03-电子显微分析-基础知识与TEM(1-电子显微镜光学基础)

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电子显微镜-TEM

电子显微镜-TEM
电子显微镜—TEM
目录
一、电子显微镜简介
二、基础知识 三、透射电镜原理和结构 四、透射电镜的成像原理
一、电子显微镜简介
电子显微镜是利用电子束对样品放大成像的一种显微镜,包括扫
描电镜(Scanning Electron Microscopy, SEM)和透射电镜 (Transmission Electron Microscopy,TEM)两大类型,其分辨率 最高达到0.01nm,放大倍率 高达1500 000倍,借助这种 显微镜我们能直接观察到物 质的超微结构。
二、基础知识
基础知识
三、透射电镜原理和结构
3.1 透射电镜的基本原理
透射电子显微镜(Transmission electron microscope,缩写TEM),简 称透射电镜,是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上,电子与样品
中的原子碰撞而改变方向,从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、 厚度相关,因此可以形成明暗不同的影像,影像将在放大、聚焦后在成像器件 (如荧光屏、胶片、以及感光耦合组件)上显示出来。 具有一定能量的电子束与样 品发生作用,产生反映样品 微区厚度、平均原子序数、 晶体结构或位向差别的多种 信息。
将上式展成级数,并略去二级及其以后的各项,得:
02 2t 2 01 1t1 G NA M M 2 1
将 t 称为质量厚度。
透射电镜的成像原理
4.2.3.质厚衬度表达式
对于大多数复型来说,因其是用同一种材料做的,上式可写为
N A 0 t2 t1 G M
1、把畸变晶体看成是局部倒易点阵矢量、或局部晶面 间距发生变化:g g g
2、把畸变晶体看成是完整晶体的晶胞位置矢量发生变

TEM(透射电子显微镜)

TEM(透射电子显微镜)

细胞结构解析
细胞膜结构
透射电镜图像可以清晰地展示细胞膜的精细结构,如细胞膜的厚度、 细胞器的分布等。
细胞器结构
透射电镜能够观察到细胞内的各种细胞器,如线粒体、内质网、高 尔基体等,有助于了解细胞器的形态和功能。
细胞骨架结构
透射电镜能够观察到细胞骨架的超微结构,如微管、微丝和中间纤维 等,有助于了解细胞骨架在细胞运动、分裂和分化中的作用。
TEM应用领域
01
02
03
04
生物学
研究细胞、组织和器官的超微 结构,如细胞器、细胞膜、染
色体等。
医学
用于诊断疾病,如癌症、传染 病等,以及药物研发和疫苗制
备过程中的结构分析。
地质学
观察岩石、矿物和矿物的微观 结构,研究地球科学中的各种
地质现象。
材料科学
研究金属、陶瓷、高分子等材 料的微观结构和性能,以及材
控制切片的厚度,通常在50~70纳米之间,以确 保电子束能够穿透并观察到样品的内部结构。
切片收集与处理
将切好的超薄切片收集到支持膜上,并进行染色、 染色脱水和空气干燥等处理。
染色
染色剂选择
选择适当的染色剂,如铅、铀或 铜盐,以增强样品的电子密度并
突出其结构特征。
染色时间与温度
控制染色时间和温度,以确保染色 剂与样品充分反应并达到最佳染色 效果。
清洁样品室
定期清洁样品室,保持清洁度 。
检查电子束系统
定期检查电子束系统,确保聚 焦和稳定性。
更新软件和驱动程序
及时更新TEM相关软件和驱动 程序,确保兼容性和稳定性。
定期校准
按照厂家建议,定期对TEM进 行校准,确保观察结果的准确
性。
06 TEM未来发展

电子显微分析基础知识系列培训讲座

电子显微分析基础知识系列培训讲座
电子显微分析基础知识系列培训讲座
电子显微镜作为观察微观世界的“眼睛”,在现代科学技术的发展中发挥着极为重要的 作用。在运用电子显微分析方法研究材料微观结构的过程中,对研究者的理论知识和实验 技能均有较高要求。在我们的实际工作中,发现来电镜室进行样品测试的绝大多数的研究 生和其他用户并没有系统的学习过电子显微分析方法,这在一定程度上影响了研发工作的 顺利开展。基于此,中科院苏州纳米所人力资源处、研究生部和测试平台决定于 11 月中旬 开始举办针对电子显微分析基础知识的系列讲座,主讲人为在电子显微分析和晶体材料研 究领域有着多年研究经验的四位博士:曾雄辉、牛牧童、苏旭军、黄俊。

除、成像
实验 2Βιβλιοθήκη 样品倾转与电子衍射 苏旭军博士
谱的获得
拟在第 6 讲后进 行
实验 3
薄晶与非晶的高分辨 苏旭军博士
电子显微像
拟在第 7 讲后进 行
实验 4 实验 5
扫描透射模式成像、 Z-衬度、STEM/EDS 扫描 晶体缺陷的电子衍衬 成像
牛牧童 博士 苏旭军博士
拟在第 8 讲后进 行
拟在第 9 讲后进 行
晶体学基 础
讲座内容
第 1 讲:晶体学基础 I:点阵、对称元素、点群、空间群的 基本概念
第 2 讲:晶体学基础 II:晶体中的缺陷种类:点缺陷、位 错、层错、晶界等的基本概念和主要表征手段。
电子光 学、电镜 基本结构
第 3 讲:电子光学基础 第 4 讲:透射电镜的基本结构和样品制备方法
电子衍射 基础
系列讲座均为免费参加,欢迎广大同学和研发人员积极报名参加。报名方式:填写 “姓名+课题组/公司+Email+联系电话”发送至以下邮箱:xmdong2012@

电子显微镜原理教学课件

电子显微镜原理教学课件
吸收
样品吸收电子,导致不同区域 呈现不同亮度。
透射
部分电子穿过样品,形成透射 图像。
扫描电镜成像
逐点扫描样品表面,形成高分 辨率图像。
电子显微镜的分辨率
01
02
03
理论分辨率
受电子波长和物镜的NA 值影响。
实际分辨率
受到多种因素影响,如样 品厚度、结晶度和电子束 能量等。
提高分辨率的方法
采用更高能量的电子束、 提高物镜的NA值和使用 更短的波长。
电子显微镜原理教学课 件
目 录
• 电子显微镜简介 • 电子显微镜工作原理 • 电子显微镜样品制备技术 • 电子显微镜图像分析 • 电子显微镜操作与维护 • 电子显微镜未来发展趋势
01
电子显微镜简介
电子显微镜的发展历程
1926年
德国物理学家Max Knoll和Ernst Ruska发 明了第一台电子显微镜
放置样品
将需要观察的样品放置在载物 台上,并调整样品的位置和角 度。
观察
观察并记录样品的形态、结构 等特征。
电子显微镜的常见故障及排除方法
图像模糊
可能是由于焦距调节不当或样品表面 不平整导致,需要重新调整焦距或处 理样品表面。
图像扭曲或变形
可能是由于电子束倾斜或样品放置不 正确引起,需要检查电子束的路径和 样品放置情况。
无法聚焦
可能是由于样品太厚或焦距调节不当 导致,需要减小样品厚度或重新调整 焦距。
光源异常
可能是由于灯泡损坏或电源故障导致 ,需要更换灯泡或检查电源连接。
电子显微镜的日常维护与保养
清洁镜头
定期用干燥的镜头纸或镜头布擦拭镜头表面 ,保持镜头清洁。
定期校准
根据需要,定期对电子显微镜进行校准,以 确保观察结果的准确性。

TEM电子显微镜工作原理详解

TEM电子显微镜工作原理详解

TEM电子显微镜工作原理详解TEM电子显微镜是一种高分辨率的分析仪器,能够在纳米尺度下观察材料的微观结构和成分,对于研究材料的性质和特性具有重要意义。

本文将详细介绍TEM电子显微镜的工作原理,包括透射电子显微镜和扫描透射电子显微镜。

透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,TEM)工作原理:透射电子显微镜主要由电子光源、透镜和探测器组成。

首先,电子光源发射高能电子束,这些电子从阴极发射出来,经过加速器获得较高的能量。

然后,电子束通过一系列的电磁透镜进行聚焦,使电子束变得更加细致和密集。

接着,电子束通过物质样本,部分电子被样本吸收或散射,形成透射电子。

这些透射电子被接收器捕获和放大成像,形成TEM图像。

透射电子显微镜的工作原理是基于电子的波粒二象性。

电子是一种粒子同时也是一种波动,其波动性质使得它具备非常短的波长,远远小于可见光的波长。

这使得TEM能够观察到比传统光学显微镜更小的尺度。

另外,透射电子显微镜在工作中还需要考虑电子束的束流强度、对样本的破坏性和控制样本与探测器之间的距离等因素。

TEM电子显微镜通过透射电子成像方式观察样本,因此对样本的制备要求非常高。

样品需要制备成非常薄的切片,通常厚度在几十纳米到几百纳米之间,以保证电子可以穿透。

对于一些无法制备成切片的样品,可以利用离子切割或焦离子技术获得透明的样品。

此外,在观察样本时需要避免污染和氧化等现象。

扫描透射电子显微镜(Scanning Transmission Electron Microscope,STEM)工作原理:扫描透射电子显微镜是透射电子显微镜的一种变种,它在透射成像的基础上加入了扫描功能。

STEM可以实现高分辨率的成像,同时也可以进行能谱分析和电子衍射。

STEM电子显微镜工作原理类似于透射电子显微镜,但需要注意的是,STEM使用的电子束并不需要通过所有的样本区域。

电子束只需通过样本中的一个小区域,然后扫描整个样本,因此样本制备要求和透射电子显微镜相比较低。

03-电子显微分析-基础知识与TEM(3-TEM)

03-电子显微分析-基础知识与TEM(3-TEM)

二、透射电子显微像的质厚衬度及透射电镜样品
使用透射电镜观察分析材料的形貌、组织、结构,需具备以 下两个前提: 一是制备适合TEM观察的试样,厚度100-200nm,甚至更薄;
TEM试样大致有三种类型: 粉末颗粒 材料薄膜 复型膜
二是建立电子图像的衬度理论
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二、像衬度及复型像
(一)电子像衬度(像衬度)——质厚衬度
一般都采用双聚光镜系统。
②成象放大系统
主要组成:
➢ 物镜

➢ 中间镜(1-2个)


➢ 投影镜(1-2个)
大 系

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物镜
①形成显微像
将来自试样同一点的不同方向的弹性散射束会聚于其像
作用:平面上,构成与试样组织结构相对应的显微像。 ②形成衍射花样
将来自试样不同点的同方向、同相位的弹性散射束会聚 于其后焦面上,构成含有试样晶体结构信息的衍射花样
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(2)放大倍数
透射电镜的放大倍数是指电子图象对于所观察试样区的 线性放大率。
最高放大倍数表示电镜的放大极限。实际工作中,一般 都是在低于最高放大倍数下观察,以得到清晰的图像。
(3)加速电压
电镜的加速电压指电子枪的阳极相对于阴极的电压 决定电子枪发射的电子束的波长和能量 200kV电镜是一种比较理想的电镜(0.00251nm )
三、电子衍射
四、透射电子 显微像
电子衍射和X-ray衍射异同点 电子衍射基本公式 电子衍射花样 阿贝显微镜成像原理 透射电子显微镜中选区电子衍射 电子衍射花样的标定
像衬度:质厚衬度、衍射衬度、相位衬度 选择衍射成像原理 双光束条件 电子衍射分析的特点
一、透射电子显微镜
结构组成与工作原理 ➢ 光学成像系统 ➢ 真空系统 ➢ 电气系统

电子显微镜基础

电子显微镜基础

电子显微分析 电子显微分析是利用聚焦电子束与试样物质相互作用产生的各种物理信号,分析试样物质的微区形貌、晶体结构和化学组成。

包括:用透射电子显微镜TEM 进行的透射电子显微分析用扫描电子显微镜SEM 进行的扫描电子显微分析用电子探针仪EPMS 进行的X 射线显微分析电子显微分析是材料科学的重要分析方法之一,与其它的形貌、结构和化学组成分析方法相比具有以下特点:1)具有在极高放大倍率下直接观察试样的形貌、晶体结构和化学成分。

2) 为一种微区分析方法,具有很高的分辨率,成像分辨率达到0.2~0.3nm (TEM ),可直接分辨原子,能进行纳米尺度的晶体结构及化学组成分析。

一、电子光学基础磁场中运动,特别是在电场和磁场中偏转、聚焦和成像规律的一门科学。

它与几何光学有很多相似之处:(1)几何光学是利用透镜使光线聚焦成像,而电子光学则利用电、磁场使电子束聚焦成像,电、磁场起着透镜的作用。

(2)几何光学中,利用旋转对称面作为折射面,而电子光学系统中,是利用旋转对称的电、磁场产生的等位面作为折射面。

因此涉及的电子光学主要是研究电子在旋转对称电、磁场中的运动规律。

(3)电子光学可仿照几何光学把电子运动轨迹看成射线,并由此引入一系列的集合光学参数来表征电子透镜对于电子射线的聚焦成像作用。

电镜中,用静电透镜作电子枪,发射电子束;用磁透镜做会聚透镜,起成像和放大作用。

静电透镜和磁透镜统称电子透镜1. 电子在静电场中的运动电子在静电场中受到电场力的作用将产生加速度。

初速度为0的自由电子从零电位到达V 电位时,电子的运动速度v 为:(10) 2m eV v当电子的初速度不为零、运动方向与电场力方向不一致时,电场力不仅改变电子运动的能量,而且也改变电子的运动方向。

2、静电透镜与玻璃的凸透镜可以使光线聚焦成像相似,一定形状的等电位曲面簇 也可以使电子束聚焦成像。

产生这种旋转对称等三电位曲面簇的电极装置即为静电透镜。

它有二极式和三极式之分。

电子显微分析知识点总结大全

电子显微分析知识点总结大全

电子显微分析知识点总结(粗字体为重点)
第一讲电子光学基础
1、电子显微分析特点
2、Airy斑概念
3、Rayleigh准则
4、光学显微镜极限分辨率大小:半波长,200nm
5、电子波的速度、波长推导公式
6、光学显微镜和电子显微镜的不同之处:光源不同、透镜不同、环境不同
7、电磁透镜的像差产生原因,如何消除和减少像差。

8、影响光学显微镜和电磁透镜分辨率的关键因素,如何提高电磁透镜的分辨率
9、电子波的特征,与可见光的异同
第二讲TEM
1、TEM的基本构造
2、TEM中实现电子显微成像模式与电子衍射模式操作
第三讲电子衍射
1、电子衍射的基本公式推导过程
2、衍射花样的分类:斑点花样、菊池线花样、会聚束花样
3、透射电子显微镜图像衬度,各自的成像原理。

第四讲TEM制样
1、粉末样品制备步骤
2、块状样品制备减薄的方法
3、块状脆性样品制备减薄——离子减薄
4、塑料样品制备——离子减薄
5、复型的概念、分类
第五讲SEM
1、电子束入射固体样品表面会激发的信号、特点和用途
2、SEM工作原理
3、SEM的组成
4、SEM的成像衬度:二次电子表面形貌衬度、背散射电子原子序数衬度、吸收电子像的
衬度、X射线图像的衬度
第六讲EDS和WDS
1、EDS探测系统——锂漂移硅固体探测器
2、EDS与WDS的优缺点
第七讲EBSD
1、EBSD的应用
第八讲其它电子显微分析方法
1、各种设备的缩写形式。

tem的基本原理

tem的基本原理

tem的基本原理宝子!今天咱们来唠唠TEM,也就是透射电子显微镜的基本原理,这玩意儿可神奇啦。

你可以把TEM想象成一个超级厉害的微观世界探险家。

它主要的任务呢,就是让咱们能看到超级超级小的东西,小到原子、分子那种级别的哦。

那它是咋做到的呢?咱先说说电子源。

这就像是TEM的小炮弹发射站。

这里会发射出电子束,就像一群特别特别小的子弹。

这些电子束可不像咱们平常看到的光那么简单哦。

它们能量可不小呢。

电子源就像是一个微观世界的小太阳,不断地往外发射这些电子“小炮弹”。

然后呢,这个电子束得经过一系列的透镜。

这里的透镜可不是咱们平常戴的眼镜那种透镜哦。

这些是电磁透镜。

电磁透镜就像是微观世界里的魔法通道。

它可以把电子束聚焦起来,就像咱们用放大镜把太阳光聚焦成一个小亮点一样。

不过这个可比那复杂多啦。

通过这些电磁透镜的魔法,电子束就变得又细又集中,这样它就能精准地去探测咱们想要看的微观样品啦。

说到样品,这可是个关键角色。

当这个细细的电子束打到样品上的时候,就像是一群小蚂蚁在探索一个神秘的小城堡。

电子束和样品之间会发生各种各样的相互作用。

有些电子呢,会直接穿过样品,就像那些特别厉害的小蚂蚁,直接从城堡的缝隙里钻过去了。

这些穿过样品的电子就带着样品内部结构的信息呢。

但是呢,还有些电子就没那么顺利啦。

它们可能会被样品里面的原子或者分子给散射掉。

这就像是小蚂蚁在城堡里迷路了,找不到方向到处乱撞。

这些散射的电子也很重要哦,它们也能告诉我们很多关于样品结构的信息。

比如说,如果某个地方散射的电子特别多,那就说明这个地方的原子排列或者结构比较特殊。

那这些带着信息的电子最后去哪儿了呢?它们会打到一个探测器上。

这个探测器就像是一个超级灵敏的小耳朵。

它能听到电子打在上面的声音,不对不对,是能感受到电子打在上面的信号啦。

然后把这些信号转化成我们能看到的图像。

这个图像就是微观世界的一个小窗口,通过这个窗口,我们就能看到样品内部的结构啦。

你看,TEM的整个过程就像是一场微观世界的奇妙冒险。

透射电子显微镜分析基础

透射电子显微镜分析基础

透射电子显微镜分析基础透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope, TEM)是一种高分辨率显微镜,用于观察和研究材料的超微结构。

它通过透射电子束穿透材料并在接收器上形成像,使得材料的原子尺度细节能够被精确观察。

下面是关于透射电子显微镜分析的基础知识。

1.TEM的工作原理透射电子显微镜基于电子在物质中的相互作用来实现成像。

电子束从电子枪中产生并且通过一系列透镜系统聚焦形成细致的聚焦点,然后穿过待观察的样品。

透过样品的电子束会发生散射、吸收和透射,其中透射的电子会被接收器捕获并形成图像。

2.TEM的分辨率3.透射电子显微镜的成像方式TEM有两种主要的成像方式:亮场和暗场成像。

亮场成像是通过选择透射的电子束来形成图像,适用于展示样品内部的形貌和微结构。

而暗场成像是通过选择散射的电子束来形成图像,适用于观察特殊缺陷或异质性结构。

4.透射电子显微镜的样品制备为了在TEM中观察样品,样品必须具备一定的条件。

首先,样品必须是非透明的,通常是以薄片的形式。

其次,样品必须具备足够的稳定性,以避免在电子束照射过程中发生损坏。

最后,样品表面需要进行特定的处理,以避免电荷积累或散射。

5.TEM的应用透射电子显微镜在多个领域有着广泛的应用,包括材料科学、纳米科技、生命科学等。

它可以用于观察和分析晶体的结构、薄膜的成分、纳米颗粒的形状等。

此外,TEM还可以用于研究生物分子的结构和功能,例如蛋白质和DNA的高分辨率成像。

6.TEM的限制和挑战虽然透射电子显微镜提供了高分辨率的成像能力,但它仍然面临一些限制和挑战。

首先,样品制备对于薄片的制备和特殊标记的选择需要高度技术和经验的支持。

其次,电子束照射会导致样品的辐照损伤,因此图像的解释需要谨慎处理。

此外,TEM的设备本身非常昂贵,维护和操作也需要专业的技能。

总之,透射电子显微镜是一种重要的材料科学工具,它可以提供材料的超高分辨率成像,从而更好地理解材料的微观结构和性质。

电子显微分析第三章 电子衍射(TEM)

电子显微分析第三章 电子衍射(TEM)

电子衍射简介1
• 金属和其它晶体物质是由原子,离子或原子集团在三维空间内周 期性地有规则排列的质点对具有适当波长的辐射波(如X射线、电 子或中子)的弹性相干散射,将产生衍射现象,在某些确定的方向 上;散射波因位相相同而彼此加强,而在其它方向上散射波的强度 很弱或等于零。电子显微镜的照明系统提供了一束波长恒定的单色 平面波,因而自然地具备着用它对晶体样品进行电子衍射分析的条 件。 电子衍射与x射线衍射的基本原理是完全一样的,两种技术所得 到的晶体衍射花样在几何特征上也大致相似。 多晶体的电子衍射花样是一系列不同半径的同心圆环。 单晶花样由排列得十分整齐的许多斑点所组成,分别如图a)和b) 所示。 单晶体的电子衍射花样比X射线劳厄法所得的花样,更能直观地反 映晶体的点阵结构和位向; 特别是当采用倒易点阵和爱瓦尔德球作图法时,这种联系将是十分 明显的,并常常可以使单晶电子衍射花样的分析方法变得相当简 单.
• 傅立叶变换: • F(x)=a0+a1x1+a2x2+a3x3+a4x4+a5x5+.… +
第一节 倒易阵点基本知识
• 所谓倒易点阵,指的是在 量纲[L]-1的倒易空间内的 另外一个点阵,它与正空 间内某一特定的点阵相对 应。如果正点阵晶胞的基 矢为a,b,c;则相应的倒易 点阵基矢为:
a b
选区衍射操作步骤
为了尽可能减小选区误差,应遵循如下操作 步骤: • 1. 插入选区光栏,套住欲分析的物相,调整 中间镜电流使选区光栏边缘清晰,此时选区 光栏平面与中间镜物平面生重合; • 2. 调整物镜电流,使选区内物象清晰,此时 样品的一次象正好落在选区光栏平面上,即 物镜象平面,中间镜物面,光栏面三面重合;
面心立方正倒点阵关系

电子行业电子显微镜培训资料

电子行业电子显微镜培训资料

电子行业电子显微镜培训资料1. 介绍电子显微镜是电子行业常用的一种高分辨率显微镜,它利用电子束而不是光束来形成样品的放大图像。

本文将介绍电子显微镜的原理、应用以及操作技巧等方面的知识,帮助读者快速上手使用电子显微镜。

2. 原理电子显微镜的工作原理是利用电子束的物质波性质和电子-样品之间的相互作用来形成图像。

电子束由电子枪产生,经过透镜系统聚焦后,照射到样品上。

样品与电子束相互作用后,电子束经过检测和放大后被转换为图像。

3. 应用3.1 纳米材料研究电子显微镜在纳米材料研究方面具有很强的应用价值。

通过电子显微镜,可以观察到纳米级别的材料微观结构,了解其形貌、晶格、成分等信息。

这对于纳米材料的研究和开发具有重要意义。

3.2 薄膜检测电子显微镜可以用于薄膜的表面形貌和厚度的检测。

通过观察薄膜的显微结构,可以判断薄膜的质量和均匀性。

此外,还可以使用EDS能谱仪对薄膜的成分进行分析,为薄膜制备提供参考依据。

3.3 生物样品研究电子显微镜在生物样品研究方面也起到了关键作用。

通过电子显微镜,可以观察到细胞、细胞器和分子级别的生物样品结构,揭示其形态、组织和功能等方面的信息。

这对于生物学研究和医学诊断具有重要意义。

4. 操作技巧4.1 样品制备在使用电子显微镜之前,需要对样品进行制备。

一般来说,样品应尽量薄且均匀,以便电子束能够透射样品,并产生清晰的图像。

常用的样品制备方法包括切片、离子薄化和凝胶浸渍等。

4.2 仪器调试在开始观察之前,需要对电子显微镜进行调试。

主要包括电子束的对准、聚焦和亮度调节等方面。

通过调试,可以得到清晰且饱满的图像。

4.3 图像获取在操作电子显微镜时,需要选取合适的放大倍数和曝光时间,以获得清晰的图像。

此外,操作人员还需要注意操作规范,避免样品受到过度曝光或破坏。

5. 安全注意事项在使用电子显微镜时,需要注意以下安全事项:•注意保持仪器的清洁和干燥,避免污染样品和仪器本身。

•操作人员应穿戴防护服和手套,以防止样品污染和对人体的伤害。

03-电子显微分析-基础知识与TEM(2-电子与固体物质的相互作用)

03-电子显微分析-基础知识与TEM(2-电子与固体物质的相互作用)
§2 电子与固体物质的相互作用
原子核对入射电子的散射 一、入射电子的散射 核外电子对入射电子的散射
二、入射电子与固体材料 相互作用产生的信号
背散射电子 二次电子 透射电子 吸收电子 特征X射线 俄歇电子……
三、相互作用体积与信号产生的深度和广度
1
一、入射电子的散射
1、散射定义及分类
散射:当一束聚焦电子束 沿一定方向照射到固体 上时,在固体原子的库 仑电场作用下,入射电子方向发生改变,这种现象称为电 子的散射。
第1§ 、2§ 小 结
光学显微镜的局限性→电子显微镜 电子枪 加速电压与电子束波长关系 电子透镜:静电透镜 磁透镜 像差:几何像差 色差 场深 焦深 电子束与固体物质的相互作用 电子与物质相互作用体积和深度、广度
ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ19
1
R(Z -)2
Z—原子序数 R、σ—常数
来源深度:特征X射线来自样品较深的区域 应用:用特征值进行成分分析
14
6、俄歇电子
俄歇电子产生过程
每种原子都有自己的特定壳 层能量,所以它们的俄歇电 子能量也各有特征值。
能量特点:俄歇电子能量值很低,几十ev ~几百ev ; 来源深度:来自样品表面1—2nm范围; 用途:适合做表面分析。
散射分类:有弹性散射和非弹性散射之分。 原子中的原子核和核外电子对入射电子均有散射作用。
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2、原子核对入射电子的散射 原子核对入射电子的散射包括弹性散射和非弹性散射 (1)弹性散射 电子:只改变运动方向,不损失能量。
弹性散射电子是透射电镜成像 和电子衍射的基础
3
(2)非弹性散射
入射电子运动到原子核附近损失能量
3、透射电子eT 当试样厚度小于入射电子的穿透深度时,电子从

电子行业电子显微分析

电子行业电子显微分析

电子行业电子显微分析1. 引言电子显微技术是一种通过利用电子束替代光束对样品进行放大和观察的高分辨率显微技术。

在电子行业,电子显微分析技术被广泛应用于材料检测、元器件分析和故障诊断等领域。

本文将对电子行业中的电子显微分析技术进行详细介绍。

2. 电子显微镜电子显微分析的核心工具是电子显微镜(Electron Microscope,简称EM)。

电子显微镜利用电子束替代光束,利用电子的波粒二象性以及电子与样品之间的相互作用来观察和分析样品的微观结构和成分。

主要包括传统的透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,简称TEM)和扫描电子显微镜(Scanning Electron Microscope,简称SEM)两种类型。

2.1 透射电子显微镜(TEM)透射电子显微镜能够提供非常高的分辨率,可以观察到纳米尺度的细节。

透射电子显微镜将电子束通过样品的薄片,然后通过透射的方式形成图像。

通过TEM可以观察到材料的微观晶格结构、晶体缺陷、原子排列等信息,对于研究材料的结构和性质非常有价值。

2.2 扫描电子显微镜(SEM)扫描电子显微镜则通过扫描电子束在样品表面形成图像。

SEM能够提供非常高的表面分辨率和三维观察能力,对于表面形貌的分析非常有用。

扫描电子显微镜可以用于观察材料的形貌、粒度分布、表面元素等信息。

3. 应用领域3.1 材料检测在电子行业中,材料的质量和性能对产品的稳定性和可靠性起着至关重要的作用。

电子显微分析技术可以对材料的微观结构和成分进行精确观察和分析。

通过TEM和SEM,可以观察和分析材料的晶体结构、晶界、位错等缺陷,从而评估材料的质量和性能。

3.2 元器件分析在电子行业中,各种元器件被广泛应用于电子产品中。

电子显微分析技术可以对元器件的结构和成分进行分析和观察。

通过观察材料的微观结构,可以判断元器件是否存在缺陷、磨损以及其他性能问题。

通过元器件的成分分析,可以确保元器件的质量和性能符合要求。

第三章+电子显微分析-TEM+1

第三章+电子显微分析-TEM+1
形成一个有一定尺寸的中央亮斑及其周围明暗相间的圆环所 组成的衍射花样-埃利(Airy)斑。
埃利斑
圆孔的衍射花样
1、光学显微镜的分辨率极限
3.3 埃利斑大小:
• 因光强度84%集中在中央亮斑,常以埃利斑的第一 暗环的半径来衡量。由衍射理论推导得,埃利斑半 径 R0 :
0.61
R0
M
nsin
数值孔径 孔径半角 放大倍数
0.3878 0.1226 0.0548 0.0388 0.0123
相对论修正后 的电子波长(Å)
0.3876 0.1220 0.0536 0.0370 0.0087
3 电磁透镜的工作原理
•电子显微镜可以利用电场或磁场使电子束聚焦成像, 其中用静电场成像的透镜称为静电透镜,用电磁场 成像的称为电磁透镜。
象2
图 色差
Pay Attention!
在电磁透镜中,除了衍射效应外,球差 对分辨率的影响最为重要,因为没有一种简 便的方法使其矫正过来。而其他像差在设计 和制造时,采取适当的措施是可以消除的。
电磁透镜分辨率(分辨距离、分辨本领)
显微镜的分辨本领基本上决定于球差和衍射。 电子透镜中,可通过减小孔径角的方法来减小球差,提高 分辨本领,但不能过小。
一、电子显微基础
二、 透射电镜的结构及应用
三、电子衍射 四、透射电子显微分析样品制备 五、电子显微衬度像
投射电镜(TEM)的发展简史
• 1924年de B场对电子束
起着透镜的作用,有可能使电子束聚焦成像”。 • 1927 Davisson & Germer, Thompson and Reid 进
• 由此可得,透镜的分辩本领:
0.61
r0
ns in

光学显微镜、SEM、TEM的比较

光学显微镜、SEM、TEM的比较

光学显微镜、TEM、SEM成像原理比较(一)、透射电子显微镜1、基本原理在光学显微镜下无法看清小于0.2µm的细微结构,这些结构称为亚显微结构(submicroscopic structures)或超微结构(ultramicroscopic structures;ultrastructures)。

要想看清这些结构,就必须选择波长更短的光源,以提高显微镜的分辨率。

1932年Ruska发明了以电子束为光源的透射电子显微镜(transmission electron microscope,TEM),电子束的波长要比可见光和紫外光短得多,并且电子束的波长与发射电子束的电压平方根成反比,也就是说电压越高波长越短。

目前TEM的分辨力可达0.2nm。

电子显微镜(图2-12)与光学显微镜的成像原理基本一样,所不同的是前者用电子束作光源,用电磁场作透镜。

另外,由于电子束的穿透力很弱,因此用于电镜的标本须制成厚度约50nm左右的超薄切片。

这种切片需要用超薄切片机(ultramicrotome)制作。

电子显微镜的放大倍数最高可达近百万倍、由电子照明系统、电磁透镜成像系统、真空系统、记录系统、电源系统等5部分构成。

表2-2不同光源的波长名称可见光紫外光X射线α射线电子束0.1Kv10Kv波长(nm)390~76013~3900.05~130.005~10.1230.0122扫描电子显微镜(scanning electron microscope,SEM)于20世纪60年代问世,用来观察标本的表面结构。

其工作原理是用一束极细的电子束扫描样品,在样品表面激发出次级电子,次级电子的多少与电子束入射角有关,也就是说与样品的表面结构有关,次级电子由探测体收集,并在那里被闪烁器转变为光信号,再经光电倍增管和放大器转变为电信号来控制荧光屏上电子束的强度,显示出与电子束同步的扫描图像。

图像为立体形象,反映了标本的表面结构。

为了使标本表面发射出次级电子,标本在固定、脱水后,要喷涂上一层重金属微粒,重金属在电子束的轰击下发出次级电子信号。

TEM课件

TEM课件

主要内容电子显微分析技术(一)叶建东 华南理工大学材料学院一. 二. 三. 四. 五.电子光学基础 透射电子显微镜分析 扫描电子显微分镜分析 X射线显微分析 显微结构的定量分析©版权所有电子显微学的发展史1931~1933年:德国M. Knoll和E. Ruska发明了第一台电子显微镜。

(结构简单,只有两级放大透镜和16×) 1937年:德国Manfred von Ardenne论证并建立了雏形扫描电镜。

1938年:德国E. Ruska发明了世界上第一台真正的透射电镜,放大 倍数 1200倍 (与光学显微镜相当) 倍数: 1939 年:德国 Siemens公司(Ruska)生产了第一台商品透射电镜, 其分辨率为10 nm 左右 。

1952年:英国Charles Oatley制造出了第一台扫描电子显微镜。

最新透射电镜分辨率达到0.07 nm,放大倍数达到150万倍; 扫描电镜的分辨率可达0.5 nm,放大倍数达几十万倍。

德国科学家Ernst Ruska因发明电子显微镜 而获1986年诺贝尔物理学奖世界上第一台透射电 子显微镜模型机世界上第一台透射电 子显微镜1一、电子与物质的相互作用电子光学基础luminescence1. 背散射电子(back-scattered electrons)入射电子与试样作用,产生弹性或非弹性散射后 离开试样表面的入射电子(累计散射角大于90⁰)称为 背散射电子。

弹性散射是电子被试样中的原子核(质 量大)反弹回来(直线运动),能量没有损失。

非弹 性散射是电子与核外电子(质量相同)碰撞,运动方 向改变(可有多次碰撞),能量损失,速度下降(被 碰撞电子获得能量和加速度)。

弹性背散射电子的数 量远远多于非弹性背散射电子。

背散射电子的能量较高,特别是弹性背散射 电子。

背散射电子来自试样表层1~ 1000 nm 的 深度范围,其强度与试样表面形貌及元素的原子 序数有关,不但可利用来做形貌观察,还可进行 成分分布分析。

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综上所述: ① 提高加速电压,缩短电子波长(当加速电压为100kV时,电子波长与
可见光相比,相差105量级),提高电镜分辨率; ② 加速电压越高,对试样的穿透能力越大,可放宽对样品的减薄要求; ③ 如用更厚样品,更接近样品实际情况。
27
目前电子显微镜常用的加速电压在100KV-1000KV之间,对应 的电子波波长范围是0.00371nm-0.00087nm,这样的波长比最短 可见光波长短了约5-6个数量级。
螺旋半径 R msin
qB
39
磁透镜对电子束的聚焦原理
通电的短线圈就是一个简单的磁透镜,它能产生一种 轴对称不均匀分布的磁场。
40
电子作圆锥螺旋 近轴运动
电子束通过磁透 镜的聚焦示意图
光学玻璃凸透镜 对平行于轴线入 射的平行光的聚 焦原理示意图
41
几点说明
电子在电磁透镜中的运动 轨迹是螺旋线,但为了简 单起见,在所有的电子光 路图中都将电子运动的轨 迹用折线表示。
思考问题:电子波波长很短,按照由衍射理论导出的透镜分 辨本领公式计算的极限分辨率,电子显微镜的分辨率应该比可 见光高至少5个数量级,但目前电子显微镜的最高分辨率约为 0.1nm,仅比可见光波长短了3个数量级,为什么???
28
三、电子在电磁场中的运动和电子透镜
可见光用玻璃透镜聚焦。 旋转对称的静电场或磁场也可对电子束起到聚焦
的作用。 电子透镜:电子束的聚焦装置 电子透镜分为:静电透镜和磁透镜
29
1. 电子在静电场中的运动
电子在静电场中受到电场力的作用将产生加速度。
初速度为0的自由电子从零电位到达V电位时,电
子的运动速度v为:
v 2eV m
E 1 m 2 eV
2
(10)
即加速电压的大小决定了电子运动的速度。
承上
1
承上
2
材料性能分析方法
分析方法所涉及的基础知识 分析方法基本原理 仪器主要结构及工作原理 实验技术及结果分析和应用
根据第一章的学习体会总结该门课程知识点的学习规律
3
启下
4
电子显微分析
电子显微分析是利用聚焦电子束与试样物质相互 作用后产生的各种物理信号,分析试样物质的微 区形貌、晶体结构和化学组成
增大数值 孔径困难
且有限
增大数值孔径困难且有限, 当nsina做到最大时, r≈λ/2
若用波长最短的可见光作照明源,则r≈200nm
200nm是光学 显微镜分辨本 领的极限
肉眼的分 辨本领约 为0.2mm
光学显微镜来可以观察到比肉眼所能看到的更小粒子的组织结构
染色后的洋葱表皮细胞
血液涂片(嗜碱性粒细 胞——在血液中的含量最
材料在原子、分子尺度的微观信息
22
如何提高分辨率???
寻找比可见光波长更短且能聚焦的光波
1)紫外线 —会被物体强烈的吸收; 2) X射线、γ射线 —很难使其会聚 ;
3)电子波 — 在电磁场中可改变运动方向
具有更高分辨率的电子显微镜: 照明源—电子束
23
电子显微镜来可以观察到比光学显微镜所能观察到的更细微的组织结构
包括: TEM 透射电子显微分析(包括电子衍射) SEM 扫描电子显微分析 EPMA 电子探针X射线显微分析
5
电子显微分析是材料科学的重要分析方法之一,它 与其它的形貌、结构、成分分析方法相比具有如下 特点:
在极高放大倍率下直接观察试样的形貌、结构、选 择分析区域;
是一种微区分析方法,具有高的分辨率,一般成像 分辨率达到0.2-0.3nm;
类似于光学透镜,将通过电磁透镜中心的对称轴称为电 磁透镜的光轴。
通过电磁透镜中心并垂直于对称轴的平面定义为主平面。 在电子光路图中,将电磁透镜都画为薄凸透镜或用透镜
主平面来表示
42
磁透镜与光学透镜的比较
磁透镜:产生旋转对称非均匀磁场的线圈装置
磁透镜产生的旋转对称的磁场对电子束有聚焦作用, 能使电子束聚焦成像
2、静电透镜
与玻璃的凸透镜可以使光线聚焦成像相似,旋转对称等电位 曲面簇也可以使电子束聚焦成像。
产生这种旋转对称等电位曲面簇的电极装置称为静电透镜。
34
3. 磁透镜 带电粒子在磁场中的运动
电荷在磁场中运动时会受到洛仑兹力的作用,其表达
式为:
F
q
B
洛伦兹力方向:垂直于电荷运动速度和磁感应强度 所决定的平面
几何像差:由于透镜磁场几何形状上的缺陷而 造成的像差。(球差、轴上像散、畸变)
色差:由于电子波的波长或能量发生一定幅度 的改变而造成的像差。
48
1、球差
球差:由于电磁透镜磁场的近轴区和远轴区对电子束 的会聚能力不同而造成的。一般远轴区对电子束的汇 聚能力大于近轴区(正球差)。
P

球差是限制电子透镜分辨本领最主要的因素
磁透镜的光学性质
11 1 f L1 L2
f-焦距;
L1-物距; L2-像距 ; M-放大倍数
M L2 f L2 f
L1 L1 f
f
相 似
43
相似 与光学透镜相似,电磁透镜也有3种重要的平面
➢ 物平面:包含有物点并与光轴垂直的平面 ➢ 像平面:………像点……………………… ➢ 焦面: ………焦点………………………
46
四、电磁透镜的像差和理论分辨本领
要得到清晰而又与实物的几何形状相似的图像,必 须有以下3个前提条件:
a、磁场分布是严格轴对称的; b、满足旁轴条件:sinθ≈θ,cosθ≈1 c、电子波的波长相同。 实际的电磁透镜不能完全满足以上3个条件。
47
电磁透镜在成像时会产生像差。
像差:所得像有不同程度的模糊不清,或者与原物的 几何形状不完全相似的现象。 像差分类:几何像差和色差两类。
具有更高分辨率的电子显微镜 照明源—电子束
人类血细胞 SEM照片
比可见光波长更短的有: 1)紫外线 —会被物体强烈 的吸收; 2)X 射线 —无法使其会聚; 3)电子波
夜蛾复眼的扫描电子显微照片
各种常见植物的花粉
24
二、电子的波性及波长
电子显微镜的照明光源是电子束。与可见光相似, 运动的电子也具有波、粒二象性。
30
当电子的初速度不为0、运动方向与电场力方向不一致时,电 场力不仅改变电子运动的能量,也改变电子的运动方向。
➢ 一般可以把电场看成 由一系列等电位面分
N
割的等电位区构成。
AB为等电位面
N为等电位面的法线
➢ 电子在通过V1、V2电 位区分界面AB时,电 子的运动方向发生改 变,电子运动速度从
v1变为v2。
旋转半径随: 带电粒子速度增加而增 加 磁感应强度增加而减小, 因而可望实现“聚焦”
36
③ v与B成θ角,带电粒子在磁场内作螺旋运动;
v与B成θ角时
带电粒子在B方向 上不受力,做匀 速匀速运动;
带电粒子在垂直
于B方向上由于洛
伦磁力作用而做
圆周运动。
带电粒子电子在磁 场内作螺旋运动
螺旋半径 R msin
图(e)两个Airy斑 分辨不出。
18
分辨率:显微镜能分辨的样品上两点间的最小距离。 以物镜的分辨本领来定义显微镜的分辨本领。
根据衍射理论导出 光学透镜分辨本领:
r 0.61 0.61 nsin N A
α:物镜收纳的光线锥的半角,
即边缘光线和光轴的夹角。
r 0.61 0.61 nsin N A
E hv
二象性公式: P h /
(德布罗意公式)
P=mv
De Broglie 波: h / mvv
加速电子的动能与
v2
电场加速电压的关系为:
与V的关系式
25
➢ 加速电压较低时
h 12.25 (埃)
2m0eV
V
➢ 加速电压较高时
12.25
(埃)
V(1 0.9785 10 6 V)
同时进行形貌、物相、晶体结构和化学组成的综合 分析
SEM
S 4800FE
7
形貌(SEM)
8
形貌(TEM)
9
晶体结构分析
HRTEM
SAED
10
晶体缺陷(TEM)
C C
P S
C
B A
11
综合分析(SEM+EDS)
12
综合分析(TEM+SAED+EDS)
13
电子显微分析
电子显微镜光学基础
洛伦兹力大小: qvBsin(vB)
35
带电粒子在匀强磁场中的运动
① v // B:F=0;带电粒子按照原来的方向匀速运动。 ② v ┴ B: F=q v B(最大值),带电粒子在与磁场垂直
的平面内作匀速圆周运动;此时洛伦磁力起着向心力
(F=mv2/R)的作用。
v┴B
半径R m p
qB qB
qB
37
磁聚焦原理
A’
在匀强磁场中某点A A
处有一束带电粒子
当带电粒子的速度大致相同时,这些粒子具有相同的螺距。 经一个回转周期后,他们各自重新会聚到A‘点。
发散粒子依靠磁场作用会聚于一点的现象称为磁聚焦。
实际应用中,更多利用的是非匀强磁场对电子束进行聚焦。
38
带电粒子在非均匀磁场也作螺旋线运动,但:R≠常数
➢ 电子受到等电位面法 线方向的电场力,而 在切线方向不受力。
电子在AB方向不受力, 因而在等电位面方向 上的速度分量不发生 变化。
v-电子运动速度 V-加速电压
v1 sin v2 sin 或
sin v2 sin v1
(11)
又因为:
v1
2 eV1 m
v2
2 eV2 m
则:
sin v2 V2 1
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