2011年自 动 检 测 与 仪 表实验指导书

自动检测与仪表
实验指导书
北京服装学院自动化教研室
目录
实验一箔式应变片电桥性能测试 (1)
实验二箔式应变片的温度效应和应变电路的温度补偿 (6)
实验三箔式应变片与半导体应变片性能比较 (8)
实验四差动变压器性能测试 (9)
实验五铂电阻测温仪的设计与测试 (11)
1
实验一 箔式应变片电桥性能测试
一、实验目的
1． 观察箔式应变片的结构及粘贴方式。

2． 了解电阻应变式传感器、金属箔式应变电桥的工作原理。

3． 测试应变梁变形的应变输出，验证单臂、半桥、全桥的性能及相互间的关系。

4． 比较单臂、半桥、全桥输出时的灵敏度和非线性度，得出相应的结论。

二、实验原理
本实验的传感元件是金属箔式应变片，双平行梁的自由端因受测微头的作用力而产生弯曲变形，粘贴在梁上、下两面的电阻应变片也随之变形，引起应变片的电阻值发生变化，现将应变片组成适当的电桥，则电桥输出端的输出电压大小反应了应变电阻的变化大小，电桥输出电压V 被放大，最后由数字电压表测出此电压，电压表示值反映了平行梁形变的大小。

下图1所示为测量原理方框图。

图1 测量原理方框图
电桥电路是最常用一种的非电量测量电路，当电桥平衡时（R1＝R2＝R3＝R4＝R ），桥路对臂电阻乘积相等，电桥输出为零。

桥臂中四个电阻的相对变化R ∑分别为△R1／R1、△R2／R2、△R3／R3、△R4／R4，当使用一个应变片接成单臂电桥时，R R R Δ=∑；
当使用两个应变片组成差动状态接成半桥电路工作时，R R R Δ2=∑；当使用四个应变
片组成两个差动对接成全桥电路工作时，R R R Δ4=∑。

根据戴维南定理可得出测试电桥的输出电压近似等于U R U o **
4/1∑=，电桥灵
敏度)Δ(R R U K o
u =，对应单臂、
半桥和全桥电路的电压灵敏度分别为1/4·U 、1/2·U 和U 。

由此可知，当U 和应变电阻相对变化一定时，电桥的输出电压及电压灵敏度与各桥臂的阻值大小无关。

三、实验所需部件
直流稳压电源（±4V ）、电桥、差动放大器、箔式应变片、测微仪、电压表。

四、实验步骤
1．调零。

1）毫伏表调零。

实验要使用设备上的毫伏表，首先将毫伏表输入端对地短路，开启
仪器电源，调整“调零”电位器，使指针居“零”位。

拔掉短路线，指针有偏转是有源指针式电压表输入端悬空时的正常情况。

调零后关闭仪器电源。

2）差动放大器调零。

差动放大器增益置100倍（顺时针方向旋到底），“＋、－”输入端用实验线对地短路。

输出端接设备上的毫伏电压表（档位为500mV ，50mV ，5mV ，实际使用的是前两档，档位应放在实际使用档位），开启仪器电源，同时开关K1（电桥左下脚）处于“开”（ 向上，目的是给差动放大器提供±15V 电源，使其工作。

）状态，用“调零”电位器调整差动放大器输出电压为零，然后拔掉实验线。

调零后电位器位置不要变化。

2．单臂电桥电路测试：
1）按下图2将实验部件用实验线连接成单臂测试桥路。

桥路中R 1为应变片（可任选上、下梁中的一片工作片），R 为桥路精密电阻（R=351Ω），r 和W D 为电桥预调平衡电阻网络。

直流激励电源为±4V 。

+4V
-4V
图2
2）调节测微仪（装于悬臂梁前端的永久磁钢上）使应变梁处于目测水平位置,X=8.000毫米处（以此作为后续测量的相对零点）。

3）确认接线无误后将稳压电源选择开关拨至±4V 档，开启仪器电源预热数分钟。

打开开关K1，调整电桥W D 电位器，使测试系统输出为零。

4）向上和向下旋动测微仪，使双平行梁自由端产生位移ΔX ，每隔0.5 mm ，记录毫伏表相应的测量格数，填入表格1；在水平位置（此时毫伏表读数为0）上下各测8个点，中间过8.000 mm 时再调W D 使数字电压表读数为0。

5）对表中所测数据进行处理，计算灵敏度S （＝△V ／△X ）。

3．半臂电桥电路测试：
1）按下图3将实验部件用实验线连接成半臂测试桥路。

桥路中R 1为上梁应变片，R 2为下梁应变片，R 为桥路精密电阻（R=351Ω），r 和W D 为电桥预调平衡电阻网络。

直流激励电源为±4V 。

3
+4V
-4V
图3
2）重复2中的2）、3）、4）、5）步骤。

4．全臂电桥电路测试：
1）按下图4将实验部件用实验线连接成全臂测试桥路。

桥路中R 1 、R 4为上梁应变片，R 2 、R 3为下梁应变片，R 为桥路精密电阻（R=351Ω），r 和W D 为电桥预调平衡电阻网络。

直流激励电源为±4V 。

+4V
-4V
图4
2）重复2中的2）、3）、4）、5）步骤。

5. 在同一坐标上描出单臂、半桥和全桥的V-ΔX 曲线，比较三种桥路的灵敏度，并做出定性的结论。

做S 全桥、S 半桥、S 单臂须在同一台仪器上进行，以便比较。

6．根据表1结果，利用最小二乘法求拟合曲线V=S *（ΔX ）+ b 。

表1：箔式应变片电桥性能测试实验数据记录表
五、注意事项
1.实验前应检查实验接插线是否完好，连接电路时应尽量使用较短的接插线，以避免引入干扰。

2.接插线插入插孔时轻轻地做一小角度的转动，以保证接触良好，拔出时也轻轻地转动一下拔出，切忌用力拉扯接插线尾部，以免造成线内导线断裂。

3.接线时，应正确接入工作应变片；更换应变片时，应先断开直流稳压电流，正确接线后才能开通；稳压电源不要对地短路；根据系统输出电压大小选择电压表合适的量程；将系统的低频振荡器和音频器的幅值调至最小，以减小其对直流电桥的影响。

4.由于悬臂梁弹性恢复的滞后，所以当螺旋侧微仪回到初始位置时电压值并不回到起始点，此时可将测微仪反向旋一下再回到初始位置，以保证电压值回到起始点。

5.实验操作中实验者在旋动测微仪后应将手离开，否则虽不改变刻度也会造成输出变化。

6.应变片接入电桥时注意其受力方向，一定要接成差动形式。

7.直流激励电压不能过大，以免造成应变片自热损坏。

8.由于进行位移测量时测微头要从零－→正的最大值，又回复到零，再－→负的最大值，因此容易造成零点偏移，因此计算灵敏度时可将正△X的灵敏度与负的△X的灵敏
度分开计算。

再求平均值，以后实验中凡需过零的实验均可采用此种方法。

六、实验要求：
1．实验前必须认真阅读实验指导书。

2．不许带电拔插和接线。

3．记录下实验实际操作的全部过程、步骤和实验数据（包括实验中出现的问题和解决的办法）写入到实验报告中。

4．实验完毕后必须交一份完整的实验报告，实验报告的内容包括：
1）实验原理和接线。

2）实验操作的实际过程和步骤。

3）实验数据原始记录。

4）写出实验中出现的问题和解决的办法。

5）实验数据处理及结果分析与评价。

6）实验收获和体会（包括得到哪些训练，有哪些需要改进等）
7）结合实验过程回答思考题。

七、思考题
1．单臂桥测量时，作为桥臂电阻应变片应选用（）
A．正（受力）应变片B．负（受力）应变片C．正、负应变片均可以2．测量时两片不同受力状态的电阻应变片接入电桥时，应放在（）
A．对边B．邻边
3．全桥测量中，当两组对边（R1¹、R3¹为对边）电阻值R相同R1¹=R3¹，R2¹=R4¹，而R1¹≠R2¹时，是否可以组成全桥？
A．可以B．不可以
5
实验二 箔式应变片的温度效应和应变电路的温度补偿
一、实验目的
1． 了解温度变化对应变测试系统的影响。

2． 掌握应变电路的温度补偿方法。

二、实验原理
应变片工作温度改变引起其阻值发生变化，使测试系统输出电压发生变化。

用补偿片法是应变电桥温度补偿方法中的一种，如图3所示。

在电桥中，R 1为工作片，R 2为补偿片，R 1＝R 2。

当温度变化时两应变片的电阻变化△R 1与△R 2符号相同，数量相等，桥路如原来是平衡的，则温度变化后R 1R 4＝R 2R 3，电桥仍满足平衡条件，无漂移电压输出，由于补偿片所贴位置与工作片成90°，所以只感受温度变化，不感受悬臂梁的应变。

三、实验所需部件
直流稳压电源、电桥、差动放大器、毫伏表、测微仪、加热器、测温计。

+4V
-4V
图5
四、实验步骤
1． 首先将毫伏表及差动放大器调零（方法同实验一），并按图5接线，图中R1和R2分别为特性相同的箔式工作片和补偿片(同为上梁或下梁的)。

2． 调整应变梁处于目测水平位置（X=8mm 处）；开启电源，调整电桥平衡电位器W D ，使系统输出为零。

3． 记录加热前测试系统感受的室温（将测温计插入应变梁之间的加热器当中。

），同时记录此时悬臂梁水平位置、上移2mm 和下移2mm 时的电压值。

4． 悬臂梁调整到水平位置，。

开启“加热”电源，观察测试系统输出电压随温度计升高而发生的变化。

待电压读数基本稳定后记下电压值U0和此时的温度，迅速上移2mm,记录下此时的电压值和温度值。

悬臂梁调整到水平位置，调整电桥平衡电位器W D ，使系
统输出为U0，迅速下移2mm，记录下此时的电压值和温度值
5．求出三种情况下温度漂移值P水、P上、P下（P=△V／△T），并且求出其平均值P平【P平=（P1+P2+P3）/3】。

6．关闭加热电源并断开电源，按实验一图2接线，待加热器冷却后，重复2－5步骤，求出未接入补偿片后系统的温度漂移（注意：各测量点的温度应该尽量与接入补偿片后系统在各点的温度相一致），并与接入补偿片时的结果进行比较。

五、注意事项
应正确选择补偿片。

在面板的应变片接线端中，从左至右1－8对接线端分别是：1－上梁半导体应变片，2－下梁半导体应变片。

3、5－上梁箔式应变工作片，4、6－下梁。

应变工作片，7、8－上、下梁温度补偿片。

测试电路中工作片与补偿片应在同一应变梁
上。

六、实验要求：
同实验一
七、思考题
1．本实验中所用的箔式应变片和补偿片的粘贴方向有何不同？为什么？
2．根据电桥工作原理，试分析补偿应变片是如何进行温度补偿的？
7
实验三箔式应变片与半导体应变片性能比较
一、实验目的
通过实验比较两种应变电路的灵敏度与温度特性。

二、实验所需部件
直流稳压电源、差动放大器、箔式应变片、半导体应变片、测微仪、毫伏表、加热器、
测温计。

三、实验步骤
1．按图2示接线，分别接成箔式单臂电桥和半导体式单臂电桥，，但直流激励源为±2V。

2．重复实验一2）~5）步骤，分别记录箔式单臂电桥和半导体式单臂电桥对应的电压值。

调整系统，在相同的外部环境下分别测得两组数据填入表3，求出灵敏度。

3．按图3接线，分别接成箔式半电桥和半导体式半电桥，同样直流激励源为±2V。

4．重复实验一2）~5）步骤，分别记录箔式半臂电桥和半导体式半臂电桥对应的电压值。

调整系统，在相同的外部环境下分别测得两组数据填入表3，求出灵敏度。

5．在同一坐标上画出四条V－X曲线以作比较。

四、注意事项
１．实验中直流激励电压只能用±2V，以免引起半导体自热。

由于半导体应变计阻值范围变化较大。

因此电桥输出信号变化也大，此时应适当减小差动放大器增益，使信号不致饱和。

２．进行上述实验时激励电压，差动放大器增益、测微仪起始点位置等外部环境必
须一致，否则就无可比性。

五、实验要求：
同实验一
实验四差动变压器性能测试
一、实验目的
了解差动变压器的基本结构及原理，通过实验验证差动变压器的基本特性。

二、实验原理
差动变压器是把被测量变化转移成线圈的互感变化来进行测量。

差动变压器本身是一个变压器，初级线圈输入交流电压，次级线圈感应出交流信号，当初次级间的互感受外界影响而变化时，次级所感应的电压幅值也随之发生变化。

由于两个次级线圈接成差动形式，故称为差动变压器。

差动变压器由衔铁、初级线圈、次级线圈和线圈骨架等组成。

初级线圈作为差动变压器激励用，相当于变压器的原边，次级线圈由两个结构尺寸和参数相同的线圈反相串接而成，相当于变压器的副边。

在铁芯处于中间位置时，初级线圈的互感相等。

其原理及输出特性见图6。

图6 图7
三、实验所需部件
差动变压器（差动变压器的初次级即为实验设备上的电感）、音频振荡器、测微仪、双路示波器。

四、实验步骤
1．将音频振荡器Lv输出接到示波器的通道1，打开电源，调整音频振荡器幅度及频率，使其输出信号的频率为4KHZ，使音频Lv信号输出电压峰峰值V P－P为2V。

2. 按图7接线，将音频振荡器Lv输出至差动变压器初级，同时接到示波器第一通道，其灵敏度约1v/格；差动变压器次级输出接到示波器第二通道，其灵敏度约10mv／格。

3．旋动测微头，带动差动变压器衔铁在线圈中上下移动，观察示波器第二通道波形是否能过零翻转，如不能则改变两个次级线圈的串接端。

4. 调节测微头使次级的差动输出电压最小，读出的最小电压叫做零点残余电压，测量其大小，并记录在表4中，观测其与输入电压的相位关系（可以看出，此时它与输入电压的相位差约为π／2，当铁芯由上至下或由下至上时，相位反相。

），并把此时的位置定为
9
位移的相对零点。

5. 从位移的相对零点开始，逆时针旋动测微头（测微头上旋），每隔0.2mm（测8个点）从示波器上读出次级输出电压Vp-p值，填入表4，读数过程中应注意初、次级波形的相位关系。

假设上旋为正位移，则下旋为负位移。

将测位头退回到Vp-p最小处开始反方向做相同的位移实验。

在实验过程中请注意：⑴从Vp-p最小处决定位移方向后，测微头只能按所定方向调节位移，中途不允许回调，否则，由于测微头存在机械回差而引起位移误差；所以，实验时每点位移量须仔细调节，绝对不能调节过量，如过量则只好剔除这一点继续做下一点实验或者回到零点重新做实验。

⑵当一个方向行程实验结束，做另一方向时，测微头回到Vp-p最小处时它的位移读数有变化(没有回到原来起始位置)是正常的，做实验时位移取相对变化量△Ｘ为定值，只要中途测微头不回调就不会引起位移误差。

6.实验完毕，关闭电源。

根据上表所测数据，画出Vp-p－X曲线，指出线性工作范围，求出灵敏度k=△V/△X。

7．实验记录表4：
同实验一
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实验五 铂电阻测温仪的设计与测试
一、 实验目的：
1、通过使用ICL7107，进一步理解双积分转换器的工作原理。

2、理解和学会使用LED 发光二极管显示器的结构与工作原。

3、掌握ICL7107的工作原理和相应元件参数的选择方法，学会使用ICL7107。

4、 通过设计铂电阻测温仪，掌握铂电阻测温仪的工作原理和信号变换方法。

5、 掌握铂电阻测温仪的校验方法。

6、 掌握确定仪表的精度等级方法。

7、 加深理解零点调整和量程调整的含义。

二、 实验设备：
1、电子元器件，包括电阻、电容、ICL7107、共阳极LED 发光二极管显示器；
2、铂电阻测温仪电路板 一个 3 精密直流电阻箱 0.01级 0.01~.11Ω 一台 4 数字万用表 一个 5 螺丝刀、钳子、导线等
三、 实验内容：
1、依据ICL7107的工作原理、相应元器件参数的选择方法和铂电阻测温仪的测温范围和精度要求，设计电路并选择相关元器件；
假定所选定的测温范围为N=0℃~250℃，则可查铂电阻（Pt100）的分度表可知Rt 的范围为100Ω~194.1Ω，又由附录四的电路原理图可得方程式：
从而有：
例如，当人为取V T =0.3V ，R 9=33Ω时，由于R10=10K ，VCC=5V ， 所以， R11≈680Ω，同样通过以上条件，可以计算出V INHI 的上下限的电压值 又根据芯片ICL7107的性能，A/D 转换结果（显示的读数）：N ＝1000×(VIN)/VREF ，既有：
这样，可以计算出VINLO 的值和Vrefhi 的值，又由附录五的电路原理图可知：
Rt
V V R V V R V T
INHI T CC
T -=+=
911
1011
R
R T INHI V V )R R 1(9
t
+
=1000
V N 1000
V V -V INHI refhi
INLO
INHI ⨯-=
⨯=refhi
INLO
V V N 上上下
下
因此，可以根据计算出VINLO的值和Vrefhi的值设计RC1、RC2、RC3、RC4、W1和W2的值，使得计算出VINLO的值和Vrefhi的值在所设计的VINLO和Vrefhi的上下限值内。

2、进行电路板的调试（用电阻箱或电位器代替铂电阻，进行调试）。

3、铂电阻测温仪的零点调整和量程调整。

铂电阻测温仪的校验方法是：将对应于不同温度的热电阻的电阻值Rt用精密直流电阻箱提供。

通过各电位器的反复调整来实现零点和量程调整。

通过正反行程的测试来完成精度的校验。

零点与量程调整
根据铂电阻测温仪测量范围调节Rt，当温度为下限值T下时，调电阻箱值至相应的下限热电阻值Rt下，同时调节零位电位器W2，使输出为温度下限值T下；调电阻箱至相应的上限温度T上所对应的热电阻值Rt上，同时调节量程电位器W1，使输出为上限温度T上；反复进行多次直到“零点”和“满度”都满足要求为止。

4 精度确定（依据现有条件）
零点和满度调好后，调节电阻箱的电阻Rt，分别在正反行程对测温仪测取数据对（实际所测温度值和理想温度值），然后，计算出绝对误差和变差，都填入实验记录表5中，最后计算及确定其精度等级。

实验记录表5：
13
表5续：
四、实验要求：
同实验一。

附录一传感器系统实验仪使用说明
CSY系列传感器系统实验仪是用于检测仪表类课程教学实验的多功能教学仪器。

特点是集被测体、各种传感器、信号激励源、处理电路和显示器于一体，可以组成一个完整的测试系统。

通过实验指导书所提供的数十种实验举例，能完成包含光、磁、电、温度、位移、振动、转速等内容的测试实验。

通过这些实验，实验者可对各种不同传感器及测量电路原理和组成有直观的感性认识，并可在本仪器上举一反三开发出新实验内容。

实验仪主要由实验工作台、处理电路、信号与显示电路三部分组成。

一、位于仪器顶部的实验工作台部分，左边是一副平行式悬臂梁，梁上装有应变式、热敏式、P-N结温度式、热电式和压电加速度五种传感器。

应变式：平行梁上梁的上表面和下梁的下表面对应地贴有八片应变片，受力工作片分别用符号和表示。

其中六片为金属箔式片（BHF-350）。

横向所贴的两片为温度补偿片，用符号和表示。

片上标有“BY”字样的为半导体式应变片，灵敏系数130。

热电式（热电偶）：串接工作的两个铜一康铜热电偶分别装在上、下梁表面，冷端温度为环境温度。

分度表见实验指导书。

热敏式：上梁表面装有玻璃珠状的半导体热敏电阻MF-51，负温度系数，25℃时阻值为8~10K。

P-N结温度式：根据半导体P-N结温度特性所制成的具有良好线性范围的温度传感器，敏感面为顶端。

压电加速度式：位于悬臂梁右部，由PZT-5双压电晶片，铜质量块和压簧组成，装在透明外壳中。

实验工作台右边是由装于机内的另一副平行梁带动的圆盘式工作台。

圆盘周围一圈安装有（依逆时针方向）电感式（差动变压器）、电容式、磁电式、霍尔式、电涡流式五种传感器。

电感式（差动变压器）：由初级线圈Li和两个次级线圈L。

绕制而成的空心线圈，圆柱形铁氧体铁芯置于线圈中间，测量范围>10mm。

电容式：由装于圆盘上的一组动片和装于支架上的两组定片组成平行变面积式差动电容，线性范围≥3mm。

磁电式：由一组线圈和动铁（永久磁钢）组成，灵敏度0.4V/m/s。

霍尔式：半导体霍尔片置于两个半环形永久磁钢形成的梯度磁场中，线性范围≥3mm，直流激励电压≤±2V，交流激励信号≤V P-P5V。

电涡流式：多股漆包线绕制的扁平线圈与金属涡流片组成的传感器，线性范围>1mm。

光电式传感器装于电机侧旁。

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扩散硅压力传感器与湿敏，气敏传感器可根据用户需要选装。

两副平行式悬臂梁顶端均装有置于激振线圈内的永久磁钢，右边圆盘式工作台由“激振I ”带动，左边平行式悬臂梁由“激振II ”带动。

为进行温度实验，左边悬臂梁之间装有电加热器一组，工作时能获得高于环境温度30℃左右的升温。

以上传感器以及加热器、激振线圈的引线端均位于仪器下部面板最上端一排。

实验工作台上还装有测速电机一组及控制、调速开关。

两只测微仪分别装在左、右两边的支架上。

二、信号及显示部分：位于仪器上部面板
低频振荡器：1~30Hz 输出连续可调，Vp-p 值20V ，最大输出电流0.5A ，Vi 端插口可提供用作电流放大器。

V i 端3.5mm 耳机插座静合接点的正常接触是保让低频输出的条件，无低频信号无输出，则可能是静合接点分开，如遇此情况请打开面板，调节V i 插口静合接点接触良好。

音频振荡器：0.4KHz~10KHz 输出连续可调，Vp-p 值20V ，180°、0°为反相输出，Lv 端最大功率输出0.5A 。

直流稳压电源：±15V ，提供仪器电路工作电源和温度实验时的加热电源，最大输出1A 。

±2V~±10V ，档距2V ，分五档输出，提供直流信号源，最大输出电流1A 。

数字式电压/频率表：3 位显示，分2V 、20V 、2KHz 、20KHz 四档，灵敏度≥50mV ，
频率显示5Hz~20KHz 。

指针式直流毫伏表：测量范围500mV 、50mV 、5mV 三档，精度2.5%。

三、处理电路：位于仪器下部面板
电桥：用于组成应变电桥，面板上虚线所示电阻为虚设，仅为组桥提供插座。

R 1、R 2、R 3为350Ω标准电阻，W D 为直流调节电位器，W A 为交流调节电位器。

W D 电位器中心抽头串接口的防短路电阻，W A 电位器中心抽头串接的为隔直电容。

差动放大器：增益可调比例直流放大器，可接成同相、反相、差动结构，增益1-100倍。

光电变换器：提供红外发射、接收、稳幅、变换，输出模拟信号电压与频率变换方波信号。

四芯航空插座上装有光电转换装置和两根多模光纤（一根接收，一根发射）组成的光强型光纤传感器。

电容变换器：由高频振荡、放大和双T 电桥组成。

移相器：允许输入电压20Vp-p ，移相范围±40°（随频率有所变化）。

相敏检波器：极性反转电路构成，所需最小参考电压0.5Vp-p ，允许最大输入电压20Vp-p 。

电荷放大器：电容反馈式放大器，用于放大压电加速度传感器输出的电荷信号。

1
2
电压放大器：增益5倍的高阻放大器。

（仅CSY型实验仪配置）
涡流变换器：变频式调幅变换电路，传感器线圈是三点式振荡电路中的一个元件。

温度变换器：根据输入端热敏电阻值及P-N结温度传感器信号变化输出电压信号相应变化的变换电路。

低通滤波器：由50Hz陷波器和RC滤波器组成，转折频率35Hz左右。

使用仪器时打开电源开关，检查交、直流信号源及显示仪表是否正常。

仪器下部面板左下角处的开关控制处理电路的±15V工作电源，进行实验时请勿关掉，为保证仪器正常工作，严禁±15V电源间的相互短路，建议平时将此两插口封住。

指针式毫伏表工作前需对地短路调零，取掉短路线后指针有所偏转是正常现象，不影响测试。

请用户注意，本仪器是实验性仪器，各电路完成的实验主要目的是对各传感器测试电路做定性的验证，而非工程应用型的传感器定量测试。

各电路和传感器性能建议通过以下实验检查是否正常：
1．应变片及差动放大器，进行单臂、半桥和全桥实验，各应变片是否正常可用万用表电阻档在应变片两端测量。

各接线图两个节点间即为一实验接插线，接插线可多根迭插，为保证接触良好插入插孔后请将插头稍许旋转。

2．半导体应变片，进行半导体应变片直流半桥实验。

3．热电偶，接入差动放大器，打开“加热”开关，观察热电势随温度升高变化。

4．热敏式，进行“热敏传感器实验”，电热器加热升温，观察随温度升高“V0”端输出电压变化情况，注意热敏电阻是负温度系数。

5．P-N结温度式，进行P-N结温度传感器测温实验，注意电压表2V档显示值为绝对温度T。

6．进行“移相器实验”，用双踪示波器观察两通道波形。

7．进行“相敏检波器实验”，相敏检波端口序数规律为从左至右，从上到下，其中4端为参考电压输入端。

8．进行“电容式传感器特性”实验，当振动圆盘带动动片上下移动时，电容变换器V0端电压应正负过零变化。

9．进行“光纤传感器——位移测量”，光纤探头可安装在原电涡流线圈的横支架上固定，端面垂直于镀铬反射片，旋动测微仪带动反射片位置变化，从“V0”端读出电压变化值。

光电变换器“F0”端输出频率变化方波信号。

测频率变化时可参照“光纤传感器——转速测试”步骤进行。

10．进行光电式传感器测速实验，V0端输出的是频率信号。

11．将低频振荡器输出信号送入低通滤波器输入端、输出端用示波器观察，注意根据低通输出幅值调节输入信号大小。

12．进行“差动变压器性能”实验，检查电感式传感器性能，实验前要找出次级线
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