XRD定量分析精品PPT课件
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《XRD物相定量分析》课件
实验样品的制备
样品的选取:选择具有代表性的样品 样品的预处理:清洗、干燥、研磨等 样品的装样:将样品装入样品盒中 样品的测试:使用XRD仪器进行测试
XRD实验参数的选择和设置
实验参数:包括X射线源、样品、探测器 等
探测器:选择合适的探测器,如CCD、 IP等
X射线源:选择合适的X射线源,如 CuKα、MoKα等
建议:加强XRD技术的研发和应用推广,提高其在科学研究和工业生产中的应用价值
THANKS
汇报人:PPT
02 X R D 物 相 定 量 分 析 概 述 04 X R D 物 相 定 量 分 析 的 数 学 模
型
06 X R D 物 相 定 量 分 析 的 未 来 发展与展望
Part One
单击添加章节标题
Part Two
XRD物相定量分析 概述
XRD物相定量分析的定义和意义
XRD物相定量分析: 通过X射线衍射技 术对样品中的物相 进行定量分析的方 法
数据处理结果:物相组成、晶粒尺寸、晶格常数等 数据处理注意事项:避免数据丢失、保证数据准确性、注
意数据保密性
Part Four
XRD物相定量分析 的数学模型
衍射强度的计算公式
布拉格公
式
:
nλ=2dsi
nθ
衍射强度 公式: I=|f(θ)|^ 2
结构因子: f(θ)=Σh( hkl)e^(2πi(hkl)s inθ)
实验条件:选择合适的实验条件,如温 度、压力、湿度等
样品:选择合适的样品,如粉末、薄膜 等
数据处理:选择合适的数据处理方法, 如峰形拟合、峰面积计算等
XRD实验数据的收集和处理
实验设备:X射线衍射仪 实验步骤:样品制备、数据采集、数据处理
1 XRD物相定量分析-10-17-66页PPT资料
电子衍射物相定性分析技术及应用 TEM中的衍射衬度理论(艾延龄) 晶界、相界分析方法及工程应用(艾延龄) 材料疲劳与断裂研究分析及及工程应用 近代物理研究方法在腐蚀方面的应用
X射线衍射物相定量分析技术及其工程应用
1、研究目的 2、定量相分析基本原理 3、定量相分析方法
3.1 K值法分析方法及其应用实例 3.2 绝热法分析方法及其应用实例 3.3 直接对比法及其应用实例
引言
材料:金属材料、无机非金属 近代物理分析方法: OM、 XRD、 SEM、TEM、AEM、力学物理性能检测 用近代物理分析手段来研究材料组织、 结构、性能及其关系
硕士学位课程·现代物理检测技术
1
Gleeble-1500热模拟系统
硕士学位课程·现代物理检测技术
2
MTS 疲劳试验机
硕士学位课程·现代物理检测技术
★ 测量混合样品的衍射谱,测量M和标准物质刚玉的最强 峰强度分别为2210和895,两数相除得M相的K值为2.47
★ 按上面的方法依次测量Q和C相的K值分别为8.08和9.16
★ 测量图谱并计算强度
取待测样品1g,加入3.22g刚玉粉,制成混合样 (Ws=0.69), 测得混合样品中4个相的强度分别为:
3
MET金相显微镜(图象分析系统)
硕士学位课程·现代物理检测技术
4
D-MAX 2500 X-射线衍射仪
硕士学位课程·现代物理检测技术
5
Tecnai G2 20 S-TWIN分析电镜
硕士学位课程·现代物理检测技术
6
Sirion 200型冷场发射扫描电镜
2nm, 10-5 Pa
硕士学位课程·现代物理检测技术
1、研究目的
在定性物相分析的基础上测定多相 物质中各相的含量
XRD分析课堂PPT
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引言
问题
❖ 科研、生产、商业和日常活动中,我们经常遇到: 这是一种什么物质?含有那些杂质或有害物质?用 什么方法鉴定?
❖ X射线衍射分析(XRD)的原理?仪器?样品? ❖ XRD除物相分析还能做些什么? ❖ 如何从XRD所给出的数据中提取更多的信息?包括
成分、结构、形成方式(条件)、结晶度、晶粒度? 等等。
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特征X射线的命名方法
❖ 当K电子被打出K层时,如L层电子来填充K空位时,则 产生Kα辐射。同样当K空位被M层电子填充时,则产生 Kβ辐射。M能级与K能级之差大于L能级与K能级之差, 即一个Kβ光子的能量大于一个Kα光子的能量; 但因 L→K层跃迁的几率比M→K迁附几率大,故Kα辐射强 度比Kβ辐射强度大五倍左右。显然,当L层电子填充K 层后,原子由K激发状态变成L激发状态,此时更外层 如M、N……层的电子将填充L层空位,产生L系辐射。
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16
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特征X射线产生的机理
❖ 特征X射线光谱产生的原因与连续光谱完全不 同。由阴极飞驰来的电子,在其与阳极的原子 相作用时,把其能量传给这些原子中的电子, 把这些电子激发到更高一级的能阶上;换句话 说,就是把原子的内层电子打到外层或者甚至 把它打到原子外面,而使原子电离,从而在原 子的内电子层中留有缺席的位置。
I k1iZVm
14
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管电流、管电压、阳极靶的原子序数对连续谱的影响
15
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1.4.2 特征X射线(标识X射线)
❖ 从图可见,当电压加到25KV时, Mo 靶 的 连 续 X 射 线 谱 上 出 现 了 两 个 尖 锐 的 峰 Kα 和 Kβ 。 随 着 电 压的增大,其强度进一步增强, 但波长不变。也就是说,这些谱 线的波长与管压和管流无关,它 与靶材有关,对给定的靶材,它 们的这些谱线是特定的。因此, 称之为特征X射线或标识X射线。 产生特征X射线的最低电压称激 发电压。
引言
问题
❖ 科研、生产、商业和日常活动中,我们经常遇到: 这是一种什么物质?含有那些杂质或有害物质?用 什么方法鉴定?
❖ X射线衍射分析(XRD)的原理?仪器?样品? ❖ XRD除物相分析还能做些什么? ❖ 如何从XRD所给出的数据中提取更多的信息?包括
成分、结构、形成方式(条件)、结晶度、晶粒度? 等等。
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特征X射线的命名方法
❖ 当K电子被打出K层时,如L层电子来填充K空位时,则 产生Kα辐射。同样当K空位被M层电子填充时,则产生 Kβ辐射。M能级与K能级之差大于L能级与K能级之差, 即一个Kβ光子的能量大于一个Kα光子的能量; 但因 L→K层跃迁的几率比M→K迁附几率大,故Kα辐射强 度比Kβ辐射强度大五倍左右。显然,当L层电子填充K 层后,原子由K激发状态变成L激发状态,此时更外层 如M、N……层的电子将填充L层空位,产生L系辐射。
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特征X射线产生的机理
❖ 特征X射线光谱产生的原因与连续光谱完全不 同。由阴极飞驰来的电子,在其与阳极的原子 相作用时,把其能量传给这些原子中的电子, 把这些电子激发到更高一级的能阶上;换句话 说,就是把原子的内层电子打到外层或者甚至 把它打到原子外面,而使原子电离,从而在原 子的内电子层中留有缺席的位置。
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管电流、管电压、阳极靶的原子序数对连续谱的影响
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1.4.2 特征X射线(标识X射线)
❖ 从图可见,当电压加到25KV时, Mo 靶 的 连 续 X 射 线 谱 上 出 现 了 两 个 尖 锐 的 峰 Kα 和 Kβ 。 随 着 电 压的增大,其强度进一步增强, 但波长不变。也就是说,这些谱 线的波长与管压和管流无关,它 与靶材有关,对给定的靶材,它 们的这些谱线是特定的。因此, 称之为特征X射线或标识X射线。 产生特征X射线的最低电压称激 发电压。
化合物结构表征课件第二章XRD定量相分析
布拉格方程
衍射波的角度与晶面间距 、X射线波长和晶面取向有 关,可以用布拉格方程表
示。
晶体结构与XRD
晶体结构的周期性导致X射 线衍射现象的出现,不同 的晶体结构具有独特的衍
射图谱。
XRD定量相分析的方法
相对强度法
通过测量各衍射峰的强度,利用已知 纯物质的标准谱图进行对比,计算各 相的相对含量。
绝对强度法
晶体结构的解析
晶体结构类型
根据衍射数据确定晶体所属的晶系和 空间群。
晶胞参数
通过晶格常数计算晶胞参数,如晶格 类型、晶格常数等。
定量相分析的计算方法
峰面积法
通过测量各物相衍射峰的 面积或高度,计算各物相 的相对含量。
线性组合法
通过测量各物相衍射峰的 角度位置,利用线性组合 计算各物相的相对含量。
案例三:矿物材料的XRD定量相分析
总结词
通过XRD技术对矿物材料的晶体结构和相组成进行定量分析,有助于了解矿物的形成过程和演化历史 。
详细描述
矿物材料是由地质作用形成的天然矿石和矿物集合体,其晶体结构和相组成反映了地球的形成和演化 历史。XRD技术可以对矿物材料的晶体结构和相组成进行定性和定量分析,从而了解矿物的形成过程 和演化历史,为地质学和地球科学的研究提供重要依据。
案例二:陶瓷材料的XRD定量相分析
总结词
利用XRD技术对陶瓷材料的晶体结构和相组成进行定量分析,有助于优化陶瓷 材料的制备工艺和提高其性能。
详细描述
陶瓷材料广泛应用于电子、能源、环保等领域,其性能与晶体结构和相组成密 切相关。XRD技术可以对陶瓷材料的晶体结构和相组成进行定性和定量分析, 从而优化制备工艺,提高陶瓷材料的性能和稳定性。
谢谢您的聆听
XRD定量分析精品PPT课件
获得面间距
XRD图:第一步完成
二、用Search-Match 找出主要物相
❖ 1、数据的输入
数据的输入
获得曲线
Sear O4 )2 ( O H )2 ( H2 O )8和Li Al Si4 O10
三、用Diamond绘制晶体结构
材料测试方法作业
一、orgin绘图工具将图绘出,并正确标出面网间距值(精确到 小数点后四位
拖过去
中间有些是软件的步骤省 略了,点next即可将数据
输入
数据输入
获得曲线
Pick peaks
Pick peaks
格式-绘图
格式-绘图
获得面间距
获得面间距
获得面间距
获得面间距
获得面间距
读取第一相cif文件
第二相晶体结构图
Maud精修
❖ 找到Li Al Si4 O10的cif文件
找到Fe Al2 ( P O4 )2 ( O H )2 ( H2 O )8的CIF
TXT数据的输入
Cif文件的输入
精修第一个参数
第一个参数精修结果R=20.86
精修第二个参数
第二个参数精修结果Rw=16.10
精修第三个参数
精修结果Rw=15.23
结果
❖ 第一相Li Al Si4 O10占49.80%,晶体结构及 空间群
第二相Fe Al2(PO4)2(OH)2(H2O)8占 50.20%,晶体结构及空间群
写在最后
经常不断地学习,你就什么都知道。你知道得越多,你就越有力量 Study Constantly, And You Will Know Everything. The More
You Know, The More Powerful You Will Be
XRD数据分析 全面详细(精品课件)
《材料现代测试技术》作业-XRD分析 非H、O 成分: Na Zr Si Sr S
精品 PPT 模板
作业步骤
1)用orgin绘图工具将图绘出,并正确标出面网间距值(精确到小 数点后四位);
2)基于粉末晶体X射线衍射数据库PDF2,利用Search Match等检 索工具正确分析数据中所含的两种主要物相,给出物相定性分析 结果;
•
16、业余生活要有意义,不要越轨。2020年10月16日星期 五3时3分46秒15:03:4616 October 2020
•
17、一个人即使已登上顶峰,也仍要 自强不 息。下 午3时3分46秒 下午3时 3分15:03:4620.10.16
谢谢大家
结果:
4.2修晶胞参数
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结果:
4.3修微结构
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4.4修原子位子
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两种物相每个原子都要改
4.5修择优取向
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• Sr(SO4) , weight %: 60.28361 +- 0.43405727
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点击Search Match 进行分析
进行峰对比:
进行第二种物相分析
同样进行峰对比
初步确定物相为: Sr(SO4)ICSD Number: 028055 Na2Zr(Si3O9)(H2O)2 ICSD Number: 040874
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三、从findit软件中找到相应的cif 文件
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输入第一种物相的含有的元素Sr、S、O
Sr(SO4)的球棒模型为:
同样Na2Zr(Si3O9)(H2O)2 的球棒模型为:
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作业步骤
1)用orgin绘图工具将图绘出,并正确标出面网间距值(精确到小 数点后四位);
2)基于粉末晶体X射线衍射数据库PDF2,利用Search Match等检 索工具正确分析数据中所含的两种主要物相,给出物相定性分析 结果;
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16、业余生活要有意义,不要越轨。2020年10月16日星期 五3时3分46秒15:03:4616 October 2020
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17、一个人即使已登上顶峰,也仍要 自强不 息。下 午3时3分46秒 下午3时 3分15:03:4620.10.16
谢谢大家
结果:
4.2修晶胞参数
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结果:
4.3修微结构
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4.4修原子位子
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两种物相每个原子都要改
4.5修择优取向
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• Sr(SO4) , weight %: 60.28361 +- 0.43405727
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点击Search Match 进行分析
进行峰对比:
进行第二种物相分析
同样进行峰对比
初步确定物相为: Sr(SO4)ICSD Number: 028055 Na2Zr(Si3O9)(H2O)2 ICSD Number: 040874
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三、从findit软件中找到相应的cif 文件
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输入第一种物相的含有的元素Sr、S、O
Sr(SO4)的球棒模型为:
同样Na2Zr(Si3O9)(H2O)2 的球棒模型为:
xrd定量分析ppt
• 计算结果如下:
XRD应用实例2(k值法)
Thank you!
用K值法进行定量相分析时 第一步是求出K值 第二步是求出混合试样中i相含量 Wi 第三步是从 Wi值算出原待测样中i相重量百分数 Wi 。
Wi Wi 1 - WS
XRD应用实例1(k值法)
• 根据k值法法可以得到某物相的含量: Ii MS 1 Xi K IS MZ
• MS---刚玉的质量 • MZ--- 原物总质量
外标法
• 外标法是用对比试样中待测的第j相的某条衍射线 和纯j相(外标物质)的同一条衍射线的强度来获 得第j相含量的方法。
• 标准物质不加到待测试样中,且通常以某纯待测 物相为标样,制成一系列外标试样,测绘出工作 曲线,进行定量相分析的方法叫外标法。
• 外标法优点是待测样中不混入标准物质。 缺点是强度不同时测量,会影响测量准确度。
K值法
• K值法也是内标法的一种,只是对内标法做 了修改,使常数C与标准物质的掺入量无关, 并称之为基体冲洗法,也就是k值法。 • k值法的优点: • 1.K值与内标物质加入量的多少无关; • 2.不用绘制定标曲线,分析手续简化。
• 研究方法》第一次汇报
第八组 研究方法:XRD
XRD定量分析
XRD定量相分析
• X射线物相定量分析是根据混合相试样中各 相物质的衍射的强度来确定各相物质的相 对含量。
• 从衍射线的强度理论可知,多相混合物中 某一相的衍射强度,随该相的相对含量的 增加而增加。因而,可通过衍射强度的大 小求出混合物中某相参与衍射的体积分数 或重量分数。
衍射仪法的衍射强度:
I0 表示入射线强度,各参数都是单相物质的衍射参量。 对多相混合物,μl应为混合物的吸收系数μm 其余均与含量无关(记为K,未知常数)。则:
[课件]XRD解析PPT
Bragg 公式 2dhkl sinθhkl = nλ 应用
1)将晶体结构周期性(通过d)和射线本质(通过λ)
2)结合起来,并反映在图象上(通过θ)。 3)λ恒定,通过测θ求d(晶体结构分析) 4) d 恒定,通过测θ求λ(荧光分析) 5)波粒性 E=hv (能谱分析)
6)衍射充要条件 2dhkl sinθhkl = nλ, F 2
(2)用衍射仪法或照相法获得样品衍射花样; (3)检索PDF卡片; (4)核对PDF卡片与物相判定。
多相物质分析
多相物质相分析的方法是按上述基本步骤逐个确定其组
成相。 多相物质的衍射花样是其各组成相衍射花样的简单叠加, 这就带来了多相物质分析(与单相物质相比)的困难: 检索用的三强线不一定局于同一相,而且还可能发生一 个相的某线条与另一相的某线条重叠的现象。 因此,多相物质定性分析时,需要将衍射线条轮番搭配、 反复尝试,比较复杂。
分数表示,即物相定量分析)。
1、物相定性分析
基本原理与方法: 物质的X射线衍射花样特征:分析物质相组成
的“指纹脚印”。
制备各种标准单相物质的衍射花样并使之规
范化,将待分析物质 ( 样品 ) 的衍射花样与之
对照,从而确定物质的组成相。
物相定性分析的基本步骤
(1)制备待分析物质样品;
示例
未煅烧白云石的主相为碳酸钙 镁(CaMg(CO3)2),次相 为二氧化硅
300℃
500℃
750℃
1000℃
经过300和500℃煅烧后,白云石的主相和次相没有发 生变化,主相和次相仍分别为碳酸钙镁(CaMg(CO3) 2)和二氧化硅。当煅烧温度达到750℃时,碳酸钙镁 部分分解为碳酸钙和氧化镁,其主相变为碳酸钙镁 (CaMg(CO3)2),氧化镁和氧化钙。由于碳酸钙 镁在750℃下分解出二氧化碳并溢出,所以在750℃ 的烧失量达到15.1%。当煅温度提高到1000℃时,碳 酸钙镁全部分解为氧化钙和氧化镁,烧失量达到45.68 %。
XRD分析方法介绍PPT课件
特征谱是若干波长一定而强度很大的x射线谱。特 征谱的产生与靶材中原子结构及原子内层电子跃迁过 程有关。当高速运动的电子击靶时,具有高能量的电 子深入到靶材的原子中,激出原子内层电子,而使原 子处于不稳定的激发态,为使原子恢复至稳定的低能 态,邻近的电子立即自发地填其空穴,同时伴随多余 能量的释放,产生波长确定的x射线,其x射线的频率 和 即能hυ量= 由E2原―子E1跃迁前后的电子能级(E2和E1)决定,
从数学角度,近似函数法似乎不很严谨,但它确实 因绕开了求解物理宽化线形函数的困难,而使工作 大为简化。
最新课件
21
Kα 双线分离的常用方法是Rechinger法,这种方法假定 Kα 双线的衍射线形相似且底宽相等,谱线 Kα1 与 Kα2 的峰值
强度比值为 2:1。
当辐射线Kα1 与 Kα2的波长存在 Δλ 的偏差时,则衍射角 2θ
的分离度为
2 6 2 1 ta 2 1 n 2
最新课件
11
荧光x射线波长决定于原子的能极差。从荧光x射线 的特征波长可以查明被激发原子是哪种元素,这就 是x射线荧光光谱技术(XRF)。
产生俄歇电子除用x射线照射外,还可以用电子束、 离子束轰击。俄歇电子的能量分布曲线称为俄歇电 子能谱。俄歇电子能谱反映了该电子从属的原子以 及原子的结构状态特征,因此,俄歇电子能谱分析 (AES)可以分析固体表面化学组成元素的分布, 可用于精确测量包括价电子在内的化学键能,也可 以测量化学键之间微细的能量差。扫描俄歇电子能 谱仪还可观测被测表面的形貌。
为简便起见,用衍射指数hkl代替面网符合(nh、nk、nl),
则得到简化布拉格方程,即最新课2件dsinθ=λ
18
2.2 x射线衍射数据
2.2.1 衍射方向 衍射方向可用布拉格角θ、衍射角2θ、衍射面
从数学角度,近似函数法似乎不很严谨,但它确实 因绕开了求解物理宽化线形函数的困难,而使工作 大为简化。
最新课件
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Kα 双线分离的常用方法是Rechinger法,这种方法假定 Kα 双线的衍射线形相似且底宽相等,谱线 Kα1 与 Kα2 的峰值
强度比值为 2:1。
当辐射线Kα1 与 Kα2的波长存在 Δλ 的偏差时,则衍射角 2θ
的分离度为
2 6 2 1 ta 2 1 n 2
最新课件
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荧光x射线波长决定于原子的能极差。从荧光x射线 的特征波长可以查明被激发原子是哪种元素,这就 是x射线荧光光谱技术(XRF)。
产生俄歇电子除用x射线照射外,还可以用电子束、 离子束轰击。俄歇电子的能量分布曲线称为俄歇电 子能谱。俄歇电子能谱反映了该电子从属的原子以 及原子的结构状态特征,因此,俄歇电子能谱分析 (AES)可以分析固体表面化学组成元素的分布, 可用于精确测量包括价电子在内的化学键能,也可 以测量化学键之间微细的能量差。扫描俄歇电子能 谱仪还可观测被测表面的形貌。
为简便起见,用衍射指数hkl代替面网符合(nh、nk、nl),
则得到简化布拉格方程,即最新课2件dsinθ=λ
18
2.2 x射线衍射数据
2.2.1 衍射方向 衍射方向可用布拉格角θ、衍射角2θ、衍射面
[课件]XRD定性分析PPT
小角测角仪
多功能样品台
1.定性分析的原理
(1)由于不同的物质各具有自己的原子种类、原子
排列方式和点阵参数,在一定波长的X射线照射下, 进而呈现出特定的衍射花样。 (2)多相物质的衍射花样互不干扰,相互独立,只 是机械地叠加。 (3)衍射花样可以表明物相中元素的化学结合态, 即相结构。
晶胞大小与形状
物相定性分析所应注意问题
1. 对于数据d值,由于检索主要利用该数据,因此处理时精度 要求高,而且在检索时,只允许小数点后第二位才能出现偏差。
2. 特别要重视低角度区域的衍射实验数据,因为在低角度区
域,衍射所对应d值较大的晶面,不同晶体差别较大,衍射线 相互重叠机会较小。 3. 在进行多物相混合试样检验时,应耐心细致地进行检索, 力求全部数据能合理解释,但有时也会出现少数衍射线不能解
X射线衍射花样的方向(位置)
d-I数据
晶胞中的原子种类与坐标
照相法 衍射花样
d7
X射线衍射花样的强度
d5d4d3d2d1 d3 d1 d5 d 6
衍射仪法 衍射花样
d2
d4
• 通常用d(晶面间距表征衍射线位置) 和I(衍射线相对强度)的数据代表 衍射花样。用d-I数据作为定性相分 析的基本判据。
• 定性相分析方法是将由试样测得的d-I 数据组与已知结构物质的标准d-I数据 组(PDF卡片)进行对比,以鉴定出 试样中存在的物相。
3.PDF卡片的索引
索引有两类:
以d 值数列为索引
以物质名为索引
4.物相定性分析方法
人工检索卡片库
原理相同 效率提高
计算机检索卡片数据库
计算机软件全谱拟合
2.09- 2.13 I 2.47 “三强线” 1.80
第四章XRD的定量分析
第四章XRD的定量分析
主讲:金祖权博士
土木工程学院
课堂复习
粉末照相法
德拜-谢勒法
X 射线仪
物相定性分析
主要内容X射线定量分析
物相定量分析定量分析原理
a相的衍射强度:混合物线吸收系数见公式a相的衍射强度公式见公式u Ca K Ia /*=
外标法原理:
混合物中的A相强度公式
纯物质强度公式:I=K/u
两者相除:得到公式
外标法测试方法
测出混合物和纯物质的衍射强度,
带入公式可求
测出纯A的衍射强度
测出不同A含量混合物的衍射强度
绘制定标曲线,然后依据曲线标定
内标法原理:
试样:
基本控制式:
内标法测试方法
内标和外标法制作标准曲线费事
Chung提出了标准化的内标法,也称为基体冲洗法—K值法
原理:利用预先测定好的参比强度K值,在定量分析时不需要做标准曲线,利用被测相质量含量和衍射强度的线性方程,通过数学计算而得到.
定量分析应注意问题实验设备、测试条件和方法
试样的要求
定性图谱
无标定量在水泥中的应用。
《X射线衍射仪XRD》PPT课件
测角仪的构造
X射线发生器
XRD-6000
X射线发生器是高稳定度的 它是由:X射线管
高压发生器
管压管流稳定电路
各种保护电路等
现
代
衍
射
用 的 X
密封式 最大功率≤3KW
射 线
管 分为
视靶材料的不同而异
都
属
于 热 电 子
转靶式
是为获得高强度X射 线而设计的
二
极 管
功率≥9KW
。
产生条件
高速电子遇靶突然停止产生X-射线 1.灯丝 产生自由电子 2.高压 加速电子
• 试样产生的衍射线也会发散,同 样在试样到探测器的光路中也设 置防散射光栏SS、梭拉光栏S2和 接收狭缝光栏RS,这样限制后仅 让聚焦照向探测器的衍射线进入 探测器,其余杂散射线均被光栏 遮挡。
单色器
晶体单色器
• 晶体单色器的作用与图示
– 作用:消除衍射花样的背底和Kβ散射
衍射束弯曲晶体单色器
应变
77.9%
α(110)
α (200)
400
200
800
600 应变 55%
400
200
400
应变 35.6%
300
α (211)
200
100
1000 应变 0(1γ11)γ
500
(200)
(2γ20) (31γ1)(γ222)
0
20
40
60
80
100
2θ /degrees
基体为304奥氏体不锈钢, 经过冷轧变形后,以样品厚度 的减少量计算样品的应变分别 为35.6%,55.0%,77.9%。图 中γ为奥氏体相,α为马氏体相, 从XRD的结果可以看出,304 基体没有应变的情况下,奥氏 体的5个衍射峰均存在,并且马 氏体(110)晶面上出现衍射峰; 随着应变量的增加,马氏体的 衍射峰逐渐增多,到应变量为 77.9%时,马氏体在(110)、 (200)、(211)晶面上出现 衍射峰,而奥氏体的衍射峰削 弱,只有(220)晶面的衍射 峰存在。
XRD定量分析PPT课件
• 不足: (1) K值法可以只测量一个目的相,也可以测量全部目 的相,而绝热法则必须同时测出所有相。 (2) K值法可以测定含有未知相的多相混合物试样(未 知相不是目的相),绝热法却不能。 (3) K值法能判断是否存在非结晶物质(如果左<右即表 示存在非结晶物质),绝热法则不能。
定量分析的难点
测定强度与理论强度不一致。 1. 择优取向 – 多个线对测量 2. 其它相的干扰 – 避免重叠 3. 局部吸收 – 充分粉碎 4. 消光效应 – 选择反射本领较低的衍射线
Iα= K1 xα/ρα[xα(μα/ρα- μβ/ρβ) + μβ/ ρβ] 对纯α 相
(Iα)0 = K1/ μα 二者相除可消掉K1,得 Iα/ (Iα)0 = xα(μα/ρα) /[xα(μα/ρα- μβ/ρβ) + μβ/ ρβ] 测出Iα和 (Iα)0 ,已知各相的质量吸收系数,即可求得xα。 也可以确定若干个xα,在相同条件下测出同一根衍射线条的 强度Iα ,作出定标曲线,根据定标曲线中Iα/ (Iα)0 的值,可以 很容易确认α相 的含量
如左=右,则样品中所有物相均为结晶相,强度数据可靠; 如左<右,则表明有非晶物质存在; 如左>右,表明强度数据或K值有误。
K值法不需作复杂的标准曲线,无繁杂计算,从而节省了分析时 间,应用较广。但与内标法一样,必须提供纯样品物质,受到一 定限制。
4、直接比较法(绝热法)
• 定量相分析时不与系统以外发生关系。用试样中的 某一个相作标准物质直接进行比较。
外标法的特点
• 不必在试样中加入无关的相,可以定量计 算混合物中单相的含量。
• 需要配制不同α含量的样品做定标曲线,过 程较为复杂。
2、内标法
• 在被测粉末样品中加入一种恒定的标准物质制成复合试样。 通过测复合试样中待测相的某一衍射线强度与内标物质某一 衍射线强度之比,测定待测相含量。
定量分析的难点
测定强度与理论强度不一致。 1. 择优取向 – 多个线对测量 2. 其它相的干扰 – 避免重叠 3. 局部吸收 – 充分粉碎 4. 消光效应 – 选择反射本领较低的衍射线
Iα= K1 xα/ρα[xα(μα/ρα- μβ/ρβ) + μβ/ ρβ] 对纯α 相
(Iα)0 = K1/ μα 二者相除可消掉K1,得 Iα/ (Iα)0 = xα(μα/ρα) /[xα(μα/ρα- μβ/ρβ) + μβ/ ρβ] 测出Iα和 (Iα)0 ,已知各相的质量吸收系数,即可求得xα。 也可以确定若干个xα,在相同条件下测出同一根衍射线条的 强度Iα ,作出定标曲线,根据定标曲线中Iα/ (Iα)0 的值,可以 很容易确认α相 的含量
如左=右,则样品中所有物相均为结晶相,强度数据可靠; 如左<右,则表明有非晶物质存在; 如左>右,表明强度数据或K值有误。
K值法不需作复杂的标准曲线,无繁杂计算,从而节省了分析时 间,应用较广。但与内标法一样,必须提供纯样品物质,受到一 定限制。
4、直接比较法(绝热法)
• 定量相分析时不与系统以外发生关系。用试样中的 某一个相作标准物质直接进行比较。
外标法的特点
• 不必在试样中加入无关的相,可以定量计 算混合物中单相的含量。
• 需要配制不同α含量的样品做定标曲线,过 程较为复杂。
2、内标法
• 在被测粉末样品中加入一种恒定的标准物质制成复合试样。 通过测复合试样中待测相的某一衍射线强度与内标物质某一 衍射线强度之比,测定待测相含量。
4XRD分析方法精品PPT课件
– 以 IA/IB为纵坐标,A物质含量为横坐标, 作工作曲线。 – 测试未知试样的X射线衍射图谱,计算其中衍射主极
大的峰的积分强度IA/IB, – 根据工作曲线则可以测得其中组分的含量。
工作曲线
IA/IB
IAX/IBX
C1 C2 C3CXC4 C5
A相含量
X射线衍射定量分析
• K值法及参比强度法(自学)
– 简单但精度稍差。
X射线衍射定量分析
• 内标法
– 待测试样中含有多个物相 – 各相的质量吸收系数不同。
• 先完成工作曲线,确定混合物中的不同组分的 含量。
X射线衍射定量分析
• 例:
– 按不同配比均匀混合A和B相,如100:0, 90:10, 80:20, 70:30, ……
– 分别测试其X射线衍射,计算衍射主极大的峰的积分 强度IA/IB,
衍射线
பைடு நூலகம்衍射峰
• I=M·Lp·F2·e-2M·A*(θ)· (PO)
– M:多重性因数; – Lp:洛伦兹偏振因数; – F2:结构因数; – e-2M:温度因数; – A*(θ):吸收因数; – (PO):择优取向因数
X射线衍射定量分析
• 因此根据衍射强度,从理论上将无法精确确定混 合物中的精确含量;
• 物相定量分析的准确度与样品状况有密切关系
• I=M·Lp·F2·e-2M·A*(θ)· (PO)
– 试样颗粒的大小, – 混合样中各相分布均匀,避免微晶体的择优取向。
X射线衍射可以得到的信息
• 物相鉴定
– 定性 – 定量
• 晶面的择优取向生长 • 结晶度的测定 • 晶胞参数的确定 • 晶粒尺寸的测定(谢乐公式) • 膜厚的测定 • 薄膜的应力分布
大的峰的积分强度IA/IB, – 根据工作曲线则可以测得其中组分的含量。
工作曲线
IA/IB
IAX/IBX
C1 C2 C3CXC4 C5
A相含量
X射线衍射定量分析
• K值法及参比强度法(自学)
– 简单但精度稍差。
X射线衍射定量分析
• 内标法
– 待测试样中含有多个物相 – 各相的质量吸收系数不同。
• 先完成工作曲线,确定混合物中的不同组分的 含量。
X射线衍射定量分析
• 例:
– 按不同配比均匀混合A和B相,如100:0, 90:10, 80:20, 70:30, ……
– 分别测试其X射线衍射,计算衍射主极大的峰的积分 强度IA/IB,
衍射线
பைடு நூலகம்衍射峰
• I=M·Lp·F2·e-2M·A*(θ)· (PO)
– M:多重性因数; – Lp:洛伦兹偏振因数; – F2:结构因数; – e-2M:温度因数; – A*(θ):吸收因数; – (PO):择优取向因数
X射线衍射定量分析
• 因此根据衍射强度,从理论上将无法精确确定混 合物中的精确含量;
• 物相定量分析的准确度与样品状况有密切关系
• I=M·Lp·F2·e-2M·A*(θ)· (PO)
– 试样颗粒的大小, – 混合样中各相分布均匀,避免微晶体的择优取向。
X射线衍射可以得到的信息
• 物相鉴定
– 定性 – 定量
• 晶面的择优取向生长 • 结晶度的测定 • 晶胞参数的确定 • 晶粒尺寸的测定(谢乐公式) • 膜厚的测定 • 薄膜的应力分布
X射线衍射分析(XRD)PPT课件
1845——1923) 面有广泛应用,因此而获得1901年诺贝尔物
理奖。 2021
4
X射线衍射技术的主要应用领域
1,晶体结构分析:人类研究物质微观
结构的第一种方法。
2,物相定性分析 3,物相定量分析
4,晶粒大小分析 5, 非晶态结构分析,结晶度分析
6,宏观应力与微观应力分析 7,择优取向分析
2021
50
40 Mo
30 Cu
Ka 1
20
10 1.0 1.2 1.4 1.6 1.8 2.0 2.2
1/2 (109 Hz1/2)
1 CZ
K1: C=3*103 =2.9
2021
C1Z
K1: C1=5.2*107 =2.9
37
产生机理
• 特征X射线谱的产生机理与阳极物质的原子内 部结构紧密相关的。
2021
30
当增加X射线管的电压,连续X射线谱有下列特征
1,各种波长的X射线的 相对强度一致增高, 2,最高强度的射线的波 长逐渐变短(曲线的峰 向左移动), 3,短波极限逐渐变小, 即0向左移动, 4,波谱变宽。
Intensity
50 kV
2
40 kV
1
30 kV
20 kV
0 0.0 0.2 0.4 0.6 0.8 1.0
•
相互关系为:
eV
hmax
hc
0
或者
0
hc eV
• 式中 e —电子电荷,等于 1.61019C(库仑)
• V—管电压
• h—普朗克常数,等于 6.6251034js
2021
27
相关习题
• 试计算用50千伏操作时,X射线管中的电子 在撞击靶时的速度和动能,所发射的X射线 短波限为多少?
固体材料XRD全图拟合相定量分析PPT课件
•1
目前多相材料X射线衍射相定量分 析中存在的问题
▪内标法或K值法为主要相定量分析手段
在多相混合的固体材料中,组成相元素组成的不同, 致使其X射线吸收系数存在差异,每个相的衍射强度与其 丰度不是简单的线性关系。内标法与K值法都是为了解决 多相体系中收基体效应对强度的影响。二种方法事先都需 要选择标准样和掺杂用的内标化合物如刚玉粉等,制定标 准曲线或测定K值。实际测量时往样品中添加内标物,均 匀混样后,测定指定(内标物和待测物相)hkl衍射线积 分强度。
•15
天然膨润土定量分析图
•16
▪ 天然高岭土和凹凸棒矿物的相定量
这两种矿物与膨润土中蒙脱石不同,它们属多型矿 物,即有多种晶型结构存在,每种晶型结构本身堆叠位 错率高。在分析中,我们通常不是只选一个结构模型, 而是根据实际衍射图,选二个晶型结构模型,并在拟合 修正时让晶胞中每个原子位置参与修正,取得了非常好 的结果。但这里有一点要指出,如高岭土,修正结果往 往可以得到丰度不同的单斜和三斜两种结构的结果,因 为这二种结构的衍射图十分接近,总量结果我认为是对 的,单斜或三斜分量结果的准确型只能供参考。修正过 程相互侵占是不可避免的。结构修正中的含意是二种结 构标度因子间出现相关。
•14
应用实例
▪ 天然膨润土矿定量分析
天然膨润土是由层状结构的蒙脱石,α-石英、长石等矿物 组成的,其中蒙脱石层堆叠中充满旋转位错和堆叠位错,迄 今连它们的晶系都是所谓膺晶系,如膺六方等。但它的单个 层片中原子的排列是清楚的。我们选用四个二八面体层堆叠 的结构作为等效单晶胞,并用三斜晶系,赋予每个原子在散 射体中有充分移动的自由度。结果如图二所示,两者吻合相 当好。
•22
谢谢
•23
固体材料的相定性分析和相定量是多晶衍射分 析中常用的二大主要任务。上世纪九十年代计 算机搜配(profile-based search/match)方法问 世以来,以往那种费神、繁琐的三强线,八强 线线搜配相鉴定被高效率的计算机全谱搜配所 取代,检索的准确性和速度大幅提高,至少在 主要物相的鉴定分析上 ,多相固体材料的物相 鉴定在各实验室已变得相对容易。
目前多相材料X射线衍射相定量分 析中存在的问题
▪内标法或K值法为主要相定量分析手段
在多相混合的固体材料中,组成相元素组成的不同, 致使其X射线吸收系数存在差异,每个相的衍射强度与其 丰度不是简单的线性关系。内标法与K值法都是为了解决 多相体系中收基体效应对强度的影响。二种方法事先都需 要选择标准样和掺杂用的内标化合物如刚玉粉等,制定标 准曲线或测定K值。实际测量时往样品中添加内标物,均 匀混样后,测定指定(内标物和待测物相)hkl衍射线积 分强度。
•15
天然膨润土定量分析图
•16
▪ 天然高岭土和凹凸棒矿物的相定量
这两种矿物与膨润土中蒙脱石不同,它们属多型矿 物,即有多种晶型结构存在,每种晶型结构本身堆叠位 错率高。在分析中,我们通常不是只选一个结构模型, 而是根据实际衍射图,选二个晶型结构模型,并在拟合 修正时让晶胞中每个原子位置参与修正,取得了非常好 的结果。但这里有一点要指出,如高岭土,修正结果往 往可以得到丰度不同的单斜和三斜两种结构的结果,因 为这二种结构的衍射图十分接近,总量结果我认为是对 的,单斜或三斜分量结果的准确型只能供参考。修正过 程相互侵占是不可避免的。结构修正中的含意是二种结 构标度因子间出现相关。
•14
应用实例
▪ 天然膨润土矿定量分析
天然膨润土是由层状结构的蒙脱石,α-石英、长石等矿物 组成的,其中蒙脱石层堆叠中充满旋转位错和堆叠位错,迄 今连它们的晶系都是所谓膺晶系,如膺六方等。但它的单个 层片中原子的排列是清楚的。我们选用四个二八面体层堆叠 的结构作为等效单晶胞,并用三斜晶系,赋予每个原子在散 射体中有充分移动的自由度。结果如图二所示,两者吻合相 当好。
•22
谢谢
•23
固体材料的相定性分析和相定量是多晶衍射分 析中常用的二大主要任务。上世纪九十年代计 算机搜配(profile-based search/match)方法问 世以来,以往那种费神、繁琐的三强线,八强 线线搜配相鉴定被高效率的计算机全谱搜配所 取代,检索的准确性和速度大幅提高,至少在 主要物相的鉴定分析上 ,多相固体材料的物相 鉴定在各实验室已变得相对容易。
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IA=K2CA’ /μ, IS =K3CS /μ IA / IS =K2CA’ /K3CS =K2xA’ ρs /K3xSρA
= K4xA ’ = KSxA 因 xA’ = xA(1- xS)
此时A相含量 xA与IA / IS 线性相关。
KS的处理:
做出A相与标准物质复合试样的定标曲线,即,事先测量出一 套由已知A相浓度的原始试样和恒定浓度的表征物质(即xS不 变)组成的复合试样,做出定标曲线,测定其IA / IS ,则KS就可 以确定。
Iα= K1 Cα/μ
对α和β两相,各自密度分别为ρα和ρβ,线吸收系数为μα 和μβ,,质量百分比分别为xα和xβ。
混合物的线吸收系数: μ =ρ( xαμα/ρα + xβμβ/ρβ) Cα = Vα/ V = ρxα/ρα
因此, α相的衍射强度公式: Iα= K1 Cα/μ = K1 xα/ρα( xαμα/ρα + xβμβ/ρβ ) = K1 xα/ρα[xα(μα/ρα- μβ/ρβ) + μβ/ ρβ ] = K1 xα/(A xα+B)
K值法不需作复杂的标准曲线,无繁杂计算,从而节省了分析时 间,应用较广。但与内标法一样,必须提供纯样品物质,受到一 定限制。
K值法法可以判断样品中是否有非晶物质存在。
X0表示原始物质在混合样品中的质量分数 x0 xs 1
如左=右,则样品中所有物相均为结晶相,强度数据可靠; 如左<右,则表明有非晶物质存在; 如左>右,表明强度数据或K值有误。 K值法不需作复杂的标准曲线,无繁杂计算,从而节省了分析时 间,应用较广。但与内标法一样,必须提供纯样品物质,受到一 定限制。
该公式表示了待测物相的在试样中的质量分数与衍射峰强度 之间的关系。
方法
物相定量分析的具体方法有: ▪ 外标法(单线条法) ▪ 内标法 ▪ K值法 ▪ 直接比较法(绝热法)
▪ 1、外标法(单线条法)
将所需物相的纯物质另外单独标定,然后与多相混合物中 待测相的相应衍射线强度相比较。 如两相混合物(α+β): Iα= K1 xα/ρα[xα(μα/ρα- μβ/ρβ) + μβ/ ρβ] 对纯α相
定量分析的难点
测定强度与理论强度不一致。 1. 择优取向 – 多个线对测量 2. 其它相的干扰 – 避免重叠 3. 局部吸收 – 充分粉碎 4. 消光效应 – 选择反射本领较低的衍射线
写在最后
经常不断地学习,你就什么都知道。你知道得越多,你就越有力量 Study Constantly, And You Will Know Everything. The More
X射线物相定量分析
物相定量分析目的 在多相混合物中确定各相的含量
基本原理
定量分析的基本原理是物质各相的衍射线 的强度随该相在混合物中相对含量的增加 而增加。
衍射仪法的衍射强度:
表示入射线强度,各参数都是单相物质的衍射参量。 对多相混合物,μl应为混合物的吸收系数μ 其余均与含量无关(记为K1,未知常数)。则:
(Iα)0 = K1/ μα 二者相除可消掉K1,得 Iα/ (Iα)0 = xα(μα/ρα) /[xα(μα/ρα- μβ/ρβ) + μβ/ ρβ] 测出Iα和 (Iα)0 ,已知各相的质量吸收系数,即可求得xα。 也可以确定若干个xα,在相同条件下测出同一根衍射线条的 强度Iα ,作出定标曲线,根据定标曲线中Iα/ (Iα)0 的值,可以 很容易确认α相 的含量
K I 0e4 • 3 m2c 4 32r
, 使得 I KR V
2
两相衍射线条强度比,求得 Cγ/Cα
Iγ / Iα=RγCγ/RαCα
若只有α和γ两相,则Cα+Cγ=1,
即可求出
C%= 1+
100 R •
I
R I
若有第三相碳化物C存在,加测Ic求Iγ / Ic及Rγ /Rc,求得
Cγ/Cc 因Cγ+ Cα+ Cc = 1,即可定量求出
3、K值法
原理:由内标法可得 Ii/IS=(Cixi/ρi)/(CSxS/ρS), 令 Ki = (Ci/ρi)/(CS/ρS),
则有 Ii/IS= Kixi/xS Ki的处理:纯待测物与参比物1:1混合。(以Al2O3为参比物质)
在待测样品中加入一定质量分数xS的参比物S,则任意相i和参比 物S而言有: xi = xS (Ii/IS)/Ki, 则i相在原始样品中的质量分数 Xi = xi/(1- xi)
外标法的特点
▪ 不必在试样中加入无关的相,可以定量计算 混合物中单相的含量。
▪ 需要配制不同α含量的样品做定标曲线,过程 较为复杂。
▪ 2、内标法
▪ 在被测粉末样品中加入一种恒定的标准物质制成复合试样。 通过测复合试样中待测相的某一衍射线强度与内标物质某一 衍射线强度之比,测定待测相含量。
标样:常用Al2O3, SiO2, NiO 若被测试样含A、B、C等n个相,欲测A相,可掺内标物质 S,此时A相的体积分数分别为CA 和CA’ ,而Cs为标准 物质在复合试样中的体积分数,则在复合试样中:
4、直接比较法(绝热法)
▪ 定量相分析时不与系统以外发生关系。用试样中的 某一个相作标准物质直接进行比较。
▪ 特点: (1)不需掺入内标物质,减少实测工作量。 (2)既适用于粉末试样,也适用于块体试样。特 别适用于金属材料。 (3)不能测定含未知相的多相混合试样。
例题求淬火钢中残余奥氏体的含量
根据衍射强度公式设定K 和R
You Know, The More Powerful You Will Be
C
%= 100 1+ R
Cc • I
R I
Hale Waihona Puke ▪ 优点: 省去了加入内标物质的操作过程 (研磨,混合 等),避免了增加额外的线条,减少了谱线重叠的机 会. 再有,由于没有内标物质的稀释作用,微量相的 线强度不受影响,防止了检测灵敏度的下降。
▪ 不足: (1) K值法可以只测量一个目的相,也可以测量全部 目的相,而绝热法则必须同时测出所有相。 (2) K值法可以测定含有未知相的多相混合物试样(未 知相不是目的相),绝热法却不能。 (3) K值法能判断是否存在非结晶物质(如果左<右即 表示存在非结晶物质),绝热法则不能。
= K4xA ’ = KSxA 因 xA’ = xA(1- xS)
此时A相含量 xA与IA / IS 线性相关。
KS的处理:
做出A相与标准物质复合试样的定标曲线,即,事先测量出一 套由已知A相浓度的原始试样和恒定浓度的表征物质(即xS不 变)组成的复合试样,做出定标曲线,测定其IA / IS ,则KS就可 以确定。
Iα= K1 Cα/μ
对α和β两相,各自密度分别为ρα和ρβ,线吸收系数为μα 和μβ,,质量百分比分别为xα和xβ。
混合物的线吸收系数: μ =ρ( xαμα/ρα + xβμβ/ρβ) Cα = Vα/ V = ρxα/ρα
因此, α相的衍射强度公式: Iα= K1 Cα/μ = K1 xα/ρα( xαμα/ρα + xβμβ/ρβ ) = K1 xα/ρα[xα(μα/ρα- μβ/ρβ) + μβ/ ρβ ] = K1 xα/(A xα+B)
K值法不需作复杂的标准曲线,无繁杂计算,从而节省了分析时 间,应用较广。但与内标法一样,必须提供纯样品物质,受到一 定限制。
K值法法可以判断样品中是否有非晶物质存在。
X0表示原始物质在混合样品中的质量分数 x0 xs 1
如左=右,则样品中所有物相均为结晶相,强度数据可靠; 如左<右,则表明有非晶物质存在; 如左>右,表明强度数据或K值有误。 K值法不需作复杂的标准曲线,无繁杂计算,从而节省了分析时 间,应用较广。但与内标法一样,必须提供纯样品物质,受到一 定限制。
该公式表示了待测物相的在试样中的质量分数与衍射峰强度 之间的关系。
方法
物相定量分析的具体方法有: ▪ 外标法(单线条法) ▪ 内标法 ▪ K值法 ▪ 直接比较法(绝热法)
▪ 1、外标法(单线条法)
将所需物相的纯物质另外单独标定,然后与多相混合物中 待测相的相应衍射线强度相比较。 如两相混合物(α+β): Iα= K1 xα/ρα[xα(μα/ρα- μβ/ρβ) + μβ/ ρβ] 对纯α相
定量分析的难点
测定强度与理论强度不一致。 1. 择优取向 – 多个线对测量 2. 其它相的干扰 – 避免重叠 3. 局部吸收 – 充分粉碎 4. 消光效应 – 选择反射本领较低的衍射线
写在最后
经常不断地学习,你就什么都知道。你知道得越多,你就越有力量 Study Constantly, And You Will Know Everything. The More
X射线物相定量分析
物相定量分析目的 在多相混合物中确定各相的含量
基本原理
定量分析的基本原理是物质各相的衍射线 的强度随该相在混合物中相对含量的增加 而增加。
衍射仪法的衍射强度:
表示入射线强度,各参数都是单相物质的衍射参量。 对多相混合物,μl应为混合物的吸收系数μ 其余均与含量无关(记为K1,未知常数)。则:
(Iα)0 = K1/ μα 二者相除可消掉K1,得 Iα/ (Iα)0 = xα(μα/ρα) /[xα(μα/ρα- μβ/ρβ) + μβ/ ρβ] 测出Iα和 (Iα)0 ,已知各相的质量吸收系数,即可求得xα。 也可以确定若干个xα,在相同条件下测出同一根衍射线条的 强度Iα ,作出定标曲线,根据定标曲线中Iα/ (Iα)0 的值,可以 很容易确认α相 的含量
K I 0e4 • 3 m2c 4 32r
, 使得 I KR V
2
两相衍射线条强度比,求得 Cγ/Cα
Iγ / Iα=RγCγ/RαCα
若只有α和γ两相,则Cα+Cγ=1,
即可求出
C%= 1+
100 R •
I
R I
若有第三相碳化物C存在,加测Ic求Iγ / Ic及Rγ /Rc,求得
Cγ/Cc 因Cγ+ Cα+ Cc = 1,即可定量求出
3、K值法
原理:由内标法可得 Ii/IS=(Cixi/ρi)/(CSxS/ρS), 令 Ki = (Ci/ρi)/(CS/ρS),
则有 Ii/IS= Kixi/xS Ki的处理:纯待测物与参比物1:1混合。(以Al2O3为参比物质)
在待测样品中加入一定质量分数xS的参比物S,则任意相i和参比 物S而言有: xi = xS (Ii/IS)/Ki, 则i相在原始样品中的质量分数 Xi = xi/(1- xi)
外标法的特点
▪ 不必在试样中加入无关的相,可以定量计算 混合物中单相的含量。
▪ 需要配制不同α含量的样品做定标曲线,过程 较为复杂。
▪ 2、内标法
▪ 在被测粉末样品中加入一种恒定的标准物质制成复合试样。 通过测复合试样中待测相的某一衍射线强度与内标物质某一 衍射线强度之比,测定待测相含量。
标样:常用Al2O3, SiO2, NiO 若被测试样含A、B、C等n个相,欲测A相,可掺内标物质 S,此时A相的体积分数分别为CA 和CA’ ,而Cs为标准 物质在复合试样中的体积分数,则在复合试样中:
4、直接比较法(绝热法)
▪ 定量相分析时不与系统以外发生关系。用试样中的 某一个相作标准物质直接进行比较。
▪ 特点: (1)不需掺入内标物质,减少实测工作量。 (2)既适用于粉末试样,也适用于块体试样。特 别适用于金属材料。 (3)不能测定含未知相的多相混合试样。
例题求淬火钢中残余奥氏体的含量
根据衍射强度公式设定K 和R
You Know, The More Powerful You Will Be
C
%= 100 1+ R
Cc • I
R I
Hale Waihona Puke ▪ 优点: 省去了加入内标物质的操作过程 (研磨,混合 等),避免了增加额外的线条,减少了谱线重叠的机 会. 再有,由于没有内标物质的稀释作用,微量相的 线强度不受影响,防止了检测灵敏度的下降。
▪ 不足: (1) K值法可以只测量一个目的相,也可以测量全部 目的相,而绝热法则必须同时测出所有相。 (2) K值法可以测定含有未知相的多相混合物试样(未 知相不是目的相),绝热法却不能。 (3) K值法能判断是否存在非结晶物质(如果左<右即 表示存在非结晶物质),绝热法则不能。