冷源的主要作用是降低实验器材的温度。

常见的冷源包括冷冻液、制冷机等。

选择合适的冷源可以根据实验的具体要求和温度范围决定。

二、新型温度控制方法随着科技的发展,新型的温度控制方法应运而生。

其中包括以下几种方法:1. 激光冷却技术:激光冷却技术是一种新型的温度控制技术,它利用激光束对原子或分子进行冷却,从而降低其温度。

这种方法具有温度控制范围广、精度高的优点,尤其适用于一些高温实验。

2. 纳米材料温度控制技术:纳米材料具有了特殊的热传输性能和表面活性,使得通过纳米材料来控制温度成为可能。

纳米材料在物理实验中可以通过吸附、反射等方式来实现温度的控制。

三、技巧与注意事项在物理实验中,不仅需要掌握温度控制的方法,还需要注意一些技巧和注意事项,以确保实验的成功和准确性。

1. 温度传感器的选择:选择合适的温度传感器是保证温度控制准确的前提。

常见的温度传感器有热电偶、热敏电阻、红外线测温等。

根据实验要求选择合适的温度传感器,同时要注意其精度和响应速度。

2. 温度梯度的控制:在一些实验中,需要产生温度梯度来研究物质的变化规律。

掌握合适的温度梯度控制方法可以提高实验的效果。

例如,在某些实验中可以通过改变加热/冷却源的位置来调节温度梯度。

3. 温度稳定性和均匀性的控制:在温度控制过程中,要注意温度的稳定性和均匀性。

为了保证温度的稳定,可以采用PID控制等自动控制方法。

实验六 PT100温度控制实验

实验六  PT100温度控制实验

实验六PT100温度控制实验一、实验目的了解PID智能模糊+位式调节温度控制原理。

二、实验仪器智能调节仪、PT100、温度加热源。

三、实验原理位式调节位式调节(ON/OFF)是一种简单的调节方式,常用于一些对控制精度不高的场合作温度控制,或用于报警。

位式调节仪表用于温度控制时,通常利用仪表内部的继电器控制外部的中间继电器再控制一个交流接触器来控制电热丝的通断达到控制温度的目的。

PID智能模糊调节PID智能温度调节器采用人工智能调节方式,是采用模糊规则进行PID调节的一种先进的新型人工智能算法,能实现高精度控制,先进的自整定(AT)功能使得无需设置控制参数。

在误差大时,运用模糊算法进行调节,以消除PID饱和积分现象,当误差趋小时,采用PID算法进行调节,并能在调节中自动学习和记忆被控对象的部分特征以使效果最优化,具有无超调、高精度、参数确定简单等特点。

温度控制基本原理由于温度具有滞后性,加热源为一滞后时间较长的系统。

本实验仪采用PID智能模糊+位式双重调节控制温度。

用报警方式控制风扇开启与关闭,使加热源在尽可能短的时间内控制在某一温度值上,并能在实验结束后通过参数设置将加热源温度快速冷却下来,可以节约实验时间。

当温度源的温度发生变化时,温度源中的热电阻Pt100的阻值发生变化,将电阻变化量作为温度的反馈信号输给PID智能温度调节器,经调节器的电阻-电压转换后与温度设定值比较再进行数字PID运算输出可控硅触发信号(加热)和继电器触发信号(冷却),使温度源的温度趋近温度设定值。

PID智能温度控制原理框图如图26-1所示。

图26-1 PID智能温度控制原理框图三、实验内容与步骤1.将加热源箱子和实验台按图26-2接线。

2. 打开屏上的电源和智能调节仪的电源,以及加热箱的加热开关。

3.按住约3秒,PV 窗口显示“”进入智能调节仪参数设定,继续按键,PV窗口显示各个参数,SV窗口显示对应参数的值,按“”可改变参数值小数点位置,按、可改变SV窗口参数的值。

实验室温度控制的技巧和注意事项

实验室温度控制的技巧和注意事项

实验室温度控制的技巧和注意事项实验室温度控制是科研工作中非常重要的环节之一,合理的温度控制有助于提高实验结果的准确性和可重复性。

本文将讨论实验室温度控制的一些常见技巧和注意事项。

一、选择合适的温度范围和设备在进行实验之前,首先要明确所需的温度范围。

不同实验对温度要求不同,有的需要低温环境,有的需要高温环境,而有些实验则对室温有要求。

根据实验需要选择合适的温度设备,例如恒温槽、温度控制箱等。

二、合理安置温度设备温度设备的安置位置也会影响实验结果。

实验室中存在着各种设备和仪器,例如离心机、显微镜等,这些设备会产生热量,因此应与温度设备进行合理的隔离,以免相互干扰。

另外,温度设备也应避免阳光直射,因为阳光会使温度上升,影响实验精度。

三、及时检查和校准温度设备温度设备在长期使用后容易出现偏差,因此需要定期检查和校准。

可以使用温度计或其他温度校准设备进行检验,确保温度设备的准确性和稳定性。

同时,还要注意及时更换老化的设备或损坏的零件,以保证温度控制的可靠性。

四、控制室内环境实验室的室内环境对温度控制也有很大影响。

首先,要保证实验室的通风良好,避免室内温度局部过高或过低,影响实验的结果。

在使用温度设备时,要将其他设备的热量排除出去,以保持环境的稳定性。

另外,室内还要控制湿度,避免湿度过高或过低对实验产生干扰。

五、注意样本的温度适应性在进行实验前,要对待测样本的温度适应性进行评估。

有些样本对温度的适应范围较窄,过高或过低的温度都可能导致实验结果的偏差。

因此,在设定实验温度时,要根据不同样本的特性来进行调整,尽量使样本处于最适合的温度环境中。

六、注意温度变化的影响实验过程中,温度的变化可能会对实验结果产生影响。

在实验过程中,要注意温度的变化趋势和幅度,及时进行调整和记录。

同时,还要注意温度变化对实验结果的影响,比如某些实验在温度变化时会出现物质相变,这也需要在实验设计和数据解释时加以考虑。

总之,在进行实验室工作时,合理的温度控制是确保实验结果可靠性的重要因素。

实验34-温度控制系统的开环控制和闭环控制

实验34-温度控制系统的开环控制和闭环控制

实验三十四 温度控制系统的开环控制和闭环控制(自动控制理论—检测技术综合实验)一、 实验原理1.温度控制问题温度是一个极易受环境、负载变化而变化的物理量。

温度控制应用很广,从温室的温度、冶炼时的炉温、化工产品生产制造工艺过程对恒温的需要,到家用电器的温度控制(如电磁炉温度控制)、等等,都需保持温度为恒定值,或按照一定规律变化。

扰动导致的输出(温度)偏离希望值可以通过闭环控制得到抑制。

温度控制系统除了受到负载扰动(如电加热炉的水温控制中,热水因供水需要不断减少和不断补充加入的冷水)的影响外,与其它物理量(如转速、电压、电流等)的控制不同的是,被控的温度容易受到环境温度的影响;此外,温度控制对象(如电炉)具有滞后的特性,即除了一般系统的惯性)1(1+Ts 外,还有一个明显滞后的环节,构成了具有滞后特性的一阶(或二阶)环节:s e τ−1)(+=−Ts e K s G sp τ (34-1) 其中τ远大于T 。

由开环系统的Nyquist 图分析可知,当被控对象不存在滞后特性,即控制系统的开环传递函数为)1()(+=Ts K s G p 时,其Nyquist 图(图34-1)不包围(-1,j0)点,无论增益K 为多大,对应的闭环系统总是稳定的。

而对象具有滞后特性(式(34-1))时,对应的Nyquist 图如图34-2,由于纯滞后环节的相频特性加上τωτωj e j −=∠−)1(+Ts K 的滞后相频特性,相位比仅有)1(+Ts K 环节时更加滞后,Nyquist 图与负实轴有无穷多个穿越点。

当增益K 增大到一定程度时,Nyquist 图顺时针包围(-1,j0)点,系统不稳定。

图34-2 具有滞后特性的惯性环节的Nyquist 图Re Im 图34-1 惯性环节的Nyquist 图因此,温度的控制控制,不能简单地采用普通的PI 控制,或PID 控制,或其它的超前-迟后控制。

从闭环特征方程0)()(1=+s G s G p c 上看,特征方程所对应的相位延迟很大;而控制器(校正环节)的传递函数∏∏==−−=1111)()()(n i ic m j j c c c p s zs K s G (34-2) 中,校正环节中的PI 控制特性或校正网络极点仍具有迟后特性,会导致系统的不稳定性更严重;而其中的超前环节(零点)相对于滞后环节而言时间常数太短(电子元件构成的校正环节不可能产生足以补偿温度对象这样的纯滞后环节的时间常数),因此对系统存在的不稳定性无任何改善作用。

温度控制器实验报告

温度控制器实验报告

温度控制器实验报告温度控制器实验报告引言:温度控制器是一种广泛应用于工业领域的自动控制设备。

它能够通过对温度的监测和调节,实现对温度的精确控制。

本实验旨在通过搭建一个简单的温度控制器系统,探索其工作原理和性能特点。

实验目的:1.了解温度控制器的基本原理和工作方式;2.掌握温度控制器的搭建和调试方法;3.研究温度控制器的响应速度和稳定性。

实验原理:温度控制器主要由传感器、比较器、控制器和执行器等组成。

传感器负责检测环境温度,并将信号转化为电信号输入到比较器中。

比较器将传感器信号与设定的温度值进行比较,然后输出控制信号给控制器。

控制器根据比较器的输出信号来调节执行器的工作状态,从而实现温度的控制。

实验步骤:1.搭建温度控制器系统:将传感器与比较器、控制器和执行器依次连接起来,组成一个完整的温度控制器系统。

2.设定温度值:通过调节比较器上的旋钮,设定一个期望的温度值,作为控制器的参考。

3.监测温度变化:将传感器放置在需要控制温度的环境中,实时监测温度的变化。

4.控制温度:当环境温度超过或低于设定的温度值时,比较器会输出相应的控制信号,控制器根据信号来调节执行器的工作状态,从而使环境温度逐渐趋于设定值。

5.记录实验数据:记录温度控制器的响应时间和温度稳定性等数据,以便后续分析和评估。

实验结果:通过实验观察和数据记录,我们可以得到以下结论:1.温度控制器的响应速度与环境温度的变化幅度有关。

当温度变化较大时,控制器的响应速度较快;当温度变化较小时,控制器的响应速度较慢。

2.温度控制器的稳定性取决于传感器的准确性和控制器的精度。

传感器的准确性越高,控制器的稳定性就越好。

3.温度控制器在长时间运行后可能出现漂移现象,即温度偏离设定值。

这可能是由于环境因素和设备老化等原因导致的,需要定期进行校准和维护。

实验总结:本实验通过搭建一个简单的温度控制器系统,深入了解了温度控制器的工作原理和性能特点。

通过观察实验结果,我们可以得出温度控制器的响应速度和稳定性与环境温度变化幅度、传感器准确性以及设备维护等因素有关。

物理实验技术中的温度控制与调节方法

物理实验技术中的温度控制与调节方法

物理实验技术中的温度控制与调节方法在物理学研究和实验中,温度控制和调节是至关重要的环节。

准确控制温度的能力可以确保实验结果的可重复性和准确性。

本文将探讨物理实验技术中的温度控制与调节方法,并介绍一些常用的实验技术与设备。

1. 温度控制的重要性温度是物质性质和行为的重要参量之一。

在物理实验中,不同的温度条件可以帮助研究人员了解物质的热力学性质、相变行为以及其他重要现象。

然而,温度的变化也会导致实验结果的不确定性和误差。

因此,准确控制温度对于实验结果的可靠性至关重要。

2. 常用的温度控制与调节方法在物理实验中,常用的温度控制与调节方法包括:热电偶、温度控制仪器和传感器、温度控制系统等。

2.1 热电偶热电偶是一种常用的温度测量和控制装置。

它基于热电效应原理,利用两种不同金属的热电势差随温度变化的特性来测量温度。

热电偶的工作原理简单,响应速度快,测量范围广。

在物理实验中,热电偶常用于监测实验装置的温度,从而进行温度控制和调节。

2.2 温度控制仪器和传感器温度控制仪器和传感器是实验室中常用的温度控制和调节设备。

这些设备通过测量系统的温度,并根据设定值进行反馈控制,使系统保持稳定的温度。

温度控制仪器和传感器具有高精度、可靠性强的特点。

它们在物理实验中广泛应用于控制实验室设备的温度,如恒温槽、热平衡器等。

2.3 温度控制系统温度控制系统是一种较为复杂的温度控制与调节方法。

它由温度传感器、控制器、执行器等组成,通过反馈控制原理,使系统保持稳定的温度。

温度控制系统具有高精度、高稳定性的特点,可以满足物理实验中对温度控制的高要求。

在一些大型实验设备和研究项目中,温度控制系统被广泛应用。

3. 物理实验技术中的温度控制与调节案例在物理实验中,温度控制与调节方法根据实验需求和条件的不同,有多种应用案例。

3.1 材料热处理实验材料热处理实验是研究材料的热力学性质和结构变化的重要实验之一。

在这类实验中,温度控制的准确性和稳定性对实验结果的影响很大。

热效应实验的温度控制与数据处理

热效应实验的温度控制与数据处理

热效应实验的温度控制与数据处理热效应是物体在温度变化时产生的能量变化现象。

通过实验可以观察到物体在不同温度下的热膨胀、热传导等现象。

为了保证实验的准确性和可靠性,温度的控制和数据的处理是至关重要的。

一、实验中温度的控制1. 温度控制系统的选择在热效应实验中,选择适当的温度控制系统对于实验的成功至关重要。

传统的热效应实验通常使用温度控制箱或热源来控制温度。

温度控制箱通过内部温控装置和温度传感器实时监测和调节温度。

而热源则通过提供恒定的热能来保持实验温度。

2. 温度传感器的选用温度传感器是实验中用来测量温度的关键设备。

常见的温度传感器包括热电阻、热电偶、红外线测温仪等。

在选择温度传感器时,需要考虑实验的具体要求和条件,如测量范围、精度要求、响应时间等。

3. 环境温度控制除了对实验物体的温度进行控制外,环境温度也应该受到重视。

实验室内的温度应该保持相对稳定,避免来自外界的热辐射影响实验结果。

在实验室中设置空调或风扇可以有效控制室内温度。

二、实验数据的处理1. 数据记录的准确性在实验中,准确的数据记录是保证实验结果可靠性的关键。

记录温度变化时,时间和温度的准确记录是必不可少的。

为了避免误差,可以使用数字温度计等自动记录设备来记录温度变化,并将数据导入电脑进行处理。

2. 数据处理方法的选择实验数据的处理需要根据具体实验目的来选择适当的方法。

对于热效应实验,常见的数据处理方法包括线性拟合、曲线拟合、统计分析等。

线性拟合可以用来计算物体的热膨胀系数;曲线拟合可以用来推断热传导系数等;统计分析可以用来评估实验结果的可靠性。

3. 实验结果的展示在完成数据处理后,需要将实验结果进行展示。

可以使用图表、图像等形式将数据可视化,方便对实验结果进行分析。

同时,还可以通过文字说明、对比分析等方式进一步解释实验结果。

通过对热效应实验的温度控制和数据处理的讨论,我们可以看出,良好的温度控制和准确可靠的数据处理对于实验结果的正确性和解释性都起到了至关重要的作用。

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实验二(1)温度源的温度控制调节实验一、实验目的:了解温度控制的基本原理及熟悉温度源的温度调节过程。

二、基本原理:当温度源的温度发生变化时,温度源中的P t100热电阻(温度传感器)的阻值发生变化,将电阻变化量作为温度的反馈信号输给智能调节仪,经智能调节仪的电阻——电压转换后与温度设定值比较再进行数字PID运算输出可控硅触发信号(加热)或继电器触发信号(冷却),使温度源的温度趋近温度设定值。

温度控制原理框图如图1所示。

三、需用器件与单元:主机箱、温度源、Pt100温度传感器。

图1温度控制原理框图四、实验步骤:温度源简介:温度源是一个小铁箱子,内部装有加热器和冷却风扇;加热器上有二个测温孔,加热器的电源引线与外壳插座(外壳背面装有保险丝座和加热电源插座)相连;冷却风扇电源为+24vDC,它的电源引线与外壳正面实验插孔相连。

温度源外壳正面装有电源开关、指示灯和冷却风扇电源+24vDC插孔;顶面有二个温度传感器的引入孔,它们与内部加热器的测温孔相对,其中一个为控制加热器加热的传感器Pt100的插孔,另一个是温度实验传感器的插孔;背面有保险丝座和加热器电源插座。

使用时将电源开关打开(O为关,-为开)。

从安全性、经济性且不影响学生掌握原理的前提下温度源设计温度≤200℃。

1、调节仪的简介及调节仪的面板按键说明。

1.1面板说明。

面板上有PV测量显示窗、SV给定显示窗、4个指示灯窗和4个按键组成。

如图2所示。

图2调节仪面板图面板中1、PV——测量值显示窗2、SV——给定值显示窗3、AT——自整定灯4、ALM1——AL1动作时点亮对应的灯5、ALM2——手动指示灯(兼程序运行指示灯)6、OUT——调节控制输出指示灯7、SET——功能键8、◄——数据移位(兼手动/自动切换及参数设置进入)9、▼——数据减少键(兼程序运行/暂停操作)10、▲——数据增加键(兼程序复位操作)仪表上电后,上显示窗口显示测量值(PV),下显示窗口显示给定值(SV)。

在基本状态下,SV窗口能用交替显示的字符来表示系统某些状态,如下:1、输入的测量信号超出量程(因传感器规格设置错误、输入断线或短路均可能引起)时,则闪动显示:“orAL”。

此时仪表将自动停止控制,并将输出固定在参数oPL 定义的值上。

2、有报警发生时,可分别显示“HIAL”、“LoAL”、“dHAL”或“dLAL”,分别表示发生了上限报警、下限报警、正偏差报警和负偏差报警。

报警闪动的功能是可以关闭的(参看bAud参数的设置),将报警作为控制时,可关闭报警字符闪动功能以避免过多的闪动。

仪表面板上的4个LED指示灯,其含义分别如下:(1)OUT输出指示灯:输出指示灯在线性电流输出时通过亮/暗变化反映输出电流的大小,在时间比例方式输出(继电器、固态继电器及可控硅过零触发输出)时,通过闪动时间比例反映输出大小。

(2)ALM1指示灯:当AL1事件动作时点亮对应的灯。

(3)ALM2指示灯:当手动指示灯。

(4)AT灯:自整定开启时点亮对应的灯。

1.2基本使用操作1、显示切换:按SET键可以切换不同的显示状态。

修改数据:如果参数锁没有锁上,仪表下显示(SV)窗显示的数值数据均可通过按◄(A/M)、▼或▲键来修改。

例如:需要设置给定值时,可将仪表切换到正常显示状态,即可通过按◄(A/M)、▼或▲键来修改给定值。

仪表同时具备数据快速增减法和小数点移位法。

按▼键减小数据,按▲键增加数据,按◄可修改数值位的小数点同时闪动(如同光标)。

按住按键并保持不放,可以快速地增加/减少数值,并且速度会随小数点会右移自动加快(3级速度)。

而按◄(A/M)键则可直接移动修改数据的位置(光标),操作快捷。

2、手动/自动切换:按◄(A/M)键,可以使仪表在自动及手动两种状态下进行无扰动切换。

手动时下排显示器第一字显示“M”,仪表处于手动状态下,直接按▲键或▼键可增加及减少手动输出值。

自动时按SET键可直接查看自动输出值(下排显示器第一字显示“A”)。

通过对run参数设置(详见后文),也可使仪表不允许由面板按键操作来切换至手动状态,以防止误入手动状态。

3、设置参数:按SET键并保持约3秒钟,即进入参数设置状态。

在参数设置状态下按SET键,仪表将依次显示各参数,例如上限报警值HIAL、参数锁Loc等等,对于配置好并锁上参数锁的仪表,只出现操作工需要用到的参数(现场参数)。

用▼、▲、◄(A/M)等键可修改参数值。

按◄(A/M)键并保持不放,可返回显示上一参数。

先按◄(A/M)键不放接着再按SET键可退出设置参数状态。

如果没有按键操作,约30秒钟后会自动退出设置参数状态。

如果参数被锁上(后文介绍),则只能显示被EP参数定义的现场参数(可由用户定义的,工作现场经常需要使用的参数及程序),而无法看到其它的参数。

不过,至少能看到Loc参数显示出来。

1.3自整定(AT)操作1、仪表初次使用时,可启动自整定功能来协助确定M50、P、t等控制参数。

初次启动自整定时,可将仪表切换到正常显示状态下,按◄(A/M)键并保持约2钞钟,此时仪表AT 指示灯点亮,表明仪表已进入自整定状态。

自整定时,仪表执行位式调节,约2-3次振荡后,仪表根据位式控制产生的振荡,分析其周期、幅度及波型来自动计算出M50、P、t等控制参数。

如果在自整定过程中要提前放弃自整定,可再按◄(A/M)键并保持约2钞钟,使仪表AT指示灯熄灭即可。

视不同系统,自整定需要的时间可从数秒至数小时不等。

仪表在自整定成功结束后,会将参数CtrL设置为3(出厂时为1)或4,这样今后无法从面板再按◄(A/M)键启动自整定,可以避免人为的误操作再次启动自整定。

已启动过一次自整定功能的仪表如果今后还要启动自整定时,可以用将参数CtrL设置为2的方法进行启动(参见后文“参数功能”说明)。

2、系统在不同给定值下整定得出的参数值不完全相同,执行自整定功能前,应先将给定值设置在最常用值或是中间值上,如果系统是保温性能好的电炉,给定值应设置在系统使用的最大值上,再执行启动自整定的操作功能。

参数Ct1(控制周期)及dF(回差)的设置,对自整定过程也有影响,一般来说,这2个参数的设定值越小,理论上自整定参数准确度越高。

但dF值如果过小,则仪表可能因输入波动而在给定值附近引起位式调节的误动作,这样反而可能整定出彻底错误的参数。

推荐Ct1=0-2,dF=0.3。

3、手动自整定:由于自整定执行时采用位式调节,其输出将定位在由参数oPL及oPH定义的位置。

在一些输出不允许大幅度变化的场合,如某些执行器采用调节阀的场合,常规的自整定并不适宜。

对此仪表具有手动自整定模式。

方法是先用手动方式进行调节,等手动调节基本稳定后,再在手动状态下启动自整定,这样仪表的输出值将限制在当前手动值+10%及-10%的范围而不是oPL及oPH定义的范围,从而避免了生产现场不允许的阀门大幅度变化现象。

此外,当被控物理量响应快速时,手动自整定方式能获得更准确的自整定结果。

1.4参数功能说明仪表通过参数来定义仪表的输入、输出、报警及控制方式(以温度为例)。

以下为参数功能表:2、设置调节仪温度控制参数:合上主机箱上的电源开关;再合上主机箱上的调节仪电源开关,仪表上电后,仪表的上显示窗口(PV)显示随机数;下显示窗口(SV)显示控制给定值或交替闪烁显示控制给定值和“orAL”。

按SET键并保持约3秒钟,即进入参数设置状态。

在参数设置状态下按SET键,仪表将依次显示各参数,例如上限报警值HIAL、参数锁Loc等等,对于配置好并锁上参数锁的仪表,用▼、▲、◄(A/M)等键可修改参数值。

按◄(A/M)键并保持不放,可返回显示上一参数。

先按◄(A/M)键不放接着再按SET键可退出设置参数状态。

如果没有按键操作,约30秒钟后会自动退出设置参数状态。

如果参数被锁上,则只能显示被EP参数定义的参数(可由用户定义的,工作现场经常需要使用的参数及程序),而无法看到其它的参数。

不过,至少能看到Loc参数显示出来。

具体设置温度控制参数方法步骤如下:(1)、按SET键并保持约3秒钟,仪表进入参数设置状态;PV窗显示HIAL(上限),用▼、▲、◄键可修改参数值,使SV窗显示实验温度(>室温),如50。

(2)、再按SET键,PV窗显示LoAL(下限) ,用▼、▲、◄键可修改参数值,使SV窗显示(1)所设置的温度值50。

(3)、再按SET键,PV窗显示dHAL(正偏差报警) ,长按▲键,使SV窗显示9999(消除报警功能)后释放▲键。

(4)、再按SET键,PV窗显示dLAL(负偏差报警) ,长按▲键,使SV窗显示9999(消除报警功能)后释放▲键。

(5)、再按SET键,PV窗显示dF(回差、死区、滞环) ,用▼、▲、◄键修改参数值,使SV窗显示0.1。

(6)、再按SET键,PV窗显示CtrL(控制方式) ,用▼、▲、◄键修改参数值,使SV 窗显示1。

(7)、再按SET键,PV窗显示M50(保持参数) ,用▼、▲、◄键修改参数值,使SV窗显示300。

(8)、再按SET键,PV窗显示P(速率参数) ,用▼、▲、◄键修改参数值,使SV窗显示350。

(9)、再按SET键,PV窗显示t(滞后时间) ,用▼、▲、◄键修改参数值,使SV窗显示153。

(10)、再按SET键,PV窗显示Ct1(输出周期) ,用▼、▲、◄键修改参数值,使SV 窗显示1。

(11)、再按SET键,PV窗显示Sn(输入规格) ,用▼、▲、◄键修改参数值,使SV窗显示21。

(12)、再按SET键,PV窗显示dIP(小数点位置) ,用▼、▲、◄键修改参数值,使SV 窗显示1。

(13)、再按SET键,PV窗显示dIL ,不按键,SV窗显示默认值。

(14)、再按SET键,PV窗显示dIH,不按键,SV窗显示默认值。

(15)、再按SET键,PV窗显示CJC(热电偶冷端补偿温度) ,不按键,SV窗显示默认冷端补偿温度值。

(16)、再按SET键,PV窗显示SC(主输入平移修正) ,用▼、▲、◄键修改参数值,使SV窗显示00。

(17)、再按SET键,PV窗显示oP1(输出方式) ,用▼、▲、◄键修改参数值,使SV 窗显示2。

(18)、再按SET键,PV窗显示oPL(输出下限) ,长按▼键,使SV窗显示0后释放▼键。

(19)、再按SET键,PV窗显示oPH(输出上限) ,长按▲键,使SV窗显示100释放▲键(用▼、▲、◄键修改参数值为100)。

(20)、再按SET键,PV窗显示CF(系统功能选择) ,用▼、▲、◄键修改参数值,使SV窗显示2。

(21)、再按SET键,PV窗显示bAud(通讯波特率/报警定义) ,用▼、▲、◄键修改参数值,使SV窗显示17。

(22)、再按SET键,PV窗显示Addr(通讯地址/打印时间) ,不按键,SV窗显示默认值。

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