XRD图谱实例分析
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设定峰形匹配参数进行衍射峰匹配
经过衍射峰的匹配;得出定性结果;本张衍射图谱所对应样品的物相成分为SiO2
多物相成分的定性分析
一 打开衍射图谱
二 对图谱进行平滑等处理
三 设置寻峰参数进行寻峰 经过寻峰得到该图谱的衍射峰数据包括峰位 峰强 半峰宽 晶面间距等
四 根据实际情况设置峰匹配参数并进行峰匹配 经过峰匹配后得出定性结果该样品所含的混合相有CaCO3 Al2O3 SiO2
方法 目的及意义 试述纳米晶粒尺寸测定的方法与原理 试分析材料的化学成分与物相成分的区别与;它们
分别可以利用哪些仪器进行标定;这些仪器对它们 的标定各标样实际量重新计算各结晶相及非晶态化合物含量
纳米材料晶粒度的计算
一 打开XRD图谱文件
二 对图谱进行平滑等处理
三 选取所要测物相的最佳衍射峰进行峰形拟合计算;求出峰的准确参数
四 根据所求的峰参数及仪器宽化;利用谢乐公式求出晶粒尺寸
思考题
如何确定材料是晶态或非晶态;为什么 X射线粉末衍射仪有哪些应用;试举例并说明分析
X射线多晶衍射分析实例
单物相成分定性分析
一 打开XRD图普文件
二 对图谱进行处理
对XRD图谱进行K α2去除和图谱的平滑处理
三 对图谱进行寻峰 根据图谱的实际情况设置寻峰条件;对图谱进行寻峰
经过寻峰得出峰的相应参数 寻峰后所得的峰参数如图所示;包括峰的位置 晶面间距 强度 半峰宽等
四 进行衍射峰的匹配
RIR值法物相半定量分析
以刚才我们定性分析的多物相混合样品为例;要进行半定量;首先要进行定性分析;在定性分 析的基础上;再应用RIR值法进行半定量分析 根据刚才定性的分析结果 该样品所含的物相 成分为： CaCO3 Al2O3 SiO2 我们通过数据库查寻;查找这三物相的相应 RIR值;然后进行 RIR值法半定量原理进行半定量计算;得出半定量结果如图
六 拟合完毕得到各物相的半定量结果
全谱拟合法求结晶度
一 对样品的衍射图谱进行处理和定性分析
从上图我们可以看图该图谱有一明显的非晶衍射峰胞 晶相部分的定性结果为： 莫来石与石英
二 加入16%的CaCO3标样进行录谱;所得图谱如下
三 对加入标定的图谱进行处理和Rietveld全谱拟合
四 拟合完毕得到结晶相的半定量结果
全谱拟合法物相半定量分析
全谱拟合法是应用Rietveld程序对所测图谱进行全谱拟合来进行物相的半定量分析 我们还是以刚才分析的样品为例 一 打开XRD图谱文件
二 对图谱进行平滑等处理
三 设置寻峰参数进行寻峰
经过寻峰得到峰的相应参数
四 导入CaCO3 SiO2 Al2O3三物相的结构数据
五 设置并调整拟合参数进行多次拟合直至得到最佳拟合结果 经过多次拟合得到最佳的拟合结果;拟合结果的好与坏有一系列的评判参数如上图
经过衍射峰的匹配;得出定性结果;本张衍射图谱所对应样品的物相成分为SiO2
多物相成分的定性分析
一 打开衍射图谱
二 对图谱进行平滑等处理
三 设置寻峰参数进行寻峰 经过寻峰得到该图谱的衍射峰数据包括峰位 峰强 半峰宽 晶面间距等
四 根据实际情况设置峰匹配参数并进行峰匹配 经过峰匹配后得出定性结果该样品所含的混合相有CaCO3 Al2O3 SiO2
方法 目的及意义 试述纳米晶粒尺寸测定的方法与原理 试分析材料的化学成分与物相成分的区别与;它们
分别可以利用哪些仪器进行标定;这些仪器对它们 的标定各标样实际量重新计算各结晶相及非晶态化合物含量
纳米材料晶粒度的计算
一 打开XRD图谱文件
二 对图谱进行平滑等处理
三 选取所要测物相的最佳衍射峰进行峰形拟合计算;求出峰的准确参数
四 根据所求的峰参数及仪器宽化;利用谢乐公式求出晶粒尺寸
思考题
如何确定材料是晶态或非晶态;为什么 X射线粉末衍射仪有哪些应用;试举例并说明分析
X射线多晶衍射分析实例
单物相成分定性分析
一 打开XRD图普文件
二 对图谱进行处理
对XRD图谱进行K α2去除和图谱的平滑处理
三 对图谱进行寻峰 根据图谱的实际情况设置寻峰条件;对图谱进行寻峰
经过寻峰得出峰的相应参数 寻峰后所得的峰参数如图所示;包括峰的位置 晶面间距 强度 半峰宽等
四 进行衍射峰的匹配
RIR值法物相半定量分析
以刚才我们定性分析的多物相混合样品为例;要进行半定量;首先要进行定性分析;在定性分 析的基础上;再应用RIR值法进行半定量分析 根据刚才定性的分析结果 该样品所含的物相 成分为： CaCO3 Al2O3 SiO2 我们通过数据库查寻;查找这三物相的相应 RIR值;然后进行 RIR值法半定量原理进行半定量计算;得出半定量结果如图
六 拟合完毕得到各物相的半定量结果
全谱拟合法求结晶度
一 对样品的衍射图谱进行处理和定性分析
从上图我们可以看图该图谱有一明显的非晶衍射峰胞 晶相部分的定性结果为： 莫来石与石英
二 加入16%的CaCO3标样进行录谱;所得图谱如下
三 对加入标定的图谱进行处理和Rietveld全谱拟合
四 拟合完毕得到结晶相的半定量结果
全谱拟合法物相半定量分析
全谱拟合法是应用Rietveld程序对所测图谱进行全谱拟合来进行物相的半定量分析 我们还是以刚才分析的样品为例 一 打开XRD图谱文件
二 对图谱进行平滑等处理
三 设置寻峰参数进行寻峰
经过寻峰得到峰的相应参数
四 导入CaCO3 SiO2 Al2O3三物相的结构数据
五 设置并调整拟合参数进行多次拟合直至得到最佳拟合结果 经过多次拟合得到最佳的拟合结果;拟合结果的好与坏有一系列的评判参数如上图