第九章透射电子显微镜PPT课件

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课件-第9章-透射电镜

课件-第9章-透射电镜
衬度的主要原因。
布拉格(Bragg)衍射条件: 2d sin n
入射电子束对一个晶粒的某一组 晶面满足Bragg衍射条件后,电子 将和晶面按一定角度发生衍射。
影响因素: A 晶面的方位和间距的影响
B 结构振幅的影响
C 晶体尺寸的影响
选择透射束成像:衍射的电子聚焦于物镜后面的一点,被 物镜光阑挡住,只有透射电子通过光阑参与成像而形成衬度。 这时透射束强度减弱了(与无衍射时相比),样品在像中是 暗的(比背景暗),得到明场像。
4、吸收电子(absorption electrons, AE)
入射电子经多次非弹性散射后能量损失殆尽,不再产生其 他效应,一般被试样吸收,这种电子称为吸收电子。试样 厚度越大,密度越大,吸收电子就越多,吸收电流就越大。 它被广泛用于扫描电镜和电子探针中。
如果通过一个高电阻和高灵敏度的电流表把样品接地, 在高电阻或电流表上可检测到样品对地的电流信号,这就 是吸收电子的信号。吸收电流经过适当放大后也可成像, 形成吸收电流像。它很像是背散射电子像的负片,明暗正 好相反。用吸收电流像观察形貌复杂的样品时,无阴影效 应,像的衬度比较柔和。
六、电磁透镜的焦深 焦深: 透镜像平面允许的轴向偏离。 实际像平面置于理想像平面之上或之下一定范围内,不需 改变透镜聚焦状态,就可使图像保持清晰。
9.2 透射电镜的结构及其成 像机制
一 构造 透射电镜
电子光学系统 真空系统 供电系统 辅助系统
1 电子透镜
在电子显微分析中使电子束发生偏转、聚焦的装置。
在透射电子显微镜中,当电子束穿进试样时,产生4 种基本物理过程:散射、吸收、干涉和衍射。这4种物 理过程原则上都是电镜成像的因素,而其中以散射对成 像的影响最大。
二 电子散射和散射衬度

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一.点分辨本领的测定
将铂、铂-铱或铂-钯等金属或合金,用真 空蒸发的方法获得粒度为5~10埃,间距为2~10 埃的粒子,将其均匀地分布在火棉胶(或碳) 支持膜上,在高放大倍数下拍摄这些粒子的像, 并经光学放大(5倍左右),从照片上找出粒 子间最小的间距,除以总放大倍数,即为相应 电子显微镜的点分辨本领。
荧光屏有较高的分辨率,因此可用光学放 大镜进一步放大。
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二. 成像方式
TEM有两种基本成像模式: 衍射成像——晶体结构同位分析 显微成像——微观组织形貌观察
1. 显微成像
⑴ 高放大倍数成像:中间镜以物镜像为物,投影
镜又以中间镜像为物,成像于荧光屏,结果可
以获得几万至几十万放大倍数电子像。
使用静电透镜(用电场聚焦)需要高 压,给设备的设计和操作带来不便。
故现代电镜中静电透镜只在电子枪中使 用;而聚光镜、物镜、中间镜和投影镜则 都采用电磁透镜(用磁场聚焦),可以通 过改变激磁电流来调节透镜的聚焦能力。
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4、 TEM和光学透射显微镜的异同
相同点: (1)光学成像原理相同; (2)都能用于形貌分析。 不同点: (1)光源不同; (2)聚焦透镜不同; (3)TEM中有中间镜; (4)成像屏幕不同; (5) TEM镜筒中要保持高真空;
晶体样品通过物镜在后焦面上形成 衍射像,调节中间镜焦距,使其物平面 与物镜后焦面重合,可以最终在荧光屏 上形成二次放大的衍射图像。有意义的 衍射像必须明确它是来自样品那个区域 的衍射波,这就是选区衍射。
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一.样品台
1. 功能:承载样品,并使样品能在物镜极靴孔 内平移、倾斜、旋转,以选择感兴趣 的样品区域或位向进行观察分析。

《透射电子显微镜》课件

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光阑
限制照明区域,减小成像的视场,提高成像的分辨率 。
光路调节器
调节光路中的光束方向和大小,确保光束正确投射到 样品上。
成像系统
Hale Waihona Puke 物镜将样品上的图像第一次放 大并投影到中间镜上。
中间镜
将物镜放大的图像进一步 放大并投影到投影镜上。
投影镜
将中间镜放大的图像最终 放大并投影到荧光屏或成
像设备上。
真空系统
谢谢您的聆听
THANKS
透射电子显微镜技术不断改进,分辨率和放大倍数得到显著提 高。
透射电子显微镜技术不断创新,出现了许多新型的透射电子显 微镜,如高分辨透射电子显微镜、冷冻透射电子显微镜等。
透射电子显微镜的应用领域
生物学
观察细胞、蛋白质、核酸等生物大分子的 结构和功能。
医学
研究病毒、细菌、癌症等疾病的发生、发 展和治疗。
真空泵
01
通过抽气作用维持透射电子显微镜内部的高真空状态。
真空阀门
02
控制真空泵的工作时间和进气流量,以保持透射电子显微镜内
部真空度的稳定。
真空检测器
03
监测透射电子显微镜内部的真空度,当真空度不足时提醒操作
人员进行处理。
03
透射电子显微镜的操作与维护
透射电子显微镜的操作步骤
打开电源
确保实验室电源稳定,打开透射电子显微镜 的电源开关。
记录
对透射电子显微镜的使用和维护情况进行 记录,方便日后追踪和管理。
04
透射电子显微镜的样品制备技术
金属样品的制备技术
电解抛光
通过电解抛光液对金属样品进行抛光 ,去除表面杂质和氧化层,使样品表 面光滑、平整。
离子减薄

透射电子显微镜TEM(PPT121页)

透射电子显微镜TEM(PPT121页)

透射电子显微镜 (Transmission Electron Microscope, TEM)
TEM是以波长极短的电子束作为照明源,用电磁透 镜聚焦成像的一种高分辨率、高放大倍数的电子光学 仪器。可同时实现微观形貌观察、晶体结构分析和成 分分析(配以能谱或波谱或能量损失 谱)。
为什么采用电子束而不用自然光?
β=±25度
EM420透射电子显微镜
(日本电子) 加速电压20KV、40KV、60KV、 80KV、100KV、120KV 晶格分辨率 2.04Å 点分辨率 3.4Å 最小电子束直径约2nm 倾转角度α=±60度
β=±30度
FEI Titan 80-300 kV S/TEM 世界上功能最强大的商用透射电子显 微镜 (TEM)。已迅速成为全球顶级研 究人员的首选 S/TEM,从而实现了 TEM 及 S/TEM 模式下的亚埃级分辨 率研究及探索。
➢ 电子显微镜发展史
1898年J.J. Thomson发现电子 1924年de Broglie 提出物质粒子波动性假说和1927年实验的证实。 1926年轴对称磁场对电子束汇聚作用的提出。 1932年,1935年,透射电镜和扫描电镜相继出现,1936年,透射电
镜实现了工厂化生产。 20世纪50年代,英国剑桥大学卡文迪许实验室的Hirsch和Howie等人
主要技术参数: 1.TEM分辨率 <1 2.STEM分辨率 <1 3.能量分辨率 <0.15eV 或 <0.25eV 4.加速电压 80-300kV
内容
8.1 简介 8.2 结构原理 8.3 样品制备 8.4 透射电子显微镜的电子衍射 8.5 透射电子显微镜图像分析
8.2 透射电子显微镜结构原理
电磁透镜的分辨本领比光学玻璃透镜提高一千 倍左右,可以达到2Å 的水平,使观察物质纳米 级微观结构成为可能。

第九章透射电子显微镜 PPT

第九章透射电子显微镜 PPT
大透镜,形成第一幅高分辨率电 子显微图像与电子衍射花样。 物镜特点:强激磁、短焦距(13mm),高放大倍数,高分辨率。
物镜决定透射电子显微镜分辨 本领
物镜就是一个强激磁短焦距得透镜,它得放 大倍数较高,一般为100-300倍。目前,高质 量得物镜其分辨率可达0、1nm左右。
(一)物镜
提高物镜分辨率得措施:
各国代表人物
美国伯克莱加州大学G、Thomas将TEM第 一个用到材料研究上。
日本岗山大学H、 Hashimoto日本电镜研 究得代表人。
中国:钱临照、郭可信、李方华、叶恒强、 朱静。
国内电镜做得好得有:北京电镜室(物理所)、 沈阳金属所、清华大学。
为什么要用TEM?
1)可以实现微区物相分析。
如果中间镜得像平面出现一定得位移,这个位 移距离仍处于投影镜得景深范围之内,因此,在 荧光屏上得图像仍旧就是清晰得。
§ 9-1 透射电子显微镜得结构与成像机理
(四)成像与衍射操作:背焦面
背焦面:样品得电子衍射斑点。
§ 9-1 透射电子显微镜得结构与成像机理
(四)成像与衍射操作:像平面
像平面
像平面
分析透射电子显微镜 JEM200CX
分析透射电子显微镜JEM2010
分析型透射电子显微镜
超高压电 镜
TEM发展简史
1924年de Broglie提出波粒二象性假说 1926 Busch指出“具有轴对称性得磁场对电子束
起着透镜得作用,有可能使电子束聚焦成像”。 1927 Davisson & Germer, Thompson and Reid 进行
物镜光阑得另一个主要作用就是在后焦面上 套取衍射束得斑点(即副焦点)成像,这就就是 所谓暗场像。利用明暗场显微照片得对照分 析,可以方便地进行物相鉴定与缺陷分析。

《透射电子显微镜》课件

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优点和缺点
透射电子显微镜的优点包括高分辨率、高对比度、高灵敏度、大深度和号称百万倍的放大倍 数。缺点则包括成本高,需要复杂的样品处理和分析技能。
主要部件
透射电子显微镜主要由以下几个部分组成。
电子源
在透射电子显微镜中使用的电子通常来自热丝或发 射枪。电子的产生必须在真空下进行,以避免与气 体分子相互作用。
透镜系统
透射电子显微镜的透镜系统主要包括透镜、压电陶 瓷和扫描线圈等。这些设备可在电子束内部转移和 聚焦电子以生成清晰的图像。
检测器
工作原理
透射电子显微镜将电子束传递到样品中。当电子束穿过样品时,它们与样品中的原子和分子发生相互作用,并 形成一张图像。
1
电子束的生成
通过电子源产生电子束。在常见的电子源
潜在应用
透射电子显微镜在材料科学、生物学和半导体和微 电子学以外,有许多潜在应用。例如,透射电子显 微镜可以用于分析能量存储、生物医学和太阳能等 领域。
结束语
透射电子显微镜是一种强大的工具,可用于分析微观结构、了解材料性质和研究新技术。希望这个PPT课件能 让更多的人了解透射电子显微镜,并鼓励更多的人来研究和应用这项技术。
电子束的准直和聚焦
2
中,通过加热钨丝等材料来产生电子。
使用透镜系统将电子束准直和聚焦,以使
电子束具有较小的纵向、径向直径和透射
度。
3
电子束与样品的相互作用
电子束穿过样品并与样品中的电子云相互
作用,同时使样品产生信号。这些信号被
信号的检测检测器收集并解析透射电子显微镜样品与 电子束相互作用所生成的信号。
应用
透射电子显微镜在各种不同的领域中都有广泛的应用,其中包括材料科学、生物学和半导体和微电子学。

透射电子显微镜TEMPPT课件

透射电子显微镜TEMPPT课件

1、点分辨率的测定
将铂、铂-铱或铂-钯等合 金,用真空蒸镀法得到粒 度为0.5-1mm、间距为 0.2-1mm的粒子,将其均 匀地分布在火棉胶(或碳) 支持膜上,在高放大倍数 下拍照,然后经光学放大 (5倍左右),找出粒子间 最小间距,除以总放大倍 数——点分辨率
图10.12 点分辨率的测定(真空蒸镀金颗粒)
镜进进行一投步 影放。大,并经过
投影镜投影到荧光屏上
得到衍射花样。
衍射谱
L2
L1
样品 物镜 物镜背焦面 物镜像平面 中间镜
中间镜像平面
投影镜
荧光屏
L2
L1
终了像
透射电镜成像系统的两种基本操作 (a)将衍射谱投影到荧光屏 (b)将显微像投影到荧光屏
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成像系统
• 材料研究中,希望弄清很小区域的结构和形貌,既 要观察其显微像(形貌),又要得到其衍射花样 (分析结构)。
β=±30度
第13页/共121页
FEI Titan 80-300 kV S/TEM 世界上功能最强大的商用透射电子显 微镜 (TEM)。已迅速成为全球顶级研 究人员的首选 S/TEM,从而实现了 TEM 及 S/TEM 模式下的亚埃级分辨 率研究及探索。
主要技术参数: 1.TEM分辨率 <1 2.STEM分辨率 <1 3.能量分辨率 <0.15eV 或 <0.25eV 4.加速电压 80-300kV
电子束 聚光镜
• 满足:明场或暗场成
像需求(照明束在
试样
2°-3°范围内倾斜)
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电子源
(1)阴极
• 电子源: ①热发射—发夹形钨灯丝、 LaB6单晶丝
束流密度~10A/cm2 束斑大小~4nm

透射电子显微镜课件

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还原到物平面
为象散引起的最大焦距差; 透镜磁场不对称,可能是由于极靴被污染,或极靴的机械不 对称性,或极靴材料各项磁导率差异引起。象散可由附加磁场的 电磁消象散器来校正。
透镜平面
平面B

光轴
P PA PB fA
平面A
图1-5(b)象散
3)色差
电子的能量不同,从而波长不一造成的,电子透镜的焦距随着电子 能量而改变,因此,能量不同的电子束将沿不同的轨迹运动。产生的 漫散圆斑还原到物平面,其半径为
CM200-FEG场发射枪电镜
加速电压20KV、40KV、80KV、 160KV、200KV 可连续设置加速电压 热场发射枪 晶格分辨率 1.4Å 点分辨率 2.4Å 最小电子束直径1nm 能量分辨率约1ev 倾转角度α=±20度 β=±25度
JEM-2010透射电镜
加速电压200KV LaB6灯丝 点分辨率 1.94Å
透射电镜---技术指标
包括 ●分辨本领(亦称分辨率) 表征电镜观察物质微观细节的能力,它是标志电镜水 平的首要指标。 ●放大率 ●加速电压 ●自动化程度及所具备的功能等。
点分辨率(点分辨本领):
定义:电子图像上刚能分 辨开的相邻两点在试样 上的距离。 测量方法: 在照片上量出两个斑点 中心之间的距离,除以 图像的放大倍数。 近代高分辨电镜的点分 辨率可达0.3 nm。
日本日立公司H-700 电子显微镜,配有双倾台 ,并带有7010扫描附件和 EDAX9100能谱。该仪器 不但适合于医学、化学、 微生物等方面的研究,由 于加速电压高,更适合于 金属材料、矿物及高分子 材料的观察与结构分析, 并能配合能谱进行微区成 份分析。
● ● ● ● ●
分 辨 率:0.34nm 加速电压:75KV-200KV 放大倍数:25万倍 能 谱 仪:EDAX-9100 扫描附件:S7010
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5.
决于物镜。
b.物镜的特点:
⑴ 是强激磁短焦距的透镜(ƒ=1~3mm); ⑵ 放大倍数较高,一般在100~300倍; ⑶ 最高分辨率可达0.1nm左右。 物镜的背焦面上有物镜光阑。 其作用: 减小球差、像散、色差;
进行暗场及衍衬成像。
2. 中间镜
a.作用:放大或缩小来自物镜的电子像,并 且调节中间镜的位置,可以进行成像操作和 电子衍射操作。
第二聚光镜——放大束斑( 2~10μm ),
可得到几乎平行的照明电子束。
图 照明系统光路
㈡ 成像系统
成像系统主要由物镜、中间镜和投影镜 构成,其作用是成像,电磁透镜和光学透 镜作用相似,成像公式也相同。
1. 物镜
2. 显a. 作用: 用来形成第一幅高分辨率电子
3.
微图像或电子衍射花样;
4. 取 注: 透射电镜分辨本领的高低,主要
2. 衍射成像
晶体样品通过物镜在后焦面上形成 衍射像,调节中间镜焦距,使其物平面 与物镜后焦面重合,可以最终在荧光屏 上形成二次放大的衍射图像。有意义的 衍射像必须明确它是来自样品那个区域 的衍射波,这就是选区衍射。
第二节 主要部件的结构与工作原理
一. 样品台
1. 功能:承载样品,并使样品能在物镜极靴孔
⑴ 高放大倍数成像:中间镜以物镜像为物,投影 镜又以中间镜像为物,成像于荧光屏,结果可 以获得几万至几十万放大倍数电子像。
⑵ 中放大倍数成像:利用中间镜来缩小物镜像, 再利用投影镜放大,中间镜像放大倍数为几千~ 几万倍。
⑶ 低倍放大成像:
减少透镜数目或放大倍数,例如关闭物镜,减弱 中间镜的激磁强度,使中间镜起着长焦距物镜作用, 投影镜以中间镜像为物,成像于荧光屏,放大倍数几 百倍。
第九章 透射电子显微镜
§9-1 透射电子显微镜的结构与成像原理 §9-2 主要部件的结构与工作原理 §9-3 透射电子显微镜分辨本领和放大倍数测定
本章重点:
1 TEM与光学透镜的异同。 2 电子光学系统的构造及各部分的功能。 3 如何实现成像操作和衍射操作? 4 TEM中主要光阑的位置和作用。 5 成像系统中各透镜的功能。
(6)放大倍数及分辨率不同; (7)景深焦长不同。
二. 电子光学系统的结构
㈠ 照明系统
作用:提供一束高亮度、孔径角小、平行度好、 束流稳定、可平移倾斜的电子束。
构成:
电子枪 提供电子束
聚光镜
汇聚电子束、调节束斑
调节装置(偏转器)
调节电子束
的照明角度及位置
1.电子枪
作用:提供电子束,最常用的是热阴极电子枪。
真空系统
照明系统
成像系统
观察记录系统
电子枪:TEM电子源 物镜、中间镜、投影镜 荧光屏和照相装置
聚光镜 平移、对中倾斜调节装置
一 概述
1 TEM的光路成像原理
2 电子枪发射电子束 经聚光镜聚焦
3 照明样品 电子束穿过样品
4 经物镜放大成像 样
在物镜的背焦面上形成衍射花
5
在物镜的像平面上形成显微图

第一节 透射电子显微镜的结构与成像原理
透射电子显微镜是以波长极短的电子束作为照 明源,用电磁透镜来聚焦成像,因此有很高的放大 倍数(106倍),高分辨率(0.1nm)。
照明系统
电子光学系统(核心) 成像系统
透射电镜 电源与控制系统 (TEM)
真空系统
观察与记录系统
TEM的结构:
TEM
电子光学系统(镜筒) 电源与控制系统
2.
内平移、倾斜、旋转,以选择感兴趣
3.
的样品区域或位向进行观察分析。
4.
(由于TEM样品既薄又小,厚度在5~500nm
之间,通常用外径为3mm的铜网来支持。)
2. 应满足的要求
3. ⑴ 铜网应牢固地夹持在样品座中并保持良好

4.
热电接触,应减小电子照射引起的热堆积
1,放大物镜像;放大倍数小于1时,缩小物镜像)。 ( 总放大倍数为物镜、中间镜、投影镜三级放
大倍数的乘积)
3. 投影镜
⑴ 作用:把中间镜放大或缩小的像(电子衍射花 样)进一步放大并投影到荧光屏;
⑵ 特点:a 强激磁短焦距; b 孔径角很小,因此景深和焦长都非 常大。
㈢ 观察记录系统
1. 构成:荧光屏和照相机构。
6
图像被中间镜和投影镜逐步放大
7
在荧光屏或感光底片上成像
图 透射显
微镜构造原 理和光路
b) 透射光学 显微镜
a) 透射电子显微镜
2 镜筒内为什么保持高真空状态:
3 ⑴ 防止高速电子受空气分子碰撞而改变运 动轨迹;
4 ⑵ 避免因空气分子电离而引起放电而破坏 了电子枪电极间的绝缘;
5 ⑶避免阴极氧化及样品污染。
3 为什么使用电磁透镜?
使用静电透镜(用电场聚焦)需要高 压,给设备的设计和操作带来不便。
故现代电镜中静电透镜只在电子枪中使 用;而聚光镜、物镜、中间镜和投影镜则 都采用电磁透镜(用磁场聚焦),可以通 ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ改变激磁电流来调节透镜的聚焦能力。
4 TEM和光学透射显微镜的异同
相同点: (1)光学成像原理相同; (2)都能用于形貌分析。 不同点: (1)光源不同; (2)聚焦透镜不同; (3)TEM中有中间镜; (4)成像屏幕不同; (5) TEM镜筒中要保持高真空;
2. 作用:当反映样品微观特征的电子强度分布,
3. 成
由成像系统投射到荧光屏后,被转换
4. 可
与电子强度成比例的可见光图像,还
5.
利用照 相机构进行照相。
6.
荧光屏有较高的分辨率,因此可用光学
二. 成像方式
TEM有两种基本成像模式: 衍射成像——晶体结构同位分析 显微成像——微观组织形貌观察
1. 显微成像
钨丝阴极:发射电子 构成栅:极 :稳定电子流
使电子汇聚成束(50μm电子源) 阳极 :加速电子
图 电子枪 (a)自偏压回路 (b)电子枪内的等电位面
2.聚光镜
作用:
a 把来自电子枪的发散的电子束( 50μm )聚成细 束( 2~10μm );
b 配合使用聚光镜光阑,可以调节照明强度、孔 径角。
第一聚光镜——缩小束斑(1~5μm ); 构成:
如果把中间镜的物平面和物镜的像平面 重合,则在荧光屏上得到一幅放大像——成 像操作。
如果把中间镜的物平面和物镜的背焦面 重合,则在荧光屏上得到一幅电子衍射花 样——电子衍射操作。(图)
图 透射电镜成像系统的两种基本操作 (a)将衍射谱投影到荧光屏 (b)将显微像投影到荧光屏
b. 中间镜特点 ⑴ 弱激磁长焦距; ⑵ 可变倍率,可在0~20倍调节(其放大倍数大于
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