第六章沉淀滴定法
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Chapter 6
Gravimetry and precipitation titration
Lecture 2
6-1
五、影响沉淀纯净的因素
Influencing factors on the purity of precipitate 1.共沉淀现象
Coprecipitation
2.后沉淀
Postprecipitation
6-11
2.后沉淀(继沉淀):Postprecipitation
沉淀析出后,在放置过程中,另一种本来 难以析出沉淀的组分,在该沉淀表面上继续析 出沉淀的现象,且放置时间越长,杂质析出的 量越多。 大多发生于该组分的过饱和溶液中。 注:继沉淀经加热、放置后会更加严重
消除方法——缩短沉淀与母液的共置时间
须看沾污杂质的性质和它在称量形式中所占量的相 对大小,可能引起正误差、负误差,还可能没有误差。 例 如 , BaSO4 沉 淀 中 包 藏 BaCl2 , 对 于 测 定 对 象
SO4-来说,由于BaCl2为外来杂质,会造成正误差; 但如果测定对象为Ba2+,BaCl2相对分子质量小于BaSO4 相对分于质量而造成负误差。 若BaSO4沉淀包藏了H2SO4,灼烧沉淀则变成SO3挥发损 失掉,对测定S则引入负误差。而对测Ba2+来讲则无影 响。学会分析沾污原因,对结果的影响十分重要。
来自百度文库
3.提高沉淀纯度措施
Techniques for improving the purity of precipitate
6-2
1.共沉淀现象
1、 共沉淀(coprecipitation) 在沉淀操作中,沉淀物从溶液中析出时, 一些可溶性物质作为杂质混入沉淀物中,被沉淀 载带下来的现象。 原因:表面吸附、混晶、吸留、包夹
6-5
图示
BaSO4晶体表面吸附示意图(过量SO42-沉淀Ba2+) 沉淀表面形成双电层: 吸附层——吸附剩余构晶离子SO42 扩散层——吸附阳离子或抗衡离子Fe3+
6-6
影响吸附杂质的量的因素: 1) 沉淀的总表面积 总表面积越大,吸附杂质越多
2) 溶液的温度 温度升高,吸附量减少(吸附作用是放热过程)
6-12
例:草酸盐的沉淀分离
长时间 Ca ,Mg CaC2O4 CaC2O4 MgC2O4 2+ 2+ 2 长时间放置,CaC2O4表面吸附C2O2 [C O 4 2 4 ] 当[Mg 2+ ][C2O2 4 ] Ksp(MgC2O4 ) MgC2 O4 逐渐沉积
吸附共沉淀:晶体表面离子电荷不完全等衡。
形成第一吸附层和第二吸附层(双电层), 与沉淀一起沉降。 表面吸附是有选择性的,与被吸附物质的溶 解度、被吸附离子的变形性及吸附后形成物的离 解能力有关。
6-4
吸附规则 Adsorption rules
第一吸附层:先吸附过量的构晶离子 再吸附与构晶离子大小接近、电荷相同的离子 浓度较高的离子被优先吸附 第二吸附层:优先吸附与构晶离子形成的盐溶解度小的离子 离子价数高、浓度大的离子,优先被吸附 减小方法 制备大颗粒沉淀或晶形沉淀 适当提高溶液温度,洗涤沉淀
C2 O 2 4
例:金属硫化物的沉淀分离
H 2S 长时间 Cu 2+ ,Zn 2+ CuS CuS ZnS
长时间放置,CuS表面吸附S2 [S2 ] 当[Zn 2+ ][S2 ] Ksp(ZnS) ZnS 逐渐沉积
6-13
共沉淀或继沉淀对分析结果的影响:
6-7
(2) 混晶和异形混晶
溶液中杂质离子与构晶离子半径相近,电子 结构相似,并形成相同的晶体结构,则会生成混 晶。 如:Pb2+离子取代BaSO4晶体中的Ba2+。
常见混晶:
BaSO4和PbSO4、AgCl和AgBr、 MgNH4PO4· 6H2O和MgNH4AsO4· 6H2O
6-8
杂质盐类和晶体有相同的化学式(如 ABO4 ),离 子体积大致相同(电荷可能不同),则会形成异 形混晶。(杂质离子或原子并不位于正常晶格的
六、沉淀条件的选择
离子或原子位置上,而是位于晶格的空隙中)
化学形式相同:KMnO4和BaSO4
离子大小相近:LaF3和CaF2
6-9
如何避免生成混晶? 生成混晶的选择性是比较高的,要避免也较困 难。因为不论杂质的浓度多么小,只要构晶离子 形成了沉淀,杂质就一定会在沉淀过程中取代某 一构晶离子而进入到沉淀中。
减小或消除方法
例如,测定SO42-时,以BaCl2为沉淀剂,如果试液中 有Fe3+存在,当析出BaSO4沉淀时,本来是可溶性的 Fe2(SO4)3 也被夹在沉淀中。 BaSO4 应该是白色的, 如果有铁盐共沉淀,则灼烧后的BaSO4中混有黄棕色 Fe2O3。这会给分析结果带来正误差。
6-3
(1)表面吸附 Adsorption on the surface
5)再沉淀
有效减小吸留或包埋的共沉淀及后沉淀现象
6-15
沉淀条件对沉淀纯度的影响
沉淀条件 稀释溶液 慢沉淀 搅拌 陈化 加热 洗涤沉淀 再沉淀 混晶 表面吸附 吸留或包夹 继沉淀
O 不定 O
+
+
O — O — O O +
6-16
+
+
+
+
不定
不定 O +
+
+ + +
+
+ O +
+:提高纯度;—:降低纯度;O:影响不大
将杂质事先分离除去; 加入络合剂或改变沉淀剂,以消除干扰离子
6-10
(3) 吸留和包夹 吸留:沉淀剂浓度较大,晶体生长太快, 沉淀表面吸附的杂质离子来不及离开 沉淀表面,被包藏在沉淀的内部。
包夹:母液被包夹在沉淀中。
无法用洗涤的方法除去
一般只在可溶性盐的结晶过程中比较严重 减少或消除方法 改变沉淀条件,重结晶或陈化
14
3.提高沉淀纯度的措施
Techniques for improving the purity of precipitate 1)选择适当分析步骤
测少量组分含量时,首先沉淀含量少的组分
2)改变吸附杂质的存在形式
分离除去,或掩蔽
3)选择合适的沉淀剂
选用有机沉淀剂可有效减少共沉淀
4)改善沉淀条件
温度,浓度,试剂加入次序或速度,是否陈化
Gravimetry and precipitation titration
Lecture 2
6-1
五、影响沉淀纯净的因素
Influencing factors on the purity of precipitate 1.共沉淀现象
Coprecipitation
2.后沉淀
Postprecipitation
6-11
2.后沉淀(继沉淀):Postprecipitation
沉淀析出后,在放置过程中,另一种本来 难以析出沉淀的组分,在该沉淀表面上继续析 出沉淀的现象,且放置时间越长,杂质析出的 量越多。 大多发生于该组分的过饱和溶液中。 注:继沉淀经加热、放置后会更加严重
消除方法——缩短沉淀与母液的共置时间
须看沾污杂质的性质和它在称量形式中所占量的相 对大小,可能引起正误差、负误差,还可能没有误差。 例 如 , BaSO4 沉 淀 中 包 藏 BaCl2 , 对 于 测 定 对 象
SO4-来说,由于BaCl2为外来杂质,会造成正误差; 但如果测定对象为Ba2+,BaCl2相对分子质量小于BaSO4 相对分于质量而造成负误差。 若BaSO4沉淀包藏了H2SO4,灼烧沉淀则变成SO3挥发损 失掉,对测定S则引入负误差。而对测Ba2+来讲则无影 响。学会分析沾污原因,对结果的影响十分重要。
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3.提高沉淀纯度措施
Techniques for improving the purity of precipitate
6-2
1.共沉淀现象
1、 共沉淀(coprecipitation) 在沉淀操作中,沉淀物从溶液中析出时, 一些可溶性物质作为杂质混入沉淀物中,被沉淀 载带下来的现象。 原因:表面吸附、混晶、吸留、包夹
6-5
图示
BaSO4晶体表面吸附示意图(过量SO42-沉淀Ba2+) 沉淀表面形成双电层: 吸附层——吸附剩余构晶离子SO42 扩散层——吸附阳离子或抗衡离子Fe3+
6-6
影响吸附杂质的量的因素: 1) 沉淀的总表面积 总表面积越大,吸附杂质越多
2) 溶液的温度 温度升高,吸附量减少(吸附作用是放热过程)
6-12
例:草酸盐的沉淀分离
长时间 Ca ,Mg CaC2O4 CaC2O4 MgC2O4 2+ 2+ 2 长时间放置,CaC2O4表面吸附C2O2 [C O 4 2 4 ] 当[Mg 2+ ][C2O2 4 ] Ksp(MgC2O4 ) MgC2 O4 逐渐沉积
吸附共沉淀:晶体表面离子电荷不完全等衡。
形成第一吸附层和第二吸附层(双电层), 与沉淀一起沉降。 表面吸附是有选择性的,与被吸附物质的溶 解度、被吸附离子的变形性及吸附后形成物的离 解能力有关。
6-4
吸附规则 Adsorption rules
第一吸附层:先吸附过量的构晶离子 再吸附与构晶离子大小接近、电荷相同的离子 浓度较高的离子被优先吸附 第二吸附层:优先吸附与构晶离子形成的盐溶解度小的离子 离子价数高、浓度大的离子,优先被吸附 减小方法 制备大颗粒沉淀或晶形沉淀 适当提高溶液温度,洗涤沉淀
C2 O 2 4
例:金属硫化物的沉淀分离
H 2S 长时间 Cu 2+ ,Zn 2+ CuS CuS ZnS
长时间放置,CuS表面吸附S2 [S2 ] 当[Zn 2+ ][S2 ] Ksp(ZnS) ZnS 逐渐沉积
6-13
共沉淀或继沉淀对分析结果的影响:
6-7
(2) 混晶和异形混晶
溶液中杂质离子与构晶离子半径相近,电子 结构相似,并形成相同的晶体结构,则会生成混 晶。 如:Pb2+离子取代BaSO4晶体中的Ba2+。
常见混晶:
BaSO4和PbSO4、AgCl和AgBr、 MgNH4PO4· 6H2O和MgNH4AsO4· 6H2O
6-8
杂质盐类和晶体有相同的化学式(如 ABO4 ),离 子体积大致相同(电荷可能不同),则会形成异 形混晶。(杂质离子或原子并不位于正常晶格的
六、沉淀条件的选择
离子或原子位置上,而是位于晶格的空隙中)
化学形式相同:KMnO4和BaSO4
离子大小相近:LaF3和CaF2
6-9
如何避免生成混晶? 生成混晶的选择性是比较高的,要避免也较困 难。因为不论杂质的浓度多么小,只要构晶离子 形成了沉淀,杂质就一定会在沉淀过程中取代某 一构晶离子而进入到沉淀中。
减小或消除方法
例如,测定SO42-时,以BaCl2为沉淀剂,如果试液中 有Fe3+存在,当析出BaSO4沉淀时,本来是可溶性的 Fe2(SO4)3 也被夹在沉淀中。 BaSO4 应该是白色的, 如果有铁盐共沉淀,则灼烧后的BaSO4中混有黄棕色 Fe2O3。这会给分析结果带来正误差。
6-3
(1)表面吸附 Adsorption on the surface
5)再沉淀
有效减小吸留或包埋的共沉淀及后沉淀现象
6-15
沉淀条件对沉淀纯度的影响
沉淀条件 稀释溶液 慢沉淀 搅拌 陈化 加热 洗涤沉淀 再沉淀 混晶 表面吸附 吸留或包夹 继沉淀
O 不定 O
+
+
O — O — O O +
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+
+
+
+
不定
不定 O +
+
+ + +
+
+ O +
+:提高纯度;—:降低纯度;O:影响不大
将杂质事先分离除去; 加入络合剂或改变沉淀剂,以消除干扰离子
6-10
(3) 吸留和包夹 吸留:沉淀剂浓度较大,晶体生长太快, 沉淀表面吸附的杂质离子来不及离开 沉淀表面,被包藏在沉淀的内部。
包夹:母液被包夹在沉淀中。
无法用洗涤的方法除去
一般只在可溶性盐的结晶过程中比较严重 减少或消除方法 改变沉淀条件,重结晶或陈化
14
3.提高沉淀纯度的措施
Techniques for improving the purity of precipitate 1)选择适当分析步骤
测少量组分含量时,首先沉淀含量少的组分
2)改变吸附杂质的存在形式
分离除去,或掩蔽
3)选择合适的沉淀剂
选用有机沉淀剂可有效减少共沉淀
4)改善沉淀条件
温度,浓度,试剂加入次序或速度,是否陈化