VLSI功能测试的最佳测试序列的选取

VLSI功能测试的最佳测试序列的选取
曾成碧;陈光()
【期刊名称】《电子科技大学学报》
【年(卷),期】2000(29)2
【摘要】介绍了VLSI功能测试向量生成的Petri网模型和Petri网模拟测试序列中指令的关系,构造了压缩存储网络的拓扑信息的Petri网简约矩阵.用Petri网简约矩阵检查测试序列的不确定度,使测试序列不确定度最小,从而优化了测试序列,即从给定的指令中选出了最佳测试序列.
【总页数】4页(P178-181)
【作者】曾成碧;陈光()
【作者单位】四川大学电力系,成都,610065;电子科技大学CAT室,成都,610054【正文语种】中文
【中图分类】TN707
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