电子元器件检测方法1

合集下载
  1. 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性,平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
  2. 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
  3. 3、如文档侵犯您的权益,请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间:9:00-18:30)。

电子元器件检测方法1
6负温度系数热敏电阻(NTC)的检测。

(1)、测量标称电阻值Rt
用万用表测量NTC热敏电阻的方法与测量普通固定电阻的方法相同,即根据NTC 热敏电阻的标称阻值选择合适的电阻挡可直接测出Rt的实际值。

但因NTC热敏电阻对温度很敏感,故测试时应注意下列几点:
A Rt是生产厂家在环境温度为25℃时所测得的,因此用万用表测量Rt时,亦应在环境温度接近25℃时进行,以保证测试的可信度。

B测量功率不得超过规定值,以免电流热效应引起测量误差。

C注意正确操作。

测试时,不要用手捏住热敏电阻体,以防止人体温度对测试产生影响。

(2)、估测温度系数αt
先在室温t1下测得电阻值Rt1,再用电烙铁作热源,靠近热敏电阻Rt,测出电阻值RT2,同时用温度计测出如今热敏电阻RT表面的平均温度t2再进行计算。

7压敏电阻的检测。

用万用表的R×1k挡测量压敏电阻两引脚之间的正、反向绝缘电阻,均为无穷大,否则,说明漏电流大。

若所测电阻很小,说明压敏电阻已损坏,不能使用。

8光敏电阻的检测。

A用一黑纸片将光敏电阻的透光窗口遮住,如今万用表的指针基本保持不动,阻值接近无穷大。

此值越大说明光敏电阻性能越好。

若此值很小或者接近为零,说明光敏电阻已烧穿损坏,不能再继续使用。

B将一光源对准光敏电阻的透光窗口,如今万用表的指针应有较大幅度的摆动,阻值明显减些,此值越小说明光敏电阻性能越好。

若此值很大甚至无穷大,说明光敏电阻内部开路损坏,也不能再继续使用。

C将光敏电阻透光窗口对准入射光线,用小黑纸片在光敏电阻的遮光窗上部晃动,使其间断受光,如今万用表指针应随黑纸片的晃动而左右摆动。

假如万用表指针始终停在某一位置不随纸片晃动而摆动,说明光敏电阻的光敏材料已经损坏。

二、电容器的检测方法
1固定电容器的检测
A检测10pF下列的小电容,因10pF下列的固定电容器容量太小,用万用表进行测量,只能定性的检查其是否有漏电,内部短路或者击穿现象。

测量时,可选用万用表R ×10k挡,用两表笔分别任意接电容的两个引脚,阻值应为
无穷大。

若测出阻值(指针向右摆动)为零,则说明电容漏电损坏或者内部击穿。

B检测10PF~001μF固定电容器是否有充电现象,继而推断其好坏。

万用表选用R×1k挡。

两只三极管的β值均为100以上,且穿透电流要些可选用3DG6等型号硅三极管构成复合管。

万用表的红与黑表笔分别与复合管的发射极e与集电极c相接。

由于
复合三极管的放大作用,把被测电容的充放电过程予以放大,使万用表指针摆幅度加大,
从而便于观察。

应注意的是:在测试操作时,特别是在测较小容量的电容时,要反复调换
被测电容引脚接触A、B两点,才能明显地看到万用表指针的摆动。

C关于001μF以上的固定电容,可用万用表的R×10k挡直接测试电容器有
无充电过程与有无内部短路或者漏电,并可根据指针向右摆动的幅度大小估计出电容器的
容量。

2电解电容器的检测
A由于电解电容的容量较通常固定电容大得多,因此,测量时,应针对不一致
容量选用合适的量程。

根据经验,通常情况下,1~47μF间的电容,可用R×1k挡测量,
大于47μF的电容可用R×100挡测量。

B将万用表红表笔接负极,黑表笔接正极,在刚接触的瞬间,万用表指针即向
右偏转较大偏度(关于同一电阻挡,容量越大,摆幅越大),接着逐步向左回转,直到停在
某一位置。

如今的阻值便是电解电容的正向漏电阻,此值略大于反向漏电阻。

实际使用经
验说明,电解电容的漏电阻通常应在几百kΩ以上,否则,将不能正常工作。

在测试中,
若正向、反向均无充电的现象,即表针不动,则说明容量消失或者内部断路;假如所测阻
值很小或者为零,说明电容漏电大或者已击穿损坏,不能再使用。

C关于正、负极标志不明的电解电容器,可利用上述测量漏电阻的方法加以判别。

即先任意测一下漏电阻,记住其大小,然后交换表笔再测出一个阻值。

两次测量中阻值大的那一次便是正向接法,即黑表笔接的是正极,红表笔接的是负极。

D使用万用表电阻挡,使用给电解电容进行正、反向充电的方法,根据指针向右摆动幅度的大小,可估测出电解电容的容量。

3可变电容器的检测
A用手轻轻旋动转轴,应感受十分平滑,不应感受有的时候松时紧甚至有卡滞现象。

将载轴向前、后、上、下、左、右等各个方向推动时,转轴不应有松动的现象。

B用一只手旋动转轴,另一只手轻摸动片组的外缘,不应感受有任何松脱现象。

转轴与动片之间接触不良的可变电容器,是不能再继续使用的。

C将万用表置于R×10k挡,一只手将两个表笔分别接可变电容器的动片与定片的引出端,另一只手将转轴缓缓旋动几个来回,万用表指针都应在无穷大位置不动。

在旋动转轴的过程中,假如指针有的时候指向零,说明动片与定片之间存在短路点;假如碰到某一角度,万用表读数不为无穷大而是出现一定阻值,说明可变电容器动片与定片之间存在漏电现象。

三、电感器、变压器检测方法
1色码电感器的的检测,将万用表置于R×1挡,红、黑表笔各接色码电感器的任一引出端,如今指针应向右摆动。

根据测出的电阻值大小,可具体分下述三种情况进行鉴别:
A被测色码电感器电阻值为零,其内部有短路性故障。

B被测色码电感器直流电阻值的大小与绕制电感器线圈所用的漆包线径、绕
制圈数有直接关系,只要能测出电阻值,则可认为被测色码电感器是正常的。

2中周变压器的检测
A将万用表拨至R×1挡,按照中周变压器的各绕组引脚排列规律,逐一检查各绕组的通断情况,继而推断其是否正常。

B检测绝缘性能,将万用表置于R×10k挡,做如下几种状态测试:
(1)初级绕组与次级绕组之间的电阻值;
(2)初级绕组与外壳之间的电阻值;
(3)次级绕组与外壳之间的电阻值。

上述测试结果分出现三种情况:
(1)阻值为无穷大:正常;
(2)阻值为零:有短路性故障;
(3)阻值小于无穷大,但大于零:有漏电性故障。

3电源变压器的检测
A通过观察变压器的外貌来检查其是否有明显特殊现象。

如线圈引线是否断裂,脱焊,绝缘材料是否有烧焦痕迹,铁心紧固螺杆是否有松动,硅钢片有无锈蚀,绕组线圈是否有外露等。

B绝缘性测试。

用万用表R×10k挡分别测量铁心与初级,初级与各次级、铁心与各次级、静电屏蔽层与衩次级、次级各绕组间的电阻值,万用表指针均应指在无穷大位置不动。

否则,说明变压器绝缘性能不良。

C线圈通断的检测。

将万用表置于R×1挡,测试中,若某个绕组的电阻值为无穷大,则说明此绕组有断路性故障。

D判别初、次级线圈。

电源变压器初级引脚与次级引脚通常都是分别从两侧引出的,同时初级绕组多标有220V字样,次级绕组则标出额定电压值,如15V、24V、35V等。

再根据这些标记进行识别。

E空载电流的检测。

(a)直接测量法。

将次级所有绕组全部开路,把万用表置于交流电流挡(500mA,串入初级绕组。

当初级绕组的插头插入220V交流市电时,万用表所指示的便是空载电流值。

此值不应大于变压器满载电流的10%~20%。

通常常见电子设备电源变压器的正常空载电流应在100mA左右。

假如超出太多,则说明变压器有短路性故障。

(b)间接测量法。

在变压器的初级绕组中串联一个10Ω/5W的电阻,次级仍全部空载。

把万用表拨至交流电压挡。

加电后,用两表笔测出电阻R两端的电压降U,然后用欧姆定律算出空载电流I空,即I空=U/R。

F空载电压的检测。

将电源变压器的初级接220V市电,用万用表交流电压接依次测出各绕组的空载电压值(U21、U22、U23、U24)应符合要求值,同意误差范围通常为:高压绕组≤±10%,低压绕组≤±5%,带中心抽头的两组对称绕组的电压差应≤±2%。

G通常小功率电源变压器同意温升为40℃~50℃,假如所用绝缘材料质量较好,同意温升还可提高。

H检测判别各绕组的同名端。

在使用电源变压器时,有的时候为了得到所需的次级电压,可将两个或者多个次级绕组串联起来使用。

使用串联法使用电源变压器时,参加串联的各绕组的同名端务必正确连接,不能搞错。

否则,变压器不能正常工作。

I.电源变压器短路性故障的综合检测判别。

电源变压器发生短路性故障后的要紧症状是发热严重与次级绕组输出电压失常。

通常,线圈内部匝间短路点越多,短路电流就越大,而变压器发热就越严重。

检测推断电源变压器是否有短路性故障的简单方法是测量空载电流(测试方法前面已经介绍)。

存在短路故障的变压器,其空载电流值将远大于满载电流的10%。

当短路严重时,变压器在空载加电后几十秒钟之内便会迅速发热,用手触摸铁心会有烫手的感受。

如今不用测量空载电流便可断定变压器有短路点存在。

四.三极管
测判三极管的口诀
半导体三极管也称之晶体三极管,能够说它是电子电路中最重要的器件。

它最要紧的功能是电流放大与开关作用。

三极管顾名思义具有三个电极。

二极管是由一个PN结构成的,而三极管由两个PN结构成,共享的一个电极成为三极管的基极(用字母b表示)。

其它的两个电极成为集电极(用字母c表示)与发射极(用字母e表示)。

由于不一致的组合方式,形成了一种是NPN型的三极管,另一种是PNP型的三极管。

三极管的种类很多,同时不一致型号各有不一致的用途。

三极管大都是塑料封装或者金属封装,常见三极管的外观如图,大的很大,小的很小。

三极管的电路符号有两种:有一个箭头的电极是发射极,箭头朝外的是NPN型三极管,而箭头朝内的是PNP型。

实际上箭头所指的方向是电流的方向。

电子制作中常用的三极管有90××系列,包含低频小功率硅管9013(NPN)、9012(PNP),低噪声管9014(NPN),高频小功率管9018(NPN)等。

它们的型号通常都标在塑壳上,而样子都一样,都是TO-92标准封装。

在老式的电子产品中还能见到3DG6(低频小功率硅管)、3AX31(低频小功率锗管)等,它们的型号也都印在金属的外壳上。

我国生产的晶体管有一套命名规则,电子爱好者最好还是熟悉一下:
第一部分的3表示为三极管。

第二部分表示器件的材料与结构,A:PNP型锗材
料B:NPN型锗材料C:PNP型硅材料D:NPN型硅材料第三部分表示功能,U:光电管K:开关管X:低频小功率管G:高频小功率管D:低频大功率管A:高频大功率管。

另外,3DJ型为场效应管,BT打头的表示半导体特殊组件。

三极管最基本的作用是放大作用,它能够把微弱的电信号变成一定强度的信号,当然这种转换仍然遵循能量守恒,它只是把电源的能量转换成信号的能量罢了。

三极管有一个重要参数就是电流放大系数β。

当三极管的基极上加一个微小的电流时,在集电极上能够得到一个是注入电流β倍的电流,即集电极电流。

集电极电流随基极电流的变化而变化,同时基极电流很小的变化能够引起集电极电流很大的变化,这就是三极管的放大作用。

三极管还能够作电子开关,配合其它组件还能够构成振荡器。

三极管的管型及管脚的
判别是电子技术初学者的一项基本功,为了帮助读者迅速掌握测判方法,笔者总结出四句口诀:“三颠倒,找基极;PN结,定管型;顺箭头,偏转大;测不准,动嘴巴。

”下面让我们逐句进行解释吧。

一、三颠倒,找基极
大家明白,三极管是含有两个PN结的半导体器件。

根据两个PN结连接方式不一致,能够分为NPN型与PNP型两种不一致导电类型的三极管,测试三极管要使用万用电表的欧姆挡,并选择R×100或者R×1k挡位。

假定我们并不明白被测三极管是NPN型还是PNP型,也分不清各管脚是什么电极。

测试的第一步是推断哪个管脚是基极。

这时,我们任取两个电极(如这两个电极为1、2),用万用电表两支表笔颠倒测量它的正、反向电阻,观察表针的偏转角度;接着,再取1、3两个电极与2、3两个电极,分别颠倒测量它们的正、反向电阻,观察表针的偏转角度。

在这三次颠倒测量中,必定有两次测量结果相近:即颠倒测量中表针一次偏转大,一次偏转小;剩下一次必定是颠倒测量前后指针偏转角度都很小,这一次未测的那只管脚就是我们要寻找的基极。

二、PN结,定管型
找出三极管的基极后,我们就能够根据基极与另外两个电极之间PN结的方向来确定管子的导电类型。

将万用表的黑表笔接触基极,红表笔接触另外两个电极中的任一电极,若表头指针偏转角度很大,则说明被测三极管为NPN型管;若表头指针偏转角度很小,则被测管即为PNP型。

三、顺箭头,偏转大
找出了基极b,另外两个电极哪个是集电极c,哪个是发射极e呢?这时我们能够用测穿透电流ICEO的方法确定集电极c与发射极e。

(1) 关于NPN型三极管,穿透电流的测量电路如图3所示。

根据这个原理,用万用电表的黑、红表笔颠倒测量两极间的正、反向电阻Rce与Rec,尽管两次测量中万用表指针偏转角度都很小,但认真观察,总会有一次偏转角度稍大,如今电流的流向一定是:黑表笔→c极→b极→e极→红表笔,电流流向正好与三极管符号中的箭头方向一致(“顺箭头”),因此如今黑表笔所接的一定是集电极c,红表笔所接的一定是发射极e。

(2) 关于PNP型的三极管,道理也类似于NPN型,其电流流向一定是:黑表笔→e 极→b极→c极→红表笔,其电流流向也与三极管符号中的箭头方向一致,因此如今黑表笔所接的一定是发射极e,红表笔所接的一定是集电极c。

四、测不出,动嘴巴
若在“顺箭头,偏转大”的测量过程中,若由于颠倒前后的两次测量指针偏转均太小难以区分时,就要“动嘴巴”了。

具体方法是:在“顺箭头,偏转大”的两次测量中,用两只手分别捏住两表笔与管脚的结合部,用嘴巴含住(或者用舌头抵住)基电极b,仍用“顺箭头,偏转大”的判别方法即可区分开集电极c与发射极e。

其中人体起到直流偏置电阻的作用,目的是使效果更加明显。

集成电路的检测常识
检测前要熟悉集成电路及其有关电路的工作原理。

检查与修理集成电路前首先要
五.稳压二极管的检测:
稳压二极管的外形与普通小功率整流二极管的外形基本相似。

当其壳体上的型号标记清晰时,可根据型号加以鉴别。

当其型号标志脱落时,可使用万用表电阻挡很准确地将稳压二极管与普通整流二极管区分开来。

具体方法是:首先利用万用表R×1K挡,按前述方法把被测管的正、负电极推断出来。

然后将万用表拨至R×10K挡上,黑表笔接被测管的负极,红表笔接被测管的正极,若如今测得的反向电阻值比用R×1K挡测量的反向电阻小很多,说明被测管为稳压管;反之,假如测得的反向电阻值仍很大,说明该管为整流二极管或者检波二极管。


种判别方法的道理是,万用表R×1K挡内部使用的电池电压为1.5V,通常不可能将被测管反向击穿,使测得的电阻值比较大。

而R×10K挡测量时,万用表内部电池的电压通常都在9V 以上,当被测管为稳压管,切稳压值低于电池电压值时,即被反向击穿,使测得的电阻值大为减小。

但假如被测管是通常整流或者检波二极管时,则不管用R×1K挡测量还是用R×10K 挡测量,所得阻值将不可能相差很悬殊。

注意,当被测稳压二极管的稳压值高于万用表R×10K 挡的电压值时,用这种方法是无法进行区分鉴别的。

用直流500摇表粗测稳压值,+接稳压管+,-接稳压管-,摇动手柄,看击穿电压。

整流二极管的检测
整流二极管的检测整流二极管的整流电流检波二极管的工作电流大,因此能够用Rx1K挡或者Rx100行检测,也能够用Rx1k挡或者Rx1O0挡进行检测,但是用不一致量程所测的阻值是不完全一样的。

整流二极管的检测方法与检波二极管的方法基本过程不再重述,用Rx1k挡检测时测得的正向阻值应千欧~十几千欧,反向阻值应为∞。

如反向阻值为零,极管已被击穿。

二.IC的检测:
(一)常用的检测方法
集成电路常用的检测方法有在线测量法、非在线测量法与代换法。

1.非在线测量:非在线测量潮在集成电路未焊入电路时,通过测量其各引脚之间的直流电阻值与已知正常同型号集成电路各引脚之间的直流电阻值进行对比,以确定其是否正常。

2.在线测量:在线测量法是利用电压测量法、电阻测量法及电流测量法等,通过在电路上测量集成电路的各引脚电压值、电阻值与电流值是否正常,来推断该集成电路是否损坏。

3.代换法:代换法是用已知完好的同型号、同规格集成电路来代换被测集成电路,能够推断出该集成电路是否损坏。

(二)常用集成电路的检测
1.微处理器集成电路的检测微处理器集成电路的关键测试引脚是VDD电源端、RESET 复位端、XIN晶振信号输入端、XOUT晶振信号输出端及其它各线输入、输出端。

在路测量这些关键脚对地的电阻值与电压值,看是否与正常值(可从产品电路图或者有关维修资料中查出)相同。

不一致型号微处理器的RESET复位电压也不相同,有的是低电平复位,即在开机瞬间为低电平,复位后维持高电平;有的是高电平复位,即在开关瞬间为高电平,复位后维持低电平。

2.开关电源集成电路的检测开关电源集成电路的关键脚电压是电源端(VCC)、激励脉冲输出端、电压检测输入端、电流检测输入端。

测量各引脚对地的电压值与电阻值,若与正常值相差较大,在其外围元器件正常的情况下,能够确定是该集成电路已损坏。

内置大功率开关管的厚膜集成电路,还可通过测量开关管C、B、E极之间的正、反向电阻值,来推断开关管是否正常。

3.音频功放集成电路的检测检查音频功放集成电路时,应先检测其电源端(正电源端与负电源端)、音频输入端、音频输出端及反馈端对地的电压值与电阻值。

若测得各引脚的数据值与正常值相差较大,其外围组件与正常,则是该集成电路内部损坏。

对引起无声故障的音频功放集成电路,测量其电源电压正常时,可用信号干扰法来检查。

测量时,万用表应置于R×1档,将红表笔接地,用黑表笔点触音频输入端,正常时扬声器中应有较强的“喀喀”声。

4.运算放大器集成电路的检测用万用表直流电压档,测量运算放大器输出端与负电源端之间的电压值(在静态时电压值较高)。

用手持金属镊子依次点触运算放大器的两个输入端(加入干扰信号),若万用表表针有较大幅度的摆动,则说明该运算放大器完好;若万用表表针不动,则说明运算放大器已损坏。

5.时基集成电路的检测时基集成电路内含数字电路与模拟电路,用万用表很难直接测出其好坏。

能够用如图9-13所示的测试电路来检测时基集成电路的好坏。

测试电路由阻容组件、发光二极管LED、6V直流电源、电源开关S与8脚IC插座构成。

将时基集成电路(比如NE55 5)插信IC插座后,按下电源开关S,若被测时基集成电路正常,则发光二极管LED将闪烁发光;若LED不亮或者一直亮,则说明被测时基集成电路性能不良。

集成电路是由多个元器件构成的,因此不能使用简单的方法来推断其好坏,通常可用下列几种方法进行质量判定。

(1)电阻测试法
电阻测试适用于非在路集成电路的测试,关于在路集成电路,如有必要,也可从电路上拆下后再进行测试。

电阻测试法实际上是一个元器件的质量比较法。

首先测试质量完好的单个集成电路各引脚对其接地端的阻值并做好记录,然后测试待测单个集成电路各引脚对其接地端的阻值,将测试结果进行比较,以推断被测集成电路的好坏。

这种方法通常可准确地推断集成电路质量的好坏,但应注意的是,这种比较不是阻值数值要绝对相等,而是要求变化规律相同,阻值的差异对半导体器件来说是正常的。

比如,某型号集成电路阻值标准数据为2.6kΩ、4.8kΩ、1.2kΩ与9.6kΩ,而被检测集成电路测得的阻值为2.8kΩ、5.1kΩ、1.6kΩ与10.8kΩ,尽管两者的阻值数值有差异,但由于变化规律是相同的,应该认为该集成电路是好的。

假如测得其中某引脚阻值出现反向变化,则可怀疑该集成电路有问题。

测量阻值可用万用表进行,万用表应置于Rx1k挡比较安全。

(2)在路集成电路的质量推断
在路集成电路的质量推断常使用在路电压差别法。

当集成电路供电端电压正常时,集成电路各引脚电压有两种情况:一是有的引脚电压数据取决于外部条件及外接组件;二是有的引脚电压数据是由集成电路内部给出的。

假如在路测得的电压与标准数据的规定有较大的差异,应首先确认外部条件及外接组件是否正常,在排出外部条件及外接组件有质量问题后,大多数情况下可确认集成电路已损坏。

在路电压的标准数据有两种,若图纸上只给出一种,常为静态电压,即通电后无输入信号时测得的电压值;如图纸中给出两个电压数据,则括号内的为动态输入电压,即通电后有输入信号时测得的电压值。

相关文档
最新文档