基于频率特性测试的模拟电路BIST设计

基于频率特性测试的模拟电路BIST设计
谈恩民;王海超
【期刊名称】《微电子学与计算机》
【年(卷),期】2014(0)11
【摘要】在大规模数模混合信号集成电路中,模拟信号的测试是一个重点和难点.BIST技术不仅能缩短测试和验证时间,而且提高了故障覆盖率,被越来越多地应用在模拟电路的测试中.由此对传统的模拟电路BIST方法进行了探讨,并提出一种利用方波信号作为激励源,通过比较电路响应输出波形变化来诊断故障的模拟电路频率特性测试BIST方案.该方案结构简单,易于集成,减小了测试的复杂性和代价.仿真实验结果表明,方案能够有效检测电路容差性故障,适合模拟集成电路的内建自测试.
【总页数】5页(P74-78)
【关键词】模拟电路;内建自测试;频率特性;容差性故障
【作者】谈恩民;王海超
【作者单位】桂林电子科技大学电子工程与自动化学院
【正文语种】中文
【中图分类】TN431.1
【相关文献】
1.基于低功耗的BIST测试生成结构优化设计 [J], 姚丽婷;谈恩民
2.基于STM32的频率特性测试仪的设计 [J], 吴涵旭; 屈乐乐; 韩磊; 崔思尧; 杨研
3.基于STM32的频率特性测试仪的设计 [J], 吴涵旭;屈乐乐;韩磊;崔思尧;杨研
4.基于FPGA与DDS的频率特性测试仪的设计 [J], 张强;崔永俊
5.基于低功耗及加权优化的BIST测试生成器设计实现 [J], 谈恩民;叶宏
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