透射电镜使用及常规样品观察
透射电镜样品检测标准
透射电镜（TEM）样品的检测标准主要包括以下几个方面：
样品制备：透射电镜样品需要经过精细的制备过程，以确保样品的表面平整、无划痕、无污染。
制备过程中需要使用专业的工具和设备，如切割机、抛光机等，以确保样品的表面质量和完整性。
样品厚度：透射电镜样品需要具有一定的厚度，以便在电镜下观察到样品的内部结构。
样品的厚度需要根据实验目的和样品类型来确定，一般要求在几十纳米到几百纳米之间。
样品纯度：透射电镜样品需要具有较高的纯度，以避免杂质对实验结果的影响。
样品的纯度可以通过化学分析、光谱分析等方法进行检测。
样品稳定性：透射电镜样品需要具有一定的稳定性，以避免在电镜下观察过程中发生变形或破裂。
样品的稳定性可以通过对样品的热稳定性、机械稳定性等方面的测试来评估。
图像质量：透射电镜样品的图像质量是评价样品质量的重要指标之一。
图像质量包括分辨率、对比度、清晰度等方面，需要满足实验要求和标准。
总之，透射电镜样品的检测标准需要综合考虑多个方面，以确保实验结果的准确性和可靠性。
同时，在进行透射电镜样品制备和检测过程中，需要严格遵守实验室安全规范，确保实验人员的安全和健康。
透射电子显微镜生物样品常规制样技术
忽略其组织的机能；从生物化学观点考虑，
主要研究的是组织和细胞的机能，对形态的 要求有所降低。
透射电子显微镜常规制样步骤
取材 锇酸固定 (后固定) 环氧丙烷置换 60℃）
醛类固定 (前固定) 缓冲液清洗 浸渍 修块 包埋 超薄切片
缓冲液清洗 梯度脱水 聚合（45℃、 铀染色 、铅染色
取材的原则和基本要求
健康危害：对眼和上呼吸道有强烈地刺激性，长时间吸入或皮肤接 触能致敏。 固定作用：醛类固定剂中的醛基对细胞结构具有很高的亲和力，能
制样技术中所用的化学试剂
较好地保存糖元、核酸、核蛋白的特性，对微管、内质网等细胞膜系 统和细胞基质具有良好的固定作用。
缺
点：对脂质不起固定作用。
使用浓度：浓度范围为1～6%，一般常用浓度2%～3%。通常用 pH 6.8～7.5的 0.2M 磷酸缓冲液配制。
取 材 方 法
（2）植物材料 植物材料的取材较为容易，材料离体后的变化不会像动物 材料那样快。但仍需要尽快投入预冷固定液中固定。植物材料表 面的毛刺需要组织软化处理，表面有蜡质的叶片要进行脱蜡处理， 再用双蒸水清洗数次后，取材固定。 植物叶片可切成1mm宽、2～3mm长的长条状，直径小于 0.5mm的幼根可直接取2 ～3mm长一段。 由于植物材料常常漂浮在固定液表面，不利于固定，
取材的原则和基本要求
（4）材料的体积要小 通常戊二醛的渗透深度约为 0.5 毫米，锇酸的渗透深度约 为 0.25 毫米。由于固定液的渗透能力原因，为了使材料各部分 能够得到迅速的固定，取材的体积不应超过1立方毫米。 （5）取材时应避免损伤 取材器械要锋利，尽量减少由于挤压、牵拉所造成组织内 部结构的损伤破坏。通常使用手术刀或双面刀片。
谢谢！
取 材 方 法
透射电镜报告
透射电镜实验报告1、样品要求：首先获得样品的悬浊液（薄膜要用刀片从衬底上刮除后，用乙醇浸润），样品必须是分散剂而不能是溶剂。
铜网直径为3mm，有三个部分所组成：一是物理支撑，上有几um直径的网孔；二是有机膜，防止样品从网孔掉落；三是石墨层，用来消除样品的静电积累和导热。
铜网的正面喷有石墨，比较光滑，背面有铜的颜色，凹凸不平，铜网上不能有肉眼能看到的杂质。
夹铜网时，用尖镊的尖端慢慢挑起铜网的一端，而后夹紧，切勿用力过猛而损坏铜网，将铜网正面向上放在滤纸上，用镊子缠一小段脱脂棉成圆锥状，夹住脱脂棉的另一端，蘸取少量样品悬浊液，轻轻涂在铜网上。
从侧面观察，乙醇溶剂会有小鼓包。
如果样品过浓，应重新制样或涂样时快速地涂在铜网上。
水溶剂干的比较慢，不会干燥的有机溶剂则不能测，乙醇制备的样品2、3分钟后就会自然干燥，然后铜网可放入样品架。
2、仪器组成：灯丝聚光镜光栏：聚光、整流物镜极靴：强力约束磁场的形状，由于极靴和样品架的间隙很小，故进样时应加倍小心。
物镜光栏：限定景深，消除杂散光（样品对电子束的散射形成）CCD探测器;侧插式（分辨率相对较低，靠近光束线）3、仪器启动①加速电压为超高压，需要精确稳定，高压始终开着为100KV，7650的最高压为120KV。
②打开灯丝电压，20V，稳定后灯丝电流为14uA。
目前所用的灯丝为钨丝，寿命为200—400h,是发卡式灯丝，或者也可以采用LaB6单晶。
③加遮光板偏压，843V。
因电子打在样品上会产生一定剂量的X射线，可能对人体有害，故在换样时应将偏压切断，此时加反向偏压，抑制灯丝电流。
4、观察拍照按RESET键，重置所有参数，归零。
调节亮度，使光斑扩散至整个观察窗。
按下WOB—辅助聚焦按钮，调节Z轴使物平面和电子束聚焦平面重合，此时观察窗中的图像不再抖动。
调节X,Y轴，将欲观察的区域移到观察窗中心，调节放大倍数按钮至合适的倍数。
将亮度打暗至肉眼稍稍能看清为止，在软件窗口点击动态观察按钮，点击自动查看曝光时间，如果时间小于250ms，应立即点击拍照键，退出摄像头，将亮度调亮后重新动态观察，曝光后调整图像的亮度（红线）和对比度（蓝线）。
透射电镜使用说明
透射电镜使用说明1、由管理员开启透射电镜，调好仪器状态，安装样品。
2、在荧光屏状态下观察样品，通过轨迹球选择观察区域，通过Brightness调节画面亮度（*逆时针旋转调亮，顺时针旋转调暗）。
3、选择好观察区域后，调弱光强，确保CCD界面上的光强度（screendensity(A/cm2)）在10-12数量级，然后切换到CCD模式进一步调整。
*一定记得调弱光（顺时针）后才能切换至CCD界面，否则会打坏CCD。
4、通过Mag旋钮进一步增大放大倍数，选定好拍照区域后通过Brightness调整光强，使CCD界面中的波峰在中部比较好。
*若要增大放大倍数，直接顺时针旋Mag；若要减小放大倍数，要先顺时针旋Brightness减弱光强，然后逆时针旋Mag，否则会打坏CCD。
5、点击面板上的Focus键自动聚焦，然后使用Focus旋钮将图像调整清晰。
如果肉眼不好判断是否聚好焦，可点面板上的WOB键，用Focus调至画面不晃动即可，关WOB，准备拍照。
6、在CCD 界面点击Freeze进行拍照之后点击Save进行存储图像。
*一定要点Save，否则图像不会自动保存。
7、切换至荧光屏状态，继续寻找观察区域，然后重复步骤2-6。
*若在小范围内继续观察，可以在步骤6后调弱光强（Brightness顺时针）后，直接点击Run打开CCD继续观察拍照。
8、一个样品观察完毕后，在Stage Operation中选择下一个样品，然后重复步骤2-6。
备注：请勿自行更改任何仪器设置和参数，如需换样或有任何疑问，请联系管理员：肖媛，135********。
谢谢！2013年10月15日。
透射电镜扫描电镜观察样品相关标准
透射电镜扫描电镜观察样品相关标准
透射电镜和扫描电镜在观察样品时，对样品有不同的要求：
透射电镜的样品需要非常薄，一般在nm之间，而且必须用铜网支撑，铜网的孔径约有数十微米。
样品需要干燥后才可用于观察，并且必须具有导电性。
对于非导电性的物质，需要在样品表面镀金属层，一般需要厚度为10nm左右，以防止荷电现象并减轻由电子束引起的样品表面损伤。
扫描电镜在满足观察的情况下，样品尽量小为宜，要求样品干净、干燥、不发光、不发热、磁性弱而且导电。
对于粉末样品，可设法将其分散在附有支持膜（如火棉胶膜、微栅膜、超薄炭膜）的铜网上，铜网及火棉胶膜对粉末样品起支撑、承载和黏附作用。
以上内容仅供参考，如需更专业全面的信息，建议查阅电镜相关的书籍或咨询电镜领域的专家。
透射电镜样品制备与观察实验指导手册
兰州理工大学学生实验指导书学院材料科学与工程学院实验室实验中心课程名称材料分析、测试方法实验类型综合性实验名称透射电镜样品制备与观察指导教师陈经民透射电镜样品制备与观察实验指导书1、实验原理及其目的1.1、透射电镜的组成与原理透射电镜是研究材料的重要仪器之一.透射电镜通过加速高压发射电子,并使电子束透射试样后,与试样内部原子发生相互作用,从而改变其能量及运动方向.由于不同结构具有不同的相互作用,因而,就可以根据透射电子图象所获得的信息,来了解试样内部的晶体结构.由于试样结构和相互作用的复杂性,因此透射电镜所获得的图象也很复杂.它不象表面形貌那样直观、易懂.因此,如何对一张电子图象获得的信息作出正确的解释和判断,不但很重要,也很困难,必须根据相应的理论才能对透射电子象作出正确的解释.透射电镜的组成与原理1.2、透射电镜样品的制备原理及方法将材料的粉末经研磨、过滤等方法,将粉末颗粒的粒径控制在50nm以下,然后取少量粉末放入装有无水乙醇根据材料不同,也可选用甲苯、丙酮等溶液的小试管中,再放入超声波振荡器中震荡10分钟左右,使粉末颗粒充分悬浮在溶液中.最后将溶液滴到铜网或微栅上观测倍数在20万倍以下时,用铜网；观测倍数在20万倍以上时,用微栅,即可放入透射电镜中观测.首先用金刚石圆锯或线切割机将块体材料切割成厚度为0.5mm以下、面积为2平方cm 以上的薄片,再用砂纸将其厚度打磨到0.1mm以下.然后用样品冲片器将薄片冲成直径为3mm的小圆片,再用凹坑仪在小圆片的中心位置凹一个小坑,以备用.导电材料可通过双喷电解的方法,对样品进行电解腐蚀,最终减薄样品.电解抛光减薄是制备金属薄膜最常用的方法之一.双喷射电解减薄器是其中主要的一种装置.其特点是：1.采用同轴光导控制,在金属薄片抛光减薄穿孔时能接收到光信号,穿孔后立即报警.2.电解液喷射循环泵的驱动马达与电解槽分隔开,马达不能被电解液污染.3.自压式液氮冷却系统,快速冷却电解液.非导电材料可通过离子减薄的方法,对样品进行离子轰击,最终减薄样品.通过本次实验,学生应该基本了解透射电镜样品的制备方法与透射电镜的工作原理. 2、实验内容2.1、透射电镜样品的制备首先用金刚石圆锯或线切割机将块体材料切割成厚度为0.5mm以下、面积为2平方cm 以上的薄片,再用砂纸将其厚度打磨到0.1mm以下.然后用样品冲片器将薄片冲成直径为3mm的小圆片,再用凹坑仪在小圆片的中心位置凹一个小坑,以备用.1、首先用电火花切割机或低速金刚石锯切割厚度0.3-0.5mm的金属试样.2、通过手工研磨将金属试样研磨成厚度～0.05mm的金属薄片.3、用冲片器将金属薄片冲成3mm的小圆片.如果有精密凹坑研磨仪,最好先用凹坑仪在小园片中心研磨一个凹坑,然后再进行电解减薄.4、仔细地把需要减薄的金属薄片嵌入样品夹白金电极凹槽中,用镊子夹住双斜面块放入样品夹推下斜面压杆使小圆片与白金电极保持良好的接触.灵敏度“SENSITIVITY”旋钮沿顺时针方向旋转到底0,合上总电源“POWER”开关,调节喷射泵“PUMP”旋钮,使双喷嘴射出的相向电解液柱相接触,在两个喷嘴之间形成一个直径数毫米的小水盘.5、样品夹插到电解槽中,电解抛光电源的阳极红色夹子接到样品夹侧面的接线柱上.6、灵敏度“SENSITIVITY”旋钮调节到中心位置或逆时针方向旋转到底O,该位置穿孔报警灵敏度最高.7、合上电解抛光电源“POLISH”开关,顺时针方向旋转抛光电源“DCPOWER”旋钮,把电解抛光电压和电流调到所需要的数值.8最佳的电解液浓度,温度以及抛光电压和电流值确定后,抛光可继续进行至穿孔报警声响.一旦金属薄片抛光减薄出现穿孔,光导控制系统会断续地自动切断电解抛光电源和磁力泵电源,而且会发出报警声.此时应立即关闭总电源“POWER”,迅速取出样品夹,放到无水酒精中浸洗,然后取出双斜面压块,用镊子夹住金属小园片放到清洁的无水酒精中浸洗.1、启动水循环设备依次按POWER、COOL、PUMP按钮.2、启动离子减薄仪①、依次按总电源POWER、机械泵R-PUMP、扩散泵D-PUMP键.②、扩散泵加热40分钟后,拉出预真空阀杆到死点位置.③、当真空表指针接近100uA时,推回预真空阀杆到死点位置.④、将高真空碟阀扳手扳至<开启>位置,将气流阀扳平.⑤、当真空指示接近25uA时,按下高压按钮,打开两个氩气阀门.⑥、通过调节电压和气流旋钮,将高压控制在6kV左右,将电流控制在接近0.2uA.3、停机①、将两个高压调到0,按灭高压按钮；②、将真空碟阀扳手扳到<关闭>位置,将气流阀扳下；③、按灭扩散泵键D-PUMP,等待45分钟后,按灭机械泵R-PUMP键,关闭总电源,关闭水循环.4、更换样品①、依次操作第二项中①～②步.②、按住预真空阀杆,再按住放气键VENTING,直至彻底放气.③、取下样品台及样品.2.2透射电镜样品的观察目前我校材料学院所拥有一台日本电子生产的JEM-2010型高分辨透射电镜,最高加速电压可达到200KV,最大放大倍数：150万倍,灯丝：LaB6和W灯丝,晶格分辨率：0.14nm,点分辨率：0.23nm.主要附件：美国Gatan公司透射电镜CCD电子图像系统,型号：MultiScanCamera,Model794,分辨率1024ⅹ1024；英国牛津仪器公司INCAEnergyTEMX射线能谱仪简称：EDS.该设备可对各种有机、无机、纳米材料进行微观形态结构研究,高分辨透射象观察、选区电子衍射、及EDS元素分析.通过CCD电子图像系统,可直接采集透射电镜的电子图像并转化为数字图像,在计算机上进行存储,图像处理和U盘、光盘输出,省去了拍摄冲洗电镜底片的麻烦,大大提高了工作效率.2.2.1透射电镜开机1、检查真空：主机压力表在x10-5Pa量程档,指针应在中间偏左位置.2、打开CCD开关,启动计算机,扳上<LENS>开关,高压指示灯亮后,按亮HT按钮,等该按钮绿灯闪烁完毕后,方可开始加高压.在键盘上键入：LOADHT<回车>RUN<回车>然后,根据提示,分段输入起始电压、终止电压、步长、用时：20→100KV,步长：10,用时：5min,等待5min；100→160KV,步长：10,用时：10min,等待5min；160→180KV,步长：10,用时：15min,等待5min；180→200KV,步长：10,用时：20min,等待5min.3、插入、观察样品及CCD拍照：先检查样品的偏移和倾斜是否为0,然后拉出试样台,更换样品后,插入试样台进行预抽真空,等待绿灯亮后过5min,完全插入试样台,再过2min 后才可加灯丝电流必要时,可在冷井中充入液氮.选择合适的聚光镜光阑,打开灯丝,观察样品.通过BRIGHTNESS旋钮将CurrDems:显示调整到10以下,按下上键,抬起荧光屏、运行拍照软件,调整焦距和亮度,然后拍照.4、样品观察完毕后,将放大倍数设定在40K,束流聚焦在观察屏中心,关闭灯丝电流,复位试样台至“0”,盖上观察窗盖.1、先退下高压至20KV200→20KV,步长：－10,用时：2min,然后按灭HT按钮.2、移出物镜光阑和选区光阑.3、扳下LENS开关.。
透射电镜实验报告
透射电镜实验报告引言：透射电镜是一种重要的实验工具，广泛应用于物理、化学、材料科学等学科领域。
它能够通过透射电子束观察样品的原子结构和晶体缺陷，为科学研究提供了重要的帮助。
在本次实验中，我们将学习如何使用透射电镜，并通过观察和分析样品的透射电子图像，探索材料的微观结构。
实验目的：1. 了解透射电镜的工作原理和操作方法。
2. 观察和分析不同材料的透射电子图像，研究其晶体结构和缺陷。
实验步骤：1. 准备样品：选择一块具有明确结构的金属样品作为实验对象，将其切成薄片，并对其表面进行必要的清洁处理。
2. 将样品粘贴到透射电镜样品支架上，注意调整样品的位置和角度，使得透射电子束可以完全穿过样品。
3. 打开透射电镜的电源，调节加速电压和透镜参数，使得透射电子束的能量和取向适合观察样品的微观结构。
4. 通过透射电镜的控制台，调整透射电镜的对焦和对准，使得透射电子束能够在样品上形成清晰的投影。
5. 使用透射电镜的摄像设备，观察和记录样品的透射电子图像。
实验结果：在本次实验中，我们观察了两种不同结构的金属样品的透射电子图像，并进行了分析。
第一种样品是单晶金属。
通过透射电子图像，我们发现在样品中存在着明确的晶体结构，不仅可以看到晶体的外形，还能够观察到晶体内部的定向排列和晶格缺陷。
通过对晶格缺陷的分析，我们可以得出有关材料强度和磁性等性质的结论。
第二种样品是多晶金属。
与单晶金属不同，多晶金属样品的透射电子图像呈现出许多颗粒状的结构，这些结构对应着不同方向的晶体。
通过观察这些颗粒状结构的分布和排列，我们能够得出多晶材料的晶粒大小和定向度等信息。
讨论和结论：透射电镜实验的结果验证了该仪器在材料科学研究中的重要性。
通过观察和分析样品的透射电子图像，我们能够深入了解材料的微观结构、晶格缺陷以及其他重要的物理性质。
这对于材料的设计、改进和性能评估具有重要的意义。
然而，在实验中也存在一些限制。
首先，透射电子图像的分辨率受到透射电镜本身的限制，这限制了我们对晶体结构的详细观察。
透射电子显微镜的使用教程
透射电子显微镜的使用教程透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope，简称TEM）是一种高分辨率的显微镜，它能够通过电子束穿透样品，观察样品内部的结构和成分。
本文将介绍透射电子显微镜的使用教程，让读者了解如何正确操作这一仪器。
1. 仪器准备使用透射电子显微镜前，首先需要进行仪器的准备工作。
确保仪器处于良好的工作状态，例如检查电源、真空系统等。
同时，还应检查样品台、样品支架等配件是否完好。
此外，为了获得更好的成像效果，还需准备适当尺寸的透射电镜样品。
2. 样品制备将待观察的样品制备成符合要求的样品是使用透射电子显微镜的重要一步。
通常情况下，需要将样品制备成薄片，以保证电子束能够穿透样品。
这可以通过机械剥离、石墨化学剥离等方式实现。
制备好的样品应该放置在电镜网格上，并确保样品无尘、无气泡等。
同时，样品可以根据需要进行涂覆、染色等处理，以突出样品的特定结构。
3. 调试仪器参数在开始观察之前，需要根据样品的特点和使用需求调试透射电子显微镜的参数。
首先，根据样品的特性选择合适的加速电压和操作模式。
其次，通过调整透射电子显微镜的对焦系统和磁镜，确保电子束可以准确地聚焦在样品上。
此外，还需要适当调整透射电镜的亮度和对比度，以获得清晰的图像。
4. 开始观察调试好仪器参数后，就可以开始观察样品了。
将样品放置在样品台上，确保样品与电子束之间的距离适当。
随后，可以通过透射电子显微镜的视野调整系统选择感兴趣区域进行观察。
可以使用不同的放大倍数和透射电子干涉仪等设备来进一步细分样品，探寻内部结构和成分。
观察过程中，可以使用仪器自带的捕捉功能，记录感兴趣区域的图像和视频。
5. 数据处理和分析观察完成后，可以进行数据处理和分析。
透射电子显微镜通常配备了一些图像处理工具，可以进行图像的增强、滤波等操作。
此外，还可以使用电子衍射、原子能谱等技术，对样品进行更深入的分析。
通过数据处理和分析，可以得到关于样品结构、成分和性质的详细信息。
透射电镜组织处理
透射电镜组织处理
透射电镜（Transmission Electron Microscope，TEM）是一种高分辨率的显微镜，可以用于观察和分析材料的微观结构和成分。
在使用透射电镜进行样品观察之前，需要对样品进行适当的处理。
以下是透射电镜组织处理的一般步骤：
1. 固定样品：将要观察的组织样品进行固定处理。
常用的固定剂有醛固定剂，如戊二醛或葡萄糖醛固定剂。
固定的目的是停止细胞功能，保存细胞和组织的原貌。
2. 切片：将固定的样品块切割成非常薄的切片。
通常使用超薄切片机或者离心机来获得薄片。
厚度通常为50到100纳米左右，以保证透射电镜的有效穿透。
3. 染色：对切片进行染色以增强对细胞结构的观察。
常用的染色剂有重铀酸、铅酸等。
染色的目的是使细胞结构在电子束中的对比度增强。
4. 上膜：在切片的背面电镜网格上涂上薄膜，以便将切片固定在透射电镜的样品架上。
5. 透射电镜观察：将处理好的样品放置于透射电镜中观察。
通过调整电子束的聚焦和缩放，可以观察到组织和细胞的微观结构。
透射电镜组织处理的目的是保持样品的原始结构和形态，并使其适应电子束的穿透性观察。
注意，在进行透射电镜观察之前，样品必须成为极度干燥状态，因为电子束对水分很敏感。
通过透射电镜观察和分析组织样品，可以获得高分辨率和高对比度的图像，从而进一步了解组织和细胞的微观结构和功能组织。
这对于生物学研究、药物开发和疾病研究具有重要意义。
实验四 透射和扫描电镜的样品观察
实验四透射和扫描电镜的样品观察课程名称：细胞生物学实验实验日期：2014年10月27日班级：试验121（青岛）姓名学号：刘香凝sy0040一、实验原理用电子束成像的显微镜称为电子显微镜。
电子显微镜是一种高精密度的电子光学仪器，它具有较高的分辨力和放大倍数，是观察和研究物质微观结构的强大工具。
根据成像原理的不同，电镜分为透射电子显微镜和扫描电子显微镜。
（一）、透射电子显微镜原理透射电镜主要用于观察生物样品内部精细的结构，用于透射电镜观察的样品往往需制备成超薄切片。
1、透射电镜的基本构造1）电子束照明系统：照明系统由电子枪和聚光镜两部分组成。
电子枪位于镜筒顶端，由阴极——控制极——阳极构成三级电子枪。
电子枪是电子束的发射装置，由高频电流加热钨丝激发电子，并用高压使电子加速。
聚光镜的作用是将电子枪发出的电子束会聚于样品平面，并调节试样平面处电子束孔径角、电流密度和照明光斑半径.2) 电镜成像系统由样品室、物镜、中间镜和投影镜组成。
通过聚光镜会聚的电子束穿过样品，经物镜放大形成一级放大像，再经中间镜和投影镜进行二级和三级放大。
最后在荧光屏上形成最终的放大像，通过调节中间镜和投影镜电流，放大倍数能从几百倍连续改变到十几万到几十万倍。
聚光镜、物镜、中间镜与投影镜等都是电磁透镜。
电磁透镜是精密加工的中空圆柱体，里面置线圈，通过线圈电流的大小，调节磁场强度使电子束发生偏转，汇聚或发散，最终结果正如光线透过玻璃透镜一样，可以聚焦成像。
3）真空系统由气泵组成，保持镜筒内高真空，由于电镜是利用高速的电子束为照明源，在电子束的通道上不能有任何游离的气体存在，否则将发生电子与残余气体原子的碰撞，引起电离，放电等反应，易烧坏灯丝获污染样品。
4) 记录观察系统包括荧光界和照明系统。
镜筒最下面部位是观察窗。
窗口由防护X射线的一定厚度的铅玻璃组成。
观察窗内下方是荧光屏，荧光屏上的荧光物质通常由硫化锌或硫化锌与硫化镐的粉末组成。
它们在电子束的照射下产生荧光，使电子像转化为肉眼可见的可见光图像。
透射电镜实验报告
透射电镜实验报告透射电镜是一种能够观察样品内部结构的高级显微镜，它利用电子束的透射来形成样品的显微图像。
透射电镜实验是现代生物学、材料科学和纳米技术等领域中常用的实验手段，可以帮助研究人员观察和分析样品的微观结构。
本实验旨在通过透射电镜对样品进行观察，了解透射电镜的工作原理和操作方法，以及掌握透射电镜实验的基本技能。
实验步骤：1. 样品制备，首先，我们需要准备样品。
样品制备的关键是要将样品切割成极薄的切片，以便电子束能够透射样品并形成清晰的显微图像。
2. 透射电镜的准备，接下来，我们需要对透射电镜进行准备。
首先打开透射电镜的主电源，等待其预热。
然后安装样品架，并调整透射电镜的对焦和放大倍数，以确保能够获得清晰的显微图像。
3. 样品观察，将制备好的样品放置到透射电镜的样品架上，调整透射电镜的参数，如加速电压和聚焦，然后通过电子束对样品进行观察。
观察过程中需要注意调整对比度和亮度，以获得清晰的显微图像。
4. 数据分析，观察完样品后，我们需要对获得的显微图像进行分析。
通过观察样品的微观结构，我们可以了解样品的成分、晶体结构、表面形貌等信息，并对样品进行进一步的研究和分析。
实验结果：通过透射电镜观察，我们成功获得了样品的显微图像，并对样品的微观结构进行了初步分析。
我们观察到样品中的颗粒分布情况，以及颗粒的形状和大小。
通过对比不同样品的显微图像，我们还可以比较不同样品之间的微观结构差异，为进一步研究提供了重要参考。
实验总结：透射电镜实验是一项重要的实验手段，可以帮助研究人员观察和分析样品的微观结构。
通过本次实验，我们掌握了透射电镜的操作方法和样品制备技巧，并成功获得了样品的显微图像。
透射电镜实验为我们提供了一种全新的观察样品的方式，为我们的研究工作提供了重要的帮助。
透射电镜实验报告到此结束。
透射电镜的注意事项
透射电镜的注意事项透射电镜是一种高精度的电子显微镜，能够观察样品的原子结构。
在使用透射电镜时，需要注意以下事项，以确保实验结果的准确性和仪器的安全。
1.样品准备样品是透射电镜观察的对象，因此样品准备是透射电镜使用中至关重要的一步。
以下是样品准备过程中需要注意的事项：（1）了解样品性质和厚度：在准备样品前，需要了解样品的性质（如金属、半导体、陶瓷等）和厚度，以便选择合适的制备方法和参数。
（2）确保样品有足够的支撑：透射电镜观察的是薄膜样品，因此需要将样品附着在足够的支撑上，如铜网、碳膜等。
（3）避免在样品中留下痕迹：制备样品时需要小心操作，避免在样品表面留下划痕、颗粒等影响观察的标记。
2.操作规范透射电镜操作需要严格遵守操作规程，以下是操作过程中需要注意的事项：（1）确保操作台表面整洁：操作台表面应保持干净整洁，避免放置杂物，以免影响实验结果。
（2）遵守设备使用规程：使用透射电镜前需要认真阅读设备使用手册，了解设备的使用方法和注意事项。
（3）佩戴防护设备：操作透射电镜时需要佩戴必要的防护设备，如手套、实验服、眼镜等，以避免受到辐射和污染的伤害。
3.真空系统透射电镜需要在高真空环境下工作，因此真空系统的状态对实验结果和仪器安全都有重要影响。
以下是使用透射电镜时需要注意的真空系统方面的事项：（1）定期检查真空度：使用透射电镜前需要检查真空腔体内的真空度，确保其达到工作要求。
（2）保持气密性：真空系统需要保持良好的气密性，防止外界气体进入真空腔体内。
（3）定期更换真空部件：为了保持真空系统的稳定性和可靠性，需要定期更换易损件和老化部件。
4.电子束稳定性透射电镜的电子束稳定性是保证实验结果准确性的关键因素之一。
以下是使用透射电镜时需要注意的电子束稳定性方面的事项：（1）保证电子光学系统稳定：电子光学系统是透射电镜的核心部分，需要确保其稳定工作。
在操作过程中需要注意控制电压、电流等参数，避免对电子光学系统造成影响。
透射电镜日常使用
4. 合轴(使用前的简单合轴)
1）必须过焦照明(用BRIGHTNESS顺时针散开） 2）确定物镜(OL)焦距(2010系列DV为0，2100系列按 一下STANDARD FOCUS） 3）样品高度的确定 当物镜的焦距确定后，随后就需要来确定样品的高 度，否则无法得到清晰的图像。 方法：调整样品台的高度(Z)，使观察样品的图像 正焦。(用Image Wobbler检查聚焦情况较方便)
2. 升高压
1) 高压READY 2) 真空进入1X10－4Pa(镜筒SIP真空) 3) 对于200KV电镜从120KV，300KV电镜从200KV直接 HT ON 4) 确认暗电流 5) 自动升高压（升高压其实没有固定的格式，可以 根据自己的实际设计一个升高压方式，但以稳 定，安全为基准）
3. 发射电子束(出亮)
1) 确认离子泵(SIP)和样品台预抽室的真空(绿灯亮 否？)，将HOLDER放入镜筒中。 2) 等离子泵的真空度进入4x10-5Pa。 3) 确束发射稳定。 5) 移动样品使得电子束能够到达荧光屏上，电子束 发射即告结束。 6) 寻找样品位置（LOW MAG下比较好找样品位置）
透射电镜日常使用
1. 准备试样
1) 装试样入HOLDER(样品台)，检查双O-RING。 放HOLDER入测角台，开始予抽真空 2) 将MONITOR调到真空图的页面，便于确认真 空系统动作顺序。 注意事项： * 装样品时一定要小心！以免损坏样品、样品台。 * 放HOLDER入测角台前，用HOLDER适当部位敲击 手掌数次较好。
4）电压中心的确认 由于C-O LENS系统对电压中心合轴的好坏比较 敏感，所以需要大家时刻注意电压中心（放大倍数 在100K以上时调整） 5）物镜像散 磁透镜的像散主要是和产生透镜聚焦作用的磁场 分布、以及强度有关，所以改变相应的量后，就要 随时校正物镜像散 * 以上各合轴步骤有严格的顺序关系，请大家注 意。
透射电镜的使用方法和观察技巧
透射电镜的使用方法和观察技巧透射电镜（Transmission Electron Microscope，简称TEM）是一种非常强大的工具，它能够以高分辨率来观察物质的微观结构和成分。
通过TEM，科学家们可以更好地理解原子和分子层面的结构和性质。
本文将介绍透射电镜的使用方法和一些观察技巧，帮助读者更好地利用这一仪器。
在使用透射电镜之前，首先需要进行一些准备工作。
最重要的一步是样品的制备与处理。
样品的制备对于获得高质量的图像至关重要。
样品通常需要被切割成非常薄的切片，常用的工具是离心切片机或者离心磨削机。
切片的厚度通常在几纳米至几十纳米之间，过厚或过薄都会影响图像的质量。
此外，在切割后，我们需要使用一些药剂进行清洗和净化，以去除切割时可能附着的污染物。
准备工作完成后，我们可以将样品放入透射电镜当中进行观察。
为了获得清晰的图像，我们需要将电镜调整至最佳状态。
首先，调整透射电镜的对准，确保电子束能够正确地通过样品。
然后，我们需要调整透射电镜的对焦以及亮度和对比度，以获得清晰和明亮的图像。
这一步骤需要耐心和细心，因为微小的调整可能会产生巨大的影响。
一旦电镜准备就绪，我们可以开始观察样品了。
对于初学者来说，最好选择一些相对简单和易观察的样品，以便更好地理解透射电镜的操作和图像解读。
例如，金属纳米颗粒或者碳纳米管等样品都是非常受欢迎的选择。
观察样品时，需要将电镜设定为合适的放大倍数以及曝光时间。
使用过高的放大倍数可能会造成图像模糊，而曝光时间过长可能会导致图像过曝或过暗。
合理地选择这些参数对于获得清晰的图像至关重要。
另外，在观察过程中，我们还需要注意一些技巧和细节。
首先，由于透射电镜中使用的是电子束，而电子束对样品的伤害是不可忽视的，因此我们需要尽量保持较低的电子束强度和较短的照射时间，以避免对样品的损伤。
同时，我们还需要保持透射电镜的真空状态，因为任何微小的气体分子都可能对电子束的传输和样品的观察造成干扰。
失效分析常用工具介绍透射电镜（TEM）TEM一般被使用来分析样品形貌
失效分析常用工具介绍透射电镜（TEM）TEM一般被使用来分析样品形貌（morhology），金相结构（crystallographic structure）和样品成分分析。
TEM比SEM系统能提供更高的空间分辨率，能达到纳米级的分辨率，通常使用能量为60-350keV的电子束。
与TEM需要激发二次电子或者从样品表面发射的电子束不同，TEM收集那些穿透样品的电子。
与SEM一样，TEM使用一个电子枪来产生一次电子束，通过透镜和光圈聚焦之后变为更细小的电子束。
然后用这种电子束轰击样品，有一部分电子能穿透样品表面，并被位于样品之下的探测器收集起来形成影像。
对于晶体材料，样品会引起入射电子束的衍射，会产生局部diffraction intensity variations，并能够在影像上非常清晰的显现出来。
对于无定形材料，电子在穿透这些物理和化学性质都不同的材料时，所发生的电子散射情况是不相同的，这就能形成一定的对比在影像观察到。
对于TEM分析来说最为关键的一步就是制样。
样品制作的好坏直接关系到TEM能否有效的进行观察和分析，因此，在制样方面多加努力对于分析者来说也是相当必要的工作。
扫描声学显微镜集成电路封装的可靠性在许多方面要取决于它们的机械完整性.由于不良键合、孔隙、微裂痕或层间剥离而造成的结构缺陷可能不会给电性能特性带来明显的影响,但却可能造成早期失效.C模式扫描声学显微镜(C—SAM)是进行IC封装非破坏性失效分析的极佳工具,可为关键的封装缺陷提供一个快速、全面的成象.并能确定这些缺陷在封装内的三维方位.这一C—SAM系统已经在美国马里兰州大学用于气密性(陶瓷)及非气密性(塑料)IC封装的可靠性试验。
它在塑料封装常见的生产缺陷如:封装龟裂、叶片移位、外来杂质、多孔性、钝化层龟裂、层间剥离、切断和断裂等方面表现出字串1俄歇电子（Auger Analysis ）是一种针对样品表面进行分析的失效分析技术。
透射电镜的使用流程
透射电镜的使用流程简介透射电镜（Transmission Electron Microscope，简称TEM）是一种能够使用电子束来观察物质的高分辨率显微镜。
它可以提供比光学显微镜更高的放大倍数和更高的分辨率，因此被广泛应用于材料科学、生物学和纳米技术等领域。
本文将介绍透射电镜的使用流程。
使用流程1.准备工作–关掉手机等干扰设备，确保安静的实验环境。
–戴上护目镜和手套，确保实验操作的安全。
–确保透射电镜和相关设备处于正常工作状态，并联网（如果需要）。
2.打开透射电镜–打开透射电镜的主机，并等待系统启动。
–检查电子束的亮度和对比度，根据需要进行调整。
3.样品制备–准备样品，并将其切割成薄片，确保透射电镜的电子束可以穿透样品。
–使用显微镜或其他相关设备，将样品转移到透射电镜的样品台上。
4.调整透射电镜参数–使用透射电镜的控制台，调整电子束的聚焦和对准，以确保获得最佳的图像质量。
–根据样品的特点和需要，选择适当的电子束诸如干涉仪或投影仪。
5.开始观察–将透射电镜设置为所需的放大倍数，并将样品移动到电子束的路径上。
–通过电子感应器或激光系统，记录所观察到的图像，可以通过照相机或视频设备进行记录。
6.数据分析和保存–对所得到的图像进行分析和解释，可以使用透射电镜软件进行图像处理和测量。
–根据需要，将数据保存到计算机或其他存储设备中，以备后续分析和研究。
7.关闭透射电镜–使用透射电镜的控制台，将电子束设置为关机状态。
–关闭透射电镜的主机，并确保所有相关设备也被关闭。
注意事项•在操作透射电镜时，注意避免触摸样品或其中的部分，以免造成污染或损坏。
•当使用透射电镜时，要避免使用过高的电子束能量，以防止样品的热损伤。
•在整个使用流程中，保持实验环境干净和整洁，以确保获得高质量的图像结果。
•在存储和处理数据时，注意合理规划数据的文件结构和命名，以方便后续的管理和使用。
透射电镜是一项复杂而强大的工具，在使用过程中需要谨慎操作，并了解每个步骤的目的和要求。
透射电镜实验报告
透射电镜实验报告透射电镜是一种利用电子束来观察物质内部结构的仪器，它能够提供比光学显微镜更高的分辨率。
本次实验旨在通过透射电镜对样品进行观察，了解其内部微观结构，并对实验结果进行分析。
首先，我们准备了样品，并将其放入透射电镜中进行观察。
在实验过程中，我们注意到样品的表面光滑，但在高倍放大下，可以清晰地看到其内部结构。
通过调整透射电镜的参数，我们成功地观察到了样品内部的晶格结构和微观形貌。
这些观察结果为我们提供了对样品内部结构的深入理解。
在观察过程中，我们发现样品的晶格结构呈现出一定的规律性，这与其物理性质密切相关。
通过对透射电镜观察结果的分析，我们得出了关于样品内部结构的一些重要信息。
这些信息对于进一步研究样品的性质和应用具有重要意义。
除了观察样品的晶格结构外，我们还对其微观形貌进行了详细的观察和分析。
通过透射电镜的高分辨率成像能力，我们清晰地观察到了样品表面的微观特征，这些特征对于样品的性能和功能具有重要的影响。
通过对这些微观特征的观察和分析，我们可以更好地理解样品的表面性质，并为其应用提供重要参考。
综合以上观察结果和分析，我们对样品的内部结构和微观形貌有了较为全面的了解。
透射电镜实验为我们提供了一种强大的工具，能够帮助我们深入研究样品的微观结构和性质，为进一步的科研工作提供了重要支持。
总的来说，透射电镜实验为我们提供了一次宝贵的机会，通过对样品的观察和分析，我们对其内部结构和微观形貌有了更深入的了解。
这些观察结果对于我们进一步研究样品的性质和应用具有重要意义，也为我们提供了一种强大的工具，能够帮助我们更好地理解和利用材料的微观世界。
透射电镜实验的成功举行，为我们的科研工作带来了新的启示和挑战，也为我们的学术研究提供了新的方向和动力。
透射电镜组织处理
透射电镜组织处理
透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope，TEM）是一种强大的显微镜技术，可以对材料的内部结构和组织进行高分辨率的观察。
为了进行透射电镜观察，材料通常需要经过一系列处理步骤以准备样品。
下面是一般的透射电镜组织处理步骤：
1.采样和切片：从原始材料中采集要观察的样品，并使用显
微切割机或离心切片机将样品切片成适当的厚度（通常是
几十到几百纳米）。
2.修剪和固定：根据需要，选择感兴趣的样品区域，修剪并
将其固定在载玻片或网状膜上，以便在电镜中进行观察。
3.固定剂处理：为了保持样品的原始结构和形态，通常使用
特定的固定剂处理样品。
例如，常用的固定剂有冷冻醇、
蛋白质交联剂（如缩醛或戊二醛）等。
4.重金属染色：为增加样品的对比度，某些样品可能需要进
行染色处理。
重金属染色剂（如铀酸或铋酸）通常用于染
色，以增强电子束与样品的相互作用。
5.脱水和浸透：为了进一步固化样品并保持其结构，通常使
用乙醇或丙酮等有机溶剂进行脱水处理，并使用一些合适
的浸透剂（如酮树脂或环氧树脂）浸透样品。
6.切片和显影：将浸透好的样品切成适当的薄片（通常是50
至100纳米），并使用硝酸铋等显影剂处理样品，以增强
对比度。
7.观察：将处理好的样品放入透射电镜中，利用电子束穿过
样品观察样品的内部结构和组织。
需要注意的是，透射电镜组织处理的具体步骤和条件可能会根据不同的样品类型和目的而有所不同。
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电镜技术实验报告
任课老师:
实验名称：实验二：透射电镜使用及常规样品观察
实验目的:
了解透射电子显微镜的基本原理、电镜生物标本的制备方法及电镜金属标本的制备方法和观察。
实验原理:
透射电子显微镜是以图象方式提供样品的检测结果，其成像的决定因素是样品对入射电子的散射，包括弹性散射和非弹性散射两个过程。
薄样品成像时，未经散射的电子构成背景，而像的衬度取决于样品各部分对电子的不同散射特性。
采用不同的实验条件可以得到不同的衬度像。
透射电子显微镜不仅能显示样品显微组织的形貌，而且可以利用电子衍射效应同样获得样品晶体学信息
透射电镜的构造及与光学显微镜比较:
三、仪器与材料:
仪器：JEM-2100型透射电子显微镜、超薄切片机、恒温箱、400目铜
网等
姓名: 专业: 日期: 成绩:
学号:
占
成
您
系
统
透
射
电
子
盘
镜
照
明
系
统透
射
光
学
显
微
镜
—比刚
3、对所观察样品进行拍照
五、实验结果及思考：
实验结果以照片形式附在最后
思考：
1、透射电镜的制样目的：要使样品做的很薄，以利于电子束的穿过。
2、什么是超薄切片技术：超薄切片技术包括：取材、固定、脱水、浸
透、包埋、切片及染色。
电镜样品采用戊二醛和锇酸双重固定，用酒精或
丙酮脱水，环氧树脂进行包埋。
3、铜网的构造及其作用：铜网一般直径为3毫米，上面铳有许多微米大小的孔，在铜网上覆盖了一层很薄的火棉胶膜并在上面蒸镀了碳层以增加其膜的强度，被分析样品就承载在这种支撑膜上。
4、SEM照片与TEM照片比较：SEM图象是三维的，而TEM图象是平面二维的；SEM图象的标尺一般比TEM的大近十倍；SEM图象反应的是样品表面的信息，而TEM图
象反应的是样品内部结构。
铜网铜网网孔
金样本金颗粒
卩》■门in
Ji Microscope
4 士
Accelerating Voltage
200 kV
Majftlfica
tloti
150000 x
乂還, .-W -XT
1—20 nm-- 1
测量金颗粒：一个长度为5.85nm，—个长度为5.03nm
铜网上的膜金颗粒电子衍射图
测量金颗粒电子衍射图半径：由内圈到外圈,
半径依次为：4.17 1/nm、4.71 1/nm、7.03 1/nm、8.34 1/nm
-可编辑修改 -
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