可控硅简易测试仪
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可控硅简易测试仪
毛其英
【期刊名称】《家庭电子（维修版）》
【年(卷),期】2004(000)001
【摘要】@@ 本文介绍的可控硅简易测试仪,电路原理如附图所示.它由测试插座SOCK、开关S1～S4和发光管D1、D2等组成.
【总页数】1页(P19)
【作者】毛其英
【作者单位】无
【正文语种】中文
【中图分类】TN345
【相关文献】
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4.可控硅简易测试仪 [J], 毛其英
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