第一篇2-X射线衍射的几何原理

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o 数倍时,相邻原子面散射波干涉加强,因此,产生 θ θ 衍射的条件是: d
2d(hkl)·sinθ =n λ
dsinθ P Dept. of MSE, CQU
θ
R
Q
θ
d
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材料X射线衍射与电子显微学
X射线衍射的几何原理
λ
θ θ
o
θ θ
d d
Q P dsinθ λ/2
R
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⎡⎛ h ⎞ 2 ⎛ k ⎞ 2 ⎛ l ⎞ 2 ⎤ 2 d hkl ⎢⎜ ⎟ + ⎜ ⎟ + ⎜ ⎟ ⎥ = cos 2 α + cos 2 β + cos 2 γ ⎢⎝ a ⎠ ⎝ b ⎠ ⎝ c ⎠ ⎥ ⎣ ⎦
若晶体的三个基本矢量相互垂直,则有关系:
cos 2 α + cos 2 β + cos 2 γ = 1
2 2 2 2
六方晶系
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材料X射线衍射与电子显微学
X射线衍射的几何原理
2.2 布拉格定律
布拉格定律是X射线在晶体中产生衍射所必须满足 的基本条件,它反映了衍射方向与晶体结构之间的关 系。它是英国物理学家布拉格父子于1912年首先推导 出来的。
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X射线衍射的几何原理
Intensity (%)
(c) 体心四方 a=b=0.286nm,c=0.320nm
1,0,3 2,2,0 100 105 110
3,0,1,1,0 3 115
2 θ (ϒ©) 120
35 Intensity (%)
100 90 80 70 60 50 40 30 20 10 0 35
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材料X射线衍射与电子显微学
X射线衍射的几何原理
正交晶系
d hkl =
1 ⎛h⎞ ⎛k ⎞ ⎛ l ⎞ ⎜ ⎟ +⎜ ⎟ +⎜ ⎟ ⎝a⎠ ⎝b⎠ ⎝c⎠
2 2 2
立方晶系
d hkl =
d hkl =
a h2 + k 2 + l 2
1 4 ⎛ h + hk + k ⎞ ⎛ l ⎞ ⎜ ⎟ +⎜ ⎟ 2 3⎝ a ⎠ ⎝c⎠
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材料X射线衍射与电子显微学
X射线衍射的几何原理
布喇ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ点阵
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材料X射线衍射与电子显微学
X射线衍射的几何原理
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材料X射线衍射与电子显微学
X射线衍射的几何原理
晶面间距
晶面间距公式的推导:
d hkl = a b c cos α = cos β = cos γ h k l
2dhklsinθ = λ
式中hkl为衍射指标。
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材料X射线衍射与电子显微学
X射线衍射的几何原理
衍射花样和晶体结构的关系
从布拉格方程可以看出,在波长一定的情况下,衍射线 的方向是晶面间距d的函数。如果将各晶系的d值代入布拉格 方程,可得: 立方晶系:
Sin θ =
θ θ
o
θ θ
d d
R dsinθ P
Q
布拉格定律的推导(多层原子面的反射)
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材料X射线衍射与电子显微学
X射线衍射的几何原理
由O、P两原子产生的散射线的光程差为:
δ= RP + QP ; RP = QP =d sinθ δ= 2d sinθ
根据相干波的干涉原理,当光程差等于波长的整
0,1,1 1,0,1 1,1,0
(d) 体心正交: a= 0.286nm, b=0.300nm, c=0.320nm
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材料X射线衍射与电子显微学
X射线衍射的几何原理
X射线的衍射方向遵守光学镜面反射定律。
散射线、入射线与反射面的法线共面且在法线两侧,散 射线与反射面的夹角等于入射线与反射面的夹角。
θ
θ
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材料X射线衍射与电子显微学
X射线衍射的几何原理
由此可见,布拉格方程可以反映出晶体结构中晶 胞大小及形状的变化,但是并未反映出晶胞中原子的 品种和位置。
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材料X射线衍射与电子显微学
Intensity (%) 100 90 80 70 60 50 40 30 20 10 0 35 40 45 50 55 60 65 70 75 80 85 90 95 2,0,0 (65.03,14.9) 2,1,1 (82.35,28.1) 1,1,0 (44.68,100.0)
P
Q
θ
A B a
β
布拉格定律的推导(一个原子面的反射)
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材料X射线衍射与电子显微学
X射线衍射的几何原理
根据光的干涉原理,当光程差等于波长的整数 倍(nλ)时,在β角散射方向干涉加强。假定原子 面上所有原子的散射线同位相,即光程差δ=0,从 上式可得θ=β。 当入射角与散射角相等时,一层原子面上所有散 射波干涉将会加强。与可见光的反射定律类似,X 射线从一层原子面呈镜面反射的方向,就是散射线 干涉加强的方向。因此,常将这种散射称为镜面反 射。
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材料X射线衍射与电子显微学
X射线衍射的几何原理
本章主要内容
2.1 晶体几何学简介; 2.2 布拉格定律; 2.3 倒易点阵; 2.4 衍射矢量方程和厄尔瓦德图解
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材料X射线衍射与电子显微学
X射线衍射的几何原理
2.1 晶体几何学简介
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材料X射线衍射与电子显微学
X射线衍射的几何原理
(二)布拉格方程的讨论
• • • • 选择反射 产生衍射的极限条件 干涉面和干涉指数 衍射花样和晶体结构的关系
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材料X射线衍射与电子显微学
X射线衍射的几何原理
选择反射
X射线在晶体中的衍射实质上是晶体中各原子散射波 之间的干涉结果。只是由于衍射线的方向恰好相当于原子 面对入射线的反射,所以借用镜面反射规律来描述衍射几 何。 但是X射线的原子面反射和可见光的镜面反射不同。一 束可见光以任意角度投射到镜面上都可以产生反射,而原 子面对X射线的反射并不是任意的,只有当θ、λ、d三者之 间满足布拉格方程时才能发生反射,所以把X射线这种反射 称为选择反射。
晶面和晶向指数
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材料X射线衍射与电子显微学
X射线衍射的几何原理
晶面指数确定方法: A、量出待定晶面在三个晶轴的截距,并用点阵周期a, b, c度量它们。 B、取三个截距系数的倒数 C、把它约简化为最简的整数h, k, l, 并用小括号括起来,就构成该晶面 的晶面指数(h k l)。
材料X射线衍射与电子显微学
X射线衍射的几何原理
第二章 X射线衍射的几何原理
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材料X射线衍射与电子显微学
X射线衍射的几何原理
本章导言
衍射的本质是晶体中各原子相干散射波叠加(合成)的结 果。 衍射波的两个基本特征——衍射线(束)在空间分布的方 位(衍射方向)和强度,与晶体内原子分布规律(晶体结 构)密切相关。利用X射线衍射可揭示物质的晶体结构。 X射线在晶体上衍射是这样一个过程: X射线照到晶体上,晶体作为光栅产生衍射花样,衍射 花样反映了光学显微镜所看不到的晶体结构的特征。 我们的目的就是利用衍射花样来推断晶体中质点的排 列规律。
dHKL=d(nh nk nl) = d(hkl)/n
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材料X射线衍射与电子显微学
X射线衍射的几何原理
将布拉格方程中的n隐含在d中,可得到简化的布拉格方程:
d hkl 2 sinθ = λ n
令 d HKL
d hkl = sinθ , 有 n
2d HKLsinθ = λ
(b) 体心立方 W a=b=c=0.3165 nm
X射线衍射花样与晶胞形状及大小之间的关系
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材料X射线衍射与电子显微学
1,0,1 100 90 80 70 60 50 40 30 20 10 0 40 45 50 55 60 65 70 75 80 85 90 95 0,0,2 2,0,0 1,1,2 2,0,2 2,1,1 1,1,0
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材料X射线衍射与电子显微学
X射线衍射的几何原理
• 布拉格方程的导出 • 布拉格方程的讨论
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材料X射线衍射与电子显微学
X射线衍射的几何原理
(一)布拉格方程的导出
当X射线以θ角入射到原子面并以β角散射时,相距 为a的两原子散射X射线的光程差为:
δ = a(cosθ - cosβ)
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材料X射线衍射与电子显微学
X射线衍射的几何原理
干涉面和干涉指数
在实际工作中,为了方便,一般将晶面(hkl)的n级衍射 作为假想的晶面(nh nk nl)的一级衍射来考虑。 由于带有公因子n的平面(nh nk nl)是一组和(hkl)平行的 平面,且其面间距d(nh nk nl)和相邻两个晶面的间距d(hkl)的具有 以下关系:
X射线衍射的几何原理
(a) 体心立方 α−Fe a=b=c=0.2866 nm
3,1,0 2,2,0 (98.96,9.3) 2 θ (ϒ©) 100 105 110 115 120 (116.40,16.6)
Intensity (%) 1,1,0 100 90 80 70 60 50 40 30 20 10 0 35 40 45 50 55 60 65 70 75 80 85 90 95 100 105 110 115 2,0,0 2,2,0 3,1,0 2,2,2 2 θ (ϒ©) 120 2,1,1
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材料X射线衍射与电子显微学
X射线衍射的几何原理
晶向指数确定方法: A、过坐标原点找一条平行于待定晶向的行列。 B、在该行列中任选一个结点,量出它在三个坐标轴上的 坐标值(用a, b, c度量) C、将它们化为简单的整数u, v, w,并用方括号括起来, 便构成晶向指数[uvw]。
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材料X射线衍射与电子显微学
X射线衍射的几何原理
式中d(hkl)为晶面间距,θ 为入射线、反射线与反射 晶面之间的交角,称掠射角或布拉格角,而2θ 为入 射线与反射线(衍射线)之间的夹角,称衍射角,n 为整数,称反射级数,λ为入射线波长。这个公式把 衍射方向、平面点阵族的间距d(hkl) 和X射线的波长λ 联系起来了。 布拉格定律巧妙地将便于测量的宏观量θ 与微观 量d、λ 联系起来。通过θ的测定,在λ 已知的情况 下可以求得d,反之亦然。因此,布拉格定律是X射 线衍射分析中非常重要的定律。
2
2
λ
λ
2
4a 2
2
( H 2 + K 2 + L2)
2 2 2
正方晶系:
H +K L Sin θ = ( + 2) 2 4 a c
斜方晶系:
K 2 L2 Sin 2θ = ( 2 + 2 + 2 ) 4 a b c
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λ2 H 2
材料X射线衍射与电子显微学
X射线衍射的几何原理
Dept. of MSE, CQU
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材料X射线衍射与电子显微学
X射线衍射的几何原理
产生衍射的极限条件
因为sin θ不能大于1,根据布拉格方程可得:
nλ = sinθ ≤ 1 ,即nλ ≤ 2d 2d
对衍射而言,n的最小值为1,所以在任何可观测 的衍射角下,产生衍射的条件为λ≤2d,这也就是 说,能够被晶体衍射的电磁波的波长必须不大于参加 反射的晶面中最大面间距的二倍,否则不能产生衍射 现象。
把(hkl)晶面的n级反射看成为与(hkl)晶面平行、面间距 为dHKL的(nh nk nl)晶面的一级反射。面间距为dHKL的晶面并 不一定是晶体中的原子面,而是为了简化布拉格方程所引 入的反射面,我们把这样的反射面称为干涉面。干涉面的 面指数称为干涉指数。
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材料X射线衍射与电子显微学
X射线衍射的几何原理
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材料X射线衍射与电子显微学
X射线衍射的几何原理
平面族指标(nh nk nl)改用衍射指标 HKL,衍射指标HKL不 加括号,晶面指标(hkl)带有括号;衍射指标不要求互质,可 以有公因子,晶面指标要互质,不能有公因子;在数值上衍 射指标为晶面指标的n倍。例如晶面(110)由于它和入射X射线 的取向不同,可以产生衍射指标为110、220、330、……等 衍射。 在X射线晶体学中,现在通用的布拉格定律的表达式为:
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