SPC统计过程控制培训

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6、建立控制用控制图
当分析用控制图显示生产过程处于统计 受控状态,且过程能力满足技术标准的要 求时,可以把分析用控制图的控制界限延 长作为控制用控制图的控制界限。至此, 控制用控制图的制作过程全部完成。
7、使用控制图的注ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ事项
7.1 在5M1E因素未加控制,过程处于不稳 定状态下就使用控制图
7.2 把公差范围或内控标准当作控制界限 7.3 过程能力不足,Cp1的情况下就使用控
采集数据的方法: 1)样本组内的数据应在短时间内
抽取,以避免特殊原因进入; 2)样本之间可采用等时抽样方法。
4.6 计算各样本统计量 1)X-R图中要计算 X 及 R 值;
2)P或 nP图要计算 P值;
4.7 计算统计量的控制界限 计量值控制图控制界限计算公式
计数值控制图控制界限计算公式
控制界限常用系数表
7、C控制图:
用于控制一定单位中所出现的不合格 数目。常见的有控制布匹、钢板上的疵点 数、铸件上的沙眼数、设备的故障次数、 印刷品的错误数等等。类似于np图,C控制 图的样本大小必须保持不变。
8、U控制图:
用于平均每单位的不合格数。当样本 大小变化时应换算成平均每单位的不合格 数后再使用U控制图。但控制界限出现凹 凸状。
4.8 作图打点 • X图在上,R图在下; • X图上纵坐标的单位刻度的量值是R图上纵
坐标单位刻度量值的一半; • 控制图上,上下控制界限外要留有余地; • 控制图中,中心线是实线,上下控制界限
为虚线。
5、控制图的观察与分析 5.1 受控状态判断规则
• 连续25点都在界内,且排列无缺陷; • 连续35点中至多一点出界 ,且排列无
np图(n相同) --- 不合格品数控制图; p图(n可不同)--- 不合格品率控制图; 计点值: C图(n相同) --- 不合格数控制图; U图(n可不同)--- 单位不合格品数控制图;
控制图的分类
1、X-R控制图:
对于计量值数据而言,这是最常用最基本 的控制图。
它用于控制对象为长度、重量、强度、纯 度、时间、收率和生产量等计量值的场合。
--- 标准差
4.1.2 正态分布的参数 、
4.1.3 正态分布的特点
• 曲线以 x = 直线为轴,左右对称 • 曲线与横坐标轴所围成的面积等于1
其中 在±范围内的面积占68.26 % 在±2范围内的面积占95.45 % 在±3范围内的面积占99.73 %
y
4 . 2 二项分布
4、过程性能指数 4.3 过程能力与过程性能的关系 4.3.3 CPK 和 PPK 的大小 由于计算CPK 时,过程处于统计稳定,只含 有普通原因。 计算PPK 时,过程除普通原因外,还含有特 殊原因。 通常情况下, CPK 大于 PPK 值
7、两类错误的风险
7.1 第一类错误(弃真错误) ——虚发警报,概率记为
7.2 第二类错误(纳伪错误) ——漏发警报,概率记为
二、统计过程控制( SPC )
1、背景介绍 2、类型
2.1 按数据性质分: 2.1.1 计量值控制图 X - S图、X - R图、 X - R图、X - MR图
2.1.2 计数值控制图 计件值:
1)计量值数据、计数值数据对应不同 的控制图;
2)X-R图中,样本容量通常取4 - 6; 3)计数值控制图的样本容量通常大于50;
4.4 确定样本组数(k)、抽样频率 1)通常样本组数应大于等于25; 2)抽样频率应由过程的稳定程度 决定。
4.5 收集数据 --合理子组原则: 1)组内差异只由普通原因造成; 2)组间差异主要由特殊原因造成。
不同类型控制图的适用范围
2.2 按用途分: 2.2.1 分析用控制图(初始研究); 2.2.2 控制用控制图;
3、原理 —— 正态分布的3法则
4、建立分析用控制图的步骤 ( X-R图为例)
4.1 准备工作 1) 管理者的参与和支持; 2)每个参与者应积极、客观、公正; 3)测量系统应处于稳定状态。
5、np控制图:
用于控制不合格品数的计数值场合。设 n为样本大小,p为不合格品率,np为不合格 品个数。故np图为不合格品数控制图。这时 要求样本大小n相等,才能应用此图。
6、p控制图:
用于控制不合格品率的场合。常见的 有控制不合格品率、废品率、缺勤率、交 货延迟率、差错率等等。此时样本大小可 以不等,但控制界限出现凹凸状。
4.2 选取拟控制的质量特性值 -- KIV 1)必须是对质量特性值(KOV)有显著
影响的变量(KIV),若有显著影响的变量 很多,可找出其中影响在大的变量;
2)必须是可控制的变量; 3)必须是可测量的,并且有明确的标准 或技术要求。
常用的方法有:因果图、排列图、试验 设计等。
4.3 根据数据的特点及样本容量的大小 决定选用控制图的种类
2.2.2 给定单向公差 CPU = (Tu - X) / 3 (Tu - X ) / 3 p = 1 - ( 3CPU )
( 上公差)
CPL =(X - T L )/ 3 (X - T L )/ 3
p = 1 - ( 3CPL )
( 下公差)
3、过程能力指数的评定
过程能力指数CP值与不合格品率的关系
4、过程性能指数 4.1 过程性能
当过程处于初始研究阶段、或过程不一定处于 统计稳定时,用过程的总变差的6倍,即6S来表示 过程性能。
这里的总变差是由普通原因和特殊原因所造成 的总变差。
即: 这里的 N 是所有抽样的单值读数的总数量。 则:过程性能 = 6 = 6S
4、过程性能指数
4.2 过程性能指数
制图 7.4 样本数不足,样本容量选择不当 7.5 抽样方法不当 7.6 当5M1E变化时或控制图使用一段时间后,
应当重新计算控制界限
三、过程能力分析
1 过程能力 2 过程能力指数 3 过程能力指数的评定 4 过程性能指数 5 提高过程能力指数的途径
1 过程能力
过程能力指5M1E在标准状态下,过 程在统计受控状态下,产品的质量特 性值的波动幅度。又称加工精度。即 过程在统计稳定状态下的实际加工能 力。
X图主要用于观察正态分布的均值的变化, R图用于观察正态分布的分散情况即标准 差的变化, 而X -R控制图将二者联合,用于观察正 态分布的变化。
2、X-S控制图:
它与X-R图相似,只是用S图代替R图。 当样本大小n10时,用极差估计总体标准差 的效率降低,应用S图来代替R图。
3、X-R控制图:
随机变量X服从二项分布, 记为 X~ b(n , p ) ,其分布列为:
4 . 2 . 3 二项分布的均值、方差和标准差
均值: E(X)=np ;
方差: Var(X) = np (1 - p );
标准差:
;
4 . 3 泊松分布: (常见于计点分布 )
二项分布的极限分布 — P() • 分布列
• 均值、方差和标准差
缺陷; • 连续100点中至多二点出界,且排列无
缺陷 。
5.2 判断异常规则
• 点子出界
• 控制界内点子排列有缺陷 1)链:在中心线一侧连续出现的点子; 连续9点在中心线一侧;
2)连续3点中2点在中心线同一侧的A区; 3)连续6点上升或下降; 4)连续14点上下交替; 5)连续15点在C区; 6)连续5点中4点在中心线同一侧的C区以外; 7)连续8点在中心线两侧,但无一在C区。
X~(n,p)
4 . 2 .1 由n个随机试验组成的随机现象,满足

• 能在相同条件下,重复进行n次试验;
• n 次试验相互独立;
• 每次试验的结果只有两个;
事件A发生或不发生;
• 每次试验中,事件A发生的概率为
P( A )= p ,则 P(A)=1- p ;
4 .2 . 2 二项分布的定义: 设X为n次试验中事件A发生的次数,称
3、总体和样本(子组)
3.1 总体 研究对象的全体 总体含量记为 N
3.2 样本(子组) 总体中的部分样品 样本含量记为 n
4、常见的典型分布
4.1 正态分布 —— 计量值数据 4.2 二项分布 —— 计件值数据 4.3 泊松分布 —— 计点值数据
4.1 正态分布 4.1.1 正态分布曲线
y
---平均值
SPC统计过程控制培训
• SPC 是利用数理统计原理采用控制图
的方法对生产过程进行全面监控
• 它主要区分由特殊原因引起的异常波 动还是由普通原因引起的正常波动
一、基础知识
1、产品质量波动 1.1 正常波动
普通原因(随机)---正常波动---过程受控 2.2 异常波动
特殊原因(非随机)---异常波动---过程失 控
• 分布中心X与公差中心M不重合时 中心偏移量 = | M - X| 中心偏移度 k = 2 / T Cpk = Cp (1 - k ) = (T - 2 )/ 6 (T - 2 )/ 6 不合格品率
p = 2 - [( 3Cpk) + ( 3Cpk+2 /)]
4.2.1 当过程中心 与规范中心 M 重合时 过程性能指数 PP = ( USL - LSL )/ 6 S
4.2.2 当过程中心 与规范中心 M 不重合时 过程性能指数 PPK 为( USL - )/ 6 S 与 ( - LSL )/ 6 S 的最小值
4、 过程性能指数
4.3 过程能力与过程性能的关系 4.3.1 定义的区别 过程能力 —— 过程处于统计稳定 过程性能 —— 过程不一定处于统计稳定 ( 包含初始研究阶段) 4.3.2 计算式的区别 过程能力: 用 R/d2 或 S/ C4 估计过程 固有变差 过程性能: 用过程的单值读数的总变差 为估计值
它与X-R图也相似,只是用中位数(X) 图代替均值(X)图。
4、X - MR图
它与X-R图也相似,用单值的X值的控制图 来代替X图。
它适用于这样的场合:对每一个产品都进行 检验,采用自动化检查和测量的场合;取样 费事、昂贵的场合以及化工等气体与液体流 程式过程,产品均匀,多抽样也无太大意义 的场合。由于信息较少,所以它判断过程变 化的灵敏度也较差。
2、过程能力指数 2.1 定义
Cp = T / 6 ;
( T: 公差或规范范围) 它表示过程固有的能力满足公差或 规范要求的能力。
2.2 过程能力指数的计算 — 过程处于统计受控状态并且质量特性值 属计量值数据且服从正态分布; 2.2.1 给定双向公差( Tu、TL ) • 分布中心X与公差中心 M重合时 Cp = T / 6 (Tu - TL) / 6 不合格品率 p = 2 [ 1 - ( 3Cp )]
2、 统计数据分类
2.1 计量数据 凡可以连续取值的数据 例:长度、重量、浓度、时间等
2.2 计数数据 只能由0和1、2 等自然数计数的数据 例:不合格品数、事故数、疵点数、 沙眼数等
2.2.1 计件数据 按件计数的数据
例:不合格品数等
2.2.2 计点数据 按点计数的数据
例:疵点数、沙眼数等
均值: E(X)= ;
方差: V(X)= ;
标准差:

5、 统计特征数
数据的两个特征: 平均数、偏差程度 5.1 样本平均数 X = 5.2 样本中位数 X
5.3 样本方差
S2 =
5.4 样本标准差 S =
5.5 样本极差
R = Xmax-Xmin
6、随机抽样的方法
6.1 简单随机抽样法 6.2 系统抽样法 6.3 分层抽样法 6.4 整群抽样法
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