检具能力指数Cg Cgk - 360文档中心

Cgcgk技术

精心整理一、引言

检具(读数式量规、读数式检验夹具、综合检测仪等)的生产供应商将按用户要求设计制造的检具成品交付用户时，双方对于采用什么方法及指标来评定检具质量，以及如何判定检具是否合格，确定检具误差有多大等问题往往存在不一致之处，不同的用户常常也会提出不同的验收要求、方法及指标。为此，本文介绍四种常用的检具随机误差的验收评定方法及指标，并对各种方法的适用性进行分析讨论。

二、四种评定方法介绍

1.评定方法1

在等精度测量条件下，可采用n次测量结果的最大差值(即极差值)作为误差评定指标。即n

次等精度测量值分别为L1、L2、…、L n，其中最大测量值为L max,最小测量值为L min,则n次测量值的极差值W n=L max-L min。采用极差法进行评定时，一般取n=10,W n≤T/10(T为工件被检项目公差)。

2.评定方法2

采用测量能力指数C g值或C g K值作为评定指标，计算公式为

C

g

=KT/6S(1)

C g K=C

g

-｜X

E

-｜/3S(2)

式中K——缩小系数，一般取K=0.2

KT——允许的测量结果分布宽度

6S——实际达到的测量结果分布宽度

T——工件被检项目公差

X E——样件的实际尺寸

——平均测量值

S——标准偏差，

X i——第i次测量值

n——测量次数

采用C g值或C g K值进行能力检验评定时应注意以下事项：

(1)进行能力检验前应将检具调整到完好状态。

(2)进行能力检验时，被测件应为检具随带的校准件。若无校准件，则可采用符合受检工序尺寸和精度要求的加工零件。

(3)检验应按该检具的规定操作方法进行，同一被测件应以相同的安装方法及安装方向重复安装测量50次，将每次测量数据记录于检验表中以计算C g值或C g K值。

Cg cgk技术资料

精心整理一、引言

检具(读数式量规、读数式检验夹具、综合检测仪等)的生产供应商将按用户要求设计制造的检具成品交付用户时，双方对于采用什么方法及指标来评定检具质量，以及如何判定检具是否合格，确定检具误差有多大等问题往往存在不一致之处，不同的用户常常也会提出不同的验收要求、方法及指标。为此，本文介绍四种常用的检具随机误差的验收评定方法及指标，并对各种方法的适用性进行分析讨论。

二、四种评定方法介绍

1.评定方法1

在等精度测量条件下，可采用n次测量结果的最大差值(即极差值)作为误差评定指标。即n

次等精度测量值分别为L1、L2、…、L n，其中最大测量值为L max,最小测量值为L min,则n次测量值的极差值W n=L max-L min。采用极差法进行评定时，一般取n=10,W n≤T/10(T为工件被检项目公差)。

2.评定方法2

采用测量能力指数C g值或C g K值作为评定指标，计算公式为

C

g

=KT/6S(1)

C g K=C

g

-｜X

E

-｜/3S(2)

式中K——缩小系数，一般取K=0.2

KT——允许的测量结果分布宽度

6S——实际达到的测量结果分布宽度

T——工件被检项目公差

X E——样件的实际尺寸

——平均测量值

S——标准偏差，

X i——第i次测量值

n——测量次数

采用C g值或C g K值进行能力检验评定时应注意以下事项：

(1)进行能力检验前应将检具调整到完好状态。

(2)进行能力检验时，被测件应为检具随带的校准件。若无校准件，则可采用符合受检工序尺寸和精度要求的加工零件。

(3)检验应按该检具的规定操作方法进行，同一被测件应以相同的安装方法及安装方向重复安装测量50次，将每次测量数据记录于检验表中以计算C g值或C g K值。

检具能力Cg值应用规范

1、范围

本规范适用于车间所用检具重复精度的检测和能力评定。

2、定义

检具能力Cg是检具适宜性的一个比较数值，它表明了计量特性值的离散比率。

C g=0.2×T/(6×S)

T----测量工件的公差范围

S----样本的标准方差

检具能力Cg值只是针对一个质量特性值而言的，并只对测量的时间点和当时的实际条件有效。

3、检具能力的评价

Cg≥2.0 作为自制或购置新检具时的必要条件。（已是相当大的指数）

Cg≥1.67 说明检具有能力，且检验精度高。

Cg≥1.33 当检具标样很好，且检具工作时具有较高的稳定性时，该检具基本上有能力进行检测。

Cg＜1.33 检具被认为没有能力，应采取相应的改进措施。

Cg≤1.0 检测结果是不可靠的，应立即采取措施。

4、C g值的测量要求

4.1 Cg值的测量须由该道工序的现场操作工进行操作，并有现场工程师在场的情况下进行测量。

4.2 Cg值测量时，必须在工作现场进行。

4.3 检测数据应填在《检具能力指数Cg指示卡》中。

4.4 测量次数通常为50，必须连续测量；一旦连续测量30次，仪表全部回零，可确定Cg＞2.0，可以中断测量。

4.5 测量样件以检具上经过标定（必须具有“白卡”）的校对件为准，测量前先以校对件对检具进行校调（仪表调“0”），此后在测定Cg值时，不得再有任何改动。

●将标样放入并固定；

●读数；

●记录测量结果；

●完成第一个数值的测量；

●同一个人重复上述操作就完成第二个数值的测量，依次类推；

●完成每次测量都要将标样取出，下一次测量再把标样放入。

4.6 检验工位、标样和检具必须清洁。

量具测量能力CgCgk的五大常见误区

随着过程能力指数系列的相关应用，紧跟在设备过程能力的出现以及应用之后，量检具过程能力Cg/Cgk也随着工业发展应运而生了。

Cg/Cgk是评估一个检测设备的测量能力是否满足被测质量特性的公差要求相匹配的方法。它主要用来评估量具内部的变差对整个公差带的影响。

今天与大家一起分享量具测量能力的基本知识及五大常见误区。

误区1：Cg与Cp/Pp/Cm公式类似

Cg主要是评估量具自身的重复性，重复性是量具对同一部件进行一致性测量的能力。在符合要求的量具中甚至也会出现一些测量变异，但相对于部件公差而言变异太大，则表示该量具变化太大不适用于测量。例如，如果某内孔直径的公差是5 mm，但参考标准件重复测量值也超过了5mm，则您将无法使用该量具确定内孔是否在公差范围内。与公差相比，量具测量值的变异应小于公差。

cg——量具重复精度能力系数，其公式为

其中，K为公差百分比，一般默认为20，T为公差带，s为测量值标准差，L为整个过程散布相当于其标准差的倍数，一般默认为6。此外，根据公司的标准不同，分母有取6s的情况，也有取4s的情况，以6s的情况应用较为普遍。因此该公式可以简化为

从简化公式看出，Cg的分子明显与其它不同，一般设置为公差带的20%。

Cg 值大于1.33 说明相对于公差范围而言该量具测量值的散布范围非常窄。例如，如果使用默认值 K 和 L，Cg 度量为 2 表示公差范围的 20% 将覆盖测量值的整个散布范围两次。此 Cg 值表示量具在此公差范围内有效。行业内一般由2种标准。Cg≥1.33或者Cg≥1，具体要依据每个公司的各自标准要求。

检具能力指数Cg-Cgk

Cg= (Tgo- Tgu)/6S=Tg/6S

Cgk=min (Tgo-Xbar)或(Xbar-Tgu) /3S

式中Cg——量检具重复精度能力系数

Cgk——量检具准确精度能力系数

Tgo——控制上限

Tgu——控制下限

Xbar——测量值的平均值

S——测量值的标准偏差

图中：

To为零件公差上限

Tu为零件公差下限

Tm为零件公差中心

Ta为被测零件的实际尺寸

T=To-Tu, T为零件公差

△X=Ta-Tm Tm=1/2(To+Tu)

Tgo=Ta+1/2×λ×（To-Tu）

=1/2(To+Tu) +△X+1/2λ×（To-Tu）

=1/2×To×（1+λ）+1/2×Tu×（1-λ）+△X Tgu=Ta-1/2×λ×（To-Tu）

=1/2(To+Tu) +△X-1/2λ×（To-Tu）

=1/2×To×（1-λ）+1/2×Tu×（1+λ）+△X λ一般取0.15～0.20（现取0.20）

××Tu+△X

×（To-Tu）＝0.2×T

此主题相关图片如下：

Cgk 是用于评价一个测量设备的测量能力是否和被测产品的公差要求相匹配的方法。进行Cgk 分析的方法是：

1：让一个操作者用这个测量设备在一个标准测试样品上的同一点连续测量25 次；

2：用这组数据计算出标准差和平均偏移值；

3：确定被测产品的公差范围；

4：用公式计算出Cgk（可能各公司的公式会不同）。下面是一个计算的图示：

此主题相关图片如下：

上面那个我转的例子是在某一论坛(忘记了)发现的,应该有问题此主题相关图片如下：

Cgcgk技术资料

、弓丨言

检具（读数式量规、读数式检验夹具、综合检测仪等）的生产供应商将按用户要求设计制造的检具成品交付用户时，双方对于采用什么方法及指标来评定检具质量，以及如何判定检具是否合格，确定检具误差有多大等问题往往存在不一致之处，不同的用户常常也会提出不同的验收要求、方法及指标。为此，本文介绍四种常用的检具随机误差的验收评定方法及指标，并对各种方法的适用性进行分析讨论。

二、四种评定方法介绍

1. 评定方法1

在等精度测量条件下，可采用n次测量结果的最大差值（即极差值）作为误差评定指标。即n次等精度测量值分别为L i、L2、…、L n，其中最大测量值为L max,最小测量值为L min,则n 次测量值的极差值W=L max-L min。采用极差法进行评定时，一般取n = 10,W/< T/10（T为工件被检项目公差）。

2. 评定方法2

采用测量能力指数C g值或C g K值作为评定指标，计算公式为

C g=KT/6S ⑴

GK=G | X& | /3S （2）式中K——缩小系数，一般取K=0.2

KT——允许的测量结果分布宽度6S――实际达到的测量结果分布宽度

T――工件被检项目公差

X E――样件的实际尺寸

•――平均测量值

S――标准偏差，

X ――第i次测量值

n――测量次数

采用C g值或C g K值进行能力检验评定时应注意以下事项：

(1) 进行能力检验前应将检具调整到完好状态。

(2) 进行能力检验时，被测件应为检具随带的校准件。若无校准件，则可采用符合受检工序尺寸和精度要求的加工零件。

(3) 检验应按该检具的规定操作方法进行，同一被测件应以相同的安装方法及安装方向重复安装测量50次，将每次测量数据记录于检验表中以计算e g值或C g K值。

cg cgk介绍

有关MSA及偏倚研究和量具能力的Cg/Cgk研究问题的答复

(2014-09-14 18:03:40)

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分类：质量工具与方法标签：

cg——量具重复精度能力系数

cgk——量检具准确精度能力系数

Cgk 是用于评价一个测量设备的测量能力是否和被测产品

的公差要求相匹配的方法。进行Cgk分析的方法是：

1：让一个操作者用这个测量设备在一个标准测试样品上的

同一点连续测量25 次；2：用这组数据计算出标准差和

平均偏移值；3：确定被测产品的公差范围；

4：用公式计算出Cgk（可能各公司的公式会不同）。cg

cgk

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测量系统分析

有网友询问有关MSA及偏倚研究和量具能力的Cg/Cgk研究方面的两个问题，现将相应答复分享给感兴趣同仁，以供参考。

问题一：有人说，如果产品的Ppk是很充分的比如大于2.0的时候，就可以忽略MSA的影响，我听了非常震惊和困惑，因为我们一直听到的都是MSA是SPC的基础，如果测量系统就有偏差的话，测量结果很可能失真，也就极有可能造成Ppk大于2.0的假象，您认为呢？

我的答复：

我对你的困惑表示理解。我们需要借助测量系统对过程的稳定性和过程能力两个方面进行评价和监控。有能力的过程不一定是稳定的过程，也就是说，即使Ppk大于2，也仅表示过程有能力，但相对来说过程本身的离散程度（即过程变异）比较小，这时为监控过程的稳定性（即通过控制图判断过程是否处于统计受控状态），对测量系统所导致的测量变异更敏感。MSA 的目的是研究测量系统所测量的结果中呈现的变异，

以此来评估测量系统的质量。如果测量结果呈现的变异太大，可能会导致我们对过程的评价和监控做出错误的判断。

CGK CMK PPK CPK能力指数说明

Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍

CgK, Cmk, Ppk, Cpk应用技术

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Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍Cpk

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CgK, Cmk, Ppk, Cpk评级标准涉及Cp评价

等级要求值状态处理方案

A级 1.33≤Cp 稳定可考量缩小规格

B级 1.0＜Cp ≤1.33 一般必须加以注意，维持

C 级0.83

＜Cp ≤1.0 危险检讨规格及作业标准D级Cp≤

0.83 极差停机，重新调整后生产

Cp=(Usl-Lsl)/6s; 单边Cp=Cpk=Cpu=Cpl=规格容许差/3s

注：Cp 值越大，分布数据接近，但也有可能偏于中心值的分布

规格U-L 中心值M

密度高-----

低u 密集命中密度高分散命中密度低

密集命中密度高，但偏离大

规格宽松，须缩小提高设备精度或放宽规格修改中心值，缩小规格范围

Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍

结束语：

1. 通过以上各种能力指数的分析，可以针对工作需要选用或并用多种工具，

了解4M等因素或制程能力，确保生产品质是否在掌握范围？

cgk-cmk-cpk-ppk能力指数介绍

Cgk Cmk Cpk Ppk能力指数介绍
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cg cgk介绍

有关MSA及偏倚研究和量具能力的Cg/Cgk研究问题的答复

(2014-09-14 18:03:40)

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分类：质量工具与方法

标签：

cg——量具重复精度能力系数

cgk——量检具准确精度能力系数

Cgk 是用于评价一个测量设备的测量能力是否和被测产品

的公差要求相匹配的方法。进行Cgk分析的方法是：

1：让一个操作者用这个测量设备在一个标准测试样品上的

同一点连续测量25 次；2：用这组数据计算出标准差和

平均偏移值；3：确定被测产品的公差范围；

4：用公式计算出Cgk（可能各公司的公式会不同）。cg

cgk

msa

测量系统分析

有网友询问有关MSA及偏倚研究和量具能力的Cg/Cgk研究方面的两个问题，现将相应答复分享给感兴趣同仁，以供参考。

问题一：有人说，如果产品的Ppk是很充分的比如大于2.0的时候，就可以忽略MSA的影响，我听了非常震惊和困惑，因为我们一直听到的都是MSA是SPC的基础，如果测量系统就有偏差的话，测量结果很可能失真，也就极有可能造成Ppk大于2.0的假象，您认为呢？

我的答复：

我对你的困惑表示理解。我们需要借助测量系统对过程的稳定性和过程能力两个方面进行评价和监控。有能力的过程不一定是稳定的过程，也就是说，即使Ppk大于2，也仅表示过程有能力，但相对来说过程本身的离散程度（即过程变异）比较小，这时为监控过程的稳定性（即通过控制图判断过程是否处于统计受控状态），对测量系统所导致的测量变异更敏感。MSA的目的是研究测量系统所测量的结果中呈现的变异，

以此来评估测量系统的质量。如果测量结果呈现的变异太大，可能会导致我们对过程的评价和监控做出错误的判断。

Cg和Cgk应用说明

cg(量具能力）和cgk(量具能力指数）应用说明

Cg/Cgk are Instrument Capability Indexes.

The idea for Cg is the same than for Cp, the "conceptual" formula for Cg is:

Cg = (allowable variation)/(actual variation)

The differences are what we take for allowable and actual variation.

For Cp, the actual variation is the process variation, and the allowed variation is the specification range.

For Cg, the actual variation is the INSTRUMENT ALONE variation (6 x Sinst No between parts, within part, between operators or along time variation is included.

About 50 measurements are made consecutively on a master gauge or "best available" part, and always on the same point of the part, and by the same person, and in a controlled environment (usually the metrology room

cgk_cmk_cpk_ppk能力指数介绍

Cgk Cmk Cpk Ppk能力指数介绍
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量具能力准则Cg-Cgk评价报告

A 品136

報告者

Performed by

特性特性符号

Characteristics Mark 規格

Specifications 測定器名Gage Name 測定器编号Gage No

工程名

Project name 日付Date 标准件确认用測定器名

Gage Name(for master measurement)标准件确认用測定器编号

Gage No(for master measurement)量具能力准则Cg/Cgk 评价报告

部品机种、部品名Part Model & Name 特性名

Characteristics

Cg, Cgk

问题一：有人说，如果产品的Ppk是很充分的比如大于2.0的时候，就可以忽略MSA的影响，我听了非常震惊和困惑，因为我们一直听到的都是MSA是SPC的基础，如果测量系统就有偏差的话，测量结果很可能失真，也就极有可能造成Ppk大于2.0的假象，您认为呢？

我的答复：

我对你的困惑表示理解。我们需要借助测量系统对过程的稳定性和过程能力两个方面进行评价和监控。有能力的过程不一定是稳定的过程，也就是说，即使Ppk大于2，也仅表示过程有能力，但相对来说过程本身的离散程度（即过程变异）比较小，这时为监控过程的稳定性（即通过控制图判断过程是否处于统计受控状态），对测量系统所导致的测量变异更敏感。MSA的目的是研究测量系统所测量的结果中呈现的变异，以此来评估测量系统的质量。如果测量结果呈现的变异太大，可能会导致我们对过程的评价和监控做出错误的判断。

问题二：有人说，Cg/Cgk研究可以代替偏倚研究，经过分析，我发现Cg/Cgk分析结果比较简单明了，我也很想将Cg/Cgk推广到我们公司，因为我的理解不够深入，所以请您给我讲讲Cg/Cgk是否的确优于偏倚呢？

我的答复：

目前德系的公司更喜欢用量具能力指数Cg/Cgk基于被测特性的公差要求通过多次重复测量标准件来评价测量系统中量具的偏倚和测量标准件时的重复性是否可以接受，只有Cg/Cgk满足要求（如：Cg>=1.33、Cgk>=1.33）时才进一步通过测量生产件进行GRR（测量系统重复性和再现性）研究。

Cg/Cgk研究的实施过程与偏倚研究完全一样，只不过最后评价时评价的指标不一样而已。在研究中，通常是在量具的实际的使用环境下，由同一个人重复测量标准件的同一位置n次（如：25次），通过测量值所构成的样本得到测量的均值、标准差和偏倚等：

Cgcgk技术资料

精心整理一、引言

检具(读数式量规、读数式检验夹具、综合检测仪等)的生产供应商将按用户要求设计制造的检具成品交付用户时，双方对于采用什么方法及指标来评定检具质量，以及如何判定检具是否合格，

确定检具误差有多大等问题往往存在不一致之处，不同的用户常常也会提出不同的验收要求、方法及指标。为此，本文介绍四种常用的检具随机误差的验收评定方法及指标，并对各种方法的适用性进行分析讨论。

二、四种评定方法介绍

1.评定方法 1

在等精度测量条件下，可采用n次测量结果的最大差值(即极差值)作为误差评定指标。即n 次等精度测量值分别为L1、L2、…、L n，其中最大测量值为L max,最小测量值为L min,则n次测量值的极差值W n=L max-L min。采用极差法进行评定时，一般取n=10,W n≤T/10(T为工件被检项目公差)。

2.评定方法 2

采用测量能力指数C g值或C g K值作为评定指标，计算公式为

C g=KT/6S(1)

C g K=C g-｜X E-｜/3S(2)式中K——缩小系数，一般取K=0.2

KT——允许的测量结果分布宽度

6S——实际达到的测量结果分布宽度

T——工件被检项目公差

X E——样件的实际尺寸

——平均测量值

S——标准偏差，

X i——第i次测量值

n——测量次数

采用C g值或C g K值进行能力检验评定时应注意以下事项：

(1)进行能力检验前应将检具调整到完好状态。

(2)进行能力检验时，被测件应为检具随带的校准件。若无校准件，则可采用符合受检工序尺

寸和精度要求的加工零件。

(3)检验应按该检具的规定操作方法进行，同一被测件应以相同的安装方法及安装方向重复安

Cg cgk技术资料

一、引言

检具(读数式量规、读数式检验夹具、综合检测仪等)的生产供应商将按用户要求设计制造的检具成品交付用户时，双方对于采用什么方法及指标来评定检具质量，以及如何判定检具是否合格，确定检具误差有多大等问题往往存在不一致之处，不同的用户常常也会提出不同的验收要求、方法及指标。为此，本文介绍四种常用的检具随机误差的验收评定方法及指标，并对各种方法的适用性进行分析讨论。

二、四种评定方法介绍

1.评定方法1

在等精度测量条件下，可采用n次测量结果的最大差值(即极差值)作为误差

评定指标。即n次等精度测量值分别为L

1、L

2

、…、L

n

，其中最大测量值为L

max

,

最小测量值为L

min ,则n次测量值的极差值W

n

=L

max

-L

min

。采用极差法进行评定时，

一般取n=10,W

n

≤T/10(T为工件被检项目公差)。

2.评定方法2

采用测量能力指数C

g 值或C

g

K值作为评定指标，计算公式为

C

g

=KT/6S (1)

C g K=C

g

-｜X

E

-｜/3S (2)

式中K——缩小系数，一般取K=0.2

KT——允许的测量结果分布宽度

6S——实际达到的测量结果分布宽度

T——工件被检项目公差

X

E

——样件的实际尺寸

——平均测量值

S——标准偏差，

X

i

——第i次测量值

n——测量次数

采用C

g 值或C

g

K值进行能力检验评定时应注意以下事项：

(1)进行能力检验前应将检具调整到完好状态。

(2)进行能力检验时，被测件应为检具随带的校准件。若无校准件，则可采用符合受检工序尺寸和精度要求的加工零件。

(3)检验应按该检具的规定操作方法进行，同一被测件应以相同的安装方法及安装方向重复安装测量50次，将每次测量数据记录于检验表中以计算C