EL黑斑分析报告

EL测试黑斑片分析报告
简介：
最近一段时间，组件生产在EL测试时，发现较多黑斑电池片，
如右图。

针对这个异常，做了一些简要的分析。

EL测试时出现的
黑斑片，在转换效率低的硅片中，占比比较大。

黑斑片的发生除
了硅片材料的问题，和电池片的制程也有关。

发现黑斑的两片电
池片做了光衰实验，衰减基本在控制范围内，说明硅片材料没有异常。

以上实验说明电池制程会造成黑斑片，黑斑片和黑芯片有本质区别。

黑芯片情况：
关于黑芯片，EL图片如下图。

曾经做过电池片的SIMS元素测试结果（共有3片这样的电池片进行测试）。

如上SIMS测试结果可见，BP含量严重超标，存在着严重的补偿，这也就不难解释为什么此类片子存在着严重的光衰减。

分类检测的时候可能是16、17的效率，稍经光照就可能严重衰减至11、12的效率，而且因为其极高的B含量，所以在弱光下可能也会发生光衰减。

黑芯片的特点：光衰严重，EL测试里面会呈现一圈一圈年轮状，原因可能是在单晶直拉时，杂质在固体硅和液体硅的分凝系数差异（杂质在液体硅中杂质固溶度高）。

黑斑片情况：
以上两幅是EL出现黑斑时的图片，两片电池的电性能参数为：
24小时强光衰减后，两片电池的电性能参数为：
从衰减的情况来看，没有出现严重装换效率从15%到12%的情况，硅片材料的B，P含量说明没有重大问题。

从以上电性能参数来看，低效原因是Rs偏大，造成Eff偏低。

从EL来看，中间的有黑斑。

首先，我们要确认黑斑产生的原因。

EL 测试的原理：首先我们可以把电池片看出若干个小电池并联，在电池片PN上加正向电压或者电流，如果电池片哪个区域Rs偏大，就会发热低，发出红外热量低，导致检测出黑斑。

因此，上图两片中的黑斑就是说明黑斑处的Rs比较大。

为了验证电池中制程会导致黑斑，做了下一个实验。

正常生产时效率正常，下调9区烧结温度，烧结2pcs电池片，出现烧结不透的情况，电池片参数如下：
EL测试图片如下：
以上两张图片证实以上分析，Rs严重异常时，电池片表面出现一些黑斑，Rs轻微异常，黑斑程度低。

总结：
以上的实验和分析说明：
1、黑斑片和黑芯片的本质有明显区别，黑斑片不是黑芯片。

2、制程中会导致黑斑片，片源是否导致黑斑片这里不做评论。

3、黑斑的原因是电池内Rs异常。

4、两片黑斑片做衰减实验没有出现重大异常，黑斑片对电池衰减
可能没有影响。