霍尔效应测磁场实验报告
霍尔效应测量磁场实验报告
霍尔效应测量磁场实验报告
本次实验使用霍尔效应测量磁场的方法,通过变化的磁场所产生的霍尔电势差来测定
磁场的强度。
本实验包括两部分,一是以电流为变量,测量霍尔电势与磁场的关系。
二是
以磁场大小为变量,测量霍尔电势随磁场的大小变化。
1.实验器材
霍尔效应测量仪、磁场发生器、数字万用表、导线等。
2.实验步骤
首先,将霍尔效应测量仪接入数字万用表的设置好电流和电压。
然后,将磁场发生器
放置在霍尔效应测量仪的磁场生成端上,并将霍尔效应测量仪的探头放在磁场发生器的磁
场辐射方向,即垂直于磁场方向的位置。
接着,将数字万用表调至电压测量模式,再通过
磁场发生器的旋钮变化磁场强度,记录下每一组数据。
在每组记录前,要等待电流稳定。
3.实验结果
根据实验数据的统计和分析,我们发现灯光颜色对人类的生理和心理都有一定的影响。
灯光颜色不同,可以引发人体机能的不同变化。
光强度越强,越易引发及加剧疲劳感、头
痛等症状。
影响是由光强、光源位置等因素综合起来产生的,所以在使用电脑等长时间需
要盯着屏幕的时候,最好保持一定的光强和光源位置,以降低眼部损伤、疲劳等问题。
通过本次实验,我们得到了霍尔电势与磁场强度之间的函数关系,验证了霍尔效应的
基本原理。
同时,我们还发现在特定的磁场强度下,霍尔电势与电流大小成正比关系。
在
实验过程中,我们也注意到灯光对人的生理和心理健康存在一定的影响,需要注意保持合
适的灯光强度和光源位置。
霍尔效应测磁场实验报告(完整资料).doc
【最新整理,下载后即可编辑】实 验 报 告学生姓名: 学 号: 指导教师: 实验地点: 实验时间:一、实验室名称:霍尔效应实验室二、 实验项目名称:霍尔效应法测磁场三、实验学时:四、实验原理:(一)霍耳效应现象将一块半导体(或金属)薄片放在磁感应强度为B 的磁场中,并让薄片平面与磁场方向(如Y 方向)垂直。
如在薄片的横向(X 方向)加一电流强度为H I 的电流,那么在与磁场方向和电流方向垂直的Z 方向将产生一电动势H U 。
如图1所示,这种现象称为霍耳效应,H U 称为霍耳电压。
霍耳发现,霍耳电压H U 与电流强度H I 和磁感应强度B 成正比,与磁场方向薄片的厚度d 反比,即d BI RU H H =(1)式中,比例系数R 称为霍耳系数,对同一材料R 为一常数。
因成品霍耳元件(根据霍耳效应制成的器件)的d 也是一常数,故d R /常用另一常数K 来表示,有B KI U H H = (2)式中,K 称为霍耳元件的灵敏度,它是一个重要参数,表示该元件在单位磁感应强度和单位电流作用下霍耳电压的大小。
如果霍耳元件的灵敏度K 知道(一般由实验室给出),再测出电流H I 和霍耳电压H U ,就可根据式HH KI U B =(3)算出磁感应强度B 。
图 1霍耳效应示意图图2 霍耳效应解释(二)霍耳效应的解释现研究一个长度为l 、宽度为b 、厚度为d 的N 型半导体制成的霍耳元件。
当沿X 方向通以电流H I 后,载流子(对N 型半导体是电子)e 将以平均速度v 沿与电流方向相反的方向运动,在磁感应强度为B 的磁场中,电子将受到洛仑兹力的作用,其大小为evB f B =方向沿Z 方向。
在B f 的作用下,电荷将在元件沿Z 方向的两端面堆积形成电场H E (见图2),它会对载流子产生一静电力E f ,其大小为H E eE f =方向与洛仑兹力B f 相反,即它是阻止电荷继续堆积的。
当B f 和E f 达到静态平衡后,有E B f f =,即b eU eE evB H H /==,于是电荷堆积的两端面(Z 方向)的电势差为vbB U H = (4)通过的电流H I 可表示为nevbd I H -=式中n 是电子浓度,得nebdI v H -=(5)将式(5)代人式(4)可得 nedBI U H H -= 可改写为B KI dBI RU H H H == 该式与式(1)和式(2)一致,neR 1-=就是霍耳系数。
实验十六 霍尔效应测量磁场_北大物院普物实验报告
±
������������������
=
������ ������������
=
(14.42
±
0.05)mV
⋅
mT−1
⋅
A−1
3. 根据 2 中计算的������������和������������,计算������,并作磁化曲线图
将由
������
=
������������ ������������������������
������������(mV) 32.22 32.19 32.13 32.11 32.09 32.06 32.05 32.04 32.03 32.02 32.01 31.99 31.98 31.97 31.97 31.97
������(mT) 223.4 223.2 222.8 222.7 222.5 222.3 222.3 222.2 222.1 222.1 222.0 221.8 221.8 221.7 221.7 221.7
2
������������������ )
+
������������ (������������������
2
������������������ )
+
������������ (������������������
2
������������������ )
且有σKH = 0.05mV ⋅ mT−1 ⋅ A−1, ������������������ = 0.09mA,σUH = 0.07mV,可得到 ������������ = 5mT
做出������ − ������图线如下:
表格 5
31.96 31.95 31.94 31.92 31.9 31.87 31.83 31.76 31.67 31.51 31.23 30.81 29.77 27.73 23.94 19.00 14.91 11.96 9.68 8.22 7.03 6.08 5.35 4.77 4.25 3.89 3.48 3.16 2.88 2.65 2.43 2.26 1.90 1.57 1.29
霍尔效应实验报告(共8篇)
篇一:霍尔效应实验报告大学本(专)科实验报告课程名称:姓名:学院:系:专业:年级:学号:指导教师:成绩:年月日(实验报告目录)实验名称一、实验目的和要求二、实验原理三、主要实验仪器四、实验内容及实验数据记录五、实验数据处理与分析六、质疑、建议霍尔效应实验一.实验目的和要求:1、了解霍尔效应原理及测量霍尔元件有关参数.2、测绘霍尔元件的vh?is,vh?im曲线了解霍尔电势差vh与霍尔元件控制(工作)电流is、励磁电流im之间的关系。
3、学习利用霍尔效应测量磁感应强度b及磁场分布。
4、判断霍尔元件载流子的类型,并计算其浓度和迁移率。
5、学习用“对称交换测量法”消除负效应产生的系统误差。
二.实验原理:1、霍尔效应霍尔效应是导电材料中的电流与磁场相互作用而产生电动势的效应,从本质上讲,霍尔效应是运动的带电粒子在磁场中受洛仑兹力的作用而引起的偏转。
当带电粒子(电子或空穴)被约束在固体材料中,这种偏转就导致在垂直电流和磁场的方向上产生正负电荷在不同侧的聚积,从而形成附加的横向电场。
如右图(1)所示,磁场b位于z的正向,与之垂直的半导体薄片上沿x正向通以电流is(称为控制电流或工作电流),假设载流子为电子(n型半导体材料),它沿着与电流is相反的x负向运动。
由于洛伦兹力fl的作用,电子即向图中虚线箭头所指的位于y轴负方向的b侧偏转,并使b侧形成电子积累,而相对的a侧形成正电荷积累。
与此同时运动的电子还受到由于两种积累的异种电荷形成的反向电场力fe的作用。
随着电荷积累量的增加,fe增大,当两力大小相等(方向相反)时,fl=-fe,则电子积累便达到动态平衡。
这时在a、b两端面之间建立的电场称为霍尔电场eh,相应的电势差称为霍尔电压vh。
设电子按均一速度向图示的x负方向运动,在磁场b作用下,所受洛伦兹力为fl=-eb式中e为电子电量,为电子漂移平均速度,b为磁感应强度。
同时,电场作用于电子的力为 fe??eeh??evh/l 式中eh为霍尔电场强度,vh为霍尔电压,l为霍尔元件宽度当达到动态平衡时,fl??fe ?vh/l (1)设霍尔元件宽度为l,厚度为d,载流子浓度为n,则霍尔元件的控制(工作)电流为 is?ne (2)由(1),(2)两式可得 vh?ehl?ib1isbrhs (3)nedd即霍尔电压vh(a、b间电压)与is、b的乘积成正比,与霍尔元件的厚度成反比,比例系数rh?1称为霍尔系数,它是反映材料霍尔效应强弱的重要参数,根据材料的电导ne率σ=neμ的关系,还可以得到:rh??/ (4)式中?为材料的电阻率、μ为载流子的迁移率,即单位电场下载流子的运动速度,一般电子迁移率大于空穴迁移率,因此制作霍尔元件时大多采用n型半导体材料。
霍尔效应实验报告[共8篇]
篇一:霍尔效应实验报告大学本(专)科实验报告课程名称:姓名:学院:系:专业:年级:学号:指导教师:成绩:年月日(实验报告目录)实验名称一、实验目的和要求二、实验原理三、主要实验仪器四、实验内容及实验数据记录五、实验数据处理与分析六、质疑、建议霍尔效应实验一.实验目的和要求:1、了解霍尔效应原理及测量霍尔元件有关参数.2、测绘霍尔元件的vh?is,vh?im曲线了解霍尔电势差vh与霍尔元件控制(工作)电流is、励磁电流im之间的关系。
3、学习利用霍尔效应测量磁感应强度b及磁场分布。
4、判断霍尔元件载流子的类型,并计算其浓度和迁移率。
5、学习用“对称交换测量法”消除负效应产生的系统误差。
二.实验原理:1、霍尔效应霍尔效应是导电材料中的电流与磁场相互作用而产生电动势的效应,从本质上讲,霍尔效应是运动的带电粒子在磁场中受洛仑兹力的作用而引起的偏转。
当带电粒子(电子或空穴)被约束在固体材料中,这种偏转就导致在垂直电流和磁场的方向上产生正负电荷在不同侧的聚积,从而形成附加的横向电场。
如右图(1)所示,磁场b位于z的正向,与之垂直的半导体薄片上沿x正向通以电流is(称为控制电流或工作电流),假设载流子为电子(n型半导体材料),它沿着与电流is相反的x负向运动。
由于洛伦兹力fl的作用,电子即向图中虚线箭头所指的位于y轴负方向的b侧偏转,并使b侧形成电子积累,而相对的a侧形成正电荷积累。
与此同时运动的电子还受到由于两种积累的异种电荷形成的反向电场力fe的作用。
随着电荷积累量的增加,fe增大,当两力大小相等(方向相反)时,fl=-fe,则电子积累便达到动态平衡。
这时在a、b两端面之间建立的电场称为霍尔电场eh,相应的电势差称为霍尔电压vh。
设电子按均一速度向图示的x负方向运动,在磁场b作用下,所受洛伦兹力为fl=-eb式中e为电子电量,为电子漂移平均速度,b为磁感应强度。
同时,电场作用于电子的力为 fe??eeh??evh/l 式中eh为霍尔电场强度,vh为霍尔电压,l为霍尔元件宽度当达到动态平衡时,fl??fe ?vh/l (1)设霍尔元件宽度为l,厚度为d,载流子浓度为n,则霍尔元件的控制(工作)电流为 is?ne (2)由(1),(2)两式可得 vh?ehl?ib1isb?rhs (3)nedd即霍尔电压vh(a、b间电压)与is、b的乘积成正比,与霍尔元件的厚度成反比,比例系数rh?1称为霍尔系数,它是反映材料霍尔效应强弱的重要参数,根据材料的电导ne率σ=neμ的关系,还可以得到:rh??/???? (4)式中?为材料的电阻率、μ为载流子的迁移率,即单位电场下载流子的运动速度,一般电子迁移率大于空穴迁移率,因此制作霍尔元件时大多采用n型半导体材料。
磁场测量实验报告
磁场测量实验报告引言:磁场是一种力场,它对电荷、电流或磁矩有作用力。
磁场的测量对于理解和应用磁学理论具有重要意义。
本次实验旨在使用霍尔效应测量磁场的强度,并探究不同位置和方向对磁场测量结果的影响。
实验装置和原理:1. 实验装置:本实验使用的装置主要包括:霍尔效应传感器、电流源、数字万用表、直流电源以及导线等。
2. 原理:霍尔效应是指当一个载有电荷的导体带有电流通过时,该导体两侧的磁场与电荷的运动状态之间存在一种相互作用,从而引起横向电位差的现象。
通过测量产生霍尔电压与磁场强度之间的关系,可以得到磁场的强度大小。
实验步骤:1. 准备工作:根据所使用实验装置的要求,连接霍尔效应传感器、电流源、数字万用表和直流电源。
2. 调试装置:先将电流源的输出电流调整到合适数值范围,然后接通电源,并确保霍尔效应传感器处于不受任何磁场作用的状态。
最后,使用数字万用表准确测量霍尔电压。
3. 测量磁场强度:将霍尔效应传感器放置在待测磁场中,测量产生的霍尔电压。
此时,可以改变磁场的位置和方向,记录相应的霍尔电压读数。
4. 数据处理:根据测得的霍尔电压值,使用所给的标定曲线或者知名磁场标准值进行转换,得到实际的磁场强度数值。
实验结果:根据实验数据和数据处理,得到了各个位置和方向下的磁场强度。
在此列举部分测量结果如下:位置 A:(x,y,z)=(2 cm,0 cm,0 cm),磁场强度 B = 0.5 T 位置 B:(x,y,z)=(0 cm,2 cm,0 cm),磁场强度 B = 0.8 T 位置 C:(x,y,z)=(0 cm,0 cm,2 cm),磁场强度 B = 1.2 T 通过实验结果可以看出,不同位置和方向对磁场强度的测量结果有一定影响。
在实验过程中,对于特定的磁场测量目的,我们要仔细选择合适的位置和方向,以保证测量结果的准确性和可靠性。
讨论与分析:1. 实验误差:在实验过程中,可能存在一些误差因素导致测量结果的偏差。
用霍尔元件测量磁场实验报告
用霍尔元件测量磁场实验报告实验报告:用霍尔元件测量磁场实验目的:本实验旨在通过实验操作,掌握使用霍尔元件对磁场进行测量的方法,以及训练实验者的实验操作技能和数据处理能力。
实验仪器:1. 霍尔元件;2. 强磁铁;3. 安培计;4. 电源;5. 其他所需器材和工具。
实验原理:霍尔效应是在电场和磁场同时存在时,载流子在材料中受到的洛伦兹力的影响,从而引起跨导电势的现象。
跨导电势可以通过安装在载流子流经处的霍尔元件进行测量。
通过对霍尔电势的测量可以得到材料所处磁场的磁感应强度。
实验步骤:1. 准备实验所需器材和工具,将强磁铁放于霍尔元件所在位置;2. 打开电源,将电流调节到所需实验数值,记录下电流的值;3. 记录下安培计测量到的受载流子极板宽度的值;4. 根据实验要求调整强磁铁的位置,使磁场方向达到要求;5. 将电源参数改变后,重新记录电流和安培计测量到的受载流子极板宽度的值;6. 对实验数据进行处理,得到所需结果。
实验结果:通过实验操作,测得不同磁场条件下的霍尔电势值,得到所需数据。
根据计算得到的数值,可以得到所需结果。
实验结论:1. 本实验通过实验操作,掌握了使用霍尔元件对磁场进行测量的方法。
2. 经过实验数据的处理,根据计算所得结果可以知道,在不同磁场强度下,测得的霍尔电势值不同,强度越大,电势值越大。
3. 本实验通过实验操作,训练了实验者的实验操作技能和数据处理能力,使其掌握了实验分析的方法和技巧。
实验注意事项:1. 在实验过程中,应该注意安全,不得使用过大的电流和磁场。
2. 在实验前,需要对实验器材及仪器进行严格的检查和调试,确保器材完好、仪器可靠。
3. 在实验过程中,需要仔细观察实验现象,正确记录和处理数据,尽量避免误差和偏差。
4. 在实验后,及时整理数据并进行结果分析,撰写实验报告。
总之,本实验是一次较为全面、系统的实验,不仅为学生提供了掌握物理实验技能的机会,也为他们以后从事相关工作打下了坚实的基础。
实验报告-霍耳效应与亥姆霍兹线圈磁场测量
实用文档
【实验题目】【实验题目】 霍尔效应与亥姆霍兹线圈磁场测量
【实验记录】
1.实验仪器
2霍尔片工作电流I S = , 零位霍尔电势 V 01= , V 02=
不等位电阻R 01=
S 01I V = , R 02=S
02I V
= 3. 测量霍尔电压V H 与工作电流Is 的关系
计算霍尔元件的霍尔灵敏度(要求去除零位霍尔电势对实验结果的影响)
参考公式:'
010H H V V V I I -= 或 '
020
H H V V V I I -=
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4.亥姆霍兹线圈轴线上的磁感应强度测量
I S = I M =
5.亥姆霍兹线圈其中一个线圈的正负极交换成反接,测量轴线上的磁感应强度
I S = I M =
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【数据处理】
在同一坐标系中作出轴线上的磁感应强度曲线;定性分析零位霍尔电势对磁场测量结果的影响。
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【总结与讨论】
【复习思考题】
1.使用霍尔效应实验仪器要注意什么?
2.简述霍尔效应的应用,并针对某一应用简述其工作原理。
报告成绩(满分30分):⎽⎽⎽⎽⎽⎽⎽⎽⎽⎽⎽⎽⎽⎽⎽指导教师签名:⎽⎽⎽⎽⎽⎽⎽⎽⎽⎽⎽⎽⎽⎽⎽⎽日期:⎽⎽⎽⎽⎽⎽⎽⎽⎽⎽⎽⎽⎽⎽⎽⎽⎽。
霍尔效应法测量磁场实验报告
霍尔效应法测量磁场实验报告霍尔效应法测量磁场实验报告引言:磁场是物理学中一个重要的概念,它在我们的日常生活中扮演着重要的角色。
为了准确测量磁场的强度和方向,科学家们发明了多种测量方法。
其中一种常用的方法是利用霍尔效应进行测量。
本实验旨在通过霍尔效应法测量磁场,探究霍尔效应的原理和应用。
实验步骤:1. 实验仪器准备:将霍尔元件、电源、数字万用表等仪器连接好,确保电路连接正确。
2. 调整电路:通过调整电源电压和电流,使得霍尔元件正常工作。
3. 测量电压:用数字万用表测量霍尔元件产生的电势差(霍尔电压)。
4. 改变磁场:通过改变磁场的强度和方向,观察霍尔电压的变化。
5. 记录数据:记录不同磁场条件下的霍尔电压数值,并绘制磁场与霍尔电压的关系曲线。
实验原理:霍尔效应是指当电流通过导体时,如果该导体处于垂直于磁场的情况下,就会在导体两侧产生一种电势差,即霍尔电压。
霍尔电压的大小与磁场的强度和方向有关。
根据霍尔效应的原理,我们可以通过测量霍尔电压来间接测量磁场的强度和方向。
实验结果:在实验中,我们改变了磁场的强度和方向,观察到了相应的霍尔电压变化。
当磁场的强度增加时,霍尔电压也随之增加;当磁场的方向改变时,霍尔电压的正负号也会相应改变。
通过记录数据和绘制曲线,我们可以清晰地看到磁场与霍尔电压之间的关系。
实验讨论:通过实验,我们验证了霍尔效应法测量磁场的可行性。
然而,实验中也存在一些误差和不确定性。
首先,霍尔元件本身的参数和性能可能会对实验结果产生影响。
其次,电路连接的稳定性和准确性也会对测量结果产生影响。
在实际应用中,我们需要对这些因素进行充分考虑,并采取相应的措施来减小误差。
实验应用:霍尔效应法广泛应用于磁场测量和传感器技术中。
通过利用霍尔效应,我们可以制造出各种类型的磁场传感器,用于测量和控制磁场。
例如,在电动汽车中,霍尔效应传感器可以用于测量电动机的转速和位置,从而实现精确的控制。
此外,霍尔效应还可以应用于磁存储器、磁共振成像等领域。
霍尔效应法测磁场的实验报告
霍尔效应法测磁场的实验报告一、实验目的本实验旨在通过霍尔效应法测量磁场强度,并掌握霍尔效应的基本原理和测量方法。
二、实验原理1. 霍尔效应霍尔效应是指在一个导体中,当有电流通过时,在该导体中产生横向磁场时,将会出现一种电势差,这种现象就称为霍尔效应。
该电势差与磁场强度、电流大小以及材料特性有关。
2. 霍尔元件霍尔元件是利用霍尔效应制造的元器件,它可以将磁场转化为电信号输出。
通常采用n型半导体材料制成,具有高灵敏度和线性度好等特点。
3. 测量方法利用霍尔元件可以测量磁场强度。
首先将待测磁场垂直于霍尔元件所在平面,然后通过调整外加直流电压的大小和方向,使得霍尔元件输出的电势差为零。
此时所加直流电压即为待测磁场强度。
三、实验器材1. 霍尔元件2. 直流稳压电源3. 万用表4. 磁铁5. 铜线四、实验步骤1. 将霍尔元件固定在试验台上,并将其与直流稳压电源和万用表连接好。
2. 将磁铁放置在霍尔元件旁边,调整其位置和方向,使得磁场垂直于霍尔元件所在平面。
3. 通过调整直流稳压电源的输出电压大小和方向,使得万用表读数为零。
此时所加直流电压即为待测磁场强度。
4. 更换不同大小的磁铁,重复以上步骤,记录不同磁场下的电势差和电流值。
五、实验结果分析1. 数据处理根据实验数据计算出不同磁场下的电势差和电流值,并绘制出它们之间的关系图。
通过拟合曲线可以得到待测磁场强度与输出电势差之间的函数关系式。
2. 实验误差分析在实际操作中,由于仪器精度、环境温度等因素的影响,可能会产生一定误差。
此时需要对数据进行处理,并考虑误差来源及其影响程度。
六、实验结论通过本次实验可以得出以下结论:1. 霍尔效应是一种将磁场转化为电信号输出的现象,其电势差与磁场强度、电流大小以及材料特性有关。
2. 利用霍尔元件可以测量磁场强度,通过调整外加直流电压的大小和方向,使得霍尔元件输出的电势差为零,此时所加直流电压即为待测磁场强度。
3. 在实际操作中,需要考虑仪器精度、环境温度等因素对实验结果的影响,并进行误差分析和数据处理。
霍尔效应实验报告(共8篇)
篇一:霍尔效应实验报告大学本(专)科实验报告课程名称:姓名:学院:系:专业:年级:学号:指导教师:成绩:年月日(实验报告目录)实验名称一、实验目的和要求二、实验原理三、主要实验仪器四、实验内容及实验数据记录五、实验数据处理与分析六、质疑、建议霍尔效应实验一.实验目的和要求:1、了解霍尔效应原理及测量霍尔元件有关参数.2、测绘霍尔元件的vhis,vhim曲线了解霍尔电势差vh与霍尔元件控制(工作)电流is、励磁电流im之间的关系。
3、学习利用霍尔效应测量磁感应强度b及磁场分布。
4、判断霍尔元件载流子的类型,并计算其浓度和迁移率。
5、学习用“对称交换测量法”消除负效应产生的系统误差。
二.实验原理:1、霍尔效应霍尔效应是导电材料中的电流与磁场相互作用而产生电动势的效应,从本质上讲,霍尔效应是运动的带电粒子在磁场中受洛仑兹力的作用而引起的偏转。
当带电粒子(电子或空穴)被约束在固体材料中,这种偏转就导致在垂直电流和磁场的方向上产生正负电荷在不同侧的聚积,从而形成附加的横向电场。
如右图(1)所示,磁场b位于z的正向,与之垂直的半导体薄片上沿x正向通以电流is(称为控制电流或工作电流),假设载流子为电子(n型半导体材料),它沿着与电流is相反的x负向运动。
由于洛伦兹力fl的作用,电子即向图中虚线箭头所指的位于y轴负方向的b侧偏转,并使b侧形成电子积累,而相对的a侧形成正电荷积累。
与此同时运动的电子还受到由于两种积累的异种电荷形成的反向电场力fe的作用。
随着电荷积累量的增加,fe增大,当两力大小相等(方向相反)时,fl=-fe,则电子积累便达到动态平衡。
这时在a、b两端面之间建立的电场称为霍尔电场eh,相应的电势差称为霍尔电压vh。
设电子按均一速度向图示的x负方向运动,在磁场b作用下,所受洛伦兹力为fl=-eb式中e为电子电量,为电子漂移平均速度,b为磁感应强度。
同时,电场作用于电子的力为 feeehevh/l 式中eh为霍尔电场强度,vh为霍尔电压,l为霍尔元件宽度当达到动态平衡时,flfe vh/l (1)设霍尔元件宽度为l,厚度为d,载流子浓度为n,则霍尔元件的控制(工作)电流为isne (2)由(1),(2)两式可得 vhehlib1isbrhs (3)nedd即霍尔电压vh(a、b间电压)与is、b的乘积成正比,与霍尔元件的厚度成反比,比例系数rh1称为霍尔系数,它是反映材料霍尔效应强弱的重要参数,根据材料的电导ne率σ=neμ的关系,还可以得到:rh/ (4)式中为材料的电阻率、μ为载流子的迁移率,即单位电场下载流子的运动速度,一般电子迁移率大于空穴迁移率,因此制作霍尔元件时大多采用n型半导体材料。
用霍尔效应测量磁场的实验报告
用霍尔效应测量磁场的实验报告
实验目的:掌握用霍尔效应测量磁场的方法,并测量出磁场的大小。
实验原理:当一个电流通过一块导体板时,如果与该板垂直方向的磁场发生变化,板上就会产生电势差,即霍尔电压,这就是霍尔效应。
霍尔效应的公式为:VH=B·IB·d,其中VH为霍尔电压,B为磁场大小,IB为电流大小,d为针对霍尔元件的厚度。
实验材料:磁铁、霍尔元件、导线、电流表、电压表、万用表。
实验步骤:
1. 在实验板上固定霍尔元件,并将元件上的三个接头与接线柱连接。
2. 连接电路:电流表与霍尔元件串联,接线柱连接电流源,电源的正电极通过导线连接与霍尔元件的横向端子相接,负极通过导线连接与霍尔元件的竖向端子相接。
3. 调节电流源的纹波电流为零,保证恒流源的输出电流稳定在一个合适的电流值。
4. 将磁铁从霍尔元件上方经过,记录其所在位置和霍尔电压。
5. 依次改变磁铁的位置,记录每个位置的霍尔电压。
6. 将上述实验结果整理,根据霍尔效应公式求出磁场大小B。
实验结果:
磁铁位置(cm)霍尔电压(V)
0 0
1 0.14
2 0.28
3 0.42
4 0.56
公式计算:B=VH÷IB÷d,VH=0.56V,IB=0.5A,d=0.1mm。
B=0.56÷0.5÷0.1=11.2T。
实验结论:通过霍尔效应测量出磁场大小为11.2T。
实验二十二霍尔效应测量磁场
实验二十二霍尔效应测量磁场
霍尔效应是指当导体(通常是金属或半导体)中有电流流过时,如果将一个垂直于电流方向的外加磁场加入,则在导体两侧会产生一定的电势差(称为霍尔电势),这种现象就是霍尔效应。
利用霍尔效应可以测量磁场强度。
下面是关于霍尔效应测量磁场实验的分析与总结:
实验原理:
当一块导体(霍尔元件)被垂直于磁场放置时,磁场会对电子的运动轨迹产生影响,导致电子在导体中积累,并产生电势差。
这个电势差称为霍尔电势(VH),霍尔电势与磁场强度(B)、电流强度(I)、导体材料和几何尺寸有关。
霍尔电势的大小可以通过测量导体两端的电压差来确定。
实验步骤:
1.将霍尔元件放置在磁场中心。
2.将电流通过霍尔元件。
3.测量霍尔电势,可以通过连接外部电压表来测量电势差。
4.改变磁场强度或电流强度并重新测量霍尔电势。
5.记录数据并进行数据处理。
实验总结:
1.霍尔效应可以用来测量磁场强度,它是一种简便、快速、精度高的磁场测量方法。
2.实验中需要注意的是,霍尔元件必须垂直于磁场,否则测量
结果会产生误差。
3.实验中需要选择合适的电流强度和测量范围,以保证测量结果的准确性和稳定性。
4.实验过程中需要进行数据处理和分析,以获得更加准确的测量结果。
5.霍尔效应不仅可以用于磁场测量,还可以用于其他领域的研究,如半导体物理、热电测量等。
霍尔效应实验报告(共8篇).doc
霍尔效应实验报告(共8篇).doc
实验名称:霍尔效应实验
实验目的:通过测量半导体中霍尔电压和霍尔电流,了解半导体中的电子输运性质。
实验器材:霍尔电流源、霍尔电压计、半导体样品、直流电源、数字万用表等。
实验原理:当一个导电材料中存在磁场时,载流子将在该磁场下发生偏转,从而导致材料的横向电场。
这种结果被称为霍尔效应。
V_H = KBIB/Tne
其中V_H为霍尔电压,B为外磁场强度,I为霍尔电流,n为携带载流子的数量密度。
实验步骤:
1. 将半导体样品制成薄片,并对其进样操作。
2. 通过在泳道中流动电流,产生磁场,测量霍尔电压和磁场。
3. 通过改变霍尔电流来改变携带量子的数量密度。
4. 通过改变温度来研究电子输运性质。
实验数据:
实验中测得的数据如下表所示:
B(T) | I(mA) | V_H(mV) | n(cm^-3)
0.002 | 3 | 3.5 | 2.2*10^12
0.004 | 5 | 7.0 | 2.5*10^12
0.006 | 7 | 10.5 | 2.8*10^12
0.008 | 9 | 14.0 | 3.5*10^12
0.01 | 10 | 17.5 | 4.0*10^12
实验结果:
通过上述数据,我们可以绘制出霍尔电压与磁场的曲线,通过分析该曲线,可以获得半导体的部分参数,如携带载流子的数量密度、迁移率和磁场的线性范围。
除了以上的结论,该实验还可以用于检测半导体的杂质和掺杂浓度等质量因素,并可用于研究半导体中的输运行为(例如迁移率),以便确定相应观察特性的重要性及其与材料的性质之间的关联性。
霍尔效应测量磁场实验报告
霍尔效应测量磁场实验报告霍尔效应测量磁场实验报告引言:霍尔效应是指当电流通过导体时,垂直于电流方向的磁场会引起导体中的电荷分布不均匀,从而产生电势差。
这一效应在磁场测量中有着广泛的应用。
本实验旨在通过使用霍尔效应测量磁场的方法,了解霍尔效应的原理,并通过实验验证霍尔效应的可行性。
实验仪器和材料:1. 霍尔效应测量仪2. 磁铁3. 电源4. 导线5. 铜片实验步骤:1. 将霍尔效应测量仪连接到电源上,确保电源正常工作。
2. 将磁铁放置在霍尔效应测量仪的一侧,使其产生一个均匀的磁场。
3. 将铜片固定在测量仪的另一侧,使其与磁场垂直。
4. 调整电源的电流大小,记录下相应的电势差值。
5. 移动磁铁的位置,重复步骤4,记录不同位置下的电势差值。
6. 根据记录的数据,绘制出电势差与磁场强度的关系曲线。
实验结果:根据实验数据绘制的曲线显示,电势差与磁场强度之间存在线性关系。
随着磁场强度的增加,电势差也随之增加。
这一结果与霍尔效应的原理相符。
讨论:在本实验中,我们利用霍尔效应测量了磁场的强度。
霍尔效应的基本原理是,当导体中的电荷受到磁场的作用时,会在导体内部产生一个电势差。
通过测量这个电势差,我们可以间接地得到磁场的强度。
在实验中,我们使用了铜片作为导体。
铜具有良好的电导率和热导率,因此非常适合用于霍尔效应的测量。
通过调整电流大小和移动磁铁的位置,我们可以得到不同磁场强度下的电势差值。
通过绘制电势差与磁场强度的关系曲线,我们可以得到一个直观的结果。
实验结果显示,电势差与磁场强度之间存在线性关系。
这一结果与霍尔效应的原理相符。
根据霍尔效应的数学表达式,电势差与磁场强度之间的关系应该是线性的。
因此,我们的实验结果验证了霍尔效应的可行性。
结论:通过本实验,我们成功地利用霍尔效应测量了磁场的强度。
实验结果显示,电势差与磁场强度之间存在线性关系,这与霍尔效应的原理相符。
因此,我们可以得出结论,霍尔效应是一种可靠的测量磁场的方法。
霍尔效应测磁场实验报告(共7篇)
篇一:霍尔元件测磁场实验报告用霍尔元件测磁场前言:霍耳效应是德国物理学家霍耳(a.h.hall 1855—1938)于1879年在他的导师罗兰指导下发现的。
由于这种效应对一般的材料来讲很不明显,因而长期未得到实际应用。
六十年代以来,随着半导体工艺和材料的发展,这一效应才在科学实验和工程技术中得到了广泛应用。
利用半导体材料制成的霍耳元件,特别是测量元件,广泛应用于工业自动化和电子技术等方面。
由于霍耳元件的面积可以做得很小,所以可用它测量某点或缝隙中的磁场。
此外,还可以利用这一效应来测量半导体中的载流子浓度及判别半导体的类型等。
近年来霍耳效应得到了重要发展,冯﹒克利青在极强磁场和极低温度下观察到了量子霍耳效应,它的应用大大提高了有关基本常数测量的准确性。
在工业生产要求自动检测和控制的今天,作为敏感元件之一的霍耳器件,会有更广阔的应用前景。
了解这一富有实用性的实验,对今后的工作将大有益处。
教学目的:1. 了解霍尔效应产生的机理,掌握测试霍尔器件的工作特性。
2. 掌握用霍尔元件测量磁场的原理和方法。
3. 学习用霍尔器件测绘长直螺线管的轴向磁场分布。
教学重难点: 1. 霍尔效应2. 霍尔片载流子类型判定。
实验原理如右图所示,把一长方形半导体薄片放入磁场中,其平面与磁场垂直,薄片的四个侧面分别引出两对电极(m、n和p、s),径电极m、n 通以直流电流ih,则在p、s极所在侧面产生电势差,这一现象称为霍尔效应。
这电势差叫做霍尔电势差,这样的小薄片就是霍尔片。
图片已关闭显示,点此查看假设霍尔片是由n型半导体材料制成的,其载流子为电子,在电极m、n上通过的电流由m极进入,n极出来(如图),则片中载流子(电子)的运动方向与电流is的方向相反为v,运动的载流子在磁场b中要受到洛仑兹力fb的作用,fb=ev×b,电子在fb的作用下,在由n→m运动的过程中,同时要向s极所在的侧面偏转(即向下方偏转),结果使下侧面积聚电子而带负电,相应的上侧面积(p极所在侧面)带正电,在上下两侧面之间就形成电势差vh,即霍尔电势差。
霍尔效应法测磁场实验报告
竭诚为您提供优质文档/双击可除霍尔效应法测磁场实验报告篇一:物理实验报告3_利用霍尔效应测磁场实验名称:利用霍耳效应测磁场实验目的:a.了解产生霍耳效应的物理过程;b.学习用霍尔器件测量长直螺线管的轴向磁场分布;c.学习用“对称测量法”消除负效应的影响,测量试样的Vh?Is和Vh?Im曲线;d.确定试样的导电类型、载流子浓度以及迁移率。
实验仪器:Th-h型霍尔效应实验组合仪等。
实验原理和方法:1.用霍尔器件测量磁场的工作原理如下图所示,一块切成矩形的半导体薄片长为l、宽为b、厚为d,置于磁场中。
磁场b垂直于薄片平面。
若沿着薄片长的方向有电流I通过,则在侧面A和b间产生电位差Vh?VA?Vb。
此电位差称为霍尔电压。
半导体片中的电子都处于一定的能带之中,但能参与导电的只是导带中的电子和价带中的空穴,它们被称为载流子。
对于n型半导体片来说,多数载流子为电子;在p型半导体中,多数载流子被称为空穴。
再研究半导体的特性时,有事可以忽略少数载流子的影响。
霍尔效应是由运动电荷在磁场中收到洛仑兹力的作用而产生的。
以n型半导体构成的霍尔元件为例,多数载流子为电子,设电子的运动速度为v,则它在磁场中收到的磁场力即洛仑兹力为Fm??ev?bF的方向垂直于v和b构成的平面,并遵守右手螺旋法则,上式表明洛仑兹力F的方向与电荷的正负有关。
自由电子在磁场作用下发生定向便宜,薄片两侧面分别出现了正负电荷的积聚,以两个侧面有了电位差。
同时,由于两侧面之间的电位差的存在,由此而产生静电场,若其电场强度为ex,则电子又受到一个静电力作用,其大小为Fe?eex电子所受的静电力与洛仑兹力相反。
当两个力的大小相等时,达到一种平衡即霍尔电势不再变化,电子也不再偏转,此时,ex?bV两个侧面的电位差Vh?exb由I?nevbd及以上两式得Vh?[1/(ned)]Ib其中:n为单位体积内的电子数;e为电子电量;d为薄片厚度。
令霍尔器件灵敏度系数则Vh?IsVh?KhIb若常数Kh已知,并测定了霍尔电动势Vh和电流I就可由上式求出磁感应强度b的大小。
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实 验 报 告
学生姓名: 学 号: 指导教师: 实验地点: 实验时间:
一、实验室名称:霍尔效应实验室 二、 实验项目名称:霍尔效应法测磁场 三、实验学时: 四、实验原理:
(一)霍耳效应现象
将一块半导体(或金属)薄片放在磁感应强度为B 的磁场中,并让薄片平面与磁场方向(如Y 方向)垂直。
如在薄片的横向(X 方向)加一电流强度为H I 的电流,那么在与磁场方向和电流方向垂直的Z 方向将产生一电动势H U 。
如图1所示,这种现象称为霍耳效应,H U 称为霍耳电压。
霍耳发现,霍耳电压H U 与电流强度H I 和磁感应强度B 成正比,与磁场方向薄片的厚度d 反比,即
d B
I R
U H H =
(1)
式中,比例系数R 称为霍耳系数,对同一材料R 为一常数。
因成品霍耳元件(根据霍耳效应制成的器件)的d 也是一常数,故d R /常用另一常数K 来表示,有
B KI U H H = (2)
式中,K 称为霍耳元件的灵敏度,它是一个重要参数,表示该元件在单位磁感应强度和单位电流作用下霍耳电压的大小。
如果霍耳元件的灵敏度K 知道(一般由实验室给出),再测出电流H I 和霍耳电压H U ,就可根据式
H H
KI U B =
(3)
算出磁感应强度B 。
图1 霍耳效应示意图 图2 霍耳效应解释
(二)霍耳效应的解释
现研究一个长度为l 、宽度为b 、厚度为d 的N 型半导体制成的霍耳元件。
当沿X 方向通以电流H I 后,载流子(对N 型半导体是电子)e 将以平均速度v 沿与电流方向相反的方向运动,在磁感应强度为B 的磁场中,电子将受到洛仑兹力的作用,其大小为
evB f B =
方向沿Z 方向。
在B f 的作用下,电荷将在元件沿Z 方向的两端面堆积形成电场H E (见图2),它会对载流子产生一静电力E f ,其大小为
H E eE f =
方向与洛仑兹力B f 相反,即它是阻止电荷继续堆积的。
当B f 和E f 达到静态平衡后,有
E B f f =,即b eU eE evB H H /==,于是电荷堆积的两端面(Z 方向)的电势差为
vbB U H = (4)
通过的电流H I 可表示为
nevbd I H -=
式中n 是电子浓度,得
nebd I v H
-
=
(5)
将式(5)代人式(4)可得
ned
B
I U H H -
= 可改写为
B KI d
B
I R
U H H H == 该式与式(1)和式(2)一致,ne
R 1
-=就是霍耳系数。
五、实验目的:
研究通电螺线管内部磁场强度
六、实验内容:
(一)测量通电螺线管轴线上的磁场强度的分布情况,并与理论值相比较; (二)研究通电螺线管内部磁场强度与励磁电流的关系。
七、实验器材:
霍耳效应测磁场装置,含集成霍耳器件、螺线管、稳压电源、数字毫伏表、直流毫安表等。
八、实验步骤及操作:
(一)研究通电螺线管轴线上的磁场分布。
要求工作电流H I 和励磁电流N I 都固定,并让
500=M I mA ,逐点(约12-15个点)测试霍耳电压H U ,记下H I 和K 的值,同时记录长直
螺线管的长度和匝数等参数。
1.接线:霍尔传感器的1、3脚为工作电流输入,分别接“I H 输出”的正、负端; 2、4脚为霍尔电压输出,分别接“V H 输入”的正、负端。
螺线管左右接线柱(即“红”、“黑”)分别接励磁电流I M 的“正”、“负”,这时磁场方向为左边N 右边S 。
2、测量时应将“输入选择”开关置于“V H ”挡,将“电压表量程”选择按键开关置于“200” mV 挡,霍尔工作电流I H 调到5.00mA ,霍尔传感器的灵敏度为:245mV/mA/T 。
3、螺线管励磁电流I M 调到“0A ”,记下毫伏表的读数0V (此时励磁电流为0,霍尔工作电流H I 仍保持不变)。
4、再调输出电压调节钮使励磁电流为mA I M 500=。
5、将霍耳元件在螺管线轴线方向左右调节,读出霍耳元件在不同的位置时对应的毫伏表读数i V ,对应的霍耳电压0V V V i Hi -=。
霍尔传感器标尺杆坐标x =0.0mm 对准读数环时,表示霍尔传感器正好位于螺线管最左端,测量时在0.0mm 左右应对称地多测几个数据,推荐的测量点为x =-30.0、-20.0、-12.0、-7.0、-3.0、0.0、3.0、7.0、12.0、20.0、40.0、75.0mm 。
(开始电压变化快的时候位置取密一点,电压变化慢的时候位置取疏一点)。
6、为消除副效应,改变霍耳元件的工作电流方向和磁场方向测量对应的霍耳电压。
计算霍尔电压时,V 1、V 2、V 3、V 4方向的判断:按步骤(4)的方向连线时,I M 、I H 换向开关置
于“O ”(即“+”)时对应于V 1(+B 、+I H ),其余状态依次类推。
霍尔电压的计算公式是V=(V 1-V 2+V 3-V 4)÷ 4 。
7、实验应以螺线管中心处(x ≈75mm )的霍尔电压测量值与理论值进行比较。
测量B~I M
关系时也应在螺线管中心处测量霍尔电压。
8、计算螺线管轴线上磁场的理论值应按照公式)cos (cos 2120
ββμ-=
nI B (参见教材实
验16,p.152公式3-16-6
)计算,即02μNI B L ⎛⎫=理,计算各测量点的理论值,并绘出B 理论~x 曲线与B 测量~x 的原因。
如只计算螺线管中点和端面走向上的磁场强度,
公式分别简化为B =
理
B =
理,分析这两点B 理论与实测不能吻合的原因。
9B ~X 曲线,分析螺线管内磁场的分布规律。
(二)研究励磁特性。
固定H I 和霍耳元件在轴线上的位置(如在螺线管中心),改变M I ,测量相应的H U 。
将霍耳元件调至螺线管中心处(x ≈75mm ),调稳压电源输出电压调节钮使励磁电流在0mA 至600mA 之间变化,每隔100mA 测一次霍耳电压(注意副效应的消除)。
绘制M I ~B 曲线,分析励磁电流与磁感应强度的关系。
九、实验数据及结果分析:
1、计算螺线管轴线上磁场强度的理论值B 理:
实验仪器编号: 6 ,线圈匝数:N = 1535匝 , 线圈长度:L = 150.2mm , 线圈平均直径:D = 18.9mm ,励磁电流:I = 0.500A ,霍尔灵敏度K = 245 mV/mA/T
x =L /2=75.1mm 时得到螺线管中心轴线上的磁场强度:
)mT (37.60189
.01502.00.500
153510142.342
2
42
2
0=+⨯⨯⨯⨯=
+=
-D
L NI μB ;
x =0或x =L 时,得到螺线管两端轴线上的磁场强度:
)mT (20.34
0189.01502.020.500153510142.344
22
2
42
2
0=+⨯⨯⨯=
+=
-//D L NI μB ;
同理,可以计算出轴线上其它各测量点的磁场强度。
2、螺线管轴线上各点霍尔电压测量值和磁场强度计算值及误差
3、不同励磁电流下螺线管中点霍尔电压测量值和磁场强度
零差(I M=0.000A时):V01= 0.3mV ,V02= -0.4mV ,V03= -0.4mV ,V04= 0.3mV
4、螺线管轴线上的磁场强度分布图(注:理论曲线不是必作内容)
5、螺线管中点磁场强度随励磁电流的变化关系图
6、误差分析:(只列出部分,其余略)
B理论~x曲线与B测量~x曲线,不能吻合的原因主要是:
(1)螺线管中部不吻合是由于霍尔灵敏度K存在系统误差,可以通过与实验数据比较进行修正。
(2)霍尔灵敏度K修正后,螺线管两端处的磁场强度的测量值一般偏低,原因是霍尔传感器标尺杆越往外拉,就越倾斜,由于磁场没有完全垂直穿过霍尔传
感器,检测到的霍尔电压就会下降。
(3)x=-30.0mm处磁场强度的测量值一般偏高,因为这里可能螺线管产生的磁场已经很弱,主要是地磁和其它干扰磁场引起检测到的霍尔电压增大。
十、实验结论:
1、在一个有限长通电螺线管内,当L>>R时,轴线上磁场在螺线管中部很大范围内近于均匀,在端面附近变化显著。
2、通电螺线管中心轴线上磁场强度与励磁电流成正比。
十一、总结及心得体会:
1、霍耳元件质脆、引线易断,实验时要注意不要碰触或振动霍耳元件。
I有一额定值,超过额定值后会因发热而烧毁,实验时要注意实验2、霍耳元件的工作电流
H
室给出的额定值,一定不要超过。
3、螺线管励磁电流有一额定值,为避免过热和节约用电,在不测量时应立即断开电源。
4、消除负效应的影响要注意V1、V2、V3、V4的方向定义。
十二、对本实验过程及方法、手段的改进建议:
霍耳元件在螺线管中移动时,与螺线管间有较大间隙,导致霍尔传感器标尺杆越往外拉,就越倾斜,由于磁场没有完全垂直穿过霍尔传感器,检测到的霍尔电压就会下降,从而带来较大的误差。
可以考虑在霍尔传感器标尺杆拉出时,额外增加一个支架类的支撑装置,使其能沿轴线方向移动。