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光测量基本知识

光测量基本知识

34
CA-210测量Gamma的优点!
g特性时间测量
RGB各128 阶测量
CA-210
R 测量时间
G 测量时间
B 测量时间
每秒2次 测量速度 仪器 0 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100 110 120 130 140 150 160 170 180 190 200Sec
9300K 6500K
12
色温与相关色温
6500K 等温线
色差△uv为+0.01
相关色温为: 6500K+0.01△uv
13
特征波长(主波长)
A点的特征波长为509nm
特征波长,也称主波长, 是用一个波长值来描述特定 颜色的方法。
A点:(x=0.140,y=0.550)
(x=0.333,y=0.333)
γ 特性
192
相对输出强度
2.2 2 1.8
128
64
0 0 64 128 输入信号强度
32
192
256
Gamma 特性
g的含义?
g有时也称灰度系数, 描述显示器在信号强度 从小到大的过程中, 屏幕从低亮到高亮 上升的陡峭程度。
33
Gamma检测系统
对显示器的Gamma检测可以在8阶、16阶……或是256阶进行。 由信号发生器发出一定强度的信号到显示器,然后由CA-210抓取 屏幕亮度数据,得到一系列的数据。
28
WB检测及调整
配合SDK软件,可以进行快速白平衡检测及白平衡调整
29
LCD屏幕色彩的产生
屏幕上各种色彩是有不同强度的红、绿、蓝组成的。
30
颜色失真
差别
未调整前,蓝色太强,画面发青 色彩再现逼真自然

测试工具-分光光度计测量

测试工具-分光光度计测量

第一单元 测试工具
8
第一单元 测试工具
2. 光的色散 三棱镜、光栅、彩色干涉滤色片
3.测量几何条件 积分球、光泽吸收镜、45°环状 光源
第一单元 测试工具
第一单元 测试工具
4.传感器 光电池、光电二极管或光电倍增管
知识点4 分光光度计的使用
一、分光光度计的标定 • 100%线定标:标准白色标定 常用的标准白是用硫酸钡粉压制的,其绝对反射率在 全部波长范围内总计达到98%。 • 0线定标:标准黑体标定 标准黑体应能吸收全部入射光,反射率为零。
第一单元 测试工具
第一单元 测试工具
2.分光光度计测色法
由色度学知,不同物体表面之所以会呈现不同的颜色是因 为它在光源的照射下存在不同的反射率或透射率。
分光光度计在将整个视觉可见光谱380~780nm范围 内,选取一些离散的点进行测量,波长间隔多为5nm、 10nm、20nm。
∴ 分光光度计首先测量

相对能量
要首先确定光源及其相对光谱能量分布
实际计算时
700 X K 400 S ( ) x( ) ( ) 700 Y K 400 S ( ) y ( ) ( ) Z K 700 S ( ) z ( ) ( ) 400
第一单元 测试工具
总色差
E ab ( L* ) 2 ( a * ) 2 (b * ) 2
*
L* 116(Y / Y0 )1/ 3 16 a
* *
Y / Y0 0.01
1/ 3 1/ 3
明度差 色度差
L* L1 L 2
a * a1 a 2
*
* *
*
*
第一单元 测试工具

光学实验基础知识

光学实验基础知识
1→2 2→3 3→1
第4组:分光计的调节及棱镜玻璃折射率的测定 第5组:用牛顿环干涉测透镜曲率半径 第6组:用单缝衍射测定钠光波长
4→5 5→6 6→4
.
第二轮第一周: 第1组:光具组基点的测定 第2组:望远镜和显微镜 第3组:偏振光的分析 第4组:用旋光计测定糖溶液的浓度
12 3 4 第5组:用透射光栅测定光波波长 第6组:用掠入射法测定透明介质的折射率 第7组:迈克尔逊干涉仪的调节和使用 第8组:单色仪的定标
平行光管出射的平行光射 向三棱镜的两个光学表 面,用望远镜分别接收 两表面的反射光,就可 计算出两束光的夹角Φ。 由几何关系可以证明Φ 与三棱镜顶角A的关系 为: Φ = 2A
.
平行光管
望远镜
A=(α2-α1+β2-β1)/4
.
(三)光源 1.热辐射光源 基于热辐射原理,白炽灯,灯丝加热到白炽状态而发光。 连续光谱,功率较低,碘钨灯,溴钨灯。 2.气体放电光源 电流——气体介质——放电发光。 低压汞灯:小于1个大气压工作,在可见光区产生4条明亮
调节光具座底角的水平调节螺钉(借助水平尺), 使光具座水平。 2.共轴
调节光学系统中各光学元件的光轴,使之共轴。 并让物体发出的成像光束满足近轴光线的要求。
.
3.等高 因为成像公式中的各段距离,都是指光学
系统光轴上的距离,所以要从光具座轨道上的 读数求出符合实际的距离,必须做到光学系统 的光轴和光具座道轨的基线平行——简称等 高。
.
(2) 细调
二次成像法 成小像时,
调节光屏位置, 使P〞与屏中心 重合;
成大像时,则 调节透镜的高低 或左右,使P′位 于光屏中心。依 次反复调节,便 可调好。
.
(二)分光计 精密测角仪:测量棱镜角,偏向角 分光仪器:借助分光元件可观察光谱,测

光电探测器基础知识单选题100道及答案解析

光电探测器基础知识单选题100道及答案解析

光电探测器基础知识单选题100道及答案解析1. 光电探测器的主要作用是()A. 发射光信号B. 接收光信号并转换为电信号C. 增强光信号D. 过滤光信号答案:B解析:光电探测器的主要作用是接收光信号,并将其转换为电信号,以便后续处理和分析。

2. 以下哪种不是常见的光电探测器类型()A. 光电二极管B. 光电三极管C. 热敏电阻D. 雪崩光电二极管答案:C解析:热敏电阻是利用电阻值随温度变化的特性来测量温度的,不是光电探测器。

3. 光电二极管工作在()A. 正向偏置B. 反向偏置C. 零偏置D. 以上均可答案:B解析:光电二极管通常工作在反向偏置状态,以提高其响应速度和灵敏度。

4. 雪崩光电二极管的主要特点是()A. 高灵敏度B. 低噪声C. 高速响应D. 以上都是答案:D解析:雪崩光电二极管具有高灵敏度、低噪声和高速响应等优点。

5. 光电探测器的响应度与()有关A. 入射光波长B. 入射光强度C. 探测器面积D. 以上都是答案:D解析:光电探测器的响应度与入射光波长、入射光强度和探测器面积等因素都有关系。

6. 提高光电探测器响应速度的方法不包括()A. 减小探测器的电容B. 增加负载电阻C. 采用高速的材料D. 优化电路设计答案:B解析:增加负载电阻会降低响应速度,而减小探测器电容、采用高速材料和优化电路设计可以提高响应速度。

7. 以下哪种光电探测器适用于高速光通信()A. 普通光电二极管B. PIN 光电二极管C. 雪崩光电二极管D. 以上均可答案:C解析:雪崩光电二极管具有高速响应特性,适用于高速光通信。

8. 光电探测器的量子效率表示()A. 输出电信号与输入光信号的比值B. 产生的电子-空穴对与入射光子数的比值C. 探测器的灵敏度D. 探测器的噪声水平答案:B解析:量子效率是指产生的电子-空穴对与入射光子数的比值。

9. 光电探测器的噪声主要来源不包括()A. 热噪声B. 散粒噪声C. 1/f 噪声D. 光噪声答案:D解析:光噪声通常不是光电探测器的主要噪声来源,热噪声、散粒噪声和1/f 噪声是常见的噪声来源。

光电检测与技术知识点总结

光电检测与技术知识点总结

光电检测与技术知识点总结一、光电检测基础知识1. 光电效应:光子射入物质时,将能量传递给物质,或者将物质中的粒子激发出来。

前者称为光吸收,后者称为光发射。

2. 光电效应分类:外光电效应、内光电效应和光热效应。

3. 光电效应的应用:光电管、光电倍增管、光电摄像管等。

二、光电检测技术基础1. 光电检测器的分类:根据工作原理,可分为外光电效应检测器、内光电效应检测器和光热效应检测器。

2. 光电检测器的工作特性:光谱响应、频率响应、线性范围、探测率和噪声等。

3. 常用光电检测器:光电二极管、光电晶体管、光电池、光电倍增管等。

三、光电检测系统1. 光电检测系统的基本组成:光源、被测物、光电检测器、信号处理电路和显示设备。

2. 光电检测系统的应用:测量长度、测量角度、测量速度、测量温度等。

3. 光电检测系统的误差来源:光源的不稳定性、光学系统的误差、探测器噪声和信号处理电路的误差等。

四、常用光电检测技术1. 红外线检测技术:利用红外线的热效应,可以测量物体的温度和辐射功率。

红外线传感器有热敏电阻、热电偶等。

2. 激光雷达技术:利用激光的反射和散射,可以测量物体的距离和形状。

常用的激光雷达有脉冲式和连续波式两种。

3. 光纤传感器技术:利用光纤的传光特性,可以测量物体的位移、压力和温度等物理量。

光纤传感器有折射率型、光强调制型和光相位调制型等。

4. 图像传感器技术:利用图像传感器将光学图像转换为电信号,可以测量物体的尺寸和形状。

常用的图像传感器有CCD和CMOS两种。

5. 色彩传感器技术:利用色彩传感器测量物体的颜色和色差,可以应用于颜色识别和颜色检测等方面。

常用的色彩传感器有RGB和CMYK两种。

光学测量的基本知识

光学测量的基本知识

光学测量的基本知识一.典型的光学测试装置-----光具座光具座的类型一般以其上的平行光管EFL的长短来区分,例如: GXY---08A型之EFL=1200mm.我们的光具座:MSFC---Ⅳ型有3个准直镜头,EFL1=550mm,F/NO=10EFL2=200.61mm,F/NO=4EFL3=51.84mm,F/NO=4 其组成如下:1.平行光管. 2.透镜夹持器. 3.V型座. 4测量显微镜.5.导轨底座.6.光源.7. 光源变压器.8.光源调压器.9.附件.1.平行光管又称准直仪,它的作用是提供无限远的目标或给出平行光.其组成如下:物镜EFL=550mm 分划板分划板的形式有多种,例如(1)十字或十字刻度分划板,(2)分辨率板,(3)星点板,(4)玻罗板(PORRO).2.透镜夹持器用来夹持被测镜片或镜头,並保持光轴的一致性.-1-3.V型座用来放置EFL=200.61mm和EFL=51.84mm准直物镜, 並保持光轴一致性.4.测量显微镜是一个带有目镜测微器的显微镜. 用来进行各种测量. 目镜测微器有多种.最常用的是螺杆目镜测微器,其螺距为0.02mm,则每格值为0.002mm.5.导轨底座导轨很精密,用它把1.平行光管. 2.透镜夹持器. 3.V型座. 4测量显微镜等联在一起,称为光具座.6.附件:各种倍数和不同数值孔径的显微镜物镜,各种分划板.光具座主要测量(1)正,负透镜和照相物镜,望远物镜的焦距(EFL).(2)正,负透镜和照相物镜,望远物镜的截距(BFL)(3)检测照相物镜,望远物镜的分辨率.(4)检测照相物镜,望远物镜的星点.(5) 照相物镜,望远物镜的F/NO.(6)加上其它光学器件和机械装置,可以组成多种光学测量装置.-2-一.焦距(EFL)的测量光学系统和透镜的重要参数---焦距(EFL),迄今已有多种行之有效的测量方法.1.放大率法.2.自准直法.3.附加透镜法.4.精密测角法.5. 附加接筒法.6.固定共軛距离法.7. 附加已知焦距透镜法.8.反转法.9.光栅法.10.激光散斑法.11.莫尔条纹同向法.(一)放大率法测量原理是目前最常用的方法,主要用于测量望远物镜,照相物镜,目镜的焦距(EFL)和后截距(BFL).也可以用于生产中检验正,负透镜的焦距(EFL)和后截距(BFL).被测透镜或物镜位于平行光管前, 平行光管物镜焦面上分划板的一对刻线就成像在被测物镜的焦面上.这对刻线的间距y和它的像的间距y¹与平行光管物镜焦距f c和被测物镜的焦距f¹有如下关系:y¹/y = f¹/f¹c 或 f¹ = f¹c(y¹/y)必须指出,由于负透镜成虚像,用测量显微镜观测这个像时, 显微镜的工作距离必须大于负透镜的焦距.-3-(二)一种简易测量焦距的方法在没有光具座的情况下,可用下面简易方法,但精度差.方法:用两次测量不同物距上被测物镜的横向放大率求焦距.根据高斯公式: F*=βX=-X*/β可得F*=E/γ2-γ1γ1=1/β1=Y1/Y1 , γ2=1/β2=Y2/Y2*A. 这种方法存在理论误差,必须要加以修正. 修正系数为:√1+(H/F*)2,所以:F*实际=F*×√1+(H/F*)2B. 镜头的球差对测量有很大影响,所以测出的焦距值是近似值.C. 测量人员的技术和对E,Y1,Y2,Y1*,Y2*测量的准确性非常重要,否则测出的焦距值将远远偏离真正值,而不能相信和使用.D. 焦距的准确测量,必须在光具座上用其它方法进行.E. 为了用这种方法测量, 必须有以下设备:简易导轨,夹持器,白色屏幕,有毫米刻度的物,精度为0.01mm的长度量测仪器.F. 要多次重复量测,取平均值.二.星点检验(一)原理星点检验法是对光学系统进行像质检验的常用方法之一,在光学系统设计,制造及使用中,人们关心的是其像质,並希望将像质与各种影响因素联系起来,借以诊断问题,提出改进措施, 星点检验在一定程度上可胜任上述工作.光学系统对非相干照明物体或自发光物体成像时,可将物光强分布看成是无数多个具有不同强度的独立发光点的集合,每一个发光点经光学系统后,由于衍射和像差以及工艺庇病的影响,在像面处得到的星点像光强分布是一个弥散斑,即点扩散函数(PSF).像面光强分布是所有星点像光强的叠加结果.因此, 星点像光强分布规律决定了光学系统成像的清晰程度,也在一定程度上反映了光学系统成像质量.上述点基元观点是进行星点检验的依据.-4-按点基元观点,通过考察一个点光源(星点)经过光学系统所成像,以及像面前后不同截面衍射图形的光强变化及分布,定性地评价光学系统成像质量,即是星点检验法.上面图形是艾里斑光强分布.(二)星点检验装置1.平行光管,2.光源,3.星孔(星点板),4.观察显微镜.对平行光管的要求:物镜像质要好,通光孔径要大于被检镜头.并用聚光镜照明星孔.星孔直径应小于:D max=0.61λf¹/D其中D---被检镜头入瞳直径f¹---平行光管物镜焦距-5-对观察显微镜的要求: 数值孔径NA等于或大于被检镜头的像方孔径角. 显微镜总放大率应为:Γ=(250~500)D/f¹.D/f¹---被检镜头的相对孔径.星点检验能判定: (1)光学系统的共轴性(2)球差(3)位置色差(4)慧差(5)像散(6)其它工艺疪病-6--7-四.分辨率检测分辨率检测可给出像质的数字指标,容易测量与比较。

OTDR基础培训知识

OTDR基础培训知识
记录数据
在测量过程中,需要随时记录 测量的数据,包括测试波长、
事件损耗、反射率等。
测量结果分析
01
02
03
分析数据
根据记录的数据,分析光 纤的衰减系数、反射系数 等参数,判断光纤的质量 和性能。
定位故障点
通过分析数据中的事件损 耗和反射峰,可以定位光 纤中的故障点,如断点、 连接点等。
生成报告
将分析结果整理成报告, 包括测量参数、测量数据、 分析结果等内容,以便后 续评估和使用。
OTDR主要参数
测量范围
动态范围
OTDR的测量范围是指其可以测量的光纤长 度范围。测量范围越广,OTDR的价值越高 。
动态范围是指OTDR能够测量到的最大和最 小光功率之间的差值。动态范围越大, OTDR的性能越好。
分辨率
测试精度
分辨率是指OTDR能够区分两个相邻事件或 接头的能力。分辨率越高,OTDR的性能越 好。
高精度、高分辨率的OTDR技术能够提供更精确的测量结果,有助于更准确地评估光纤 性能和故障定位。这种技术主要通过采用更先进的光源、更高效的信号处理算法以及更
精细的探测技术来实现。
智能化、自动化的OTDR技术
总结词
智能化、自动化的OTDR技术是未来发展 的重要趋势,能够大大提高测试效率。
VS
详细描述
曲线不光滑可能是由于光缆中的微小变化或OTDR参数设置不正确所导致。
详细描述
当光缆中存在微小的物理变化,如微小的弯曲或挤压,都可能导致曲线不光滑。此外,OTDR的参数设置,如脉 宽和采样间隔,也可能影响曲线的光滑度。解决这一问题的方法是调整OTDR的参数设置,如增加脉宽或减小采 样间隔,以获得更光滑的曲线。
OTDR基础培训知识

《光电测量技术》PPT课件 (2)

《光电测量技术》PPT课件 (2)
热运动的能量,产生光电发射的条件是:光子能量
h·f超过表面逸出功A0。光子能量超过表面逸出功的部 分,表现为电子的能量。
mv2/2=hf-A0
v-电子逸出时的速度;
m-电子的质量。
mv2/2=hf-A0
爱因斯坦光电方程说明光电发生服从以下定律: 1)物体表面发射的电子数(光电流)与光强成正比; 2)光电子的动能随光的频率成正比的增加,而与光强无关; 3)要使光电子逸出物体表面,必须 h·f>A0。对于每种物体
从实验中知道,负载电阻越小,光电流与照度之 间的线性关系越好,且线性范围越宽。
对于不同的负载电阻,可在不同的照度范围内,使 光电流与光强保持线性关系,所以应用光电池作测量 元件时,所用负载电阻的大小,应根据光强的具体情 况而定。总之,负载电阻越小越好。
③光电池的频率特性 光电池在作为测量、计数、接收元
x2
对光量的调制方法:
X1——被测量直接引起光源光量的变化
X2——被测量在光传播过程中调制光量
光电传感器的物理基础是光电效应。
光电效应分两大类型:外光电效应和内光电效应
外光电效应
光照
金属
电子逸出物体表
金属氧化物 面
光照
内光电效应
半导体
电子在物体内部运 动
物体在光的照射下产生电子发射的现象称为光电发射 效应或外光电效应。
( i—光电阴极的光电流)
光电倍增管的电流放大倍数β=I/i=δin
②光电阴极灵敏度和倍增管总灵敏度
◆光电阴极的灵敏度
一个光子在阴极上打出的平均电子数。
◆光电倍增管的总灵敏度
一个光子在阳极上产生的平均电子数。
◆极间电压越高,灵敏度越高;但极间电压也不能太高, 太高反而会使阳极电流不稳。由于光电倍增管的灵敏度很高,所 以不能受强光照射,否则将会损坏。

光学测量仪器的基本部件四自准直目镜

光学测量仪器的基本部件四自准直目镜

0.55 3
103 0.22
)2
2.85 103(mm)
D 2 fm sin u afmnsin u / w 2 12.5 0.2 / 5 1
w

2

250

100 5 250 /12.5
D 2 250 NA 500 0.2 1mm
DQ

55 64

0.86mm

1.清晰度法

SD1
1 3
(0.29 )2 ( 4 )2 1
T D
3D 2
3
(0.29 1)2 ( 4 )2 64 55 3 552

1 6.79 109 6.09 108 3
4.75104 ( 1 ) m

自 准 直 目 镜
平直度检查仪目镜视场 27
第三节光学测量仪器的基本部件

1--反射镜;

2--可动板;

3--压圈;
4--反射镜座;

5--球头螺钉; 6--调节螺钉

(共三个)

体外反射镜结构
28
第三节光学测量仪器的基本部件
四 自 准 直 目 镜
29
第三节光学测量仪器的基本部件
四 自 准 直 目 镜
D 50mm, 焦距
f 550mm
用一个望远镜
DT
100mm,
f
' 0
1200mm, 40
问用清晰度法和消视差法的调校误差, 2, 0.56m 。
清晰度法D=50mm

SD 1 3
( 0.29 D

专业实用的光学测量知识

专业实用的光学测量知识

1>相对孔径一、相对孔径与数值孔径1.定义(见图1-1):相对孔径通光口径与焦距之比D//'像方a.为什么用入瞳直径D不用岀瞳直径D' ?若用它到系统后焦点F的距离就不一左是焦距厂。

若用入瞳直径,对于物在无限远的成像系统来说,不管入瞳在什么地方,相对孔径总是D/f o见图b、为什么用sin u不用tan u ?理想光学系统的物像空间不变式:n 0y•tanu=/?‘ • y1 *tanu1考虑到设计汁算方便,采取规格化(归一化)的措施,故采用正弦代替正切。

相应的,显微镜的设计必须满足正弦条件:n * y ・sin u=n,• y1 "sint/D/f \ NA与对准精度、调焦精度.分辨率.光学传递函数密切相关,而且是D/f\NA 越大,对准、调焦精度越髙,分辨率越高,像质越好。

3 •调焦:焦深是对应久/K (K=4~8)波前误差的像点位垃变化量。

望远物镜、照相物镜的焦深表示为:D/f\ NA 越大,调焦精度越高。

望远物镜 照相物镜显微物镜 1.02Z (小a = ---------- (rad) D、0.51心、 △y =——-(也也) NA 5.像质: 星点直径望远、照相物镜:d = 2・44/l ・F显微物镜: d = \22"NA衍射受限系统的光学传递函数:r c 一截至空间频率< =— (D —出噬直径,d —出瞳而到像平而的距离) kd对于无限远目标成像,d 可用厂替代,贝IJ : 1I F见图1-3。

比越大,像质越好。

2.对准:对准误差用Y 、表示。

/min =(% ~ %0加 1.022 % lh . a = -------- 道斯DD/f\ NA 越大,对准越髙。

叽0=(%~处0.512 s = ---------- NA 道斯显微物镜的焦深表示为:"±2%.(心)22OTF(C = _・71图1-3一七汾吉所谓自准直就是利用光学成像原理使物和像都在同一个平而上的方法。

ch2光电检测技术基础

ch2光电检测技术基础

----面元dS在θ方向dΩ体积 角内的的辐通量dΦe 除立体 角的大小dΩ 和此面元在观 测方向上的表观面积 cosθ(dS)。
L d2v dScosd
L d2e e dScosd
dA d
dScos d N
dS
26
4、光出射度 M
单位:lm/m2
---- 光源单位时间由单位表 面积辐射出的光量(包括所 有方向) ,或者说单位辐射 面发出的光通量。
余弦定律
I I0cos
I0
θI
△S
LScdodsSIcosL I0cos I0
I I0cos
Scos S
常数
30
可证: M d L
dS
根据亮度 L d2
的定义
dScosd
d2 Ld cS o ds
d d d A
d dS
d
dA r2
rd rsind sindd
r2
d2 Ld co S ssid n d d Ld2c So ssin d2d
钠 (1s2 2s2 2p6 3s1 ) 晶 体 能 带
1s
的能带
绝缘体能带

图1.1.1-3导体内的能带
外加电场时,非满带形成电流;而严格满带不产生电流。
半导体在有限温度时,理论的严格满带会变得不满。
导 带(空) 价 带(满)
38
二、能带理论
3. 半导体的导电机制
•导带中的电子
导 带
禁带
电流:电场作用电子的定向运动
一、光的基本性质
光的微粒流学说
牛顿,17世纪:反射、折射
光的波动学说:电磁波
惠更斯,杨氏,麦克斯韦(1860):干涉、衍射、偏振

量测基础知识

量测基础知识

对比一个已知的真实值检查测量 系统或相对于一个已知的标准调 整量具校准测量系统 所有的测量系统需要校准:
校准时可参考 量具制造者的建议。 定期对操作员培训考核。
相关软件
评估测量过程
分辨率? OK 偏移? OK
线性?
OK 稳定性? OK 校准? OK “精确性” (R&R)?
如何确定偏差来源的数量(源于过程和量具的)
重复性
测量系统的固有变动性 在相同条件下,重复检查同一物体,产生相同结果的量具的能力 或...在相同条件下,对同一物体进行重复测量所得的偏 差 • 同一测量者 • 同样的没备 • 同样的工件 • 同样的环境的条件
再现性
在不同的条件下测量同一物体得到相同结果的能力。 不同条件下测量结果的偏差. • 不同的测量人员 • 不同的设备 • 不同的测量工件 • 不同的环境条件
量 测 基 础 知 识
一、基本概念
1、测量:将被测量与标准量进行比较,从而确定 被测量值的过程。 包括:被测量对象,测量误差
2、测量器具:测量仪器和测量工具的总称。
3、量值:带有计量单位的数据表示。
4、测量范围:测量器具所能测量的最大值与最小
值的范围。
5. 分 度 值:测量器具小刻线间距所代表的 量值。 6. 校准:在规定条件下,为确定计量器具示 值误差的一组操作,目的是确定测量设备 的示值误差。 7. 计量确认:为保证计划检测设备满足预定 使用要求所需的一组操作,包括:标准、 调试、修理、再校准、封印和标记等。
part 3
9.3 方法误差 种误差是由于检验方法本身不完善所造成。 如:不正当地安置工件而引起的测量误差。 9.4 由检验员本身的一些主观因素造成的误
差。如观测方向歪斜产生观测误差;实验 条件控制不严格,不按操作规程检验产生 的误差。
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光量測基礎知識介紹(一) 簡介光度測量學(photometry)是測量人眼對光的響應的科學,, 由於人眼是一個高度複雜的器官,這無疑是一個非常困難的工作。

它涉及到多個學科,心理學、生理學和物理學等。

1924年,CIE(國際照明委員會)組織會議定義人眼對光平均對應值,從此光度測量學就成為一門現代學科。

該委員會抽樣測試了大量人群,將得到的數據繪製成明視(photopic)視含數曲線。

該曲線表明人眼對綠光反應最敏感,對紫光和紅光則反應較弱。

但實驗表明,在暗視場情況下,人眼有完全不同的感應值,在此情況下,人眼也無法辨別顏色。

于是,又進行了一系列測試,繪製出了暗視(scotopic)視含數曲線。

有了人眼的光譜感應曲線,CIE規定了標準光源作為光強量測的標準。

第一個標準光源是一特殊的蠟燭,由此得出footcandle和candlepower的定義。

為了最大可能的提升重複性,1948年,對標準進行了重新定義--一定量的金屬鉑融化所發出的光。

(二) 基本概念光度(光度學)的基本概念是流明(lumen),是一個與輻射度(radiometric)(幅射度學)中的Watt , 相關的概念,關系如下︰lm = 683 * W * V(λ)V(λ)-相對發光度,由視函數得出的一個系數,把人眼在555nm(最靈敏波長)的值規定為1 。

兩個重要的光度學定理︰1、平方反比定理:連續光強光源在光接受表面的照度(illumination)與光源到接受表面距離之間的關系, 即照度值與該光源到接收面之間的距離的平方成反比。

因此,理想的照度測量必須要能精確控制距離的大小,如果某光源在某一距離的照度值已知,除非其他條件影響,任何距離的照度都可以經計算獲得。

2、余弦定理︰一定面積上的光強,因入射角的不同而隨之變化,這是因為實際投影面積隨入射角的增大成比例的減少。

這樣,在環境照明測試時,探頭需要進行余弦校正來計算實際值。

否則,就會產生相當大的誤差,尤其當入射角較小時,誤差更大。

光度量測的主要問題是如何再現人眼對光譜的附應。

電子探頭獨特的對應特徵完全不同于CIE標準觀者。

為此,探頭必須能按光譜校正數據。

通常有兩個方法達到該目的,a. 是通過不同波長掃描、探測--- 掃描法是用單色儀或多通道探測器來完成測試,在這種方法裡,光源的光強被逐一波長的測試,測得的數據根據明視視函數進行計算,得到測量結果。

由上可見,該技術需要微處理器,要有一定的掃描精度,因此並不實用,而且,價格昂貴,操作複雜。

b. 是匹配濾濾光片法----- 光學濾光片法提供了一個簡單、經濟的解決方案。

因只有一個光電信號需要處理,因此一個單通道的電子處理器即可。

近來濾光片設計技術的改進,以及固體探測器技術的提升,提高了該技術在光度量測上的正確度。

濾光片匹配技術是在探測器前加一有色濾光鏡(colored-glass filter),該濾光鏡可以對不同波長進行選擇性衰減,直到符合CIE視函數曲線。

平面散射的Si光敏二極體,在可見光譜範圍內具有良好的線性對應和極高的靈敏度,因此是理想的光探測器。

使用Si探測器,再加上先進的濾光片設計,UDTI公司的光度計與CIE 視見函數曲線僅有1%的誤差。

根據CIE的統計,這是最佳的匹配值。

表示光度量測探頭性能的一個非常重要的參數就是f1′,這是由CIE協會定義的一個數值,由光度探測器的平均誤差與CIE視函數的比值得該數值。

最高精度------實驗室級精度的探測器的f1′<1.5%,一般的應用要求f1′<3%。

需要指出的是,探測器與濾光片之間的匹配是非常精密的,一旦匹配完成之后,就不能與其他的探測器/濾光片的配對互換。

每一個探測器都有一個獨特的響應特征,需要與特定濃度和層數的濾光片結合。

探測器的對應值確定了以後,就要用標準轉移技術來進行校正。

標準探測器由NIST提供。

將探測器/濾光片的配對定位于一個光源前,光源要求能夠輸出連續波長和強度,一般用鹵化鎢燈。

這樣,對被校正探測器的輸出電信號與標準探測器的信號進行對比。

探頭的光對應值確定了以後,就可以匹配一個精密的增益控制電子放大器和數據讀出系統。

三、重要術語光度量及单位光通量luminous flux ---- lm光通量的單位是流明(lumen),是光度量的基本單位,表示可見光源所有的光輸出量。

因此,光通量的測量要求能夠將所有的光能量收集到光探測器上,對于發散光源,如LED、燈源等,光通量的測量就比較困難,這時就要用積分球來測量。

光照度illuminance光照度是指單位面積所接受的入射光的量 。

在英製單位裡,1平方英尺的面積上接受到1個流明的光通量,定義為1 footcandel。

公製單位中,每平方米1個流明為1勒克斯(lux),10.76lux=1footcandle. 當然,探頭不可能有這么大的面積,所以,探頭的面積要相應的乘以一定的倍數。

由於探頭的面積不再由被照射的面積決定,因此當測量值超過探頭的測量範圍或在矯正光學的后面時,就要特別注意。

例如,照度測量時,經常由於光線偏離垂直光軸而造成測試錯誤。

這時,探頭就要配一個余弦校正器。

由於余弦接受器仍然要投影到探頭上,因此,余弦接受器的面積並不是探頭的面積,只是代表測試面積。

光出射度(luminous exitance)光出射度是表征光源自身性質的一個物理量。

光源的光通量除以光源的面積就得到光源的光出射度值。

光出射度用lumen/═表示,但與照度測試和lux不同,光出射度中的面積是指光源的面積,而不是被照射的面積。

平板發射會測試該值。

光強(luminous intensity)--- cd光強也是表征光源的性質的物理量,是指所有的直射光和發散光。

用均勻發射到球面角的光通量來表示光強的大小。

光強的基本單位是坎德拉(candela),相當于1流明/球面度(lumen/steradian)。

光強的定義有兩點需要說明,一、該測量不適用于校正光源;二、對非均勻發射源,光強是不確定的。

要得到光強值,必須知道探頭的面積(或由探頭前面的光圈決定的面積)和測量的距離,這樣就可以計算出球面角,用光通量的數值除以球面角,就得到光強值。

光亮度(luminance)如大家所知的亮度(brightness),光亮度(luminance)也是對相對平坦、均勻的平面反射或發射的光的量測。

測量時要考慮到測試的表面積和觀測者的視角。

光亮度可以看作是每單位面積的光強,所以在光量度單位中用candela/ m2表示,但是許多其他的定義也應用到該測量中,一些單位是用來測圓形面積,而不是方形。

(見光度量單位表)要測量亮度,必須嚴格規定探頭的視場和計算角度,通常要用到透鏡和反射板(baffle)。

實際上,人眼就相當于一個光亮度計。

注意,只要探頭的視場被充滿,探頭與測試平板之間的距離決定測量的結果。

這是因為,視場大小尺寸和光源的強度與距離成正比函數關係。

光度量(luminance energy)光度量是指放出的光通量,用流明‧秒表示。

多用于脈波光源或閃光光源。

基于時間的光度量是可以測量的,如可對閃光燈在某一方向上的照度對時間進行積分,得到footcandle‧秒。

四、如何建立光度測試系統建立一個光量測系統需要三步。

首先,對光源進行評估,決定用何種方法進行測試;然後,選擇合適的探測器及光學系統(探頭);最後,為探頭配置電子設施,以提供應用所需的操作界面。

評估光源探測器對量測的正確與否有著非常重要的作用,畢竟光度量測與人眼對光的響應緊密相關,因此,首要的問題是,人眼是如何對被測的光源進行響應的。

比方說,測量周遭環境的照明情況,是想知道,人眼在某一範圍上是否可以看清文字或物體,關心的並不是光源的功率,而是在該塊面積被照亮的程度如何。

由此可見,無論是室外,還是辦公室、工廠,要測的光度量是照度。

但是,如果在同樣的房間或空間,希望知道牆、紡織物或印刷品的亮度,需測的參數就要改變了,因為此時人們所關心的是反射到人眼的光的量。

由于這些表面是散射光,相對均勻,最好是測亮度。

電子顯示,如CRT、電子顯示面板等,發出的光直接進入人眼,由於文字字符和線條細節太小,所以測試系統的視場(F.O.V.)必須進行限定,使得只有被照亮的部分可以測到。

這樣,根據定義,要測的量就是光亮度(luminance),因此顯示屏的亮度經常用 footlambert來表示。

燈源的應用很多,很難用一個光度量來表示。

如前所提到的,用于空間照明(如,房間、街道體育場)的燈源或燈源系統,主要是照度測試。

但是,在汽車的外部照明應用中,前燈要測試照度、尾燈則要測試亮度。

市場上的許多微光源、透鏡光源,由於是發散光,肯定要測發光強度。

白熾燈和熒光燈生產廠用光通量(或等量的輻射值Watt)來檢驗產品,這是因為,它們都是固定在某一位置,散射光,必須測量它的所有發射光。

鐳射和發光二極體也需要類似的測試。

在科學應用上,一般測試輻射參數,但是,當研究它們對人眼的潛在傷害時,往往要測試光通量。

透鏡LED雖然是直射光源,但存在發散角,發光強度(光強)可以很好地表征該性質。

對于表面或邊發射的LED,很顯然,發射光是與表面積相關的函數關係,這時,就要測光出射度。

光量測試用于週期性的光源,脈波LED、攝影用的閃光單元、閃光燈、弧光燈系統、旋轉或掃描燈,光通量都是隨時間變化的光源。

正確選擇探頭測試類型決定了探頭及附件的選擇。

在任何測試中,都要用到Si光敏二極體探測器(sensor)、探測器外罩、光度濾光片。

在光通量的測試時,探頭必須能將所有的入射光聚焦或校正到探測器上。

如果,光通量超出了探測器的極限,輸出的信號就失去線性。

這時就要對光進行衰減。

中性濾光片(ND Filter)、光圈、積分球可達到該要求。

衰減元件的選擇要要根據衰減值的要求︰既不至于超過探測器的飽和度,又要保証探測器的響應靈敏度和動態范圍。

如果光是垂直入射的,簡單的探測器、濾光片組合就可以進行環境測量。

但當入射光偏離法線時,如光從窗戶或其它外部光源入射時,就需要余弦接受器。

積分球除了在燈源製造業廣泛應用外,對LED、微光源等發散光源也十分有用。

它可以確保插入積分球入口的光源的所有光被收集起來。

亮度的測量要對探頭定義視場,光源的被測範圍大小和探測器到被測物的距離可以計算出夾角,比較大、近場,簡單的擋板(baffle),如球面遮光物、光圈將被用到。

但對于較小的圖像,如CRT等,就需要透鏡系統,在一定距離進行測試。

UDTI公司提供各種亮度測試用的透鏡、光學附件,包括顯微測試和遠程測試。

選擇與應用匹配的電子設備五、如何定量測試輻射系統選擇一靈敏的探測器和正確的讀數設備,對于測試準確度有著重要的影響。

探測器將電磁波信號轉化為電信號,然後讀取設備接收到這些信號,並進行處理。

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