集成电路IC检验规范

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IQC检验规范产品名称集成电路IC
文件编号共 1 页第 1 页
序号检验项目检验内容要求检验频次检验器具检验方法不良等级
示意简图（备注）A B C
1 供货商是否为合格供应商一次/每
批
目测B
2 包装包装良好，附出厂合
格证明
一次/每
批
目测B
3 规格、数量产品规格、名称、数
量与实物一致
一次/每
批
目测(与标样对比) B
4 标识标识清晰、完整、正
确
一次/每
批
目测(与标样对比) C
5 标识附着力标识附着力良好10只酒精(分析醇)、
棉球
用酒精棉球拭擦三
次，字迹应保持清晰
B
6 外观检查无破损、变形、污迹，
引脚无氧化
10只目测(与标样对比) B
7 封装尺寸详见产品规格或图
样
10只游标卡尺
测量相关尺寸，判断
与标准尺寸是否相
符
A
8 功能符合产品性能标准10只专用检测工装详见相应集成电路
检测工装操作说明
A
备注1、封样产品应该在供货商送的第一批合格产品中抽取，原则上以后规格、标识、外观等方面的检验以封样的产品为标准。

2、抽样标准：一般以10只/每批检验水平：一般检验水平Ⅱ级。

3、致命缺陷（A）：极重要质量特性不符合规定，导致产品性能完全丧失；AQL——0.065。

严重缺陷（B）：重要质量特性不符合规
定，导致产品性能部分失效；AQL——0.65。

一般缺陷（C）：一般质量不符合规定，轻微影响或者不影响产品的正常性能；AQL ——1.5。

4、反应计划：若发现1个或1个以上A类缺陷或B类缺陷以及2个以上C类缺陷则该批产品则判为不合格品，并对不合格品并进行
隔离、标识。

同时具备两种以上不合格的进行不合格评审；单项不合格的外检站应将统计结果上交质管部，质管部反馈给供应商。

5、质检单上应记录以上所有A类、B类检验项目的检验结果。

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