红外光谱发射率测量
红外线测温的发射率参数及工作原理
红外线测温的发射率参数及工作原理红外线测温的发射率参数及工作原理如何设置红外线测温的发射率参数利用红外线测温仪进行温度测量时，必需保证测温仪发射率设置正确，否则会得到不精准的测温结果。
由此可见，对于红外线测温来说，发射率是一个特别紧要的指标。
如何正确设置红外线测温的发射率参数？什么是发射率？发射率是目标表面辐射出的能量与相同温度黑体辐射能量的比值；它是由物体本身的材质决议的，例如，塑料的发射率为0.95,冰的发射率为0.98,玄武岩的发射率为0.7等等。
既然如此，为了获得正确的测量温结果，我们在用红外线测温仪测量温度前；应依据被测目标的材质，来设置正确的发射率参数，如何设置红外线测温仪的发射率参数呢？紧要有三种方法。
1、涂色法。
此种方法紧要是将被目标表面涂成黑色，并将测温仪发射率设置为黑色涂料（或黑色胶布）的发射率0.97（0.93），然后用红外线测温仪测量黑色部位的温度T1；再用红外线测温仪测量与黑色部位靠近部位的表面温度T2,调整红外线测温仪的发射率值，使T2*接近于T1,此时得到的发射率值即为被测目标的发射率。
2、比对法。
找一接触式测温探头，测量被测目标表面的温度，待温度达到稳定后，调整红外线测温仪的发射率；使得红外线测温仪测得的温度值与接触式测温探头测得的温度显示一致，此时的发射率即为被测目标的发射率。
3、查表法。
依据操作手册或相关文档供应的发射率表，依据被测目标的材质，查找相对应的发射率值进行设置。
大家可以依据实际情况，来对红外线测温仪的发射率进行设置，以获得精准的测量结果。
红外测温仪的工作原理红外测温仪技术的进展，其具有使用便利、测量精度高且测量距离远等优点为用户供应了各种功能及用途的仪器。
红外测温仪从原理上来说有便携式测温仪和固定式测温仪两种，因此，在选择合适的红外测温仪用于不同的测量点时；以下的特征将是紧要的：1、瞄准器瞄准器有此作用，测温仪所指的测量块或测量点可以看到，大面积的被测物可以常常不要瞄准器。
红外光谱的检测原理
红外光谱的检测原理
红外光谱的检测原理是基于物质吸收、散射和透射红外光的特性。
红外光谱仪通过向样品中发射一束宽频谱的红外光，然后检测样品对不同频率红外光的吸收程度。
红外光谱检测原理的基本步骤如下：
1. 发射红外光：红外光源发射出一束宽频谱的红外光，通常范围为4000至400 cm^-1（波长为
2.5至25 μm）。
2. 样品与红外光的相互作用：发射的红外光经过样品时，会与样品分子内部的共振频率相吻合的红外光被吸收。
不同样品具有不同的化学键、官能团和分子结构，因此对红外光的吸收也有所不同。
3. 探测红外光的强度：检测器会测量透过样品的红外光的强度变化。
吸收红外光后，样品中的化学键会发生振动和转动，并使红外光的强度减弱。
4. 绘制红外光谱图：将检测到的红外光强度与红外光的频率或波数进行关联，可以绘制出样品的红外光谱图。
这个谱图通常呈现为一个曲线，横坐标表示波数或频率，纵坐标表示吸收强度。
根据红外光谱图的特征峰位、峰形和峰强度，可以确定样品中的化学键种类、官能团和分子结构。
红外光谱的检测原理被广泛应用在化学、材料科学、制药、食品安全等领域，用于物质的鉴定、质量控制和分析。
红外物理(第二版)课件：红外辐射测量仪器及基本辐射参数的测量
散作用,不能用于分光,光 栅分光必须利用高级主极大。但是,
由多缝衍射的强度分布知,多缝衍射的零级主极大占 有很大
的一部分光能量,因此可用于分光的高级主极大的光能量较
少,大部分能量将被浪 费。所以,在实际应用中,必须改变通常
光栅的衍射光强度分布,使光强度集中到有用的 那一高光谱
级上。
红外辐射测量仪器及基本辐射参数的测量
为dl,则由几何关系可以写出:
其中,f'2为第二物镜的焦距。
红外辐射测量仪器及基本辐射参数的测量
光谱分辨率也称分辨本领,是指分离相邻两条谱线的能
力。对于某一波长λ,其与相 邻波长λ+dλ 的单色光刚好能分
辨开,则dλ 越小,说明棱镜的光谱分辨能力越高。根据瑞 利判
据,一条谱带的最大刚好与邻近谱带的最小相重叠,则其理论
红外辐射测量仪器及基本辐射参数的测量
红外辐射测量仪器及
基本辐射参数的测量
7.1 红外辐射测量仪器
7.2 辐射测量系统的标定
7.3 基本辐射量的测量
7.4 红外发射率的测量
7.5 红外反射比的测量
7.6 红外吸收比和透射比的测量
红外辐射测量仪器及基本辐射参数的测量
7.1 红外辐射测量仪器
7.1.1 单色仪
入射到反射光栅上时,光线 R1比相邻的光线R2超前dsinφ,其中
间距d 通常称为光栅常数;在离开光栅时,R2比R1 超前dsinθ,其
中θ称为衍射角。所以,衍射图样中亮线位置的方向为
该式通常称为光栅方程,其中当入射光与衍射光在 光 栅 法
线 异 侧 时 取 - 号;同 侧 时 取 +号。
红外辐射测量仪器及基本辐射参数的测量
如果采用图7-8所示的在金属平板表面刻制锯齿槽构成
近红外反射比和半球发射率测试_概述说明
近红外反射比和半球发射率测试概述说明1. 引言1.1 概述本文旨在介绍近红外反射比和半球发射率测试的原理、测量方法以及其在不同领域的应用。
近红外反射比是指物体在近红外波段下所反射的光线强度与入射光线强度之间的比值。
而半球发射率则是描述物体对所有方向的辐射能力。
这两个参数对于材料表面特性分析和热辐射现象研究具有重要意义。
1.2 文章结构本文将首先介绍近红外反射比测试，包括其原理、测量方法以及一些应用领域。
然后会详细讨论半球发射率测试，包括相关的原理、测量方法和应用领域。
接下来，我们将对所得到的数据进行分析，并进行结果讨论，探讨两种参数之间可能存在的关联性和差异。
最后，在结论部分总结研究结果，并提出未来改进方向和研究展望。
1.3 目的本文旨在深入介绍近红外反射比和半球发射率测试相关概念及方法，并探讨它们在实际应用中的价值。
通过对这些参数的研究，可以更好地理解材料的光学和热辐射性质，为相关领域的科学研究和工程应用提供有力支持。
2. 近红外反射比测试:2.1 原理介绍:近红外反射比是指材料在近红外光波作用下，对光的反射能力与参考材料之间的比值。
近红外光波一般被定义为位于780至2500纳米波长范围内的电磁辐射。
通过测量物体在这一范围内的光线反射率，我们可以获得物体的反射性能，并将其与标准参考材料进行比较。
2.2 测量方法:近红外反射比测试通常采用Spectrophotometer（光谱仪）来进行。
首先，我们需要校准仪器以确保准确的测量结果。
然后，将待测物体放置在样品台上并对其进行扫描。
仪器会发送出近红外光，并测量物体对不同波长光线的反射率。
这些数据会被记录下来并以曲线图或数据表格形式呈现。
2.3 应用领域:近红外反射比测试在多个领域有广泛应用。
例如，在农业领域，该测试可以帮助评估植物叶片受到病害或营养不良的影响程度。
在建筑材料领域，该测试可用于检测表面涂层的质量和耐候性。
在食品行业中，该测试可评估食品的成熟度和质量等级。
红外光谱发射率测试方法的研究 (1)
确度高等优点。 由ｒ材料的红外光谱发射率一般随温度变化而变化，我们还设计ｒ样品加热以及温度控
制装置（５０。Ｃ～４００。Ｃ）。这样，该装置可以进行波Ｋ从０ ６７ｐｍ～２００ｐｍ、温度从５００Ｃ至４０００Ｃ 红外光谱发射率的测量。
侄计算机上计算出样品曲线与黑体曲线之比，得剑 条新的曲线。这条曲线就是所测柯 ｒ铺住某一’温度Ｆ的光谱发射率曲线。
如果关心被测样品在某一波段内的发射率，ｊ』！｜Ｊ可按武（２）进行计算。
４红外光谱发射率的测试结果
选取一铝片作为测试样品，将其温度控制在２００。Ｃ，对其辐射能量进行采样，得到样品 辐射能量光谱曲线，见图３，２００。Ｃ的黑体辐射能繁光谱曲线见幽４。
榷忠尚主编温度计量与测试中国计量出版衬，１９９８ 陈道举．现代计量测试技术．中国计量出版礼， １９９０ 路学荣 用傅立叶光谱仪测餐发射光谱的研究 傅立ｎ１变换红外光谱技术及廊＿Ｌ｝ｊ研讨 会论文集（＿二） 海洋出版社，１９９３ 世森宣文通过测定反射率、透射率计算比辐射率
红外光谱发射率测试方法的研究
图２红外光谱发射率测晕装置原理框幽
红外光谱发射率测晕装置，主要由傅立ｎ｝红外光谱仪、计算机、黑体辐射源、样品加热 系统、温度控制系统以及辅助光路系统组成。傅立叶红外光谱仪是该测量装置中的ｔ要设备， 其功能为测量入射红外辐射的光谱分布曲线：样品加热系统主要功能为，在温度控制器的控 制ｒ，将样品的温度控制在所需的温度：黑体提供标准辐射源；辅助光路系统的ｊ＿要功能是， 将样品或黑体的辐射引入傅立叶红外光谱仪。虚线框内为光谱仪内部简略示意图，计算机负 责采集探测器信号．并利用傅正叶变换原理完成干涉图（时域）剑光谱图（频域）的转换， 最后得到样品或黑体红外辐射的光谱曲线，同时可完成｝｝｝｜线相除、积分运算等功能。
发射率检测方法
发射率检测方法一、国内外发射率检测现状表面辐射特性的研究工作可以追溯到十八世纪，早在1753年富兰克林就提出不同的物质具有不同的接受和发散热量能力的概念。
几百年来人们在理论上、实验中、工程上做了大量的研究工作。
随着辐射传热学、红外技术、太阳能研究、材料科学及黑体空腔理论等的发展，近五十年以来材料发射率的测量方法有了很大的进展。
目前在国际上已建立了分别适用于不同温度和状态以及不同物质的各种测试方法和装置。
（1）量热法量热法的基本原理是：一个热交换系统包含被测样品和周围相关物体，根据传热理论推导出系统有关材料发射率的传热方程，通过测量样品某些点的温度值得到系统的热交换状态，即能求得发射率。
量热法又分为稳态量热法和瞬态量热法。
Worthing的稳态加热法就是采用灯丝进行加热，测量精度达到了2%，但是样品制作复杂，且测量时间长。
瞬态法即采用激光或电流等瞬态加热技术，其代表是70年代美国NIST的基于积分球反射计法的脉冲加热瞬态量热装置，其测量速度快，测量上限高达4000℃，能精确测量多项参数，但是被测物必须是导体限制了其应用范围。
（2）反射率法反射率法基于的原理是对于不透明的样品，反射率+吸收率=1，将已知强度的辐射能量投射到透射率为0的被测面上，根据能量守恒定律和基尔霍夫定律，通过反射计求得反射能量，得到样品的反射率后即可换算成发射率。
常用的反射计有：Dunkle等人建立的热腔反射计，该方法能够测量光谱发射率但不适用于高温测量；意大利IMGC 的积分球反射计具有很宽的测量温度范围；激光偏振法只能用于测量光滑表面的发射率。
探测器工作原理图探测器组装图（3）辐射能量法法能量法的基本原理是直接测量样品的辐射功率，根据普朗克定律或斯蒂芬玻尔兹曼定律和发射率的定义计算出样品表面的发射率。
一般均采用能量比较法，即用同一探测器分别测量同一温度下绝对黑体及样品的辐射功率，两者之比就是材料的发射率值。
(1)独立黑体法：独立黑体法采用标准黑体炉作为参考辐射源，样品与黑体是各自独立的，辐射能量探测器分别对它们的辐射量进行测量。
石墨烯红外发热材料红外波长范围检测 法向发射率检测
石墨烯红外发热材料红外波长范围检测法向发射率检测石墨烯红外发热材料是一种具有优异红外发射性能的新型材料，被广泛应用于红外热成像、红外线探测、夜视仪器等领域。
其独特的红外发热性能使得石墨烯在红外波长范围的检测中具有很高的应用潜力。
石墨烯是由单层碳原子组成的二维薄膜，其结构特殊，具有良好的热导性、电导性和光学性能。
这使得石墨烯可以快速将电能转变为热能，并在红外波长范围内发射辐射。
具体来说，石墨烯的红外发热主要是通过电子跃迁来实现的。
当石墨烯材料受到外界电场激发时，电子会从低能级跳跃到高能级，同时释放出红外辐射。
这种红外发射机制使得石墨烯能够在红外波长范围内发射出较为强烈的热辐射。
石墨烯红外发热材料在波长范围检测方面具有很重要的意义。
红外波长范围通常被定义为1-1000微米，涵盖了长波红外、中波红外和短波红外等不同红外波段。
红外辐射具有很高的能量和辐射穿透力，因此可以通过红外成像设备直接观测到目标物体的红外辐射信息。
而石墨烯红外发热材料可以提供较高的红外辐射能量，能够增强红外成像的灵敏度和分辨率，从而有效提高红外波长范围的检测效果。
在石墨烯红外发热材料的红外波长范围检测中，法向发射率是一个重要的参数。
法向发射率是指材料在给定波长下，以法向角度发射的辐射功率与理想黑体辐射功率之间的比值。
对于红外发热材料而言，法向发射率可以反映材料在红外波长范围内的发射性能。
较高的法向发射率表示材料在红外波段内会有更高的辐射功率发射，表现出更好的红外发热性能。
石墨烯红外发热材料的法向发射率通常通过实验测量来获取。
常见的实验方法包括红外辐射光谱测试和热辐射测温技术。
红外辐射光谱测试通过测量材料在不同波长下的辐射功率来得到材料的法向发射率。
石墨烯红外发热材料的法向发射率通常会随着波长的增加而逐渐增大，呈现出明显的红外辐射特性。
热辐射测温技术则是利用石墨烯材料的红外发射能力来进行温度测量，通过测量红外辐射功率和温度之间的关系来推导出材料的法向发射率。
光谱发射率测量技术解读
收稿日期：2008-10-11修订日期:2008-12-15作者简介:戴景民（1963,男，教授，博士生导师，研究方向为辐射测温及红外辐射测量、热物性光学特性测试、光电仪器与仪表。
Emai:djm@.c n第38卷第4期红外与激光工程2009年8月Vol.38No.4In frared and Laser Engin eeri ngAug.2009光谱发射率测量技术戴景民，宋扬，王宗伟（哈尔滨工业大学电气工程及自动化学院，黑龙江哈尔滨150001摘要:论述了光谱发射率在航天、航空、国防、军事及国民经济各领域中的实际应用和重要意义。
材料光谱发射率的影响因素很多，且应用背景差异较大，各国分别建立了各具特色的发射率测量装置。
根据测量特点及应用范围，发射率测量方法分4大类:量热法、反射法、能量法和多波长法。
针对每种测量方法介绍了基本原理、装置特点、技术指标和发展现状。
简单介绍了基于红外傅里叶分析光谱仪建立的光谱发射率测量系统，进而描述了材料发射率在重要领域的具体应用情况。
分析了我国目前在发射率测量技术方面存在的问题，展望了我国发射率测量技术的发展趋势和发射率数据库方面的进一步工作。
关键词:计量学;发射率测量;综述；辐射；温度中图分类号：TB92文献标识码:A文章编号：1007-2276(200904-0710-06Review of spectral emissivity measureme ntDAI Ji ng 蛳min ,SONG Ya ng,WANG Zo ng 蛳wei(School of Electrical Engin eeri ng and Automatio n, Harbin In stitute ofTechn ology,Harbin 150001,Chi naAbstract:The practical applicatio n and vital sig nifica nee of spectral emissivity in astr on autics,aer on autics ,n ati onal defe nse and military have bee n discussed.S ince there are many in flue nce factors on spectral emissivity and its applicati on,a lot of emissivity measureme nt apparatus in differe nt types have bee n set up in many coun tries.Accord ing to the measurement characteristic and application scope,the emissivity measurement methods were classified as four kinds,calorimetric,reflection,energy and mult蛳wavelength method.The basic schematic,apparatus characteristic,technique index and developme nt status were in troduced for every method.The emissivity measureme nt apparatus based on in frared Fourier an alysis spectrometer were in troduced.The specific applications in the vital fields were described.And the problems existed in our country for the emissivity measureme nt have bee n an alyzed. Fin ally,the tendency and future work on data base of the emissivity measureme nt were forecasted.Key words:Metrology;Emissivity measureme nt;Review;Radiati on;Temperature0引言各种物质表面的发射率（也称辐射率、黑度系数等是表征物质表面辐射本领的物理量，是一项重要的热物性参数。
红外光谱测试分析
红外光谱测试分析引言：红外光谱测试是一种常用的实验技术，用于分析样品的化学结构、官能团及其化学环境。
它是通过观察和记录样品在红外区域（4000至400 cm^-1）的吸收、散射或透射红外辐射而得到的。
红外光谱测试广泛应用于有机、无机、生物、聚合物等领域。
本文将介绍红外光谱测试的原理、仪器、样品制备以及数据分析等内容。
一、红外光谱测试原理红外光谱测试基于物质与红外辐射的相互作用。
红外光谱仪将红外辐射通过样品，然后测量样品吸收、散射或透射的光强。
红外辐射包含许多波长，在红外区域中的每种波长都与特定的分子振动模式相对应。
当样品中的分子振动发生时，它们会吸收特定波长的红外光，从而产生特征峰。
根据这些特征峰的位置和强度可以推断样品的化学组成和结构。
二、红外光谱测试仪器红外光谱测试仪器主要由光源、样品盒、分光器和探测器等组成。
常见的红外光谱仪有傅里叶变换红外光谱仪（FTIR）和色散红外光谱仪（dispersive IR）。
其中，FTIR光谱仪具有高分辨率、高灵敏度和快速测量的优点，被广泛应用于科研和工业领域。
三、样品制备样品制备是红外光谱测试的关键步骤之一、样品可以是固体、液体或气体。
对于固体样品，常用的方法是将样品与适合的红外吸收剂混合，然后挤压成适当的片状样品。
对于液体样品，可以使用液态电池夹持装置保持样品在红外光束中。
对于气体样品，需要将气体置于透明的气室中，并对室内气体进行红外光谱的测量。
四、红外光谱数据分析红外光谱数据分析是针对测得的吸收谱进行的。
常见的红外光谱数据分析包括鉴定功能性团、质谱相关性分析和量子化学计算等。
鉴定功能性团是通过对比样品的吸收峰位置和精确峰位表进行的。
质谱相关性分析是利用红外光谱和质谱数据之间的相关性，为红外光谱的解释提供重要信息。
量子化学计算是通过计算得到的理论红外光谱与实际测量的红外光谱进行比对，以验证实验结果的准确性。
结论：红外光谱测试是一种重要的化学分析技术，广泛应用于化学、材料、药物和环境等领域。
傅里叶红外光谱,积分球 红外发射率
傅里叶红外光谱与积分球红外发射率01. 前言在科学领域中，红外光谱技术一直被广泛运用于物质结构与性质的研究中。
而在红外光谱技术中，傅里叶红外光谱以其在分析化学、生物科学、工程技术等多领域的应用而备受瞩目。
积分球红外发射率也是红外光谱研究中不容忽视的重要内容。
本文将就傅里叶红外光谱、积分球红外发射率这两个主题展开讨论，并进行深度评估和综合分析，以完整展现这一领域的深刻内涵。
02. 傅里叶红外光谱的基本原理傅里叶红外光谱是通过分析物质在红外辐射下的吸收、透射或反射来获得物质结构和化学键等信息的一种分析技术。
在傅里叶变换红外光谱仪中，红外光通过样品时，不同波数的光子会与样品中的分子振动和转动产生相互作用，从而被吸收或散射。
检测器会测量出样品对不同波数的光的吸收或透射，最终形成傅里叶红外光谱图谱。
03. 积分球红外发射率的作用与影响积分球红外发射率是指物质表面在特定波长下的反射和透射能力，是评价物质表面特性的重要参数。
在红外光谱分析中，样品的准确发射率对测试结果的准确性起着至关重要的作用。
不同的样品表面特性会对其红外发射率产生影响，因此在进行红外光谱分析时，必须对样品的表面特性进行准确的测量和分析，以保证测试结果的准确性和可靠性。
04. 傅里叶红外光谱与积分球红外发射率的关联傅里叶红外光谱与积分球红外发射率之间存在着密切的联系。
在红外光谱测试中，傅里叶红外光谱仪中的样品架通常会采用积分球来进行测试。
通过测量样品对不同波长下的红外光的吸收和透射，再结合样品的表面特性和红外发射率，可以获得更加准确和全面的物质分析结果。
05. 个人观点与总结傅里叶红外光谱及其与积分球红外发射率的关联，无疑对物质结构与性质的研究提供了重要的技术手段和方法。
通过深入研究傅里叶红外光谱与积分球红外发射率的原理和方法，不仅可以更好地理解物质在红外辐射下的相互作用机制，还能为科学研究和工程技术等领域的实际应用提供更加准确和可靠的测试数据。
傅立叶红外光谱仪的材料光谱发射率测量技术
- 31 -
哈尔滨工业大学工学博士学位论文
2.3.2 加热体的选择
如图 2-3所示，黑体炉(参考黑体)是系统中的重要设备，它的技术指标 及性能直接决定了整个系统的指标和性能。由于要工作在 60℃~1500℃这样 一个宽的温区，所以其设计与制造有较大难度。在 1500℃时，很多材料都 要熔化、软化或失去绝缘性，给材料选择上增加了较大难度[99]。单从加热 材料来说，可选的种类就非常少。表 2-2给出了常用的加热方法和加热体。
本文采用的是日本 JASCO 公司生产的傅里叶红外光谱仪(傅里叶红外光 谱仪-660)，包括迈克耳逊干涉仪和 DLATGS 型红外探测器。其主要技术指
- 29 -
哈尔滨工业大学工学博士学位论文
M1 S
B
D
干涉图
M2 A/D
计算机
光谱图 D/A
S-光源；B-分光板；D-探测器；M1-固定反射镜；A/D-模数转换器；M2-动镜； D/A-数模转换器。
Wbλ
=
C1λ −5
exp ⎡⎣C2 (λT )⎤⎦
−1
(2-1)
式中C1=3.740832×10-6Wm2为第一辐射常数，C2=1.438786×10-2mK为第二辐
∫ 射 常 数 。 显 然 ， 该 黑 体 单 位 面 积 上 总 辐 射 功 率 为 Wb = Wbλdλ ， 这 一 结
基于傅里叶红外光谱仪的光谱发射率测量装置的研制
Ｓ ＴＥＭ ＹＳ ＢＡＳ ＥＤ ｏＮ ＵＲＩ Ｆｏ ＥＲ ＴＲＡＮＳ Ｆｏ ＲＭ
Ｉ Ｒ ＮＦ ＡＲＥ Ｐ ＣＴ Ｄ Ｓ Ｅ ＲｏＭ Ｅ Ｅ Ｆ Ｉ Ｔ Ｒ（ Ｔ Ｒ）
Ｗ ＡＮ Ｘｉ— ｅ ， ＸＩ ｅ ｇ Ｇ ｎ Ｂ ｉ ＡＯ Ｐ ｎ ， Ｄ ｉｇ Ｍｉ ＡＩＪｎ — ｎ （ ａｂｎＩｓ ｔｔ ｏ ｅｈ ｏｏｙ Ｈａ ｉ １００ ， ｈｎ ） Ｈ ｒｉ ｔｕｅ ｆ ｃｎｌｇ ， ｒ ｎ ５０ １ Ｃ ｉａ ｎｉ Ｔ ｂ Ａ ｓｒｃ： ａｅ ｎａＦ ｕ ｅ ａｓ ｒ ｉ ｒ ｅ （ Ｒ）ｐ ｃ ｏ ｅ ｒ ｅ ｐ ａａ ｓｔ ｅｓｒ ｓｅｔ ｌｅ ｉ ｉｔ ｏ ｂ ｔ ｔ Ｂ ｓｄｏ ｏｒ ｒｒｎｆ ｍ ｆ ｄ 阿 ａ ｉ ｔ ｏ ｎａ ｒ ｓｅｔ ｍ ｔ ，ａｎ ｗ ａｐ ｒ ｕ ｏｍ ａｕｅ ｐｃｒ ｍ ｓ ｖｙ ｆ ｒ ｅ ｔ ａ ｓ ｉ
引 言
发射率 （ 也称辐射率 、 黑度系数等 ） 是表征物质
表 面辐 射本 领 的物 理量 ， 是一 项 重要 的热 物性 参 数 ，
关． 因此发射率是以上诸多因素的多元函数 ， 以在 所 实 际 的测量 中有较 多 的影 响 因素 ， 直 是 较 难 和 较 一
热 的研 究课 题 ．
ｃ ｏｉ ｇ ｗａｅ ａｈ ｓ ｓｅ ｗ ｓｕ ｅ ｅ ｒ ａ ｅｔ ｅ ｉｆｕ ｎ ｅ ｏ ｕ ｒ ｕ ｄｎ ｓ ｏ ｘ ｅ ｍｅ ｔ ｒ ｏ ｅ ｆｒｔ ｕ ｆｃ ｓ ｏ ｌ ｔ ｒｂ ｔ ｙ ｔ ｍ ａ ｓ ｄ ｔ ｄ ｃ ｅ ｓ ｈ ｌ ｅ ｃ ｆ ｒｏ ｎ ｉ ｇ ．Ｓ ｍｅ ｅ ｐ ｒ ｎ ｓｗｅｅ ｄ ｎ ｏ ｎ ｏ ｎ ｓ ｉ ｗｏ ｓ ｒａ ｅ
（ ６ｓ＝ ． ） ３ ， ０３ ．
关
键
词： 傅里 叶红 外光谱仪 ； 光谱发射 率； 温度
热红外高光谱成像仪(ATHIS)对矿物和气体的实验室光谱测量
第 39 卷第 6 期2020 年 12 月Vol. 39 No. 6December 2020红外与毫米波学报J. Infrared Millim. Waves文章编号：1001-9014(2020)06-0767-11DOI ：10. 11972/j. issn. 1001-9014. 2020. 06.015热红外高光谱成像仪(ATHIS)对矿物和气体的实验室光谱测量李春来匸刘成玉］，金健］，徐睿］，谢佳楠］，吕刚-袁立银-柳潇3，徐宏根3**，王建宇心收稿日期：2020- 05- 06 ,修回日期：2020- 10- 14 Received date ：2020- 05- 06 , Revised date ：2020- 10- 14基金项目：中国科学院青年创新促进会项目(2016218),“十三五”民用航天预研项目(D040104)”Foundation items ： Supported by Youth Innovation Promotion Association CAS (2016218), and the National Defense Pre -Research Foundation of China during the 13th Five -Year Plan Period (D040104)作者简介(Biography ):李春来(1982-),男,汉族,湖北当阳人，博士 ,研究员，主要研究方向为高分辨率红外高光谱成像技术、新型计算光谱成 像技术等.E -mail ：lichunlai@mail. sitp. ac. cn* 通讯作者(Corresponding author ) : E -mail : honggen_xu@163. com , jywang@mail. sitp. ac. cn(1.中国科学院空间主动光电技术重点实验室，上海200083；2.中国科学院大学杭州高等研究院，浙江杭州310024；3.中国地质调查局武汉地质调查中心,湖北武汉430205)摘要：首先介绍了热红外高光谱成像应用的独特优势，然后论述了机载热红外高光谱成像仪(Airborne Thermal Infrared Hyperspectral Imaging System ，ATHIS )灵敏度优化设计方法，结合仪器特点介绍了实验室矿物发射光谱和 气体吸收光谱测量的辐射模型，分析了样本红外光谱与温度分离的数据处理流程。
红外光谱测红外发射率
红外光谱测红外发射率红外光谱测红外发射率是一种使用红外辐射进行材料特性测量的技术。
红外辐射是电磁辐射的一种，波长介于可见光和微波之间。
通过使用红外光谱仪器，我们可以对物质在红外波段上的辐射特性进行精确测量。
红外发射率是指物体在红外波段上辐射出的能量与其热平衡状态下可能辐射出来的能量的比值。
在红外光谱测红外发射率的过程中，我们可以了解物体对红外辐射的吸收和发射特性。
这对于许多领域是非常重要的，比如材料科学、生物医学和环境监测等。
红外光谱测红外发射率的原理是基于物体对红外辐射的相互作用。
当物体受到外部红外辐射时，一部分能量会被吸收，而另一部分则会被物体表面发射出来。
通过测量物体发射出的红外辐射强度，我们可以计算得到红外发射率。
这个参数可以反映物体对红外辐射的响应能力，从而帮助我们了解物体的特性和行为。
在红外光谱测红外发射率的实验中，我们通常会使用红外光谱仪器。
这些设备可以通过分析红外辐射的能谱来确定物体的辐射特性。
红外光谱仪器通常使用光学元件、探测器和信号处理系统等组件，以实现精确的测量和分析。
红外光谱测红外发射率在许多应用中都非常有用。
例如，在材料科学中，我们可以通过测量材料的红外发射率来研究其导热性能、光学特性和表面特征等。
在生物医学研究中，红外光谱测红外发射率可以用于检测生物组织的变化和异常，如癌症筛查和诊断等。
同时，环境监测领域也可以利用红外光谱测红外发射率来分析和监测大气气体的成分和浓度。
总之，红外光谱测红外发射率是一项重要的技术，可用于研究材料和物体的辐射特性。
它在各个领域都具有广泛的应用前景，为我们提供了深入了解物质性质和行为的途径。
竹炭远红外发射率测定方法
竹炭的远红外发射率可以通过使用远红外光谱仪来测量。
这种测量方法的基本原理是使用远红外光谱仪发射一束远红外光线并将其照射到样品上，然后测量远红外光线在经过样品之后的强度。
根据样品对远红外光线的吸收程度，可以计算出样品的远红外发射率。
为了进行测量，需要准备以下材料和设备：
1.远红外光谱仪
2.竹炭样品
3.光学比较器
4.参考样品（通常为玻璃）
测量步骤如下：
1.将光学比较器放在远红外光谱仪前面，并将参考样品和竹炭样品
分别放在光学比较器的两个口之中。
2.使用远红外光谱仪发射远红外光线，并将其照射到参考样品上。
记录下参考样品的远红外发射率。
3.将光线照射到竹炭样品上，并记录下竹炭样品的远红外发射率。
4.使用以下公式计算竹炭样品的远红外发射率：远红外发射率=
（竹炭样品的远红外发射率- 参考样品的远红外发射率）。
红外循迹传感器参数测量
红外循迹传感器参数测量篇一：红外循迹传感器是一种能够感知物体运动并记录其路径的传感器,广泛应用于智能交通、智能家居、智能仓库等领域。
测量红外循迹传感器的参数是确保传感器正常工作和准确测量的关键。
本文将介绍红外循迹传感器的参数测量方法,并拓展相关内容。
一、红外循迹传感器参数测量方法1. 红外光谱范围红外光谱范围是红外循迹传感器的重要参数之一。
通常,红外光谱范围在800纳米到1200纳米之间被认为是比较准确的红外光谱范围。
在这个范围内,红外光谱能够捕捉到物体发出的红外辐射。
2. 红外辐射功率红外辐射功率是另一个重要的参数。
红外辐射功率越大,表示传感器对红外辐射的响应越好,能够捕捉到物体的运动。
3. 红外辐射信噪比红外辐射信噪比是另一个重要的参数。
红外辐射信噪比越高,表示传感器对红外辐射的响应越好,能够捕捉到物体的运动。
4. 红外发射率红外发射率是红外循迹传感器的另一个重要参数。
红外发射率越高,表示传感器能够发射更多的红外辐射,能够捕捉到更多的物体运动信息。
二、红外循迹传感器参数测量的拓展1. 红外光谱范围除了红外光谱范围之外,红外循迹传感器的红外光谱还应该与物体发出的红外光谱相匹配。
只有红外光谱与物体发出的红外光谱相匹配,才能够准确地测量物体的运动轨迹。
2. 红外辐射功率除了红外辐射功率之外,红外循迹传感器的红外辐射功率还应该与物体的运动轨迹相匹配。
只有红外辐射功率与物体的运动轨迹相匹配,才能够准确地测量物体的运动轨迹。
3. 红外辐射信噪比除了红外辐射信噪比之外,红外循迹传感器的红外辐射信噪比还应该与物体的运动轨迹相匹配。
只有红外辐射信噪比与物体的运动轨迹相匹配,才能够准确地测量物体的运动轨迹。
4. 红外发射率除了红外发射率之外,红外循迹传感器的红外发射率还应该与物体的运动轨迹相匹配。
只有红外发射率与物体的运动轨迹相匹配,才能够准确地测量物体的运动轨迹。
篇二：红外循迹传感器是一种用于检测物体运动并追踪其路径的传感器,通常用于自动化控制、安防监控、交通管理和工业过程控制等领域。
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性，平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益，请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间：9:00-18:30)。
红外光谱发射率测量
红外光谱发射率测量是一种分析方法，用于测定物质在红外光谱范围内的发射能力。
红外光谱发射率测量可用于研究和表征物质的红外辐射特性，例如材料的吸收、反射和透过等。
红外光谱发射率测量通常使用红外辐射源和红外光谱仪来进行。
首先，一个已知的红外辐射源校准器会发射红外辐射，该辐射将通过待测物质，并被红外光谱仪接收和分析。
然后，比较已知红外辐射源的辐射强度和通过待测物质的辐射强度，就可以计算出物质的红外光谱发射率。
红外光谱发射率测量可以应用于多个领域，例如材料科学、环境科学、化学和生物医学等。
通过测量物质的红外光谱发射率，可以了解物质的红外辐射特性，从而实现对物质的表征和研究。
此外，红外光谱发射率测量还可以用于材料的质量控制和制备过程的监测，以及红外光谱成像和红外热辐射测温等应用。