超声波探伤校验规程

超声波探伤校验规程
1适用范围
本规程适用于本公司新购置和使用中的超声波探伤仪与探头的系统性能的检
验。

2检验周期
2.1探伤仪性能（水平线性、垂直线性、动态范围）每隔半年进行校验一次；
2.2探伤仪和探头的系统性能（灵敏度余量、始脉冲宽度及盲区、分辨力）使用前需进行校验，相关数据录入报告即可，不需专门检验报告。

3人员要求
3.1超声波探伤仪校验人员都应经过专业培训，并持有国家质量技术监督局的II级或II 级以上的超声波检验人员资格证书；
3.2超声波探伤仪校验人员应熟悉设备的各部分的作用及本规程；
3.3超声波探伤仪校验人员应严格按照本规程操作超声波探伤仪，并对设备使用的安全性负责。

4认可需用标准器具
4.1标准试块CSK-IA试块及200/①2平底孔试块；
4.2所用试块必须是具有相应认证企业生产。

5操作步骤
5.1.垂直线性
5.1.1.5MHZ或其它频率的常用直探头，用压块将探头固定在200/Φ2平底孔试块上并对准中2孔（或其它试块25mm底面）。

调节探伤仪使示波屏上显示的孔的反射波幅度为垂直刻度的100%（满刻度），作为“0”dB,且衰减器至少有30dB余量；
5.1.2.调节增益，依次记下每衰减2dB时相应的波高值Hi,并将实测相对波高值填入表1中，直至底波消失。

上表中：理论相对波高%=Hi(衰减adB后波高)/H0(衰减OdB时波高)X100%；实测相对波高％=10(-Δi∕20)×100%
5.1.3.算垂直线性误差
D=(∣d(÷)∣+∣d(-)∣)X100%
式中d(+) ---- 最大正偏差；
d(-) ---- 最大负偏差。

5.2.水平线性
5.2.1..将直探头置于CSK-IA上，对准25mm厚的大平底面。

5.2.2.节探伤仪使示波屏上出现六次底波Bl到B6,且使Bl前沿对准0,B6对准10.0。

记录B2、B3、B4、B5与水平刻度值20、40、60、80的偏差值α2、α3、a4、α5。

5.2.3.计算水平线性误差
δ=Iαmax∣∕0.8b×100%
式中αmax -------- a2、α3、α4、α5最大者；
b -------- 示波屏水平满刻度值。

5.3.动态范围
5.3.1.调［抑制］至“0"。

将满幅度100%某波高用［衰减器］衰减到刚能识别的最小值所需衰减的分贝值就是动态范围。

5.4灵敏度余量
5.4.1.仪器与直探头灵敏度余量的测试
a）仪器［增益］至最大，［抑制］至"0”，［发射强度］至”强“，连接探头，并使探头悬空，调［衰减器］使电噪声电平W10%,记下此时的［衰减器］的读数NldBo将探头对准200/中2平底孔。

调［衰减器］使①2平底孔回波高达50%,记下此时［衰减器］读数N2dB。

则仪器与探头的灵敏度余量N为N=N2-N1（dB）。

5.4.2.仪器与斜探头灵敏度余量的测试
a）仪器［增益］至最大，［抑制］至"0”，［发射强度］至“强"，连接探头，并使探头悬空，调［衰减器］使电噪声电平W10%,记下此时的［衰减器］的读数NldB。

b）将探头置于CSK-IA试块上，记下使RlOO圆弧面的第一次反射波最高达50%时的衰减量N2。

则仪器与斜探头的灵敏度余量N为N=N2-N1（dB）。

5.5始脉冲宽度
5.5.1.调节仪器的发射强度，使被测探头阻尼电阻值接近等效阻抗值（无探头波）。

5.5.2.将探头置于CSK-IA试块上厚度IOOmm处，调节仪器使第一次底波Bl前沿对准水平刻度“5”，第二次底波B2前沿对准水平刻度“10”，并使B2的幅度为垂直刻度的50〜80%；
5.5.3.将探头置于对比试块Z20—4上，移动探头使孔波为最高，调节衰减器使孔波幅度为垂直刻度的50%,再把衰减器的衰减量减小12dB（即提高12dB）,然后读取从刻度板的零点至始波后沿与垂直刻度20%线交点所对应的水平距离即为负载始波宽度，用钢中纵波传播距离表示；
5.5.4.将探头置于空气中，擦去表面耦合剂，读取从刻度的零点至始波后沿与垂直刻度20%线交点所对应的水平距离，即为空载始波宽度，用钢中纵波传播距离表示。

5.6分辨力
5.6.1.仪器与直探头分辩力的测定
a）［抑制］至“0”，探头置于CSK-IA试块阶梯的另一面，使示波屏上出现85、91、100三个反射回波A、B、Co
b）左右移动探头,使85、91两处回波幅度相等并以为20%〜30%满刻度。

c）调节［衰减器］,使85、91两波峰间的波谷上升到原来波峰高度,此时［衰减器］所释放的dB数即为以dB值表示的超声探伤系统的分辨力。

5.7探头性能测试
5.8.斜探头入射点测试
a）将探头放在CSK-IA试块上，使RlOO圆弧面回波达最高时斜楔底面与试块圆心的重合点就是该探头的入射点；
b）探头前沿L就是Rl（X）减去探头前端到圆弧面距离。

572斜探头折射角、K值测试
a）当折射角为34°~66°时，探头放在距中50远面处，使用Φ50mm孔进行测定；
b）当折射角为60°~75°时，探头放在距中50近面处，使用Φ50mm孔进行测定；
c）当折射角为74°~80°时，探头放在距中1.5近面处，使用①1.5mm孔进行测定；d）测出探头前端到试块端面距离L0；
e）K=（L÷L0-35）/30
5.7.3主声束偏离及双峰测试
a）斜探头置于CSK-IA试块大平面处，对准试块棱边，移动并转动探头，找到棱边最高波，其探头侧面平行线与棱边夹角就是主声束偏离角；
b）斜探头对准CSK-IA试块的①1.5mm孔或其它试块的横孔，移动探头，看是否有双峰。

5.8校检结果评定
5.8.1垂直线性误差不大于5%；
5.8.2水平线性误差不大于1%；
5.8.3动态范围不小于26dB；
5.8.4仪器与直探头灵敏度余量230dB；
5.8.5仪器与斜探头灵敏度余量240dB；
5.8.6始脉冲宽度：对于频率为5MHz的探头，其占宽不得大于10mm；对于频
率为2.5MHZ的探头，其占宽不得大于15mm；
5.8.7仪器与直探头分辩力一般要求230CiBo
5.9记录及标识
5.9.1校验完毕后在仪器上进行标识，校验人员应按超声波校验报告（见附录A）内容对测试数据认真记录并评价结论；
5.9.2校验报告由质检部无损检测责任人员归档，检验报告保存期为四年。

附录A
年月曰年月曰。