X-R控制图培训
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量工具，如数显卡尺、卷尺、塞尺等 • （11）机器编号：受控工序操作的机器编号
路漫漫其修远兮, 吾将上下而求索
•2011-03
• 合理的子组大小、频率和数据
2、 收
• 在控制时段内，按抽样容量/频率要求，收集产品工序
集
质量或过程特性数据125个或者100个，然后根据抽样
数 据
时间段连续性，将数据分成25个子组，每个子组由4－
•2011-03
5 选择控制图的刻度
• X图：坐标上的刻度值的最大与最小之 差应至少为子组均值X的最大与最小值 差的2倍。
• R图；刻度值应从最低值0开始到最大值 之间的差值为初期阶段所遇到最大极差 R的2倍。
路漫漫其修远兮, 吾将上下而求索
•2011-03
6 将
1） 计算控制限
均 • 计算平均极差（R）及过程平均值（X）。
隔可以增加。
路漫漫其修远兮, 吾将上下而求索
•2011-03
3、
建
立
控 制 图
• 1） X－R通常把数据栏位于X图和R 图的上方，X图画在R图的上方，X和R
及 的值为纵坐标，按时间先后的子组为
记
横坐标，数据值以及极差和均值点纵
录 原
向对齐，数据栏应记录读数的和均值
始 (X)、极差(R)以及日期／时间或其它
5数据组成，每个子组数据是在非常相似的生产条件下
生产出来的，并且相互之间不存在着系统的关系，因
此，每组之间的变差为普通原因造成的，对于所有的
子组的样品应保持恒定。
• 频率：在过程的初期研究中通常是连续进行分组或很 短时间间隔进行分组，检查时间间隔内有否不稳定的
因素存在。当证明过程处于稳定时，子组间的时间间
路漫漫其修远兮, 吾将上下而求索
•2011-03
X控制图 »R控制图
X-R控制图示
»UCL »X »LCL
»UCL »R
路漫漫其修远兮, 吾将上下而求索
•2011-03
7 X-R控制图分析
• （1） 分析均值极差图上的数据点 • A） 点在控制界线外；一个或多个点超出控制限是该点处于失控状
X-R控制图培训
路漫漫其修远兮, 吾将上下而求索
2020年4月4日星期六
统 • 统计过程控制(SPC)，主要应用于对过程变量的控制，它
计
的基本控制原理为3σ原则,即平均值± 3σ作为过程控制
过
的上下限,它是由WALTERA博士在1924年提出
程
控 • 其作用为:
制 • 1、从数据到图形应用统计技术可以反馈生产或服务过程
路漫漫其修远兮, 吾将上下而求索
•2011-03
SPC应用的好处
• 定义：用于长度、重量、时间、强度、成份
一、 等以计量值来管理工程的控制图，利用统计
X-R
手法，设定控制均值X和极差R的界限，同时
控制
图定 利用统计手法判定导致工程质量变异是随机
义的 目的
原因，还是异常原因的图表。
： • 目的：对公司现场制程的初始能力进行监控
值 和
• R= R1＋R2＋．．．．．．＋Rk
极•
k
差•
画 到
• X= X1＋X2＋．．．．．． ＋Xk
控•
K
制 图 上 。
• 式中：K为子组数量，R1和X1即为第1个子组 的极差和均值，R2和Xቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ为第2个子组的极差和 均值，其余类推。
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•2011-03
（2 • 2） 计算控制限
长度尺寸20+0.2-0.1
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•2011-03
• （6）样本容量/频率：抽样测量数据的数量/抽样频 次，如5次（件）/每小时，5次/每日等
• （7）产品型号：受控产品的型号 如XJ-630挤压机 • （9）零件名称：受控产品零件的名称 • （10）测量工具：抽样测量质量或过程特性数据的测
，对有规格变异的产品质量特性或过程质量
特性值进行动态控制，对配套的各种“零部
件”的尺寸进行控制，以判定工程是否处于
稳定状态，并依据制定相应的措施纠正异
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•2011-03
X控制图
路漫漫其修远兮, 吾将上下而求索
•2011-03
X-R控制图示
»UCL »X »LCL
»UCL »R
数
识别子组代码的空间
据.
路漫漫其修远兮, 吾将上下而求索
•2011-03
4 计算每个子组的均值（X）和极差（R
）
•
X1＋X2＋．．．．．．＋Xn
X = —————————————
n
R=X最大值－X最小值 式中：X1、X2．．．．．．Xn为子组内 的每个测量值，n为子组样本容量。
路漫漫其修远兮, 吾将上下而求索
） • UCLX＝ X＋A2R X均值上限
计算
控制 • LCL X＝ X－A2R X 均值下限
限 • UCLR＝D4R
R极差上限
• LCLR＝ D3R R极差下限
N3
4
5
6
7
D4 2.57 2.28 2.11 2.00 1.98
D3
*
*
*
*
0.08
A2 1.02 0.73 0.58 0.48 0.42
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•2011-03
（3） 在控制图上作出平均值和极差控制限的控制线
• 将平均极差(R)和均值X画成水平线，各控制限UCLR、 LCLR、UCLX、LXLX画成水平虚线,把线标上记号。
(4)控制图描点链 将各子组计算出X、R值各作X图和R 图的纵坐标值， 以子组序号为横坐标值，描出X图和R 图中的相应的点 ，注意，在控制界内的点打记，在控制图界外的作⊙ 记，并连成点链。
二、X-R控制图操作程序
• 1、 X-R控制图编号、规格、参数等填写（填写规范如下） • （1）控制图编号 • （2）部门：工程责任部门或单位 • （3）工序：X-R控制图控制的工序 • （4）操作者：工序操作者 • （4）质量特性：说明控制何种计量特性，如工件长度、工作压力
、电机负载转速等 • （5）工程规范：产品质量特性值或过程特性值设计或规范公差如
的 来
性质变化的信息。
源 • 2、帮助我们分析过程变化的原因
和 • 3对于超出控制界限的点采取整改行动。
作
用 • 4根据样本数据可以对过程性质作出评价
• 5、评定生产/过程性质变化与原来过程状态进行比较。
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•2011-03
• 节约成本 • 使标准趋于准确 • 使过程更加稳定 • 使控制规格更加真实 • 减少检验频度 • 减少问题出现的频度 • 改善和提高客户的满意度 • 可靠地测出实际过程能力 • 改善测量结果的准确度 • 改善产品品质 • 减少出货周期时间
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• 合理的子组大小、频率和数据
2、 收
• 在控制时段内，按抽样容量/频率要求，收集产品工序
集
质量或过程特性数据125个或者100个，然后根据抽样
数 据
时间段连续性，将数据分成25个子组，每个子组由4－
•2011-03
5 选择控制图的刻度
• X图：坐标上的刻度值的最大与最小之 差应至少为子组均值X的最大与最小值 差的2倍。
• R图；刻度值应从最低值0开始到最大值 之间的差值为初期阶段所遇到最大极差 R的2倍。
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•2011-03
6 将
1） 计算控制限
均 • 计算平均极差（R）及过程平均值（X）。
隔可以增加。
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•2011-03
3、
建
立
控 制 图
• 1） X－R通常把数据栏位于X图和R 图的上方，X图画在R图的上方，X和R
及 的值为纵坐标，按时间先后的子组为
记
横坐标，数据值以及极差和均值点纵
录 原
向对齐，数据栏应记录读数的和均值
始 (X)、极差(R)以及日期／时间或其它
5数据组成，每个子组数据是在非常相似的生产条件下
生产出来的，并且相互之间不存在着系统的关系，因
此，每组之间的变差为普通原因造成的，对于所有的
子组的样品应保持恒定。
• 频率：在过程的初期研究中通常是连续进行分组或很 短时间间隔进行分组，检查时间间隔内有否不稳定的
因素存在。当证明过程处于稳定时，子组间的时间间
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X控制图 »R控制图
X-R控制图示
»UCL »X »LCL
»UCL »R
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7 X-R控制图分析
• （1） 分析均值极差图上的数据点 • A） 点在控制界线外；一个或多个点超出控制限是该点处于失控状
X-R控制图培训
路漫漫其修远兮, 吾将上下而求索
2020年4月4日星期六
统 • 统计过程控制(SPC)，主要应用于对过程变量的控制，它
计
的基本控制原理为3σ原则,即平均值± 3σ作为过程控制
过
的上下限,它是由WALTERA博士在1924年提出
程
控 • 其作用为:
制 • 1、从数据到图形应用统计技术可以反馈生产或服务过程
路漫漫其修远兮, 吾将上下而求索
•2011-03
SPC应用的好处
• 定义：用于长度、重量、时间、强度、成份
一、 等以计量值来管理工程的控制图，利用统计
X-R
手法，设定控制均值X和极差R的界限，同时
控制
图定 利用统计手法判定导致工程质量变异是随机
义的 目的
原因，还是异常原因的图表。
： • 目的：对公司现场制程的初始能力进行监控
值 和
• R= R1＋R2＋．．．．．．＋Rk
极•
k
差•
画 到
• X= X1＋X2＋．．．．．． ＋Xk
控•
K
制 图 上 。
• 式中：K为子组数量，R1和X1即为第1个子组 的极差和均值，R2和Xቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ为第2个子组的极差和 均值，其余类推。
路漫漫其修远兮, 吾将上下而求索
•2011-03
（2 • 2） 计算控制限
长度尺寸20+0.2-0.1
路漫漫其修远兮, 吾将上下而求索
•2011-03
• （6）样本容量/频率：抽样测量数据的数量/抽样频 次，如5次（件）/每小时，5次/每日等
• （7）产品型号：受控产品的型号 如XJ-630挤压机 • （9）零件名称：受控产品零件的名称 • （10）测量工具：抽样测量质量或过程特性数据的测
，对有规格变异的产品质量特性或过程质量
特性值进行动态控制，对配套的各种“零部
件”的尺寸进行控制，以判定工程是否处于
稳定状态，并依据制定相应的措施纠正异
路漫漫其修远兮, 吾将上下而求索
•2011-03
X控制图
路漫漫其修远兮, 吾将上下而求索
•2011-03
X-R控制图示
»UCL »X »LCL
»UCL »R
数
识别子组代码的空间
据.
路漫漫其修远兮, 吾将上下而求索
•2011-03
4 计算每个子组的均值（X）和极差（R
）
•
X1＋X2＋．．．．．．＋Xn
X = —————————————
n
R=X最大值－X最小值 式中：X1、X2．．．．．．Xn为子组内 的每个测量值，n为子组样本容量。
路漫漫其修远兮, 吾将上下而求索
） • UCLX＝ X＋A2R X均值上限
计算
控制 • LCL X＝ X－A2R X 均值下限
限 • UCLR＝D4R
R极差上限
• LCLR＝ D3R R极差下限
N3
4
5
6
7
D4 2.57 2.28 2.11 2.00 1.98
D3
*
*
*
*
0.08
A2 1.02 0.73 0.58 0.48 0.42
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（3） 在控制图上作出平均值和极差控制限的控制线
• 将平均极差(R)和均值X画成水平线，各控制限UCLR、 LCLR、UCLX、LXLX画成水平虚线,把线标上记号。
(4)控制图描点链 将各子组计算出X、R值各作X图和R 图的纵坐标值， 以子组序号为横坐标值，描出X图和R 图中的相应的点 ，注意，在控制界内的点打记，在控制图界外的作⊙ 记，并连成点链。
二、X-R控制图操作程序
• 1、 X-R控制图编号、规格、参数等填写（填写规范如下） • （1）控制图编号 • （2）部门：工程责任部门或单位 • （3）工序：X-R控制图控制的工序 • （4）操作者：工序操作者 • （4）质量特性：说明控制何种计量特性，如工件长度、工作压力
、电机负载转速等 • （5）工程规范：产品质量特性值或过程特性值设计或规范公差如
的 来
性质变化的信息。
源 • 2、帮助我们分析过程变化的原因
和 • 3对于超出控制界限的点采取整改行动。
作
用 • 4根据样本数据可以对过程性质作出评价
• 5、评定生产/过程性质变化与原来过程状态进行比较。
路漫漫其修远兮, 吾将上下而求索
•2011-03
• 节约成本 • 使标准趋于准确 • 使过程更加稳定 • 使控制规格更加真实 • 减少检验频度 • 减少问题出现的频度 • 改善和提高客户的满意度 • 可靠地测出实际过程能力 • 改善测量结果的准确度 • 改善产品品质 • 减少出货周期时间